KR20060108257A - 검사 장치 디버그 시스템 - Google Patents

Abstract

검사 장치 및 검사 장치를 구성하는 구성 요소의 각 도면을 참조하여 신호 경로를 순차적으로 더듬는 일 없이, 필요한 신호의 전달 경로나 관련되는 정보를 용이하게 알 수 있는 검사 장치 디버그 시스템을 제공한다. 검사 장치를 구성하는 구성 요소의 내부의 배선 정보(58)와, 구성 요소 상호 사이의 접속 정보(59)와, 배선 정보(58) 및 접속 정보(59)에 의거하여 신호 전달 경로를 검색하는 검색 수단(60)을 구비하고, 임의의 단자 또는 임의의 배선을 지정함에 의해 소망하는 신호 전달 경로 정보를 얻는다. 또한, 배선 정보의 입력 및 변환 인터페이스 수단(62)과, 배선 정보의 직접 입력 수단(63)과, 검사 장치의 하드웨어 확장 부분의 구성에 관한 정보를 격납하는 증설 하드웨어 정보(65)와, 프로그램 내 변수 및 검사 장치의 입출력 단자와의 접속 정보(68)와, 프로그램 내 변수에 대응하는 태그 정보(69)를 구비하고, 이들의 정보를 포함하여 신호 전달 경로를 검색하는 것을 특징으로 한다.

검사 장치

Description

검사 장치 디버그 시스템{TESTING DEVICE DEBUG SYSTEM}

도 1은 본 발명의 전제 기술에 의한 검사 장치의 구성을 도시한 도면.

도 2는 도 1의 검사 장치의 프로그램에 의한 검사 순서의 흐름도와, 시험 신호 및 응답 신호의 흐름을 도시한 도면.

도 3a는 도 1의 검사 장치에 있어서의 DA 변환기와 배선 변환 기판 사이의 하니스의 배선도.

도 3b는 도 1의 검사 장치에 있어서의 배선 변환 기판의 배선도.

도 3c는 도 1의 검사 장치에 있어서의 배선 변환 기판과 지그 사이의 하니스의 배선도.

도 3d는 도 1의 검사 장치에 있어서의 지그의 배선도.

도 4는 도 1의 검사 장치에 있어서 종래 수법으로 디버그하는 순서의 흐름도.

도 5a는 본 발명의 제 1의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도.

도 5b는 본 발명의 제 2의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도.

도 5c는 본 발명의 제 3의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도.

도 5d는 본 발명의 제 4의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도.

도 5e는 본 발명의 제 5의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도.

도 6은 본 발명의 제 6의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도.

도 7은 본 발명의 제 6의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구체적인 예를 도시한 도면.

도 8a는 본 발명의 제 1의 실시예의 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로를 일람표로서 출력한 도면.

도 8b는 본 발명의 제 4의 실시예의 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로를 일람표로서 출력한 도면.

도 9a는 도 3a의 배선도에 있어서, 제 1의 실시예의 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로를 하이라이트하여 출력한 도면.

도 9b는 도 3b)의 배선도에 있어서, 제 1의 실시예의 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로를 하이라이트하여 출력한 도면.

도 9c는 도 3c)의 배선도에 있어서, 제 1의 실시예의 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로를 하이라이트하여 출력한 도면.

도 9d는 도 3d의 배선도에 있어서, 제 1의 실시예의 검사 장치 디버그 시스 템에 의해 검색된 신호 전달 경로를 하이라이트하여 출력한 도면.

도 10은 본 발명의 실시예의 검사 장치 디버그 시스템에 의한 검색의 흐름을 도시한 플로우 차트도.

도 11은 본 발명의 제 2의 실시예에 있어서의 하드웨어를 확장하는 수단을 갖는 검사 장치를 도시한 도면.

<부호의 설명>

1 : 표시 디바이스 2 : 전자계산기

3 : DA 변환 회로 4, 6, 9 : 하니스

5 : 배선 변환 기판 7 : 검사 대상

8 : 지그 10 : AD 변환 회로

36, 41, 46, 52 : 배선도

37, 42, 45, 47, 49, 50, 53, 55 : 커넥터

38, 43, 44, 48, 51, 54, 56 : 핀 39 : 1번 핀

40 : 핀의 명칭

57 : 검사 장치 디버그 시스템의 기본 부분

58 : 배선 정보 59 : 접속 정보

60 : 검색 수단 61 : 출력 수단

62 : 배선 정보의 입력 및 변환 인터페이스 수단

63 : 배선 정보의 직접 입력 수단 64 : 컨피규레이션

65 : 증설 하드웨어 정보 66 : 프로그램 편집

67 : 프로그램 68 : 프로그램 내 변수

69 : 태그 정보 76 : 소망하는 단자

77 : 일람표

78 : 검사 장치의 구성 요소를 나타내는 열

79 : 커넥터의 번호를 나타내는 열 80 : 핀의 번호를 나타내는 열

81 : 프로그램 내 변수 82 내지 93, 109 : 하이라이트

기술분야

본 발명은 전기 제품, 기계 제품 등 일반 공업 제품의 생산 라인이나 생산 시스템에서 행하여지는 제품 검사에 적용되는 검사 장치에 관한 것으로, 검사의 순서나 판단 처리를 검사 대상에 따라 프로그래밍에 의해 실현하는 프로그래머블한 검사 장치 디버그 시스템에 관한 것이다.

종래기술

종래, 컴퓨터 프로그램 방법으로서, 복수의 실행 가능 함수 및 복수의 데이터 형식을 정의하는 정보를 격납하는 메모리와, 가상적인 장치 및 장치의 적어도 하나를 제어하기 위해 화상을 디스플레이하는 디스플레이 수단과, 유저의 입력을 수취하는 수단과, 데이터 프로세서를 포함하는 컴퓨터를 프로그램한 방법으로서, 해당 방법은 상기 디스플레이 수단상의 데이터 플로우도로서, 상기 복수의 실행 가능 함수의 어느 하나에 대응하는 함수 아이콘과, 상기 복수의 데이터 형식의 어느 하나에 대응하는 변수 아이콘과, 상기 데이터 플로우도의 제어의 흐름을 나타내는 스케줄 아이콘과, 상기 함수 아이콘, 상기 변수 아이콘 및 상기 스케줄 아이콘을 서로 접속하는 아크를 포함하는 데이터 플로우도를 상기 유저의 입력에 따라 조립하는 데이터 플로우도 조립 스텝과, 유저의 입력에 따라 디스플레이상에 전면 패널(front pane1)을 조립하는 전면 패널 조립 스텝과, 실행 가능 프로그램으로서, 상기 함수 아이콘에 의해 나타나고, 및 상기 아크에 의해 나타난 바와 같이 서로 접속된 하나 이상의 상기 실행 가능 함수를 포함하고, 및 상기 스케줄 아이콘에 의해 나타난 바와 같이 상기 적어도 하나의 제 1 함수 아이콘에 대해 확립된 제어 플로우를 갖는 실행 가능 프로그램을 상기 데이터 플로우도 및 상기 실행 가능 프로그램에 대한 유저 인터페이스를 주는 상기 전면 패널에 따라 생성하는 실행 가능 프로그램 생성 스텝을 구비하고, 상기 데이터 플로우도 조립 스텝은 상기 데이터 플로우도중 적어도 하나의 제 1 함수 아이콘을 상기 데이터 플로우도중 상기 스케줄 아이콘 내에 실질적으로 두는 스텝을 포함하고, 상기 실행 가능 프로그램은 상기 적어도 하나의 제 1 함수 아이콘을 상기 스케줄 아이콘 내에 실질적으로 두는 것에 의해 나타난 바와 같이 상기 적어도 하나의 제 1 함수 아이콘에 대해 확립된 제어 플로를 가지며, 상기 데이터 플로우도 조립 스텝은 상기 데이터 플로우도중 적어도 하나의 제 2 함수 아이콘을 상기 데이터 플로우도중 상기 스케줄 아이콘 외에 실질적으로 두는 스텝을 포함하고, 상기 실행 가능 프로그램은 상기 적어도 하 나의 제 2 함수 아이콘을 상기 스케줄 아이콘 외에 실질적으로 두기 위해, 상기 적어도 하나의 제 2 함수 아이콘에 대해 확립된 제어 플로를 갖지 않는 것을 특징으로 하는 것이 있다. (예를 들면, 특허 문헌 1 참조)

또한, 종래, 와이어 하니스를 구성하는 각 전선의 양단에 각각 접속된 커넥터의 각 단자에 대해, 다른 단자와의 도통의 유무를 검사하여 와이어 하니스의 양부를 시험하는 와이어 하니스 시험 장치에 있어서, 하나의 제어국과, 각각이 상기 커넥터의 단자 중 소정의 단자의 도통 검사를 분담한 복수의 검사국을 구비하고, 상기 제어국이, 정규의 접속 데이터를 기억한 정규 접속 기억 수단과, 검사 시작에 따라 상기 기억 수단에 기억되어 있는 상기 정규의 접속 데이터를 판독하고 상기 복수의 검사국에 전송하는 판독 전송 수단과, 상기 커넥터의 단자 중에서 하나를 순번대로 선택하고 해당 선택한 단자를 드라이브하는 지시를 발생하고 상기 복수의 검사국에 대해 출력하는 드라이브 지시 출력 수단과, 해당 드라이브 지시 출력 수단에 의해 선택되고 드라이브 지시된 상기 드라이브 단자와 다른 단자와의 사이의 도통 검사를 시작하는 지시를 발생하고 상기 복수의 검사국에 대해 출력하는 검사 시작 지시 출력 수단과, 해당 검사 시작 지시 출력 수단에 의해 시작된 도통 검사의 결과를 수집하는 지시를 발생하고 상기 복수의 검사국에 대해 출력하는 수집 지시 출력 수단을 가지며, 상기 복수의 검사국의 각각이, 상기 판독 전송 수단으로부터 전송된 상기 정규의 접속 데이터를 격납하는 기억 수단과, 상기 드라이브 지시 출력 수단으로부터의 드라이브 지시에 의거하여 선택한 단자를 드라이브하는 드라이브 수단과, 상기 검사 시작 지시 출력 수단으로부터의 검사 시작 지시에 따라 상 기 드라이브 수단에 의해 드라이브된 단자와 해당 드라이브된 단자를 제외하고 해당 검사국이 분담한 단자와의 도통을 순번대로 검사하여 접속 데이터를 형성하는 검사 수단과, 해당 검사 수단에 의해 형성된 접속 데이터와 상기 기억 수단에 격납되어 있는 상기 정규의 접속 데이터를 대조하여 검사 결과 데이터를 형성하는 대조 수단과, 상기 수집 지시 출력 수단으로부터의 수집 지시에 따라 상기 대조 수단에 의해 형성한 검사 결과 데이터를 상기 제어국에 대해 송출하는 결과 송출 수단을 가지며, 상기 제어국이, 상기 복수의 검사국의 상기 결과 송출 수단으로부터 송출되어 오는 상기 검사 결과 데이터를 수집하고, 해당 수집한 검사 결과 데이터에 의해 와이어 하니스의 양부를 시험하는 것을 특징으로 하는 것이 있다. (예를 들면, 특허 문헌 2 참조)

[특허 문헌 1] 특허 제3016783호(청구항 1)

[특허 문헌 2] 특허 제2907249호(청구항 1)

상기 특허 문헌 1에 있는 프로그램 방법에서는 검사 장치로서의 구성 요소에, 하니스나 배선 변환 기판이나 지그는 포함되어 있지 않았다. 따라서, 실제의 디버그 작업에 있어서는 수고나 미스를 범하기 쉽다는 점에서 문제였다.

또한, 상기 특허 문헌 2에 나타나는 하니스의 디버그 작업은 하니스 자신만에 관해 설계 미스, 조립 미스를 검사하는 것이였다. 즉, 하니스를 구성 요소의 일부로 하는 검사 장치를 디버그하는 것이 아니였다.

본 발명은 검사 장치 및 검사 장치를 구성하는 구성 요소의 각 도면을 참조하여 신호 경로를 순차적으로 더듬는 일 없이 필요한 신호의 전달 경로나 관련되는 정보를 용이하게 알 수 있는 검사 장치 디버그 시스템을 제공한다.

본 발명에 의한 검사 장치 디버그 시스템은 프로그램에 따라 검사를 행하는 검사 장치의 디버그 시스템으로서, 검사 장치를 구성하는 구성 요소의 내부 배선 정보와, 구성 요소 상호간의 접속 정보와, 이들 배선 정보 및 접속 정보에 의거하여 신호 전달 경로를 검색하는 검색 수단을 구비하고, 임의의 단자 또는 임의의 배선을 지정함에 의해 소망하는 신호 전달 경로 정보를 얻는 것을 특징으로 한다.

발명의 전제가 되는 기술

생산 라인이나 생산 시스템에서는 제조 제품에 대해 어떠한 가공 및 조립을 행한 후에, 올바르게 제품 또는 반완성 제품이 만들어져 있는지를 조사하기 위해, 검사 장치에 의한 검사가 행하여지고 있다. 검사 장치는 검사 대상인 제조 제품의 각 부위에 대해, 소정의 순서에 따라 시험 신호를 준다. 이 신호는 제조 제품의 각 기능 블록을 통과하고 응답 신호로서 검사 장치에 의해 검출된다. 이 응답 신호가 소정의 범위 내에 들어가 있는 경우, 제조 제품은 우량품이라고 판정되고, 소정의 범위 외의 경우는 불량품으로 된다. 불량품의 경우, 수정을 행하여 재차 검사 장치에 의해 검사되거나, 생산 라인으로부터 배제되거나 한다.

예를 들면, 전기 제품의 경우, 다양한 회로 블록으로 성립되어 있으나, 어느 회로 블록이 올바른 부품에 의해 올바르게 조립되어 있는지 검사하는 경우, 검사 장치는 이 회로 블록에 시험용의 전압 또는 전류를 준다. 이 시험 신호는 이 회로 블록을 통과하고, 출력 전압 또는 전류로서 외부로 출력되거나, 다음 단의 회로 블록에 전달되거나 하지만, 검사 장치는 이 출력 신호를 검출하고 소정의 규격치와 비교함에 의해 해당하는 회로 블록의 양부 판정을 행한다. 일반적으로 전기 제품은 이와 같은 회로 블록의 집합체이고, 검사 장치는 각 블록을 소정의 순서로 시험 신호에 의해 순차적으로 시험을 행하고, 최종적으로 우량품인지 불량품인지의 판정을 행한다.

도 1은 상기 소정의 순서로 순차적으로 시험을 행하는 검사 장치의 구성을 도시하는 도면이다. 도면에 있어서, 검사 장치는 일반적으로는 전자계산기(2)를 중심으로, 표시 디바이스(1), 시험 신호를 발생시키는 DA 변환 회로(3), 응답 신호를 검출하는 AD 변환 회로(10), DA 변환 회로(3) 및 AD 변환 회로(10)를 결합하기 위한 접속기 케이블(하니스)(4 및 9), 복수의 하니스를 하나의 하니스로 종합하기 위한 배선 변환 기판(5), 배선 변환 기판(5)과 지그(8)를 접속하는 하니스(6), 검사 대상(7)에 신호를 직접 주며 또한 수취하는 핀을 구비한 지그(8)로 구성되고, 이 전자계산기(2)의 일예로서, 퍼스널 컴퓨터를 들 수 있다. 여기서, 검사의 순서나, 양부 판정을 위한 기준치와 그 비교 처리는 전자계산기 내의 프로그램에 의해 기술되고 실행된다.

다음에, 도 2는 도 1의 검사 장치의 프로그램에 의한 처리와 신호의 전달의 예를 도시한다. 검사의 순서는 도 2의 플로우 차트로 도시한 프로그램에 의해 표현 되고, C나 BASIC 등의 언어에 의해 기술된다. 이 검사 순서 중에서, 시험 신호를 주는 스텝 S14에서는 DA 변환 회로(3)를 통하여 신호가 외부로 출력된다. 이 신호는 하니스(4)와 배선 변환 기판(5), 또한 다음 단의 하니스(6), 그리고 지그(8)를 경유하고 검사 대상(7)에 인가된다. 이 시험 신호는 검사 대상(7) 중의 기능 블록을 통과하고, 해당 기능 블록의 출력 신호로 된다. 이 출력 신호는 시험 신호와는 역으로, 지그(8), 하니스(6), 배선 변환 기판(5), 하니스(9), AD 변환 회로(10)를 경유하고, 검사 장치의 전자계산기(2)로 되돌아온다. 도 2의 신호 검출 스텝 S15에서는 이 AD 변환 회로(10)로부터의 신호를 프로그램의 처리 내부에 받아들인다. 그 후, 규격치와의 판정 스텝 S17에서 출력 신호와 규격치와의 비교가 행하여지고, 양부 판정 스텝 S18이 실시되고, OK(스텝 S19) 또는 NG(스텝 S2O)의 판정이 이루어진다. 또한, 도 1에서 전자계산기(2)의 표시 디바이스(1)에는 검사의 양부 판정 결과에 따라 예를 들면 OK나 NG의 메시지나, 검출한 신호의 파형 등, 검사 장치의 내부에서 행하여지고 있는 처리 상태를 사람이 외부에서 보기 쉽게 표시하는 것이 일반적이다.

다음에, 도 1과 도 2에서 도시한 검사 장치의 작성 단계에 있어서의 순서에 관해 진술한다. 검사 장치 및 그 프로그램의 작성 순서는 일반적으로, 검사 장치의 설계 도면, 각종 변환 회로나 하니스의 배선도, 검사 순서의 플로우 차트, 플로우 차트를 실제로 계산기에 실행시키기 위한 프로그램 등을 순차적으로 작성하고, 도면과 배선도에 따른 하드웨어의 작성 및 조립을 행하고, 프로그램은 전기 계산기에 조립되고, 검사 장치 전체가 구성된다. 그리고 다음에는 디버그라고 불리는 작업이 행하여진다. 이 디버그는 도면이나 배선도, 또는 작성한 하드웨어에 설계 또는 조립의 잘못이 없는지, 또한 프로그램에도 설계 미스나 코딩 미스가 없는지를 검사 장치를 동작시키면서 확인하고, 잘못이 발견된 경우는 이것을 수정하여 가는 작업이다. 디버그가 완료되고, 검사 장치의 동작이 정상인 것을 확인할 수 있으면, 검사 장치의 작성이 종료되고, 생산 라인 등에 반입되어, 이후는 가동으로 된다.

이 디버그 작업에서 가장 일반적인 수법은 프로그램을 스텝적으로 실행하여 가고, 프로그램의 로직이 올바른지, 프로그램 내의 각 변수의 데이터는 올바른지를 순차적으로 확인하고, 특히 도 2의 DA 변환 스텝 S14에서 프로그램 내의 변수가 DA 변환되고, 이것이 신호로서 올바르게 말단의 지그(8)의 핀까지 도착하고 있는지를 오실로스코프나 테스터 등의 계측기기로 파형을 관측하고, 이것이 원래의 프로그램 내의 변수 변화와 동등한지를 확인하는 것이다. 마찬가지로, AD 변환 스텝 S15에서, 지그(8)의 핀으로 계측기기에 의해 관측되는 신호가 프로그램 내의 소정의 변수에 올바르게 판독되는지를 변수의 변화를 보고 확인한다. 이 디버그 작업에서, 예를 들면 가령 DA 변환된 신호 파형이 지그(8)의 핀으로 올바르게 관측되지 않은 경우, DA 변환 회로(3), 하니스(4), 배선 변환 기판(5), 또는 하니스(6)의 어느 하나에 설계 미스 또는 조립 미스가 있는 것이라고 판단하고, 이번에는 지그(8)의 핀이 아니라, 하니스나 배선 변환 기판, DA 변환 회로의 각 부위에서 검출되는 신호를 계측기기로 관측하고, 미스의 부분을 특정하고, 이것을 수정하여 간다.

이 경우, 프로그램 또는 프로그램에 관한 자료, 검사 장치의 구성도, 구성 요소의 표, 개개의 구성 요소의 배선도 등 각 도면이, 디버그 작업을 하는 현장으 로 가지고 들어가진다. 관측하여야 할 부위를 알기 위해서는 또는 관측한 부위에 연결되는 신호 경로를 알기 위해서는 그 부위의 구성 요소의 배선도로부터 다음 단의 구성 요소에 연결되는 부위를 조사하고, 계속해서 구성도로부터 이들 구성 요소의 도면 사이의 연결을 조사하고, 또한 다음 단의 배선도로부터 그 다음 단의 구성 요소에 연결되는 부위를 조사한다는 작업을 목적하는 구성 요소의 부위까지 반복한다.

예를 들면, 도 1의 검사 장치에 있어서, 지그(8)의 1번 핀을 관측하여 얻은 출력 신호의 파형이나 값이, 검사 장치 개발자가 의도한 출력 신호의 파형이나 값과 달라진 경우, 도 4에 도시한 바와 같은 순서로 디버그 작업이 행하여지다. 또한, 이하의 설명 중에서, 도 3a는 도 1의 검사 장치의 DA 변환기(3)와 배선 변환 기판(5) 사이의 하니스의 배선도, 도 3b는 도 1의 검사 장치의 배선 변환 기판(5)의 배선도, 도 3c는 도 1의 검사 장치의 배선 변환 기판(5)과 지그(8) 사이의 하니스의 배선도, 도 3d는 도 1의 검사 장치의 지그(8)의 배선도를 도시하고 있다.

도 4에 있어서, 1번 핀(39)의 디버그 작업(21)은 우선 지그(8)의 배선도 참조 스텝 S22로부터 시작된다. 즉, 도 3d에 도시한 지그(8)의 배선도(36)를 취출하고 1번 핀(39)이 연결되어 있는 커넥터(37)의 번호와 그 핀(38)의 번호를 조사한다. 그리고, 지그(8)상의 해당 커넥터(37)의 핀(38)에 대해 출력 신호를 관측한다(스텝 S23). 여기서, 출력 신호가 검사 장치 개발자가 의도한 것인지의 여부를 조사하고(스텝 S24), 출력 신호가 검사 장치 개발자가 의도한 것이라면 작업을 완료한다. 여기서, 출력 신호가 검사 장치 개발자가 의도한 것과 다른 경우, 검사 장치 의 도 1의 구성도를 참조(스텝 S25)하여, 지그(8)에 접속되어 있는 하니스(6)를 확인하고, 도 3c에 도시한 하니스(6)의 배선도(41)를 참조한다(스텝 S26). 이 하니스(6)의 배선도(41)로부터, 지그(8)의 1번 핀(39)에 연결되는 하니스(6)상의 커넥터(45)의 번호와 핀(44)의 번호를 조사하고, 이것에 대해 출력 신호를 관측한다(스텝 S27). 여기서, 출력 신호가 검사 장치 개발자가 의도한 것인지의 여부를 조사하고(스텝 S28), 출력 신호가 검사 장치 개발자가 의도한 것과 다른 경우, 도 1의 검사 장치의 구성도를 참조(스텝 S3O)하여, 하니스(6)에 접속되어 있는 배선 변환 기판(5)을 확인하고, 도 3b)에 도시한 배선도(46)를 참조한다(스텝 S31). 이 배선 변환 기판(5)의 배선도(46)로부터, 지그(8)의 1번 핀(39)에 연결되는 배선 변환 기판(5)상의 커넥터(47, 50)의 번호와 핀(48, 51)의 번호를 조사하고, 이것에 대해 출력 신호를 관측한다(스텝 S32). 여기서, 이 배선도(46)에서 출력 신호 경로의 상류측의 커넥터(47)상에서 의도한 신호가 관측되고, 그 하류측의 커넥터(50)상에서는 의도한 신호가 관측되지 않았다고 하면, 이 배선 변환 기판(5)에 어떠한 이상이 있다고 판단하여 가는 것이다.

또한, 프로그램이나 프로그램에 관한 자료도 참조하여, 관측하는 부위와 프로그램 내 변수나 프로그램과의 관계를 조사하고, 실제의 관측 결과와 대비시킴에 의해, 검사 장치의 하드웨어 및 소프트웨어의 디버그 작업을 진척시켜 간다. 여기서, 프로그램 내 변수란, 프로그래머블한 검사 장치에 주어진 변수인 것으로, 유저가 프로그램 내에서 취급하는 입력이나 출력의 번호이거나, 또는 카운터 값이나 아날로그 값 등의 수치나 비트열을 격납하는 레지스터이기도 한다.

상기 특허 문헌 1에 있는 검사 장치에서는 예를 들면 상기 도 1에 대비시키면, 전자계산기(2)와, 시험 신호를 발생시키는 DA 변환 회로(3)와, 응답 신호를 검출하는 AD 변환 회로(10)와, 경우에 따라서는 표시 디바이스(1)가 종래의 검사 장치의 구성 요소의 범위(11)로 되어 있다. 또한, 상기 특허 문헌 2에 관한 하니스의 디버그에 관한 사례에서는 하니스 자신의 설계 미스, 조립 미스를 검사하는 것이다.

상기 특허 문헌 1에 있는 검사 장치에서는 검사 장치로서의 구성 요소에, 하니스나 배선 변환 기판이나 지그는 포함되어 있지 않았다. 따라서, 실제의 디버그 작업에서는 수고나 미스를 범하기 쉽다는 점에서 문제였다. 즉, 디버그에 즈음하여, 관측하여야 할 부위를 알기 위해서는 또는 관측한 부위에 연결되는 신호 경로를 알기 위해서는 그 부위의 구성 요소의 배선도로부터 다음 단의 구성 요소에 연결되는 부위를 조사하고, 계속해서 구성도로부터 이들 구성 요소의 도면 사이의 연결을 조사하고, 또 다음 단의 배선도로부터 다음다음 단의 구성 요소에 연결되는 부위를 조사한다는 작업을 목적의 구성 요소의 부위까지 반복한다. 이와 같이 배선도상의 신호 경로를 수작업에 의해 추적하고 있거나, 또한 몇장의 도면에 걸쳐 신호 경로를 추적하거나 하는 작업은 수고가 들고, 또한, 미스를 범하기 쉽다. 또한, 이러한 미스는 목적하는 디버그 작업의 효율을 현저하게 저하시키는 원인이기도 하다.

일반적으로는 상기한 바와 같은 하니스나 배선 변환 기판, 지그 등의 도면은 범용의 도면 데이터 입력 수단에 의해 작도되기 때문에, 검사 장치의 구성이나 디 버그 시스템과는 독립하여 제각기 관리된 것이다. 이 때문에, 이들의 제각기 관리된 정보와, 구성도나 프로그램 내 변수, 프로그램, 태그라는 정보를 링크시켜 취급할 수 없고, 상기한 문제점과 마찬가지로, 관측하는 부위와의 관계를 알기 위해서는 각 도면을 참조하여 대응하는 정보를 조사한다는 작업이 필요하였다. 이 작업의 경우도, 수고가 들고, 또한, 미스를 범하기 쉽다는 문제점이 있다. 여기서 태그란, 검사 장치가 갖는 프로그램 내 변수나 입출력 단자 번호에 대해 부여하는 임의의 명칭인 것이다.

또한, 상기 특허 문헌 2에 나타나는 하니스의 디버그에 관한 사례에서는 하니스 자신만에 관해 설계 미스, 조립 미스를 검사하는 것이였다. 즉, 하니스를 구성 요소의 일부로 하는 검사 장치를 디버그 하는 것이 아니고, 따라서 상기한 과제를 해결하는 것이 아니었다.

또한, 디버그시에 상기한 바와 같이 각 도면을 검사 장치의 설치 현장 또는 디버그 현장에 갖고 갈 필요가 있어, 많은 도면을 운반한다는 노력을 필요로 하거나, 현장 환경이나 작업자의 부주의 등에 기인하는 정보의 소실, 분실 또는 오손이 일어나거나 한다는 다른 문제점이 있다.

본 발명은 상기한 바와 같이 각 도면을 참조하여 신호 경로를 순차적으로 더듬는 일 없이, 필요한 신호의 전달 경로나 관련되는 정보를 용이하게 알 수 있는 검사 장치 디버그 시스템을 제공한다.

제 1의 실시예

이하, 본 발명의 실시예를 도면을 참조하면서 설명한다. 도 5a는 본 발명의 제 1의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도이다.

도 5a에 도시한 바와 같이, 본 실시예의 검사 장치 디버그 시스템의 기본 부분(57)은 검사 장치를 구성하는 배선 변환 기판이나 지그 등의 구성 요소의 내부의 배선 정보(58)와, 검사 장치의 각각 구성 요소 사이의 접속 정보(59)와, 상기 배선 정보(58) 및 상기 접속 정보(59)에 의거하여 소망하는 신호 전달 경로를 검색하는 검색 수단(60)으로 구성되어 있다. 출력 수단(61)은 검색 수단(60)에 의해 추출된 신호 전달 경로 등의 결과를 출력하는 것으로, 디스플레이, 프린터 등으로 구성된다.

상기 배선 정보(58)는 도 1의 검사 장치를 예로 들면, 해당 검사 장치를 구성하는 배선 변환 기판(5)이나, 지그(8)의 내부의 배선 정보를 의미하고, 도 3b)에 도시한 배선 변환 기판(5)의 내부의 배선 정보나, 도 3d에 도시한 지그(8)의 내부의 배선 정보 등이 격납되어 있다.

상기 접속 정보(59)는 도 1의 검사 장치를 예로 들면, 해당 검사 장치를 구성하는 DA 변환 회로(3), 배선 변환 기판(5), 지그(8) 사이의 접속 정보를 의미하고, 도 3a에 도시한 DA 변환 회로(3) - 배선 변환 기판(5) 사이의 접속 정보나, 도 3에 도시한 배선 변환 기판(5) - 지그(8) 사이의 접속 정보가 격납되어 있다.

본 실시예의 검사 장치 디버그 시스템을 활용한 디버그 작업에 즈음하여, 디버그 작업자는 검색 수단(60)을 이용하여, 소망하는 단자 또는 배선 등을 배선 정보(58) 및 접속 정보(59)로부터 검색하고, 소망하는 신호 전달 경로를 추출함에 의해 실시된다.

이하, 본 실시예의 검사 장치 디버그 시스템에 의한 검색의 흐름의 예를 도 10의 플로우 차트에 의해 설명한다. 우선, 소망하는 단자를 지정하여 배선 정보(58)로부터, 그 단자에 접속되어 있는 다른 단자를 검색한다. 즉, 소망하는 단자를 이용하여 배선 정보(58)로부터 검색하는 스텝 71이다. 다음에, 스텝 71에 의해 검색된 정보와 접속 정보(59)로부터, 접속되어 있는 구성 요소나 커넥터의 번호, 핀의 번호가 검색된다. 즉, 접속 정보로부터 접속되어 있는 구성 요소를 검색하는 스텝 72이다. 다음에, 스텝 73에서, 상기 스텝 72에서 접속되어 있는 구성 요소가 있는지의 여부를 판정하고, 접속되어 있는 구성 요소가 존재하면 스텝 74로 진행하고, 접속되어 있는 구성 요소가 존재하지 않으면 스텝 75로 진행하여 검색을 종료한다. 스텝 74에서는 스텝 72에서 검색된 정보와 배선 정보(58)로부터, 그 단자에 접속되어 있는 다른 단자를 검색한다. 이것은 검색 결과와 배선 정보로부터 검색하는 스텝이다. 이와 같이 하여, 배선 정보(58)와 접속 정보(59)의 검색을 반복하여 가고, 접속의 종단에 왔을 때 검색 완료 스텝 75가 된다.

예를 들면, 도 1O의 플로우 차트에 있어서의 소망하는 단자가 도 3a에 있어서의 제 1 커넥터(53)의 6번 핀(54)이라고 하면, 도 3a로부터 도 3d에 의해 얻어지는 배선 정보 및 접속 정보에 의거하여, 접속되어 있는 단자는 제 2 커넥터(55)의 5번 핀(56)이라고 검색된다. 다음에, 도 1의 구성도나 도 3a부터 도 3d에 의해 얻어지는 배선 정보 및 접속 정보에 의해, 도 3a에 있어서의 제 2 커넥터(55)의 5번 핀(56)에 접속되어 있는 단자는 도 3b에 있어서의 제 1 커넥터(47)의 5번 핀(48)이라고 검색된다. 또한, 상기한 바와 마찬가지로 배선 정보 및 접속 정보로부터, 도 3b에 있어서의 제 1 커넥터(47)의 5번 핀(48)에 접속되어 있는 것은 도 3b에 있어서의 제 3 커넥터(50)의 7번 핀(51)이고, 계속해서, 배선 정보 및 접속 정보로부터, 상기 핀(51)에 접속되어 있는 것은 도 3c에 있어서의 제 1 커넥터(42)의 1번 핀(43)이라고 검색된다. 이와 같은 작업을 반복함에 의해, 최종적으로 도 3d에 있어서의 1번 핀(39)에 당도하여 종단인 것을 확인하고, 검색 완료로 된다. 이상과 같이 하여, 소망하였던 도 3a에 있어서의 제 1 커넥터(53)의 6번 핀(54)으로부터의 신호 전달 경로는 도 3a에 있어서의 제 2 커넥터(55)의 5번 핀(56), 도 3b에 있어서의 제 1 커넥터(47)의 5번 핀(48), 도 3b에 있어서의 제 3 커넥터(50)의 7번 핀(51), 도 3c에 있어서의 제 1 커넥터(42)의 7번 핀(43), 도 3c에 있어서의 제 2 커넥터(45)의 1번 핀(44), 도 3d에 있어서의 제 1 커넥터(37)의 1번 핀(38), 도 3d에 있어서의 1번 핀(39)이라는 것과 같이 추출된다.

상기한 검색예에서는 소망하는 단자로서 도 3a에 있어서의 제 1 커넥터(53)의 6번 핀(54)을 이용하였지만, 배선 정보(58)나 접속 정보(59)에 있는 임의의 단자 또는 임의의 배선부분에서 검색을 하여도 좋다.

다음에, 본 실시 형태의 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로의 출력 양태를 나타낸다. 도 8a는 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로를 일람표(77)로서 출력한 도면이다. 도 8a에 있어서, 소망하는 단자(76)로서 배선 변환 기판 제 1 커넥터 5번 핀을 지정한 예로, 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로의 일람표(77)는 검사 장치의 구성 요소를 나타내는 열(78)과, 커넥터의 번호를 나타내는 열(79)과, 핀의 번호를 나타내는 열(80)로 나타내여진다.

도 9a 내지 도 9d는 검사 장치 디버그 시스템에 의해 검색된 신호 전달 경로를 하이라이트하여 출력한 도면이다. 즉, 도 9a부터 도 9d에 도시한 바와 같이, 배선도상에서 검색된 신호 전달 경로를 커넥터, 핀, 배선, 또는 접속의 하이라이트(82, 83, 84, 85, 86, 87, 88, 89, 90, 91, 92, 93, 109)로 표시하고 있다. 이 결과, 신호 전달 경로의 배선을 다른 배선과 구별할 수 있고 신호 전달 경로가 명확화된다.

다음에, 도 5a에 도시한 바와 같이, 검사 장치 디버그 시스템의 기본 부분(57)의 배선 정보(58)에 대해 배선 정보의 입력 및 변환 인터페이스 수단(62)을 갖는 시스템에 관해 설명한다. 여기서, 배선 정보의 입력 및 변환 인터페이스 수단(62)이란, 범용의 도면 데이터 입력 수단(도시 생략)에 의해 작성된 배선도의 정보를 본 실시예의 검사 장치 디버그 시스템의 배선 정보(58)에 받아들이고, 또한 본 검사 장치 디버그 시스템이 처리할 수 있는 데이터 형식으로 변환하는 수단이다.

통상, 배선도는 범용의 도면 데이터 입력 수단에 의해 작성된다. 그래서, 본 실시예에서는 이와 같은 도면 데이터 입력 수단에 의해 작성된 배선 정보를 상기 배선 정보의 입력 수단에 의해 본 검사 장치 디버그 시스템에 받아들인다. 그와 동시에, 입력된 배선 정보는 변환 인터페이스 수단에 의해, 본 검사 장치 디버그 시스템이 처리할 수 있는 데이터 형식으로 변환되고, 배선 정보(58)로 한다.

또한, 도 5a에 도시한 바와 같이, 상술한 배선 정보의 입력 및 변환 인터페 이스 수단(62)에 대한 대체 수단 또는 선택 수단으로서, 배선 정보의 직접 입력 수단(63)을 갖는 검사 장치 디버그 시스템에 관해 설명한다. 여기서, 배선 정보의 직접 입력 수단(63)이란, 본 검사 장치 디버그 시스템에 구비되어 있는 도면 데이터 입력 수단인 것이다.

즉, 검사 장치의 개발시에, 본 검사 장치 디버그 시스템의 배선 정보의 직접 입력 수단(63)을 이용하여, 배선도 등 검사 장치의 구성 요소의 도면을 작성하여 간다. 이 과정에서, 본 검사 장치 디버그 시스템이 처리할 수 있는 배선 정보의 데이터 형식으로 배선 정보(58)가 작성된다.

제 2의 실시예

본 발명의 제 2의 실시예에서는 검사 장치에 하드웨어를 확장하기 위한 수단이 있는 경우에, 검사 장치의 하드웨어 확장 부분의 구성에 관한 정보를 제 1의 실시예의 접속 정보에 받아들이고, 확장된 하드웨어 부분까지를 포함하여 신호 전달 경로를 검색하도록 한다.

이하, 본 발명의 제 2의 실시예를 도면에 의거하여 설명한다. 도 5b는 본 발명의 제 2의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도이다. 일반적으로 검사 장치를 개발하는 경우에는 구성도를 작성하거나 그 구성 요소의 연결을 작성하거나 하는 컨피규레이션(64)이라는 작업을 행한다. 그리고, 접속 정보는 주로 이 컨피규레이션(64)에 의해 얻어지는 정보이다. 또한, 검사 장치에 하드웨어를 확장하기 위한 수단이 있는 경우, 확장된 하드웨어의 검사 장치상의 위치나 그 하드웨어의 단자 등의 정보도, 컨피규레이션(64)에 의해 얻어진다. 이것은 도 5b)에 있는 증설 하드웨어 정보(65)이다. 본 실시예에서는 검색 수단(60)은 증설 하드웨어 정보(65)를 접속 정보(59)에 더하고, 이 접속 정보(59)와 배선 정보(58)로부터 신호 전달 경로를 검색한다.

예를 들면, 도 11에 도시한 바와 같이, 검사 장치의 하드웨어 확장 수단이 베이스 기판(94)상의 슬롯(99, 100, 101, 102)이고, 확장되는 하드웨어가 상기 슬롯(99, 100, 101, 102)에 증설되는 증설 보드(98)인 경우에 관해 설명한다. 이 경우, 컨피규레이션(64)에 의해, 증설된 보드(98)의 슬롯 번호, 증설된 보드의 종류나 기능, 증설된 보드(98)에 있어서 외부의 하니스 등에 접속되는 커넥터(96)나 단자(97)의 번호 등의 정보가, 증설 하드웨어 정보(65)로서 작성된다. 접속 정보(59)는 상기한 증설 하드웨어 정보(65)를 받아들인다. 이로써, 배선 정보(58)와 접속 정보(59)로부터, 단자나 배선을 검색함에 의해 얻어지는 신호 전달 경로에, 하니스나 배선 변환 기판이나 지그의 배선이나 단자에 더하여, 확장한 증설 보드(98)의 슬롯(99)의 번호나 커넥터(96)의 번호나 커넥터상의 단자(97)의 번호도 포함할 수 있다. 그 결과, 신호 전달 경로를 조사하는 경우, 용이하게 하드웨어가 확장된 슬롯(99)의 위치나 커넥터(96)의 번호, 그 단자(97)의 번호를 알 수 있다.

제 3의 실시예

본 발명의 제 3의 실시예에서는 프로그램 내 변수와 검사 장치의 입출력 단자와의 접속 정보를 검사 장치 디버그 시스템의 기본 부분(57)에 있어서의 접속 정보(59)에 포함하여 검색할 수 있도록 한다.

이하, 본 발명의 제 3의 실시예를 도면에 의거하여 설명한다. 도 5c는 본 발 명의 제 3의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도이다. 도 5c에 도시한 바와 같이, 프로그램 편집(66)에 즈음하여, 사용되는 프로그램 내 변수(68)와 검사 장치의 입출력 단자와의 접속 정보가 얻어진다. 예를 들면, 검사 대상에 시험 신호를 주는 경우, 프로그램 중에서 사용되는 이 시험 신호의 값을 격납하는 프로그램 내 변수(68)와, 실제로 이 시험 신호가 출력되는 검사 장치의 단자의 번호이다. 이 프로그램 내 변수(68)와 검사 장치의 입출력 단자와의 접속 정보도, 상기 검사 장치 디버그 시스템의 기본 부분(57)인 접속 정보(59)에 받아들인다.

그 결과, 프로그램 내 변수와 검사 장치의 입출력 단자와의 접속 정보도 접속 정보(59)에 포함하여 검색되고, 소망하는 신호 전달 경로를 얻을 수 있다. 이 신호 전달 경로 중에는 상기 프로그램 내 변수(68)와 검사 장치의 입출력 단자의 접속 정보로부터 얻어지는 결과도 포함되고, 예를 들면, 도 8b)과 같이 프로그램 내 변수(81)와 신호 전달 경로상의 단자의 관계를 검색 결과로서 나타내는 것도 가능하다.

제 4의 실시예

본 발명의 제 4의 실시예에서는 제 3의 실시예의 프로그램 내 변수에 더하여, 프로그램 편집에 의해 작성되는 프로그램을 검사 장치 디버그 시스템의 접속 정보에 포함하여 검색할 수 있도록 한다.

이하, 본 발명의 제 4의 실시예를 도면에 의거하여 설명한다. 도 5d는 본 발명의 제 4의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도이다. 도 5d에 도시한 바와 같이, 프로그램 내 변수(68)에 더하여, 프로그램 편집(66)에 의해 작성되는 프로그램(67)을 본 검사 장치 디버그 시스템의 기본 부분(57)에 있어서의 접속 정보(59)에 포함하도록 한다. 이 경우에 신호 전달 경로의 검색을 실시한 경우, 예를 들면, 도 8b)과 같은 검색 결과를 얻을 수 있다. 또한 이 실시 예의 경우에는 프로그램과의 관계도 나타낼 수 있다. 예를 들면, 프로그램 내에서 프로그램 내 변수(81)와 관련하는 개소의 표시의 방식을 다른 정보와 구별하여 나타낼 수 있다. 이로써, 검사 장치의 디버그 작업에 있어서, 용이하게 프로그램과 신호 전달 경로의 관계를 알 수 있다.

제 5의 실시예

본 발명의 제 5의 실시예에서는 프로그램 내 변수에 대응하는 태그 정보를 프로그램 내 변수의 대체 또는 추가 정보로서, 검사 장치 디버그 시스템의 접속 정보에 받아들이고, 검색할 수 있도록 한다.

이하, 본 발명의 제 5의 실시예를 도면에 의거하여 설명한다. 도 5e는 본 발명의 제 5의 실시예에 의한 검사 장치 디버그 시스템의 구성을 도시한 블록도이다. 일반적으로, 태그는 프로그램 편집(66) 또는 컨피규레이션(64)의 작업을 할 때 작성된다. 검사 장치 개발자는 그 프로그램 내 변수(68)에 대한 프로그램상에서의 의미를 태그로서 등록한다. 태그 정보(69)는 주어진 태그와 대응하는 프로그램 내 변수(68) 또는 검사 장치와의 입출력 단자와의 관계를 나타내는 정보이다.

예를 들면, 태그로서 프로그램 내 변수(68)에 대해 「아날로그 출력치」를 준다. 이 경우, 도 8b에 있어서의 프로그램 내 변수(81) 대신에, 또는 병기하여, 대응하는 태그가 표시된다. 그 결과, 디버그 작업자는 신호 전달 경로상의 신호가 어떤 의미를 갖는 것인지를 실제로 측정하기 전에 유추할 수 있다.

제 6의 실시예

본 발명의 제 6의 실시예에서는 상기 실시예에서 설명한 검사 장치 디버그 시스템에 있어서, 배선 정보(58), 접속 정보(59) 및 이들의 정보에 의거하여 신호 전달 경로 정보를 검색하는 검색 수단(60)을 격납하는 수단(57)과, 상기 신호 전달 경로에 관한 정보를 출력하는 출력 수단(61)과, 상기 2개 수단의 사이에서 정보를 전달하기 위한 통신 수단(104)을 구비하고, 정보의 소재지로부터 떨어진 지점에서 소망하는 정보나 소망하는 신호 전달 경로의 검색 결과를 얻는 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명의 제 6의 실시예를 도 6 및 도 7을 참조하면서 설명한다. 이 실시예의 구성은 제 1의 실시예 내지 제 6의 실시예의 구성에 더하여, 배선 정보(58)나 접속 정보(59) 등의 필요한 정보를 격납하는 수단(103)과, 신호 전달 경로를 검색한 결과 등을 표시하는 출력 수단(61)과, 상기한 2개 수단의 사이에서 정보를 전달하기 위한 통신 수단(104)에 의해 구성되어 있다.

도 7에 도시한 구체적인 예에서는 필요 정보를 격납하는 격납 수단(103)은 서버(107)이다. 신호 전달 경로를 검색한 결과 등을 표시하는 출력 수단(61)은 단말(108)이고, 통신 수단(104)은 LAN(105) 및 중계 장치(106)로 된다.

이상과 같이 제 6의 실시예에 의하면, 소망하는 배선 정보나 접속 정보나 검색한 신호 전달 경로를 출력하는 수단과, 배선 정보나 접속 정보를 격납하는 수단 을 분리함에 의해, 검사 장치의 설치 현장 또는 디버그 현장에 갖고 가는 상기 출력 수단을 소형화할 수 있다는 효과가 있다. 또한, 필요 정보를 작업 환경에서 떨어진 장소에 격납하기 때문에, 현장 환경이나 작업자의 부주의 등에 기인하는 불의의 정보 소실이나 분실이나 오손을 막는다는 효과도 있다.

본 발명에 의하면, 프로그램에 따라 검사를 행하는 검사 장치의 디버그 시스템에 있어서, 검사 장치를 구성하는 구성 요소의 내부의 배선 정보와, 구성 요소 상호간의 접속 정보와, 배선 정보 및 상기 접속 정보에 의거하여 신호 전달 경로를 검색하는 검색 수단을 구비하였기 때문에, 소망하는 신호 전달 경로를 정확하고 용이하게 알 수 있고, 디버그 작업의 효율화에 효과가 있다.

Claims (7)

1. 프로그램에 따라 검사를 행하는 검사 장치의 디버그 시스템에 있어서,

   상기 검사 장치를 구성하는 구성 요소의 내부의 배선 정보와,

   상기 구성 요소 상호간의 접속 정보와,

   상기 배선 정보 및 상기 접속 정보에 의거하여 신호 전달 경로를 검색하는 검색 수단을 구비하고,

   상기 구성 요소의 임의의 단자 또는 상기 구성 요소 사이의 임의의 배선을 지정함으로서, 상기 임의의 단자 또는 상기 임의의 배선에 접속되는 모든 상기 구성 요소의 단자 및 상기 구성 요소 사이의 배선을 추출함과 함께,

   상기 배선 정보에, 도면 데이터 입력 수단 등에 의해 작성된 배선 정보를 입력함과 함께, 해당 검사 장치 디버그 시스템이 처리할 수 있는 데이터 형식으로 변환하기 위한 배선 정보의 입력 및 변환 인터페이스 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 검사 장치 디버그 시스템.
2. 프로그램에 따라 검사를 행하는 검사 장치의 디버그 시스템에 있어서,

   상기 검사 장치를 구성하는 구성 요소의 내부의 배선 정보와,

   상기 구성 요소 상호간의 접속 정보와,

   상기 배선 정보 및 상기 접속 정보에 의거하여 신호 전달 경로를 검색하는 검색 수단을 구비하고,

   상기 구성 요소의 임의의 단자 또는 상기 구성 요소 사이의 임의의 배선을 지정함으로서, 상기 임의의 단자 또는 상기 임의의 배선에 접속되는 모든 상기 구성 요소의 단자 및 상기 구성 요소 사이의 배선을 추출함과 함께,

   검사장치에 하드웨어를 확장하기 위한 수단이 있는 경우에, 검사장치의 하드웨어 확장부분의 구성에 관한 정보를 격납하는 증설 하드웨어 정보를 구비하며, 확장된 하드웨어부분을 포함하여 신호 전달경로를 검색하는 것을 특징으로 하는 검사 장치 디버그 시스템.
3. 프로그램에 따라 검사를 행하는 검사 장치의 디버그 시스템에 있어서,

   상기 검사 장치를 구성하는 구성 요소의 내부의 배선 정보와,

   상기 구성 요소 상호간의 접속 정보와,

   상기 배선 정보 및 상기 접속 정보에 의거하여 신호 전달 경로를 검색하는 검색 수단을 구비하고,

   상기 구성 요소의 임의의 단자 또는 상기 구성 요소 사이의 임의의 배선을 지정함으로서, 상기 임의의 단자 또는 상기 임의의 배선에 접속되는 모든 상기 구성 요소의 단자 및 상기 구성 요소 사이의 배선을 추출함과 함께,

   프로그램내 변수 및 검사장치의 입출력 단자와의 접속정보를 구비하며, 프로그램내 변수와 검사장치의 입출력 단자를 포함하여 신호 전달 경로를 검색하는 것을 특징으로 하는 검사 장치 디버그 시스템.
4. 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서,

   상기 배선 정보와 상기 접속 정보를 격납하는 격납 수단과,

   상기 정보 또는 검색한 신호전달 경로에 관한 정보를 출력하는 출력 수단과,

   상기 격납 수단과 상기 출력 수단의 사이에서 정보를 전달하기 위한 통신 수단을 구비하며,

   상기 정보의 소재지로부터 떨어진 지점에서 원하는 정보나 원하는 신호전달 경로의 검색 결과를 얻는 것을 특징으로 하는 검사 장치 디버그 시스템.
5. 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서,

   상기 배선 정보에, 배선 정보를 직접 입력하는 배선정보의 직접 입력 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 검사 장치 디버그 시스템.
6. 제 3항에 있어서,

   프로그램내 변수에 대응하는 태그 정보를 구비하고, 태그 정보를 포함하여 신호전달 경로를 검색하는 것을 특징으로 하는 검사 장치 디버그 시스템.
7. 제 3항에 있어서,

   검사를 위한 프로그램 정보를 구비하며,

   상기 프로그램과, 상기 프로그램내 변수, 태그 정보 및 상기 검색한 신호 전달 경로와의 관계를 나타내는 것을 특징으로 하는 검사 장치 디버그 시스템.

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