JP2005181124A - スペクトル検出装置 - Google Patents

スペクトル検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005181124A
JP2005181124A JP2003422871A JP2003422871A JP2005181124A JP 2005181124 A JP2005181124 A JP 2005181124A JP 2003422871 A JP2003422871 A JP 2003422871A JP 2003422871 A JP2003422871 A JP 2003422871A JP 2005181124 A JP2005181124 A JP 2005181124A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spectrum
detection
line detector
spectral
intensity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003422871A
Other languages
English (en)
Inventor
Makio Ueno
牧男 上野
Hiroshi Sasaki
浩 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2003422871A priority Critical patent/JP2005181124A/ja
Publication of JP2005181124A publication Critical patent/JP2005181124A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 スペクトル検出分解能を可変可能にしたスペクトル検出装置を提供する。
【解決手段】 分散されたスペクトルを発生する回折格子24とスペクトルの波長ごとの強度を検出するライン検出器26との間の光路上にズームレンズ25を配置し、このズームレンズ25の操作により、ライン検出器26へのスペクトル投影倍率を可変可能にする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、標本から発せられる蛍光の分離されたスペクトルを複数の検出チャンネルを有するライン検出手段により検出するスペクトル検出装置に関するものである。
従来、レーザ走査型顕微鏡法、蛍光相関分光法、走査型近視野顕微鏡法では、標本から発せられる蛍光の分離されたスペクトルを複数の検出チャンネルを有するライン検出手段に取込み、波長ごとのスペクトル強度を検出するスペクトル検出装置が用いられている。
図2は、特許文献1に開示されるスペクトル検出装置の一例を示すもので、標本からの検出光を、不図示のダイクロイックミラーにより励起光と蛍光に分離し、このうちの蛍光を結像レンズ11を通し、結像レンズ11の焦点面と共役の位置におかれたピンホール12を通して焦点面以外からの蛍光放射光をカットし、さらにコリメートミラー13で平行光に変換した後、回折格子14によりスペクトル分離して、結像ミラー15を介してライン検出器16上に投影することで、波長ごとのスペクトル強度を検出するようにしている。
この場合、ライン検出器16でのスペクトル検出分解能は、ライン検出器16の有するn個の検出チャンネルに対し、回折格子14で分離されたスペクトルをライン検出器16に投影する結像ミラー15の投影倍率に基づいた波長帯域により決定される。つまり、ライン検出器16でのスペクトル検出分解能をΔλ、ライン検出器16に投影される波長帯域をλとすると、Δλ=λ/nとなる。具体的には、回折格子14によりスペクトル分離された400〜700nmの可視領域全体を、32個の検出チャンネルを有するライン検出器16により検出した場合のスペクトル検出分解能は、9.375nmである。
また、このような特許文献1のものは、スペクトル検出分解能を物理的に上げることも可能で、この場合、回折格子14による分離スペクトルの範囲をライン検出器16による検出範囲より広く設定し、回折格子14と結像ミラー15を同期させて図示a方向に回転移動させることで、固定されたライン検出器16に対し、所望する検出波長帯域を投影させるか、ライン検出器16自身を図示b方向に所望する検出波長帯域まで移動させるようにしている。
ところで、標本より発生される蛍光の強さは、標本の種類などによって様々で、強度の大きい場合や、逆に、極めて微弱な場合もある。このような場合、標本からの蛍光強度が十分であれば、スペクトル検出分解能を高い状態に設定して波長ごとのスペクトル強度を検出することができるが、逆に、蛍光が極めて微弱だとライン検出器16上で光量不足に陥るおそれがあり、このため、スペクトル検出分解能を多少下げてでも、ライン検出器16でのスペクトル強度の検出を必要とすることもある。
特開2003−185582号公報
ところが、特許文献1のものは、上述した方法によりスペクトル検出分解能を物理的に変更することはできるが、回折格子14と結像ミラー15の組み合わせによりライン検出器16へ投影される分離スペクトルの投影倍率は一定になっているため、回折格子14、結像ミラー15およびライン検出器16により一度全体の波長帯域を設定すると、この状態で、スペクトル検出分解能が固定されてしまい、必要に応じて任意のスペクトル検出分解能を設定することはできない。
この結果、上述したように、標本より発生される蛍光が微弱の場合は、光量不足により放射スペクトル強度がライン検出器16の検出感度に達しないことや、ノイズ成分の影響などによりライン検出器16でのスペクトル強度の検出ができなくなるという問題があった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、スペクトル検出分解能を可変可能にしたスペクトル検出装置を提供することを目的とする。
請求項1記載の発明は、標本からの蛍光を検出する光検出光学系と、前記光検出光学系で検出される蛍光より分離されたスペクトルを発生するスペクトル分離手段と、前記スペクトル分離手段で分離されたスペクトルの波長ごとの強度を検出する複数の検出チャンネルを有するライン検出手段と、前記スペクトル分離手段により分離されたスペクトルを任意の投影倍率で前記ライン検出手段に投影する投影倍率可変手段とを具備したことを特徴としている。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、スペクトル分離手段は、回折格子からなることを特徴としている。
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明において、前記投影倍率可変手段は、投影倍率を可変可能としたズームレンズからなることを特徴としている。
請求項4記載の発明は、請求項1乃至3のいずれかに記載の発明において、前記スペクトル分離手段は、回転可能で、前記ライン検出手段は、スペクトル領域の分光方向に沿って平行移動可能にしたことを特徴としている。
本発明によれば、ライン検出手段へのスペクトル投影倍率を可変可能にし、スペクトル検出分解能を可変可能にしたので、例え、微弱な蛍光に対しても、ライン検出手段での投影強度を上げることで、スペクトル強度を確実に検出することができる。
また、本発明によれば、スペクトル検出分解能を高めたことで、ライン検出手段の検出範囲を外れるスペクトル帯域が生じても、スペクトル分離手段を回転させるか、ライン検出手段をスペクトルの分光方向に沿って平行移動させることで、これら検出範囲を外れるスペクトル帯域についても確実に検出することができる。
以下、本発明の一実施の形態を図面に従い説明する。
図1は、本発明の一実施の形態にかかるスペクトル検出装置の概略構成を示すものである。図において、20は顕微鏡としてのレーザ走査型顕微鏡で、ここでは、標本から発せられた蛍光を検出し、共焦点効果を得るための結像レンズ21とピンホール22を含む光検出光学系201が示されている。
結像レンズ21は、標本からの蛍光をピンホール22の中心に集光するものである。また、ピンホール22は、結像レンズ11の焦点面と共役の位置に配置され、焦点面以外からの蛍光放射光をカットするものである。
なお、レーザ走査型顕微鏡20の別な主要部であるレーザ光源、レーザ光走査部、顕微鏡本体部、励起光と蛍光を分けるダイクロイックミラーなどは図面から省略されている。
光検出光学系201のピンホール22を通過した蛍光の光路には、コリメートレンズ23が配置されている。このコリメートレンズ23は、ピンホール22を通過して拡散する蛍光を平行光に変換するものである。
コリメートレンズ23を通過した平行光の光路には、スペクトル分離手段としての回折格子24が配置されている。この回折格子24は、コリメートレンズ23から入射する平行光より分離されたスペクトルを発生するものである。なお、スペクトル分離手段は、回折格子24に代えてプリズムやグリズムなどを用いることもできる。
回折格子24より発生する蛍光スペクトルの光路には、投影倍率が可変可能な投影倍率可変手段としてのズームレンズ25とライン検出手段としてのライン検出器26が配置されている。
この場合、ズームレンズ25は、凹レンズ251と凸レンズ252を複数枚ずつ組み合わせたもので、これら凹レンズ251と凸レンズ252を光軸に沿って図示c方向に移動させ相互の距離を変えて焦点距離を変化させることにより、ライン検出器26に対するスペクトルの投影倍率を可変可能にしたものである。また、ライン検出器26は、複数(例えば、32個)の検出チャンネル261を有するマルチチャンネル検出器が用いられ、ズームレンズ25を介して投影されるスペクトルの波長ごとのスペクトル強度を検出するようになっている。
なお、回折格子24およびライン検出器26は、蛍光スペクトルの相対位置を可変できるようになっており、回折格子24については、図示矢印d方向に回転させるための駆動手段(不図示)、ライン検出器26については、蛍光スペクトルの分光方向にに沿って図示矢印e方向に平行移動させるための駆動手段(不図示)が設けられている。
次に、このような実施の形態の作用を説明する。
いま、レーザ走査型顕微鏡20において、不図示のダイクロイックミラーにより分離された標本から蛍光が結像レンズ21とピンホール22を含む光検出光学系201に入射すると、結像レンズ21を通り、この結像レンズ21の焦点面と共役の位置におかれたピンホール22を通過して焦点面以外からの蛍光放射光がカットされ、さらにコリメートレンズ23で平行光に変換され、回折格子24に入射する。回折格子24は、コリメートレンズ23から入射する平行光を分離し、スペクトルを発生する。
この回折格子24により発生されたスペクトルは、ズームレンズ25を介してライン検出器26に投影され、スペクトルの波長ごとのスペクトル強度が検出される。
この場合、ズームレンズ25は、ライン検出器26に対するスペクトルの投影倍率を可変してスペクトル検出分解能を任意に可変できるようになっている。
まず、ズームレンズ25が基準位置にあるとき、ライン検出器26に投影されるスペクトル帯域が可視域の400〜700nmになるように回折格子24とズームレンズ25を設定する。このとき32個の検出チャンネル261を有するライン検出器26で検出可能なスペクトル検出分解能は、上述したように9.375nmになる。
次に、ズームレンズ25を基準位置から光軸方向に沿って図示c方向に移動し、投影倍率を2倍にすると、ライン検出器26に投影されるスペクトル帯域が半減し、例えば475〜625nmとなり、このときのスペクトル検出分解能は、上述の2倍の4.6875nmになる。
この場合、ズームレンズ25により投影倍率を上げると、ライン検出器26の検出範囲を外れるスペクトル帯域が発生する。この帯域を検出するには、回折格子24を不図示の駆動手段により矢印d方向に回転させるか、ズームレンズ25のレンズ径が充分大きければ、ライン検出器26を不図示の駆動手段により、スペクトルの分光方向にに沿って図示矢印e方向に平行移動させることで可能となる。
一方、標本より発生される蛍光が微弱な場合、光量不足によりライン検出器26の検出感度に達しないことや、ノイズ成分の影響などによりライン検出器26でのスペクトル強度の検出ができないことがある。このような場合は、ズームレンズ25を光軸方向に沿って図示c方向に移動し、投影倍率を下げる。すると、ライン検出器26上の小さな面積にスペクトルの光が集められ、単位面積当りに投影されるスペクトルの強度、つまり投影強度が引き上げられる。例えば、ズームレンズ25の基準倍率でのライン検出器26へのスペクトルの投影強度を1とした場合、ズームレンズ25の倍率を、基準倍率のときの1/2にすると、投影強度は4となる。また、ズームレンズ25にシリンドリカルレンズなどを用い、1方向の横倍率のみ1/2にした場合は、投影強度が2となる。
これにより、標本からの蛍光が微弱の場合でも、ズームレンズ25により投影倍率を下げ、ライン検出器26へのスペクトルの投影強度を上げることで、ライン検出器26でのスペクトルの強度検出を確実に行なうことができる。
なお、ライン検出器26でのスペクトル強度の検出を確実にするため、ズームレンズ25により投影倍率を下げることで、スペクトル検出分解能が低下することになるが、ライン検出器26でのスペクトル検出ができないよりは好ましい。
従って、このようにすれば、分散されたスペクトルを発生する回折格子24とスペクトルの波長ごとの強度を検出するライン検出器26との間の光路上にズームレンズ25を配置し、このズームレンズ25の操作により、ライン検出器26へのスペクトル投影倍率を可変可能としたので、ライン検出器26でのスペクトル検出分解能を任意に可変できる。
これにより、仮に、標本より発生される蛍光が微弱で、光量不足によりライン検出器26の検出感度に達しないような場合は、ズームレンズ25により投影倍率を下げてライン検出器26上でのスペクトルの強度、つまり投影強度を上げることにより、ライン検出器26でのスペクトルの強度検出を確実に行なうことができる。
また、ズームレンズ25により投影倍率を上げて、スペクトル検出分解能を高めたことにより、ライン検出器26の検出範囲を外れるスペクトル帯域が生じることがあっても、回折格子24を回転させるか、ライン検出器26を蛍光スペクトルの分光方向にに沿って平行移動させることで、これら検出範囲を外れるスペクトル帯域についても確実に検出することができる。
なお、上述した実施の形態では、回折格子24で分離されたスペクトルをライン検出器26へ倍率を変えて投影する手段として、ズームレンズ25を用いたが、これに代わって複数の固定倍率レンズを切り替えるようにした手段などを用いることもできる。
また、上述した実施の形態では、焦点面に共役の位置にピンホール22を配置したものについて述べたが、多光子吸収を使用する場合は、励起の確立が励起光強度の乗数(2光子の場合は2乗)に比例するため、光子強度の高い焦点位置付近でしか励起せず、レーザを走査することで断層像が得られることから、焦点面に共役の位置にピンホールを配置しなくともよい。
その他、本発明は、上記実施の形態に限定されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で種々変形することが可能である。
さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。
本発明の一実施の形態の概略構成を示す図。 従来の顕微鏡スペクトル検出装置の一例の概略構成を示す図。
符号の説明
20…レーザ走査型顕微鏡、201…光検出光学系
21…結像レンズ、22…ピンホール
23…コリメートレンズ、24…回折格子、25…ズームレンズ
251…凹レンズ、252…凸レンズ、26…ライン検出器
261…検出チャンネル

Claims (4)

  1. 標本からの蛍光を検出する光検出光学系と、
    前記光検出光学系で検出される蛍光より分離されたスペクトルを発生するスペクトル分離手段と、
    前記スペクトル分離手段で分離されたスペクトルの波長ごとの強度を検出する複数の検出チャンネルを有するライン検出手段と、
    前記スペクトル分離手段により分離されたスペクトルを任意の投影倍率で前記ライン検出手段に投影する投影倍率可変手段と
    を具備したことを特徴とするスペクトル検出装置。
  2. スペクトル分離手段は、回折格子からなることを特徴とする請求項1記載のスペクトル検出装置。
  3. 前記投影倍率可変手段は、投影倍率を可変可能としたズームレンズからなることを特徴とする請求項1または2記載のスペクトル検出装置。
  4. 前記スペクトル分離手段は、回転可能で、前記ライン検出手段は、スペクトルの分光方向に沿って平行移動可能にしたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のスペクトル検出装置。
JP2003422871A 2003-12-19 2003-12-19 スペクトル検出装置 Pending JP2005181124A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003422871A JP2005181124A (ja) 2003-12-19 2003-12-19 スペクトル検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003422871A JP2005181124A (ja) 2003-12-19 2003-12-19 スペクトル検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005181124A true JP2005181124A (ja) 2005-07-07

Family

ID=34783604

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003422871A Pending JP2005181124A (ja) 2003-12-19 2003-12-19 スペクトル検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005181124A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102109671A (zh) * 2009-12-25 2011-06-29 株式会社尼康 显微镜装置
JP2014071044A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Glory Ltd スペクトルセンサの光学系調整方法及び光学系調整装置並びに紙葉類識別装置
CN104406685A (zh) * 2014-11-18 2015-03-11 深圳大学 基于透射型液晶空间光调制器的激光光束m2因子测量方法
DE102016224828B4 (de) 2016-12-13 2022-03-17 Robert Bosch Gmbh Fourier-Transform-Spektrometer und Verfahren zum Betreiben eines Fourier-Transform-Spektrometers

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102109671A (zh) * 2009-12-25 2011-06-29 株式会社尼康 显微镜装置
JP2014071044A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Glory Ltd スペクトルセンサの光学系調整方法及び光学系調整装置並びに紙葉類識別装置
CN104406685A (zh) * 2014-11-18 2015-03-11 深圳大学 基于透射型液晶空间光调制器的激光光束m2因子测量方法
DE102016224828B4 (de) 2016-12-13 2022-03-17 Robert Bosch Gmbh Fourier-Transform-Spektrometer und Verfahren zum Betreiben eines Fourier-Transform-Spektrometers

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5913964B2 (ja) 分光検出装置、及び、それを備えた共焦点顕微鏡
US20130162990A1 (en) Spectrometry device and spectrometry method
JP2006330685A (ja) 多光子励起走査型レーザ顕微鏡
JP2002502044A (ja) 光ビームの複数スペクトル帯域を同時に検知する装置
JP3568626B2 (ja) 走査型光学顕微鏡
US7151633B2 (en) Scanning microscope
JP5135066B2 (ja) 光学顕微鏡、及び観察方法
JP4646506B2 (ja) レーザ走査型顕微鏡
JP5371362B2 (ja) レーザ顕微鏡装置
JP2018521304A (ja) 放射光測定器および放射光測定方法
JP4331454B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP2004354937A (ja) レーザ顕微鏡
JP4939703B2 (ja) 走査型レーザー顕微鏡
US7391509B1 (en) Devices and methods for multi-mode analytical microscopy, in particular for UV fluorescence and Raman analysis of samples
JP2005181124A (ja) スペクトル検出装置
JP2017219400A (ja) レーザ顕微鏡
JP3076715B2 (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JP4869562B2 (ja) 走査型共焦点顕微鏡
JP4136891B2 (ja) 蛍光画像/スペクトルを測定する蛍光測定装置
JP2006189640A (ja) レーザ走査型顕微鏡
JP2006010406A (ja) 蛍光検出装置
JP4013868B2 (ja) 蛍光検出装置
JP2006284701A (ja) 顕微鏡用照明装置および蛍光顕微鏡装置
JP2009053006A (ja) 蛍光検出装置、及び蛍光検出装置制御システム
JP2005331419A (ja) 顕微分光測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061212

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081208

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20090106

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090309

A02 Decision of refusal

Effective date: 20090804

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02