JP2005351665A - 非破壊検査のための装置、その制御方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】 非破壊検査装置において、誤操作による電源投入を防止すると同時に、電源断中に電力が消費されることも防止することを可能にする。
【解決手段】 バッテリ13に接続された電源スイッチと、バッテリ13と電源スイッチ14とに接続され、非破壊検査装置への電源供給経路を選択的に切替え可能な切替え手段15と、装置内部に備わる回路基板17上に設置されているCPU1と、電源スイッチ14の押下時間を計測する時間計測部18とを備える非破壊検査装置を提供する。
【選択図】 図2
【解決手段】 バッテリ13に接続された電源スイッチと、バッテリ13と電源スイッチ14とに接続され、非破壊検査装置への電源供給経路を選択的に切替え可能な切替え手段15と、装置内部に備わる回路基板17上に設置されているCPU1と、電源スイッチ14の押下時間を計測する時間計測部18とを備える非破壊検査装置を提供する。
【選択図】 図2
Description
本発明は、バッテリ等の携帯型電源を備えた非破壊検査装置、その制御方法及びプログラムに関する。
資材や部品、構造物などの検査対象物を、分解や破壊することなく、欠陥の有無や内部構造を検査するために、非破壊検査装置が使用されている。
例えば、超音波探傷検査装置は、探触子で生成した超音波を、検査対象物に対して射出し、反射作用により検査対象物から戻ってきたエコーを検出することによって検査対象物内部の傷等を探し出す装置である。
例えば、超音波探傷検査装置は、探触子で生成した超音波を、検査対象物に対して射出し、反射作用により検査対象物から戻ってきたエコーを検出することによって検査対象物内部の傷等を探し出す装置である。
近年では、超音波探傷検査装置等の非破壊検査装置においても、小型化・軽量化が進み、携帯型の非破壊検査装置が多くの用途に使用されている。
特許文献1には、設置型と携帯型の各装置に選択して使用でき、一台で二役に対応できる超音波探傷検査装置等の非破壊検査装置について開示されている。
特開平11−148923号公報
特許文献1には、設置型と携帯型の各装置に選択して使用でき、一台で二役に対応できる超音波探傷検査装置等の非破壊検査装置について開示されている。
携帯型の非破壊検査装置では、誤って電源スイッチを押下しないように、電源スイッチに長押し機能が設けられているものが多い。長押し機能とは、例えば、装置内部に備わるCPUや電源部に備わる電源監視用マイコンによって、電源スイッチの押下時間を監視し、一定時間電源スイッチが押下された状態の場合に、電源スイッチがONとなる機能である。
したがって、上述のように、非破壊検査装置は、電源断の状態であっても電源スイッチの長押しを検知するために、CPUの一部の機能が動作した状態(スリープ状態)、又は、電源部に備わる電源監視用マイコンは常時動作した状態となり、電源断の状態であっても一定の電力が消費されることとなる。
一方、携帯型の非破壊検査装置の電源には、主にバッテリが使用されるので、限られたバッテリの電力が、電源断の状態においても消費されてしまうために、実際に非破壊検査装置を使用する時間が短くなるという問題があった。
一方、携帯型の非破壊検査装置の電源には、主にバッテリが使用されるので、限られたバッテリの電力が、電源断の状態においても消費されてしまうために、実際に非破壊検査装置を使用する時間が短くなるという問題があった。
また、例えば、バッテリを接続した状態で長時間電源断状態とした場合、電源断中にバッテリの電力が全て消費され、次に電源を投入する際に電源を投入できなくなってしまう等の問題が発生していた。
本発明は、上述した問題に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、誤操作による電源投入を防止すると同時に、電源断中に電力が消費されることも防止する非破壊検査のための装置、その制御方法及びプログラムを提供することである。
本発明は、上述した問題に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、誤操作による電源投入を防止すると同時に、電源断中に電力が消費されることも防止する非破壊検査のための装置、その制御方法及びプログラムを提供することである。
請求項1に記載の発明は、携帯型電源を備えた非破壊検査のための装置であって、操作者によって所定の操作が行われている間のみ、前記携帯型電源からの電力を供給可能な電源スイッチと、該電源スイッチを介して前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第1の電力供給経路と、前記電源スイッチを介さずに前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第2の電力供給経路と、を選択的に切替え可能な切替え手段と、前記電源スイッチに対する前記所定の操作によって、前記携帯型電源からの電力が前記装置に供給されている時間を計測し、該計測した時間が所定の時間を経過すると、前記切替え手段の前記第1の電力供給経路を前記第2の電力供給経路に切替える時間計測手段と、を備えることを特徴とする非破壊検査のための装置である。
請求項1に記載の発明によると、操作者が前記電源スイッチに対して所定の操作をすることによって、初めて、前記第1の電力供給経路を介して前記装置に電力が供給されるので、前記所定の操作をする前の状態、すなわち、電源断の状態での前記携帯型電源の前記装置による電力消費を防止することが可能となる効果を奏する。
さらに、前記第1の電力供給経路を介して前記装置に電力が供給される時間は、前記時間計測手段によって計測され、所定の時間を経過して初めて、前記第2の電力供給経路に切り替わり、それ以後は、前記所定の操作を行なわなくても、携帯型電源からの電力が前記装置に継続的に供給されるので、電源スイッチの誤操作によって前記装置に電源投入(電力が供給)されることを防止することが可能となる効果を奏する。
さらに、前記第1の電力供給経路を介して前記装置に電力が供給される時間は、前記時間計測手段によって計測され、所定の時間を経過して初めて、前記第2の電力供給経路に切り替わり、それ以後は、前記所定の操作を行なわなくても、携帯型電源からの電力が前記装置に継続的に供給されるので、電源スイッチの誤操作によって前記装置に電源投入(電力が供給)されることを防止することが可能となる効果を奏する。
請求項2に記載の発明は、前記時間計測手段は、前記非破壊検査のための装置を制御するCPUに備わることを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査のための装置である。
請求項2に記載の発明によると、請求項1に記載の発明の効果に加えて、前記時間計測手段が、前記CPUに備わることによって、前記装置の構成を小さくすることが可能となる効果を奏する。
請求項2に記載の発明によると、請求項1に記載の発明の効果に加えて、前記時間計測手段が、前記CPUに備わることによって、前記装置の構成を小さくすることが可能となる効果を奏する。
請求項3に記載の発明は、携帯型電源を備えた非破壊検査のための装置を制御する方法であって、操作者によって所定の操作が行われている間のみ、前記携帯型電源からの電力を供給可能な電源スイッチを介して、前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給している時間を計測し、該計測した時間が所定の時間を経過すると、前記電源スイッチを介して前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第1の電力供給経路を、前記電源スイッチを介さずに前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第2の電力供給経路に切替える、ことを特徴とする非破壊検査のための装置を制御する方法である。
請求項4に記載の発明は、携帯型電源を備えた非破壊検査のための装置を制御するためのプログラムであって、操作者によって所定の操作が行われている間のみ、前記携帯型電源からの電力を供給可能な電源スイッチを介して、前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給している時間を計測する時間計測処理と、該計測した時間が所定の時間を経過すると、前記電源スイッチを介して前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第1の電力供給経路を、前記電源スイッチを介さずに前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第2の電力供給経路に切替える切替え処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする非破壊検査のための装置を制御するためのプログラムである。
請求項3及び請求項4に記載の発明によっても、請求項1に記載の発明と同様に、操作者が前記電源スイッチに対して所定の操作をすることによって、初めて、前記第1の電力供給経路を介して前記装置に電力が供給されるので、前記所定の操作をする前の状態、すなわち、電源断の状態での前記携帯型電源の前記装置による電力消費を防止することが可能となる効果を奏し、さらに、前記第1の電力供給経路を介して前記装置に電力が供給される時間が、、所定の時間を経過して初めて、前記第2の電力供給経路に切り替わり、それ以後は、前記所定の操作を行なわなくても、携帯型電源からの電力が前記装置に継続的に供給されるので、電源スイッチの誤操作によって前記装置に電源投入(電力が供給)されることを防止することが可能となる効果を奏する。
請求項5に記載の発明は、携帯型電源を備えた情報処理装置であって、所定の操作が行われている間のみ、電力を供給可能な電源スイッチと、該電源スイッチを介して前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第1の電力供給経路と、前記電源スイッチを介さずに前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第2の電力供給経路と、を選択的に切替え可能な切替え手段と、前記携帯型電源からの電力が前記装置に供給されている時間を計測し、該計測した時間が所定の時間を経過すると、前記切替え手段の前記第1の電力供給経路を前記第2の電力供給経路に切替える時間計測手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置。
以上のように、本発明によると、誤操作による電源投入を防止すると同時に、電源断中に電力が消費されることも防止する非破壊検査のための装置、その制御方法及びプログラムを提供することが可能となる。
以下、本発明の実施形態について、図1から図4に基づいて説明する。
図1は、本実施例に係る非破壊検査装置の全体構成の例を示している。
本発明の実施例に係る非破壊検査装置は、非破壊検査装置を構成する各要素を制御するCPU1と、CPUからの指示に応じてパルス信号を生成するパルサ2と、パルサ2からのパルス信号を超音波に変換して被検体4に出射し、被検体4からのエコーを検出する電気信号に変換する探触子3と、探触子3によって検出したエコー信号を受信するレシーバ5と、レシーバ5からのエコー信号をデジタル信号に変換するA/Dコンバータ6と、デジタル化されたエコー信号(波形データ)を一時的に記憶するための波形メモリ7と、波形メモリ7に記憶されている波形データに対して所定のデジタル処理を行なう画像処理部8と、所定のデジタル処理が施された波形データをアナログ信号に変換するD/Aコンバータ9と、波形データ等を表示するモニタ10と、CPU1を動作させるために必要なプログラムやデータ等を一時的に記憶するメモリ11と、波形メモリ7に記憶されているデータを記憶するための記憶装置12とを少なくとも備える。
図1は、本実施例に係る非破壊検査装置の全体構成の例を示している。
本発明の実施例に係る非破壊検査装置は、非破壊検査装置を構成する各要素を制御するCPU1と、CPUからの指示に応じてパルス信号を生成するパルサ2と、パルサ2からのパルス信号を超音波に変換して被検体4に出射し、被検体4からのエコーを検出する電気信号に変換する探触子3と、探触子3によって検出したエコー信号を受信するレシーバ5と、レシーバ5からのエコー信号をデジタル信号に変換するA/Dコンバータ6と、デジタル化されたエコー信号(波形データ)を一時的に記憶するための波形メモリ7と、波形メモリ7に記憶されている波形データに対して所定のデジタル処理を行なう画像処理部8と、所定のデジタル処理が施された波形データをアナログ信号に変換するD/Aコンバータ9と、波形データ等を表示するモニタ10と、CPU1を動作させるために必要なプログラムやデータ等を一時的に記憶するメモリ11と、波形メモリ7に記憶されているデータを記憶するための記憶装置12とを少なくとも備える。
さらに、本実施例に係る非破壊検査装置は、当該装置に対して電力を供給するためのバッテリ13と、バッテリ13から非破壊検査装置への電力供給を制御するための電源スイッチ14及び切替え部15を備えている。
パルサ2は、CPUからの指示に応じてパルス信号を生成して探触子3に出力する。探触子3は、パルサ2からのパルス信号を超音波に変換して被検体4に対して出射し、被検体4に入射された超音波のエコーを電気信号に変換してレシーバ5に出力する。
パルサ2は、CPUからの指示に応じてパルス信号を生成して探触子3に出力する。探触子3は、パルサ2からのパルス信号を超音波に変換して被検体4に対して出射し、被検体4に入射された超音波のエコーを電気信号に変換してレシーバ5に出力する。
レシーバ5は、CPU1からの指示に応じて、エコー信号のゲインを調整し、A/Dコンバータ6に出力する。A/Dコンバータ6によってデジタル化されたエコー信号は、一時的に波形メモリ7に記憶され、画像処理部8によって所定のデジタル処理が施され、D/Aコンバータ9を介してモニタ10に表示される。
また、波形メモリ7に記憶されているエコー信号は、所定のデジタル処理が施された後、CPU1の指示に応じて、記憶装置12に記憶され、専用線やネットワーク等によって接続された周辺機器16に送信される。
また、波形メモリ7に記憶されているエコー信号は、所定のデジタル処理が施された後、CPU1の指示に応じて、記憶装置12に記憶され、専用線やネットワーク等によって接続された周辺機器16に送信される。
図2は、本実施例に係る非破壊検査装置の電源制御部の構成例を示している。
同図に示す電源制御部は、バッテリ13に接続された電源スイッチ14と、バッテリ13と電源スイッチ14とに接続され、非破壊検査装置への電源供給経路を選択的に切替え可能な切替え手段15と、図1に示した非破壊検査装置内部に備わる各構成要素を設置する回路基板17上に設置されているCPU1と、電源スイッチ14の押下時間を計測する時間計測部18とを備えている。
同図に示す電源制御部は、バッテリ13に接続された電源スイッチ14と、バッテリ13と電源スイッチ14とに接続され、非破壊検査装置への電源供給経路を選択的に切替え可能な切替え手段15と、図1に示した非破壊検査装置内部に備わる各構成要素を設置する回路基板17上に設置されているCPU1と、電源スイッチ14の押下時間を計測する時間計測部18とを備えている。
切替え手段15は、CPU1からの指示に応じて、バッテリ13から回路基板17へのの電力供給経路を切替える。すなわち、バッテリ13から電源スイッチ14を介して回路基板17に電力を供給する経路と、バッテリ13から電源スイッチ14を介さずに回路基板17に電力を供給する経路とをCPU1の指示信号に応じて切替える手段である。
ここで、切替え回路17は、CPU1の指示信号に応じて切替え処理を行なうために、例えば、トランジスタ等を用いた公知の電気回路によって構成される。
ここで、切替え回路17は、CPU1の指示信号に応じて切替え処理を行なうために、例えば、トランジスタ等を用いた公知の電気回路によって構成される。
時間計測部18は、CPU1の指示によって時間計測を開始し、計測時間が所定の時間となると、例えばCPU1に割り込み信号を送信して所定の時間が経過したことを通知する。
なお、同図に示す時間計測部18は、CPU1とは独立して動作する構成としているが、CPU1の機能(例えば、CPUタイマー)によって実現してもよい。この場合、CPU1が起動すると同時にCPUタイマーも動作するようし、CPU1自身が、CPUタイマーによる計測時間を監視すればよい。
なお、同図に示す時間計測部18は、CPU1とは独立して動作する構成としているが、CPU1の機能(例えば、CPUタイマー)によって実現してもよい。この場合、CPU1が起動すると同時にCPUタイマーも動作するようし、CPU1自身が、CPUタイマーによる計測時間を監視すればよい。
電源断の状態では、同図に示すように、電源スイッチ14はオープン状態となっている。また、切替え回路15も、電源スイッチ14側と接続されている状態となっているので、バッテリ13との接続端子は、オープン状態となる。
したがって、バッテリ13と回路基板17とは、回路的に完全に切り離された状態となっているので、バッテリ13の電力は全く消費されないこととなる。
したがって、バッテリ13と回路基板17とは、回路的に完全に切り離された状態となっているので、バッテリ13の電力は全く消費されないこととなる。
次に、操作者によって非破壊検査装置に電源投入する場合を考える。
操作者が、電源スイッチ14を押下すると、バッテリ13は電源スイッチ14及び切替え手段15を介して回路基板17と接続されるので、回路基板17にバッテリ13からの電力が供給される。
回路基板17に電力が供給されると、CPU1及び時間計測部18にも電力が供給されるので、CPU1及び時間計測部18が動作可能な状態となる。CPU1及び時間計測部18が動作可能になると、CPU1は、時間計測部18に対して所定の時間だけ時間を計測するように指示を行なう。
操作者が、電源スイッチ14を押下すると、バッテリ13は電源スイッチ14及び切替え手段15を介して回路基板17と接続されるので、回路基板17にバッテリ13からの電力が供給される。
回路基板17に電力が供給されると、CPU1及び時間計測部18にも電力が供給されるので、CPU1及び時間計測部18が動作可能な状態となる。CPU1及び時間計測部18が動作可能になると、CPU1は、時間計測部18に対して所定の時間だけ時間を計測するように指示を行なう。
時間計測部18は、CPU1の指示に応じて時間の計測を開始し、所定の時間が経過すると、CPU1に割り込み信号を送信する等によって所定の時間が経過したことを通知する。
時間計測部18から所定の時間が経過した旨の通知を受け取ると、CPU1は、切替え手段15に対して電力経路の変更を指示する。切替え手段15は、CPU1の指示に応じて、バッテリ13からの電力供給経路を切替える。すなわち、バッテリ13から電源スイッチ14を介さずに回路基板17に電力を供給する経路に切替える。
時間計測部18から所定の時間が経過した旨の通知を受け取ると、CPU1は、切替え手段15に対して電力経路の変更を指示する。切替え手段15は、CPU1の指示に応じて、バッテリ13からの電力供給経路を切替える。すなわち、バッテリ13から電源スイッチ14を介さずに回路基板17に電力を供給する経路に切替える。
以上に説明した動作が完了すると、操作者が電源スイッチ14を押下することをやめても、バッテリ13から回路基板17に電力が供給され続けることとなる。
図3は、本実施例に係る電源制御部の電源投入時の処理概要のフローチャートを示す図である。
操作者が、非破壊検査装置に備わる電源スイッチ14を押下すると(ステップS301)、バッテリの電力は、電源スイッチ14及び切替え手段15を介して回路基板17に供給され、CPU1が起動する(ステップS302)。
図3は、本実施例に係る電源制御部の電源投入時の処理概要のフローチャートを示す図である。
操作者が、非破壊検査装置に備わる電源スイッチ14を押下すると(ステップS301)、バッテリの電力は、電源スイッチ14及び切替え手段15を介して回路基板17に供給され、CPU1が起動する(ステップS302)。
CPU1が起動すると、CPU1は、時間計測部18に対して時間計測の指示信号を送信し、時間計測処理を開始する(ステップS303)。そして、CPU1は、時間計測部18から一定間隔毎に計測時間を読出し、予め設定された時間と比較する(ステップS304)。
ここで、CPU1が起動した状態とは、非破壊検査装置内の各構成要素を動作するための各種ドライバ等の初期化やOS(Operating System)等の起動まで完了している必要はなく、CPU1単体の初期化が完了して動作可能な状態か、または、時間計測部18を動作させて時間計測が可能な状態であればよい。
ここで、CPU1が起動した状態とは、非破壊検査装置内の各構成要素を動作するための各種ドライバ等の初期化やOS(Operating System)等の起動まで完了している必要はなく、CPU1単体の初期化が完了して動作可能な状態か、または、時間計測部18を動作させて時間計測が可能な状態であればよい。
ステップS304の処理によって、CPU1が一定時間経過したと判断すると、切替え手段15に対して経路の切替え指示を行ない、バッテリ13から回路基板17への電力供給経路が切替えられ(ステップS305)、電源投入処理が完了する(ステップS306)。
ステップS304において、予め設定された時間を経過していない場合には、一定間隔毎にステップS304の処理が繰り返えされる。
ステップS304において、予め設定された時間を経過していない場合には、一定間隔毎にステップS304の処理が繰り返えされる。
ここで、操作者が、電源スイッチを押下することを中断すると(ステップS307)、回路基板17への電力供給も中断するので電源断となる(ステップS308)。
以上のように、非破壊検査装置が電源断の状態では、バッテリ13と非破壊検査装置を構成する各要素とは電気的に完全に切り離される状態となるので、非破壊検査装置を構成する各要素が、バッテリ13の電力を消費することを防止することが可能となる。
以上のように、非破壊検査装置が電源断の状態では、バッテリ13と非破壊検査装置を構成する各要素とは電気的に完全に切り離される状態となるので、非破壊検査装置を構成する各要素が、バッテリ13の電力を消費することを防止することが可能となる。
同時に、操作者は、電源スイッチ14を一定時間だけ長押しをしなくてはならないので、誤作動による電源投入を防止することが可能となる。
また、電源監視のためにマイコンやCPU、DSP(Digital Signal Processor)等を設ける必要なくなるので、装置全体の回路構成(または、回路基板のサイズ)が大きくなることを防止し、コストが高くなることを抑えることが可能となる。
また、電源監視のためにマイコンやCPU、DSP(Digital Signal Processor)等を設ける必要なくなるので、装置全体の回路構成(または、回路基板のサイズ)が大きくなることを防止し、コストが高くなることを抑えることが可能となる。
さらに、電源制御のための専用の回路等を要しないため、非破壊検査装置の構成が大きくなることを防止できると共に、より安価に作成することができる。
図4は、本実施例に係る電源制御部の電源断時の処理概要のフローチャートを示す図である。
操作者が、非破壊検査装置に備わる電源スイッチ14を押下すると(ステップS401)、電源スイッチ14からの割り込み信号が、CPU1に対して割り込まれる。CPU1は、電源スイッチ14からの割り込み信号に応じて、時間計測部18に時間計測の指示信号を送り、時間計測部18で時間の計測が開始される(ステップS402)。
図4は、本実施例に係る電源制御部の電源断時の処理概要のフローチャートを示す図である。
操作者が、非破壊検査装置に備わる電源スイッチ14を押下すると(ステップS401)、電源スイッチ14からの割り込み信号が、CPU1に対して割り込まれる。CPU1は、電源スイッチ14からの割り込み信号に応じて、時間計測部18に時間計測の指示信号を送り、時間計測部18で時間の計測が開始される(ステップS402)。
時間計測部18での時間計測が開始されると、CPU1は、時間計測部18から一定間隔毎に計測時間を読出し、予め設定された時間と比較する(ステップS403)。
ステップS404において、CPU1が、予め設定された時間を経過したと判断すると、切替え手段15に対して経路の切替え指示を行ない、バッテリ13から回路基板17への電力経路が切替えられ(ステップS405)、電源断の処理が完了する(ステップS406)。
ステップS404において、CPU1が、予め設定された時間を経過したと判断すると、切替え手段15に対して経路の切替え指示を行ない、バッテリ13から回路基板17への電力経路が切替えられ(ステップS405)、電源断の処理が完了する(ステップS406)。
ステップS403において、予め設定された時間を経過していない場合には、一定間隔毎にステップS403の処理が繰り返えされる。
ここで、操作者が、電源スイッチを押下することを中断すると(ステップS407)、CPU1は、時間計測部18に対して時間計測の中止を指示し、CPU1自身の時間計測処理も中止して電源断の処理が停止される(ステップS408)。
ここで、操作者が、電源スイッチを押下することを中断すると(ステップS407)、CPU1は、時間計測部18に対して時間計測の中止を指示し、CPU1自身の時間計測処理も中止して電源断の処理が停止される(ステップS408)。
本実施例において、時間計測部18は、CPU1と独立した構成要素として説明したが、CPU1内部に時間計測部18を設け、例えば、CPU1に備わるCPUタイマーを利用して実現してもよい。
また、バッテリ13から非破壊検査装置を構成する各要素への電力の供給は、回路基板17を介して行なわれるものとして説明したが、切替え手段15から直接に非破壊検査装置を構成する各要素に電力を供給してもよい。
また、バッテリ13から非破壊検査装置を構成する各要素への電力の供給は、回路基板17を介して行なわれるものとして説明したが、切替え手段15から直接に非破壊検査装置を構成する各要素に電力を供給してもよい。
また、本発明は非破壊検査装置だけではなく、例えばPC(パーソナルコンピュータ)などの携帯型電源を備える情報処理装置に対しても適用が可能である。
1 ・・・ CPU
2 ・・・ パルサ
3 ・・・ 探触子
4 ・・・ 被検体
5 ・・・ レシーバ
6 ・・・ A/Dコンバータ
7 ・・・ 波形メモリ
8 ・・・ 画像処理部
9 ・・・ D/Aコンバータ
10 ・・・ モニタ
11 ・・・ メモリ
12 ・・・ 記憶装置
13 ・・・ バッテリ
14 ・・・ 電源スイッチ
15 ・・・ 切替え部
16 ・・・ 周辺機器
17 ・・・ 回路基板
18 ・・・ 時間計測部
2 ・・・ パルサ
3 ・・・ 探触子
4 ・・・ 被検体
5 ・・・ レシーバ
6 ・・・ A/Dコンバータ
7 ・・・ 波形メモリ
8 ・・・ 画像処理部
9 ・・・ D/Aコンバータ
10 ・・・ モニタ
11 ・・・ メモリ
12 ・・・ 記憶装置
13 ・・・ バッテリ
14 ・・・ 電源スイッチ
15 ・・・ 切替え部
16 ・・・ 周辺機器
17 ・・・ 回路基板
18 ・・・ 時間計測部
Claims (5)
- 携帯型電源を備えた非破壊検査のための装置であって、
操作者によって所定の操作が行われている間のみ、前記携帯型電源からの電力を供給可能な電源スイッチと、
該電源スイッチを介して前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第1の電力供給経路と、前記電源スイッチを介さずに前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第2の電力供給経路と、を選択的に切替え可能な切替え手段と、
前記電源スイッチに対する前記所定の操作によって、前記携帯型電源からの電力が前記装置に供給されている時間を計測し、該計測した時間が所定の時間を経過すると、前記切替え手段の前記第1の電力供給経路を前記第2の電力供給経路に切替える時間計測手段と、
を備えることを特徴とする非破壊検査のための装置。 - 前記時間計測手段は、前記非破壊検査のための装置を制御するCPUに備わることを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査のための装置。
- 携帯型電源を備えた非破壊検査のための装置を制御する方法であって、
操作者によって所定の操作が行われている間のみ、前記携帯型電源からの電力を供給可能な電源スイッチを介して、前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給している時間を計測し、
該計測した時間が所定の時間を経過すると、前記電源スイッチを介して前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第1の電力供給経路を、前記電源スイッチを介さずに前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第2の電力供給経路に切替える、
ことを特徴とする非破壊検査のための装置を制御する方法。 - 携帯型電源を備えた非破壊検査のための装置を制御するためのプログラムであって、
操作者によって所定の操作が行われている間のみ、前記携帯型電源からの電力を供給可能な電源スイッチを介して、前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給している時間を計測する時間計測処理と、
該計測した時間が所定の時間を経過すると、前記電源スイッチを介して前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第1の電力供給経路を、前記電源スイッチを介さずに前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第2の電力供給経路に切替える切替え処理と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする非破壊検査のための装置を制御するためのプログラム。 - 携帯型電源を備えた情報処理装置であって、
所定の操作が行われている間のみ、電力を供給可能な電源スイッチと、
該電源スイッチを介して前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第1の電力供給経路と、前記電源スイッチを介さずに前記携帯型電源からの電力を前記装置に供給する第2の電力供給経路と、を選択的に切替え可能な切替え手段と、
前記携帯型電源からの電力が前記装置に供給されている時間を計測し、該計測した時間が所定の時間を経過すると、前記切替え手段の前記第1の電力供給経路を前記第2の電力供給経路に切替える時間計測手段と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004170108A JP2005351665A (ja) | 2004-06-08 | 2004-06-08 | 非破壊検査のための装置、その制御方法及びプログラム |
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JP2009002942A (ja) * | 2007-06-04 | 2009-01-08 | Olympus Ndt | 非破壊試験計器用gps対応型データロギング・システム |
JP2009177612A (ja) * | 2008-01-25 | 2009-08-06 | Nikon Corp | 電子機器,カメラ、ならびに、電子機器の起動制御方法および起動制御プログラム |
JP2012149795A (ja) * | 2011-01-18 | 2012-08-09 | Corona Corp | ヒートポンプ式給湯装置 |
-
2004
- 2004-06-08 JP JP2004170108A patent/JP2005351665A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008085766A (ja) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Sii Data Service Kk | 端末装置 |
JP4521832B2 (ja) * | 2006-09-28 | 2010-08-11 | エスアイアイ・データサービス株式会社 | 端末装置 |
JP2009002942A (ja) * | 2007-06-04 | 2009-01-08 | Olympus Ndt | 非破壊試験計器用gps対応型データロギング・システム |
JP2009177612A (ja) * | 2008-01-25 | 2009-08-06 | Nikon Corp | 電子機器,カメラ、ならびに、電子機器の起動制御方法および起動制御プログラム |
JP2012149795A (ja) * | 2011-01-18 | 2012-08-09 | Corona Corp | ヒートポンプ式給湯装置 |
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