JP2005257389A - 金型用検査記録装置、及び金型の検査記録方法 - Google Patents

金型用検査記録装置、及び金型の検査記録方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 金型の成形面上にある全てのゴミや傷等の微小凹凸検査対象を確実に視認でき、かつ、どのような状態で光を照射すると微小凹凸検査対象が明瞭に見えるかを記録し表示できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。
【解決手段】 被検金型に対して相対移動可能で、複数の異なる相対照射位置から該金型の成形面に光を照射する光源と、該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記成形面を特定の一方向から撮像する撮像素子と、該撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する画像処理手段と、該組み合わせ画像データを記録する記録手段と、該組み合わせ画像データに基づく画像を表示する表示手段と、を備えることを特徴とする金型用検査記録装置。
【選択図】 図1

Description

本発明は、金型の成形面上のゴミや傷等の微小凹凸検査対象を検査し、検査結果を記録及び表示する金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法に関する。
射出成形等において用いられる金型の成形面にゴミや傷等がある状態で成形作業を行うと、完成した成形品が不良品となるおそれがあるので、定期的に金型の成形面を検査する必要がある。そのため従来は、金型の成形面に光を照射して、検査者が目視でゴミや傷を確認し、検査結果を記録用紙に記録していた。しかし、このような手作業は作業効率が悪く、かつ、検査者が光源からの光を直接見ることになるので、検査者の目への負担が大きいという問題があった。このため、金型の成形面上のゴミや傷を自動的に検査する装置が種々考案されている(例えば、特許文献1及び特許文献2)。
特許文献1では、射出成形装置に金型の成形面上のゴミや傷等を検査するための検査装置を取付けている。この検査装置には金型の成形面に光を照射する固定光源と、成形面を撮影するカメラが設けられている。このカメラは、成形作業時には金型の成形面と対向しない位置に退避し、成形作業終了後には金型の成形面と対向する位置に移動して成形面を撮影する。そして、撮影された画像をカメラに接続した画像処理装置で処理して、ゴミや傷等の有無を判定する。
特許文献2では、成形装置から取り外した金型を金型検査装置上に載せ、その成形面に固定光源から光を照射し、カメラで成形面を撮影して、撮影された画像を画像処理装置(演算処理装置)で処理し、その結果(傷等の有無)をモニタに表示する。
特許第3322618号公報 特開2001−183123号公報
金型の成形面上のゴミや傷等は、光の照射角度によって反射状態が変化する。即ち、ある角度から照射された場合は強く反射するが、別のある角度から照射された場合は弱く反射する。
このため、特許文献1及び特許文献2のように、光源を固定して常に一カ所から金型に光を照射すると、ある位置にあるゴミや傷等は光を強く反射するので、撮影された画像にはっきりと写るが、別の位置にあるゴミや傷等は殆ど反射せず、撮影された画像にはっきりと写らないことがあるので、一部のゴミや傷等を見逃すおそれがある。
本発明の目的は、金型の成形面上にある全てのゴミや傷等の微小凹凸検査対象を確実に視認でき、かつ、どのような状態で光を照射すると微小凹凸検査対象が明瞭に見えるかを記録し表示できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供することにある。
本発明の金型用検査記録装置は、被検金型に対して相対移動可能で、複数の異なる相対照射位置から該金型の成形面に光を照射する光源と、該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記成形面を特定の一方向から撮像する撮像素子と、該撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する画像処理手段と、該組み合わせ画像データを記録する記録手段と、該組み合わせ画像データに基づく画像を表示する表示手段と、を備えることを特徴としている。
上記組み合わせ画像データ中の上記微小凹凸検査対象が撮像されたときの上記相対照射位置に関する情報を、上記微小凹凸検査対象に関連付けて上記記録手段が記録し上記表示手段が表示すれば、表示手段に表示された微小凹凸検査対象が、光源をどの相対照射位置から照射したときに撮像されたかを把握できる。
上記光源を、上記金型を中心とする円周形状の周回経路に沿って移動させ、制御手段の働きにより、上記光源が上記周回経路上の各相対照射位置に達したことを検知するごとに上記撮像素子を撮像動作させてもよい。
さらに、上記光源と金型を結ぶ直線が上記周回経路を含む平面に対してなす傾斜角が変化するように上記光源を移動可能とし、上記組み合わせ画像データ中の上記微小凹凸検査対象が撮像されたときの周方向位置及び傾斜角に関する情報を、上記微小凹凸検査対象に関連付けて上記記録手段が記録し上記表示手段が表示すれば、非常に多くの傾斜位置から金型に光を照射できるので、全ての微小凹凸検査対象をより確実に撮像できる。また、各相対照射位置の情報を周方向位置と傾斜角で表すことが出来るので、光源位置をより的確に把握できるようになる。この傾斜角の変更は自動的に行うことも手動により行うことも可能である。
上記記録手段が、上記光源の強度に関する情報を記録し、上記表示手段が、該光源の強度に関する情報を表示すれば、表示手段に表示された微小凹凸検査対象が、どのような強度の光源によって撮像されたかを把握できる。
上記組み合わせ画像データを構成する画素データのうち、所定輝度以上のものを上記微小凹凸検査対象に関する画素データであると認識し、この微小凹凸検査対象に関する画素データが所定数以上連続しているか否かを判定する判定手段を備え、上記表示手段が、該判定手段による判定結果を表示すれば、検査者は、この金型が使用可能か否かを容易に判断できる。
本発明の金型の検査記録方法は、被検金型に対して相対移動する光源が、複数の異なる相対照射位置から該金型の成形面に光を照射するステップと、該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、撮像素子によって上記成形面を特定の一方向から撮像するステップと、該撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較するステップと、これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択するステップと、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成するステップと、該組み合わせ画像データを記録するステップと、該組み合わせ画像データに基づく画像を表示するステップと、を有することを特徴としている。
本発明によると、光源が金型の回りを移動して複数の相対照射位置から金型を照射するので、成形面上の微小凹凸検査対象を様々な角度から照射でき、光源がいずれの相対照射位置にある場合も全て撮像を行うので、全ての微小凹凸検査対象を強く反射した状態で撮像できる。そして、撮像した全画像を組み合わせて、各微小凹凸検査対象がはっきりと写った状態(輝度が高い状態)の組み合わせ画像データを作成し、この組み合わせ画像データに基づく画像を表示するので、全ての微小凹凸検査対象を確実に視認できる。さらに、この組み合わせ画像データを記録手段に記録するので、表示手段に表示したりプリントアウトすることにより、金型の成形面の状態を再度容易に確認できる。
以下、本発明の一実施形態について、添付図面を参照しながら説明する。
本実施形態の金型検査記録装置100は、レンズ成形用の金型(被検金型)10の鏡面加工されたレンズ成形面(成形面)11を検査して記録し、レンズ成形面11の様子を表示するものであり、撮像装置20、パソコン30、キーボード40、及びディスプレイ50を具備している。まずは、これら金型検査記録装置100の各構成要素20、30、40、50について説明する。
撮像装置20は以下のような構造となっている。
床面に載置される平面視略円形の基台21の上面中央部には、平面視円形の金型支持台22が固定されており、金型支持台22は、円周方向に並べて設けた3つの開閉自在な把持爪(図示略)を具備している。金型支持台22上に、そのレンズ成形面11上にゴミや傷等の微小凹凸検査対象S(図1及び図4参照。実際は複数存在するが一つのみ図示)が存在する金型10を載せた状態で各把持爪を閉じると、各把持爪が金型10周面に強力に圧接して、金型10を基台21に対して不動にする。基台21の上面には円周形状の環状凹部22が形成されており、この環状凹部22には環状回転部23が回転可能に嵌合している。基台21は、環状回転部23の駆動源としてのステッピングモータM1と、このステッピングモータM1の動力を環状回転部23に伝達する動力伝達機構DM1とを内蔵しており、ステッピングモータM1と動力伝達機構DM1によって回転機構が構成されている。ステッピングモータM1が回転すると、この動力が動力伝達機構DM1を介して環状回転部23に伝わり、環状回転部23は図1及び図3の矢印A方向に回転する。図1及び図3に示すように、基台21の上面の外周縁部には線状の目印Bが付されている。
環状回転部23からは略円弧状のアーム部24が延出している。アーム部24の内側面は開口しており、一方の側面には、金型支持台22に固定された金型10のレンズ成形面11を中心とする円弧状の案内溝24aが形成されている。このアーム部24内には、光源25がその内側端部がアーム部24の内側に突出する状態で支持されており、光源25に設けた係合ピン25aが案内溝24aに係合することにより、光源25は案内溝24aに沿って移動可能となっている。光源25が案内溝24aに沿って移動すると、金型10と出射端面25bを結ぶ直線と、環状回転部23を含む平面とがなす傾斜角θ(図1参照)が、20°から75°の範囲で変化するが、光源25の出射端面25bは常に金型10のレンズ成形面11側を向く。基台21及びアーム部24には、環状回転部23の駆動源としてのステッピングモータM2と、光源25にステッピングモータM2の動力を伝達するための動力伝達機構DM2とが内蔵されており、ステッピングモータM2、動力伝達機構DM2、案内溝24a、及び係合ピン25aによって傾斜角可変機構AMが構成されている。
環状回転部23が回転すると、アーム部24がA方向に回転し、平面視におけるアーム部24(光源25)の金型支持台22に対する周方向位置である回転角αが変化する。図3に示すように、この回転角αは、アーム部24(光源25)が金型支持台22と目印Bとを結ぶ直線に対して時計方向になす角度のことである。
光源25はアーム部24から取り出し可能なので、光源25の故障時には新しい光源25をアーム部24に装着可能であり、また、強度(明るさ)が異なる他の光源をアーム部24に装着することも可能である。
基台21の側部からはアーム部24より大寸のアーム部26が上方に向かって延出しており、アーム部26の先端には箱状のケース27が設けられている。このケース27の下面には、金型支持台22の直上に位置する撮影レンズ28が設けられており、ケース27内には、撮影レンズ28の直上に位置し、その撮像面に撮影レンズ28を透過した像が結像するCCD(撮像素子)29が設けられている。このCCD29は256階調(8ビット)のモノクロ式である。
パソコン30は、周知のようにCPU(中央演算処理装置)31とハードディスク等の記録装置(記録手段)32を備えており、撮像装置20の動作を制御するための制御プログラムがインストールされ、さらにキーボード40とディスプレイ(表示手段)50が接続されている。さらにパソコン30は、図1に示すケーブル33Aによって、撮像装置20のCCD29及びステッピングモータM1、M2と電気的に接続しており、ケーブル33Bによって光源25と電気的に接続している。パソコン30の記録装置32は、CCD29が撮像した画像データ(異方向画像データ)や、キーボード40によって入力された画像データに関連する各種情報等を記録する。CPU31は、光源25、ステッピングモータM1、M2、及びCCD29に所定の信号を送って、光源25と環状回転部23とCCD29の動作を制御する制御手段、及び記録装置32が記録した画像データを所定の方法により画像処理する画像処理手段として機能する。
ディスプレイ50は、CPU31の画像処理により完成した画像データに基づく画像や記録装置32が記録した各種情報を表示する。
次に、金型検査記録装置100を用いた金型10の検査要領を、金型検査記録装置100の具体的な機能とともに説明する。
まず、金型支持台22に金型10を載せて上記把持爪で固定し、アーム部24を回転させて回転角αを0°に設定し、さらに、係合ピン25aを係合溝24aの最下端まで移動させて、光源25の傾斜角θを最低角である25°とする。
次いで検査者がキーボード40を操作して、パソコン30から光源25、ステッピングモータM1、M2及びCCD29に上記制御プログラムに基づく信号を送り、光源25、ステッピングモータM1、M2及びCCD29を動作させる。
光源25への点灯信号、ステッピングモータM1、M2への回転信号、及びCCD29への撮像信号は全て一定時間ごとに断続的に送信され、点灯信号と撮像信号は同時に送信される。より詳細には、ステッピングモータM1に回転信号が送られると、ステッピングモータM1からの駆動力によって環状回転部23が図3の矢印Aの方向に5°ずつ回転し、光源25の回転角αが0°から5°ずつ増加する。そして、光源25の回転角αが0°から5°おきに変化するごとに、光源25は所定の相対照射位置(例えば、図3のPA(α=5°)、PB(α=45°)、PC(α=90°)参照)に達し、光源25が各相対照射位置に達するごとに、光源25とCCD29に点灯信号と撮像信号がそれぞれ送られ、光源25がレンズ成形面11を照射し、CCD29がレンズ成形面11の撮像を行なう。さらに、環状回転部23が一周するごと(パソコン30からステッピングモータM1に回転信号が72回送られるごと)に、パソコン30からステッピングモータM2に回転信号が送られ、ステッピングモータM2の駆動力により、光源25の傾斜角θが5°ずつ大きくなり、光源25の円周状周回経路R(図3参照)が小径化する。そして、光源25がこの小径化した円周状周回経路(図示略)上に5°おきに設定された各相対照射位置(図示略)に達するごとに、光源25とCCD29に点灯信号と撮像信号が送られ、CCD29がレンズ成形面11の撮像を行う。環状回転部23が11周すると、係合ピン25aが係合溝24の最上端に達して、光源25の傾斜角θが最大角である75°となり、環状回転部23が12周すると、パソコン30からステッピングモータM1への回転信号の送信が終了し、環状回転部23が停止する。
CCD29によって撮像された画像データは全て記録装置32に記録され、さらに記録装置32には、各画像データの撮像時の光源25の回転角α及び傾斜角θに関する情報(相対照射位置情報)が、対応する画像データと関連付けながら記録される。さらに、検査者がキーボード40によって光源25の強度情報を入力することにより、この強度情報が記録装置32に記録される。
環状回転部23が12周の周回を終えて停止すると、記録装置32に記録された全て(864個)の画像データがCPU31に送られ、CPU31によって以下の画像処理が行われる。
図5はCPU31による画像処理を説明するための概念図である。
図5に示す画像データAは、光源25が図3及び図4に示す相対照射位置PA(α=5°)にあるときにCCD29によって撮像された画像データであり、同様に画像データB、Cはそれぞれ、光源25が相対照射位置PB(α=45°)、PC(α=90°)にあるときにCCD29によって撮像された画像データである。CCD3は数万から数百万の画素を備えているので、各画像データA、B、C・・・は、実際は数万から数百万の画素データによって構成されているが、図5では便宜上、各画像データA、B、C・・・は、図5のX方向及びY方向に8個ずつ計64個の画素データA11、A12、B11、B12、C11、C12・・・を具備するものとして図示している(アルファベットの右隣の数字はY方向位置を示しており、その右側の数字はX方向位置を示している)。各画像データA、B、C・・・の対応する位置の画素データ群(X方向位置及びY方向位置が一致する位置の画素データ。例えば、A11とB11とC11)は全て、CCD3の同一の画素によって撮像されたものである。
この画像処理においてCPU31は、各画像データA、B、C・・・を、対応する位置の画素データごとに比較し、比較した画素データ群の中で最も輝度の高い画素データ(最高輝度画素データ群)A11、B12、B13、C14、C21、C22、C23、C31・・・を選択する。さらに、選択した全ての画素データA11、B12、B13、C14、C21、C22、C23、C31・・・をその位置を変えずに組み合わせて、各画像データA、B、C・・・と同一解像度の一つの組み合わせ画像データCD(図6参照)を生成する。そして、この組み合わせ画像データCDを記録装置32に記録するとともに、この組み合わせ画像データCDに基づく画像をディスプレイ50に表示する。
レンズ成形面11上の微小凹凸検査対象Sは、その他の部分である滑らかな部分に比べて光を強く反射するので、この微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データは他の滑らか部分を撮像した画素データに比べて輝度が高く、ディスプレイ50に表示すると微小凹凸検査対象S以外の部分に比べて白く映る。さらに、例えば微小凹凸検査対象Sが各画像データの位置34、44、45(図5の斜線部分)に現れ、この位置34、44、45では、画像データAの画素データA34、A44、A45が最も輝度が高く、画像データB、Cの画素データB34、B44、B45、C34、C44、C45の輝度がこれより低い場合、組み合わせ画像データCDの34、44、45位置の画素データは、最も輝度が高いA34、A44、A45となる。従って、組み合わせ画像データCDに基づく画像をディスプレイ50に表示すると、全ての微小凹凸検査対象Sが明瞭に白く表示され、微小凹凸検査対象S以外の部分(輝度が低い部分)が黒く表示されるので、ディスプレイ50上で微小凹凸検査対象Sとその他の部分とを明瞭に区別できる。
さらに、CPU31は、組み合わせ画像データCDを構成する各画素データを、所定の基準輝度より高いか低いかで選別し、この基準輝度より高い画素データを、微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データであると認識する。そして、これらの画素データの回転角α及び傾斜角θの情報(相対照射位置情報)を、これらの画素データに関連づけて記録装置32に記録させる。さらにCPU31は、この回転角α及び傾斜角θの情報(相対照射位置情報)を対応する微小凹凸検査対象Sに関連付けてディスプレイ50に表示する。また、ディスプレイ50には光源25の強度情報が表示される。
このように本実施形態によれば、金型10のレンズ成形面11上の全ての微小凹凸検査対象Sを、その他の部分と区別できるようにディスプレイ50に明瞭に表示できるので、検査者はレンズ成形面11(微小凹凸検査対象S)の状態を確実に把握できる。
さらに、ディスプレイ50には、使用した光源25の強度情報、各微小凹凸検査対象Sに関連付けされた回転角α及び傾斜角θの情報(相対照射位置情報)が表示されるので、検査者は、各微小凹凸検査対象Sがどのような条件下で撮像されたかを容易に把握できる。また、これらの情報は組み合わせ画像データCDと関連付けて記録装置32に記録されるので、本検査後にこの情報と同じ条件下でレンズ成形面11を照らせば、レンズ成形面11上の微小凹凸検査対象Sをディスプレイ50に再度明瞭に表示できる。
さらに、例えば、金型10を様々な工程(例えば、洗浄前工程、洗浄後工程など)においてそれぞれ検査し、検査した工程に関する情報をキーボード40によって入力して記録装置32に記録するとともに、ディスプレイ50に表示したりプリントアウトすれば、金型10のレンズ成形面11が時間の経過とともにどのように変化したかを容易に把握できる。
さらに、本金型検査記録装置100は、以下のような態様で実施することも可能である。
例えば、CPU31に、金型10が使用可能か否かを判定する判定手段としての機能を持たせることが可能である。具体的には、CPU31が上述の微小凹凸検査対象認識機能により、微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データであると認識したものが所定数以上連続している場合、レンズ成形面11に基準寸法より大きな微小凹凸検査対象Sがあると判定し、ディスプレイ50にその旨表示し、記録装置32に記録する。この微小凹凸検査対象Sがゴミではなく傷の場合、この判定結果を見た検査者は、この金型10は使用不能であると容易に判断できる。一方、この基準寸法より大きな微小凹凸検査対象Sが無い場合は、その旨をディスプレイ50に表示するとともに、記録装置32に記録する。
また、CPU31が、記録装置32に記録された各画像データA、B、C・・・を、上記基準輝度に基づいて微小凹凸検査対象Sに関するデータを有するか否かで選別し、微小凹凸検査対象Sに関するデータの無い画像データA、B、C・・・を記録装置32から自動的に消去してもよい。このようにすれば、パソコン30にかかる負荷を軽減できる。
さらに、CCD29をカラー式CCDに代えても、微小凹凸検査対象Sをディスプレイ50に明瞭に表示することが可能である。
また、キーボード40からパソコン30への入力値を変更して、パソコン30からステッピングモータM1、M2、CCD29、光源25への信号を変えることにより、例えば光源25の回転角α及び傾斜角θの間隔を5°以外の角度に変更して実施してもよい。
また、ステッピングモータM2と動力伝達機構DM2を省略して、手動により光源25の傾斜角θを変えるようにしてもよい。
さらに、案内溝24aの形状を変更して、傾斜角θの範囲を変更して実施してもよい。
また、本金型検査記録装置100をレンズ以外の物を成形するための金型の検査記録に適用できるのは勿論である。
本発明の一実施形態の撮像装置の斜視図である。 金型検査記録装置の全体構造の概念図である。 様々な角度から光が照射されている金型の斜視図である。 光源が金型の周囲を周回する様子を示す模式図である。 CPUが行う画像処理を説明するための概念図である。 組み合わせ画像データの模式図である。
符号の説明
100 金型検査記録装置
10 金型(被検金型)
11 レンズ成形面(成形面)
20 撮像装置
21 基台
22 金型支持台
23 環状回転部
24 アーム部
24a 案内溝
25 光源
25a 係合ピン
25b 出射端面
26 アーム部
27 ケース
28 撮影レンズ
29 CCD(撮像素子)
30 パソコン
31 CPU(制御手段)(画像処理手段)(判定手段)
32 記録装置(記録手段)
33A 33B ケーブル
40 キーボード
50 ディスプレイ(表示手段)
A B C 画像データ(異方向画像データ)
DM1 DM2 動力伝達機構
M1 M2 ステッピングモータ
PA PB PC 光源の相対照射位置
α 回転角
θ 傾斜角

Claims (8)

  1. 被検金型に対して相対移動可能で、複数の異なる相対照射位置から該金型の成形面に光を照射する光源と、
    該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記成形面を特定の一方向から撮像する撮像素子と、
    該撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する画像処理手段と、
    該組み合わせ画像データを記録する記録手段と、
    該組み合わせ画像データに基づく画像を表示する表示手段と、を備えることを特徴とする金型用検査記録装置。
  2. 請求項1記載の金型用検査記録装置において、
    上記組み合わせ画像データ中の微小凹凸検査対象が撮像されたときの上記相対照射位置に関する情報を、上記微小凹凸検査対象に関連付けて上記記録手段が記録し上記表示手段が表示する金型用検査記録装置。
  3. 請求項1または2記載の金型用検査記録装置において、
    上記光源を、上記金型を中心とする円周形状の周回経路に沿って、上記金型に対する周方向位置を変化させながら周回させる回転機構と、
    該回転機構の働きによって、上記光源が上記周回経路上の各相対照射位置に達したことを検知すると、上記撮像素子を撮像動作させる制御手段と、を備える金型用検査記録装置。
  4. 請求項3記載の金型用検査記録装置において、
    上記光源と金型を結ぶ直線が上記周回経路を含む平面に対してなす傾斜角が変化するように、上記光源が移動可能であり、
    上記組み合わせ画像データ中の微小凹凸検査対象が撮像されたときの上記周方向位置及び傾斜角に関する情報を、上記微小凹凸検査対象に関連付けて上記記録手段が記録し上記表示手段が表示する金型用検査記録装置。
  5. 請求項3記載の金型用検査記録装置において、
    上記光源と金型を結ぶ直線が上記周回経路を含む平面に対してなす傾斜角が変化するように、上記光源を移動させる傾斜角可変機構を備え、
    上記制御手段は、上記光源が上記周回経路上を一周したことを検知する度に該傾斜角可変機構を駆動させ、
    上記組み合わせ画像データ中の微小凹凸検査対象が撮像されたときの上記周方向位置及び傾斜角に関する情報を、上記微小凹凸検査対象に関連付けて上記記録手段が記録し上記表示手段が表示する金型用検査記録装置。
  6. 請求項1から5のいずれか1項記載の金型用検査記録装置において、
    上記記録手段が、上記光源の強度に関する情報を記録し、
    上記表示手段が、該光源の強度に関する情報を表示する金型用検査記録装置。
  7. 請求項1から6のいずれか1項記載の金型用検査記録装置において、
    上記組み合わせ画像データを構成する画素データのうち、所定輝度以上のものを微小凹凸検査対象に関する画素データであると認識し、この微小凹凸検査対象に関する画素データが所定数以上連続しているか否かを判定する判定手段を備え、
    上記表示手段が、該判定手段による判定結果を表示する金型用検査記録装置。
  8. 被検金型に対して相対移動する光源が、複数の異なる相対照射位置から該金型の成形面に光を照射するステップと、
    該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、撮像素子によって上記成形面を特定の一方向から撮像するステップと、
    該撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較するステップと、
    これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択するステップと、
    選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成するステップと、
    該組み合わせ画像データを記録するステップと、
    該組み合わせ画像データに基づく画像を表示するステップと、
    を有することを特徴とする金型の検査記録方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109932367A (zh) * 2019-03-14 2019-06-25 佛山缔乐视觉科技有限公司 一种曲面雕刻图像采集装置
CN111801134A (zh) * 2018-03-30 2020-10-20 富士胶片株式会社 经皮吸收片制造用模具、具有针状凸部的经皮吸收片的制造装置及方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111801134A (zh) * 2018-03-30 2020-10-20 富士胶片株式会社 经皮吸收片制造用模具、具有针状凸部的经皮吸收片的制造装置及方法
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