JP2005351745A - 測量機 - Google Patents

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Abstract

【課題】
測量機に於いて、測定点がエッジ上にあるかどうかの判断を可能とし、測定点がエッジ上にある場合の誤測定を防止し、測定精度を向上する。
【解決手段】
測定対象2に測距光3を照射しその反射光3aから距離を測定する測量機1に於いて、少なくとも測距光の広がり範囲の画像を捉える撮像部27,31と、該撮像部が捉えた画像からエッジ抽出処理し、前記広がり範囲にエッジがあるかどうかを判断する制御部16とを具備する。
【選択図】 図3

Description

本発明は、レーザ光線を測定対象物に照射して光波距離測定を行う測量機、特に測定対象物にプリズムを使用しないノンプリズム方式の測量機に関するものである。
近年では、測定対象物にプリズムを使用せず、レーザ光線を直接測定対象物に照射して測定対象物からの反射光で測定を行うノンプリズム方式の測量機が普及している。
ノンプリズム方式の測量機では、測定の度にプリズムを移動する必要がなく、1人作業が可能となり、更に測定対象物、例えば建築物の任意の部分を測定点として選択でき、多数の測定点について容易に測定が可能であるので、測定対象物の2次元的な、或は3次元的な測定が行える。
尚、ノンプリズム方式の測量機としては、例えば特許文献1に示されるものがある。
図6はノンプリズム方式の測量機で測量を行う場合を示している。
図6中、1は測量機、2は測定対象物を示している。
光波距離測定を行う場合、測量機から照射されるレーザ光線(測距光3)は所定の広がりを有しており、又測定対象物が、3次元のもの、例えばビルディング等の建築物では、壁面と壁面との稜線4(エッジ4a,4b,4c,…)を有している。
測定対象物2内で測定点をエッジ4a近傍に選択した場合、或は任意に選択すると、選択された測定点(測距光3の照射位置)が、稜線4上、例えばエッジ4a上になる場合がある。
測定点がエッジ4a上になると、図7に示される様に、測量機1から発せられた測距光3が前記エッジ4aで分割され、前記測距光3の一部は手前の面5で反射され、一部は奥側の面6で反射される。この為、前記測量機1は前記手前の面5からの反射光と前記奥側の面6からの反射光により測定を行うことになり、エッジ4a部分は正しく測定できない場合が生じる。
従来、測定点の確認は、測量者が測量機1に設けられている望遠鏡7から測定点を視準して行っており、測定点がエッジ4a上となる場合は、測定点をエッジ4aからずらしている。
然し乍ら、通常望遠鏡7は単眼であり、測定個所が平面的に見え、又高倍率であることから、エッジ4aを認識できない場合があり、測定点がエッジ4a上にあることに気が付かずに測定を行ってしまう場合がある。この場合、測定値は誤差となってしまう。
特開2000−329517号公報
本発明は斯かる実情に鑑み、測定点がエッジ上にあるかどうかの判断を可能とし、測定点がエッジ上にある場合の誤測定を防止し、測定精度を向上するものである。
本発明は、測定対象に測距光を照射しその反射光から距離を測定する測量機に於いて、少なくとも測距光の広がり範囲の画像を捉える撮像部と、該撮像部が捉えた画像からエッジ抽出処理し、前記広がり範囲にエッジがあるかどうかを判断する制御部とを具備する測量機に係るものである。
又本発明は、エッジ抽出は前記広がり範囲について行われる測量機に係り、又エッジ抽出は撮像画像全範囲について行われる測量機に係るものである。
又本発明は、告知手段を具備し、該告知手段は前記広がり範囲にエッジがある場合に測定点が不適である旨の告知を行う測量機に係り、又前記告知手段は、表示部であり、該表示部は前記広がり範囲にエッジがある場合に、注意勧告を示す表示を行う測量機に係るものである。
又本発明は、距離測定が、前記広がり範囲中のエッジ有無判断後に実施され、前記制御部は前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合は、測距作動を停止させる測量機に係り、又距離測定が、前記広がり範囲中のエッジ有無判断前に実施され、前記制御部は前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合は、測定結果を削除又は無効とする測量機に係り、更に又制御部が前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合で、測定点が適正と確認された場合に、制御部の判断を無効とするキャンセルスイッチを備える測量機に係るものである。
本発明によれば、測定対象に測距光を照射しその反射光から距離を測定する測量機に於いて、少なくとも測距光の広がり範囲の画像を捉える撮像部と、該撮像部が捉えた画像からエッジ抽出処理し、前記広がり範囲にエッジがあるかどうかを判断する制御部とを具備するので、判断結果を基に測定点が適正であるかどうか、或は測距結果が適正であるかどうかを判断することが可能となる。
又本発明によれば、告知手段を具備し、該告知手段は前記広がり範囲にエッジがある場合に測定点が不適である旨の告知を行うので、作業者は測定点が適当でなかった場合を直ちに知ることができ、作業性が向上する。
又本発明によれば、距離測定が、前記広がり範囲中のエッジ有無判断後に実施され、前記制御部は前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合は、測距作動を停止させるので、無駄な作業が省略できる。
又本発明によれば、距離測定が、前記広がり範囲中のエッジ有無判断前に実施され、前記制御部は前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合は、測定結果を削除又は無効とするので、測定誤差の発生を防止でき、測定の精度、信頼性を向上できる。
又本発明によれば、制御部が前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合で、測定点が適正と確認された場合に、制御部の判断を無効とするキャンセルスイッチを備えるので、測定を簡便に続行でき、作業性が向上する等の優れた効果を発揮する。
以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。
図1は、本発明に係る測量機1の外観を示しており、該測量機1は角度(鉛直角、水平角)を検出する電子セオドライトと光波距離計を具備している。
又、前記測量機1は、主に望遠鏡部8、該望遠鏡部8を上下方向に回転可能に支持する托架部9、該托架部9を水平方向に回転可能に支持する基盤部11、該基盤部11を支持する整準部12から構成され、該整準部12は三脚等に取付け可能となっている。
前記望遠鏡部8には対物レンズ13を含む光学系、光波距離計、撮像部等が内蔵され、前記托架部9は表示部14、操作・入力部15、制御部16(後述)を具備している。
図3により測量機1の概略構成を説明する。
図中、1は測量機、2は測定対象物を示している。
前記測量機1は、前記表示部14、前記操作・入力部15、制御演算部17、鉛直角測角部18、水平角測角部19、記憶部21、測距部24、発光部25、測距光受光部26、画像受光部27、画像処理部28及び光学系31等を主に具備し、前記制御演算部17、前記記憶部21、前記画像処理部28は前記制御部16を構成し、前記光学系31、前記画像受光部27は撮像部を構成する。
前記操作・入力部15からは、測距を行う場合に測量作業者が測定開始指令、或は測定条件等を入力する。又、前記操作・入力部15は、演算処理をキャンセルする為のキャンセルスイッチ42(図1参照)を具備している。前記表示部14には測量時の測量条件、測量結果或は測量時に撮像した画像、或は画像処理された結果が表示される。
前記制御演算部17は、例えばCPUであり、前記操作・入力部15からの指令によりプログラムの起動、信号の制御処理、演算、或は前記表示部14、前記測距部24等の駆動制御等を実行する。
前記制御演算部17は、前記画像処理部28から入力される各画像データ信号と、該画像データを撮像した時の測量データ、例えば前記鉛直角測角部18からの鉛直角信号、前記水平角測角部19からの水平角信号、及び前記測距部24からの距離信号とを関連付けて前記記憶部21に記憶させる。
尚、各画像データ信号と測量データとの関連付けは、前記記憶部21に測定点毎に記録エリアを作成し、該記録エリア内に更に画像データ信号格納エリアと測量データ格納エリアを作成して、測定点毎に画像データ信号と測量データとを関連付けて記録する。或は、前記記憶部21に画像データ信号格納エリアと測量データ格納エリアを作成し、画像データ信号及び測量データを分離して画像データ信号格納エリアと測量データ格納エリアに格納すると共に画像データ信号と測量データをリンクさせる管理データを作成する等、既知の方法で関連付けがなされる。
前記鉛直角測角部18は前記光学系31により前記測定対象物2を視準した場合の水平に対する鉛直角を測定し、前記水平角測角部19は所定の方向を基準方向とした場合の、基準方向に対する前記測定対象物2の水平角を測定する。
前記測距光受光部26は、測定対象物2で反射された反射測距光3aを受光し、前記画像処理部28はCCD等の撮像装置であり、多数の画素(ピクセル)の集合体であり、各ピクセルの番地(撮像素子上の位置)が特定可能となっており、測定対象物2からの自然光が入射し、該測定対象物2の画像を受光する。
前記記憶部21には測定を行う為のシーケンスプログラム、或は画像処理、例えば画像データ信号から適宜なエッジの抽出処理方法(例えばCanny法)によりエッジ抽出を行うと共にピクセルからエッジの位置、エッジの方向を演算する画像処理プログラム、或はエッジの位置と測定点との関係を演算する演算プログラム等が格納されている。尚、前記記憶部21としては、前記測量機1に内蔵した半導体メモリ等、或は測量機1に対して接続可能な或は着脱可能なFD、CD、DVD、RAM、ROM、ハードディスク、メモリカード等種々の記録媒体が採用可能である。
図4は、前記光学系31の一例を示している。
光軸32上に対物レンズ13、反射ミラー34、ダイクロイックミラー35、合焦レンズ36、正立正像プリズム40が配設されている。
前記反射ミラー34の反射光軸上に前記発光部25が配設され、該発光部25は前記制御演算部17によって駆動発光され、測距光3、好ましくは自然光とは波長の異なる例えば赤外光を射出する。該測距光3はコリメートレンズ37で平行光束とされ前記反射ミラー34に入射される。該反射ミラー34で反射され前記光軸32方向に偏向され、前記反射ミラー34を介して測定対象物2に向けて照射される。
前記ダイクロイックミラー35は、反射測距光3aを反射し、自然光を透過する光学部材であり、前記ダイクロイックミラー35の反射光軸上に前記測距光受光部26が配設される。前記測定対象物2で反射され、前記対物レンズ13で集光された反射測距光3aは、前記ダイクロイックミラー35で反射され、前記測距光受光部26で受光される。該測距光受光部26は受光信号を前記測距部24に送出する。
該測距部24では、前記測距光受光部26による前記反射測距光3aの受光結果、及び内部参照光(図示せず)の受光結果を基に測定対象物2迄の距離を測定し、測定結果は前記制御演算部17に送出する。
前記正立正像プリズム40は、複数の反射面を有し、入射された倒立像を正立像として射出するものであり、反射面の少なくとも1つがハーフミラーとなっている。前記測定対象物2からの自然光は、前記ダイクロイックミラー35を透過して前記正立正像プリズム40に入射する。該正立正像プリズム40は、前記測定対象物2の像を正立像として射出し、又入射光の一部を分割分離して射出する。
前記合焦レンズ36を前記光軸32に沿って調整することで、正立像がレチクル38上に結像され、該レチクル38上の像は接眼レンズ39を介して測定者によって視認できる様になっている。又、分割された入射光の一部は前記レチクル38と共役な位置に配置された前記画像受光部27上に結像され、該画像受光部27は受光結果をピクセル個々の画素信号を集合した画像信号として前記画像処理部28に送出する。
該画像処理部28は、画像信号を画像処理することでエッジを抽出すると共にエッジの位置、高低角等の情報を演算し、演算結果は画素信号に関連付けた画像データ信号として前記制御演算部17に送出する。該制御演算部17は送出された画像データ信号を基に所要の演算を行うか或は画像データ信号を前記記憶部21に格納する。又、前記画像処理部28は前記レチクル38に結像される像と同等な画像信号、或は拡大、縮小した画像信号を前記制御演算部17に合わせて送出し、該制御演算部17は前記望遠鏡部8による視準範囲の画像を前記表示部14に表示させることができる。
以下、図5、図6を参照して作用について説明する。
前記測量機1を測定対象物2に向け、該測定対象物2での測定点を決定し、前記望遠鏡部8により視準方向を測定点に合わせる。
視準方向が決定されると、前記鉛直角測角部18、水平角測角部19より鉛直角、水平角が検出され、検出された鉛直角、水平角は前記記憶部21に記憶される(STEP:01)。
この時、前記画像受光部27上に結像された画像が、前記画像処理部28によって取込まれる(STEP:02)。画像は、測定点及びその周辺を含む画像である。取込まれた画像は前記表示部14に表示され、測定者は測定点を前記望遠鏡部8により直接視準しなくても、測定点の確認が行える。
前記画像処理部28によって画像処理がなされ、例えばCanny法によりエッジの抽出が行われる。エッジの抽出は画像中に含まれる全てのエッジに対して行われる(STEP:03)。
前記対物レンズ13、合焦レンズ36を含む望遠鏡部の焦点距離fは既知であり、ピクセルの位置dはtan(d/f)により画角を表している。従って、画像処理部28上のピクセルの位置は視準方向、即ち光軸32に対する鉛直角、水平角を反映しており、エッジの画像処理部28上の位置とピクセルの位置とを対比させることで、即ち鉛直角及び水平角も、同時に演算される。抽出されたエッジの位置の演算は、全てのエッジについて行われる(STEP:04)。
又、測距光3の広がり範囲D(図2参照)と前記画像処理部28上での範囲との関連付けが演算される。前記測距光3の広がり角は既知であり、又広がり角は測量機1と測定対象物2との距離変化には影響されないので、画像処理部28上での広がり範囲D′を、画像処理部28と焦点距離f、測距光3の広がり角によって特定することができる。
前記エッジの抽出結果、エッジの位置情報、広がり範囲D(ビーム径)は前記制御演算部17を介して前記記憶部21に記録される。
前記制御演算部17によって、前記光軸32を中心とした前記測距光3の広がり範囲Dに含まれるエッジがあるかどうかが、広がり範囲D(図2参照)とエッジの位置との比較によって演算される(STEP:05)。
抽出された全てのエッジが前記測距光3の広がり範囲Dにないことが確認されると、測距が開始される。前記発光部25より前記測距光3が測定点に照射され、測定点で反射された反射測距光3aが前記測距光受光部26で受光され、前記測距部24により測定点についての測距が行われる(STEP:06)。
前記制御演算部17によって、前記光軸32を中心とした前記測距光3の広がり範囲Dに含まれるエッジがあるかどうかが比較演算され、測距光3の広がり範囲Dにエッジがあると判断されると、測定点が不適と判断され、警告マーク(図示せず)等注意勧告を示す表示がされる。或は警告音が単独で若しくは警告マークと合わせて発せられ、測定点が不適であったことが測定者に告知される(STEP:07)。
上記した様に、取込んだ画像に含まれるエッジを全て抽出しているので、例えば図2で示す画像の範囲内で測定点を変更した場合、エッジの抽出作業は省略され、測定点を選択することで、直ちに測定点の適、不適が判断される。
尚、上記説明では、測距光3がエッジに掛った場合に、測定が実施されない様にしたが、上記(STEP:01)で鉛直角、水平角を求める時点で測距を実施してもよい。この場合、上記(STEP:05)で測距光3の広がり範囲Dに、エッジが存在することが確認されると、該当する測定結果が削除又は無効とされる様にする。前記表示部14には警告マーク(図示せず)が表示されると共に測定結果が削除されたことが表示される。
例えば、トータルステーション等で多数点について自動測量を実施する場合は、測距光3がエッジに掛った測定点のみ、測量結果が削除又は無効とされ、測定精度が向上する。
次に、他の実施の形態として、エッジ抽出の画像処理を測距光3の広がり範囲D(図2参照)のみに限って行う方法がある。
この場合、画像処理を行ってエッジが抽出(検出)されると、直ちに測定点が不適と判断される。従って、図5に於ける(STEP:03)、(STEP:04)、(STEP:05)が省略できる。測定点が少ない場合に有効である。
次に、測定対象物2がビルディングであった場合等で、壁面に線等が描かれていた場合もエッジ処理で測定点が不適と判断される可能性があり、この場合測定者は前記表示部14により測定点の位置を確認し、前記キャンセルスイッチ42を操作することで、エッジ処理に関する適、不適の演算を無効として、測定結果を復活させ、或は測距を実施し、正確な測定結果を得ることができる。
尚、上記実施の形態では、測距部と撮像部の光学系を共通としたが、撮像部を独立して設けてもよい。
本発明の実施の形態に係る測量機を示す斜視図である。 該測量機に設けられた表示部を示す部分図である。 該測量機の概略構成図である。 該測量機に具備される光学系の骨子図である。 本発明の実施の形態の作用説明図である。 従来例を示す説明図である。 従来例に於けるエッジ部での測定状態を示す説明図である。
符号の説明
1 測量機
2 測定対象物
3 測距光
8 望遠鏡部
14 表示部
15 操作・入力部
16 制御部
17 制御演算部
21 記憶部
24 測距部
25 発光部
26 測距光受光部
27 画像受光部
28 画像処理部
31 光学系
32 光軸
34 反射ミラー
40 正立正像プリズム
42 キャンセルスイッチ

Claims (8)

  1. 測定対象に測距光を照射しその反射光から距離を測定する測量機に於いて、少なくとも測距光の広がり範囲の画像を捉える撮像部と、該撮像部が捉えた画像からエッジ抽出処理し、前記広がり範囲にエッジがあるかどうかを判断する制御部とを具備することを特徴とする測量機。
  2. エッジ抽出は前記広がり範囲について行われる請求項1の測量機。
  3. エッジ抽出は撮像画像全範囲について行われる請求項1の測量機。
  4. 告知手段を具備し、該告知手段は前記広がり範囲にエッジがある場合に測定点が不適である旨の告知を行う請求項1の測量機。
  5. 前記告知手段は、表示部であり、該表示部は前記広がり範囲にエッジがある場合に、注意勧告を示す表示を行う請求項2の測量機。
  6. 距離測定が、前記広がり範囲中のエッジ有無判断後に実施され、前記制御部は前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合は、測距作動を停止させる請求項1の測量機。
  7. 距離測定が、前記広がり範囲中のエッジ有無判断前に実施され、前記制御部は前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合は、測定結果を削除又は無効とする請求項1の測量機。
  8. 制御部が前記広がり範囲中にエッジ有を判断した場合で、測定点が適正と確認された場合に、制御部の判断を無効とするキャンセルスイッチを備える請求項6又は請求項7の測量機。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018173346A (ja) * 2017-03-31 2018-11-08 株式会社トプコン レーザスキャナ
US10871370B2 (en) 2017-03-02 2020-12-22 Topcon Corporation Measurement device

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005249715A (ja) * 2004-03-08 2005-09-15 Topcon Corp 測量方法及び測量機
ATE438837T1 (de) 2006-02-02 2009-08-15 Alstom Technology Ltd Messvorrichtung
DE102006031580A1 (de) 2006-07-03 2008-01-17 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren und Vorrichtung zum dreidimensionalen Erfassen eines Raumbereichs
DE102009015920B4 (de) 2009-03-25 2014-11-20 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9551575B2 (en) 2009-03-25 2017-01-24 Faro Technologies, Inc. Laser scanner having a multi-color light source and real-time color receiver
GB2470203B (en) * 2009-05-13 2011-04-06 Adam Lomas Camera with integral image-based object measurement facility
DE102009057101A1 (de) 2009-11-20 2011-05-26 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9210288B2 (en) 2009-11-20 2015-12-08 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with dichroic beam splitters to capture a variety of signals
US9113023B2 (en) 2009-11-20 2015-08-18 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with spectroscopic energy detector
US9529083B2 (en) 2009-11-20 2016-12-27 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with enhanced spectroscopic energy detector
US8630314B2 (en) 2010-01-11 2014-01-14 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for synchronizing measurements taken by multiple metrology devices
US9607239B2 (en) 2010-01-20 2017-03-28 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
US8898919B2 (en) 2010-01-20 2014-12-02 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machine with distance meter used to establish frame of reference
WO2011090902A1 (en) 2010-01-20 2011-07-28 Faro Technologies, Inc. Embedded arm strain sensors
US9628775B2 (en) 2010-01-20 2017-04-18 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
US8284407B2 (en) 2010-01-20 2012-10-09 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring machine having an illuminated probe end and method of operation
US8832954B2 (en) 2010-01-20 2014-09-16 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machines with removable accessories
US8677643B2 (en) 2010-01-20 2014-03-25 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machines with removable accessories
DE112011100309B4 (de) 2010-01-20 2015-06-11 Faro Technologies, Inc. Tragbares Gelenkarm-Koordinatenmessgerät mit abnehmbarem Zubehör
US9879976B2 (en) 2010-01-20 2018-01-30 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine that uses a 2D camera to determine 3D coordinates of smoothly continuous edge features
US8615893B2 (en) 2010-01-20 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Portable articulated arm coordinate measuring machine having integrated software controls
US9163922B2 (en) 2010-01-20 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machine with distance meter and camera to determine dimensions within camera images
US8875409B2 (en) 2010-01-20 2014-11-04 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machines with removable accessories
DE102010020925B4 (de) 2010-05-10 2014-02-27 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
GB2501390B (en) 2010-09-08 2014-08-06 Faro Tech Inc A laser scanner or laser tracker having a projector
DE102010043136B4 (de) * 2010-10-29 2018-10-31 Hilti Aktiengesellschaft Messgerät und Verfahren für eine berührungslose Messung von Abständen bei einem Zielobjekt
US9168654B2 (en) 2010-11-16 2015-10-27 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring machines with dual layer arm
CN102419165A (zh) * 2011-08-16 2012-04-18 福建汇川数码技术科技有限公司 基于激光与摄像机同轴实现的远程测距系统的测距激光点定位方法
GB2508564A (en) * 2011-09-13 2014-06-04 Osi Optoelectronics Inc Improved laser rangefinder sensor
CN102445183B (zh) * 2011-10-09 2013-12-18 福建汇川数码技术科技有限公司 基于激光与摄像机平行实现的远程测距系统测距激光点的定位方法
JP6009753B2 (ja) 2011-10-26 2016-10-19 株式会社トプコン 画像測定装置
DE102012100609A1 (de) 2012-01-25 2013-07-25 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US8997362B2 (en) 2012-07-17 2015-04-07 Faro Technologies, Inc. Portable articulated arm coordinate measuring machine with optical communications bus
DE102012109481A1 (de) 2012-10-05 2014-04-10 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US10067231B2 (en) 2012-10-05 2018-09-04 Faro Technologies, Inc. Registration calculation of three-dimensional scanner data performed between scans based on measurements by two-dimensional scanner
US9513107B2 (en) 2012-10-05 2016-12-06 Faro Technologies, Inc. Registration calculation between three-dimensional (3D) scans based on two-dimensional (2D) scan data from a 3D scanner
DE102012223928A1 (de) 2012-12-20 2014-06-26 Hilti Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Ortskoordinaten eines Zielobjektes
CN103557796B (zh) * 2013-11-19 2016-06-08 天津工业大学 基于激光测距和计算机视觉的三维定位系统及定位方法
TWI498580B (zh) * 2013-11-29 2015-09-01 Wistron Corp 長度量測方法與長度量測裝置
JP1542103S (ja) * 2015-04-24 2019-01-15
DE102015122844A1 (de) 2015-12-27 2017-06-29 Faro Technologies, Inc. 3D-Messvorrichtung mit Batteriepack
JP7103354B2 (ja) * 2017-05-24 2022-07-20 ソニーグループ株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
JP6867244B2 (ja) * 2017-06-28 2021-04-28 株式会社トプコン 測量機の通信管理システム
JP7311225B2 (ja) * 2019-05-15 2023-07-19 株式会社トプコン 測定システム、測定方法、及び測定プログラム

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5988862A (en) * 1996-04-24 1999-11-23 Cyra Technologies, Inc. Integrated system for quickly and accurately imaging and modeling three dimensional objects
DE19906272A1 (de) * 1999-02-15 2000-09-07 Heilig & Schwab Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Winkeln an Werkzeugschneiden sowie Meßeinrichtung
JP2000329517A (ja) 1999-05-21 2000-11-30 Topcon Corp 距離測定装置
JP4205825B2 (ja) 1999-11-04 2009-01-07 本田技研工業株式会社 対象物認識装置
JP4356050B2 (ja) * 2000-12-28 2009-11-04 株式会社トプコン 測量装置と電子的記憶媒体
JP2004093504A (ja) * 2002-09-03 2004-03-25 Topcon Corp 測量装置
JP2004163292A (ja) 2002-11-13 2004-06-10 Topcon Corp 測量装置と電子的記憶媒体
JP2004170355A (ja) 2002-11-22 2004-06-17 Topcon Corp 反射体自動追尾装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10871370B2 (en) 2017-03-02 2020-12-22 Topcon Corporation Measurement device
JP2018173346A (ja) * 2017-03-31 2018-11-08 株式会社トプコン レーザスキャナ

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