JP2005337885A - 蛍光測定による劣化診断方法及び診断装置 - Google Patents
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Abstract
蛍光測定により、被測定物の劣化度を高精度に診断することができる。また、蛍光測定を行う簡便な装置で、被測定物の劣化度を非破壊で診断することが可能である。
【解決手段】
蛍光測定を2波長間の蛍光強度差あるいは比の変化量で評価することにより、被測定物の劣化度を高精度に診断することが可能となる。また、蛍光測定を行う簡便な装置として、励起光にキセノンランプ等の紫外線照射ランプを用い、蛍光検出器に小型の分光器を用いて被測定物の蛍光強度を測定することで劣化度を非破壊で診断することが可能となる。
【選択図】図3
Description
Iλ′=Iλ1・α1/Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数2)
I:被測定物の蛍光強度
ここで、α1,α2は予め算出した蛍光強度差または蛍光強度比と劣化度との関係式で用いた基準蛍光強度(I0)と測定時の基準蛍光強度(I1)との各波長での比
α1=I0λ1/I1λ1 (数3)
α2=I0λ2/I1λ2 (数4)
また、被測定物に励起光を照射し、測定される蛍光強度の特定の2波長間における蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いて比較演算することにより、測定部材の劣化度を診断する装置において、励起光を発する光源部と特定波長の励起光を得るためのフィルターと、励起光を測定物表面に導く照射用光ファイバーと、測定部材から発生する蛍光を導く受光用光ファイバーと受光用光ファイバーと受光用光ファイバーと受光部の間に特定波長の蛍光強度を得るための2種類のフィルターと、蛍光強度を測定する受光部と2波長間における蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いて演算し、予め入力しておいた蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)と劣化度との関係を比較演算することによって劣化度を判定する制御・演算部と劣化の程度を表示する表示部とを兼備えたことを特徴とする非破壊劣化診断方法と診断装置にある。
Iλ′=Iλ1・α1/Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数2)
I:被測定物の蛍光強度
ここで、α1,α2は予め算出した蛍光強度差または蛍光強度比と劣化度との関係式で用いた基準蛍光強度(I0)と測定時の基準蛍光強度(I1)との各波長での比
α1=I0λ1/I1λ1 (数3)
α2=I0λ2/I1λ2 (数4)
なお、光源としては紫外領域の波長を発生する、メタルハライドランプ,キセノンフラッシュランプ,キセノンランプ,超高圧水銀ランプ,重水素ランプ等を用い、フィルターには干渉フィルターを用いて波長280〜320nmの特定波長の励起光を得る。励起光は照射用光ファイバーを介して被測定物に照射しても、光学レンズ群から構成された光学系を経由しても、いずれでも実施可能である。励起光の中心波長は280〜320nmが好ましく、波長280nm以下であると安定した蛍光強度が得られず、波長320nm以上であると蛍光強度が小さくなる傾向にある。光ファイバーケーブルは、通常、1本のコアの光ファイバーでも測定可能であるが、光量の確保,曲げ損失の低減のため、素線を束ねたバンドルファイバーを用いた方が好ましい。また、ファイバーの材質としては石英ファイバーを用いるのが好ましい。励起光の照射で被測定物から発生した蛍光強度を測定する受光部は、受光用光ファイバーを介して分光器で測定しても、フィルターを介して受光素子で測定しても、CCDカメラを有する光学系の分光器のいずれでも実施可能である。制御・演算部では、受光部で測定された蛍光強度を入力し、特定の2波長を選定して、2波長間における蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いて演算し、予め入力しておいた蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)と劣化度との関係(マスターカーブ)を比較演算することによって劣化度を判定する。選定する二つの波長は被測定物の材質によって異なるが、波長300nm〜
500nmの範囲から選ぶのが好ましく、波長幅を波長λ1が20〜80nm、λ2が2〜20nmとすることで良い測定精度が得られる。
nm間の基準蛍光強度を測定する。
Claims (9)
- 測定部材の蛍光強度を測定し、予め求めておいた蛍光強度と劣化度とを比較演算することにより劣化度を診断する蛍光測定方法において、励起光を測定部材の表面に照射し、測定部材から発生する蛍光強度を特定の2波長間における蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いた値と予め測定した値と劣化度との関係を比較演算することにより、測定部材の劣化度を診断する蛍光測定による劣化診断方法。
ΔIλ=Iλ1・α1−Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数1)
Iλ′=Iλ1・α1/Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数2)
I:被測定物の蛍光強度
ここで、α1,α2は予め算出した蛍光強度差または蛍光強度比と劣化度との関係式で用いた基準蛍光強度(I0)と測定時の基準蛍光強度(I1)との各波長での比
α1=I0λ1/I1λ1 (数3)
α2=I0λ2/I1λ2 (数4) - 請求項1において、励起光の中心波長が280nm〜320nmとしたことを特徴とする蛍光測定による劣化診断方法。
- 請求項1において、蛍光強度測定の波長が300nm〜500nmで波長幅を波長λ1が20〜80nm、λ2 が2〜20nmとしたことを特徴とする蛍光測定による劣化診断方法。
- 測定部材に励起光を照射し、測定される蛍光強度の特定の2波長間における蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いて比較演算することにより、測定部材の劣化度を診断する装置において、励起光を発する光源部と特定波長の励起光を得るためのフィルターと、励起光を測定物表面に導く照射用光ファイバーと、測定部材から発生する蛍光を導く受光用光ファイバーと蛍光強度を測定する受光部と各波長で得られる蛍光強度のスペクトルから特定の2波長間における蛍光強度差
(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いて演算し、予め入力しておいた蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)と劣化度との関係を比較演算することによって劣化度を判定する制御・演算部と、劣化の程度を表示する表示部とを兼備えたことを特徴とする診断装置。
ΔIλ=Iλ1・α1−Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数1)
Iλ′=Iλ1・α1/Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数2)
I:被測定物の蛍光強度
ここで、α1,α2は予め算出した蛍光強度差または蛍光強度比と劣化度との関係式で用いた基準蛍光強度(I0)と測定時の基準蛍光強度(I1)との各波長での比
α1=I0λ1/I1λ1 (数3)
α2=I0λ2/I1λ2 (数4) - 測定部材に励起光を照射し、測定される蛍光強度の特定の2波長間における蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いて比較演算することにより、測定部材の劣化度を診断する装置において、励起光を発する光源部と特定波長の励起光を得るためのフィルターと、励起光を測定物表面に導く照射用光ファイバーと、測定部材から発生する蛍光を導く受光用光ファイバーと受光用光ファイバーと受光用光ファイバーと受光部の間に特定波長の蛍光強度を得るための2種類のフィルターと蛍光強度を測定する受光部と2波長間における蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いて演算し、予め入力しておいた蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)と劣化度との関係を比較演算することによって劣化度を判定する制御・演算部と、劣化の程度を表示する表示部とを兼備えたことを特徴とする診断装置。
ΔIλ=Iλ1・α1−Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数1)
Iλ′=Iλ1・α1/Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数2)
I:被測定物の蛍光強度
ここで、α1,α2は予め算出した蛍光強度差または蛍光強度比と劣化度との関係式で用いた基準蛍光強度(I0)と測定時の基準蛍光強度(I1)との各波長での比
α1=I0λ1/I1λ1 (数3)
α2=I0λ2/I1λ2 (数4) - 請求項4,5において、励起光の中心波長が280nm〜320nmとしたことを特徴とする蛍光測定により劣化度を診断する診断装置。
- 請求項4,5において、蛍光強度測定の波長幅を波長λ1が20〜80nm、λ2が2〜20nmとしたことを特徴とする蛍光測定により劣化度を診断する診断装置。
- 測定部材の複数波長の蛍光強度を測定し、前記蛍光強度の差または比を算出し、予め求めた劣化時蛍光強度差または劣化時蛍光強度比と、劣化度との換算情報を用いて劣化度を診断する蛍光劣化度測定装置であって、
一波長の照射光を発する光源部と、前記照射光を被測定物に導く光ファイバーと、前記被測定物から発せられた2波長の蛍光強度をそれぞれ測定する2つの受光部とを有する蛍光劣化度測定装置。 - 測定部材の複数波長の蛍光強度を測定し、前記蛍光強度の差または比を算出し、予め求めた劣化時蛍光強度差または劣化時蛍光強度比と、劣化度との換算情報を用いて劣化度を診断する蛍光劣化度測定方法であって、
前記測定部材の蛍光強度測定前に基準物質の蛍光強度を測定する工程と、前記基準物質より得られた蛍光強度値を上記換算情報取得時の蛍光強度値を比較する補正工程を有することを特徴とする蛍光劣化度測定方法。
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DE102021117996A1 (de) | 2021-07-13 | 2023-01-19 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Überprüfen elektrisch betriebenen Komponenten |
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2004
- 2004-05-27 JP JP2004157000A patent/JP4111170B2/ja not_active Expired - Lifetime
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AT517366A1 (de) * | 2015-06-22 | 2017-01-15 | Technische Universität Wien | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Materialeigenschaft eines Bitumenmaterials |
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