JP2005170728A - Y2o3焼結体およびその製造方法 - Google Patents

Y2o3焼結体およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005170728A
JP2005170728A JP2003412104A JP2003412104A JP2005170728A JP 2005170728 A JP2005170728 A JP 2005170728A JP 2003412104 A JP2003412104 A JP 2003412104A JP 2003412104 A JP2003412104 A JP 2003412104A JP 2005170728 A JP2005170728 A JP 2005170728A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sintered body
firing
density
plasma
sintered compact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003412104A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Imai
功 今井
Masataka Murata
征隆 村田
Takayuki Ikeda
隆之 池田
Takahiro Kubo
尊裕 久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Coorstek KK
Original Assignee
Toshiba Ceramics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Ceramics Co Ltd filed Critical Toshiba Ceramics Co Ltd
Priority to JP2003412104A priority Critical patent/JP2005170728A/ja
Publication of JP2005170728A publication Critical patent/JP2005170728A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

【課題】半導体製造用エッチャーなどの耐プラズマ部材に適し、耐プラズマ性に優れ、緻密で高い明度を有するY焼結体を提供する。
【解決手段】本Y焼結体は、Y原料を用いた成形物を水素雰囲気、1710〜1850℃で焼成し、焼結体密度が4.85g/cm以上、MоO含有量が5ppm以下でかつ明度がN8.0以上であるY焼結体。これにより、半導体製造用エッチャーなどの耐プラズマ部材に適し、耐プラズマ性に優れ、緻密で高い明度を有するY焼結体を得ることができる。
【選択図】 なし

Description

本発明はY焼結体およびその製造方法に係わり、特に半導体製造用エッチャーなどの耐プラズマ部材に適するY焼結体およびその製造方法に関する。
酸化イットリウム(以後、Yと記す)はその優れた耐プラズマ性から半導体装置用部材への適用が期待されている。従来、Y焼結体は大気中において焼成するいわゆる大気焼成によって製造されている。しかしながら、この大気焼成において、Y成形体を大気に直接暴露して焼成すると、黄色に着色してしまうため、このようなY焼結体は、材料自体は耐プラズマ性に優れているものの、プラズマ処理装置において用いられる部材に要求される高い明度には応じられない状況であった。
そこで、無着色のY焼結体を製造するために、焼成時において高純度アルミナやY焼結体などY成形体を汚染しない焼結体容器で成形体を密封し、かつYの詰め粉を充填して焼成するなどの提案がなされている。しかし、焼成スペースにとって焼結体容器の寸法が制約となって、製造設備の容積効率が低い上に、量産化にとって不都合であった。
また、Y焼結体は、不純物成分であるMоOの含有量が変化すると、焼結体の色調もその量に応じて変化し、焼結体の色調はJIS標準色票で示される明度がN7.0以下の濃灰色となる問題があった。しかし、半導体装置用部材、プラズマ処理装置に適用するためには、明度がN8.0以上の白色基調のY焼結体が必要とされている。
なお、Y成形体を各種雰囲気下で焼成することによって、Y焼結体を製造することは知られている(特許文献1)。しかしながら、この特許文献1の製造方法では、緻密な焼結体を得ることは困難であり、かつ高い明度を有する焼結体を実現することはできない。
特開2002−68838号公報(段落[0035])
本発明は上述した事情を考慮してなされたもので、半導体製造用エッチャーなどの耐プラズマ部材に適し、耐プラズマ性に優れ、緻密で高い明度を有するY焼結体を提供することを目的とする。また、本発明に係わるY焼結体の製造方法は、特別な焼成容器やY詰め粉を必要とせず、簡便な操作で緻密で明度の高いY焼結体を得る製造方法を提供するものである。
上記目的を達成するために本発明者らは鋭意研究し、焼結体の密度と焼結体に含有するMоO量を制御することにより、半導体製造用エッチャーなどの耐プラズマ部材に適し、耐プラズマ性に優れ、緻密で高い明度を有するY焼結体が得ることができることを見いだして、本発明に至ったものである。
第1の本発明は、焼結体密度が4.85g/cm以上、MоO含有量が5ppm以下でかつ明度がN8.0以上であることを特徴とするY焼結体である。このような焼結体とすることにより、半導体製造用エッチャーなどの耐プラズマ部材に適し、耐プラズマ性に優れ、緻密で高い明度を有するY焼結体が実現される。
前記第1の発明において、Y焼結体が水素雰囲気中で焼成することが好ましい。また、1710℃以上1850℃以下において焼成することが好ましい。このような焼結体とすることにより、高い明度を有するY焼結体が実現される。
また、本発明の他の態様によれば、Y原料を用いた成形物を水素雰囲気中、1710℃以上1850℃以下で焼成し、焼結体密度が4.85g/cm3以上、MоO含有量が5ppm以下でかつ明度がN8.0以上のY焼結体を製造することを特徴とするY焼結体の製造方法である。これにより、特別な焼成容器やY詰め粉を必要とせず、簡便な操作で緻密で明度の高いY焼結体の製造方法が実現される。
本発明に係わるY焼結体によれば、半導体製造用エッチャーなどの耐プラズマ部材に適し、耐プラズマ性に優れ、緻密で高い明度を有するY焼結体を提供することができる。
また、本発明に係わるY焼結体の製造方法によれば、特別な焼成容器やY詰め粉を必要とせず、簡便な操作で緻密で高い明度を有するY焼結体を製造する方法を提供することができる。
上記目的を達成するため、本発明の1つの態様によれば、焼結体密度が4.85g/cm3以上、MоO含有量が5ppm以下でかつ明度がN8.0以上であることを特徴とするY焼結体が提供される。これにより、半導体製造用エッチャーなどの耐プラズマ部材に適し、耐プラズマ性に優れ、緻密で高い明度を有するY焼結体が実現される。
好適な一例では、水素雰囲気で焼成されたことを特徴とするY焼結体である。
また、他の好適な一例では、1710℃以上1850℃以下で焼成されたことを特徴とするY焼結体である。
また、本発明の他の態様によれば、Y原料を用いた成形物を水素雰囲気、1710℃以上1850℃以下で焼成し、焼結体密度が4.85g/cm3以上、MоO含有量が5ppm以下でかつ明度がN8.0以上のY焼結体を製造することを特徴とするY焼結体の製造方法である。これにより、特別な焼成容器やY詰め粉を必要とせず、簡便な操作で緻密で高い明度を有するY焼結体の製造方法が実現される。
以下、本実施形態のY焼結体の製造方法を詳細に説明する。
本実施形態の第1の工程である原料調製工程について説明する。
まず、原料を準備する。原料となるYは、99wt%以上の純度を有するものが好ましい。この純度が99wt%を下回ると、この原料を使用した部材を半導体装置に用いた場合に、不純物成分が半導体ウエハ表面に異物として付着してしまったり、半導体ウエハに金属などの不純物汚染を引き起こすおそれがあり、好ましくない。
また、このY原料粉末の粒度は、2μm以下であることが好ましい。Y原料粉末の粒度が、2μmを超えると、曲げ強度が50MPa未満となるため好ましくない。一方、原料粉末は、過度に微細化すると取り扱いが困難になるが、焼結体密度が向上し好ましい。第3の工程は脱脂及び焼成工程である。脱脂は、前工程までで、有機添加剤を加えていない場合には省略することも可能であるが、バインダなどの有機物を使用している場合には、成形体を加熱して有機物を分解あるいは揮散除去する。この際の温度は、500〜900℃程度の温度で十分である。
次いで、Y原料粉末を用いて成形した成形体を水素雰囲気中で焼成する。この工程で用いる水素雰囲気は、純水素雰囲気でもよいが、アルゴンガスなど、Yと非反応性の不活性ガスが混合されていても差し支えない。ただし、経済性を考慮すれば、アルゴンガス等を添加しない市販されている水素ガスがもっとも好ましい。水素雰囲気ガスは、焼成炉内を流通させてもよいし、滞留していてもよい。
本発明のY焼結体において、水素ガスを雰囲気ガスとして用いることにより、被焼成物を詰め粉や治具で被覆することなく加熱しても着色せず、透明な焼結体が得られる。また、水素雰囲気中での加熱によって、成形体表面に存在する金属不純物等が減少し半導体処理装置に適した材料を得ることができる。さらに、焼成炉材料として、Mо合板や、タングステンヒータを用いることができ、これによって焼成炉内材料による加熱温度の制約を受けることなく、1700℃以上の高温で加熱焼成することができ、焼結体の緻密度を向上させることができる。
本工程の焼成温度は、上述したとおり、1710℃以上1850℃以下の範囲が好ましい。より好ましい焼成温度は、1730℃以上1830℃以下である。
焼成温度が、1710℃以下の焼成では、焼結体密度が4.85g/cm未満となり十分に緻密化しないため、実用的な機械的強度特性を確保できない。1850℃以上では、結晶成長が著しく大きくなるため、1710℃以下の場合と同様に、機械的強度が極端に低位となり実用的でない。
また、焼結体密度が4.85g/cm未満では、緻密化が不十分で内在する気孔が多数存在するため、色調はMоO含有量が5ppmより多い場合でも明度がN8.0以上となる。すなわち、MоO含有量と色調に明確な相関が認められなくなり、さらに強度は著しく低位となる。焼結体密度が4.85g/cm以上で、かつMоO含有量が5ppmより多い場合、明度がN7.0以下の濃灰色基調となる。
上記のように、本実施形態のY焼結体の製造方法によれば、特別な焼成容器やY詰め粉を必要とせず、簡便な操作で緻密で高い明度を有するY焼結体を製造することができる。また、焼結体密度が4.85g/cm以上のY焼結体は、不純物成分であるMоOの含有量が変化すると、焼結体の色調もその量に応じて変化し、MоO含有量が5ppmより多い場合、焼結体の色調は明度がN7.0以下の濃灰色となるが、MоO含有量を5ppm以下にすることにより、明度がN8.0以上の白色基調のY焼結体を製造することができる。
試験1: 平均粒径1μm、MоOを3ppm含む純度99.9%のY原料100重量部に対して、バインダとしてPVAを2重量部と適量の水を添加混合してスラリを得た。このスラリをスプレードライヤにて噴霧乾燥し、平均粒径30μmの造粒体とした後、冷間静水圧プレス(CIP)にて100MPaの圧力で、200×200×10mmの板状体を成形した。この成形体を大気中900℃に加熱して脱脂した後、水素雰囲気中1750℃で6時間焼成し、焼結体を作成した。得られた焼結体の密度、曲げ強度および明度を評価した(実施例1〜5)。
同様の方法により、MоO量の異なる原料を用い、あるいは焼成温度を変化させた条件で焼結体を作成し、同様の評価を行った(比較例1〜3)。
その条件と評価結果を表1に示す。
Figure 2005170728
表1からもわかるように、MоO量、焼成温度及び焼結体密度が本発明の範囲内の実施例1〜5は、焼成温度が範囲限界値である実施例5の曲げ強度が低下するのを除き、各々の曲げ強度は大きな値を示し、かついずれも、必要とされる明度がN8.5以上と白色基調のY焼結体が実現されるのに対して、MоO量及び焼成温度が範囲外で焼結体密度が範囲内の比較例1、2は曲げ強度は大きいが、明度がN7.5、N7.0と灰色乃至濃灰色基調となり、MоO量、焼成温度及び焼結体密度が範囲外の比較例3は明度がN8.0となるが、曲げ強度が著しく低下し実用性に欠ける。

Claims (4)

  1. 焼結体密度が4.85g/cm以上、MоO含有量が5ppm以下でかつ明度がN8.0以上であることを特徴とするY焼結体。
  2. 焼結体が水素雰囲気中で焼成されたことを特徴とする請求項1に記載のY焼結体。
  3. 焼結体が1710℃以上1850℃以下で焼成されたことを特徴とする請求項1または2に記載のY焼結体。
  4. 原料を用いた成形物を水素雰囲気中、1710℃以上1850℃以下で焼成し、焼結体密度が4.85g/cm以上、MоO含有量が5ppm以下でかつ明度がN8.0以上のY焼結体を製造することを特徴とするY焼結体の方法。
JP2003412104A 2003-12-10 2003-12-10 Y2o3焼結体およびその製造方法 Pending JP2005170728A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003412104A JP2005170728A (ja) 2003-12-10 2003-12-10 Y2o3焼結体およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003412104A JP2005170728A (ja) 2003-12-10 2003-12-10 Y2o3焼結体およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005170728A true JP2005170728A (ja) 2005-06-30

Family

ID=34732651

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003412104A Pending JP2005170728A (ja) 2003-12-10 2003-12-10 Y2o3焼結体およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005170728A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007063070A (ja) * 2005-08-31 2007-03-15 Toshiba Ceramics Co Ltd 耐プラズマ性イットリア焼結体の製造方法
EP1921053A1 (en) * 2006-10-30 2008-05-14 Applied Materials, Inc. Method for preparing yttria parts and plasma reactor parts comprising yttria
JP2010042967A (ja) * 2008-08-18 2010-02-25 Ngk Insulators Ltd セラミックス部材、セラミックス部材の作成方法及び静電チャック
KR100998258B1 (ko) 2009-09-29 2010-12-03 (주)에스에이치이씨 산화이트륨 소성체 및 그 제조방법
US7964818B2 (en) 2006-10-30 2011-06-21 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for photomask etching
CN110016645A (zh) * 2013-07-20 2019-07-16 应用材料公司 用于盖与喷嘴上的稀土氧化物基涂层的离子辅助沉积
EP3526177B1 (en) 2016-11-16 2021-06-09 Coorstek Inc. Corrosion-resistant components and methods of making
US11376822B2 (en) 2015-11-16 2022-07-05 Coorstek, Inc. Corrosion-resistant components and methods of making

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007063070A (ja) * 2005-08-31 2007-03-15 Toshiba Ceramics Co Ltd 耐プラズマ性イットリア焼結体の製造方法
EP1921053A1 (en) * 2006-10-30 2008-05-14 Applied Materials, Inc. Method for preparing yttria parts and plasma reactor parts comprising yttria
US7919722B2 (en) 2006-10-30 2011-04-05 Applied Materials, Inc. Method for fabricating plasma reactor parts
US7964818B2 (en) 2006-10-30 2011-06-21 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for photomask etching
JP2010042967A (ja) * 2008-08-18 2010-02-25 Ngk Insulators Ltd セラミックス部材、セラミックス部材の作成方法及び静電チャック
KR100998258B1 (ko) 2009-09-29 2010-12-03 (주)에스에이치이씨 산화이트륨 소성체 및 그 제조방법
CN110016645A (zh) * 2013-07-20 2019-07-16 应用材料公司 用于盖与喷嘴上的稀土氧化物基涂层的离子辅助沉积
CN110016645B (zh) * 2013-07-20 2021-06-18 应用材料公司 用于盖与喷嘴上的稀土氧化物基涂层的离子辅助沉积
US11376822B2 (en) 2015-11-16 2022-07-05 Coorstek, Inc. Corrosion-resistant components and methods of making
EP3526177B1 (en) 2016-11-16 2021-06-09 Coorstek Inc. Corrosion-resistant components and methods of making

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI464133B (zh) Polycrystalline MgO sintered body and its manufacturing method and MgO target for sputtering
KR101400598B1 (ko) 반도체 제조 장치용 내식성 부재 및 그 제법
JP4987238B2 (ja) 窒化アルミニウム焼結体、半導体製造用部材及び窒化アルミニウム焼結体の製造方法
KR101794410B1 (ko) 고 열전도도 질화규소 소결체 및 이의 제조 방법
JP5203313B2 (ja) 酸化アルミニウム焼結体及びその製法
JP2000001362A (ja) 耐食性セラミックス材料
WO2015152292A1 (ja) 窒化ケイ素基板の製造方法
JP7481509B2 (ja) アルミン酸マグネシウムスピネルを含むセラミック焼結体
EP1201622A2 (en) A material with a low volume resistivity, aluminium nitride sintered body and article for manufacturing semiconductors
KR100569643B1 (ko) 질화알루미늄질 세라믹스, 반도체 제조용 부재 및질화알루미늄 소결체의 제조 방법
JPH06211573A (ja) 透明なy2o3焼結体の製造方法
JP2005170728A (ja) Y2o3焼結体およびその製造方法
JP3214890B2 (ja) 窒化アルミニウム焼結体およびその製法、並びにそれを用いた焼成用治具
JP4798693B2 (ja) プラズマ処理装置用イットリアセラミックス部品及びその製造方法
JP2010208871A (ja) 酸化アルミニウム焼結体、その製法及び半導体製造装置部材
JP2010120795A (ja) 高靭性且つ透光性の着色アルミナ焼結体及びその製造方法並びに用途
JP2004269350A (ja) Y2o3焼結体及びその製造方法
JP2011136876A (ja) 金属ホウ化物焼結体の製造方法、ホウ化ランタン焼結体及びそれを用いたターゲット
JP2002220282A (ja) 窒化アルミニウム焼結体とその製造方法
JP3716386B2 (ja) 耐プラズマ性アルミナセラミックスおよびその製造方法
JP4065589B2 (ja) 窒化アルミニウム焼結体及びその製造方法
JP5698568B2 (ja) 酸化アルミニウム焼結体およびその製造方法
TWI829330B (zh) 用於半導體處理腔室中之包含yag之uv活化紅色陶瓷體
JP2003146760A (ja) 窒化アルミニウム焼結体とその製造方法
JPH01239067A (ja) 窒化アルミニウム基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060906

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20070711

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090908

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100126