JP2005308728A - 非磁性金属管の表面欠陥検出方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【構成】走行する非磁性金属管の表面欠陥を連続的に検出する方法であって、金属管中に渦電流を発生させ、該渦電流の流れが金属管の表面欠陥により遮られることにより発生する磁界を、SQUIDセンサーで測定することにより表面欠陥を検出する。
【選択図】 図3
Description
quantum interference Devise=超伝導量子干渉デバイス)センサーは、超伝導リングを一つまたは二つのジョセフソン接合に結合したものであり、微小電流変化の測定に適し、微小な磁界の変化を検出することができる。
図1〜2の装置構成により、表面に人工欠陥を付けた金属管(JIS H3300 C1220、外径6.35mm、厚さ0.8mm)を被検査管T(試験材No.1〜3)として欠陥検出を行った。これらの試験材の人工欠陥の種類と大きさを表1に示す。また、試験材No.4は欠陥の無いものである。
図1〜2の装置構成により、表面に人工欠陥を付けた金属管(JIS H3300 C1220、外径6.35mm、厚さ0.8mm)を被検査管T(試験材No.5〜7)として欠陥検出を行った。これらの試験材の人工欠陥の種類と大きさを表3に示す。装置構成の詳細を図9に示す。
2 コイル
3 センサーコントローラ
4 ロックインアンプ
5 記録計
6 パーソナルコンピュータ
7 交流発振器
T 被検査管
Claims (7)
- 走行する非磁性金属管の表面欠陥を連続的に検出する方法であって、金属管中に渦電流を発生させ、該渦電流の流れが金属管の表面欠陥により遮られることにより発生する磁界を、SQUIDセンサーで測定することにより表面欠陥を検出することを特徴とする非磁性金属管の表面欠陥検出方法。
- 前記非磁性金属管が銅管または銅合金管であることを特徴とする請求項1記載の非磁性金属管の表面欠陥検出方法。
- 走行する非磁性金属管の表面欠陥を連続的に検出する装置であって、金属管中に渦電流を発生させる励磁コイルと、該渦電流の流れが金属管の表面欠陥により遮られることにより発生する磁界を検出するSQUIDセンサーと、該SQUIDセンサーの出力のうち所定の周波数成分の信号を選択的に抽出して増幅する増幅手段を備えてなることを特徴とする非磁性金属管の表面欠陥検出装置。
- 前記励磁コイルがヘルムホルツ型コイルであり、該ヘルムホルツ型コイルがSQUIDセンサーの前後に対称に配置され、金属管がヘルムホルツ型コイル中を貫通して走行するよう構成したことを特徴とする請求項3記載の非磁性金属管の表面欠陥検出装置。
- 前記SQUIDセンサーを金属管の円周方向に複数個配置することを特徴とする請求項3または4記載の非磁性金属管の表面欠陥検出装置。
- 2個の前記SQUIDセンサーを金属管に対して対称に配置することを特徴とする請求項5記載の非磁性金属管の表面欠陥検出装置。
- 前記SQUIDセンサーがグラジオメーターであることを特徴とする請求項3〜6のいずれかに記載の非磁性金属管の表面欠陥検出装置。
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