JP2005265571A - 応力測定装置、応力測定方法及び応力測定用プログラム - Google Patents
応力測定装置、応力測定方法及び応力測定用プログラム Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】エネルギ線EBを試料Wに照射する照射装置2と、その試料Wから発生する光Lの波長毎の強度を検出する検出装置3と、前記波長毎の強度から光Lのスペクトル波形を示すデータであるスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部41と、そのスペクトルデータの示すスペクトル波形をスムージングするスムージング部42と、スムージングによって得られた波形に微分演算を施す微分演算部43と、微分演算によって得られた値がプラスからマイナスに反転する時点での波長をピーク波長とする波長特定部44と、測定対象となる試料から得られるピーク波長と基準となるピーク波長との変位量に基づいて、その試料に作用している応力を算出する応力算出部45とを備えるようにした。
【選択図】図3
Description
エネルギ線とは例えば電子線や光(電磁波)であり、測定試料から発生する光とは例えば蛍光やラマン光である。
Gaussianを用いた場合の結果を示している。Gaussian-Lorentzianを用いた場合よりは、相関関係が明確化されていることがわかるが、やはり、測定結果に対する十分な信頼性を担保するには不十分である。また、オペレータによるフィッティング関数設定の作業は必要である。
W・・・試料
L・・・光(蛍光)
2・・・照射装置(電子線照射装置)
3・・・検出装置
41・・・スペクトルデータ生成部
42・・・スムージング部
43・・・微分演算部
44・・・波長特定部
45・・・応力算出部
Claims (6)
- エネルギ線を試料に照射する照射装置と、
その試料から発生する光の波長毎の強度を検出する検出装置と、
前記波長毎の強度から光のスペクトル波形を示すデータであるスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と、
そのスペクトルデータの示すスペクトル波形をスムージングするスムージング部と、
スムージングによって得られた波形に微分演算を施す微分演算部と、
微分演算によって得られた値がプラスからマイナスに反転する時点での波長をピーク波長とする波長特定部と、
測定対象となる試料から得られるピーク波長と基準となるピーク波長との変位量に基づいて、その試料に作用している応力を算出する応力算出部とを備えたものであることを特徴とする応力測定装置。 - 電子線を試料に照射する電子線照射装置と、
その試料から発生する蛍光の波長毎の強度を検出する検出装置と、
前記波長毎の強度から蛍光のスペクトル波形を示すデータであるスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と、
そのスペクトル波形をスムージングするスムージング部と、
スムージングによって得られた波形に微分演算を施す微分演算部と、
微分演算によって得られた値がプラスからマイナスに反転する時点での波長をピーク波長とする波長特定部と、
測定対象となる試料から得られるピーク波長と基準となるピーク波長との変位量に基づいて、その試料に作用している応力を算出する応力算出部とを備えたものであることを特徴とする応力測定装置。 - エネルギ線を測定試料に照射する照射ステップと、
エネルギ線を照射された測定試料から発生する光のスペクトル波形を示すデータであるスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成ステップと、
そのスペクトルデータの示すスペクトル波形をスムージングするスムージングステップと、
スムージングによって得られた波形に微分演算を施す微分演算ステップと、
微分演算によって得られた値がプラスからマイナスに反転する時点での波長をピーク波長とする波長特定ステップと、
測定対象となる試料から得られるピーク波長と基準となるピーク波長との変位量に基づいて、その試料に作用している応力を算出する応力算出ステップとからなることを特徴とする応力測定方法。 - エネルギ線を試料に照射する照射装置と、
その試料から発生する光の波長毎の強度を検出する検出装置と、
前記波長毎の強度から光のスペクトル波形を示すデータであるスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と、
そのスペクトルデータの示すスペクトル波形をスムージングするスムージング部と、
スムージングによって得られた波形に微分演算を施す微分演算部と、
微分演算によって得られた値がプラスからマイナスに反転する時点での波長をピーク波長とする波長特定部とを備えていることを特徴とするピーク波長測定装置。 - エネルギ線を測定試料に照射する照射ステップと、
エネルギ線を照射された測定試料から発生する光のスペクトル波形を示すデータであるスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成ステップと、
そのスペクトルデータの示すスペクトル波形をスムージングするスムージングステップと、
スムージングによって得られた波形に微分演算を施す微分演算ステップと、
微分演算によって得られた値がプラスからマイナスに反転する時点での波長をピーク波長とする波長特定ステップとからなることを特徴とするピーク波長測定方法。 - エネルギ線を試料に照射して得られた光の波長毎の強度から、当該光のスペクトル波形を示すデータであるスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と、
そのスペクトルデータの示すスペクトル波形をスムージングするスムージング部と、
スムージングによって得られた波形に微分演算を施す微分演算部と、
微分演算によって得られた値がプラスからマイナスに反転する時点での波長をピーク波長とする波長特定部と、
測定対象となる試料から得られるピーク波長と基準となるピーク波長との変位量に基づいて、その試料に作用している応力を算出する応力算出部ととしての機能をコンピュータに備えさせることを特徴とする応力測定用プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004077499A JP2005265571A (ja) | 2004-03-18 | 2004-03-18 | 応力測定装置、応力測定方法及び応力測定用プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004077499A JP2005265571A (ja) | 2004-03-18 | 2004-03-18 | 応力測定装置、応力測定方法及び応力測定用プログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2005265571A true JP2005265571A (ja) | 2005-09-29 |
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ID=35090294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004077499A Pending JP2005265571A (ja) | 2004-03-18 | 2004-03-18 | 応力測定装置、応力測定方法及び応力測定用プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005265571A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007297947A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-15 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 蛍光分光式内部応力検査装置 |
JP2011127992A (ja) * | 2009-12-17 | 2011-06-30 | Japan Fine Ceramics Center | 構造物の歪・応力計測方法、歪・応力センサ、及びその製造方法 |
-
2004
- 2004-03-18 JP JP2004077499A patent/JP2005265571A/ja active Pending
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JP2011127992A (ja) * | 2009-12-17 | 2011-06-30 | Japan Fine Ceramics Center | 構造物の歪・応力計測方法、歪・応力センサ、及びその製造方法 |
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