JP2005235279A - 光ディスクのウォブル測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光ディスクのウォブルのC/Nとアドレスエラーレートのマージンとの間に相関からディスク評価を行う場合に、ウォブルの微小な欠陥が検出し、ディスク検査を的確に行う。
【解決手段】光ディスクに形成されたウォブルのキャリア部を測定する際に、VBWを300Hz以上にすることにより、ウォブルの微細な欠陥を調べるようにする。例えば、DB規格におけるウォブルの測定法では、中心周波数をウォブルの中心周波数に合わせ、スパンを0Hz、RBWを30KHz、VBWを300Hzにセットし、その後、トラッキングを静止状態にして数10トラック分のウォブル変動を測定する。
【選択図】図2
【解決手段】光ディスクに形成されたウォブルのキャリア部を測定する際に、VBWを300Hz以上にすることにより、ウォブルの微細な欠陥を調べるようにする。例えば、DB規格におけるウォブルの測定法では、中心周波数をウォブルの中心周波数に合わせ、スパンを0Hz、RBWを30KHz、VBWを300Hzにセットし、その後、トラッキングを静止状態にして数10トラック分のウォブル変動を測定する。
【選択図】図2
Description
本発明は、各種光ディスクのアドレスを記録したウォブルを適正に測定するためのウォブル測定方法に関し、詳しくはアドレスのマージンとアドレス信号のC/Nとの相関を強くするためのアドレスC/Nの測定技術に関する。
従来、青色レーザを用いた記録型光ディスク(例えば、いわゆるブルーレイディスク(BD)など)においては、信号記録膜を設けた下層のディスク基板上にうねった溝(ウォブルグルーブ)を形成し、そこにアドレス情報を入れるようになっている(例えば特許文献1参照)。
このような光ディスクの規格では、ディスク再生装置から読み出されたウォブルの信号レベル(C/N)をそのままスペクトルアナライザ上で読み取ることにより、アドレスの品質を定義している。これは、ウォブルの信号レベルとアドレス読み込みのエラーレートのマージンに相関があるためである。
この品質定義方法は、アドレス復号機を必要としないため、評価装置のコスト的にも、また評価の手間という点でも、非常に有為である。
特開2003−123267号公報
このような光ディスクの規格では、ディスク再生装置から読み出されたウォブルの信号レベル(C/N)をそのままスペクトルアナライザ上で読み取ることにより、アドレスの品質を定義している。これは、ウォブルの信号レベルとアドレス読み込みのエラーレートのマージンに相関があるためである。
この品質定義方法は、アドレス復号機を必要としないため、評価装置のコスト的にも、また評価の手間という点でも、非常に有為である。
しかしながら、上記従来の評価方法では、ウォブルのC/Nとアドレスエラーレートのマージンとの間に相関がみられないことがあり、適正な評価ができない場合があった。
そこで本発明は、光ディスクに形成されたウォブルの品質を適正に測定することができ、有効な評価を行うことが可能なウォブル測定方法を提供することを目的とする。
そこで本発明は、光ディスクに形成されたウォブルの品質を適正に測定することができ、有効な評価を行うことが可能なウォブル測定方法を提供することを目的とする。
上述の目的を達成するため、本発明のウォブル測定方法は、スペクトルアナライザにスパン、分解帯域幅RBW、ビデオ帯域幅VBWを含む各測定条件を設定するとともに、光ディスクから再生された高周波信号をスペクトルアナライザに入力し、前記高周波信号に含まれるウォブル変動を測定するウォブル測定方法であって、前記スペクトルアナライザに設定するビデオ帯域幅VBWを300Hzとして前記ウォブルのキャリア部の測定を行うことを特徴とする。
本発明のウォブル測定方法によれば、スペクトルアナライザに設定するビデオ帯域幅VBWを300Hzとしてウォブルのキャリア部の測定を行うことから、ディスクアドレスの微小な欠陥が検出でき、ウォブルのC/Nとアドレスエラーレートのマージンとの相関を強化したディスク評価が可能となり、適正なディスク評価システムを実現できる効果がある。
上述のように従来は、スペクトルアナライザを用いてウォブルの信号レベル(C/N)を測定していたが、この測定に際して、スペクトルアナライザのVideo Bandwidth(VBW)を100Hzとして測定すると、ウォブルのC/Nとアドレスエラーレートのマージンの間に、相関がみられないことがあった。例えば、VBW100Hzでは、1トラックから数トラック程度のウォブルC/Nが低い部分が存在した場合に、VBWが低いため数値が平均化されてしまい、スペクトルアナライザ上でC/Nが低い部分が発見できないことがあった。このため、VBW100Hzで測定した場合にC/Nの品質に問題が無いにもかかわらず、アドレスマージンが狭いディスクが存在することになる。
そこで、本発明の実施の形態では、スペクトルアナライザのVBWを300Hzとしてウォブルの信号レベルを測定することにより、微小な欠陥を発見することを可能とし、信号レベルとアドレスのエラーレートのマージンと相関を強くして、適正なウォブルの測定を行えるようにする。これにより、ウォブルのC/Nをある一定レベル以上と定義するだけで、アドレスマージンを満たしたディスクであるかどうかを簡便に、しかも高精度で判定できる。
そこで、本発明の実施の形態では、スペクトルアナライザのVBWを300Hzとしてウォブルの信号レベルを測定することにより、微小な欠陥を発見することを可能とし、信号レベルとアドレスのエラーレートのマージンと相関を強くして、適正なウォブルの測定を行えるようにする。これにより、ウォブルのC/Nをある一定レベル以上と定義するだけで、アドレスマージンを満たしたディスクであるかどうかを簡便に、しかも高精度で判定できる。
図1は本発明の実施例によるウォブル測定方法を適用したディスク評価システムの概要を示すブロック図である。
本実施例のディスク評価システムは、例えばブルーレイディスク(BD)等の青色レーザを用いた記録型大容量光ディスク(検査対象ディスク)10に形成されたウォブルの評価を行うものであり、評価処理を実行するディスク評価装置20と、高周波信号のスペクトルを分析するスペクトルアナライザ30とを有して構成される。
ディスク評価装置20には、光ディスク10の再生を行う再生部と、スペクトルアナライザ30の条件設定や制御を行う制御部が含まれており、スペクトルアナライザ30に各種条件設定を行うとともに、再生部によって光ディスク10から再生した高周波信号をスペクトルアナライザ30に送って測定処理を実行させ、このスペクトルアナライザ30から出力される測定信号を用いて光ディスク10の評価処理を行うものである。
本実施例のディスク評価システムは、例えばブルーレイディスク(BD)等の青色レーザを用いた記録型大容量光ディスク(検査対象ディスク)10に形成されたウォブルの評価を行うものであり、評価処理を実行するディスク評価装置20と、高周波信号のスペクトルを分析するスペクトルアナライザ30とを有して構成される。
ディスク評価装置20には、光ディスク10の再生を行う再生部と、スペクトルアナライザ30の条件設定や制御を行う制御部が含まれており、スペクトルアナライザ30に各種条件設定を行うとともに、再生部によって光ディスク10から再生した高周波信号をスペクトルアナライザ30に送って測定処理を実行させ、このスペクトルアナライザ30から出力される測定信号を用いて光ディスク10の評価処理を行うものである。
以下、本実施例の測定方法について、先行技術としての現行ブルーレイディスク(BD)規格に準拠した測定方法に言及しつつ説明する。
例えばBD等の光ディスクにおいて、グルーブ部をウォブリングさせることによりアドレスを入力する場合、一般的にはある周波数aでウォブリングさせたグルーブと、それとは異なる周波数bでウォブリングさせたグルーブとの組み合わせにより、アドレスを表現している場合が多い。
また、他の方法としては、下記の組み合わせによりアドレスを記録しておく場合が多い。すなわち、ある周期aでウォブリングさせたグルーブと、ウォブリングさせてないグルーブ、周波数もしくはウォブル振幅を変えたグルーブ、ウォブル形状を変えたグルーブ、ウォブルを用いないでピットを用いる方法のいずれか、若しくは各々を組み合わせた方法である。
また、ウォブル信号は、光ピックアップから戻ってきたビームを2分割フォトディテクタにより受けた際の各々の光量の差分値iにより得る。
例えばBD等の光ディスクにおいて、グルーブ部をウォブリングさせることによりアドレスを入力する場合、一般的にはある周波数aでウォブリングさせたグルーブと、それとは異なる周波数bでウォブリングさせたグルーブとの組み合わせにより、アドレスを表現している場合が多い。
また、他の方法としては、下記の組み合わせによりアドレスを記録しておく場合が多い。すなわち、ある周期aでウォブリングさせたグルーブと、ウォブリングさせてないグルーブ、周波数もしくはウォブル振幅を変えたグルーブ、ウォブル形状を変えたグルーブ、ウォブルを用いないでピットを用いる方法のいずれか、若しくは各々を組み合わせた方法である。
また、ウォブル信号は、光ピックアップから戻ってきたビームを2分割フォトディテクタにより受けた際の各々の光量の差分値iにより得る。
次に、ウォブル品質を測定する例として、ブルーレイディスク(BD)の規格について説明する。
BDでは、基本ウォブル長4.761μmのCos(ωt)で振動しているウォブル(モノトーンウォブル)中に、周波数を1.5倍としたMSKウォブル、Cos(ωt+α)で振動しているSaw-toothウォブルを織り交ぜることにより、アドレスを表現している。
そして、BDの規格におけるウォブルの測定法では、ウォブルの測定法を下記のように定義している。
まず光ディスクのグルーブ部に、回転数vでフォーカス及びトラッキングをかける。その後、差分値iをスペクトラムアナライザに接続し、ウォブル信号を測定可能な状態とする。
次に、キャリア部を測定する際に、スペクトルアナライザの設定を下記のようにする。まず、中心周波数をモノトーンウォブルの中心周波数に合わせ、スパン(span)を0Hz、分解帯域幅(RBW;Resolution Bandwidth)を30KHz、ビデオ帯域幅(VBW;Video Bandwidth)を100Hzにセットする。その後、トラッキングを静止状態(sweep off)にして数100トラック分のウォブル変動を測定する。
また、ノイズレベルは、例えばキャリアの半分程度の中心周波数など、最もキャリアの影響の少ない周波数帯に合わせ、スパンを0Hz、RBWを30KHz、VBWを10Hzにセットする。その後、トラッキングを静止状態にして数10トラック分のウォブル変動を測定する。
次に、キャリアレベルを測定する際の中心周波数は、例えばウォブル長4.761μm、データビット(Data Bit)103.50nm、チャネルビット(Channel Bit)69nm、ディスクの回転数v=4.554m/sのとき、956.5MHzに合わせる。
また、ノイズレベルを測定する際、中心周波数は500MHzに設定する。これは、ちょうどウォブルの二次ひずみ等影響の小さい、メディア自体のノイズレベルを測定するのに好適な周波数である。
BDでは、基本ウォブル長4.761μmのCos(ωt)で振動しているウォブル(モノトーンウォブル)中に、周波数を1.5倍としたMSKウォブル、Cos(ωt+α)で振動しているSaw-toothウォブルを織り交ぜることにより、アドレスを表現している。
そして、BDの規格におけるウォブルの測定法では、ウォブルの測定法を下記のように定義している。
まず光ディスクのグルーブ部に、回転数vでフォーカス及びトラッキングをかける。その後、差分値iをスペクトラムアナライザに接続し、ウォブル信号を測定可能な状態とする。
次に、キャリア部を測定する際に、スペクトルアナライザの設定を下記のようにする。まず、中心周波数をモノトーンウォブルの中心周波数に合わせ、スパン(span)を0Hz、分解帯域幅(RBW;Resolution Bandwidth)を30KHz、ビデオ帯域幅(VBW;Video Bandwidth)を100Hzにセットする。その後、トラッキングを静止状態(sweep off)にして数100トラック分のウォブル変動を測定する。
また、ノイズレベルは、例えばキャリアの半分程度の中心周波数など、最もキャリアの影響の少ない周波数帯に合わせ、スパンを0Hz、RBWを30KHz、VBWを10Hzにセットする。その後、トラッキングを静止状態にして数10トラック分のウォブル変動を測定する。
次に、キャリアレベルを測定する際の中心周波数は、例えばウォブル長4.761μm、データビット(Data Bit)103.50nm、チャネルビット(Channel Bit)69nm、ディスクの回転数v=4.554m/sのとき、956.5MHzに合わせる。
また、ノイズレベルを測定する際、中心周波数は500MHzに設定する。これは、ちょうどウォブルの二次ひずみ等影響の小さい、メディア自体のノイズレベルを測定するのに好適な周波数である。
上記測定法によりスペクトルアナライザ上で検出される信号は、例えばキャリアレベルを測定するときは、例えば図2に示すようになる。なお、図2において、縦軸は信号レベル、横軸は時間であり、それぞれ単位は任意である。
図示のように、トラッキングをoffにすることにより、各トラック間でのウォブル信号の大小が検出される。そのため、この測定法によるC/N数値を定義する場合、キャリアはスペクトルアナライザ上における最低値、ノイズはスペクトルアナライザ上における最大値を測定し、最も厳しい部位を選択する。
そして、BD規格の測定法は、ウォブルのC/Nが26dB以上であればウォブルの品質は良いという規格である。すなわち、26dB以上であれば、アドレスのマージンが、実際に記録された信号のマージン(Rfマージン)よりも広くなる。
図示のように、トラッキングをoffにすることにより、各トラック間でのウォブル信号の大小が検出される。そのため、この測定法によるC/N数値を定義する場合、キャリアはスペクトルアナライザ上における最低値、ノイズはスペクトルアナライザ上における最大値を測定し、最も厳しい部位を選択する。
そして、BD規格の測定法は、ウォブルのC/Nが26dB以上であればウォブルの品質は良いという規格である。すなわち、26dB以上であれば、アドレスのマージンが、実際に記録された信号のマージン(Rfマージン)よりも広くなる。
次に、本実施例の測定方法について説明する。
本実施例では、上述したキャリアを調べる測定法として、VBWを300Hz以上にすることにより、ウォブルの微細な欠陥を調べるようにする。
例えば、上述したDB規格におけるウォブルの測定法では、中心周波数をウォブルの中心周波数に合わせ、スパンを0Hz、RBWを30KHz、VBWを300Hzにセットする。その後、トラッキングを静止状態にして数10トラック分のウォブル変動を測定する。なお、測定手順等は、上述した例と同様である。
本実施例では、上述したキャリアを調べる測定法として、VBWを300Hz以上にすることにより、ウォブルの微細な欠陥を調べるようにする。
例えば、上述したDB規格におけるウォブルの測定法では、中心周波数をウォブルの中心周波数に合わせ、スパンを0Hz、RBWを30KHz、VBWを300Hzにセットする。その後、トラッキングを静止状態にして数10トラック分のウォブル変動を測定する。なお、測定手順等は、上述した例と同様である。
また、上記はBD規格におけるウォブルの測定法であるが、同じ物理的形状の入ったディスクを、線速を変えて再生する用途も考えられる。例えば、グルーブ形状を同一としたディスクで、カムコーダなどのモバイル用途に応用する場合、ディスクの回転線速を遅くすることによりモータへの負荷を低下させ、低消費電力を実現することができる。
この場合、例えば回転数2.53m/sとしてディスクの物理的形状を同一とした場合には、ウォブルのC/N及び中心周波数はBD規格と異なる値になる。例えばキャリアを測定する場合の中心周波数は、ウォブル長4.761μm、データビット(Data Bit)103.50nm、チャネルビット(Channel Bit)69nm、ディスクの回転数v=2.533m/sのとき、531.9MHzとなる。
また、ノイズレベルの中心周波数は250MHzに設定した際に最もキャリアからの影響が小さくなる。そして、回転数を2.533m/sに変えた場合、ノイズレベルの中心周波数がシフトし、結果としてノイズレベルが上昇する。例えばウォブル長4.761μm、データビット103.50nm、チャネルビット69nmのBDディスクをディスクの回転数v=4.554m/sで読み込んだ時と比較して、回転数v=2.533m/sで測定した場合にはノイズレベルが−2dB変化する。
この場合、例えば回転数2.53m/sとしてディスクの物理的形状を同一とした場合には、ウォブルのC/N及び中心周波数はBD規格と異なる値になる。例えばキャリアを測定する場合の中心周波数は、ウォブル長4.761μm、データビット(Data Bit)103.50nm、チャネルビット(Channel Bit)69nm、ディスクの回転数v=2.533m/sのとき、531.9MHzとなる。
また、ノイズレベルの中心周波数は250MHzに設定した際に最もキャリアからの影響が小さくなる。そして、回転数を2.533m/sに変えた場合、ノイズレベルの中心周波数がシフトし、結果としてノイズレベルが上昇する。例えばウォブル長4.761μm、データビット103.50nm、チャネルビット69nmのBDディスクをディスクの回転数v=4.554m/sで読み込んだ時と比較して、回転数v=2.533m/sで測定した場合にはノイズレベルが−2dB変化する。
この結果、BD規格と比較して、回転数を2.533m/sとすると、ウォブルのC/Nは24dBが下限値となり、これ以下のC/Nになると、アドレスのマージンがRfマージンよりも小さくなる。
しかし、ディスクの回転数v=2.533m/s、中心周波数531.9MHzとし、スパンを0Hz、RBWを30KHz、VBWを100Hzとした場合、キャリアのC/Nが24dBの規格を満たしながら、アドレスマージンがRfマージンより狭いディスクが存在する。図3は、VBWを100Hzとした先行技術の方法で、アドレスマージンがRfマージンよりも狭いディスクを測定したスペクトルアナライザ上での測定値を示している。一方、図4は、VBWを300Hzとした本実施例の方法で同様のディスクを測定したスペクトルアナライザ上での測定値を示している。なお、図3及び図4において、縦軸は信号レベル、横軸は時間であり、それぞれ単位は任意である。
両者を比較すると、本実施例の測定方法では、局所的ではあるが明らかにC/Nが低下している部位が見られる。
しかし、ディスクの回転数v=2.533m/s、中心周波数531.9MHzとし、スパンを0Hz、RBWを30KHz、VBWを100Hzとした場合、キャリアのC/Nが24dBの規格を満たしながら、アドレスマージンがRfマージンより狭いディスクが存在する。図3は、VBWを100Hzとした先行技術の方法で、アドレスマージンがRfマージンよりも狭いディスクを測定したスペクトルアナライザ上での測定値を示している。一方、図4は、VBWを300Hzとした本実施例の方法で同様のディスクを測定したスペクトルアナライザ上での測定値を示している。なお、図3及び図4において、縦軸は信号レベル、横軸は時間であり、それぞれ単位は任意である。
両者を比較すると、本実施例の測定方法では、局所的ではあるが明らかにC/Nが低下している部位が見られる。
また、このときのノイズレベルは、各々同じ値であり、−50.96dBであった。
このディスクにおける上記C/N測定値を図5に示し、ウォブル及びRf信号のデフォーカスマージンを図6に示す。これらを見ると、Rfの信号マージンに対してアドレスのマージンは足りていない。しかし、先行技術の方法ではアドレスのC/Nが24dB以上となっている。これに対して、本実施例の方法では24dBを切っている。
C/Nが局所的に小さくなる原因として、スタンパの裏面ブツ、ウォブルの局所的振幅変動、基板表面のブツなどが考えられる。このようなC/Nの局所的減少は、ディスクの製作工程上発生する欠陥が原因であり、サイズは最小で数ナノメートルオーダーとなり得る。このような微小な局所的ウォブル変動は、先行技術のVBWを100Hzとした測定方法では測定できない。
局所的に小さくなったC/N部では、ウォブル信号がそれだけ小さくなってしまうためにデフォーカス時に読み取れる信号が小さくなりエラーになり易い。そのため、このような小さなC/N変動でもアドレスをデコードする際にはエラーが発生してしまい、結果エラーレートが増大する。
このディスクにおける上記C/N測定値を図5に示し、ウォブル及びRf信号のデフォーカスマージンを図6に示す。これらを見ると、Rfの信号マージンに対してアドレスのマージンは足りていない。しかし、先行技術の方法ではアドレスのC/Nが24dB以上となっている。これに対して、本実施例の方法では24dBを切っている。
C/Nが局所的に小さくなる原因として、スタンパの裏面ブツ、ウォブルの局所的振幅変動、基板表面のブツなどが考えられる。このようなC/Nの局所的減少は、ディスクの製作工程上発生する欠陥が原因であり、サイズは最小で数ナノメートルオーダーとなり得る。このような微小な局所的ウォブル変動は、先行技術のVBWを100Hzとした測定方法では測定できない。
局所的に小さくなったC/N部では、ウォブル信号がそれだけ小さくなってしまうためにデフォーカス時に読み取れる信号が小さくなりエラーになり易い。そのため、このような小さなC/N変動でもアドレスをデコードする際にはエラーが発生してしまい、結果エラーレートが増大する。
これに対して本実施例による測定方法を用いれば、微小な品質差を把握することができ、かつアドレスとCNRの相関を取ることができる。また、本実施例の測定方法はディスク完成時に限らず、ディスクを製造するスタンパの段階でも有用であり、欠陥検査にも有用である。
最後に本実施例の測定方法を用いて、ウォブルのC/Nとアドレスのマージンを比較し相関を取った結果を図7に示す。なお、図7において、縦軸はデフォーカス量を示し、横軸はウォブルのC/Nを示し、実線がアドレス、破線がRfを示している。この図からわかるように、ウォブルのC/Nが24dB以上の時に、アドレスのマージンがRfのマージンを超える。
これにより、アドレスのマージンは24dBを境界としていること、また、微小な欠陥によりエラーが増大してしまうことが明らかとなり、本実施例の方法の有用性が確認できる。
最後に本実施例の測定方法を用いて、ウォブルのC/Nとアドレスのマージンを比較し相関を取った結果を図7に示す。なお、図7において、縦軸はデフォーカス量を示し、横軸はウォブルのC/Nを示し、実線がアドレス、破線がRfを示している。この図からわかるように、ウォブルのC/Nが24dB以上の時に、アドレスのマージンがRfのマージンを超える。
これにより、アドレスのマージンは24dBを境界としていること、また、微小な欠陥によりエラーが増大してしまうことが明らかとなり、本実施例の方法の有用性が確認できる。
以上説明したように、本実施例によれば、VBWを300Hzにすることにより、ディスクアドレスの微小な欠陥が検出でき、ディスク検査が的確に行える。
また、生産現場におけるディスク、及びディスク製造の元になるスタンパの品質管理においても、VBWを300Hzにすることにより、欠陥検査が的確に行える。
また、生産現場におけるディスク、及びディスク製造の元になるスタンパの品質管理においても、VBWを300Hzにすることにより、欠陥検査が的確に行える。
10……光ディスク、20……ディスク評価装置、30……スペクトルアナライザ。
Claims (5)
- スペクトルアナライザにスパン、分解帯域幅RBW、ビデオ帯域幅VBWを含む各測定条件を設定するとともに、光ディスクから再生された高周波信号をスペクトルアナライザに入力し、前記高周波信号に含まれるウォブル変動を測定するウォブル測定方法であって、
前記スペクトルアナライザに設定するビデオ帯域幅VBWを300Hzとして前記ウォブルのキャリア部の測定を行う、
ことを特徴とするウォブル測定方法。 - 前記ウォブルのキャリア部の測定の際に前記スペクトルアナライザに設定するスパンを0Hz、分解帯域幅RBWを30KHzとして測定を行うことを特徴とする請求項1記載のウォブル測定方法。
- 前記光ディスクから高周波信号の再生を開始した後、トラッキングを静止状態にして所定数トラック分のウォブル変動を測定することを特徴とする請求項1記載のウォブル測定方法。
- 前記光ディスクは、青色レーザを用いた記録型大容量光ディスクであることを特徴とする請求項1記載のウォブル測定方法。
- 同じ物理的形状の入ったディスクを回転速度を変えてウォブル測定を行うことを特徴とする請求項1記載のウォブル測定方法。
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