JP2008096278A - 放射線画像検出器 - Google Patents

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Abstract

【課題】基板上に設けられた、放射線を電気信号に変換するアレイ状に配置された複数の画像センサ部と、画像センサ部で変換された電気信号を転送する複数のデータ配線と、データ配線により転送された電気信号を積分するチャージアンプ回路とを備えた放射線画像検出器において、大型化することなく50μm前後の高精細な画素ピッチを実現する。
【解決手段】チャージアンプ回路30に対し複数のデータ配線5を順次切り替えて接続するセレクタ回路50を設ける。
【選択図】図2

Description

本発明は、アレイ状に配置された複数の画像センサ部により変換された電気信号をデータ配線により転送し、チャージアンプ回路により積分する放射線画像検出器に関するものである。
近年、TFTアクティブマトリクスアレイ上にX線感応層を配置し、X線情報を直接デジタルデータに変換できるFPD(flat panel detector)が実用化されている。従来のイメージングプレートに比べて、即時に画像を確認でき、動画も確認できるといったメリットがあり、急速に普及が進んでいる。
従来の放射線画像検出器は、収集電極をアレイ状に配置したアクティブマトリクス基板上に、電磁波導電性を有する半導体膜が形成され、その上に上部電極が順次形成されている。上部電源は高圧電源に接続されている。そして、半導体膜20は、セレンを主成分とする膜厚100〜1000μmの非晶質a−Se膜で、X線が照射されると、膜の内部に電荷を発生する。
図5に従来の放射線画像検出器の等価回路図を示す。
アクティブマトリクス基板上にアレイ状に配置された収集電極の近傍には、図5に示すように、TFTスイッチ3と蓄積容量2とが設けられており、TFTスイッチ3のゲート電極には走査配線4が接続されており、ソース電極にはデータ配線5が接続されている。そして、走査配線4にはゲートドライバIC40が接続されており、データ配線5にはチャージアンプ回路を備えたチャージアンプIC35が接続されている。
図6に従来の放射線画像検出器の平面構成図を示す。
アクティブマトリクス基板10はガラス基板70上に形成され、そのガラス基板10に対しゲートドライバIC40がTCP45により接続され、チャージアンプIC35がTCP36により接続される。そして、TCP36には、A/D変換回路60やコントロールIC80が設けられたデータ処理基板80が接続され、TCP45にはゲート基板46が接続される。
ここで、TCPは端子接続部がフイルム材料で構成されているため、線膨張の影響が大きく、一般的な構成では70μmピッチが限界と言われている。これに対し、放射線画像検出器の画素ピッチはより高精細化されており、70μm以下の画素ピッチが望まれている。
特開2002−236054号公報
しかしながら、上記のように放射線画像検出器の画素ピッチを70μm以下とすると、TCPの端子接続部の線ピッチは70μmが限界であるので、TCPが放射線画像検出器アクティブマトリクス基板10の範囲に実装できない問題が生じる。ガラス基板を大型化すればTCPを実装することは可能であるが、そのような大型な放射線画像検出器は実用的ではない。
本発明は、上記の事情に鑑み、大型化することなく50μm前後の高精細な画素ピッチを実現可能な放射線画像検出器を提供することを目的とする。
放射線画像検出器を提供することを目的とする。
本発明の放射線画像検出器は、基板上に設けられた、放射線を電気信号に変換するアレイ状に配置された複数の画像センサ部と、画像センサ部で変換された電気信号を転送する複数のデータ配線と、データ配線により転送された電気信号を積分するチャージアンプ回路とを備えた放射線画像検出器において、チャージアンプ回路に対し複数のデータ配線を順次切り替えて接続するセレクタ回路を備えたことを特徴とする。
また、上記本発明の放射線画像検出器においては、セレクタ回路をICチップ上に形成し、そのICチップを基板上に実装するようにすることができる。
また、チャージアンプ回路とセレクタ回路とを互いに異なるICチップ上に形成するようにすることができる。
本発明の放射線画像検出器によれば、基板上に設けられた、放射線を電気信号に変換するアレイ状に配置された複数の画像センサ部と、画像センサ部で変換された電気信号を転送する複数のデータ配線と、データ配線により転送された電気信号を積分するチャージアンプ回路とを備えた放射線画像検出器において、チャージアンプ回路に対し複数のデータ配線を順次切り替えて接続するセレクタ回路を備えるようにしたので、チャージアンプ回路の接続端子のピッチよりもデータ配線の線ピッチの方を細かくすることができ、大型化することなく50μm前後の高精細な画素ピッチを実現することができる。
以下、図面を参照して本発明の放射線画像検出器の一実施形態について説明する。
本実施形態の放射線画像検出器としてのフラットパネル型イメージセンサは、たとえば、人体を透過したX線像を画像化するX線撮像装置等に使用され、X線等の画像を検出できるイメージセンサである。なお、本発明の放射線画像検出器は、必ずしもフラットパネル型に限らず、基板が曲面にて形成される曲面基板からなるイメージセンサを含むものとする。
すなわち、例えば、図2に示すように、X線管球91から出射されるX線による被検体92の透過X線像が、2次元アレイ状に光電変換素子が配置された本実施形態の放射線画像検出器100により画像信号に変換されるようになっている。
この放射線画像検出器100から出力されたアナログ信号は、A/D変換器93によりデジタル画像信号に変換され、画像処理装置94に取り込まれる。画像処理装置94は、種々の画像処理を行うとともに、保存が必要な画像を画像記憶装置96に記憶させる。また、画像処理装置94から出力されるデジタル画像信号は、D/A変換器95によりアナログ信号に変換されて、画像モニタ装置97の画面に表示することができるものとなっている。
図1に本実施形態の放射線画像検出器100の概略構成図を示す。
本実施形態の放射線画像検出器100は、図1に示すように、アクティブマトリクス基板10と、このアクティブマトリクス基板10上の略全面に形成された半導体膜20と、誘電体層21と、上部電極22および後述する収集電極8の上に設けられる電子阻止層23とによって構成されている。
半導体膜20は、電磁波導電性を有するものであり、X線が照射されると膜の内部に電荷を発生するものである。半導体膜20としては、たとえば、セレンを主成分とする膜厚保100〜1000μmの非晶質a−Se膜を用いることができる。上記半導体膜20は、真空蒸着法によってたとえば300〜1000μmの厚みで形成されている。
また、誘電体層21及び電子阻止層23は、X線の照射時に漏れ電流が原因で電荷が後述する蓄積容量4に蓄積するのを防止するために設けられているものであり、必要に応じて設ければ良い。
すなわち、誘電体層21は、動作電圧が上部電極22に印加されたときに、電荷が上部電極22から半導体膜20に注入されるのを防ぐ一方、電子阻止層23は、電荷が収集電極8から半導体膜20に注入されるのを防ぐものとなっている。これにより、漏洩電流を防止して、X線イメージの解像度を向上させることができる。
上部電極22は、Au、Alなどの低抵抗の導電材料で構成されている。そして、上部電極22には、高圧電源24が接続されている。
アクティブマトリクス基板10は、半導体膜20において発生した電荷を収集する収集電極1、収集電極1によって収集された電荷を蓄積する蓄積容量2および蓄積容量2に蓄積された電荷を読み出すためのTFTスイッチ3を有する多数の画素11とTFTスイッチ3をON/OFFするための多数の走査配線4と蓄積容量4に蓄積された電荷が読み出される多数のデータ配線5とを備えている。画素11は、アレイ状に配置されている。
TFTスイッチ3としては、一般的には、アモルファスシリコンを活性層に用いたa−SiTFTが用いられる。そして、TFTスイッチ3のゲート電極には、TFTスイッチ3をON/OFFするための走査配線1が接続されており、ソース電極には、蓄積容量4に蓄積された電荷が読み出されるデータ配線5が接続されている。そして、データ配線5の終端には、チャージアンプ30が接続されている。
次に、図3に本実施形態の放射線画像検出器の等価回路図を示す。
図3に示すように、図3の水平方向に複数の走査配線1が、垂直方向に複数のデータ配線5が配置されている。そして、走査配線1には、走査配線1にTFTスイッチ3をON/OFFするための制御信号を出力するゲートドライバIC40が接続されており、データ配線5には、セレクタIC50が接続され、セレクタIC50の出力端には、チャージアンプ30が複数搭載されたチャージアンプIC35が接続され、チャージアンプIC35の出力端には、A/D変換回路60が接続されている。
セレクタIC50は、チャージアンプIC35の各チャージアンプ30に複数のデータ配線5をクロック信号CKに応じて順次切り替えて接続するものである。
次に、図4に本実施形態の放射線画像検出器の平面構成図を示す。
図4に示すように、本実施形態の放射線画像検出器のアクティブマトリクス基板10はガラス基板70上に画素11と走査配線1とデータ配線5を形成したものである。
そして、ガラス基板70上には、セレクタ回路がICチップ上に形成されたセレクタIC50が設けられている。すなわちセレクタIC50はCOG(Chip On Glass)より実装されている。
そして、ガラス基板70の一辺には、チャージアンプIC35が搭載されたTCP36が接続されている。そして、TCP36にはA/D変換回路60とコントロールIC80とが搭載されたデータ処理基板85が接続されている。コントロールIC80は放射線画像検出器の動作を制御するものである。
また、ガラス基板70の他の一辺には、ゲートドライバIC40が搭載されたTCP45が多数配列されて接続されている。そして、TCP45にはゲート基板46が接続されている。
次に、本実施形態の放射線画像検出器の動作原理について説明する。
図1の上方より被写体を透過したX線が照射されると半導体膜20はその内部に電荷を発生する。そして、半導体膜20で発生した電荷のうち正孔は上部電極22と収集電極1との間のバイアスにより収集電極1に集められ、収集電極1と電気的に接続された蓄積容量2に蓄積される。半導体膜20はX線量に依存して異なる電荷量を発生するため、X線が担持した画像情報に依存した量の電荷が各画素11の蓄積容量2に蓄積される。
その後、走査配線4を介してTFTスイッチ3をON状態にする信号が順次加えられ、データ配線5を介して蓄積容量2に蓄積された電荷が読み出される。そして、さらにアンプ30で各画素11の電荷量を検出することにより画像情報を読み取ることができる。
次に、図3の等価回路図を用いて、本実施形態の放射線画像検出器の駆動方法について説明する。
まず、上述したようにX線照射を行うことによりX線画像データの書き込みが行われる。上述したようにX線の照射量に応じて半導体膜20において発生した電荷は、各収集電極8に集められ、収集電極8に電気的に接続された蓄積容量4に蓄積される。そして、次に、ゲートドライバIC40から走査配線1に、GTn、GTn+1、GTn+2、・・・の順で順次ON信号が入力される。
そして、セレクタIC50のセレクタ回路のa端子とチャージアンプ30とが接続され、a端子に接続されたデータ配線5から流れ出した電気信号がチャージアンプ30によって検出される。そして、チャージアンプ30によって検出されたアナログ画像信号は、A/D変換回路60によってデジタル画像信号に変換されて出力される。
そして、次に、CK信号に応じてセレクタIC50のセレクタ回路がa端子からb端子に切り替えられ、b端子とチャージアンプ30とが接続され、b端子に接続されたデータ配線5から流れ出した電気信号がチャージアンプ30によって検出される。そして、チャージアンプ30によって検出されたアナログ画像信号は、A/D変換回路60によってデジタル画像信号に変換されて出力される。
なお、本実施形態の放射線画像検出器においては、1つのチャージアンプ30に対して2本のデータ配線5をセレクタIC50により順次切り替えるようにしたが、これに限らず、1つのチャージアンプ30に対して3本以上のデータ配線5をセレクタIC50により順次切り替えるようにしてもよい。
本発明の放射線画像検出器の一実施形態の概略構成図 本発明の放射線画像検出器の適用状態を示す説明図 本発明の放射線画像検出器の一実施形態の画素の等価回路図 本発明の放射線画像検出器の一実施形態の平面構成図 従来の放射線画像検出器の等価回路図 従来の放射線画像検出器の平面構成図
符号の説明
1 走査配線
2 蓄積容量
3 TFTスイッチ
4 データ配線
5 走査配線
10 アクティブマトリクス基板
20 半導体膜
21 誘電体層
22 上部電極
23 電子阻止層
24 高圧電源
30 チャージアンプ
35 チャージアンプIC
36,45 TCP
40 ゲートドライバIC
46 ゲート基板
50 セレクタIC
60 A/D変換回路
80 コントロールIC

Claims (3)

  1. 基板上に設けられた、放射線を電気信号に変換するアレイ状に配置された複数の画像センサ部と、該画像センサ部で変換された電気信号を転送する複数のデータ配線と、該データ配線により転送された電気信号を積分するチャージアンプ回路とを備えた放射線画像検出器において、
    前記チャージアンプ回路に対し複数の前記データ配線を順次切り替えて接続するセレクタ回路を備えたことを特徴とする放射線画像検出器。
  2. 前記セレクタ回路がICチップ上に形成されており、
    該ICチップが前記基板上に実装されていることを特徴とする請求項1記載の放射線画像検出器。
  3. 前記チャージアンプ回路と前記セレクタ回路とが互いに異なるICチップ上に形成されていることを特徴とする請求項1または2記載の放射線画像検出器。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010018497A1 (en) * 2008-08-14 2010-02-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. A mammography detector for the medical examining of a female breast
US9176241B2 (en) 2011-08-03 2015-11-03 Koninklijke Philips N.V. Position-sensitive readout modes for digital silicon photomultiplier arrays
US9070538B2 (en) 2013-10-25 2015-06-30 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Pinched plasma bridge flood gun for substrate charge neutralization
JP2015103958A (ja) * 2013-11-25 2015-06-04 ルネサスエレクトロニクス株式会社 撮像装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5099128A (en) * 1989-03-17 1992-03-24 Roger Stettner High resolution position sensitive detector
US6163029A (en) * 1997-09-22 2000-12-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation detector, radiation detecting method and X-ray diagnosing apparatus with same radiation detector
GB2332608B (en) * 1997-12-18 2000-09-06 Simage Oy Modular imaging apparatus
JP3588053B2 (ja) * 2001-02-07 2004-11-10 シャープ株式会社 電磁波検出器

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