JP2005509510A - デジタルスキャン撮像のためのセンサ装置と方法 - Google Patents
デジタルスキャン撮像のためのセンサ装置と方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005509510A JP2005509510A JP2003546139A JP2003546139A JP2005509510A JP 2005509510 A JP2005509510 A JP 2005509510A JP 2003546139 A JP2003546139 A JP 2003546139A JP 2003546139 A JP2003546139 A JP 2003546139A JP 2005509510 A JP2005509510 A JP 2005509510A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pixel electrodes
- switching means
- counter
- sensor device
- pixel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 27
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 238000009607 mammography Methods 0.000 claims description 5
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 claims 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 4
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004611 CdZnTe Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/50—Clinical applications
- A61B6/502—Clinical applications involving diagnosis of breast, i.e. mammography
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
Abstract
Description
12 放射
13 インジウム球接合部
21 信号前置増幅器
22 比較器
Claims (15)
- 電磁放射を利用した、特にマンモグラフィ装置に接続して使用するデジタルスキャン撮像におけるセンサ装置であり、
複数の放射量子を電子ホールの複数の対へ変換する材料を含みまたはその材料と一体化される放射吸収素子、
上記放射線吸収素子の放射を受け取る表面とは反対側の表面の上の、上記放射線吸収素子を複数の画素に分割する画素電極(P1、P2、P3)、または対応する手段、
上記画素電極(P1、P2、P3)、または、上記対応する手段へ接続され、画素電極から入力されるパルスを計数するカウンタ(C)、
を備え、
上記センサ装置は、
センサ装置のスキャン方向に、少なくとも2の整数であるN個の連続した画素電極(P1、P2、P3)ごとに、1つのカウンタ(C)および1つのスイッチング手段(Sm)が配置されている連続した構造が得られ、
スイッチング手段(Sm)に、2N−1個の連続した画素電極(P)からなる接続された画素電極(P1、P2、P3)の複数の集合が接続され、各集合で、最も中央の画素電極(P2)が1つのスイッチング手段(Sm)だけに接続され、
上記最も中央の画素電極(P2)の前にある複数の画素電極(P1)は、上記のおよびそれより前のスイッチング手段(Sm)の両方に接続可能に配置され、および
上記最も中央の画素電極(P2)の後に続く複数の画素電極(P3)は上記のおよびそれの後に続くスイッチング手段(Sm)の両方に接続可能に配置される
ように、上記カウンタ(C)および上記画素電極(P1、P2、P3)の間に配置されたカウンタ特定のスイッチング手段(Sm)を備えること
を特徴とするセンサ装置。 - 請求項1に記載のセンサ装置であって、
画素電極(P1、P2、P3)または上記対応する手段により作られるスキャン方向での画素の寸法が、スキャン方向とは垂直な方向の画素の寸法の約半分でであること
を特徴とするセンサ装置。 - 請求項1または請求項2に記載のセンサ装置であって、
スイッチング手段(Sm)が、N個の連続した画素電極(P1、P2、P3)からなる読み取り領域からカウンタ(C)へパルスを向けるために配置され、スキャン移動の進行につれて、スイッチング手段(Sm)が、読み取り領域を、スキャン方向とは逆の方向へ、一度に1画素電極(P1、P2、P3)ずつ移動させること
を特徴とするセンサ装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
N個の連続した画素電極(P1、P2、P3)からなる読み取り領域が、後に続く複数のカウンタへ転送される時はいつも、前の複数のカウンタからカウンタ(C)をロードする手段がセンサ装置の中に配置されること
を特徴とするセンサ装置。 - 請求項1から請求項4のいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
上記スイッチング手段(Sm)が、スキャン方向の移動速度および画素の大きさを考慮に入れたクロック信号により制御されること
を特徴とするセンサ装置。 - 請求項1から請求項5のいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
そのセンサ装置の電子機器装置が前置増幅器(21)を備えること
を特徴とするセンサ装置。 - 請求項6に記載のセンサ装置であって、
そのセンサ装置の電子機器装置が比較器(22)も備えること
を特徴とするセンサ装置。 - 請求項1から請求項7のいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
上記スイッチング手段(Sm1、Sm2、Sm3)が、前のおよび後に続く選択可能な上記画素電極(P1、P2、P3、P4、P5、P6)を選択するスイッチ(S1、S2、S3)、および、信号を複数のカウンタ(C1、C2、C3)に向ける前に、異なる画素電極(P1、P2、P3、P4、P5、P6)から来るパルス系列を組み合わせる回路手段(OR1、OR2、OR3)を備えること
を特徴とするセンサ装置。 - 電磁放射を利用した、特にマンモグラフィに接続して使用するデジタルスキャン撮像における方法であり、
被写体よりも細い光線を用いて被写体をスキャンして、
複数の画素を備えるセンサ装置を用いて、被写体の反対側へ上記光線をたどり、そのセンサ装置内で、吸収された放射量子が、画素を形成する電極またはそれの同等物の上に生成されるパルスとして検出され、またそのセンサ装置内で、上記パルスが、複数の上記画素電極またはそれの同等物に接続された複数のカウンタにより計数される方法であって、
かつ、スキャンの進行につれて、複数のパルスが1つのカウンタに向けられる時に少なくとも一度移動する、少なくとも2画素電極の幅の読み取り領域から、複数の画素電極から、カウンタ特定のスイッチング手段を経由して、複数のカウンタへ、複数のパルスを向け、読み取り領域の移動ごとに、上記読み取り領域に属する複数の画素電極の少なくとも1つからの複数のパルスが、上記移動の前に使用されたカウンタと異なるカウンタに向けられ始めること
を特徴とする方法。 - 請求項9に記載の方法であって、
少なくとも2段階で、スイッチング手段を経由して2N−1個(Nは読み取り領域の幅を示す少なくとも2の整数である)の連続した画素電極からなる電極の集合から1つのカウンタへパルスを向ける、上記電極の集合の最も中央の画素電極が1つのスイッチング手段のみに接続されるように、上記連続した画素電極がスイッチング手段に接続されていて、複数のパルスがいつもN個の画素電極から各カウンタへ向けられ、上記最も中央の画素電極より前の複数の画素電極は、上記スイッチング手段またはそれより前のスイッチング手段に接続されていて、上記最も中央の画素電極の後に続く複数の画素電極は上記スイッチング手段またはそれの後に続くスイッチング手段に接続されていること
を特徴とする方法。 - 請求項9または請求項10に記載の方法であって、
スキャン移動の進行につれて、N個の画素電極からなる読み取り領域を、スキャン移動とは反対の方向へ、上記スイッチング手段を用いて、一度に1画素電極ずつ移動すること
を特徴とする方法。 - 請求項9、請求項10または請求項11に記載の方法であって、
1つのカウンタからそれの後に続くもう1つのカウンタへの読み取り領域の移動に関連して、カウンタをそれの後に続くカウンタ上へロードすること
を特徴とする方法。 - 請求項9から請求項12のいずれか1つに記載の方法であって、
異なる複数の画素電極からの、上記パルス系列を組み合わせる回路手段を通して同じカウンタへ向けられるべきパルス系列を向けること
を特徴とする方法。 - 請求項9から請求項13のいずれか1つに記載の方法であって、
上記スイッチング手段を制御して、スキャン方向の移動の速度および画素の大きさを考慮に入れるクロック信号により読み取り領域を移動すること、
を特徴とする方法。 - 請求項9から請求項14のいずれか1つに記載の方法であって、
スキャン方向の寸法がそれに垂直な方向の寸法より小さく、特にその寸法の半分である複数の画素からの複数のパルスを計数すること
を特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20012301A FI119173B (fi) | 2001-11-23 | 2001-11-23 | Anturijärjestely ja menetelmä digitaalisessa pyyhkäisykuvantamisessa |
FI20012301 | 2001-11-23 | ||
PCT/FI2002/000945 WO2003044564A1 (en) | 2001-11-23 | 2002-11-22 | Sensor arrangement and method for digital scanning imaging |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005509510A true JP2005509510A (ja) | 2005-04-14 |
JP4823480B2 JP4823480B2 (ja) | 2011-11-24 |
Family
ID=8562335
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003546139A Expired - Fee Related JP4823480B2 (ja) | 2001-11-23 | 2002-11-22 | デジタルスキャン撮像のためのセンサ装置と方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7145985B2 (ja) |
EP (1) | EP1446684B1 (ja) |
JP (1) | JP4823480B2 (ja) |
AU (1) | AU2002366127A1 (ja) |
ES (1) | ES2658821T3 (ja) |
FI (1) | FI119173B (ja) |
WO (1) | WO2003044564A1 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009078143A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | General Electric Co <Ge> | エネルギ識別データを自在にまとめる方法及び装置 |
WO2013054654A1 (ja) * | 2011-10-14 | 2013-04-18 | 三菱電機株式会社 | Tdi方式リニアイメージセンサ |
JP2014093616A (ja) * | 2012-11-02 | 2014-05-19 | High Energy Accelerator Research Organization | デジタルtdi方式検出器 |
JP2015096841A (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 株式会社リガク | 放射線検出器、これを用いたx線分析装置および放射線検出方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8279315B2 (en) * | 2005-04-12 | 2012-10-02 | Planmeca Oy | CCD sensor and method for expanding dynamic range of CCD sensor |
JP5572315B2 (ja) * | 2005-09-08 | 2014-08-13 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 光学的画像のための高いダイナミックレンジを有する低電流測定 |
FI119864B (fi) | 2006-06-05 | 2009-04-15 | Planmeca Oy | Röntgenkuvantamissensori ja röntgenkuvantamismenetelmä |
DE102006029184A1 (de) * | 2006-06-24 | 2007-12-27 | Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg | Photonendetektor |
DE102007022519A1 (de) * | 2007-05-14 | 2008-11-20 | Siemens Ag | Verfahren zur Ermittlung einzelner Quantenabsorptionsereignisse bei einem Strahlungswandler zur Wandlung einzelner Quanten einer darauf einfallenden ionisierenden Strahlung. Programmcodemittel zur Durchführung des Verfahrens, Einrichtung zur elektronischen Datenverarbeitung, Strahlungswandler und Bildgebendes Tomografiegerät |
EP2462468A1 (en) * | 2009-08-04 | 2012-06-13 | Organisation Europeenne Pour La Recherche Nucleaire (Cern) | Pixilated radiation sensing device |
US8583638B2 (en) * | 2009-08-27 | 2013-11-12 | Apple Inc. | Adaptive mapping of search results |
JP6474350B2 (ja) * | 2013-12-09 | 2019-02-27 | 浜松ホトニクス株式会社 | 二次元フォトンカウンティング素子 |
JP6785429B2 (ja) * | 2015-12-03 | 2020-11-18 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 撮像装置 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3790785A (en) * | 1971-11-18 | 1974-02-05 | American Science & Eng Inc | Radiographic imaging |
JPS6122841A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-31 | ピカー インターナシヨナル インコーポレイテツド | 写像方法ならびに装置 |
JPH0232893B2 (ja) * | 1981-07-30 | 1990-07-24 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
JPH0661324B2 (ja) * | 1984-09-21 | 1994-08-17 | ピカ− インタ−ナシヨナル インコ−ポレイテツド | 放射線撮影装置 |
JPH0691633B2 (ja) * | 1986-07-15 | 1994-11-14 | 株式会社島津製作所 | 放射線像撮像装置 |
JPH06102065B2 (ja) * | 1985-11-26 | 1994-12-14 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮影装置 |
JPH0793923B2 (ja) * | 1985-09-02 | 1995-10-11 | 株式会社島津製作所 | 撮像装置 |
JPH09200625A (ja) * | 1995-11-21 | 1997-07-31 | Planmed Oy | 目標物を撮像する際に使用する方法及び装置 |
JPH09511616A (ja) * | 1994-03-31 | 1997-11-18 | イメイション・コーポレイション | 可変の電極配列および処理を用いるイメージングシステム |
JPH11505142A (ja) * | 1995-05-11 | 1999-05-18 | ユニバーシテイ・オブ・マサチユセツツ・メデイカル・センター | 定量的放射線透過写真映像化のための装置 |
WO2000053093A1 (en) * | 1999-03-10 | 2000-09-14 | Debex (Proprietary) Limited | Imaging apparatus |
JP2001502424A (ja) * | 1996-10-15 | 2001-02-20 | シマゲ オユ | 放射線撮像のための撮像素子 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5963879A (en) * | 1997-11-26 | 1999-10-05 | Schlumberger Technology Corporation | Binning of three dimensional seismic data |
-
2001
- 2001-11-23 FI FI20012301A patent/FI119173B/fi not_active IP Right Cessation
-
2002
- 2002-11-22 WO PCT/FI2002/000945 patent/WO2003044564A1/en active Application Filing
- 2002-11-22 JP JP2003546139A patent/JP4823480B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-11-22 US US10/496,228 patent/US7145985B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-11-22 EP EP02803426.2A patent/EP1446684B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-11-22 ES ES02803426.2T patent/ES2658821T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2002-11-22 AU AU2002366127A patent/AU2002366127A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3790785A (en) * | 1971-11-18 | 1974-02-05 | American Science & Eng Inc | Radiographic imaging |
JPH0232893B2 (ja) * | 1981-07-30 | 1990-07-24 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
JPS6122841A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-31 | ピカー インターナシヨナル インコーポレイテツド | 写像方法ならびに装置 |
JPH0661324B2 (ja) * | 1984-09-21 | 1994-08-17 | ピカ− インタ−ナシヨナル インコ−ポレイテツド | 放射線撮影装置 |
JPH0793923B2 (ja) * | 1985-09-02 | 1995-10-11 | 株式会社島津製作所 | 撮像装置 |
JPH06102065B2 (ja) * | 1985-11-26 | 1994-12-14 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮影装置 |
JPH0691633B2 (ja) * | 1986-07-15 | 1994-11-14 | 株式会社島津製作所 | 放射線像撮像装置 |
JPH09511616A (ja) * | 1994-03-31 | 1997-11-18 | イメイション・コーポレイション | 可変の電極配列および処理を用いるイメージングシステム |
JPH11505142A (ja) * | 1995-05-11 | 1999-05-18 | ユニバーシテイ・オブ・マサチユセツツ・メデイカル・センター | 定量的放射線透過写真映像化のための装置 |
JPH09200625A (ja) * | 1995-11-21 | 1997-07-31 | Planmed Oy | 目標物を撮像する際に使用する方法及び装置 |
JP2001502424A (ja) * | 1996-10-15 | 2001-02-20 | シマゲ オユ | 放射線撮像のための撮像素子 |
WO2000053093A1 (en) * | 1999-03-10 | 2000-09-14 | Debex (Proprietary) Limited | Imaging apparatus |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009078143A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | General Electric Co <Ge> | エネルギ識別データを自在にまとめる方法及び装置 |
WO2013054654A1 (ja) * | 2011-10-14 | 2013-04-18 | 三菱電機株式会社 | Tdi方式リニアイメージセンサ |
JPWO2013054654A1 (ja) * | 2011-10-14 | 2015-03-30 | 三菱電機株式会社 | Tdi方式リニアイメージセンサ |
US9184209B2 (en) | 2011-10-14 | 2015-11-10 | Mitsubishi Electric Corporation | TDI-type linear image sensor |
JP2014093616A (ja) * | 2012-11-02 | 2014-05-19 | High Energy Accelerator Research Organization | デジタルtdi方式検出器 |
JP2015096841A (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 株式会社リガク | 放射線検出器、これを用いたx線分析装置および放射線検出方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI119173B (fi) | 2008-08-29 |
US20040267488A1 (en) | 2004-12-30 |
JP4823480B2 (ja) | 2011-11-24 |
ES2658821T3 (es) | 2018-03-12 |
US7145985B2 (en) | 2006-12-05 |
FI20012301A0 (fi) | 2001-11-23 |
EP1446684B1 (en) | 2017-11-08 |
AU2002366127A1 (en) | 2003-06-10 |
WO2003044564A1 (en) | 2003-05-30 |
EP1446684A1 (en) | 2004-08-18 |
FI20012301A (fi) | 2003-05-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4989005B2 (ja) | デジタルx線撮像の方法及びセンサ装置 | |
EP2676434B1 (en) | Single photon counting detector system having improved counter architecture | |
JP4823480B2 (ja) | デジタルスキャン撮像のためのセンサ装置と方法 | |
EP0843830B1 (en) | Flat panel detector for radiation imaging with reduced electronic noise | |
CN101485195B (zh) | 固体拍摄装置 | |
JPH03165291A (ja) | X線像撮像装置 | |
US7897931B2 (en) | X-ray imaging sensor and X-ray imaging method | |
EP1127454B1 (en) | Imaging device using Time Delay Integration and radiation hit counts | |
JP2006506829A (ja) | 連結検出器ピクセル、光子/パルスカウント輻射線像形成素子 | |
CN113543712B (zh) | 一种带有辐射检测器和准直器的图像传感器 | |
JP2015133408A (ja) | 放射線検出器 | |
JP4723767B2 (ja) | X線画像診断装置 | |
JP2012100081A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP2008096278A (ja) | 放射線画像検出器 | |
US20120087472A1 (en) | Digital x-ray detector arrangement and digital x-ray imaging method | |
JPH07117586B2 (ja) | 放射線像撮像装置 | |
WO2002004983A1 (en) | Method and arrangement relating to x-ray imaging | |
TWI834847B (zh) | 圖像感測器、其使用方法及輻射電腦斷層掃描系統 | |
JP7311731B2 (ja) | X線画像取得装置及びx線画像取得システム | |
JPH04103169A (ja) | 電荷転送撮像装置 | |
CN115380225A (zh) | 图像传感器 | |
Andoh et al. | The noise reduction effect of the amplified metal oxide semiconductor imager |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051116 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20080411 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20080411 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090217 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090224 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090522 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100506 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100602 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20100917 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20110307 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110805 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110907 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4823480 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140916 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |