JP2005294823A - 電子部品等の接続バンプの製造システムおよび製造方法並びに導電性ボールの接合装置および接合方法 - Google Patents

電子部品等の接続バンプの製造システムおよび製造方法並びに導電性ボールの接合装置および接合方法 Download PDF

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Abstract

【課題】本発明は、フラックスレスで接続バンプを形成する新規な製造システムおよび製造方法を提供することを目的としている。
【解決手段】本発明の一態様は、導電性ボールを用いて電子部品に所定のパターンで接続バンプを形成する製造システムであって、(1)前記パターンに対応し前記導電性ボールを挿通可能な位置決め開口部を備えるマスクと、前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの位置決め開口部に装入され前記電子部品に整列されている前記導電性ボールにレーザービームを照射するビーム照射手段とを有し、前記マスクは、少なくとも前記レーザービームが照射される側にレーザービームを反射する反射膜を備え、前記電子部品に導電性ボールを仮固定する接合装置と、(2)前記接合装置で、前記電子部品に仮固定された導電性ボールを再溶融する再溶融装置とを有する接続バンプの製造システムである。
【選択図】図1

Description

本発明は、電子部品等の接続バンプの製造システム及び製造方法に係るものであり、フラックスレスで接続バンプを形成するのに適する電子部品等の製造システム及び製造方法に関するものである。また、本発明は、上記電子部品等の接続バンプの製造システム及び製造方法に適用できる導電性ボールの接合装置及び接合方法に関するものである。
半導体部品、基板又はそれらが組み合わされたパッケージなどの電子部品において、電気的な接続を得るための接続バンプを形成する方法として接続バンプとほぼ同じ体積を有する導電性ボール用いるボール方式がある。導電性ボールとして半田ボールを用いボール方式で接続バンプを形成する場合には、電子部品の電極にフラックスを塗布し、フラックスを介して当該電極に半田ボールを載置し、半田ボールを再溶融(いわゆるリフローのことである。)し、接続バンプを形成する方法が一般的に採用されている。ここで、上記フラックスは、1)半田ボール及び電極の表面に存在している酸化膜を還元して破り、再溶融後に形成される接続バンプと電極の接合性を高めること(還元機能という。)、2)再溶融中に溶融した半田を覆い酸化を防止すること(酸化防止機能という。)、及び、3)電極上に載置された半田ボールが自由に動かない程度に電極に固定する(以下仮固定と称する場合もある。仮固定機能という。)する目的で使用される。
このフラックスが電子部品に残留すると電子部品の腐食やマイグレーションを引き起こすため、フラックスを除去するために再溶融後の電子部品は洗浄される。電子部品の洗浄工程では、フラックスの洗浄性に優れた洗浄剤であるフロンやトリクロロエタン等の有機溶剤が使用されてきたが、フロンやトリクロロエタン等の洗浄剤の使用は、オゾン層を破壊する原因のひとつであり、環境問題の観点からフラックスを使用せずフラックスレスで接続バンプを形成する技術の確立が望まれていた。このため、フロンやトリクロロエタン等の洗浄剤を代替する洗浄剤でフラックスを洗浄することが提案されているが、洗浄回数等の洗浄方法を工夫したとしても代替洗浄剤でフラックスを完全に除去することは非常に困難であった。
また、フラックスを使用すると、再溶融のときに溶融した半田にフラックス自身またはガス化したフラックスが巻き込まれ、接続バンプの内にボイドが生成されるという問題があった。さらに、半田ボールが小径になると、洗浄によるフラックスの除去が難しくなり、電子部品の腐食やマイグレーションが生じる可能性が更に高くなる。このように、製品の品質の観点からもフラックスレスにより接続バンプを製造する技術の確立が望まれている。
フラックスレスで接続バンプを形成する製造システムの一例が、下記特許文献1に開示されている。特許文献1の製造システムは、基板の電極に対応した位置決め開口部を備えたマスクと、マスクと基板とが位置合わせされた状態で収納され、不活性ガスを導入可能な密閉容器を有し、基板と該基板に対し位置合わせされ位置決め開口部に半田ボールが装入されたマスクとを密閉容器に収納し、密閉容器に不活性ガスである窒素ガスを導入し、レーザービームを半田ボールに照射し加熱して半田ボールを再溶融し、接続バンプをフラックスレスで形成するのものである。
特表2003−520415号公報
特許文献1の製造システムによれば、マスクの位置決め開口部に装入され、電極上に載置され位置決めされた半田ボールを非酸化雰囲気の密閉容器中でレーザービームにより再溶融することで、フラックスレスで接続バンプを形成することが出来る利点ある。また、基板の電極以外の部分はマスクで覆われているので、レーザービームによる基板の熱的損傷が小さくなるという利点がある。
しかしながら、特許文献1の製造システムによれば、マスクの位置決め開口部に装入し位置決めされた半田ボールを、1つずつ加熱するため接続バンプの形成に長時間を要し工業生産上効率的でないという問題がある。この問題は、複数個の半田ボールを含むようにレーザービームを照射することによって解消されるが、半田ボールを再溶融するため半田が溶融する程度の温度(180℃〜230℃前後)まで半田ボールを加熱する必要がある。すると、位置決め開口部以外のマスクにもレーザービームが照射されてしまうため、マスク自身がレーザービームを吸収し、加熱され、熱変形してしまう。その結果、マスクの熱変形により半田ボールが移動し、当該レーザービームで再溶融して形成された接続バンプの位置がずれてしまうという問題が生じる。また、レーザービームで加熱された半田ボールの溶融した一部が位置決め開口部の内壁に付着する場合がある。そうすると、形成された接続バンプが、マスクを基板から取外すときに一緒に基板から離脱し、接続バンプが欠落した電極が生じるという問題が発生する。
本発明は、上記従来の技術の問題点を鑑みてなされたものであり、接続バンプの位置精度が高く、接続バンプの欠落が少ない電子部品等の接続バンプの製造システム及び製造方法を提供することを目的の1つとしている。
また、本発明は、低コストで効率的に接続バンプを形成する電子部品等の接続バンプの製造システム及び製造方法を提供することを目的の1つとしている。
また、本発明は、フラックスレスで接続バンプを形成する新規な電子部品等の接続バンプの製造システムおよび製造方法を提供することをその目的の1つとしている。
本発明は、上記の電子部品等の接続バンプの製造システム及び製造方法に適用できる導電性ボールの接合装置および接合方法を提供することを目的としている。
かかる課題について、本発明者らは鋭意検討のうえ、電子部品に載置された導電性ボールを加熱し導電性ボールを溶融して電子部品に仮固定すれば、フラックスの仮固定機能を代替でき、フラックスレスを実現できることを知見した。すなわち、フラックスの還元機能及び酸化防止機能は、電子部品への残留の少ない還元性ガスや不活性ガスなどを使用することで代替できる。そこで、導電性ボールを電子部品に仮固定する工程において導電性ボールを加熱することにより仮固定機能を発揮させ、電子部品に仮固定された導電性ボールを再溶融する工程において還元性ガスや不活性ガスなどを使用し還元機能及び酸化防止機能を発揮せしめることで、フラックスレスで接続バンプを形成できることに想到するに至ったものである。また、導電性ボールは、導電性ボールの表面のみが瞬間的に溶融されれば電子部品に仮固定されるので、比較的エネルギー密度の大きなレーザービームで導電性ボールを瞬間的に加熱することが好ましいことを知見した。かかる知見によれば、導電性ボールは、導電性ボールの表面が溶融する程度に一時的に加熱されればよいので、導電性ボールを電子部品に載置するための部材や電子部品への熱の影響が低減され、また、導電性ボールの表面に形成される酸化膜の厚みを少なくすることができる。
かかる知見による本発明の一態様は、導電性ボールを用いて電子部品に所定のパターンで接続バンプを形成する製造システムであって、(1)前記パターンに対応し前記導電性ボールを挿通可能な位置決め開口部を備えるマスクと、前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの位置決め開口部に装入され前記電子部品に整列されている前記導電性ボールにレーザービームを照射するビーム照射手段とを有し、前記マスクは、少なくとも前記レーザービームが照射される側にレーザービームを反射する反射膜を備え、前記電子部品に導電性ボールを仮固定する接合装置と、(2)前記接合装置で、前記電子部品に仮固定された導電性ボールを再溶融する再溶融装置とを有する電子部品等の接続バンプの製造システムである。
上記した製造システムによれば、電子部品に対し位置合わせされたマスクの位置決め開口部に装入された導電性ボールにレーザービームを照射したときに、少なくともマスクのレーザービームが照射される側には当該レーザービームを反射する反射膜が設けられているので、マスク自身はレーザービームを吸収せず、導電性ボールのみがレーザービームを吸収する。したがって、導電性ボールは加熱されて電子部品に仮固定されるものの、マスク自身は加熱されず熱変形しないので、マスクの位置決め開口部に装入された導電性ボールはマスクの熱変形により移動することがない。その結果、再溶融装置で導電性ボールを再溶融してなる接続バンプは高い位置精度で形成されることとなる。また、導電性ボールが装入される位置決め開口部の内壁を溶融した導電性ボールが濡れ難いものとすれば、レーザービームで溶融した導電性ボールが位置決め開口部に付着することがなく、もって、接続バンプの欠落が回避される。さらに、本製造システムによれば、導電性ボールはフラックスを使用することなく電子部品に仮固定されるのでフラックスレスで接続バンプを形成することが可能となる。
前記レーザービームは、前記位置決め開口部に装入された導電性ボールを複数個含む範囲に照射されることが望ましい。複数の導電性ボールを同時に加熱し仮固定することで効率的に接続バンプの製造が行えるからである。さらに、前記接合装置は、前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの前記位置決め開口部に装入された導電性ボールを下方に押圧可能に配設されるととともに前記レーザービームが透過可能な押圧手段を有してれば好ましい。導電性ボールを下方に押圧することにより、電子部品からの導電性ボールの浮きが防止されるからである。さらに加えて、導電性ボールの外周面の酸化を防止するため、前記電子部品に整列された導電性ボールの周囲は不活性雰囲気又は還元雰囲気にされる構成とすれば好適である。
本発明の一態様は、導電性ボールを用いて電子部品に所定のパターンで接続バンプを形成する製造方法であって、(1)所定のパターンで前記電子部品に整列されている前記導電性ボールを該導電性ボールの表部のみが溶融状態となる程度に加熱して前記電子部品に仮固定する第1ステップと、(2)前記電子部品に仮固定された導電性ボールを再溶融する第2ステップとを含む電子部品等の接続バンプの製造方法である。本製造方法は、上記接続バンプの製造装置によって好適に実施される。ここで、導電性ボールの表部とは、導電性ボールの表面及び表面近傍のことをいう。
なお、第1ステップにおいて、前記導電性ボールを下方に押圧しつつ加熱することが好ましい。さらに、第1ステップにおいて、前記電子部品に整列された導電性ボールの周囲を不活性雰囲気又は還元雰囲気にすることが好ましい。
本発明の一態様は、所定のパターンで導電性ボールを電子部品に接合する接合装置であって、前記パターンに対応し前記導電性ボールを挿通可能な位置決め開口部を備えるマスクと、前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの位置決め開口部に装入され前記電子部品上に整列されている前記導電性ボールにレーザービームを照射するビーム照射手段とを有し、前記マスクは、少なくとも前記レーザービームが照射される側にレーザービームを反射する反射膜を備える導電性ボールの接合装置である。本接合装置は、上記接続バンプの製造装置に好適に組み込むことができる。また、本接合装置は単独で使用することもでき、本接合装置で導電性ボールを電子部品に仮固定した後に、導電性ボールおよび電子部品の表面にフラックスを塗布したものを再溶融して接続バンプを形成する態様で使用することもできる。さらに、本接合装置は、位置決め開口部を通して電子部品に載置された導電性ボールにレーザービームを照射して再溶融し、電子部品に接合する態様で使用することもできる。
なお、前記レーザービームは、前記導電性ボールを複数個含む範囲に照射されることが望ましい。さらに、前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの前記位置決め開口部に装入された導電性ボールを下方に押圧可能に配設されるととともに前記レーザービームが透過可能な押圧手段を有していれば好ましい。さらに加えて、前記電子部品に整列された導電性ボールの周囲は不活性雰囲気又は還元雰囲気にされることが望ましい。
本発明の一態様は、所定のパターンで導電性ボールを電子部品に接合する接合方法であって、前記電子部品に整列されている前記導電性ボールを該導電性ボールの表部のみが溶融状態となる程度に加熱して前記電子部品に接合するステップを含む導電性ボールの接合方法である。
なお、前記導電性ボールを下方に押圧しつつ加熱すれば好ましい。また、前記電子部品に整列された導電性ボールの周囲を不活性雰囲気又は還元雰囲気にすればより好ましい。
本発明によれば、レーザービームを反射する反射膜を有するマスクの位置決め開口部に装入され所定のパターンで電子部品に整列されている導電性ボールは、接合装置から照射されたレーザービームで加熱され、電子部品に仮固定される。このとき、マスクに照射されたレーザービームは反射膜で反射されるのでマスクは加熱されず、マスクの熱変形による導電性ボールの移動は回避される。また、複数の導電性ボールを含むようにレーザービームを照射することで接続バンプを効率的に製造することができる。その後、電子部品に仮固定された導電性ボールを再溶融装置で再溶融することにより接続バンプが形成される。もって、接続バンプをフラックスレスで形成することが可能となる。
本発明について、その実施態様に基づいて説明する。なお、以下の説明では、導電性ボールとして半田ボールを、電子部品として基板を対象とし説明しているが、本発明は以下の態様のみに限定されるものではない。導電性ボールとしては、例えばCu、Au、Ag、W、Ni、Mo又はAlなどの金属からなる導電性ボールは本発明に含まれる。さらに、球状の基体の表面に導電性の金属を被覆した導電性ボールは本発明に含まれる。また、電子部品としては、半導体部品又は半導体部品と基板が組合されたパッケージは本発明に含まれる。
[第1の実施形態]
本発明の第1態様について図1〜4を参照し説明する。図1は、第1態様の製造システムの構成を示す図である。図2は、図1の第1態様の接合装置の概略構成図である。図3は、図1の基板に半田ボールを整列された状態で載置する方法の一例を説明する図である。図4は、図1の基板に半田ボールを整列された状態で載置する方法の別の一例を説明する図である。
第1態様の製造システム9は、図1に示すように、所定のパターンで基板の電極に整列された半田ボールを加熱し電極に仮固定する接合装置1と、電極に仮固定された半田ボールを再溶融する再溶融装置6とを有している。なお、接合装置1と再溶融装置6との間の基板の受け渡しは、人手で行ってもよいが図示するように搬送部Cで機械的に行えば自動化や品質の面で有利である。
ここで、図2に示すように、基板7は、その一面に所定のパターンで形成されたパッド状の電極71を有している。半田ボールは、整列された状態で電極71に載置され、再溶融されて接続バンプが形成される。以下、接合装置1と再溶融装置6について説明する。
[接合装置]
第1態様の接合装置1は、図2に示すように、所定のパターンに整列された状態で半田ボールBが載置された基板7を水平に支持する支持台13と、基板7を介して支持台13の上方に配設され紙面に対し水平方向と垂直方向に自在に移動可能な加熱手段であるビーム照射手段11とを有している。なお、本態様の支持台13は、水平に基板7を支持できるように平板状の基台としているが、例えば基板7をより確実に保持できるように真空吸着する吸着手段を備えたり、基板7を位置決めするための位置決め部を備えたりしていてもよい。
ビーム照射手段11は、図示しないビーム発生部と、ビーム発生部に一端が接続されビーム発生部で発生したレーザービームを伝送する図示しない光ファイバと、光ファイバの他端が接続され下端からレーザービーム112を基板7に照射するビーム照射部111を備えている。レーザービーム112としては、例えばCO(炭酸ガス)レーザ、YAGレーザ又は半導体レーザなどを使用することができる。ここで、金属である半田ボールBはYAGレーザまたは半導体レーザの吸収率が高く、樹脂やセラミックスなど非金属である基板7はYAGレーザまたは半導体レーザの吸収率が低い。したがって、レーザービーム112としてYAGレーザまたは半導体レーザを選択すれば半田ボールBのみが選択的に加熱されるので、基板7の熱変形や熱損傷を抑制しつつ半田ボールBを加熱して電極71に仮固定することが可能となる。
レーザービーム112は、半田ボールBが全体としては低い温度を維持して半田ボールBの全体が溶融せずに、半田ボールBの表部のみが溶融する程度に加熱して電極71に仮固定するために、レーザービーム112の焦点113が半田ボールBに結ばないようにデフォーカスした状態で照射されることが望ましい。このようにすることで、半田ボールBは過度に加熱されずその表面には酸化膜が生じ難くなり、再溶融したときの接続バンプと電極の接続の信頼性が確保される。
ビーム照射部111は、レーザービーム112が長時間半田ボールBを加熱し半田ボールBの表面に酸化膜が生じないように、適宜な送り速度で移動され瞬間的に半田ボールBを加熱することが望ましい。
レーザービーム112は、その照射範囲114に複数の半田ボールBを含むよう照射されれば、複数の半田ボールBを一括して電極71に仮固定されるので望ましい。
半田ボールBを加熱する加熱手段としては、上記ビーム照射手段11に限定されず、例えば赤外線で半田ボールBを加熱する手段または半田ボールBに振動を与え半田ボールBと電極71との接触面に生じる摩擦熱で半田ボールBを電極71に仮固定する手段などを使用できる。しかしながら、前記ビーム照射手段11によれば、半田ボールBに入熱する熱量の制御が比較的容易であり、半田ボールBを非接触で加熱できるので好ましい。
ここで、上記基板7の電極71には、以下の例で示すようにして半田ボールBが載置される。
第1の例は、図3に示すように、電極71のパターンに対応し半田ボールBが挿通可能に形成された位置決め開口部81を有する整列部材であるマスク8を用いて半田ボールBを基板7に載置する場合である。
このマスク8を用いた方法によれば、図3(a)に示すように、位置決め開口部81が電極71に対応するように基板7に対しマスク8は位置合わせされる。次いで、図3(b)に示すように、位置決め開口部81に半田ボールBを装入する。半田ボールBは、位置決め開口部81を通じて電極71に載置される。図3(c)に示すように、マスク8を基板7から取外す。その結果、半田ボールBは電極71に整列された状態で配置される。この後に、上記接合装置1によって半田ボールBは電極71に仮固定される。
第2の例は、図4に示すように、電極71のパターンに対応し半田ボールBを吸着する吸着孔51を有する整列部材である吸着ヘッド5を用いて半田ボールBを基板7に載置する場合である。吸着ヘッド5は、函状の筐体の底部に形成された吸着部51と、天部に形成された流通孔52と、流通孔52に接続された図示しない負圧発生手段を備えている。この吸着ヘッド5は、負圧発生手段で負圧を発生すると各吸着孔51には吸着力が生じ、半田ボールBを吸着する。負圧を保つことにより半田ボールBは吸着手段5に保持され、負圧を切ることにより半田ボールBは吸着手段5から分離される。
この吸着ヘッド5を用いた方法によれば、図4(a)に示すように、吸着部51に半田ボールBを吸着し、吸着された半田ボールBが電極71に対応するように基板7に対し吸着ヘッド5を位置合わせする。図4(b)に示すように、電極71に半田ボールBが載置されるように吸着ヘッド5を位置決めし、吸着ヘッド5から半田ボールBを分離する。その結果、図4(c)に示すように、半田ボールBは電極71に整列された状態で配置される。この後に、上記接合装置1によって半田ボールBは電極71に仮固定される。
なお上記整列部材(マスク8、吸着ヘッド5)を適宜な部材と組合せて接合装置1に内蔵すれば、半田ボールBの基板7への搭載と仮固定を同時に行うことができ操業を自動化できる点で効果がある。
[再溶融装置]
以下で説明する別の態様においても共通な構成の再溶融装置6は、接合装置1において電極71に仮固定された半田ボールBを再溶融し、接続バンプを形成する。したがって、再溶融装置としては特に限定される構成はなく、例えば半田ボールBが搭載された基板7の全体を加熱して半田ボールBを再溶融する物であってもよく、半田ボールBのみ加熱して再溶融する物であってもよい。
再溶融装置6は、加熱された半田ボールBが酸化しないように半田ボールBの周囲が窒素またはアルゴンなどの不活性ガスに置換され不活性な雰囲気に制御される物が好ましい。また、半田ボールBに生じた酸化膜が除去されるように半田ボールBの周囲が水素また水素ラジカルなどの還元ガスに置換され還元雰囲気に制御される物が好ましい。このような再溶融装置6によれば、半田ボールBが再溶融され形成された接続バンプと電極71の接続の信頼性が確保される。
上記第1態様の製造システム9の動作について説明する。
半田ボールBを電極に仮固定する接合工程(第1の工程)
所定のパターンで整列された状態で基板7の電極71に載置された半田ボールBを、接合装置1で、半田ボールBの表部が溶融する程度に加熱し、電極71に仮固定する。
半田ボールBを再溶融する再溶融工程(第2の工程)
電極71に仮固定された半田ボールBを、再溶融装置6で、再溶融し、接続バンプを形成する。
[第2の実施態様]
本発明の第2態様について図1、5及び6を参照し説明する。図1は、第2態様の製造システムの構成を示す図である。図5は、図1の第2態様の接合装置の概略構成図である。図6は、図5のA矢視の平面図である。なお、図において、第1態様の製造システム9と実質的に同様な構成については同一の符号を付し、その構造や動作の詳細な説明を省略する。(以下説明する他の態様でも同様とする。)
第2態様の製造システム9は、図1に示すように、基本的に第1態様の製造システムと同じ構成であり、接合装置2と再溶融装置6とを有している。第2態様の製造システム9が第1態様の製造システムと異なる点は、図5に示すように、その接合装置2が、半田ボールBを位置決めしつつ、その位置を保持する整列部材であるマスク24を有する点である。以下、マスク24を中心に説明をする。
第2態様の接合装置2は、図5に示すように、水平な状態に基板7を支持する支持台13と、電極71の配列パターンに対応し半田ボールBを挿通可能な位置決め開口部242を備えた整列部材であるマスク24と、前記マスク24を介して支持台13の上方に配設されたビーム照射手段11とを有し、該マスク24は、レーザービーム112が照射されるその少なくとも上面にレーザービーム112を反射する反射膜243を備えている。
マスク24は、半田ボールBの大きさに合わせた厚みの薄板状の基体241に位置決め開口部242を形成したものである。その基体の材料としては、例えばステンレス、ニッケル若しくはチタンなどの金属、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリアミド、酢酸セルロース若しくはポリエステル系などの樹脂、ガラス又はゴムなどから選択される。
位置決め開口部242は、例えば図示するように半田ボールBが挿通可能な略円柱形状をなしている。なお、位置決め開口部242を下方に開くテーパ孔状とすれば基板7の露出する面積が小さくなりレーザービーム112による基板7のダメージが少なくなるので好ましい。
反射膜243は、例えばメッキまたはスパッタなどで適宜な材料を基体241の一面に成膜し形成される。その素材は、使用されるレーザービーム112の波長によりそのレーザービーム112に対し適当な反射率を有する物が選定される。例えば、レーザービーム112として半導体レーザを採用した場合、半導体レーザは0.7〜0.9μmの波長を有しているので、当該波長のレーザに対する反射率が80%以上であるAu、Ag又はCuを主体とした材料から構成された反射膜243であることが望ましい。また、レーザービーム112としてYAGレーザーを採用した場合、YAGレーザは0.9〜1.1μmの波長を有するので、当該波長のレーザーに対する反射率が85%以上であるAu、Ag又はCuを主体とした材料から構成された反射膜243とすることが望ましい。また、レーザービーム112としてCO2レーザを採用した場合、CO2レーザは10.6μm前後の波長を有しているので、当該波長のレーザーに対する反射率が90%以上であるAu、Ag,Cu,Ni,Al又はCrを主体とした材料からなる反射膜243とすることが望ましい。
マスク24は、電極71に位置決め開口部242が対応するように基板7に対し位置合わせされる。このとき、マスク24は、マスク24の底面が基板7の上面に接触するように位置合わせされてもよいし、適宜な間隔を保つように位置合わせされてもよい。半田ボールBは、位置決め開口部242に装入され、位置決め開口部242を通して電極71に位置決めされつつ載置される。この状態においてレーザービーム112を照射すれば、レーザービーム112を吸収した半田ボールBは加熱され電極71に仮固定されるが、マスク24で覆われた基板7は加熱されないので基板7の熱変形または熱損傷が防止できる。
ここで、マスク24は、レーザービーム112を反射する反射膜243を有している。したがって、マスク24に照射されたレーザービーム112は反射膜243で反射されるのでマスク24は加熱されず、マスク24の熱変形または熱損傷を解消することができる。その結果、マスク24の熱変形により電極71に載置された半田ボールBが移動することがなく、その後の再溶融工程において位置精度よく接続バンプを形成することが可能となる。
[第3の実施態様]
本発明の第3態様について図1及び7を参照し説明する。図1は、第3態様の製造システムの構成を示す図である。図7は、図1の第3態様の接合装置の概略構成図である。
第3態様の製造システム9は、図1に示すように、基本的に第1態様の製造システムと同じ構成であり、接合装置3と再溶融装置6とを有している。第3態様の接合装置3が第2態様の接合装置2と異なる点は、図7に示すように、内部を気密に保持できるマスク14と基板7とを収納可能な収納容器32を有する点である。以下、収納容器32を中心に説明する。
収納容器32は、底板と底板に立設された側板321からなる上部が開口した函状体と内部を気密に保持可能に該開口を塞ぐとともにレーザービーム112を透過可能な材料からなる蓋体322を有している。なお、蓋体322は脱着自在に構成されており、収納容器32の中に基板7やマスク14を入れる場合には蓋体322が取外される。なお、蓋体322としては、レーザービーム112としてCOレーザを採用する場合にはZnCe又はZnCeでコーティングされたガラス、YAGレーザまたは半導体レーザを採用する場合はガラスを用いることが望ましい。
収納容器32の内部の雰囲気を制御するため、側壁321の一方にはガス導入のための導入口323が、他方にはガス排出のための排出口324が接続されている。該導入口323には、図示しないガス発生装置またはガス貯留装置などが接続され、排出口324には、図示しない排気装置が接続されている。
収納容器32に導入するガスとしては、加熱された半田ボールBが酸化しないように窒素またはアルゴンなどの不活性ガスが選択され、レーザ112で加熱される半田ボールBの周囲が不活性な雰囲気になるように制御される。また、半田ボールBに生じた酸化膜が除去されるように水素また水素ラジカルなどの還元ガスが選択され、半田ボールBの周囲が還元雰囲気に制御される。このように不活性ガスあるいは還元ガスを選択すれば、半田ボールBの表面において酸化膜は生成しがたくなり、接続バンプと電極71の接続の信頼性が高くなる。
[第4の実施態様]
本発明の第4態様について図1及び8を参照し説明する。図1は、第4態様の製造システムの構成を示す図である。図8は、図1の第4態様の接合装置の概略構成図である。
第4態様の製造システム9は、図1に示すように、基本的に第1態様の製造システムと同じ構成であり、接合装置4と再溶融装置6とを有している。第4態様の接合装置4が第2態様の接合装置2と異なる点は、図7に示すように、半田ボールBの周囲にガス452を噴射するガス噴射装置45を有する点である。以下、ガス噴射装置45を中心に説明する。
噴射装置45は、噴射ノズル451とガス供給装置453からなり、噴射ノズル451から半田ボールBに対しガス452を噴射する。
噴射ノズル451は、レーザービーム112に追従し照射範囲114を常に照射する構造であることが好ましい。
供給装置453は、ガス発生装置又はガスボンベを用いることが好ましい。
半田ボールBに吹付けるガスとしては、加熱された半田ボールBが酸化しないように窒素またはアルゴンなどの不活性ガスが選択され、レーザ112で加熱される半田ボールBの周囲が不活性な雰囲気になるように制御される。また、半田ボールBに生じた酸化膜が除去されるように水素また水素ラジカルなどの還元ガスが選択され、半田ボールBの周囲が還元雰囲気に制御される。このように不活性ガスあるいは還元ガスを選択すれば、半田ボールBの表面において酸化膜は生成しがたくなり、接続バンプと電極71の接続の信頼性が高くなる。
[第5の実施態様]
本発明の第5態様について図9を参照し説明する。図9は、第5態様の製造システムにおける接合装置2´の概略構成図である。第5態様の接合装置2´は基本的に第2態様の接合装置2と同様な構成を有し、マスク24aの態様のみが異なっている。
第2態様のマスク24と同様に位置決め開口部242が配設されたマスク24aは、溶融した半田が濡れ難い、表面にごく薄い酸化層を備えたNiを主体とした基体241aと、該基体241aの上面に設けられたレーザービーム112を反射する反射膜243aとを有している。この基体241aは半田ボールBの直径より大きな厚みを有している。したがって、基板7に位置合わせされたマスク24aの位置決め開口部242に装入され、電極71の上に載置された半田ボールBは、位置決め開口部242の内壁において基体241aに相当する部分と常に対峙する状態となる。なお、反射膜243aは、前記第2態様のマスク24と同様にAu、Ag,Cu,Ni,Al又はCrなどを主体としたものから構成されている。
かかるマスク24aによれば、接続バンプの欠落を防止することができる。すなわち、基板7に位置合わせされたマスク24aの位置決め開口部242に半田ボールBを装入したとき、半田ボールBは位置決め開口部242の内壁に接触した状態で位置決めされるときがある。その後に、半田ボールBを加熱するためレーザービーム112を照射すると、半田ボールBの表面は一時的に溶融する。ここで、半田ボールBが接触している位置決め開口部242の内壁は、溶融した半田が濡れ難いNiを主体とした基体241aである。したがって、位置決め開口部242と接触している半田ボールBの部分が溶融したとしても、半田ボールBは位置決め開口部242の内壁に付着することがなく、もって、接続バンプの欠落を防止することが可能となる。
なお、第5態様のマスク24aの基体241aは溶融した半田との濡れ性の観点からNiを主体としてなるものであったが、例えば基体241aとしてステンレスを主体としたものを採用してもよい。さらに、予め位置決め開口部242を形成した基体の該位置決め開口部242の内壁に溶融した半田が濡れ難い被膜、例えばNiを主体とした被膜を形成したものであってもよい。
[第6の実施態様]
本発明の第6態様について図10を参照し説明する。図10は、第6態様の製造システムにおける接合装置2aの概略構成図である。第6態様の接合装置2aは基本的に第2態様の接合装置2と同様な構成を有しているが、マスク24に挿入され電極71に載置された状態の半田ボールBの頂部を下方に押圧する押圧手段244aを有している点で異なっている。以下、押圧手段244aについて説明する。なお、本態様におけるマスク24は厚みが半田ボールBの直径よりも小さく、位置決め開口部242に挿入された半田ボールBの頂部がマスク24の上面より突起するよう構成されている。
押圧手段244aは、基板7に対し位置合わせされたマスク24の位置決め開口部242に装入され電極71に載置された複数の半田ボールBの頂部に当接するとともに該半田ボールBを下方に押圧可能に配設された押圧面(一面)を有する平板状の押圧部2441aと、前記押圧面の鉛直方向の高さを位置決めするため前記押圧部2441aの両端から下方に伸びた脚部2442aとを有している。押圧部2441aは、レーザービーム112が透過可能であるとともにレーザービーム112により加熱され溶融する半田ボールBの熱に耐えうる耐熱性を備えた、例えば透明な樹脂やガラスなどで構成されている。ここで、押圧部2441aは、反復継続して使用しうるものではなく、一回の使用で使い捨てにされるものであってもよい。
本態様の接合装置2aによれば、位置決め開口部242に挿入された半田ボールBは、その頂部が押圧部2441aで下方に押圧された状態でレーザービーム112が照射され、加熱された半田ボールBの表面は溶融する。このとき、下方に押圧された半田ボールBは押圧部2441aで電極71に押し付けられているので、電極71と半田ボールBとの底部との間に隙間が形成されることがなく、半田ボールBは確実に電極71に仮固定されることとなる。
[第7の実施態様]
本発明の第7態様について図11を参照し説明する。図11は、第7態様の製造システムにおける接合装置2bの概略構成図である。第6態様の接合装置2bは基本的に第6態様の接合装置2aと同様な構成を有しているが、マスク24の厚みが半田ボールBの直径よりも大きく、そのため位置決め開口部242に挿入された半田ボールBの頂部がマスク24の上面より低い位置にある点と、その状態の半田ボールBを下方に押圧可能とした押圧手段244bの構成とが異なっている。
本態様の押圧手段244bは、基板7に対し位置合わせされたマスク24の位置決め開口部242に装入され電極71に載置された複数の半田ボールBの頂部に当接するとともに該半田ボールBを下方に押圧可能に配設された突起状の押圧部材2443bを有する押圧部2441bと、前記押圧部材2443bの鉛直方向の高さを位置決めするため前記押圧部2441bの両端から下方に伸びた脚部2442bとを有している。押圧部2441bと押圧部材2443bは共にレーザービーム112が透過可能であるとともにレーザービーム112により加熱され溶融する半田ボールBの熱に耐えうる耐熱性を備えたもので構成されている。また、押圧部材2443bは、位置決め開口部242に対応し位置決め開口部242に装入可能に形成されている。
本態様の接合装置2bによれば、マスク24の厚みが半田ボールBの直径より大きな場合でも、位置決め開口部242に装入した半田ボールBに対して押圧部材2443bが対応するように押圧手段242bを位置合わせすることにより、半田ボールBは、位置決め開口部242に挿入された押圧部材2443bの下端部で下方に押圧されることとなり、上記第6態様の接合装置2aと同様に半田ボールBは確実に電極71に仮固定される。
[第8の実施態様]
本発明の第8態様について図12を参照し説明する。図12は、第8態様の製造システムにおける接合装置2cの概略構成図である。第8態様の接合装置2cは基本的に第7態様の接合装置2bと同様な構成を有しているが、押圧手段244cの構成が異なっている。
本態様の押圧手段244cは、基板7に対し位置合わせされたマスク24の位置決め開口部242に装入され電極71に載置された複数の半田ボールBの頂部に当接するとともに該半田ボールBを下方に押圧可能に配設された複数のワイヤー状の押圧部材2443cを有する押圧部2441cと、前記突起2443bの鉛直方向の高さを位置決めするための前記押圧部2441cの両端から下方に伸びた脚部2442cとを有している。押圧部2441cと押圧部材2443cは共にレーザービーム112が透過可能であるとともにレーザービーム112により加熱され溶融する半田ボールBの熱に耐えうる耐熱性を備えたもので構成されている。また、複数の押圧部材2443cは、位置決め開口部242に対応し、位置決め開口部242に装入可能なように押圧部2441cの下面から下方に伸びている。
かかる押圧手段244cによれば、図12(b)に示すように、マスク24の厚みが半田ボールBの直径より大きな場合でも、位置決め開口部242に装入した半田ボールBに押圧手段2443cが対応するように押圧手段242bを位置合わせをすることにより、半田ボールBは、位置決め開口部242に挿入された複数の押圧部材2443bの下端部で下方に押圧されることとなり、上記第7態様の接合装置2bと同様に半田ボールBは確実に電極71に仮固定される。
なお、押圧部材2443cは柔軟性のあるものであれば好ましい。すなわち、図12(c)に示すように、押圧部材2443cに柔軟性があれば、上記と同様に半田ボールBを押圧できるとともに半田ボールBの頂部の損傷を低減することができる。また、押圧部材2443cに柔軟性があれば、押圧部2441cの下面全体に押圧部材2443cを設けることができる。すなわち、押圧部244cを位置合わせしたときに、位置決め開口部242の位置に対応する押圧部材2443cは位置決め開口部242に挿入されるが、位置決め開口部242に対応していない押圧部材2443cはマスク24の上面と押圧部2441cとの間で柔軟に変形する。したがって、押圧部材2443cの位置を選択して設ける必要がなく、また、電極71の配列パターンが異なる場合でもマスク24の大きさごとに用意した一種の押圧手段24cで対応することができるので工業生産上有利である。かかる柔軟性を有する押圧部材2443cは、例えば柔軟性のある透明な樹脂で構成することができる。
[第9の実施態様]
本発明の第9態様について図13を参照し説明する。図13は、第9態様の製造システムにおける接合装置2dの概略構成図である。第9態様の接合装置2dは基本的に第7態様の接合装置2bと同様な構成を有しているが、押圧手段244dの構成が異なっている。
本態様の押圧手段244dは、レーザービーム112が透過するとともに柔軟性を有する平板状の押圧部2441dを有している。この押圧部2441dは透明なゲル状の樹脂を主体として構成されたものであって、押圧部2441dの底部の位置決め開口部242に対応する部分が、位置決め開口部242に挿入可能に突起状に変形して突起部2443dを形成する。そして、基板7に対し位置合わせされたマスク24の位置決め開口部242に装入され電極71に載置された複数の半田ボールBを、該突起部2443dで下方に押圧する。なお、押圧部2441dとしては、例えばαGEL(株式会社ジェルテック、登録商標)など主に衝撃吸収用として使用されている樹脂を主体とした柔軟性を有するシートなどを使用することができる。
上記突起部2443dは、例えば図13(b)に示すように、マスク244dの上に載置された押圧部2441dの上面をローラRで加圧しつつ転動させることにより、押圧部2441dの位置決め開口部242に対応する部分が該位置決め開口部242に押し込まれて突起状に変形することによって形成される。なお、突起部2443dの形成方法は上記に限定されず、全体を均一に押し付ける方法を用いてもよい。
かかる押圧手段244dによれば、マスク24の厚みが半田ボールBの直径より大きな場合でも、位置決め開口部242に装入された複数の半田ボールBは、位置決め開口部242に挿入された突起部2443dの下端部で下方に押圧されることとなり、電極71に押し付けられた半田ボールBにレーザービーム112を照射して加熱することで半田ボールBは確実に電極71に仮固定される。その後、マスク24を基板7から取り外すときに押圧手段244dも同時に取り外される。そのとき、半田ボールBが押圧手段244d(すなわち押圧部2441d)の裏面に付着してしまわないように、少なくとも押圧部2441dの裏面の粘着性は低いことが望ましい。
なお、押圧部2441dが変形して突起部2443dが形成された時から半田ボールBにレーザービーム112が照射される時までの期間、突起部2443dの形状はほぼ一定に保持されていることが望ましい。半田ボールBが押圧されている状態がその期間維持されるので半田ボールBが電極71から浮くことがなく、半田ボールBは電極71に更に確実に仮固定されるからである。したがって、押圧部2441dは適宜な粘弾性を有し、突起部2443dが原形状(すなわち押圧部2441dの底部の平坦な形状)に戻るまでの時間が、押圧部2441dが変形して突起部2443dが形成された時から半田ボールBにレーザービーム112が照射される時までの期間以上となることが望ましい。
なお、上記第6態様から第9態様の押圧部は電極71に載置された全ての半田ボールBを押圧する構成としたが、載置された半田ボールBの中で所定の個数の半田ボールBを押圧する構成としてもよい。例えば、レーザービーム112が照射されている範囲に含まれる半田ボールBのみを押圧することにより、当該範囲の半田ボールBのみを電極71に押し付けつつレーザービーム112で加熱し、半田ボールBを電極71に仮固定する構成としてもよい。
本発明に係る製造システムの概略構成図である。 本発明の第1態様に係る接合装置の概略構成図である。 第1態様において導電性ボールの載置方法の一例を説明する図である。 第1態様において導電性ボールの載置方法の別例を説明する図である。 本発明の第2態様に係る接合装置の概略構成図である。 図5のA矢視の図である。 本発明の第3態様に係る接合装置の概略構成図である。 本発明の第4態様に係る接合装置の概略構成図である。 本発明の第5態様に係る接合装置の概略構成図である。 本発明の第6態様に係る接合装置の概略構成図である。 本発明の第7態様に係る接合装置の概略構成図である。 本発明の第8態様に係る接合装置の概略構成図である。 本発明の第9態様に係る接合装置の概略構成図である。
符号の説明
1 第1様態の接合装置
11 ビーム照射手段
111 ビーム照射部
112 レーザービーム
113 焦点
114 照射範囲
13 支持台
2 第2様態の接合装置
24 マスク
241 基体
242 位置決め開口部
243 反射膜
2´ 第5様態の接合装置
24a マスク
241a 基体
243a 反射膜
2a 第6様態の接合装置
244a 押圧手段
2441a 押圧部
2442a 脚部
2b 第7様態の接合装置
244b 押圧手段
2441b 押圧部
2442b 脚部
2443b 押圧部材
2c 第8様態の接合装置
244c 押圧手段
2441c 押圧部
2442c 脚部
2443c 押圧部材
2d 第9様態の接合装置
244d 押圧手段
2441d 押圧部
2442d 脚部
2443d 突起部
3 第3様態の接合装置
32 容器
321 壁面
322 上部窓
323 吸気口
324 排出口
4 第4様態の接合装置
45 噴射装置
451 噴射ノズル
452 ガス
453 供給装置
5 吸着ヘッド
51 吸着孔
52 流通孔
6 再溶融装置
7 基板
71 電極
8 マスク
81 位置決め開口部
9 接続バンプの製造システム
B 導電性ボール

Claims (14)

  1. 導電性ボールを用いて電子部品に所定のパターンで接続バンプを形成する製造システムであって、
    (1)前記パターンに対応し前記導電性ボールを挿通可能な位置決め開口部を備えるマスクと、前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの位置決め開口部に装入され前記電子部品に整列されている前記導電性ボールにレーザービームを照射するビーム照射手段とを有し、前記マスクは、少なくとも前記レーザービームが照射される側にレーザービームを反射する反射膜を備え、前記電子部品に導電性ボールを仮固定する接合装置と、
    (2)前記接合装置で、前記電子部品に仮固定された導電性ボールを再溶融する再溶融装置と
    を有する電子部品等の接続バンプの製造システム。
  2. 前記レーザービームは、前記位置決め開口部に装入された導電性ボールを複数個含む範囲に照射される請求項1に記載の電子部品等の接続バンプの製造システム。
  3. 前記接合装置は、前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの前記位置決め開口部に装入された導電性ボールを下方に押圧可能に配設されるととともに前記レーザービームが透過可能な押圧手段を有する請求項1又は2のいずれかに記載の電子部品等の接続バンプの製造システム。
  4. 前記電子部品に整列された導電性ボールの周囲は不活性雰囲気又は還元雰囲気にされる請求項1乃至3のいずれかに記載の電子部品等の接続バンプの製造システム。
  5. 導電性ボールを用いて電子部品に所定のパターンで接続バンプを形成する製造方法であって、
    (1)所定のパターンで前記電子部品に整列されている前記導電性ボールを該導電性ボールの表部のみが溶融状態となる程度に加熱して前記電子部品に仮固定する第1ステップと、
    (2)前記電子部品に仮固定された導電性ボールを再溶融する第2ステップと
    を含む電子部品等の接続バンプの製造方法。
  6. 前記第1ステップにおいて、前記導電性ボールを下方に押圧しつつ加熱する請求項5に記載の接続バンプの製造方法。
  7. 前記第1ステップで、前記電子部品に整列された導電性ボールの周囲を不活性雰囲気又は還元雰囲気にする請求項5又は6のいずれかに記載の電子部品等の接続バンプの製造方法。
  8. 所定のパターンで導電性ボールを電子部品に接合する接合装置であって、前記パターンに対応し前記導電性ボールを挿通可能な位置決め開口部を備えるマスクと、前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの位置決め開口部に装入され前記電子部品上に整列されている前記導電性ボールにレーザービームを照射するビーム照射手段とを有し、前記マスクは、少なくとも前記レーザービームが照射される側にレーザービームを反射する反射膜を備える導電性ボールの接合装置。
  9. 前記レーザービームは、前記位置決め開口部に装入された前記導電性ボールを複数個含む範囲に照射される請求項8に記載の導電性ボールの接合装置。
  10. 前記電子部品に対して位置合わせされた前記マスクの前記位置決め開口部に装入された導電性ボールを下方に押圧可能に配設されるととともに前記レーザービームが透過可能な押圧手段を有する請求項8または9のいずれかに記載の導電性ボールの接合装置。
  11. 前記電子部品に整列された導電性ボールの周囲は不活性雰囲気又は還元雰囲気である請求項8乃至10のいずれかに記載の導電性ボールの接合装置。
  12. 所定のパターンで導電性ボールを電子部品に接合する接合方法であって、前記電子部品に整列されている前記導電性ボールを該導電性ボールの表部のみが溶融状態となる程度に加熱して前記電子部品に接合するステップを含む導電性ボールの接合方法。
  13. 前記導電性ボールを下方に押圧しつつ加熱する請求項12に記載の導電性ボールの接合方法。
  14. 前記電子部品に整列された導電性ボールの周囲を不活性雰囲気又は還元雰囲気にする請求項12又は13のいずれかに記載の導電性ボールの接合方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008136524A1 (ja) * 2007-05-07 2008-11-13 Japan E. M. Co., Ltd. 半田バンプ形成方法および半田バンプ形成装置
WO2009087903A1 (ja) * 2008-01-11 2009-07-16 Alps Electric Co., Ltd. 突起電極及びその製造方法
JP2009231415A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Fujikura Ltd リフロー半田付け方法及びその装置
EP2671251A2 (de) * 2011-02-02 2013-12-11 Pac Tech - Packaging Technologies GmbH Verfahren und vorrichtung zur elektrischen kontaktierung von anschlussflächen zweier substrate

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09120980A (ja) * 1995-10-26 1997-05-06 Matsushita Electric Works Ltd 半田ボール電極の形成方法
JPH1140938A (ja) * 1997-07-15 1999-02-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 接合材料の供給方法とその装置
JP2003520415A (ja) * 1998-08-25 2003-07-02 ピーエーシー ティーイーシーエイチ − パッケージング テクノロジーズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 半田材料製形状部品の配置、再溶融方法およびその装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09120980A (ja) * 1995-10-26 1997-05-06 Matsushita Electric Works Ltd 半田ボール電極の形成方法
JPH1140938A (ja) * 1997-07-15 1999-02-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 接合材料の供給方法とその装置
JP2003520415A (ja) * 1998-08-25 2003-07-02 ピーエーシー ティーイーシーエイチ − パッケージング テクノロジーズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 半田材料製形状部品の配置、再溶融方法およびその装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008136524A1 (ja) * 2007-05-07 2008-11-13 Japan E. M. Co., Ltd. 半田バンプ形成方法および半田バンプ形成装置
WO2009087903A1 (ja) * 2008-01-11 2009-07-16 Alps Electric Co., Ltd. 突起電極及びその製造方法
JP2009231415A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Fujikura Ltd リフロー半田付け方法及びその装置
EP2671251A2 (de) * 2011-02-02 2013-12-11 Pac Tech - Packaging Technologies GmbH Verfahren und vorrichtung zur elektrischen kontaktierung von anschlussflächen zweier substrate
US9649711B2 (en) 2011-02-02 2017-05-16 Pac Tech-Packaging Technologies Gmbh Method and device for electrically contacting terminal faces of two substrates by laser soldering using a gaseous flux medium

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