JP2005515623A - 自動生産システム - Google Patents
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Abstract
動作レシピに従って加工品(130)を処理するように構成された処理装置(115)を制御するための方法が提供される。処理装置(115)および加工品(130)のうちの少なくとも一つに関する第1処理エージェントを作成する。処理装置(115)内の加工品(130)の処理に関する制御動作を決定するように構成されたコントローラ・エージェント(350)を作成する。この第1処理エージェント(320,340)がコントローラ・エージェント(350)とインターフェイスで接続され、制御動作を受信する。第1処理エージェント(320,340)は処理装置(115)とインターフェイスで接続され、制御動作に基づいて動作レシピを作成する。
Description
処理の変動を低減するために、処理ライン中の様々な装置は性能モデルに従って制御される。一般的に制御される処理装置には、フォトリソグラフィーステッパ、研磨装置、エッチング装置、デポジション(deposition)装置が含まれる。処理前および/または処理後の測定データが装置のためのプロセス制御装置(コントローラ)に供給される。処理後の結果が目標値にできるだけ近くなるように、プロセス制御装置は性能モデルおよび計測情報に基づいて、処理時間などの動作レシピパラメータを計算する。このようにして偏差(ばらつき)を減少させることで、スループットを増大、コスト削減、デバイスの性能向上などの収益率向上に等しい結果が生まれる。
本発明は、上述の一以上の課題を解決し、または少なくともその影響を低減することを目的としている。
本発明は様々な変形および代替の形態をとりうるが、その特定の実施形態を例示のために図面に示し、本明細書において詳細に説明する。しかしながら、特定の実施形態についての本明細書中の説明は、開示された特定の形態に本発明を限定しようとするものではなく、むしろ反対に、添付の特許請求の範囲に規定される本発明の精神および範囲の範疇に入る、すべての変形物、均等物および代替物を含むことを意図している、ことを理解してもらいたい。
しかしながら、これらの用語のすべてまたは類似の用語は適切な物理量に関連付けられるべきであり、それらの量に適用される単なる便利なラベルである、ことを念頭に置く必要がある。特に断らない限り、またはこれまでの議論から明らかなように、これらの説明は、ある電子装置の記憶装置内の物理的(電気的、磁気的、または光学的)な量として表されるデータを、記憶装置、転送装置または表示装置のなかの物理的な量として同様に表される他のデータに操作または変換する、電子装置の動作または処理についてのものである。そのような説明を意味する用語の例としては、「プロセス(処理)」、「コンピューティング」、「計算」、「決定」、「表示」などの用語があるが、それらに限定されるものではない。
Claims (10)
- 動作レシピに従って加工品(130)を処理するように構成された処理装置(115)と、
前記処理装置(115)内の前記加工品(130)の処理に関係する制御動作を決定するように構成されたコントローラ・エージェント(350)と、
前記処理装置(115)および前記加工品(130)の少なくともどちらかに関連し、前記コントローラ・エージェント(350)にインターフェイスで接続して、前記制御動作を受信し、前記制御動作に基づいて動作レシピを作成するように構成される第1処理エージェント(320,340)とを備える、生産システム(100,300)。 - 前記処理装置(115)および前記加工品(130)の少なくともどちらかに関連し、前記第1処理エージェント(320,340)には関連しない第2処理エージェント(320,340)をさらに備え、前記第1処理エージェント(320,340)および第2処理エージェント(320,340)の少なくとも一方は前記コントローラ・エージェント(350)にインターフェイスで接続するように構成されている、請求項1記載の生産システム(100,300)。
- 前記第1処理エージェント(320)は前記加工品(130)と関係し、前記コントローラ・エージェント(350)とインターフェイスで接続され、前記制御動作を受信して、前記処理装置(115)と関連した前記第2処理エージェント(340)に対して前記制御動作を渡すように構成されており、前記第2処理エージェント(340)は前記制御動作に基づいて前記動作レシピを作成するように構成されている、請求項2記載の生産システム(100,300)。
- 前記コントローラ・エージェント(350)は前記加工品(130)および前記処理装置(115)の少なくとも一方に関するデータを受信して、制御モデルおよび前記受信データに基づいて前記制御動作を決定するように構成されている、請求項1記載の生産システム(100,300)。
- 前記第1処理エージェント(320)は前記加工品(130)に関するデータを前記コントローラ・エージェント(350)に供給するように構成され、前記第2処理エージェント(340)は前記処理装置(115)に関するデータを前記コントローラ・エージェント(350)に供給するように構成され、さらに前記コントローラ・エージェント(350)は前記制御モデル、前記加工品(130)に関連したデータおよび前記処理装置(115)に関連したデータに基づいて前記制御動作を決定するように構成されている、請求項4記載の生産システム(100,300)。
- 動作レシピに従って加工品(130)を処理するように構成された処理装置(115)を制御するための方法であって、
前記処理装置(115)および前記加工品(130)の少なくともどちらかに関連付けられる第1処理エージェント(320,340)を作成するステップと、
前記処理装置(115)内の前記加工品(130)の処理に関係する制御動作を決定するように構成されたコントローラ・エージェント(350)を作成するステップと、
前記コントローラ・エージェント(350)に第1処理エージェント(320,340)をインターフェイスで接続して、前記制御動作を受信するステップと、
前記第1処理エージェント(320,340)と前記処理装置(115)とをインターフェイスで接続して、前記制御動作に基づいて、前記動作レシピを作成するステップとを含む方法。 - 前記処理装置(115)および前記加工品(130)の少なくともどちらかに関連するが、前記第1処理エージェント(320,340)には関連しない第2処理エージェント(320,340)を作成するステップと、
前記第1処理エージェント(320,340)および前記第2処理エージェント(320,340)の少なくとも一方を前記コントローラ・エージェント(350)にインターフェイスで接続するステップとをさらに含む、請求項6記載の方法。 - 前記第1処理エージェント(320)から前記第2処理エージェント(340)に対して前記制御動作を渡すステップと、
前記制御動作に基づいて前記動作レシピを作成するために前記第2処理エージェント(340)および前記処理装置(115)をインターフェイスで接続するステップとをさらに含む、請求項7記載の方法。 - 前記加工品(130)および前記処理装置(115)の少なくとも一方に関するデータを前記コントローラ・エージェント(350)に提供するステップと、
制御モデルおよび前記提供されたデータに基づいて前記制御動作を決定するステップと をさらに含む、請求項6記載の方法。 - 前記加工品(130)に関するデータを提供するために前記第1処理エージェント(320)と前記制御エージェント(350)とをインターフェイスで接続するステップと、
前記処理装置(115)に関するデータを提供するために前記第2処理エージェント(340)を前記コントローラ・エージェント(350)にインターフェイスで接続するステップと、
前記制御モデルと、前記処理装置(115)および前記加工品(130)に関連するデータとに基づいて前記制御動作を決定するステップとをさらに含む、請求項9記載の方法。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007507886A (ja) * | 2003-09-30 | 2007-03-29 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体製造プロセスを制御する第1の原理シミュレーションを用いたシステム及び方法。 |
US8014991B2 (en) | 2003-09-30 | 2011-09-06 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to characterize a semiconductor manufacturing process |
US8032348B2 (en) | 2003-09-30 | 2011-10-04 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to facilitate a semiconductor manufacturing process |
US8036869B2 (en) | 2003-09-30 | 2011-10-11 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to control a semiconductor manufacturing process via a simulation result or a derived empirical model |
US8296687B2 (en) | 2003-09-30 | 2012-10-23 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to analyze a process performed by a semiconductor processing tool |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7542880B2 (en) * | 2006-04-06 | 2009-06-02 | Advanced Micro Devices, Inc. | Time weighted moving average filter |
DE102007014970B3 (de) * | 2007-03-28 | 2008-07-31 | Siemens Ag | Konfiguration von medizintechnischen Prozessen |
DE102008035258A1 (de) * | 2008-07-29 | 2010-03-25 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Anordnung zum Prüfen der Datenkonsistenz einer technischen Anlage |
DE102011109388A1 (de) * | 2011-08-04 | 2013-02-07 | Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft | Automatische Druckmaschinenverbesserung |
KR101739532B1 (ko) * | 2012-02-21 | 2017-06-08 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 레거시 하드웨어 및 소프트웨어를 위한 향상된 리호스팅 능력 |
US20130282333A1 (en) * | 2012-04-23 | 2013-10-24 | Abb Technology Ag | Service port explorer |
DE102019218623A1 (de) * | 2019-11-29 | 2021-06-02 | Sms Group Gmbh | Steuerungssystem für eine industrielle Anlage, insbesondere für eine Anlage zur Herstellung oder Verarbeitung von metallischen Bändern oder Blechen und Verfahren zum Steuern einer industriellen Anlage, insbesondere einer Anlage zur Herstellung oder Verarbeitung von metallischen Bändern oder Blechen |
US20230367302A1 (en) * | 2022-05-11 | 2023-11-16 | Applied Materials, Inc. | Holistic analysis of multidimensional sensor data for substrate processing equipment |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11195566A (ja) * | 1998-01-05 | 1999-07-21 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体製造装置制御システム |
JP2000033538A (ja) * | 1998-07-16 | 2000-02-02 | Yokogawa Electric Corp | 生産システム及び生産システムにおける加工装置の選択方法 |
JP2000052201A (ja) * | 1998-08-12 | 2000-02-22 | Yokogawa Electric Corp | 生産システムの製品エージェント |
JP2000158297A (ja) * | 1998-12-01 | 2000-06-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ジョブ管理システム、ジョブ管理方法および記録媒体 |
JP2001338856A (ja) * | 2000-05-30 | 2001-12-07 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 半導体製造システムのプロセスコントローラ |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5548505A (en) * | 1994-07-15 | 1996-08-20 | Oktrak Systems, Inc. | Scrubber control system |
US6485990B1 (en) * | 2000-01-04 | 2002-11-26 | Advanced Micro Devices, Inc. | Feed-forward control of an etch processing tool |
US6694275B1 (en) * | 2000-06-02 | 2004-02-17 | Timbre Technologies, Inc. | Profiler business model |
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2002
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11195566A (ja) * | 1998-01-05 | 1999-07-21 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体製造装置制御システム |
JP2000033538A (ja) * | 1998-07-16 | 2000-02-02 | Yokogawa Electric Corp | 生産システム及び生産システムにおける加工装置の選択方法 |
JP2000052201A (ja) * | 1998-08-12 | 2000-02-22 | Yokogawa Electric Corp | 生産システムの製品エージェント |
JP2000158297A (ja) * | 1998-12-01 | 2000-06-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ジョブ管理システム、ジョブ管理方法および記録媒体 |
JP2001338856A (ja) * | 2000-05-30 | 2001-12-07 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 半導体製造システムのプロセスコントローラ |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007507886A (ja) * | 2003-09-30 | 2007-03-29 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体製造プロセスを制御する第1の原理シミュレーションを用いたシステム及び方法。 |
US8014991B2 (en) | 2003-09-30 | 2011-09-06 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to characterize a semiconductor manufacturing process |
US8032348B2 (en) | 2003-09-30 | 2011-10-04 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to facilitate a semiconductor manufacturing process |
US8036869B2 (en) | 2003-09-30 | 2011-10-11 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to control a semiconductor manufacturing process via a simulation result or a derived empirical model |
JP4795957B2 (ja) * | 2003-09-30 | 2011-10-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体製造プロセスを制御する第1の原理シミュレーションを用いたシステム及び方法。 |
US8050900B2 (en) | 2003-09-30 | 2011-11-01 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to provide virtual sensors that facilitate a semiconductor manufacturing process |
US8073667B2 (en) | 2003-09-30 | 2011-12-06 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to control a semiconductor manufacturing process |
US8296687B2 (en) | 2003-09-30 | 2012-10-23 | Tokyo Electron Limited | System and method for using first-principles simulation to analyze a process performed by a semiconductor processing tool |
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