JP2005230202A - 断層映像装置 - Google Patents

断層映像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005230202A
JP2005230202A JP2004042224A JP2004042224A JP2005230202A JP 2005230202 A JP2005230202 A JP 2005230202A JP 2004042224 A JP2004042224 A JP 2004042224A JP 2004042224 A JP2004042224 A JP 2004042224A JP 2005230202 A JP2005230202 A JP 2005230202A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
subject
output
optical
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004042224A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Fujita
寛 藤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujinon Corp
Original Assignee
Fujinon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujinon Corp filed Critical Fujinon Corp
Priority to JP2004042224A priority Critical patent/JP2005230202A/ja
Publication of JP2005230202A publication Critical patent/JP2005230202A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【目的】光出力切替部における光出力切替操作により、第1の光出力部から出力される広帯域の光と、第2の光出力部から出力される狭帯域の光との切替えを行なうことで、OCTと共焦点顕微鏡との観察切替を容易に行なうことができ、簡易な操作で診断精度を飛躍的に向上させることができる。
【構成】この断層映像装置は、OCTと共焦点顕微鏡とを組み合せたものである。光源部110内に、広帯域光を出力する第1光出力部110Aと狭帯域光を出力する第2光出力部110Bとを備え、OCTによるときは第1光出力部110Aからの広帯域光を用い、共焦点顕微鏡によるときは第2光出力部110Bからの狭帯域光を用いるように構成されている。光出力部110A、110Bの駆動切替は、制御部101からの光源切替信号に応じて行なわれる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、医療または工業等の分野において被検体の断層映像を得る際に用いられる断層映像装置に関するものである。
近年、医療用や工業用等の被検体を撮像する分野、特に電子内視鏡の分野において、OCTの手法を用いて被検体の断層映像を撮影する装置が知られている。
このOCTによる断層映像装置は、光を検出プローブとして用いていることから、従来のX線撮影装置の如く被検体がX線照射により被爆するという問題がなく、特に、被検体が人体であるような場合には極めて好ましい。また、CTやMRI等のように大型な装置を要さず、簡易に被検体の検査を行なうことができるので、被検者のコスト的な負担や体力的な負担を軽減でき、この面でも好ましい。
また、このOCTを用いた断層映像装置は、広帯域なスペクトル幅を有する光の低コヒーレンス性を利用して、被検体の深さ方向の各位置における干渉波情報を得るようにしているので、被検体内部からの反射光をμmオーダーの空間分解能で検出することができ、従来のX線撮影装置に比べて測定分解能を大幅に向上させることができる。
このような多くの優れた特性を有するOCTを用いた断層映像装置は、例えば下記非特許文献1等に開示されている。
図4は、従来の断層映像装置の概略を示すものである。すなわち、低可干渉光源310からの出力を光ファイバ321に入射せしめる。光ファイバ321内を進行する光束は、2×2カプラ325により2光束に分離され、その一方は光ファイバ322により被検体331側に導かれ、その他方は光ファイバ323により参照ミラー342側に導かれる。
光ファイバ322の光出射端の後段には、対物レンズ332が設けられており、このレンズ332により、光束が被検体331に集光されるようになっている。
一方、光ファイバ323の光出射端から射出された光はコリメータレンズ341を介して参照ミラー342に照射されるが、この参照ミラー342は、光軸方向に移動可能とされており、光ファイバ322の光出射端から被検体331の深さ方向の観察位置までの光路長と、光ファイバ323の光出射端から参照ミラー342までの光路長とが互いに等しくなるような位置にこの参照ミラー342が移動されるようになっている。これにより、低可干渉光によっても光干渉させることができる、いわゆるマイケルソン型の干渉計が構築され、被検体331の深さ方向各位置の干渉波情報が得られることになる。
被検体331の上記観察位置からの反射光と、参照ミラー342からの反射光は各々その照射経路を逆進し、2×2カプラ325で合波されて互いに干渉し、その干渉光は光ファイバ324を介して光検出器352に到達し、その干渉波情報がこの光検出器352により検出されることになる。この後、光検出器352により検出された干渉波情報は電気信号に変換されて、増幅器362、バンドパスフィルタ363、A/Dコンバータ364を介してコンピュータ365に入力され、所定の画像処理がなされることになる。
このようなOCTを用いた断層映像装置は、深達度に優れ、特に層構造の解析や腫瘍部位の深さ方向の診断に有用である。
光学32巻4号(2003):佐藤学、丹野直弘著
上述したようにOCTを用いた断層映像装置は、深達度に優れ、断層映像情報の取得手段として極めて有用なものであるが、その一方、解像力(分解能)の点では、従来より知られている共焦点顕微鏡を用いた断層映像装置に及ばない。
したがって、例えば腫瘍等の細胞レベルの診断においては共焦点顕微鏡による断層映像情報を得たいという要求があり、例えば、断層映像装置を内視鏡装置に適用する場合等においては、観察したい被検体の状況に応じて、OCTと共焦点顕微鏡とを選択して使用することができれば極めて便利であり、腫瘍等の診断においてもその診断精度を飛躍的に向上させることができ、また、診断者の労力も大幅に軽減されると考えられる。
しかしながら、前述したようにOCTを用いて断層映像を得るためには、低可干渉光を用いて分解能の向上を図ることが必要であるのに対し、共焦点顕微鏡を用いて断層映像を得るためには、狭帯域光を用いて解像度(分解能)の向上を図ることが必要である。
すなわち、両者において使用される光源は全く異なったものであり、それを取り扱う光学系も互いに異なったものであるため、OCTを用いた観察と、共焦点顕微鏡を用いた観察との相互の切替えを行なう場合には、例えば内視鏡装置のプローブを体内から抜去する操作が必要となっており、被検者の苦痛が増大するとともに、観察者の操作も煩に堪えなかった。
本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、OCTを用いた観察と共焦点顕微鏡を用いた観察との間の観察切替を容易に行なうことができ、診断精度を飛躍的に向上させることができるとともに、診断者の労力の大幅な軽減、被検者の苦痛の低減、および観察者の操作の簡易化を図りうる断層映像装置を提供することを目的とするものである。
本発明の断層映像装置は、
広帯域の光を出力する第1の光出力部および狭帯域の光を出力する第2の光出力部と、これら2つの光出力部のうち、いずれの該光出力部からの光出力を選択するかの切替えを行なう光出力切替部と、
前記第1の光出力部が選択されて広帯域の光が出力される場合に、この広帯域の光を入力され、被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることにより、該被検体の断層映像情報を得る等光路長型干渉計部と、
前記第2の光出力部が選択されて狭帯域の光が出力される場合に、この狭帯域の光を入力され、該被検体の深さ方向の光強度情報を得ることにより、該被検体の断層映像情報を得る共焦点顕微鏡部と、
を備えたことを特徴とするものである。
また、前記第1の光出力部が、互いにずれた波長帯域となる複数の狭帯域用レーザ光源を組合せて形成されたものであり、前記第2の光出力部が、該複数の狭帯域用レーザ光源のうち1つの狭帯域用レーザ光源により構成することが好ましい。
あるいは、前記第1の光出力部が、広帯域の光を出力する広帯域用の光源から構成され、前記第2の光出力部が、前記広帯域用の光源と、この広帯域用の光源により出力された広帯域の光から狭帯域の光を選択する狭帯域バンドパスフィルタを備えたものとすることが好ましい。
さらに、前記等光路長型干渉計部と前記共焦点顕微鏡部との観察切替えを行なう切替操作に連動して、前記光出力切替部による、前記光出力を選択する切替動作が行なわれるように構成することが好ましい。
本発明の断層映像装置によれば、光出力切替部における光出力切替操作により、第1の光出力部から出力される広帯域の光と、第2の光出力部から出力される狭帯域の光との切替えを行なうようにしており、前記第1の光出力部からの広帯域の光が選択される場合には、この広帯域の光が等光路長型干渉計部に入力されて、OCTを用いた断層映像情報が得られるようにし、一方、前記第2の光出力部からの狭帯域の光が選択される場合には、この狭帯域の光が共焦点顕微鏡部に入力されて、共焦点顕微鏡を用いた断層映像情報が得られるようにしている。これにより、OCTを用いた観察と共焦点顕微鏡を用いた観察との間の観察切替を容易に行なうことができる。これにより、診断精度を飛躍的に向上させることができるとともに、診断者の労力を大幅に軽減し、かつ被検者の苦痛を低減させ得るとともに、観察者の操作を容易なものとすることができる。
以下、本発明の実施形態に係る断層映像装置について図面を参照しつつ説明する。
図1は本発明の一実施形態に係る断層映像装置を示す概念図である。
本実施形態に係る断層映像装置は、医療用の内視鏡装置に適用されたものであって、OCTを用いた断層映像装置と、共焦点顕微鏡を用いた断層映像装置とを組み合せたものである。
すなわち、光源部110内に、広帯域の光を出力する第1光出力部110Aと狭帯域の光を出力する第2光出力部110Bとを備え、OCTを用いた断層映像装置によるときは、第1光出力部110Aからの広帯域の光を用い、一方、共焦点顕微鏡を用いた断層映像装置によるときは、第2光出力部110Bからの狭帯域の光を用いるように構成されている。これら2つの光出力部110A、110Bの駆動切替は、制御部101からの光源切替信号に応じて行なわれる。詳しくは後述する。
以下、図1に示す構成について説明する。この装置は、大きくは、上記光源部の他、測定部と信号処理部とに区分される。
まず、測定部は、全体として、いわゆるバランス型のマイケルソン干渉計を構成しており、4つの光ファイバ121、122、123、124と、第1の光カプラ125と、被検体131からの映像情報を得るためのフォーカス/スキャニング系132(集光レンズ132A、スキャニングミラー132B)、イメージガイド(イメージ・ファイバ・バンドル)133および対物レンズ134と、参照光を生成するためのコリメータレンズ141および参照ミラー142と、被検体情報を光電変換する光検出器152A、152Bとを備えている。
第1の光カプラ125の参照光生成側の光ファイバ123には、光学アイソレータ114および第2の光カプラ112が配されており、第2の光カプラ112に接続される一方のファイバの他端部側には無反射端として機能するアッテネータ143が配されている。
上記第1の光カプラ125を介して戻された被検体131からの光が入力される位置には第3の光カプラ115が、また、上記第2の光カプラ112を介して戻された参照光が入力される位置には第4の光カプラ116が、それぞれ配されており、各光カプラ115、116には各々2つの出力用光ファイバ126A、126B、127A、127Bが接続されている。各光カプラ115、116に接続された一方のファイバ126A、127Aは、上記被検体131からの光と上記参照光を合波する第5の光カプラ113に接続されており、この第5の光カプラ113には、バランス検波を行なう2つの光検出器152A、152Bが接続されている。バランス検波により得られた信号は、後述する信号処理部に送出されて上記OCTによる断層映像情報が得られることになる。
一方、上記各光カプラ115、116に接続された他方のファイバ126B、127Bは、各光カプラ115、116からの出力を光電変換して得られた各信号の差分をとり、この差分値に対してlog演算を施すlogアンプ129に接続されている。log演算を施された信号は、前述した信号処理部に送出されて、共焦点顕微鏡による断層映像情報が得られることになる。
また、第1光出力部110Aと第2光出力部110Bとの切替指示、被検体131の観察位置に応じた対物レンズ134の光軸方向への移動指示、共焦点測定時における被検体131の表面方向走査を行なうためのスキャニングミラー132Bのスキャン指示、OCT測定時における被検体131の深さ方向観察位置に応じた参照ミラー142の移動指示、および後述する増幅器162の増幅率切替指示等を行なう制御部101を備えている。
また、信号処理部は、増幅器162と、バンドパスフィルタ163と、A/Dコンバータ164と、画像処理部165と、画像表示部166とを備えてなる。
以下、上記実施形態装置の作用を説明する。
まず、OCTを用いて断層映像情報を得る際には、図示されない外部操作手段からのOCTモード選択信号の入力に基づき、制御部101から出力される光出力部切替信号(第1光出力部選択信号)に応じて、低可干渉光(広帯域光)を出力する第1光出力部110Aが光源として設定される。なお、光源駆動部111からは、第1光出力部110Aを駆動するのに必要な駆動電流が出力される。
第1光出力部110Aからの低可干渉光は図示されない集光レンズにより光ファイバ121の入射端面に集光され、光ファイバ121により第1の光カプラ(2×2カプラ)125に伝送される。
伝送された低可干渉光は、この第1の光カプラ125において分岐され、一方は光ファイバ122に他方は光ファイバ123により伝送される。光ファイバ122により伝送された低可干渉光は、光ファイバ122の出射端面から出射され、集光レンズ132A、イメージガイド133および対物レンズ134によって被検体131(例えば人体)に集光照射される。
被検体131に照射された低可干渉光は、被検体131の深さ方向の各位置から反射され、その照射経路を逆に進み第1の光カプラ125に到達する。
なお、第1の光カプラ125に到達した被検体131からの物体光は、光ファイバ124により第3の光カプラ(2×2カプラ)115に伝送される。
一方、光ファイバ123により伝送された光は、光学アイソレータ114を介して第2の光カプラ(2×2カプラ)112に伝送され、この第2の光カプラ112において分岐され、一方はコリメータレンズ141を介して参照ミラー142に、他方は光反射を防止するアッテネータ143に伝送される。
参照ミラー142に照射された低可干渉光はこのミラー面において反射されて参照光となり、その照射経路を逆に進み第2の光カプラ112に到達する。この後、第2の光カプラ112に到達した参照光は第4の光カプラ(2×2カプラ)116に送出される。ここで、第2の光カプラ112と第1の光カプラ125との間には、光学アイソレータ114が配されており、第2の光カプラ112から第1の光カプラ125へ光が逆進しないように配慮されている。
第3の光カプラ115に伝送された物体光および第4の光カプラ116に伝送された参照光は各々2つの経路に出力されるようになっている。すなわち、第3の光カプラ115は、光ファイバ126Aを介して第5の光カプラ(2×2カプラ)113に、また光ファイバ126Bを介してlogアンプ129に各々接続され、また、第4の光カプラ116は、光ファイバ127Aを介して第5の光カプラ113に、また、光ファイバ127Bを介してlogアンプ129に各々接続される。このうち、OCTを用いて断層映像情報を得る際には、第5の光カプラ113に伝送された光が用いられることになる。
このようにして、被検体131の深さ方向の各位置で反射された物体光(低可干渉光)と参照ミラー142により反射された参照光(低可干渉光)は第5の光カプラ113において合波されるが、合波された両光はコヒーレンス長が極めて短いものであるため、参照光と略光路長の等しい物体光のみが干渉を生じることになり、参照光の光路長を逐次変化させることにより、OCTを用いた断層映像情報を得ることができる。
すなわち、参照ミラー142の光軸方向の位置に対応する被検体131の深さ方向の位置のみ(実際には低可干渉光のコヒーレンス長の範囲)の干渉波情報が得られることになるから、参照ミラー142を光軸方向(矢印B方向)に移動させることにより、被検体131の深さ方向の各位置の干渉波情報が時系列的に得られることになる。
ここで、第5の光カプラ113で合波された光は光ファイバを介して2つの光検出器152A、152Bに到達して互いに異なる信号I、Iとして光電変換され、これら2つの光検出器152A、152Bにより検出された各信号I、Iの差分信号が図示されないコンパレータ等を用いて得られ、いわゆるバランス検波が終了する。
すなわち、上述した第5の光カプラ113からの2つの光出力同士では、各信号I、Iにおいて、干渉波成分が正負逆符号となっており、一方、バイアス成分は同符号となっている。したがって、光検出器152A、152Bからの両出力信号強度に対し、両者の差分をとることにより、光源の揺らぎも含めたバイアス成分が相殺され、干渉波信号成分のみを理論上2倍として得ることができる。
この後この差分信号は、増幅器162、バンドパスフィルタ163、A/Dコンバータ164を介して画像処理部165に入力されて被検体131の断層映像が生成され、生成された断層映像は画像表示部166において表示される。
一方、共焦点顕微鏡を用いて断層映像情報を得る際には、図示されない外部操作手段からの共焦点顕微鏡モード選択信号の入力に基づき、制御部101から出力される光出力部切替信号(第2光出力部選択信号)に応じて、狭帯域光を出力する第2光出力部110Bが光源として設定される。なお、光源駆動部111からは、第2光出力部110Bを駆動するのに必要な駆動電流が出力される。
第2光出力部110Bからの狭帯域光は図示されない集光レンズにより光ファイバ121の入射端面に集光され、光ファイバ121により第1の光カプラ(2×2カプラ)125に伝送される。
伝送された狭帯域光は、この第1の光カプラ125において分岐され、一方は光ファイバ122に他方は光ファイバ123により伝送される。光ファイバ122により伝送された狭帯域光は、光ファイバ122の出射端面から出射され、集光レンズ132A、イメージガイド133および対物レンズ134によって被検体131(例えば人体)に集光照射される。
一方、光ファイバ123により伝送された光は、上記OCTの場合と同様に、参照ミラー142に照射され、このミラー面において反射され第4の光カプラ(2×2カプラ)116に送出される。
一方、上述したようにして、被検体131の深さ方向の各位置で反射された被検体113からの反射光(狭帯域光)と参照ミラー142により反射された参照光(狭帯域光)は、前述したように、logアンプ129において差分値が演算されるとともに、この差分値に対してlog演算が施されて、共焦点顕微鏡による断層映像情報が得られることになる。
ところで、共焦点顕微鏡として機能させる場合には、点光源として機能するピンホールが必須の構成とされるが、本実施形態においては、イメージガイド133の各光ファイバは極めて細い径とされており、イメージガイド133の入射端面に収束された光スポットはこの径よりも小さい径とされているため、また、このイメージガイド133の長さが所定の長さに調整されているため、このイメージガイド133の各光ファイバは通常の共焦点顕微鏡におけるピンホール板として機能し、その入射端面と出射端面と被検体131の観察位置とは互いに共役の位置関系に設定されることになり、対物レンズ134を被検体131の深さ方向(矢印A方向)に移動させることによって共焦点顕微鏡による断層映像情報が得られることになる。
また、上述したように、フォーカス/スキャニング系132において、集光レンズ132Aにより、光ファイバ122を介して出力された光がイメージガイド133の入射端面上に収束されるが、集光レンズ132Aとイメージガイド133との間には、スキャニングミラー132Bが配されており、共焦点顕微鏡による断層映像情報を得る際には、このスキャニングミラー132Bを、図示するx軸周りおよびy軸周りに往復回動せしめることにより、イメージガイド133の入射端面上の光スポットがx軸方向およびy軸方向に走査されることになる。これにより光が伝送されるイメージガイド133の光ファイバが順次選択され、被検体131の観察位置がx軸方向およびy軸方向に走査されることになる。
また、共焦点顕微鏡による断層映像情報を得る際には、参照ミラー142は光軸方向(矢印B方向)に移動されないように調整されている。
なお、logアンプ129により得られた信号は、上述したOCTを用いた断層映像情報を得る場合と同様に、増幅器162、バンドパスフィルタ163、A/Dコンバータ164を介して画像処理部165に入力されて被検体131の断層映像が生成され、生成された断層映像は画像表示部166において表示される。
なお、上記増幅器162は、制御部101からの指示信号により、OCTを用いた断層映像情報を得る場合と共焦点顕微鏡を用いた断層映像情報を得る場合とで互いに増幅率が変化するように構成されている。
なお、上記画像処理部165においては、光検出器152A、152Bから出力され差分演算された、被検体131の深さ方向の情報を担持した1次元の各反射光強度信号に対し、包絡線処理を施すようにしている。すなわち、上記各反射光強度信号は交流信号の形態で現れるため、マイナス成分を折り返してプラス成分のみを有する信号に変換し、その後、その包絡線を抽出して連続的な反射光強度信号を得るようにしている。
この後、連続的な被検体深さ方向の各反射光強度分布をx方向および/またはy方向の各点について繋げる画像信号処理を施して2次元または3次元の断層映像信号を生成し、画像表示部166に出力して被検体131の断層映像が表示される。
また、共焦点顕微鏡による断層映像情報を得る際、およびOCTによる断層映像情報を得る際のいずれにおいても被検体131の深さ方向のフォーカシング操作が、対物レンズ134を矢印A方向に移動せしめることにより行なわれ、これにより、観察位置における被検体画像のピンボケを防止することができるようになっている。
また、イメージガイド133の光出射端部分および対物レンズ134は内視鏡の鉗子チャンネルを通して使用する先端プローブ部分を構成しており、この先端プローブ部分を被検体131の表面に沿って移動することで、被検体131の広範囲に亘る断層映像情報を得ることができる。
このように、本実施形態に係る断層映像装置は、OCTと共焦点顕微鏡の両者の機能を併せ持ち、例えば腫瘍等の細胞レベルの診断においては解像力(分解能)に優れた共焦点顕微鏡機能を用いるようにし、一方、例えば腫瘍部位において深部までの診断が要求される場合には、深達度に優れたOCT機能を用いるようにすることが可能となる。
しかしながら、前述したように、OCTと共焦点顕微鏡の両者の機能を選択的に用いるためには、OCT機能を用いる際には広帯域の光(低可干渉光)を出力する第1光出力部110Aが、共焦点顕微鏡機能を用いる際には狭帯域の光を出力する第2光出力部110Bが各々選択される必要がある。
以下、図2および図3を用いて、このような条件を満たす光源部を備えた断層映像装置の実施例について説明する。
図2(A)は、実施例1に係る断層映像装置の光源部110aを概念的に示すものである。図示するように、第1光出力部としてSLD光源(Super-luminescent diode)110Aaが用いられており、OCT機能を用いる際には、図2(B)のa)に示すような出力光波長特性を有する、上記SLD光源110Aaからの広帯域の光(低可干渉光)がそのまま使用される。
また、上記SLD光源からの出力光は分岐され、その一方は、上述したようにそのまま光源部110aの外部に出力されるが、他方は第2光出力部として機能する、図2(B)のb)に示すような光透過波長特性を有する狭帯域バンドパスフィルタ110Baに入力される。共焦点顕微鏡機能を用いる際には、この狭帯域バンドパスフィルタ110Baから出力される、図2(B)のc)に示すような出力光波長特性を有する狭帯域の光が使用される。
そして、上記SLD光源110Aaからそのまま出力される広帯域の光と、上記狭帯域バンドパスフィルタ110Baから出力される狭帯域の光の光路上には、いずれかの光を択一的に遮断する出力光切替シャッタ110bが配されており、上記制御部101からの指示に応じて、出力光切替シャッタ110bが矢印D方向に移動し、いずれかの光を遮断するように構成されている。
なお、上記では第2光出力部が狭帯域バンドパスフィルタ110Baから構成されるように説明しているが、これは第2光出力部がSLD光源110Aaを含むことを前提としている。
この実施例1に係る構成では、特に製作が簡易かつ安価という要求に応えることができる。
また、図3(A)は、実施例2に係る断層映像装置の光源部110cを概念的に示すものである。図示するように、第1光出力部として、互いに波長帯域が少しずつずれた複数個の半導体レーザ光源110Ab(LD1、LD2、LD3、LD4、LD5)が用いられており、OCT機能を用いる際には、これらの合成出力による、図3(B)のa)に示す包絡線(点線)のような出力光波長特性を有する広帯域の光(低可干渉光)が使用される。
一方、共焦点顕微鏡機能を用いる際には、複数個の半導体レーザ光源110Abのうちの1つの半導体レーザ光源110Bb(LD1)のみを第2光出力部として機能させ、図3(B)のb)に示すような出力光波長特性を有する狭帯域の光が使用される。
そして、上記複数個の半導体レーザ光源110Ab(LD1、LD2、LD3、LD4、LD5)が用いられる第1光出力部と、1つの半導体レーザ光源110Bb(LD1)のみが用いられる第2光出力部との駆動切替は、上記制御部101からの指示に基づく、駆動切替部110dからの駆動切替信号によって行なわれる。
なお、上記では第1光出力部として、5個の半導体レーザ光源110Ab(LD1、LD2、LD3、LD4、LD5)が用いられているが、図3(B)のa)に示すような出力光波長特性を有する広帯域の光が得られれば、2個以上の任意の数の半導体レーザ光源を用いることができる。
この実施例2に係る構成では、要求に応じた光出力波長特性とすることが容易であり、また、特に光量が必要であるような場合に有用である。
なお、本発明の断層映像装置としては、上記実施形態のものに限られるものではなく、その他の種々の態様の変更が可能である。例えば、イメージガイド133の光源側にピンホール板を挿脱自在に配設し、共焦点顕微鏡として機能させる場合に光路中に挿入し、OCTとして機能させる場合には光路から退出させるようにしてもよい。イメージガイドの各光ファイバの径が大きい場合には特に有用である。
また、第1光出力部と第2光出力部との切替えは上述した実施例のものに限られるものではないことは勿論である。
また、図1に示す装置においては、バランス型のマイケルソン干渉計を用いているが、これに替えて、アンバランス型のマイケルソン干渉計を用いてもよい。
また、上記実施形態においては、等光路長型干渉計としてマイケルソンタイプのものを用いているが、これに替えてマッハ−ツェンダタイプ等の他の等光路長型干渉計を用いるようにしてもよい。
また、被検体としては人体に限られず、光が内部に侵入して、内部の各位置から反射光が得られるその他の種々の組織とすることができる。
本発明の実施形態に係る断層映像装置を示す概念図 本発明の実施例1に係る断層映像装置の光源部を説明するための概念図 本発明の実施例2に係る断層映像装置の光源部を説明するための概念図 従来技術に係る断層映像装置を示す概念図
符号の説明
101 制御部
110、110a、110c 光源(光源部)
110A 第1光出力部
110B 第2光出力部
110Aa SLD光源
110Ba 狭帯域バンドパスフィルタ
110Ab 複数個の半導体レーザ光源(LD1、LD2、LD3、LD4、LD5)
110Bb 1つの半導体レーザ光源(LD1)
110b 出力光切替シャッタ
110d 駆動切替部
111 光源駆動部
112、113、115、116、125、325 光カプラ
121、122、123、124、126A、126B、127A、127B、321、
322、323、324 光ファイバ
129 logアンプ
131、331 被検体
132 フォーカス/スキャニング系
132A 集光レンズ
132B スキャンミラー
134、332 対物レンズ
133 イメージガイド
141、341 コリメータレンズ
142、342 参照ミラー
143 無反射端(アッテネータ)
152A、152B、352 光検出器
162、362 増幅器
163、363 バンドパスフィルタ
164、364 A/Dコンバータ
165 画像処理部
166、366 画像表示部
365 コンピュータ

Claims (4)

  1. 広帯域の光を出力する第1の光出力部および狭帯域の光を出力する第2の光出力部と、これら2つの光出力部のうち、いずれの該光出力部からの光出力を選択するかの切替えを行なう光出力切替部と、
    前記第1の光出力部が選択されて広帯域の光が出力される場合に、この広帯域の光を入力され、被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることにより、該被検体の断層映像を得る等光路長型干渉計部と、
    前記第2の光出力部が選択されて狭帯域の光が出力される場合に、この狭帯域の光を入力され、該被検体の深さ方向の光強度情報を得ることにより、該被検体の断層映像を得る共焦点顕微鏡部と、
    を備えたことを特徴とする断層映像装置。
  2. 前記第1の光出力部が、互いにずれた波長帯域となる複数の狭帯域用レーザ光源を組合せて形成されたものであり、前記第2の光出力部が、該複数の狭帯域用レーザ光源のうち1つの狭帯域用レーザ光源により構成されたものであることを特徴とする請求項1記載の断層映像装置。
  3. 前記第1の光出力部が、広帯域の光を出力する広帯域用の光源から構成され、前記第2の光出力部が、前記広帯域用の光源と、この広帯域用の光源により出力された広帯域の光から狭帯域の光を選択する狭帯域バンドパスフィルタから構成されていることを特徴とする請求項1記載の断層映像装置。
  4. 前記等光路長型干渉計部と前記共焦点顕微鏡部との観察切替えを行なう切替操作に連動して、前記光出力切替部による、前記光出力を選択する切替動作が行なわれるように構成されてなることを特徴とする請求項1〜3のうちいずれか1項記載の断層映像装置。
JP2004042224A 2004-02-19 2004-02-19 断層映像装置 Withdrawn JP2005230202A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004042224A JP2005230202A (ja) 2004-02-19 2004-02-19 断層映像装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004042224A JP2005230202A (ja) 2004-02-19 2004-02-19 断層映像装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005230202A true JP2005230202A (ja) 2005-09-02

Family

ID=35013753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004042224A Withdrawn JP2005230202A (ja) 2004-02-19 2004-02-19 断層映像装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005230202A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007091530A1 (ja) * 2006-02-07 2007-08-16 The Furukawa Electric Co., Ltd. 光検出装置及び測定対象読取装置
JP2007225320A (ja) * 2006-02-21 2007-09-06 J Morita Tokyo Mfg Corp Octによる光診断方法及び装置
JP2007240453A (ja) * 2006-03-10 2007-09-20 Naohiro Tanno 分光コヒーレンストモグラフィー装置
EP1882445A3 (en) * 2006-07-27 2008-04-02 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic apparatus
JP2008128708A (ja) * 2006-11-17 2008-06-05 Fujifilm Corp 光断層画像化装置
JP2010512912A (ja) * 2006-12-22 2010-04-30 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 2つのイメージング・モダリティを有するイメージング・システム
EP2184006A1 (en) * 2008-11-05 2010-05-12 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic photographing apparatus
JP2010200820A (ja) * 2009-02-27 2010-09-16 Fujifilm Corp 光立体構造像装置及びその光信号処理方法
JP2011002254A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 Olympus Corp 蛍光観察装置
JP2013137319A (ja) * 2005-09-29 2013-07-11 General Hospital Corp 1以上の生物学的構造体のマルチモダリティ顕微鏡画像生成を実行する装置及び方法
WO2020111486A1 (ko) * 2018-11-29 2020-06-04 재단법인대구경북과학기술원 다중모드 현미경

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013137319A (ja) * 2005-09-29 2013-07-11 General Hospital Corp 1以上の生物学的構造体のマルチモダリティ顕微鏡画像生成を実行する装置及び方法
JP2015099158A (ja) * 2005-09-29 2015-05-28 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション 1以上の生物学的構造体のマルチモダリティ顕微鏡画像生成を実行する装置及び方法
WO2007091530A1 (ja) * 2006-02-07 2007-08-16 The Furukawa Electric Co., Ltd. 光検出装置及び測定対象読取装置
US8685710B2 (en) 2006-02-07 2014-04-01 The Furukawa Electric Co., Ltd. Photodetector and measurement object reader
JP2007225320A (ja) * 2006-02-21 2007-09-06 J Morita Tokyo Mfg Corp Octによる光診断方法及び装置
JP2007240453A (ja) * 2006-03-10 2007-09-20 Naohiro Tanno 分光コヒーレンストモグラフィー装置
EP1882445A3 (en) * 2006-07-27 2008-04-02 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic apparatus
US7510282B2 (en) 2006-07-27 2009-03-31 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic photographing apparatus
JP2008128708A (ja) * 2006-11-17 2008-06-05 Fujifilm Corp 光断層画像化装置
JP2010512912A (ja) * 2006-12-22 2010-04-30 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 2つのイメージング・モダリティを有するイメージング・システム
US8593514B2 (en) 2008-11-05 2013-11-26 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic photographing apparatus
EP2184006A1 (en) * 2008-11-05 2010-05-12 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic photographing apparatus
JP2010200820A (ja) * 2009-02-27 2010-09-16 Fujifilm Corp 光立体構造像装置及びその光信号処理方法
JP2011002254A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 Olympus Corp 蛍光観察装置
WO2020111486A1 (ko) * 2018-11-29 2020-06-04 재단법인대구경북과학기술원 다중모드 현미경

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2489091C2 (ru) Способ визуализации с помощью оптической томографии и устройство визуализации с помощью оптической томографии
JP3869589B2 (ja) ファイババンドル及び内視鏡装置
JP4471163B2 (ja) 光断層画像取得装置
US9513276B2 (en) Method and apparatus for optical imaging via spectral encoding
US6477403B1 (en) Endoscope system
JP2005249704A (ja) 断層映像装置
JP2009041946A (ja) 光画像計測装置
JP4429886B2 (ja) 光断層映像装置
JP2007101250A (ja) 光断層画像化方法
KR20110011556A (ko) 광 단층촬영 촬상장치
JP2008268852A (ja) Octシステムを備える眼科手術用顕微鏡
CN113812929B (zh) 一种多模态成像装置
JP2005230202A (ja) 断層映像装置
JP5298352B2 (ja) 光構造像観察装置及び内視鏡装置
JP5213417B2 (ja) Octシステムを備える手術用顕微鏡
JP4187160B2 (ja) 断層映像装置
JP2005328990A (ja) 生体情報測定装置および内視鏡装置
JP2013137541A (ja) Octシステムを備える眼科手術用顕微鏡
JP2006322767A (ja) 光断層画像化装置
JP2022519212A (ja) 内視鏡システム
JP2006204429A (ja) 断層画像取得装置
KR20140006464A (ko) 무흉터 내시경 수술용 멀티모달 공초점 내시 현미경
JP2021519438A (ja) 被験体を非侵襲的に検査するためのマルチモード撮像システムおよび方法
JP2012010776A (ja) 断層画像処理装置及び方法、並びに光干渉断層画像診断装置
JP5696178B2 (ja) 光断層画像化装置及びその作動方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070501