CN111044823A - 一种复杂电子装备的多参数集成测试系统及方法 - Google Patents

一种复杂电子装备的多参数集成测试系统及方法 Download PDF

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CN111044823A CN201911360451.5A CN201911360451A CN111044823A CN 111044823 A CN111044823 A CN 111044823A CN 201911360451 A CN201911360451 A CN 201911360451A CN 111044823 A CN111044823 A CN 111044823A
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曹亚琪
张连勇
冯展鹰
严战非
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Abstract

本发明公开了一种复杂电子装备的多参数集成测试系统及方法，所述系统包括：测试设备集、测试工装以及主控计算机；所述测试设备集包括至少一台测试设备，每台测试设备均设置有通用测试适配接口，所述测试设备一端与所述主控计算机连接，一端通过所述通用测试适配接口与所述测试工装连接；所述测试工装用于连接所述测试设备集和被测件。本发明能够提高复杂电子装备的测试效率，降低测试成本，保证测试结果记录的准确性，为产品追溯提供了可靠的数据保障。

Description

一种复杂电子装备的多参数集成测试系统及方法
技术领域
本发明涉及制造领域，特别涉及一种复杂电子装备的多参数集成测试系统及方法。
背景技术
在复杂的电子装备的核心部件生产环节中，质量测试始终贯穿着整个生产过程，包括元器件出库生产前的测试，零部件焊接后的测试，整件装配完成后的测试，整件之间联调测试等。通过对装配质量的测试可以发现产品装配阶段出现的操作问题，及时返修，防止更大损失；也可以对产品装配的一致性和有效性进行检查，改善加工工艺，提升制造水平。
目前电装生产线测试环节多、测试产品多、测试设备多，所有的测试工位仍然停留在手动测试阶段，生产效率低下。另外一套测试系统只能测试一种参数，当被测参数较多时，需要逐个测试，势必耗费大量的时间。
发明内容
本发明提供了一种复杂电子装备的多参数集成测试系统及方法，以解决电装生产过程中传统测试手段效率低、成本高的问题。
为实现上述目的，本发明第一方面提供一种复杂电子装备的多参数集成测试系统，所述系统包括：测试设备集、测试工装以及主控计算机；
所述测试设备集包括至少一台测试设备，每台测试设备均设置有通用测试适配接口，所述测试设备一端与所述主控计算机连接，一端通过所述通用测试适配接口与所述测试工装连接；
所述测试工装用于连接所述测试设备集和被测件。
优选地，所述测试工装包括标准机柜、测试电缆和测试夹具；所述标准机柜为通用标准接口，与所述测试设备集互联；所述测试夹具根据被测件设置；所述标准机柜通过所述测试电缆与所述测试夹具互联。
优选地，所述测试设备包括电阻测试仪、电流测试仪、数字多用表。
本发明第二方面提供一种复杂电子装备的多参数集成测试方法，所述测试方法应用于第一方面所述的复杂电子装备的多参数集成测试系统，所述方法包括：
获取目标测试需求；
根据预设的测试需求与激励信号的关系，获取所述目标测试需求对应的目标激励信号；
发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器；
获取所述目标测试仪器发送的测试结果。
优选地，所述获取目标测试需求之前，还包括：
预先设置测试需求与激励信号、测试仪器的对应关系表。
优选地，所述发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器之后、所述获取所述目标测试仪器发送的测试结果之前还包括：
所述目标测试仪器获取测试请求；
所述目标测试仪器通过通用测试适配接口与测试工装连接进行测试；
所述目标测试仪器获取测试结果。
优选地，所述获取所述目标测试仪器发送的测试结果之后，还包括：
将所述测试结果与预设的标准数据比对，确定所述测试结果是否符合预设要求。
优选地，所述确定所述测试结果是否符合要求包括：
如果所述测试结果不符合预设要求，则发出警示并记录。
本发明的第三方面提供一种复杂电子装备的多参数集成测试装置，所述装置包括：
目标测试需求获取单元，用于获取目标测试需求；
目标激励信号获取单元，用于根据预设的测试需求与激励信号的关系，获取所述目标测试需求对应的目标激励信号；
发送单元，用于发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器；
测试结果获取单元，用于获取所述目标测试仪器发送的测试结果。
优选地，所述的复杂电子装备的多参数集成测试装置还包括：
比对单元，用于将所述测试结果与预设的标准数据比对，确定所述测试结果是否符合预设要求；
存储单元，用于存储预先设置的测试需求与激励信号、测试仪器的对应关系表；还用于存储测试结果和比对结果。
本发明第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面所述的复杂电子装备的多参数集成测试方法的步骤。
本发明第五方面提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现第一方面所述的复杂电子装备的多参数集成测试方法的步骤。
通过以上技术方案，本发明能够提高复杂电子装备的测试效率，降低测试成本，保证测试结果记录的准确性，为产品追溯提供了可靠的数据保障。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种复杂电子装备的多参数集成测试系统的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的一种复杂电子装备的多参数集成测试方法的流程示意图；
图3为本发明实施例提供的复杂电子装备的多参数集成测试方法的数据流原理图；
图4为本发明实施例提供的一种复杂电子装备的多参数集成测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面将结合附图对本发明作进一步的详细介绍。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”、“前”、“后”、“左”和“右”等指示的方位或位置关系为基于本发明工作状态下的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的系统或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
为解决现有技术中存在的技术问题，本发明提供了一种复杂电子装备的多参数集成测试系统，图1为本发明实施例提供的一种复杂电子装备的多参数集成测试系统的结构示意图，如图1所示，该复杂电子装备的多参数集成测试系统包括：测试设备集200、测试工装300以及主控计算机100；
测试设备集200通过控制总线与主控计算机100互联。所述测试设备集200包括至少一台测试设备，每台测试设备均设置有通用测试适配接口，所述测试设备一端与所述主控计算机100连接，一端通过所述通用测试适配接口与所述测试工装300连接。所述测试设备包括电阻测试仪、电流测试仪、数字多用表以及其它自动测试设备等。
所述测试设备集200将所有的测试设备统一封装集合，并和主控计算机100互联形成完整的自动测试工位。
所述测试工装300包括标准机柜、测试电缆和测试夹具(图中未示出)；所述标准机柜采用通用标准接口，与所述测试设备集200互联；所述测试夹具根据被测件400的不同而相应设置；所述标准机柜通过所述测试电缆与所述测试夹具互联。被测件400是待测的零件、部件或整件。
主控计算机100通过测试软件实现所有参数的一键测试功能。所述测试软件包括软件平台、仪器驱动程序、针对被测件开发的测试项、数据库等。通过对测试设备集200中所有测试设备的输入、输出接口分析，计算出测试设备集有效输入信号和有效输出信号的相互关系，并根据相互关系在主控计算机100中对有效输入信号、有效输出信号进行配置，实现多参数同时测试。
以电子组件上行通道测试为例，主控计算机100确认所需的各种电源激励，测试信号通过所述标准机柜中的信号转接中枢经过衰减、切换后引入到矢网、功率计、示波器、频谱仪等仪表进行测试，测试结果在主控计算机100上显示并保存。
本发明还提供了一种复杂电子装备的多参数集成测试方法，所述测试方法应用于上述的复杂电子装备的多参数集成测试系统，图2为本发明实施例提供的一种复杂电子装备的多参数集成测试方法的流程示意图，所述方法包括步骤S101至S104：
S101：获取目标测试需求。
S102：根据预设的测试需求与激励信号的关系，获取所述目标测试需求对应的目标激励信号。
具体实施时，所述获取目标测试需求之前，还包括：预先设置测试需求与激励信号、测试仪器的对应关系表。
图3为复杂电子装备的多参数集成测试方法的数据流原理图，如图3所示，测试设备集中，不同的测试设备(A、B…P、Q)有不同的输入、输出信号，且各个测试设备相互之间也有信号传输，即一个测试设备的输出成为另一个测试设备的输入，如测试设备A会接收外部输入a，也会与测试设备C进行相互的信号传输d，测试设备C会进行外部输出g。
假设测试设备集共有N台自动化的测试设备，每台测试设备的输入信号为Ei(IN)，输出信号分别Ei(OUT)，其中i∈N*。
假设测试设备集的输入信号为EU(IN)，输出信号为EU(OUT)。
可以得到
EU(IN)＝E1(IN)∪E2(IN)...∪EN(IN) ①
EU(OUT)＝E1(OUT)∪E2(OUT)...∪EN(OUT) ②
由于各测试设备之间也会有信号传递，因此实际测试时，不能认为测试设备集输入信号为EU(IN)，输出信号为EU(OUT)，应该将这些测试设备之间的接口当作内部接口，再用所有测试设备的输入、输出接口的并集去除内部接口，生成测试设备集的有效输入和输出接口。
根据公式①、公式②首先计算得到测试设备集中所有设备输入、输出信号的交集，也就是测试设备集的内部接口。
EU(IN-OUT)＝EU(IN)∩EU(OUT) ③
因此，可以得到测试设备集的有效输入、输出接口分别为：
REU(IN)＝EU(IN)-EU(IN-OUT) ④
REU(OUT)＝EU(OUT)-EU(IN-OUT) ⑤
由公式①-⑤，可以得到测试设备集的有效的外部输入、输出接口分别为：
REU(IN)＝E1(IN)∪E2(IN)...∪EN(IN)-(E1(IN)∪E2(IN)...∪EN(IN))∩(E1(OUT)∪E2(OUT)...∪EN(OUT)) ⑥
REU(OUT)＝E1(OUT)∪E2(OUT)...∪EN(OUT)-(E1(IN)∪E2(IN)...∪EN(IN))∩(E1(OUT)∪E2(OUT)...∪EN(OUT)) ⑦
根据测试设备集的有效输出接口REU(OUT)，适配不同测试对象的测试需求。有效输出接口直接反映测试需求(如电阻、电流等)的数值结果。
根据有效输入接口REU(IN)，通过主控计算机100选定不同测试设备，并配置相应激励信号，就可以实现不同参数的测试。
S103：发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器。
所述目标激励信号通过信号转接中枢经过衰减、切换后引入到测试仪器进行测试。
所述发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器之后，还包括：
所述目标测试仪器获取测试请求；
所述目标测试仪器通过通用测试适配接口与测试工装连接进行测试；
获取测试结果。
S104：获取所述目标测试仪器发送的测试结果。
主控计算机100在获取所述目标测试仪器发送的测试结果之后，还包括：
将所述测试结果与预设的标准数据比对，确定所述测试结果是否符合预设要求。如果所述测试结果不符合预设要求，则发出警示并记录。
与本发明提供的一种复杂电子装备的多参数集成测试方法实例相对应，本发明还提供一种复杂电子装备的多参数集成测试装置的实施例。图4为本发明实施例提供的一种复杂电子装备的多参数集成测试装置的结构示意图，如图4所示，所述装置包括：
目标测试需求获取单元101，用于获取目标测试需求；
目标激励信号获取单元102，用于根据预设的测试需求与激励信号的关系，获取所述目标测试需求对应的目标激励信号。
发送单元103，用于发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器。
测试结果获取单元104，用于获取所述目标测试仪器发送的测试结果。
进一步地，所述的复杂电子装备的多参数集成测试装置还包括：
比对单元105，用于将所述测试结果与预设的标准数据比对，确定所述测试结果是否符合预设要求；
存储单元106，用于存储预先设置的测试需求与激励信号、测试仪器的对应关系表；还用于存储测试结果和比对结果。
如上所述，本发明提供了一种复杂电子装备的多参数集成测试系统及方法，所述系统包括：测试设备集、测试工装以及主控计算机；所述主控计算机获取目标测试需求；根据预设的测试需求与激励信号的关系，获取所述目标测试需求对应的目标激励信号；发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器；获取所述目标测试仪器发送的测试结果。
本发明通过采用自动化的测试仪器，所有测试仪器通过计算机实现互联通讯组成自动测试工位，所有指标的测试实现一次连接后，一键测试完成。在测试的同时所有测试数据存储到数据库里，测试数据可以实时查询并生成报表，通过与标准数据比对，系统对测试结果进行判定，形成产品在电装生产过程中的电子履历，从而实现电装质量的数字化、无纸化测试。
本发明以复杂电子装备核心部件为测试对象，克服电装生产过程中传统测试手段效率低、成本高、数据记录不准确的缺点，通过构建测试设备集、专用测试工装以及测试软件的集成测试系统，实现多种设备不同参数的一键测试。可以用于零部件的检测、电缆线束的检测、焊接质量的检测、整件电气性能检测等。本发明提高了产品测试效率，保证测试结果记录的准确性，为产品追溯提供了可靠的数据保障。
根据上述复杂电子装备的多参数集成测试方法，本发明实施例还提供一种可读存储介质和一种计算机设备。可读存储介质上存储有可执行程序，该程序被处理器执行时实现上述一种多参数集成测试方法的步骤；计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的可执行程序，处理器执行程序时实现上述一种复杂电子装备的多参数集成测试方法的步骤。
以上只通过说明的方式描述了本发明的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本发明的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本发明权利要求保护范围的限制。

Claims (10)

1.一种复杂电子装备的多参数集成测试系统，其特征在于，包括：测试设备集、测试工装以及主控计算机；
所述测试设备集包括至少一台测试设备，每台测试设备均设置有通用测试适配接口，所述测试设备一端与所述主控计算机连接，一端通过所述通用测试适配接口与所述测试工装连接；
所述测试工装用于连接所述测试设备集和被测件。
2.根据权利要求1所述的复杂电子装备的多参数集成测试系统，其特征在于，所述测试工装包括标准机柜、测试电缆和测试夹具；所述标准机柜与所述测试设备集互联；所述标准机柜通过所述测试电缆与所述测试夹具互联。
3.根据权利要求1或2所述的复杂电子装备的多参数集成测试系统，其特征在于，所述测试设备包括电阻测试仪、电流测试仪、数字多用表。
4.一种复杂电子装备的多参数集成测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于权利要求1-3中任一项所述的复杂电子装备的多参数集成测试系统，所述方法包括：
获取目标测试需求；
根据预设的测试需求与激励信号的关系，获取所述目标测试需求对应的目标激励信号；
发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器；
获取所述目标测试仪器发送的测试结果。
5.根据权利要求4所述的复杂电子装备的多参数集成测试方法，其特征在于，所述获取目标测试需求之前，还包括：
预先设置测试需求与激励信号、测试仪器的对应关系表。
6.根据权利要求4或5所述的复杂电子装备的多参数集成测试方法，其特征在于，所述发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器之后、所述获取所述目标测试仪器发送的测试结果之前，还包括：
所述目标测试仪器获取测试请求；
所述目标测试仪器通过通用测试适配接口与测试工装连接进行测试；
所述目标测试仪器获取测试结果。
7.根据权利要求4-6中任一项所述的复杂电子装备的多参数集成测试方法，其特征在于，所述获取所述目标测试仪器发送的测试结果之后，还包括：
将所述测试结果与预设的标准数据比对，确定所述测试结果是否符合预设要求。
8.根据权利要求7所述的复杂电子装备的多参数集成测试方法，其特征在于，所述确定所述测试结果是否符合要求包括：
如果所述测试结果不符合预设要求，则发出警示并记录。
9.一种复杂电子装备的多参数集成测试装置，其特征在于，所述装置包括：
目标测试需求获取单元，用于获取目标测试需求；
目标激励信号获取单元，用于根据预设的测试需求与激励信号的关系，获取所述目标测试需求对应的目标激励信号；
发送单元，用于发送所述目标激励信号至对应的目标测试仪器；
测试结果获取单元，用于获取所述目标测试仪器发送的测试结果。
10.根据权利要求9所述的复杂电子装备的多参数集成测试装置，其特征在于，还包括：
比对单元，用于将所述测试结果与预设的标准数据比对，确定所述测试结果是否符合预设要求；
存储单元，用于存储预先设置的测试需求与激励信号、测试仪器的对应关系表；还用于存储测试结果和比对结果。
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