JP2005201869A - 信号処理方法、信号処理プログラム、この信号処理プログラムを記録した記録媒体および信号処理装置 - Google Patents
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- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 71
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 130
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 28
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 9
- 238000001914 filtration Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 62
- 230000008569 process Effects 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 10
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 101000760620 Homo sapiens Cell adhesion molecule 1 Proteins 0.000 description 1
- 101000710013 Homo sapiens Reversion-inducing cysteine-rich protein with Kazal motifs Proteins 0.000 description 1
- 101000661807 Homo sapiens Suppressor of tumorigenicity 14 protein Proteins 0.000 description 1
- 101000585359 Homo sapiens Suppressor of tumorigenicity 20 protein Proteins 0.000 description 1
- 102100029860 Suppressor of tumorigenicity 20 protein Human genes 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 1
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 108090000237 interleukin-24 Proteins 0.000 description 1
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D1/00—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/045—Correction of measurements
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/02—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
- G01D3/022—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation having an ideal characteristic, map or correction data stored in a digital memory
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/70—Denoising; Smoothing
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
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Abstract
【解決手段】 測定データを入力した後、重み付きスプライン式を選択し、スプラインフィルタの初期を求め、重みを調整し、スプラインフィルタ出力を算出し、その後、収束判定を行い、この重みが非収束と判定された場合には、この重みを更新して、前記重み調整とスプラインフィルタ出力の算出を繰り返し、測定データに対してロバストスプラインフィルタ処理を施すことを特徴とする信号処理方法。
【選択図】 図13
Description
外乱成分としては、高周波成分を含む電気・磁気的な誘導ノイズなどが多いが、例えば、被測定物表面の輪郭形状を求めたい場合には、表面粗さやうねりなどの成分は外乱成分となり得る。
このような外乱成分を必要に応じて除去するために、測定データに対してフィルタ処理を施して、例えば高周波成分を除去することが行われる。このようなフィルタとして、スプラインフィルタが知られている(特許文献1、2)。さらには、各測定データの重み付けを行って、この重み付けが最適になるまで重みの更新を繰り返すロバストスプラインフィルタが知られている。
(第1参考技術)
まず、重み付きスプラインフィルタを説明する。
一例として、nをデータ数、yk(k=0,1,・・・,n-1)を測定データ、スプライン関数をs、としたとき、測定データとの残差の二乗和、
実際の適用にあたっては、
図1は、その第1の処理手順を示すフローチャートであり、図2は、ロバストスプライン処理を実行する装置の機能ブロック図である。この処理にあたっては、まず、測定データを入力する測定データ入力ステップと、重み付きスプラインフィルタ式を選定する選定ステップ(ST3)が実行される。
ここでは、測定データは粗さ測定機で測定された一次元時系列データであるとする。すなわち、例えば、表面粗さ測定機などにおいて、測定子を一方向(x方向)に移動させた場合に、x方向の所定ピッチで粗さデータyを取得したような場合を意味する。また、特異点データであるか否かの判定としては、測定データの最小二乗曲線からの離隔量が所定値以上、かつ、所定区間巾以下、であるか否かで容易に判定することが出来る。
次に初期化処理(ST4)を行うが、ここでは、図示したように、W=I(単位行列)としたスプラインフィルタ処理の出力値の初期値S0を求める(非ロバストなスプラインフィルタ計算)。
次に、測定データYとSm(mは繰り返しのステップを示す。)とから後述する方法で重み調整手段5により重みWmを調整して決める(ST5)。
ここで、後述する重みの収束判定(ST7)を収束判定手段51にて行って、収束条件が成立していなければ、mを更新して(m=m+1)(ST10)、再度重みWmを調整する(ST5)。
以上の処理において、重みWmを調整して決める方法として(ST5)、適合型バイウエイト(Biweight)法を用いて次のように決定する。
(1)スプラインフィルタのロバスト化が容易に実現できるので、測定データ始点あるいは測定データ終点領域における変形を防止でき、測定データに含まれる周期の長いうねり成分に対する追随性あるいはノイズ成分に影響されずに測定データに含まれる形状を抽出できるので形状追随性も良好なフィルタ処理が可能となり、測定データの信頼性がより向上する。
(2)測定データに含まれた局所的に離隔した特異点データを削除できるので、ロバストスプラインフィルタ処理の信頼性が更に向上する。
(4)繰り返しループ処理における重みの変化が所定値以下となった場合に、重みが収束したと判定できるので、不必要な繰り返しループによる処理を防止でき、ロバストスプラインフィルタ計算処理時間を短縮できる。
次に、ロバストスプラインフィルタを実現する第2の処理手順を説明する。この処理手順は、前記第1の処理手順と同一であるが、用いる計算式が異なる。
すなわち、重み付きスプラインフィルタの式、
次に、本発明の信号処理方法にかかる第3参考技術として、二次元的に測定された二次元データである測定データに対する信号処理方法について説明する。ここで、二次元データである測定データとは、例えば、三次元測定機などにおいて、Z座標一定のもとで被測定物の輪郭曲面を所定ピッチで測定して取得された(x、y)座標値等を意味する。あるいは、平面的に描かれた図形をスキャナで読み込んだ場合のデータ等を意味する。つまり、第1参考技術においては、処理の対象はy座標だけであったのに対して、第3参考技術では、x座標およびy座標の両者を処理の対象とする。
第3参考技術の基本的構成は第1参考技術と同様であるが、スプライン曲線sを求めるための出発の式である式(6)に対応する式に特徴がある。
ここで、定数αについては、測定経路に沿ったサンプリングピッチΔlおよびカットオフ波長λc’から次の式で与えられる。
さらに、重みWを更新して収束条件(式41)を満たすまで処理を繰り返すロバストスプラインフィルタにおいては、(式38)における(yk−sk m)を次の式で与えられる二点間距離とする。すなわち、測定データ(xk、yk)と、この測定データ(xk、yk)に対応するスプライン曲線s上の点(sx(xk、yk)、sy(xk、yk))との距離とする。
(6)測定データが直交座標における二次元データである場合に、スプライン曲線からの測定データの離隔量は、各軸毎の成分(例えば、X軸成分、Y軸成分など)の自乗和に基づいて決定するので、離隔量の算出が容易に行える。従って、各測定データの重みを決定することが容易になる。
次に、本発明の信号処理方法にかかる第4参考技術として、三次元的に測定された三次元データである測定データに対する信号処理方法について説明する。ここで、三次元データである測定データとは、例えば、三次元測定機などにおいて、被測定物表面を所定ピッチで測定して取得された(x、y、z)座標値等を意味する。つまり、第1参考技術においては、処理の対象はy座標だけであったのに対して、第4参考技術では、x座標、y座標およびz座標の三者を処理の対象とする。
第4参考技術の基本的構成は第1参考技術と同様であるが、スプライン曲線sを求めるための出発の式である式(6)に対応する式に特徴がある。
そして、x成分、y成分、z成分ごとにそれぞれ第1参考技術で説明した重み付きスプラインフィルタを実行する((式37)を参照)。なお、定数αについては、三次元空間における測定経路に沿ったサンプリングピッチΔlおよびカットオフ波長λc’により(式48)に倣って定義される。
さらに、重みWを更新して収束条件(式41)を満たすまで処理を繰り返すロバストスプラインフィルタにおいては、(式38)における(yk−sk m)を次の式で与えられる二点間距離とする。すなわち、測定データ(xk、yk、zk)と、この測定データ(xk、yk、zk)に対応するスプライン曲線s上の点(sx(xk、yk、zk)、sy(xk、yk、zk)、sz(xk、yk、zk))との距離とする。
(9)第3参考技術における効果(6)から(8)を更に三次元データに対して奏することができる。従って、測定データが三次元データであっても、ロバストスプラインフィルタの計算処理時間を増大させることなく、計算負荷を低減することができる。
本発明の信号処理方法の変形例について説明する。第1参考技術においては、収束判定された時点におけるスプライン曲線をそのまま信号処理結果として出力する例を示したが、この変形例では、もう一度スプライン曲線を求め直し、その結果を信号処理結果として出力する。
ここでは、まず取得した出力値Smを入力する(ST91)。その後、再計算を行うか否かを判定する(ST92)。例えば、高精度で信号処理結果を得たい場合はYESを、既に充分な精度で結果が得られたと判断するときはNOを、オペレータがその時点で指定すれば良い。あるいは、前もって指定しておくことも出来る。
再計算を行わない場合は(NO)、出力値Smのスプライン曲線を出力手段7によって出力する。再計算を行う場合は(YES)、前もって設定された所定値を超える重みを1に、所定値以下の重みを0に更新する(ST93)。つまり、所定値を超えた重みを持つ測定データは有効データであると判断して、スプライン計算処理への寄与度を100%とする。また、所定値以下の重みをもつ測定データは無効データであると判断して、寄与度を0%とする。
その後、更新された重みに基づいて重み付きスプラインフィルタ計算を行って出力を得る(ST94)。ここで得られたスプライン曲線を信号処理結果として出力手段7から出力する(ST95)。
(10)収束判定ステップにおいて重みが収束したと判定された時点の重みが所定値を超える場合にその重みを1に更新し、再度スプラインフィルタ出力を得て、その結果を信号処理結果として出力することができる。つまり、重み調整ステップとスプラインフィルタ出力算出ステップとを繰り返して重みが収束したと判定された時点において、その重みが所定値を超える点の測定データは有効データと見做してその重みを1に更新した後、再度スプラインフィルタ出力を得ることができるので、測定データに対するロバストスプラインフィルタ計算が、より確実に行える。そして、その結果を信号処理結果として出力するので、測定データに含まれる本来の形状成分に対して十分誤差の小さいスプライン曲線を求めることができるので、形状追随性の良いロバストスプラインフィルタ処理が可能となる。
次に、本発明の信号処理方法に係る第1実施形態として、面領域で測定された曲面データに対する信号処理方法について説明する。
ここで、曲面データとは、例えば、三次元測定機や表面性状測定機によって、被測定物の表面を走査して得た表面粗さデータや形状データなどを意味する。
そして、本第1実施形態は、サンプリング位置(xi、yi)における面の測定データfi(xi,yi)についてフィルタ処理し、外乱成分や高周波成分を除去した曲面z=s(x、y)を求める信号処理方法である。
また、重み行列Wを更新しながら繰り返し解けば、面領域に対するロバストスプラインフィルタの出力が得られる。これは、図13中のST15、ST16、ST17、ST20に相当する。
図7は、測定で得られた測定データであり、図8は、図7の測定データにロバストスプラインフィルタを適用した結果である。そして、図9には比較例として図7の測定データにガウスフィルタを適用した結果を示す。
また、図10には、図7中のX方向に沿った断面のプロファイルを示し、図11には、図7中のY方向に沿った断面のプロファイルを示す。
ここでは、格子状にサンプリングされた曲面データについての具体的な解法を示したが、三角形メッシュ構造をなすような曲面データに対しても有限要素法などを用いて解くことができる。
重みWについてW=Iとおき、定常状態における伝達関数をz変換で表現すると、次のようになる。
たとえば、これらの各実施形態に限らず、三次元粗さデータ、輪郭形状測定機による測定データ、真円度測定機で測定されたデータ、三次元測定機で測定された形状データ、画像測定機で測定されたデータなどのいずれであっても、本発明を実施できる。
さらに、本実施形態においては、測定データは一旦、記憶装置に格納される場合に限って説明したが、測定データが収集される毎に、いわゆるリアルタイムで計算処理を行う場合であっても本発明を実施できる。
5 重み調整手段
6 スプラインフィルタ出力算出手段
Claims (8)
- 面領域を測定して得られた測定データに対してフィルタ処理を施す信号処理方法において、
測定データを入力する測定データ入力ステップと、
所定の重み付きスプラインフィルタ式を選定する選定ステップと、
前記測定データに対する重みを単位行列で与えてスプラインフィルタ出力の初期値を得る初期化ステップと、
前記測定データに対する重みを調整して決定する重み調整ステップと、
前記重み調整ステップで決定された重みを用いてスプラインフィルタ出力を得るスプラインフィルタ出力算出ステップと、
前記重みの収束を判定する収束判定ステップと、
前記スプラインフィルタ出力に基づいて信号処理結果を出力する出力ステップとを備え、
前記収束判定ステップにおいて前記重みが非収束と判定された場合には、前記重みを更新して、前記重み調整ステップと前記スプラインフィルタ出力算出ステップとを繰り返し、
前記測定データに応じた平滑化スプライン曲面を生成して、前記測定データに対してロバストスプラインフィルタ処理を施す
ことを特徴とする信号処理方法。 - 前記重み調整ステップにおいて決定される重みは、
前記重み付きスプラインフィルタ式により算出されるスプライン曲面からの測定データの離隔量が大きいほど、小さく調整されることを特徴とする請求項1に記載の信号処理方法。 - 前記収束判定ステップは、
前記重み調整ステップにおいて決定された前記重みの変化が所定値以下となった場合に、前記重みが収束したと判定することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の信号処理方法。 - 前記出力ステップは、
前記測定データに対する重みが所定値を超える場合にその重みを1に更新する重み更新ステップと、
前記更新された重みに基づいてスプラインフィルタ出力を得るスプラインフィルタ再出力算出ステップと、
前記スプラインフィルタ再出力算出ステップにおける前記スプラインフィルタ出力を信号処理結果として出力する信号処理結果出力ステップと、を含む
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の信号処理方法。 - 前記測定データ入力ステップは、
前記測定データに対する局所的に離隔した特異点データを削除するステップを含むことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の信号処理方法。 - 請求項1から請求項5のいずれかに記載の信号処理方法をコンピュータに実行させることを特徴とした信号処理プログラム。
- 請求項6に記載の信号処理プログラムを記録したことを特徴とする記録媒体。
- 請求項6に記載の信号処理プログラムをコンピュータに実行させることを特徴とする信号処理装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004010918A JP2005201869A (ja) | 2004-01-19 | 2004-01-19 | 信号処理方法、信号処理プログラム、この信号処理プログラムを記録した記録媒体および信号処理装置 |
EP05000945.5A EP1555631A3 (en) | 2004-01-19 | 2005-01-18 | Signal noise filtering |
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CNB2005100017732A CN100468391C (zh) | 2004-01-19 | 2005-01-19 | 信号处理方法和信号处理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004010918A JP2005201869A (ja) | 2004-01-19 | 2004-01-19 | 信号処理方法、信号処理プログラム、この信号処理プログラムを記録した記録媒体および信号処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005201869A true JP2005201869A (ja) | 2005-07-28 |
Family
ID=34616945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004010918A Withdrawn JP2005201869A (ja) | 2004-01-19 | 2004-01-19 | 信号処理方法、信号処理プログラム、この信号処理プログラムを記録した記録媒体および信号処理装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7188054B2 (ja) |
EP (1) | EP1555631A3 (ja) |
JP (1) | JP2005201869A (ja) |
CN (1) | CN100468391C (ja) |
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---|---|
EP1555631A3 (en) | 2015-09-02 |
EP1555631A2 (en) | 2005-07-20 |
US7188054B2 (en) | 2007-03-06 |
US20050159931A1 (en) | 2005-07-21 |
CN1645360A (zh) | 2005-07-27 |
CN100468391C (zh) | 2009-03-11 |
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|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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A761 | Written withdrawal of application |
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