JP2005241249A - F2ガス濃度の測定方法並びに測定装置 - Google Patents

F2ガス濃度の測定方法並びに測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005241249A
JP2005241249A JP2004047137A JP2004047137A JP2005241249A JP 2005241249 A JP2005241249 A JP 2005241249A JP 2004047137 A JP2004047137 A JP 2004047137A JP 2004047137 A JP2004047137 A JP 2004047137A JP 2005241249 A JP2005241249 A JP 2005241249A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
measuring
concentration
cell
gas cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004047137A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4211983B2 (ja
Inventor
Isamu Mori
勇 毛利
Masaaki Kaichi
正明 海地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Central Glass Co Ltd
Original Assignee
Central Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Central Glass Co Ltd filed Critical Central Glass Co Ltd
Priority to JP2004047137A priority Critical patent/JP4211983B2/ja
Publication of JP2005241249A publication Critical patent/JP2005241249A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4211983B2 publication Critical patent/JP4211983B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】 紫外光の吸光度測定を行うことで、これまで不可能であったFガスの濃度の測定を短時間で連続的に行うFガス濃度の測定方法と該装置を提供する。
【解決手段】 Fガスを充填したガスセルに紫外光を照射し吸収スペクトルを測定する。また、ガスセルが、少なくとも1つの通気管を具備した筒状部材料で、その両端にCaF、MgF、BaF、LiF、またはSiOから選ばれる少なくとも1種の結晶からなる窓を具備し、該筒状部材料が、ステンレス鋼、鉄、アルミ、アルミ合金、ニッケル、ニッケル合金、銅、酸化アルミ、または窒化アルミのいずれかひとつからなる。また、前処理としてNaF吸着管もしくは深冷トラップでフッ化水素またはフッ化水素酸を除去する。また、少なくとも、該筒状部材料からなるガス通気管を具備したガスセルを用いた装置。
【選択図】 なし

Description

本発明は、非常に活性が高く簡便な濃度測定が困難であったFガス濃度を簡便に測定することを可能としたFガス濃度の測定方法及びFガス濃度の測定装置に関するものである。
従来、Fガス濃度の測定は、一般的に以下の3つの方法が知られている(非特許文献1)。
(1)ガスクロマト分析法。
(2)NMR法。
(3)FガスとNaClと反応させ発生したClガスをNaOH溶液に吸収させ、生成した次亜塩素酸をヨウ素滴定により求める方法。
しかしガスクロマト分析法では、Fガスをカラムに通すとカラム充填剤とFガスが反応してしまうため精密な分析が困難であることや、ガスクロマトのホットワイヤーがFガスと反応して切断することを防ぐためにポリテトラフルオロエチレン(PTFE)で被覆する必要があり、これにより検出感度が低下するため低濃度域の分析が困難である。
次に、NMR法は、ガス用の硝子セルにガスを封入する必要があり、Fガスと硝子自体の反応が懸念される。さらに毒性や腐食性が非常に高いFガスを壊れやすい硝子セルに採取すること自体に危険性を伴う。
また、滴定法は、操作が煩雑である。かつFガスからClガスへの変換率を毎回確認しなければならず、完全に変換すること自体に困難がある。またこの他にも色々な測定法が知られているが、何れの方法も一旦、Fガスを含むガスを採取したり、前処理を行ったりしなければならず非効率的である。
渡辺等:フッ素の化学、II、p216(1973)
現状、Fガスを用いてフッ化物等を工業的に製造する際に、Fガスの濃度を測定し、その反応を制御することが必要である。ガスクロマト分析では、前処理を行えば試料の採取は必要なくなるが、基本的にガスクロマト分析には時間が掛かるため、リアルタイムでの測定が困難であった。測定をリアルタイムで行うことは、Fガスを使用する反応装置の条件や排ガス処理条件の迅速な適正化などにとって非常に有用な事項である。また従来、Fガス自体を直接分析する方法は知られていなかったし、ガスセルを具備し、ガス測定が可能な紫外可視分光光度計は無かった。従ってフッ素やフッ化水素のような高腐蝕性ガスの紫外可視スペクトルの測定装置もなかった。
本発明者等は、鋭意検討の結果、280〜290nmの紫外光の吸光度を用いることにより迅速に、かつ複雑な前処理を施すことなく正確にFガス濃度を測定できることを見いだし本発明に至った。
すなわち本発明は、Fガスを充填したガスセルに紫外光を照射し吸収スペクトルを測定するFガス濃度の測定方法で、該ガスセルが、少なくとも1つの通気管を具備した筒状部材料で、その両端にCaF、MgF、BaF、LiF、またはSiOから選ばれる少なくとも1種の結晶からなる窓を具備し、該筒状部材料が、ステンレス鋼、鉄、アルミ、アルミ合金、ニッケル、ニッケル合金、銅、酸化アルミ、または窒化アルミのいずれかひとつからなることを特徴とし、さらに、Fガス濃度を測定するに際し、前処理としてNaF吸着管もしくは深冷トラップでフッ化水素またはフッ化水素酸を除去することを特徴とするFガス濃度の測定方法であり、少なくとも、該筒状部材料からなるガス通気管を具備したガスセル、紫外光ランプ、分光器、検出器、ガスセルに入るFガスを精製するための薬剤充填管、ガスセルや薬剤充填管内を洗浄するための真空ポンプ、また迷光が入らないようにガスセル、分光器、検出器、光源を外部光と遮蔽するためのケースからなるFガス濃度の測定装置を提供するものである。
以下、本発明を詳細に説明する。
本発明の測定方法は、ガスセルを組み込んだ紫外光ランプ(重水素ランプ)と検出器(モノクロメータ)を具備する吸光度測定装置によりFガスの紫外光に対する吸光光度を測定することでFガス濃度を正確にかつ迅速に測定するものである。紫外光としては、280〜290nmの波長光を使用する。
本発明において、測定対象であるFガスは極めて反応性に富むため、ガスセル及び窓材は、Fガスとできるだけ反応し難い物質を選定する必要がある。窓材として使用できる光学結晶としては、CaF、MgF、BaF、LiF、またはSiOが好ましい。また、ガスセルは、中空の筒状であれば、円筒状、角状等の形状には特に限定されないが、その材質としては、ステンレス鋼、鉄、アルミ、アルミ合金、ニッケル、ニッケル合金、銅、酸化アルミ、または窒化アルミが好ましい。また、使用する前にFガスをガスセルに入れて前処理を施しておくことが好ましい。Fガスは非常に活性であるため容器とフッ素が反応してしまう。しかしながら、Fガスは、ガスセル容器材質と反応しフッ素化合物被膜(フッ化不動態膜)を形成する。従って、一定量反応したのちは、反応が進行しない。フッ化不動態膜を形成する方法としては、100%あるいは不活性ガス希釈したFガスを材料に応じた温度範囲で暴露して処理することが好ましい。またFガス暴露した後、Fガスを排気し、真空あるいは不活性ガスをガスセルに導入し、ガスセルの耐熱温度に応じて300〜500℃の温度で加熱処理することでフッ素化合物の皮膜を結晶化した方がより好ましい。このフッ化不動態膜化処理により、ガスセル容器壁がFガスと反応することがなくなり安定して定量分析が実施可能となる。またこのフッ化不動態膜化処理の簡便な方法として、測定する対象Fガスそのものをガスセルに導入して行っても良い。
本発明において、Fガスの定量を行う場合、ガスセルに導入したFガスのモル分子量を正確に測定する必要がある。従って、ガスセルに導入したガス圧力を測定する必要がある。さらに、温度も一定に保つ必要がある。従って、本発明でのFガス濃度測定においては、導入したガス圧力を測定し、さらに温度も測定する必要がある。特にセル温度は一定に保つことが好ましく、そのためにヒータで温度調節できる機構を具備することが好ましい。セルの加熱温度は、Fガスとセル材料の反応を考慮すれば、できる限り低い方が好ましく、20〜100℃の間に制御することが好ましい。20℃未満であると煩雑な冷却機構が必要であるし、100℃を越えるとセル材質にへの損傷が懸念されるため好ましくない。
本発明において、測定に使用する光源は、200〜400nmの紫外光を放出できる紫外光ランプ(光源)なら特に限定されないが、重水素ランプ、Hg−Xeランプなどが好ましい。また分光器は、プリズムもしくは回折格子を利用するものであれば良く、検出器は、シリコンフォトダイオードまたは光電子増倍管を用い、また検出方法は、透過光方式であれば、シングルビーム方式でもダブルビーム方式でも良い。
次に、ガスセルに導入するFガスの前処理として、フッ化水素やフッ化水素酸は除去しておくことが好ましい。フッ化水素、フッ化水素酸は、室温では液化しやすく窓材に吸着して光散乱を起こす可能性があり、正常な測定が不可能になる。従って、KFやNaFなどのフッ化水素、フッ化水素酸の吸着剤を用いて前処理することが好ましい。また、AlFなどの水分除去剤をNaFやKFの下流側(セルにより近い場所)で使用してもよい。
本発明の方法により、非常に活性が高く簡便な濃度測定が困難であったFガス濃度を簡便に測定することを可能とした。また、簡便で精度のあるFガス濃度の測定装置の提供を可能とした。
以下、実施例により本発明を詳細に説明するが、本発明はかかる実施例に限定されるものではない。
実施例1、2
図1は、本発明のFガス濃度測定装置の概略図(ダブルビーム方式)である。測定方法は、試料ガスをガス精製機1に通し、圧力計2で圧力を測定しながら試料用ガスセル3にガスを導入して測定を行う。導入したガスは調圧しながら流通させてもよいし、ガスを封入した状態で測定し、測定終了後にガスを排気して再度ガスを封入する方法で測定しても良い。測定は紫外光を分光器6で分光しセルを通過した光を光電子増倍管8で検出した。
とNを混合し、色々な濃度のN希釈Fガスを作成し、紫外光に対する吸光度とFガス分圧(濃度)との相関を調べた。希釈Fガスのサンプルセル内への導入圧力は0.1MPa、ガスセル温度は28℃に制御した。また、シングルビームの場合、温度が大きく変化すると光量が変わり測定値の分布が大きくなる可能性があるので、実験室内温度は25℃に調整した。装置は、光源として重水素ランプ、分光器としては回折格子を用いた。測光方式はシングルビーム方式とダブルビーム方式の両方で行った。このシステムで検出される284nmの吸光度とガス圧力との関係の測定結果を表1、表2に示した。得られた測定結果を最小自乗法で計算し、相関係数を算出したところ、約1(シングルビーム方式:0.999、ダブルビーム方式:0.999)と非常に良い直線関係が得られた。このことは、他の手法では得られないほど精度の良い検量線を作成でき、測定の信頼性が高いことを意味している。
実施例3、4、比較例1
実施例1,2で作成した検量線を基にF濃度測定試験を行った。試験に用いたガスは、NF、F、HF、Nを含む混合ガスである。HFもガス中に混入しているが、HFは215nmに吸光度のピークを持つためガス状では直接測定に影響しない。しかし、HFが多量に存在し液化すると窓材を腐蝕したり、ベースラインが不安定になったりする。そのため、ガスセルの入り口にNaF管を設置しHFの吸収除去を行った。Fガスが0.2〜40%含まれるサンプルガスを5本準備した。
測定手順は以下のようにして行った。なお、セルの内容積は30cc、ガス圧力は大気圧(101.3kPa)である。また測定精度をガスクロ分析と比較するために紫外光方式の測定器は、シングルビーム方式とダブルビーム方式の両方式を用いた。測定手順は、(1)ガスセル、NaF管内の真空引きを行う、(2)ガスをガスセル内に100SCCMで導入し、(3)測定(284nmの吸光度で測定する)し、(4)ガスをガスセル内に流通し、(5)再び測定する。そして、(4)、(5)を繰り返し操作する。
また、比較のためTCDガスクロ分析も実施した。ガスクロ分析では、Fガスを直接ガスクロに導入すると機械の損傷が著しく、すぐに測定ができなくなる。そのためイオウを充填した管に一旦ガスを導入し、SFガスに変換して測定を行った。ガスクロ分析の手順は、(1)イオウを入れた管にガスを導入し、(2)2分間保持した後、(3)ガスクロ分析を行う、(4)最後にイオウ管を真空引きする。操作は、(1)〜(3)を繰り返し行う。
測定の結果、紫外光による吸光度法では連続的に数秒で濃度測定が行えるのに比較して、ガスクロ分析法では、ガスをガスクロのサンプラーに入れた後も20分測定に要しリアルタムイムでの測定はできなかった。
測定精度を比較すると、シングルビーム方式、ダブルビーム方式の紫外光測定方式の測定値は、ガスクロ分析法よりも良く一致していた。なお、表3の時間は、ガスセルとガスクロのカラムに同時にガスを流して測定を開始した時間を0分とおいている。ガスサンプル5本は、最初の1本を5分間流し、測定し、その後次の1本を5分間流し、測定し、次を20分間流し、測定し、次を10分間流し、測定し、最後の1本を10分間流し、測定した。その結果を表3中に示した。測定不可と記載しているのは、前の欄に記載した数値を得るための測定が終わっていないことを指している。紫外光による測定は、迅速性、精度共に最も優れた方法である。
実施例5
シングルビーム方式、ダブルビーム方式の測定器をCVD装置の排気ガスを吸引するためのドライポンプの排気側の配管に取り付けた。CVD装置の外部に誘導結合型のプラズマ発生器を取り付け、1200Wの電力を印可してNFを分解しFガスを発生させた。プラズマの印可電力を変えながら発生したFガスがドライポンプから排出される時の濃度の経時変化を284nmの波長の吸光度で測定した。その結果を図2に示した。なお、NFの流量は500SCCM、ドライポンプへのN流通量は1SLMである。ガスセル内の圧力は大気圧(101.3kPa)である。
測定の結果、プラズマ分解を開始すると次第にFガス濃度が上昇し、印可電力を下げると次第にFガス濃度が低下する結果が得られた。またシングルビーム方式、ダブルビーム方式共にほぼ同じ結果が得られており精度の良い測定が連続的に行えていることが解る。
図1は、本発明のFガス濃度の測定装置の概略図(ダブルビーム方式)である。 図2は、実施例5で実施した方法で排出されるFガスを284nmの波長で吸光度を測定し、その時のFガス濃度と時間の関係を示したものである。
符号の説明
1 ガス精製機
2 圧力計
3 試料用ガスセル
4 対照用ガスセル
5 光源部
6 分光器
7 検出器
8 光電子増倍管

Claims (5)

  1. ガスを充填したガスセルに紫外光を照射し吸収スペクトルを測定することを特徴とするFガス濃度の測定方法。
  2. ガスセルが、少なくとも1つの通気管を具備した筒状部材料で、その両端にCaF、MgF、BaF、LiF、またはSiOから選ばれる少なくとも1種の結晶からなる窓を具備したことを特徴とする請求項1に記載のFガス濃度の測定方法。
  3. 筒状部材料が、ステンレス鋼、鉄、アルミ、アルミ合金、ニッケル、ニッケル合金、銅、酸化アルミ、または窒化アルミのいずれかひとつからなることを特徴とする請求項2に記載のFガス濃度の測定方法。
  4. ガス濃度を測定するに際し、前処理としてNaF吸着管もしくは深冷トラップでフッ化水素またはフッ化水素酸を除去することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のFガス濃度の測定方法。
  5. 少なくとも、請求項2または請求項3に記載のガスセル、紫外光ランプ、分光器、検出器、ガスセルに入るFガスを精製するための薬剤充填管、ガスセルや薬剤充填管内を洗浄するための真空ポンプ、また迷光が入らないようにガスセル、分光器、検出器、光源を外部光と遮蔽するためのケースからなるFガス濃度の測定装置。
JP2004047137A 2004-02-24 2004-02-24 F2ガス濃度の測定方法並びに測定装置 Expired - Fee Related JP4211983B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004047137A JP4211983B2 (ja) 2004-02-24 2004-02-24 F2ガス濃度の測定方法並びに測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004047137A JP4211983B2 (ja) 2004-02-24 2004-02-24 F2ガス濃度の測定方法並びに測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005241249A true JP2005241249A (ja) 2005-09-08
JP4211983B2 JP4211983B2 (ja) 2009-01-21

Family

ID=35023154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004047137A Expired - Fee Related JP4211983B2 (ja) 2004-02-24 2004-02-24 F2ガス濃度の測定方法並びに測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4211983B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007107904A (ja) * 2005-10-11 2007-04-26 Taiyo Nippon Sanso Corp フッ素ガス測定装置
JP2008196882A (ja) * 2007-02-09 2008-08-28 Taiyo Nippon Sanso Corp ガス分析装置
EP1990628A1 (de) * 2007-05-09 2008-11-12 SICK MAIHAK GmbH Küvette
CN103994981A (zh) * 2014-04-28 2014-08-20 中国农业科学院兰州畜牧与兽药研究所 一种快速测定蜂蜜制品中铝离子含量的方法
RU2558014C2 (ru) * 2010-05-24 2015-07-27 Лабио А.С. Устройство для уф-спектрометрического анализа газообразных соединений
US10371630B2 (en) 2013-07-31 2019-08-06 Tokushima University Inline concentration meter and concentration detection method
US11984308B2 (en) 2019-11-27 2024-05-14 Resonac Corporation Method for measuring concentration of fluorine gas in halogen fluoride-containing gas using mass spectrometer

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007107904A (ja) * 2005-10-11 2007-04-26 Taiyo Nippon Sanso Corp フッ素ガス測定装置
JP2008196882A (ja) * 2007-02-09 2008-08-28 Taiyo Nippon Sanso Corp ガス分析装置
EP1990628A1 (de) * 2007-05-09 2008-11-12 SICK MAIHAK GmbH Küvette
RU2558014C2 (ru) * 2010-05-24 2015-07-27 Лабио А.С. Устройство для уф-спектрометрического анализа газообразных соединений
US10371630B2 (en) 2013-07-31 2019-08-06 Tokushima University Inline concentration meter and concentration detection method
CN103994981A (zh) * 2014-04-28 2014-08-20 中国农业科学院兰州畜牧与兽药研究所 一种快速测定蜂蜜制品中铝离子含量的方法
US11984308B2 (en) 2019-11-27 2024-05-14 Resonac Corporation Method for measuring concentration of fluorine gas in halogen fluoride-containing gas using mass spectrometer

Also Published As

Publication number Publication date
JP4211983B2 (ja) 2009-01-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW561543B (en) On-line UV-visible halogen gas analyzer for semiconductor processing effluent monitoring
US6955801B2 (en) High-purity fluorine gas, production and use thereof, and method for analyzing trace impurities in high-purity fluorine gas
KR100742488B1 (ko) 가스 중의 불순물 정량 방법 및 장치
KR101030405B1 (ko) 촉매적 변형에 의한 분석 민감도 증진법
KR100837477B1 (ko) 미량 성분의 분석 방법 및 그 분석 장치
JP4211983B2 (ja) F2ガス濃度の測定方法並びに測定装置
JP2001509596A (ja) 分光センサーのキャリブレーションのための方法
JP4744017B2 (ja) 高純度フッ素ガス中の微量不純物の分析方法
JP3998018B2 (ja) シラノール基濃度の測定方法および測定用セル
JP5221881B2 (ja) ガス分析装置
EP4253938A1 (en) Gas analyzing method
US5804702A (en) Process for reducing interfering signals in optical measurements of water vapor
Fahr et al. Scattered light and accuracy of the cross‐section measurements of weak absorptions: Gas and liquid phase UV absorption cross sections of CH3CFCl2
JPH08159964A (ja) ガス中の水分の定量方法及び試料容器
JP2004138467A (ja) 紫外線吸収式測定装置および測定試料の処理方法
WO2021106602A1 (ja) 紫外分光法によるハロゲンフッ化物含有ガスに含まれるフッ素ガス濃度の測定方法
WO2021106601A1 (ja) 質量分析計によるハロゲンフッ化物含有ガス中のフッ素ガス濃度の測定方法
KR101890404B1 (ko) 셀타입 가스인증표준물질 제조방법, 제조장치 및 용기
JP4653357B2 (ja) 金属カルボニル化合物の分析方法及び装置
Pope et al. A temperature‐dependent kinetics study of the reaction of O (3PJ) with (CH3) 2SO
US20110171743A1 (en) Detection of halogens
RU2154028C1 (ru) Способ определения содержания перфторуглеродных соединений в гексафториде урана
McAndrew et al. Gaseous contaminant measurement for semiconductor processing by diode laser spectroscopy
Bacsik et al. Indirect determination of molecular chlorine by fourier transform infrared spectrometry
JP2009008397A (ja) 赤外分光分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20060424

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060922

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080808

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080819

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080922

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081022

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081023

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111107

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4211983

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111107

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111107

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111107

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121107

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121107

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121107

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131107

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees