JP4187160B2 - 断層映像装置 - Google Patents
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Description
このOCTによる断層映像装置は、光を検出プローブとして用いていることから、従来のX線撮影装置の如く被検体がX線照射により被爆するという問題がなく、特に、被検体が人体であるような場合には極めて好ましい。また、CTやMRI等のように大型な装置を要さず、簡易に被検体の検査を行なうことができるので、被検者のコスト的な負担や体力的な負担を軽減でき、この面でも好ましい。
このような多くの優れた特性を有するOCTを用いた断層映像装置は、例えば下記非特許文献1等に開示されている。
光ファイバ322の光出射端の後段には、対物集光レンズ332が設けられており、このレンズ332により、光束が被検体331に集光されるようになっている。
低可干渉性を有する光ビームを出射する光源と、
該光源から出射された光ビームを2分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射し、該被検体および該参照ミラーから各々反射された光ビームを干渉せしめて、該干渉による光強度分布を光検出器により得るようにした等光路長型干渉計とを備え、
該被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることができるように該参照ミラーを該参照ミラーの光軸方向に移動可能とされた断層映像装置において、
該被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光量の低下による干渉波情報量の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光源から出力される光ビームの強度を変化させる光源光強度制御部を備えてなることを特徴とするものである。
低可干渉性を有する光ビームを出射する光源と、
該光源から出射された光ビームを2分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射し、該被検体および該参照ミラーから各々反射された光ビームを干渉せしめて、該干渉による光強度分布を光検出器により得るようにした等光路長型干渉計とを備え、
該被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることができるように該参照ミラーを該参照ミラーの光軸方向に移動可能とされた断層映像装置において、
該被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光量の低下による干渉波強度の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光検出器における信号利得を制御する検出器利得制御部を備えてなることを特徴とするものである。
また、前記光源光強度制御部または前記検出器利得制御部は、前記被検体の深さ位置と、該深さ位置に応じて減衰する反射光強度との関係を表す関係式テーブルを備えていることが好ましい。
さらに、上述したいずれかの断層映像装置において、前記オートフォーカス機能は、前記参照ミラーの光軸方向への移動位置に応じ、前記光源光強度制御部または前記検出器利得制御部からの指示信号に基づき、対物集光レンズの全部または一部のレンズを、その対物集光レンズの光軸方向に移動させてフォーカシングを行うことが好ましい。
図1は本発明の一実施形態に係る断層映像装置を示す概念図である。
本実施形態に係る断層映像装置は、医療用の内視鏡に適用されたものであって、光源部と干渉計部と信号処理部とからなる。
また、信号処理部は、増幅器62と、バンドパスフィルタ63と、A/Dコンバータ64と、画像処理部65と、画像表示部66とを備えてなる。
低可干渉光源10は、近赤外域に広いスペクトル幅(広波長帯域)を有する光(以下、低可干渉光とも称する)を出射する光源であって、例えばSLD(Super-luminescent diode)やASE(Amplified Spontaneous Emission)光源等からなる。この低可干渉光源10から出射された光は図示されない集光レンズにより光ファイバ21の入射端面に集光され、光ファイバ21により2×2カプラ25に伝送される。
なお、参照ミラー42の位置検出は周知の位置センサを用いればよい。
なお、上記所定のレンズの駆動は、周知のレンズ駆動用のアクチュエータを用いる。
また、上記実施形態においては、参照ミラー42の移動位置に応じて光源10から出力される低可干渉光の光強度を変化させる光源光強度制御用の制御部1を設けているが、これに替えて、被検体31の観察位置の深さが大きくなるのに伴う、被検体31の観察位置からの反射光強度の低下による干渉波強度の低下を緩和するように、参照ミラー42の移動に応じて光検出器52における信号利得を制御する、検出器利得制御用の制御部101を備えることも可能である(図面の簡便のため、図1では光源光強度制御用の制御部1を検出器利得制御用の制御部101に転用する記載としている)。
10、110、210 低可干渉光源
21、22、23、24、221、222、223、224、
321、322、323、324 光ファイバ
25、212、213、225、325 2×2カプラ
31、231、331 被検体
32、232、332 対物集光レンズ
42、242、342 参照ミラー
52、252A、252B、352 光検出器
41、241、341 コリメータレンズ
62、262、362 増幅器
63、263、363 バンドパスフィルタ
64、264、364 A/Dコンバータ
65、265、365 画像処理部
66、266、366 画像表示部
Claims (8)
- 低可干渉性を有する光ビームを出射する光源と、
該光源から出射された光ビームを2分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射し、該被検体および該参照ミラーから各々反射された光ビームを干渉せしめて、該干渉による光強度分布を光検出器により得るようにした等光路長型干渉計とを備え、
該被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることができるように該参照ミラーを該参照ミラーの光軸方向に移動可能とされた断層映像装置において、
該被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光量の低下による干渉波情報量の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光源から出力される光ビームの強度を変化させる光源光強度制御部を備えてなることを特徴とする断層映像装置。 - 低可干渉性を有する光ビームを出射する光源と、
該光源から出射された光ビームを2分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射し、該被検体および該参照ミラーから各々反射された光ビームを干渉せしめて、該干渉による光強度分布を光検出器により得るようにした等光路長型干渉計とを備え、
該被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることができるように該参照ミラーを該参照ミラーの光軸方向に移動可能とされた断層映像装置において、
該被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光量の低下による干渉波強度の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光検出器における信号利得を制御する検出器利得制御部を備えてなることを特徴とする断層映像装置。 - 前記参照ミラーの光軸方向への移動位置に応じて、前記光ビームの一方を前記被検体の観察位置に収束せしめるようにフォーカシングするオートフォーカス機能を備えてなることを特徴とする請求項1記載の断層映像装置。
- 前記参照ミラーの光軸方向への移動位置に応じて、前記光ビームの一方を前記被検体の観察位置に収束せしめるようにフォーカシングするオートフォーカス機能を備えてなることを特徴とする請求項2記載の断層映像装置。
- 前記光源光強度制御部は、前記被検体の深さ位置と、該深さ位置に応じて減衰する反射光強度との関係を表す関係式テーブルを備えていることを特徴とする請求項1または3記載の断層映像装置。
- 前記検出器利得制御部は、前記被検体の深さ位置と、該深さ位置に応じて減衰する反射光強度との関係を表す関係式テーブルを備えていることを特徴とする請求項2または4記載の断層映像装置。
- 前記オートフォーカス機能は、前記参照ミラーの光軸方向への移動位置に応じ、前記光源光強度制御部からの指示信号に基づき、対物集光レンズの全部または一部のレンズを、その対物集光レンズの光軸方向に移動させてフォーカシングを行うことを特徴とする請求項1、3および5のうちいずれか1項記載の断層映像装置。
- 前記オートフォーカス機能は、前記参照ミラーの光軸方向への移動位置に応じ、前記検出器利得制御部からの指示信号に基づき、対物集光レンズの全部または一部のレンズを、その対物集光レンズの光軸方向に移動させてフォーカシングを行うことを特徴とする請求項2、4および6のうちいずれか1項記載の断層映像装置。
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