JP2005157409A - 検査装置デバッグシステム - Google Patents

Abstract

【課題】検査装置及び検査装置を構成する構成要素の各図面を参照して信号経路を順次たどることなく、必要な信号の伝達経路や関連する情報を容易に知ることができる検査装置デバッグシステムを提供する。
【解決手段】検査装置を構成する構成要素の内部の配線情報５８と、構成要素相互間の接続情報５９と、配線情報５８及び接続情報５９に基づいて信号伝達経路を検索する検索手段６０を備え、任意の端子又は任意の配線を指定することにより所望の信号伝達経路情報を得る。また、配線情報の入力および変換インターフェース手段６２と、配線情報の直接入力手段６３と、検査装置のハードウェア拡張部分の構成に関する情報を格納する増設ハードウェア情報６５と、プログラム内変数及び検査装置の入出力端子との接続情報６８と、プログラム内変数に対応するタグ情報６９を備え、これらの情報を含めて信号伝達経路を検索することを特徴とする。
【選択図】図５（ｅ）

Description

この発明は、電気製品、機械製品など一般工業製品の生産ラインや生産システムで行われる製品検査に適用される検査装置に係り、検査の手順や判断処理を検査対象に応じてプログラミングによって実現するプログラマブルな検査装置デバッグシステムに関するものである。

従来、コンピュータプログラム方法であって、複数の実行可能関数および複数のデータ形式を定義する情報を格納するメモリと、仮想的な装置および装置の少なくとも１つを制御するために画像をディスプレイするディスプレイ手段と、ユーザの入力を受け取る手段と、データプロセッサとを含むコンピュータをプログラムする方法であって、該方法は、前記ディスプレイ手段上のデータフロー図であって、前記複数の実行可能関数のいずれかに対応する関数アイコンと、前記複数のデータ形式のいずれかに対応する変数アイコンと、前記データフロー図の制御の流れを示すスケジュールアイコンと、前記関数アイコン、前記変数アイコン、および前記スケジュールアイコンを相互に接続するアークとを含むデータフロー図を、前記ユーザの入力に応じて組み立てるデータフロー図組立ステップと、ユーザの入力に応じてディスプレイ上に前面パネル（ｆｒｏｎｔ ｐａｎｅｌ）を組み立てる前面パネル組立ステップと、実行可能プログラムであって、前記関数アイコンにより示され、および前記アークにより示された通りに相互に接続された１つ以上の前記実行可能関数を含み、ならびに前記スケジュールアイコンにより示された通りに前記少なくとも１つの第１関数アイコンに対して確立された制御フローを有する実行可能プログラムを、前記データフロー図および前記実行可能プログラムに対するユーザインタフェースを与える前記前面パネルに応じて生成する実行可能プログラム生成ステップとを備え、前記データフロー図組立ステップは、前記データフロー図中の少なくとも１つの第１関数アイコンを前記データフロー図中の前記スケジュールアイコン内に実質的に置くステップを含み、前記実行可能プログラムは、前記少なくとも１つの第１関数アイコンを前記スケジュールアイコン内に実質的に置くことにより示された通りに前記少なくとも１つの第１関数アイコンに対して確立された制御フローを有し、前記データフロー図組み立てステップは、前記データフロー図中の少なくとも１つの第２関数アイコンを前記データフロー図中の前記スケジュールアイコン外に実質的に置くステップを含み、前記実行可能プログラムは、前記少なくとも１つの第２関数アイコンを前記スケジュールアイコン外に実質的に置くために、前記少なくとも１つの第２関数アイコンに対して確立された制御フローを有さないことを特徴とするものがあった。（例えば、特許文献１参照）

また、従来、ワイヤハーネスを構成する各電線の両端にそれぞれ接続されたコネクタの各端子について、他の端子との導通の有無を検査してワイヤハーネスの良否を試験するワイヤハーネス試験装置において、１つの制御局と、各々が前記コネクタの端子の中の所定の端子の導通検査を分担する複数の検査局とを備え、前記制御局が、正規の接続データを記憶した正規接続記憶手段と、検査開始に応じて前記記憶手段に記憶されている前記正規の接続データを読み出し前記複数の検査局に転送する読出転送手段と、前記コネクタの端子の中から１つを順番に選択し該選択した端子をドライブする指示を発生し前記複数の検査局に対して出力するドライブ指示出力手段と、該ドライブ指示出力手段によって選択されドライブ指示された前記ドライブ端子と他の端子との間の導通検査を開始する指示を発生し前記複数の検査局に対して出力する検査開始指示出力手段と、該検査開始指示出力手段によって開始された導通検査の結果を収集する指示を発生し前記複数の検査局に対して出力する収集指示出力手段とを有し、前記複数の検査局の各々が、前記読出転送手段から転送された前記正規の接続データを格納する記憶手段と、前記ドライブ指示出力手段からのドライブ指示に基づいて選択した端子をドライブするドライブ手段と、前記検査開始指示出力手段からの検査開始指示に応じて前記ドライブ手段によってドライブされた端子と該ドライブされた端子を除く当該検査局が分担する端子との導通を順番に検査して接続データを形成する検査手段と、該検査手段により形成した接続データと前記記憶手段に格納されている前記正規の接続データとを照合して検査結果データを形成する照合手段と、前記収集指示出力手段からの収集指示に応じて前記照合手段により形成した検査結果データを前記制御局に対して送出する結果送出手段とを有し、前記制御局が、前記複数の検査局の前記結果送出手段から送出されてくる前記検査結果データを収集し、該収集した検査結果データによりワイヤハーネスの良否を試験することを特徴とするものがあった。（例えば、特許文献２参照）

特許第３０１６７８３号（請求項１） 特許第２９０７２４９号（請求項１）

前記特許文献１にあるプログラム方法では、検査装置としての構成要素に、ハーネスや配線変換基板や冶具は含まれていなかった。従って、実際のデバッグ作業においては、手間やミスを犯しやすいという点で問題であった。

また、前記特許文献２に示されるハーネスのデバッグ作業は、ハーネス自身のみに関して設計ミス、組み立てミスを検査するものであった。すなわち、ハーネスを構成要素の一部とする検査装置をデバッグするものではなかった。

この発明は、検査装置及び検査装置を構成する構成要素の各図面を参照して信号経路を順次たどることなく、必要な信号の伝達経路や関連する情報を容易に知ることができる検査装置デバッグシステムを提供する。

この発明による検査装置デバッグシステムは、プログラムに従って検査を行う検査装置のデバッグシステムであって、検査装置を構成する構成要素の内部の配線情報と、構成要素相互間の接続情報と、これら配線情報及び接続情報に基づいて信号伝達経路を検索する検索手段を備え、任意の端子又は任意の配線を指定することにより所望の信号伝達経路情報を得ることを特徴とする。

この発明によれば、プログラムに従って検査を行う検査装置のデバッグシステムにおいて、検査装置を構成する構成要素の内部の配線情報と、構成要素相互間の接続情報と、配線情報及び上記接続情報に基づいて信号伝達経路を検索する検索手段を備えたので、所望の信号伝達経路を正確かつ容易に知ることができ、デバッグ作業の効率化に効果がある。

発明の前提となる技術．
生産ラインや生産システムでは、製造製品に対し何らかの加工および組み立てを行った後に、正しく製品または半完成製品が出来上がっているかを調べるために、検査装置による検査が行われている。検査装置は、検査対象である製造製品の各部位に対し、所定の手順に従って試験信号を与える。この信号は、製造製品の各機能ブロックを通過し応答信号として検査装置によって検出される。この応答信号が所定の範囲内に入っている場合、製造製品は良品と判定され、所定の範囲外の場合は、不良品とされる。不良品の場合、手直しを行って再び検査装置によって検査されたり、生産ラインから排除されたりする。

例えば、電気製品の場合、様々な回路ブロックから成り立っているが、ある回路ブロックが正しい部品によって正しく組み立てられているか検査する場合、検査装置は、この回路ブロックに試験用の電圧または電流を与える。この試験信号はこの回路ブロックを通過し、出力電圧または電流として外部に出力されたり、次段の回路ブロックに伝達されたりするが、検査装置は、この出力信号を検出し所定の規格値と比較することによって該当の回路ブロックの良否判定を行う。一般に電気製品は、このような回路ブロックの集合体であり、検査装置は、各ブロックを所定の手順で試験信号により順次試験を行い、最終的に良品か不良品かの判定を行う。

図１は、上記所定の手順で順次試験を行う検査装置の構成を示す図である。図において、検査装置は、一般には電子計算機２を中心に、表示デバイス１、試験信号を発生させるＤＡ変換回路３、応答信号を検出するＡＤ変換回路１０、ＤＡ変換回路３およびＡＤ変換回路１０を結合するためのコネクターケーブル（ハーネス）４及び９、複数のハーネスを一本のハーネスにまとめ上げるための配線変換基板５、配線変換基板５と治具８を接続するハーネス６、検査対象７に信号を直接付与えかつ受け取るピンを備えた治具８から構成され、この電子計算機２の一例として、パーソナルコンピューターが挙げられる。ここで、検査の手順や、良否判定のための基準値とその比較処理は、電子計算機内のプログラムによって記述され実行される。

次に、図２は図１の検査装置のプログラムによる処理と信号の伝達の例を示す。検査の手順は図２のフローチャートで示すプログラムにより表現され、ＣやＢＡＳＩＣなどの言語によって記述される。この検査手順の中で、試験信号を与えるステップＳ１４では、ＤＡ変換回路３を通して信号が外部に出力される。この信号は、ハーネス４と配線変換基板５、さらに次段のハーネス６、そして冶具８を経由し検査対象７に印加される。この試験信号は検査対象７の中の機能ブロックを通過し、当該機能ブロックの出力信号となる。この出力信号は、試験信号とは逆に、冶具８、ハーネス６、配線変換基板５、ハーネス９、ＡＤ変換回路１０を経由し、検査装置の電子計算機２へ戻される。図２の信号検出ステップＳ１５では、このＡＤ変換回路１０からの信号をプログラムの処理内部に取り込む。その後、規格値との判定ステップＳ１７で出力信号と規格値との比較が行われ、良否判定ステップＳ１８が実施され、ＯＫ（ステップＳ１９）又はＮＧ（ステップＳ２０）の判定がなされる。なお、図１で電子計算機２の表示デバイス１には、検査の良否判定結果に応じて例えばＯＫやＮＧのメッセージや、検出した信号の波形など、検査装置の内部で行われている処理状態を人が外部から見やすく表示するのが一般的である。

次に、図１と図２で示した検査装置の作成段階における手順について述べる。検査装置およびそのプログラムの作成手順は、一般に、検査装置の設計図面、各種変換回路やハーネスの配線図、検査手順のフローチャート、フローチャートを実際に計算機に実行させるためのプログラム等を順次作成し、図面と配線図に応じたハードウェアの作成および組み立てを行い、プログラムは電気計算機へ組み込まれ、検査装置全体が構成される。そして次は、デバッグとよばれる作業が行われる。このデバッグは、図面や配線図、又は作成したハードウェアに設計または組み立ての間違いが無いか、さらにプログラムにも設計ミスやコーディングミスが無いかを検査装置を動作させながら確認し、間違いが見つかった場合は、これを修正していく作業である。デバッグが完了し、検査装置の動作が正常であることが確認できると、検査装置の作成が終了し、生産ラインなどへ搬入され、以降は稼動となる。

このデバッグ作業で最も一般的な手法は、プログラムをステップ的に実行していき、プログラムのロジックが正しいか、プログラム内の各変数のデータは正しいかを順次確認し、特に図２のＤＡ変換ステップＳ１４においてプログラム内の変数がＤＡ変換され、これが信号として正しく末端の冶具８のピンまで届いているかをオシロスコープやテスターなどの計測機器で波形を観測し、これが元のプログラム内の変数変化と等しいかを確認するものである。同様に、ＡＤ変換ステップＳ１５において、冶具８のピンで計測機器によって観測される信号がプログラム内の所定の変数に正しく読み込まれるかを変数の変化を見て確認する。このデバッグ作業で、例えば仮にＤＡ変換された信号波形が冶具８のピンで正しく観測されなかった場合、ＤＡ変換回路３、ハーネス４、配線変換基板５、又はハーネス６のいずれかに設計ミスまたは組み立てミスがあるものと判断し、今度は冶具８のピンではなく、ハーネスや配線変換基板、ＤＡ変換回路の各部位で検出される信号を計測機器で観測し、ミスの箇所を特定し、これを修正していく。

この場合、プログラムまたはプログラムに関する資料、検査装置の構成図、構成要素の表、個々の構成要素の配線図など各図面が、デバッグ作業をする現場に持ち込まれる。観測するべき部位を知るためには、あるいは、観測した部位につながる信号経路を知るためには、その部位の構成要素の配線図から次段の構成要素へつながる部位を調べ、続いて構成図からこれら構成要素の図面間のつながりを調べ、さらに次段の配線図から次々段の構成要素へつながる部位を調べる、という作業を目的の構成要素の部位まで繰り返す。

例えば、図１の検査装置において、冶具８の１番ピンを観測して得た出力信号の波形や値が、検査装置開発者の意図した出力信号の波形や値と異なっていた場合、図４に示すような手順でデバッグ作業が行われる。なお、以下の説明の中で、図３（ａ）は図１の検査装置のＤＡ変換器３と配線変換基板５間のハーネスの配線図、図３（ｂ）は図１の検査装置の配線変換基板５の配線図、図３（ｃ）は図１の検査装置の配線変換基板５と冶具８間のハーネスの配線図、図３（ｄ）は図１の検査装置の冶具８の配線図を表わしている。

図４において、１番ピン３９のデバッグ作業２１は、まず冶具８の配線図参照ステップＳ２２から始められる。すなわち、図３（ｄ）に示す冶具８の配線図３６を取り出し１番ピン３９の繋がっているコネクタ３７の番号とそのピン３８の番号を調べる。そして、冶具８上の当該コネクタ３７のピン３８について出力信号を観測する（ステップＳ２３）。ここで、出力信号が検査装置開発者の意図したものか否かを調べ（ステップＳ２４）、出力信号が検査装置開発者の意図したものであれば作業を完了する。ここで、出力信号が検査装置開発者の意図したものと異なっていた場合、検査装置の図１の構成図を参照（ステップＳ２５）して、冶具８に接続されているハーネス６を確認し、図３（ｃ）に示すハーネス６の配線図４１を参照する（ステップＳ２６）。このハーネス６の配線図４１より、冶具８の１番ピン３９に繋がるハーネス６上のコネクタ４５の番号とピン４４の番号を調べ、これについて出力信号を観測する（ステップＳ２７）。ここで、出力信号が検査装置開発者の意図したものか否かを調べ（ステップＳ２８）、出力信号が検査装置開発者の意図したものと異なっていた場合、図１の検査装置の構成図を参照（ステップＳ３０）して、ハーネス６に接続されている配線変換基板５を確認し、図３（ｂ）に示す配線図４６を参照する（ステップＳ３１）。この配線変換基板５の配線図４６より、冶具８の１番ピン３９に繋がる配線変換基板５上のコネクタ４７、５０の番号とピン４８、５１の番号を調べ、これについて出力信号を観測する（ステップＳ３２）。ここで、この配線図４６において出力信号経路の上流側のコネクタ４７上で意図する信号が観測され、その下流側のコネクタ５０上では意図する信号が観測されなかったとすれば、この配線変換基板５に何らかの不具合があると判断して行くのである。

また、プログラムやプログラムに関する資料も参照して、観測する部位とプログラム内変数やプログラムとの関係を調べ、実際の観測結果と対比させることにより、検査装置のハードウェアおよびソフトウェアのデバッグ作業を進めていく。ここで、プログラム内変数とは、プログラマブルな検査装置に与えられた変数のことであり、ユーザがプログラム内で扱う入力や出力の番号であったり、あるいは、カウンタ値やアナログ値などの数値やビット列を格納するレジスタであったりする。

前記特許文献１にある検査装置では、例えば上記図１に対比させると、電子計算機２と、試験信号を発生させるＤＡ変換回路３と、応答信号を検出するＡＤ変換回路１０と、場合によっては表示デバイス１が、従来の検査装置の構成要素の範囲１１となっている。また、前記特許文献２に関するハーネスのデバッグに関する事例では、ハーネス自身の設計ミス、組み立てミスを検査するものである。

前記特許文献１にある検査装置では、検査装置としての構成要素に、ハーネスや配線変換基板や冶具は含まれていなかった。従って、実際のデバッグ作業においては、手間やミスを犯しやすいという点で問題であった。すなわち、デバッグに際して、観測するべき部位を知るためには、あるいは、観測した部位につながる信号経路を知るためには、その部位の構成要素の配線図から次段の構成要素へつながる部位を調べ、続いて構成図からこれら構成要素の図面間のつながりを調べ、さらに次段の配線図から次々段の構成要素へつながる部位を調べる、という作業を目的の構成要素の部位まで繰り返す。このように配線図上の信号経路を手作業により追っていったり、また何枚もの図面にわたり信号経路を追っていったりする作業は、手間であり、かつ、ミスを犯しやすい。また、こうしたミスは、目的であるデバッグ作業の効率を著しく低下させる原因でもある。

一般には、上記のようなハーネスや配線変換基板、冶具などの図面は、汎用の図面データ入力手段により作図されるため、検査装置の構成やデバッグシステムとは独立して、別々に管理されるものである。このため、これらの別々に管理された情報と、構成図やプログラム内変数、プログラム、タグといった情報とをリンクさせて取り扱うことができず、上記の問題点と同様に、観測する部位との関係を知るためには、各図面を参照して対応する情報を調べるという作業が必要であった。この作業の場合も、手間であり、かつ、ミスを犯しやすいという問題点があった。ここでタグとは、検査装置が持つプログラム内変数や入出力端子番号に対して付与する任意の名称のことである。

また、前記特許文献２に示されるハーネスのデバッグに関する事例では、ハーネス自身のみに関して設計ミス、組み立てミスを検査するものであった。すなわち、ハーネスを構成要素の一部とする検査装置をデバッグするものではなく、従って、上記の課題を解決するものではなかった。

また、デバッグ時に上記のように各図面を検査装置の設置現場あるいはデバッグ現場へ持っていく必要があり、多くの図面を運ぶという労力を要したり、現場環境や作業者の不注意などに起因する情報の消失、紛失あるいは汚損が起こったりするという別の問題点があった。

この発明は、上記のように各図面を参照して信号経路を順次たどることなく、必要な信号の伝達経路や関連する情報を容易に知ることができる検査装置デバッグシステムを提供する。

実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態を図を参照しながら説明する。図５（ａ）はこの発明の実施の形態１による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。

図５（ａ）に示すように、本実施の形態の検査装置デバッグシステムの基本部分５７は、検査装置を構成する配線変換基板や治具等の構成要素の内部の配線情報５８と、検査装置のそれぞれ構成要素間の接続情報５９と、上記配線情報５８及び上記接続情報５９に基づいて所望の信号伝達経路を検索する検索手段６０より構成されている。出力手段６１は、検索手段６０により抽出された信号伝達経路等の結果を出力するもので、ディスプレイ、プリンタ等で構成される。

上記配線情報５８は、図１の検査装置を例に挙げると、当該検査装置を構成する配線変換基板５や、治具８の内部の配線情報を意味し、図３（ｂ）に示す配線変換基板５の内部の配線情報や、図３（ｄ）に示す治具８の内部の配線情報等が格納されている。

上記接続情報５９は、図１の検査装置を例に挙げると、当該検査装置を構成するＤＡ変換回路３、配線変換基板５、治具８間の接続情報を意味し、図３（ａ）に示すＤＡ変換回路３−配線変換基板５間の接続情報や、図３に示す配線変換基板５−治具８間の接続情報が格納されている。

本実施の形態の検査装置デバッグシステムを活用したデバッグ作業に際して、デバッグ作業者は、検索手段６０を用いて、所望する端子あるいは配線等を配線情報５８および接続情報５９から検索し、所望の信号伝達経路を抽出することにより実施される。

以下、本実施の形態の検査装置デバッグシステムによる検索の流れの例を、図１０のフローチャートにより説明する。まず、所望の端子を指定して配線情報５８から、その端子に接続されている別の端子を検索する。すなわち、所望の端子を用いて配線情報５８から検索するステップ７１である。次に、ステップ７１により検索された情報と接続情報５９から、接続されている構成要素やコネクタの番号、ピンの番号が検索される。すなわち、接続情報から接続されている構成要素を検索するステップ７２である。次に、ステップ７３において、前記ステップ７２で接続されている構成要素が有るか否かを判定し、接続されている構成要素が存在すればステップ７４に進み、接続されている構成要素が存在しなければステップ７５に進んで検索を終了する。ステップ７４では、ステップ７２で検索された情報と配線情報５８から、その端子に接続されている別の端子を検索する。これは検索結果と配線情報から検索するステップである。このようにして、配線情報５８と接続情報５９の検索を繰り返していき、接続の終端にきた時に検索完了ステップ７５となる。

例えば、図１０のフローチャートにおける所望の端子が図３（ａ）における第１コネクタ５３の６番ピン５４であるとすれば、図３（ａ）から図３（ｄ）により得られる配線情報及び接続情報に基づき、接続されている端子は第２コネクタ５５の５番ピン５６であると検索される。次に、図１の構成図や図３（ａ）から図３（ｄ）により得られる配線情報及び接続情報により、図３（ａ）における第２コネクタ５５の５番ピン５６に接続されている端子は、図３（ｂ）における第１コネクタ４７の５番ピン４８であると検索される。さらに、上記と同様に配線情報及び接続情報から、図３（ｂ）における第１コネクタ４７の５番ピン４８に接続されているのは、図３（ｂ）における第３コネクタ５０の７番ピン５１であり、続いて、配線情報及び接続情報から、前記ピン５１に接続されているのは図３（ｃ）における第１コネクタ４２の１番ピン４３と検索される。このような作業を繰り返すことにより、最終的に図３（ｄ）における１番ピン３９にたどり着いて終端であることを確認し、検索完了となる。以上のようにして、所望であった図３（ａ）における第１コネクタ５３の６番ピン５４からの信号伝達経路は、図３（ａ）における第２コネクタ５５の５番ピン５６、図３（ｂ）における第１コネクタ４７の５番ピン４８、図３（ｂ）における第３コネクタ５０の７番ピン５１、図３（ｃ）における第１コネクタ４２の７番ピン４３、図３（ｃ）における第２コネクタ４５の１番ピン４４、図３（ｄ）における第１コネクタ３７の１番ピン３８、図３（ｄ）における１番ピン３９というように抽出される。

上記の検索例では、所望する端子として図３（ａ）における第１コネクタ５３の６番ピン５４を用いたが、配線情報５８や接続情報５９にある任意の端子あるいは任意の配線部分で検索をしても良い。

次に、本実施の形態の検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路の出力態様を示す。図８（ａ）は検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路を一覧表７７として出力した図である。図８（ａ）において、所望する端子７６として配線変換基板第１コネクタ５番ピンを指定した例で、検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路の一覧表７７は、検査装置の構成要素を示す列７８と、コネクタの番号を示す列７９と、ピンの番号を示す列８０で表わされる。

図９（ａ）〜図９（ｄ）は検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路をハイライトして出力した図である。すなわち、図９（ａ）から図９（ｄ）に示すように、配線図上で検索された信号伝達経路をコネクタ、ピン、配線、又は接続のハイライト８２、８３、８４、８５、８６、８７、８８、８９、９０、９１、９２、９３、１０９で表示している。この結果、信号伝達経路の配線を他の配線と区別することができ信号伝達経路が明確化する。

次に、図５（ａ）に示すように、検査装置デバッグシステムの基本部分５７の配線情報５８に対して配線情報の入力および変換インターフェース手段６２を持つシステムについて説明する。ここで、配線情報の入力および変換インターフェース手段６２とは、汎用の図面データ入力手段（図示せず）により作成された配線図の情報を、本実施の形態の検査装置デバッグシステムの配線情報５８に取り込み、さらに本検査装置デバッグシステムが処理できるデータ形式に変換する手段である。

通常、配線図は汎用の図面データ入力手段により作成される。そこで、本実施の形態では、このような図面データ入力手段により作成された配線情報を、上記配線情報の入力手段により本検査装置デバッグシステムに取り込む。それと同時に、入力された配線情報は変換インターフェース手段により、本検査装置デバッグシステムが処理できるデータ形式に変換され、配線情報５８とする。

また、図５（ａ）に示すように、上述の配線情報の入力および変換インターフェース手段６２に対する代替手段または選択手段として、配線情報の直接入力手段６３を有する検査装置デバッグシステムについて説明する。ここで、配線情報の直接入力手段６３とは、本検査装置デバッグシステムに備えられている図面データ入力手段のことである。

すなわち、検査装置の開発時に、本検査装置デバッグシステムの配線情報の直接入力手段６３を用いて、配線図など検査装置の構成要素の図面を作成していく。この過程で、本検査装置デバッグシステムが処理できる配線情報のデータ形式で配線情報５８が作成される。

実施の形態２．
この発明の実施の形態２では、検査装置にハードウェアを拡張するための手段がある場合に、検査装置のハードウェア拡張部分の構成に関する情報を、実施の形態１の接続情報に取り込んで、拡張されたハードウェア部分までを含めて信号伝達経路を検索するようにする。

以下、この発明の実施の形態２を図面に基づいて説明する。図５（ｂ）はこの発明の実施の形態２による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。一般に検査装置を開発する場合には、構成図を作成したりその構成要素のつながりを作成したりするコンフィギュレーション６４という作業を行う。そして、接続情報は、主にこのコンフィギュレーション６４によって得られる情報である。また、検査装置にハードウェアを拡張するための手段がある場合、拡張されたハードウェアの検査装置上の位置やそのハードウェアの端子などの情報も、コンフィギュレーション６４により得られる。これは、図５（ａ）にある増設ハードウェア情報６５である。本実施の形態では、検索手段６０は、増設ハードウェア情報６５を接続情報５９に加え、この接続情報５９と配線情報５８とから信号伝達経路を検索する。

例えば、図１１に示すように、検査装置のハードウェア拡張手段がベース基板９４上のスロット９９、１００、１０１、１０２であり、拡張されるハードウェアが前記スロット９９、１００、１０１、１０２に増設される増設ボード９８である場合について説明する。この場合、コンフィギュレーション６４により、増設されたボード９８のスロット番号、増設されたボードの種類や機能、増設されたボード９８において外部のハーネスになどに接続されるコネクタ９６や端子９７の番号等の情報が、増設ハードウェア情報６５として作成される。接続情報５９は上記の増設ハードウェア情報６５を取り込む。これにより、配線情報５８と接続情報５９とから、端子や配線を検索することにより得られる信号伝達経路に、ハーネスや配線変換基板や冶具の配線や端子に加え、拡張した増設ボード９８のスロット９９の番号やコネクタ９６の番号やコネクタ上の端子９７の番号も含むことができる。その結果、信号伝達経路を調べる場合、容易にハードウェアが拡張されたスロット９９の位置やコネクタ９６の番号、その端子９７の番号を知ることができる。

実施の形態３．
この発明の実施の形態３では、プログラム内変数と検査装置の入出力端子との接続情報を、検査装置デバッグシステムの基本部分５７における接続情報５９に含めて検索できるようにする。

以下、この発明の実施の形態３を図面に基づいて説明する。図５（ｃ）はこの発明の実施の形態３による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。図５（ｃ）に示すように、プログラム編集６６に際して、使用されるプログラム内変数６８と検査装置の入出力端子との接続情報が得られる。例えば、検査対象に試験信号を与える場合、プログラム中で使用されるこの試験信号の値を格納するプログラム内変数６８と、実際にこの試験信号が出力される検査装置の端子の番号である。このプログラム内変数６８と検査装置の入出力端子との接続情報も、上記検査装置デバッグシステムの基本部分５７である接続情報５９に取り込む。

その結果、プログラム内変数と検査装置の入出力端子との接続情報も接続情報５９に含めて検索され、所望の信号伝達経路が得られる。この信号伝達経路の中には、上記プログラム内変数６８と検査装置の入出力端子の接続情報から得られる結果も含まれ、例えば、図８（ｂ）のようにプログラム内変数８１と信号伝達経路上の端子の関係を検索結果として示すことも可能である。

実施の形態４．
この発明の実施の形態４では、実施の形態３のプログラム内変数に加え、プログラム編集により作成されるプログラムを、検査装置デバッグシステムの接続情報に含めて検索できるようにする。

以下、この発明の実施の形態４を図面に基づいて説明する。図５（ｄ）はこの発明の実施の形態４による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。図５（ｄ）に示すように、プログラム内変数６８に加え、プログラム編集６６により作成されるプログラム６７を、本検査装置デバッグシステムの基本部分５７における接続情報５９に含めるようにする。この場合に信号伝達経路の検索を実施した場合、例えば、図８（ｂ）のような検索結果を得ることができる。さらにこの実施例の場合には、プログラムとの関係も示すことができる。例えば、プログラム内でプログラム内変数８１と関連する箇所の表示の仕方を他の情報と区別して示すことができる。これにより、検査装置のデバッグ作業において、容易にプログラムと信号伝達経路の関係を知ることができる。

実施の形態５．
この発明の実施の形態５では、プログラム内変数に対応するタグ情報を、プログラム内変数の代替又は追加情報として、検査装置デバッグシステムの接続情報に取り込み、検索できるようにする。

以下、この発明の実施の形態５を図面に基づいて説明する。図５（ｅ）はこの発明の実施の形態５による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。一般に、タグは、プログラム編集６６またはコンフィギュレーション６４の作業の際に作成される。検査装置開発者は、そのプログラム内変数６８に対するプログラム上での意味をタグとして登録する。タグ情報６９は、与えられたタグと対応するプログラム内変数６８又は検査装置との入出力端子との関係を示す情報である。

例えば、タグとしてプログラム内変数６８に対し「アナログ出力値」を与える。この場合、図８（ｂ）におけるプログラム内変数８１の代わりに、あるいは併記して、対応するタグが表示される。その結果、デバッグ作業者は、信号伝達経路上の信号がどんな意味を持つものであるかを、実際に測定する前に類推することができる。

実施の形態６．
この発明の実施の形態６では、上記実施の形態で説明した検査装置デバッグシステムにおいて、配線情報５８、接続情報５９、並びにこれらの情報に基づいて信号伝達経路情報を検索する検索手段６０を格納する手段５７と、上記信号伝達経路に関する情報を出力する出力手段６１と、上記２つの手段の間で情報を伝達するための通信手段１０４とを備え、情報の所在地から離れた地点で所望の情報や所望の信号伝達経路の検索結果を得ることを特徴とする。

以下、この発明の実施の形態６を、図６及び図７を参照しながら説明する。この実施の形態の構成は、実施の形態１〜実施の形態６の構成に加え、配線情報５８や接続情報５９などの必要な情報を格納する手段１０３と、信号伝達経路を検索した結果などを表示する出力手段６１と、上記の２つの手段の間で情報を伝達するための通信手段１０４により構成されている。

図７に示した具体例では、必要情報を格納する格納手段１０３は、サーバー１０７である。信号伝達経路を検索した結果などを表示する出力手段６１は端末１０８であり、通信手段１０４はＬＡＮ１０５および中継装置１０６となる。

以上のように実施の形態６によれば、所望の配線情報や接続情報や検索した信号伝達経路を出力する手段と、配線情報や接続情報を格納する手段とを分離することにより、検査装置の設置現場あるいはデバッグ現場へ持って行く上記出力手段を小型化できるという効果がある。さらに、必要情報を作業環境から離れた場所に格納するため、現場環境や作業者の不注意などに起因する不慮の情報消失や紛失や汚損を防ぐという効果もある。

この発明の前提技術による検査装置の構成を示す図である。 図１の検査装置のプログラムによる検査手順の流れ図と、試験信号及び応答信号の流れを示す図である。 図１の検査装置におけるＤＡ変換器と配線変換基板間のハーネスの配線図である。 図１の検査装置における配線変換基板の配線図である。 図１の検査装置における配線変換基板と冶具間のハーネスの配線図である。 図１の検査装置における冶具の配線図である。 図１の検査装置において従来手法でデバッグする手順の流れ図である。 この発明の実施の形態１による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態２による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態３による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態４による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態５による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態６による検査装置デバッグシステムの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態６による検査装置デバッグシステムの具体例を示す図である。 この発明の実施の形態１の検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路を一覧表として出力した図である。 この発明の実施の形態４の検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路を一覧表として出力した図である。 図３（ａ）の配線図において、実施の形態１の検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路をハイライトして出力した図である。 図３（ｂ）の配線図において、実施の形態１の検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路をハイライトして出力した図である。 図３（ｃ）の配線図において、実施の形態１の検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路をハイライトして出力した図である。 図３（ｄ）の配線図において、実施の形態１の検査装置デバッグシステムにより検索された信号伝達経路をハイライトして出力した図である。 この発明の実施の形態の検査装置デバッグシステムによる検索の流れを示すフローチャート図である。 この発明の実施の形態２におけるハードウェアを拡張する手段を持つ検査装置を示す図である。

符号の説明

１ 表示デバイス
２ 電子計算機
３ ＤＡ変換回路
４，６，９ ハーネス
５ 配線変換基板
７ 検査対象
８ 冶具
１０ ＡＤ変換回路
３６、４１、４６、５２ 配線図
３７、４２、４５、４７、４９、５０、５３、５５ コネクタ
３８、４３、４４、４８、５１、５４、５６ ピン
３９ １番ピン
４０ ピンの名称
５７ 検査装置デバッグシステムの基本部分
５８ 配線情報
５９ 接続情報
６０ 検索手段
６１ 出力手段
６２ 配線情報の入力および変換インターフェース手段
６３ 配線情報の直接入力手段
６４ コンフィギュレーション
６５ 増設ハードウェア情報
６６ プログラム編集
６７ プログラム
６８ プログラム内変数
６９ タグ情報
７６ 所望の端子
７７ 一覧表
７８ 検査装置の構成要素を示す列
７９ コネクタの番号を示す列
８０ ピンの番号を示す列
８１ プログラム内変数
８２〜９３、１０９ ハイライト

Claims (8)

1. プログラムに従って検査を行う検査装置のデバッグシステムであって、
   上記検査装置を構成する構成要素の内部の配線情報と、上記構成要素相互間の接続情報と、上記配線情報及び上記接続情報に基づいて信号伝達経路を検索する検索手段を備え、任意の端子又は任意の配線を指定することにより所望の信号伝達経路情報を得ることを特徴とする検査装置デバッグシステム。
2. 上記配線情報と上記接続情報を格納する格納手段と、上記情報又は検索した信号伝達経路に関する情報を出力する出力手段と、上記格納手段と上記出力手段の間で情報を伝達するための通信手段とを有し、上記情報の所在地から離れた地点で所望の情報や所望の信号伝達経路の検索結果を得ることを特徴とする請求項１に記載の検査装置デバッグシステム。
3. 上記配線情報に、図面データ入力手段等により作成された配線情報を入力すると共に、当該検査装置デバッグシステムが処理できるデータ形式に変換するための配線情報の入力および変換インターフェース手段を備えたことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の検査装置デバッグシステム。
4. 上記配線情報に、配線情報を直接入力する配線情報の直接入力手段を備えたことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の検査装置デバッグシステム。
5. 検査装置にハードウェアを拡張するための手段がある場合に、検査装置のハードウェア拡張部分の構成に関する情報を格納する増設ハードウェア情報を備え、拡張されたハードウェア部分を含めて信号伝達経路を検索することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の検査装置デバッグシステム。
6. プログラム内変数及び検査装置の入出力端子との接続情報を備え、プログラム内変数と検査装置の入出力端子を含めて信号伝達経路を検索することを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の検査装置デバッグシステム。
7. プログラム内変数に対応するタグ情報を備え、タグ情報を含めて信号伝達経路を検索することを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の検査装置デバッグシステム。
8. 検査のためのプログラム情報を備え、上記プログラムと、上記プログラム内変数、上記タグ情報、並びに上記検索した信号伝達経路との関係を示すことを特徴とする請求項６又は請求項７に記載の検査装置デバッグシステム。
   

Images