JP4514206B2 - 粗さ曲線の抽出プログラムおよび3次元表面粗さ形状の抽出プログラム - Google Patents
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Description
F* (u) f i の離散的フーリエ変換
Gσ(u) g(t,σ)のフーリエ変換
FL * (u’) F(u)の低周波成分の関数
SL(u’) S(u)の低周波成分の関数
sL(x) SL(u’)のフーリエ逆変換
Claims (3)
- 表面粗さ測定機により測定された断面曲線から粗さ曲線を抽出する、コンピュータに用いられる粗さ曲線の抽出プログラムにおいて、
断面曲線を構成する横軸x、測定値f(i)=f i からなるN個のデータを離散的フーリエ変換を用いて1/D倍の周波数で再サンプリングして、前記データを1/Dに圧縮することにより間引き率Dでダウンサンプリングして断面曲線の間引きデータを得る過程、
得られた間引きデータにカットオフ波長λ'c =λc/Dのガウシアンフィルタを適用してカットオフ波長λc以上の長波長成分を抽出する過程、
断面曲線からカットオフ波長λc以上の長波長成分を減算して粗さ曲線を得る過程
をコンピュータに実行させることを特徴とする粗さ曲線の抽出プログラム。 - 前記間引きデータを得る過程を、
断面曲線を構成するN個のデータf i (i=0〜N-1)にせん断を施しN個のf' i (i=0〜N-1)を得、続いて点対称拡張を行い2N-1個のf' i (i=0〜2N-2)を得る前処理を施し、
(ただし、「せん断」とは、断面曲線を構成するN個のデータf i の最初f 0 と最後f N-1 とが同一になるように、前記データに対しx座標値に比例した増分を減ずる変換処理、「点対称拡張」とは、せん断後のN個のデータをf' i (i=0〜N-1)としたとき、k=0〜N-1として f' N-1+k = -f' N-1-k となるように、点(x,f' N-1 )を中心として前記せん断後のデータを拡張する変換処理をいう。)
その後、前処理で得られたデータf' i (i=0〜2N-3)を請求項1記載のダウンサンプリングにより1/D倍に圧縮し、
圧縮したデータの前半分を抽出し(点対称拡張の逆変換)、さらに抽出したデータにx座標値に比例した増分を加える(せん断の逆変換)後処理を施して、エンド効果を除去しながら断面曲線の間引きデータを得る過程
に置き換えたことを特徴とする請求項1記載の粗さ曲線の抽出プログラム。 - 3次元測定機や3次元表面粗さ測定機により測定された断面曲線から3次元表面粗さ形状を抽出する、コンピュータに用いられる3次元表面粗さ形状の抽出プログラムにおいて、
断面曲線を構成する横軸x、縦軸yと測定値f(i,j)=f i,j からなるN x ×N y 個の3次元測定データについて、x方向に関し、請求項2記載の発明を間引きデータを得る過程まで適用して、エンド効果を除去しながら3次元測定データをx方向で間引いたデータ(N x /D×N y 個)を得る過程、
前過程で得た、3次元測定データをx方向で間引いたデータについて、y方向に関し、請求項2記載の発明を間引きデータを得る過程まで適用して、エンド効果を除去しながら前過程で得たデータをさらにy方向で間引いたデータ(N x /D×N y /D 個)を得る過程、
以上の過程で得られた間引きデータにカットオフ波長λ'c =λc/Dの2次元ガウシアンフィルタを適用してカットオフ波長λc以上の長波長成分を抽出する過程、
3次元測定データからカットオフ波長λc以上の長波長成分を減算して3次元表面粗さ形状を得る過程
をコンピュータに実行させることを特徴とする3次元表面粗さ形状の抽出プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004249678A JP4514206B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 粗さ曲線の抽出プログラムおよび3次元表面粗さ形状の抽出プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004249678A JP4514206B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 粗さ曲線の抽出プログラムおよび3次元表面粗さ形状の抽出プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006064617A JP2006064617A (ja) | 2006-03-09 |
JP4514206B2 true JP4514206B2 (ja) | 2010-07-28 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004249678A Expired - Fee Related JP4514206B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 粗さ曲線の抽出プログラムおよび3次元表面粗さ形状の抽出プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4514206B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4705815B2 (ja) * | 2005-07-12 | 2011-06-22 | 株式会社ミツトヨ | データ処理装置、およびデータ処理方法、データ処理プログラム |
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Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59211378A (ja) * | 1983-05-17 | 1984-11-30 | Nec Corp | 画像の間引き方式 |
JPH04111164A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ガボア関数との畳み込み演算装置 |
JP2576007B2 (ja) * | 1992-10-20 | 1997-01-29 | 株式会社ミツトヨ | 表面粗さ測定装置 |
JP2777525B2 (ja) * | 1993-04-09 | 1998-07-16 | 株式会社ミツトヨ | 表面粗さ測定装置 |
JPH11101635A (ja) * | 1997-09-26 | 1999-04-13 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 表面粗さ形状測定機のデータ処理装置 |
-
2004
- 2004-08-30 JP JP2004249678A patent/JP4514206B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2005201870A (ja) * | 2004-01-19 | 2005-07-28 | Mitsutoyo Corp | 信号処理装置、信号処理方法、信号処理プログラム、信号処理プログラムを記録した記録媒体および測定機 |
JP2005201869A (ja) * | 2004-01-19 | 2005-07-28 | Mitsutoyo Corp | 信号処理方法、信号処理プログラム、この信号処理プログラムを記録した記録媒体および信号処理装置 |
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JP2006064617A (ja) | 2006-03-09 |
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A621 | Written request for application examination |
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A521 | Written amendment |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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