JP2005241329A - 検査方法、及び検査装置 - Google Patents

検査方法、及び検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005241329A
JP2005241329A JP2004049224A JP2004049224A JP2005241329A JP 2005241329 A JP2005241329 A JP 2005241329A JP 2004049224 A JP2004049224 A JP 2004049224A JP 2004049224 A JP2004049224 A JP 2004049224A JP 2005241329 A JP2005241329 A JP 2005241329A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
data
displayed
display
changed part
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004049224A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2005241329A5 (enrdf_load_stackoverflow
Inventor
Shinichi Oi
慎一 大井
Kazutaka Yamaguchi
和隆 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Ten Ltd
Original Assignee
Denso Ten Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Ten Ltd filed Critical Denso Ten Ltd
Priority to JP2004049224A priority Critical patent/JP2005241329A/ja
Publication of JP2005241329A publication Critical patent/JP2005241329A/ja
Publication of JP2005241329A5 publication Critical patent/JP2005241329A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
JP2004049224A 2004-02-25 2004-02-25 検査方法、及び検査装置 Pending JP2005241329A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004049224A JP2005241329A (ja) 2004-02-25 2004-02-25 検査方法、及び検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004049224A JP2005241329A (ja) 2004-02-25 2004-02-25 検査方法、及び検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005241329A true JP2005241329A (ja) 2005-09-08
JP2005241329A5 JP2005241329A5 (enrdf_load_stackoverflow) 2007-04-05

Family

ID=35023223

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004049224A Pending JP2005241329A (ja) 2004-02-25 2004-02-25 検査方法、及び検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005241329A (enrdf_load_stackoverflow)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009236652A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Hitachi Communication Technologies Ltd 検査評価システムおよび検査評価方法
WO2012046310A1 (ja) * 2010-10-06 2012-04-12 オリンパス株式会社 内視鏡装置
WO2012046321A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 オリンパス株式会社 内視鏡装置
CN111581683A (zh) * 2020-04-27 2020-08-25 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板信息提取方法、装置及电子设备
KR102262930B1 (ko) * 2020-12-01 2021-06-09 주식회사 딥노이드 상대 좌표 추출 장치 및 방법
JP2024061334A (ja) * 2022-10-21 2024-05-07 アンリツ株式会社 重量測定装置及び重量選別装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01277239A (ja) * 1988-04-28 1989-11-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ２値画像の記録方法およびその装置
JPH0361839A (ja) * 1989-07-31 1991-03-18 Ibiden Co Ltd プリント配線基板の検査装置
JPH04307313A (ja) * 1991-04-03 1992-10-29 Fujitsu Ltd プリント板ユニットの検査支援システム
JPH08219996A (ja) * 1995-02-16 1996-08-30 Nippondenso Co Ltd 物品検査装置
JPH09184715A (ja) * 1995-12-28 1997-07-15 Hitachi Ltd パターン形状検査装置
JPH11312242A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Nippon Avionics Co Ltd 検査状況表示方法
JP2001304836A (ja) * 1992-12-01 2001-10-31 Hitachi Ltd 半導体パッケージ外観検査装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01277239A (ja) * 1988-04-28 1989-11-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ２値画像の記録方法およびその装置
JPH0361839A (ja) * 1989-07-31 1991-03-18 Ibiden Co Ltd プリント配線基板の検査装置
JPH04307313A (ja) * 1991-04-03 1992-10-29 Fujitsu Ltd プリント板ユニットの検査支援システム
JP2001304836A (ja) * 1992-12-01 2001-10-31 Hitachi Ltd 半導体パッケージ外観検査装置
JPH08219996A (ja) * 1995-02-16 1996-08-30 Nippondenso Co Ltd 物品検査装置
JPH09184715A (ja) * 1995-12-28 1997-07-15 Hitachi Ltd パターン形状検査装置
JPH11312242A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Nippon Avionics Co Ltd 検査状況表示方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009236652A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Hitachi Communication Technologies Ltd 検査評価システムおよび検査評価方法
WO2012046310A1 (ja) * 2010-10-06 2012-04-12 オリンパス株式会社 内視鏡装置
WO2012046321A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 オリンパス株式会社 内視鏡装置
CN111581683A (zh) * 2020-04-27 2020-08-25 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板信息提取方法、装置及电子设备
US11880910B2 (en) 2020-04-27 2024-01-23 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Method for extracting information from a display panel, device, and electronic device
KR102262930B1 (ko) * 2020-12-01 2021-06-09 주식회사 딥노이드 상대 좌표 추출 장치 및 방법
JP2024061334A (ja) * 2022-10-21 2024-05-07 アンリツ株式会社 重量測定装置及び重量選別装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101946398B1 (ko) Smt 설비 쾌속 제조 절차 시스템 및 방법
US20060085132A1 (en) Method and system to reduce false positives within an automated software-testing environment
JP6149165B2 (ja) メタデータを利用したチャート変換システム及びその方法
EP1650619B1 (en) Sequence program editing apparatus
CN102222415A (zh) 曲线显示装置以及曲线显示方法
CN101185032A (zh) 图像处理装置
JP2005241329A (ja) 検査方法、及び検査装置
JP2008310573A (ja) Ｃａｄ図面の表示方法
US7055141B2 (en) Humanity interface development system of testing program of circuit board
JP6141561B2 (ja) オブジェクト調整ツールおよびオブジェクト調整プログラム
KR20100010129A (ko) 피씨비 표면실장 자동광학검사기용 작업데이터 생성방법
JP4791990B2 (ja) プラントモデル開発システム
KR101498877B1 (ko) 프로그램 작성 장치 및 화상 제어 시스템
KR101874459B1 (ko) 생산설계 사전 검증을 위한 사용자 인터페이스 생성장치 및 방법
JP4846030B2 (ja) 動作検証装置、動作検証方法および動作検証プログラム
JP2009009473A (ja) Ｇｕｉの設計装置、設計方法およびプログラム
JP2019106107A (ja) プログラム、情報処理装置及び画面テストシステム
JP2007249561A (ja) 画面遷移図の表示システム及びプログラム
JP3981804B2 (ja) 変換テーブルの生成方法及び装置、並びに実装基板検査用プログラムの生成方法
JP2010199451A (ja) 搭載データ作成支援装置および部品実装装置
JP4678445B2 (ja) 車載情報システム開発装置及び車載情報システムの開発方法
JP4441332B2 (ja) 画面判定装置および画面判定方法
JP2009181528A (ja) 操作取り消しシステム、方法、およびプログラム
JP2003058138A (ja) 表示制御方法及び表示装置
JP2006209179A (ja) モデル差分検出ツール

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070220

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070221

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091001

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091110

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100608

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101019