JP2005315602A - 半導体センサ装置 - Google Patents

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茂樹 小出
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Abstract

【課題】 半導体センサを用いて被測定物の圧力と温度を検出する場合において、被測定物の温度を精度よく検出することが可能な半導体センサ装置を提供する。
【解決手段】 半導体基板上にピエゾ抵抗効果を有する感圧素子を形成し、前記感圧素子を用いてブリッジ回路を構成すると共に、薄肉のダイアフラム部を有する単一の半導体センサ4によって流体の圧力と温度に関する情報を得る半導体センサ装置において、半導体センサ4を配設するケース体1を前記流体が流れる搬送部材15に半導体センサ4が前記流体の前記圧力及び前記温度を検出できる状態にて配設し、ケース体1を搬送部材15に配設した際に半導体センサ4が搬送部材15内に位置するようにケース体1に配設されてなる。
【選択図】 図2

Description

本発明は、半導体センサを用いて被測定物である流体の圧力と温度を検出する半導体センサ装置に関するものである。
従来、圧力と温度を検出する半導体センサ装置にあっては、例えば下記特許文献1に記載されているものが知られている。この半導体センサ装置は、半導体基板上にピエゾ抵抗効果を有する感圧素子を形成し、前記感圧素子を用いてブリッジ回路を構成すると共に薄肉のダイアフラム部を有する半導体センサをベース板を介して圧力導入部に配設し、前記圧力導入部から伝達される被測定物(流体)の圧力及び温度を前記半導体センサによって検出し、この検出された圧力に関する第1の検出信号及び温度に関する第2の検出信号を前記半導体センサとワイヤボンディングにて電気的に接続される回路基板に備えられる第1,第2の出力部を介して外部に伝達するものである。
特開2002−372474号公報
しかしながら、特許文献1に記載された半導体センサ装置の前記圧力導入部は、略縦長(細長)形状の金属材料からなり、その先端側外周部には例えば被測定物が流動する搬送管から突出するように連結形成された筒状の接続部を取り付けるための取付ネジ部が施されており、またその中央部分には前記搬送管内を流動する前記被測定物の圧力と温度を前記半導体センサに伝達するための圧力導入孔(導入孔)が形成されている。そして、前記被測定物が縦長形状の前記圧力導入部に設けられた流動経路となる前記圧力導入孔を流動して前記半導体センサに伝達される場合にあっては、前記流動経路途中において前記被測定物の温度が放熱してしまい正確な温度を検出することができなくなる恐れがあった。
そこで本発明は、前述の課題に対して対処するため、半導体センサを用いて被測定物の圧力と温度を検出する場合において、被測定物の温度を精度よく検出することが可能な半導体センサ装置の提供を目的とするものである。
本発明は、半導体センサによって流体の圧力と温度に関する情報を得る半導体センサ装置において、前記半導体センサを配設するケース体を前記流体が流れる搬送部材に前記半導体センサが前記流体の前記圧力及び前記温度を検出できる状態にて配設し、前記ケース体を前記搬送部材に配設した際に前記半導体センサの少なくとも一部が前記搬送部材内に位置するように前記半導体センサが前記ケース体に配設されてなることを特徴とする。
また本発明は、前記半導体センサは、半導体基板上にピエゾ抵抗効果を有する感圧素子を形成し、前記感圧素子を用いてブリッジ回路を構成すると共に、薄肉のダイアフラム部を備えてなることを特徴とする。
また本発明は、半導体チップをガラス台座上に接合することで前記半導体センサを構成し、前記半導体センサをベース板上に配設すると共に前記ベース板を前記ケース体の端部もしくは端部近傍に配設することで、前記半導体センサが前記搬送部材内に位置するように前記ケース体に配設されてなることを特徴とする。
また本発明は、半導体チップをガラス台座上に接合することで前記半導体センサを構成し、前記半導体センサをベース板上に配設すると共に前記ベース板に前記半導体センサを覆うようにカバー部材を配設して流体検出体を構成し、前記流体検出体を前記ケース体の端部もしくは端部近傍に配設することで前記半導体センサが前記搬送部材内に位置するように前記ケース体に配設されてなることを特徴とする。
また本発明は、前記ケース体内に前記半導体センサからの出力を少なくとも集約する回路基板を配設し、前記回路基板と前記半導体センサとは導体によって接続されてなることを特徴とする。
また本発明は、前記導体を前記回路基板方向にガイドするガイド部材を前記ケース体内に設けたことを特徴とする。
本発明によれば、初期の目的を達成でき、半導体センサを用いて被測定物の圧力と温度を検出する場合において、被測定物の温度を精度よく検出することが可能な半導体センサ装置を提供できる。
(第1実施形態)以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づき説明する。
図1において、半導体センサ装置としての圧力温度検出装置Aは、下ケース(ケース体)1と、上ケース2と、ベース板3と、半導体センサ4と、回路基板5と、接続用導体(導体)6と、シールド板7と、グロメット8とから主に構成されている。
下ケース1は、SUM等の金属材料からなり、一対の側壁部1aを有しており、この側壁部1aの上端側と下端側は共に開口している。側壁部1aは、下ケース1の中央部より上側に位置して、内部に回路基板5やシールド板7等を収納する空間を有する略六角形状の第1の収納部1bと、この収納部1bの下方に位置して、内部に半導体センサ4や接続用導体6、後述する絶縁部材の主要部等を収納する略円筒形状の第2の収納部1cとで構成されている。
この場合、第2の収納部1cの外形形状は第1の収納部1bの外形形状よりもやや小さめに設定されているため、下ケース1の側壁部1aは段差形状を有し、各収納部1b、1cの境界部1d近傍と第2の収納部1cの内壁面には絶縁部材1eがインサート成形されている。
絶縁部材1eは、PBT等の樹脂材料からなり、略円筒形状に形成され、その上端部には回路基板5の外縁底部を受けるための段差形状からなる受部1fが形成されている。また、絶縁部材1eの内部には接続用導体6の一部を支持し、且つ接続用導体6の他の一部をガイドするための支持体(ガイド部材)1gが図示しない連結片を介して絶縁部材1eと一体形成されている。
支持体1gは、絶縁部材1eの長手方向とは直交する方向に延びる第1の壁部1hと、絶縁部材1eの長手方向に沿うように延びる第2の壁部1iとを有する断面略「L」字形状に形成されている。そして、支持体1gは、第1の壁部1hの上面で第1の壁部1hに沿うように配設される接続用導体6箇所を支持し、第2の壁部1iの外壁面とこれに対向する絶縁部材1eの内壁面1j箇所との間に形成される間隙1kを通じて間隙1k内を通過する接続用導体6箇所をガイドしている。
なお、1mは、シールド板7の後述する遮蔽部の外縁底部を受けるための段差形状からなる受部であり、この受部1mは第1の収納部1bの内壁面に形成されている。また、1nは、下ケース1と後述する搬送部材の接続部(固定部)とを連結させるためのネジ部等の連結部であり、この連結部1nは第2の収納部1cの外周面に沿うように形成されている。
上ケース2は、PBT等の樹脂材料からなり、下ケース1の受部1mよりも上方となる下ケース1の第1の収納部1bの開口端部内に配設され、第1の収納部1bの開口端が加締められることで、上ケース2が下ケース1に対して配設固定され、この配設固定によって上ケース2の底部と受部1mと間にシールド板7が狭持されるようになっている。また、上ケース2は、電源供給及び信号出力を行うための後述する電気コードを外部に引き出すためコード引き出し部2aを備えている。
ベース板3は、コバール等の金属材料からなり、図2に示すように下ケース1における第2の収納部1cの底部に抵抗溶接等によって配設固定するためのフランジ部3aを有し、このフランジ部3aから一段低くなった位置には、半導体センサ4を配設するための載置部3bが設けられている。そして、載置部3bの略中央部には、半導体センサ4に被測定物(流体)の圧力及び温度を伝達するための孔部3cが設けられている。ベース板3は、第2の収納部1cの底部に抵抗溶接によって配設固定されることで、下ケース1の下端側開口を塞ぐ状態で下ケース1に配設されることになる。
なお、ベース板3におけるフランジ部3aは、第2の収納部1cの底部に抵抗溶接できる構成であれば図示した形状に限定されるものではない。また、本実施形態の場合、各ケース1,2とベース板3とによって半導体センサ4を収納する略凹部形状の収納部材Sを構成しており、この収納部材Sの底壁側(ベース板3側)で半導体センサ4を収納保持している。
半導体センサ4は、シリコン等の半導体基板に薄肉部となるダイアフラム部を形成する半導体チップ4aを貫通孔部4b1を備えたガラス台座4b上に配設し、半導体チップ4aとガラス台座4bとを陽極接合法によって接合してなるものである。半導体センサ4は、前記ダイアフラム部に対応する箇所にボロン等の不純物を拡散処理することによって、ピエゾ抵抗効果を有する4つの感圧素子となる抵抗を形成し、これら抵抗をアルミ等の導電性材料を用いた配線パターンによって接続することでブリッジ回路が構成され、前記ブリッジ回路の中間電圧によって前記被測定物の圧力を検出し、前記ブリッジ回路の両端電圧によって前記被測定物の温度を検出するものである。
なお、半導体センサ4は、ガラス台座4bの裏面側にメタライズ層を形成すると共に、半田を介してベース板3の載置部3bと接合する。
回路基板5は、例えばガラスエポキシ系基材の表裏面に配線パターン(図示せず)を施した硬質回路基板からなり、下ケース1における絶縁部材1eの受部1f上に配設される。また、回路基板5は、半導体センサ4の出力電圧を増幅するための増幅回路や出力電圧を調整するための出力調整手段等を有する出力調整ICやノイズを除去するためのコンデンサ等の各種電子部品が前記配線パターンに導通接続されている。
また、回路基板5は、上ケース2のコード引き出し部2aにグロメット8を介して配設される電気コード9とリードピン付き貫通コンデンサ10を介し電気的に接続するリードピン11が前記配線パターンに導通接続されている。
接続用導体6は、薄くて反発力の小さい、例えばポリアミド系またはポリミイド系のFPC(フレキシブル・プリント・サーキット)からなり、ベース板3と回路基板5との間に配設される。接続用導体6には、例えば銅箔パターンからなる導電路(図示せず)が形成され、ベース板3側となる前記導電路の一端側と半導体センサ4に形成される電極パッドとは金等の導電材料からなるワイヤ12によって導通接続される。一方、回路基板5側となる前記導電路の他端側は、回路基板5の裏面に形成される前記配線パターンに導通接続される。なお、接続用導体6のうちベース板3側となる接続用導体6の下端面は半導体センサ4を取り巻く略リング状の円環部6aによって構成され、円環部6aはこの背後に位置する補強基板6bによって保持されている(図2参照)。
そして、接続用導体6は、前記導電路の一端側と前記電極パッドとの接続箇所から上方(絶縁部材1eの上端側)に引き回される際に、ケース体1における支持体1gの間隙1kによってガイドされる。さらに、間隙1kの前方に露出する接続用導体6箇所は、絶縁部材1e内で支持体1gの上面に沿うように折り返された後、略「S」字状に引き回されて前述したように前記導電路の他端側が回路基板5の前記配線パターンに導通接続される。このように接続用導体6は、その導体路両端が半導体センサ4、回路基板5に接続されることで、半導体センサ4からの出力電圧を回路基板5側に伝達するための役割を果たしている。
なお、13は、半導体センサ4、前記電極パッド並びにワイヤ12の腐食を防止するためのシリコンゲル等のゲル状部材であり、このゲル状部材13はワイヤ12を含む半導体センサ4を覆うようにベース板3上に配設される。
シールド板7は、SPTE等の金属材料からなり、ホルダ部7aと、遮蔽部7bとを有し、ホルダ部7aは遮蔽部7bに対して折り曲げ形成されている。ホルダ部7aは、遮蔽部7bに対して直交するように折り曲げられ、貫通コンデンサ10を配設するための孔が形成されると共に、この孔に各貫通コンデンサ10が半田を介し配設固定される(図3参照)。
グロメット8は、ニトリルゴム等の弾性部材からなり、電気コード9を上ケース2のコード引き出し部2aに取り付けるためのものである。グロメット8は、上ケース2のコード引き出し部2aの内壁に設けられる隆起部2bの上面に対してグロメット8の外縁底部が圧入により支持されることで上ケース2に配設固定される。また、グロメット8は、コード引き出し部2aにエポキシ等の充填部材14が充填されることによって、上ケース2との気密性が確保された状態で配設される。
以上の各部によって圧力温度検出装置Aが構成される。かかる圧力温度検出装置Aは、図2に示すように前記被測定物が流動する搬送部材15に固定される。搬送部材15は、例えば金属材料からなり、ベース板3におけるフランジ部3aの板面方向と同一方向に延在する略筒状の本体部15aと、この本体部15aの長手方向とは直交する方向(下ケース1側)に突出し下ケース1の連結部1nとの接続箇所となる略筒状の接続部15bとを備えている。なお、接続部15の内部を構成する空洞は本体部15aの内部を構成する空洞と連通しており、接続部15b内壁には連結部1nに結合するネジ部等からなる固定部15cが形成されている。そして、下ケース1の連結部1nが搬送部材15の固定部15cにネジ止めにより連結されることによって、圧力温度検出装置Aが搬送部材15に配設固定される。この際、本実施形態では下ケース1側となる連結部1nと搬送部材15側となる固定部15cとの連結箇所内部に半導体センサ4の一部分、この場合では半導体チップ4aが配設され、しかも半導体チップ4aは前記接続箇所の下端側に位置している構成となることから、本体部15aから半導体センサ4(半導体チップ4a)に至る前記被測定物の流動経路を短く形成することができ、これにより半導体センサ4に前記被測定物の温度が良好に伝わり、半導体センサ4による精度の高い前記被測定物の温度測定を行うことが可能となる。
また本実施形態では、半導体センサ4がベース板3のフランジ部3aよりも一段低くなった載置部3b上に配設され、半導体センサ4の一部分が連結部1nと固定部15cとの接続箇所内部に配設されている場合について説明したが、例えばベース板を平板状に形成し、この平板状ベース板の中央部に前記被測定物の圧力と温度を半導体センサに伝達するための孔部を設け、この孔部上の周囲に半導体センサを配設することで、半導体チップ並びにガラス台座を含む半導体センサ全体が連結部と固定部との連結箇所内部に配設されるようにしてもよい。
また本実施形態では、下ケース1内に半導体センサ4からの出力を少なくとも集約する回路基板5を配設し、半導体センサ4と回路基板5とは接続用導体6によって電気的に接続されていることにより、半導体センサ4と回路基板5が離れた状態で配設されている場合であっても、半導体センサ4からの出力電圧を回路基板5側に容易に導くことが可能となる。
(第2実施形態)図4は本発明の第2実施形態を示しており、本実施形態では半導体センサが前記第1実施形態にて採用した単一のベース板ではなく、封止体を備えた流体検出体によって支持されている例を示している。すなわち、本実施形態における流体検出体20は、開口部21aを有する略円環カップ形状からなるベース板21と、このベース板21内に配設される端子22と、ベース板21内に充填される封止体23と、ベース板21の背後を覆うカバー部材24とによって構成されている。なお本実施形態では、各ケース1,2と流体検出体20とによって半導体センサ4を収納する収納部材Sを構成する。
ベース板21は、例えばコバール等の金属材料からなり、開口部21aと対向する底壁部21bには開口部21a側にへこむ凹部21cが形成されている。そして、図4中、半導体センサ4のガラス台座4bが半導体チップ4aよりも上方に位置するように凹部21c底面にガラス台座4b底面を接合させることで、半導体センサ4が凹部21cに載置される。また、凹部21cの周囲には各端子22が貫通する貫通孔21dが形成されている。なお、21eは開口部21aの周囲に延在するフランジ部であり、このフランジ部21eは下ケース1における第2の収納部1cの底部に抵抗溶接等によってベース板21を下ケース1に配設固定するための取付部としての機能を有している。なお、ベース板21におけるフランジ部21eは、第2の収納部1cの底部に抵抗溶接できる構成であれば図示した形状に限定されるものではない。
端子22は、例えばコバール等の金属材料からなり、略棒状に形成され、半導体センサ4を中心とする同心円上に複数個配設されている。端子22は、ベース板21における内壁面のやや内側に位置しており、前記内壁面と底壁部21bとによって囲まれるベース板21内部には封止用ガラスからなる封止体23が充填されている。従って、この封止体23の充填により各端子22は、ベース板21とは絶縁状態でベース板21内に封止固定され、しかも各端子22の両端は封止体23の表裏面から突出している。
すなわち、封止体23の表面から突出する端子22の上端部22aは、接続用導体6を補強する補強基板6c並びに接続用導体6に設けた孔をそれぞれ貫通して接続用導体6の上面側に突出し、この突出端が接続用導体6に設けた配線パターンと半田付けされている。また、封止体23の裏面から突出する端子22の下端部22bは、ワイヤ12を介して半導体センサ4に設けた電極パッドに電気的に接続される。
カバー部材24は、例えばコバール等の金属材料からなり、ベース板21よりも若干大きめの深さを有する略円環カップ状に形成され、ベース板21の周壁や各端子22の下端部22b、半導体センサ4を覆うための被覆部材としての機能を有している。また、カバー部材24の底面中央部には前記被測定物の圧力と温度を半導体センサ4に伝達するための孔部24aが形成されている。なお、この孔部24aは半導体センサ4の半導体チップ4aと向かい合うような位置関係となっているが、孔部24aの形成位置は前記底面中央部に限らず、半導体チップ4aとは対向しない位置に形成してもよい。
25は、半導体センサ4、前記電極パッド並びにワイヤ12等の腐食を防止するためのシリコンゲル等のゲル状部材であり、このゲル状部材25はワイヤ12を含む半導体センサ4や端子22の下端部22bを覆うようにベース板21の底壁部21bとカバー部材24底面との間に形成される空間内に配設される。
かかる実施形態においても、流体検出体20によって支持された半導体センサ4を有する圧力温度検出装置Aは、前記第1実施形態と同様に下ケース1の連結部1nが搬送部材15の固定部15cにネジ止めにより連結されることによって、圧力温度検出装置Aが搬送部材15に配設固定される。このとき半導体センサ4は搬送部材15の本体部15aと固定部15cとの間である接続部15b箇所内部に位置している構成となり、本体部15aから半導体センサ4に至る前記被測定物の流動経路をより短く形成できるため、半導体センサ4に前記被測定物の温度が良好に伝わり、前記第1実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
また前記各実施形態では、半導体センサ4としてピエゾ抵抗型センサを例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、例えば半導体センサとして静電容量型センサ等の他の半導体センサを用いてもよい。
また前記各実施形態では、共に金属材からなる下ケース1と搬送部材15の接続部15bとがネジ止めにより固定される場合について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、下ケース1と搬送部材15との連結手段は任意の構成を適用することができ、例えば搬送部材15を本体部15aと接続部15bとを有するゴムチューブにより形成し、下ケース1の下端部にフック形状等の抜け止め部を設けると共に搬送部材15の接続部15b側には前記抜け止め部に嵌合する凹部形状等の固定部を設け、この固定部と前記抜け止め部とを嵌合させて下ケース1を搬送部材15に固定するようにしてもよい。
なお前記各実施形態では、搬送部材15が筒状の本体部15aと、この本体部15aの長手方向とは直交する方向に突出する筒状の接続部15bとを有する略「T」字状からなる例について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、下ケース1を搬送部材15に固定できる形状であれば搬送部材15の形状は任意であり、例えば筒状の接続部15bを廃止して、本体部15aに第2の収納部1c(連結部1n)に対応する開口部を設け、この開口部内壁にネジ部等からなる固定部を設け、この固定部と連結部とを固定するようにしてもよい。
本発明の第1実施形態による圧力温度検出装置の断面図である。 図1中、B部を拡大して示す要部断面図である。 同実施形態による圧力温度検出装置を示す図である。 本発明の第2実施形態による圧力温度検出装置の要部断面図である。
符号の説明
1 下ケース(ケース体)
1n 連結部
2 上ケース
3,21 ベース板
3a フランジ部
3b 載置部
3c 孔部
4 半導体センサ
5 回路基板
6 接続用導体(導体)
7 シールド板
8 グロメット
15 搬送部材
15a 本体部
15b 接続部
15c 固定部
20 流体検出体
22 端子
23 封止体
24 カバー部材
A 圧力温度検出装置(半導体センサ装置)
S 収納部材

Claims (6)

  1. 半導体センサによって流体の圧力と温度に関する情報を得る半導体センサ装置において、
    前記半導体センサを配設するケース体を前記流体が流れる搬送部材に前記半導体センサが前記流体の前記圧力及び前記温度を検出できる状態にて配設し、
    前記ケース体を前記搬送部材に配設した際に前記半導体センサの少なくとも一部が前記搬送部材内に位置するように前記半導体センサが前記ケース体に配設されてなることを特徴とする半導体センサ装置。
  2. 前記半導体センサは、半導体基板上にピエゾ抵抗効果を有する感圧素子を形成し、前記感圧素子を用いてブリッジ回路を構成すると共に、薄肉のダイアフラム部を備えてなることを特徴とする請求項1記載の半導体センサ装置。
  3. 半導体チップをガラス台座上に接合することで前記半導体センサを構成し、前記半導体センサをベース板上に配設すると共に前記ベース板を前記ケース体の端部もしくは端部近傍に配設することで、前記半導体センサが前記搬送部材内に位置するように前記ケース体に配設されてなることを特徴とする請求項1または請求項2記載の半導体センサ装置。
  4. 半導体チップをガラス台座上に接合することで前記半導体センサを構成し、前記半導体センサをベース板上に配設すると共に前記ベース板に前記半導体センサを覆うようにカバー部材を配設して流体検出体を構成し、前記流体検出体を前記ケース体の端部もしくは端部近傍に配設することで前記半導体センサが前記搬送部材内に位置するように前記ケース体に配設されてなることを特徴とする請求項1または請求項2記載の半導体センサ装置。
  5. 前記ケース体内に前記半導体センサからの出力を少なくとも集約する回路基板を配設し、前記回路基板と前記半導体センサとは導体によって接続されてなることを特徴とする請求項1から請求項4のうちいずれか1つに記載の半導体センサ装置。
  6. 前記導体を前記回路基板方向にガイドするガイド部材を前記ケース体内に設けたことを特徴とする請求項5記載の半導体センサ装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008128753A (ja) * 2006-11-20 2008-06-05 Toyota Motor Corp 圧力センサ
CN115900982A (zh) * 2023-01-06 2023-04-04 鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司 一种半导体检测温度测量仪

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH022643U (ja) * 1988-06-17 1990-01-09
JPH05501311A (ja) * 1990-07-18 1993-03-11 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 内燃機関の燃焼室内の圧力を検出するための圧力センサ
JPH1073504A (ja) * 1996-08-29 1998-03-17 Nippon Seiki Co Ltd 圧力検出器
JP2001027571A (ja) * 1999-07-13 2001-01-30 Kayaba Ind Co Ltd 薄膜型センサ
JP2001194255A (ja) * 1999-11-02 2001-07-19 Denso Corp 圧力センサ
JP2002257658A (ja) * 2001-02-27 2002-09-11 Minebea Co Ltd 高温計測用半導体式圧力センサ

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH022643U (ja) * 1988-06-17 1990-01-09
JPH05501311A (ja) * 1990-07-18 1993-03-11 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 内燃機関の燃焼室内の圧力を検出するための圧力センサ
JPH1073504A (ja) * 1996-08-29 1998-03-17 Nippon Seiki Co Ltd 圧力検出器
JP2001027571A (ja) * 1999-07-13 2001-01-30 Kayaba Ind Co Ltd 薄膜型センサ
JP2001194255A (ja) * 1999-11-02 2001-07-19 Denso Corp 圧力センサ
JP2002257658A (ja) * 2001-02-27 2002-09-11 Minebea Co Ltd 高温計測用半導体式圧力センサ

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008128753A (ja) * 2006-11-20 2008-06-05 Toyota Motor Corp 圧力センサ
CN101548165B (zh) * 2006-11-20 2011-03-16 丰田自动车株式会社 压力传感器
KR101049921B1 (ko) * 2006-11-20 2011-07-15 도요타 지도샤(주) 압력센서
US8015880B2 (en) 2006-11-20 2011-09-13 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Pressure sensor
CN115900982A (zh) * 2023-01-06 2023-04-04 鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司 一种半导体检测温度测量仪

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