JP2005156469A - 偏心測定方法及び偏心測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】非球面の非球面軸の傾きが小さくても、非球面レンズの非球面偏心量と非球面偏心方向を高精度に測定可能な非球面レンズの偏心測定方法を提供する。
【解決手段】有効径を含む第1領域と、その外周部に設けられた、第1領域よりも非球面量が大きい第2領域を規定し、この第2領域の面形状を測定することにより非球面レンズの偏心を測定する。
【選択図】 図1
【解決手段】有効径を含む第1領域と、その外周部に設けられた、第1領域よりも非球面量が大きい第2領域を規定し、この第2領域の面形状を測定することにより非球面レンズの偏心を測定する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、非球面を有する光学素子の偏心を測定する偏心測定方法及び偏心測定装置に関する。
非球面を有する光学素子の偏心を測定する偏心測定方法は従来より知られている。特開平8−75597号公報は、このような偏心測定方法の一例を開示している。以下に同公報に記載の偏心測定方法について、図5及び図6(a)、(b)を参照して説明する。図5は非球面レンズの形状を示している。ここで、表面側のレンズ面Aの非球面軸rAとコバ面a−bとは直交し、裏面側のレンズ面Bの非球面軸rBとコバ面c−dも直交するように、非球面レンズは加工されている。
図6(a)、(b)は、従来の偏心測定方法の詳細を説明するための図である。レンズ受け2は、非球面レンズ1の裏面のコバ面c−dを水平に保持するためのものである。走査型形状測定機3は、非球面レンズ1の表面を走査して、その形状を測定するためのものである。
また、上記方法では、図示しない傾き調整機構を有する。この傾き調整機構は、保持面c−dと走査型形状測定機3の走査軸が平行になるように、レンズ受け2の角度を調整する。このような構成において、走査型形状測定機3により、非球面レンズ1の表面の非球面軸を通る断面形状4(図6(b))を得る。そして、断面形状4の表面におけるコバ面a−bの水平面(裏面側コバ面に平行)に対する傾斜角θを得て、それをこのレンズの非球面偏心とする。
上記従来技術の偏心測定方法においては、非球面レンズ1の非球面偏心を求める際に、非球面レンズ1の裏面側のコバ面c−dを基準としている。そのため、非球面レンズ1の表面の断面形状を測定する際に以下の問題が生じる。
従来技術では、走査型形状測定機3の走査軸とレンズ受け2の保持面とが水平になるように、傾き調整機構により調整している。ところが、調整しきれずに傾きが残った場合、この状態で非球面レンズ1の表面の断面形状を測定すると、非球面偏心量(測定結果)に誤差が生じる。
ここで、調整がしきれない理由の1つとして、レンズ受け2のコバ面と接触する保持面の表面形状がある。この表面形状に凹凸等の形状誤差があると、非球面レンズ1が傾いた状態で保持されてしまう。また、非球面レンズ1の裏面のコバ面c−dの面精度が悪い場合も、非球面レンズ1を保持したときに、非球面レンズ1が傾いてしまう。よって、この状態で、非球面レンズ1の表面の断面形状を測定すると、非球面偏心量(測定結果)に誤差が生じる。
また、仮に、レンズ受け2の保持面と非球面レンズ1の裏面側のコバ面c−dを精度良く加工し、且つ、傾きを水平に調整できたとする。この場合でも、レンズ受け2の保持面と非球面レンズ1の裏面側のコバ面c−dの間にホコリ、ゴミ等の異物が挟まっていると、非球面レンズ1を保持したときに、非球面レンズ1が傾いてしまう。よって、この状態で非球面レンズ1の表面の断面形状を測定すると、非球面偏心量(測定結果)に誤差が生じる。
この異物を挟み込んだときに生じる傾きは、レンズ受け2の保持部の直径が小さくなるほど大きくなる。その結果、非球面偏心の誤差(測定誤差)が大きくなってしまう。
本発明はこのような課題に着目してなされたものであり、その目的とするところは、光学素子の非球面軸の傾きが小さくても、非球面偏心量と非球面偏心方向を高精度に測定可能な偏心測定方法及び偏心測定装置を提供することにある。
上記の目的を達成するために、第1の発明は、少なくとも一方の面が非球面である光学素子の偏心を測定する偏心測定方法であって、前記光学素子の非球面は、有効径を含む第1領域と、前記第1領域の非球面軸と同軸上にあって前記光学素子の外周部に設けられた第2領域とを備え、前記第2領域における非球面は、前記第1領域における非球面よりも大きな非球面量を有し、前記光学素子を所定の回転軸周りに回転させ、前記回転軸に沿う方向から前記光学素子に対して光を照射する光照射工程と、前記光学素子の各面について、前記第1領域から反射された反射光により形成されるスポットの位置を所定の回転角ごとに検出するスポット位置検出工程と、前記スポット位置検出工程における検出結果に基づいて、前記光学素子の前記第1領域に係る各面について、前記回転軸に対する近軸曲率中心の位置を算出する近軸曲率中心位置算出工程と、前記光学素子の各面における近軸曲率中心の位置に基づいて、前記回転軸に対する光軸の位置と傾きとを算出する第1算出工程と、前記光学素子の前記第2領域の面形状を測定する工程と、前記面形状測定工程での測定結果と、前記第2領域の設計式データとに基づいて、前記回転軸に対する前記第1領域の非球面軸の位置と傾きとを算出する第2算出工程と、前記第1算出工程での算出結果と、前記第2算出工程での算出結果とに基づいて、前記第1領域における非球面偏心量と非球面偏心方向とを算出する非球面偏心算出工程と、を具備する。
また、第2の発明は、第1の発明に係る偏心測定方法において、前記第1領域における近軸曲率中心の位置と、前記第2領域における近軸曲率中心の位置とは略一致している。
また、第3の発明は、第1の発明に係る偏心測定方法において、前記第1領域における近軸曲率中心の位置と、前記第2領域におけるローカル曲率中心の位置とは略一致している。
また、第4の発明は、少なくとも一方の面が非球面である光学素子の偏心を測定する偏心測定装置であって、前記光学素子の非球面は、有効径を含む第1領域と、前記第1領域の非球面軸と同軸上にあって前記光学素子の外周部に設けられた第2領域とを備え、前記第2領域における非球面は、前記第1領域における非球面よりも大きな非球面量を有し、前記光学素子を所定の回転軸周りに回転させ、前記回転軸に沿う方向から前記光学素子に対して光を照射する光照射部と、前記光学素子の各面について、前記第1領域から反射された反射光により形成されるスポットの位置を所定の回転角ごとに検出するスポット位置検出部と、前記スポット位置検出部での検出結果に基づいて、前記光学素子の前記第1領域に係る各面について、前記回転軸に対する近軸曲率中心の位置を算出する近軸曲率中心位置算出部と、前記光学素子の各面における近軸曲率中心の位置に基づいて、前記回転軸に対する光軸の位置と傾きとを算出する第1算出部と、前記光学素子の前記第2領域の面形状を測定する面形状測定部と、前記面形状測定部での測定結果と、前記第2領域の設計式データとに基づいて、前記回転軸に対する前記第1領域の非球面軸の位置と傾きとを算出する第2算出部と、前記第1算出部での算出結果と、前記第2算出部での算出結果とに基づいて、前記第1領域における非球面偏心量と非球面偏心方向とを算出する非球面偏心算出部と、を具備する。
本発明によれば、光学素子の非球面軸の傾きが小さくても、非球面偏心量と非球面偏心方向を高精度に測定可能な光学素子の偏心測定方法及び偏心測定装置が提供される。
また、本発明によれば、光学素子を受ける治具等の調整精度に影響されず、当該治具の保持面の表面形状やその保持面と接触する表面の面精度に影響されず、治具の保持面と光学素子表面の間に異物が挟まった場合であってもその影響を受けないので、光学素子の非球面偏心量と非球面偏心方向を高精度に測定することができる。
(第1実施形態)
以下に本発明の第1実施形態に係る偏心測定方法について説明する。図1(a)は、本発明の第1実施形態で測定する光学素子の形状を示す図である。ここで、光学素子は、非球面レンズである。非球面レンズ10は、互いに対向する光学面11と光学面13とを有している。光学面11と光学面13の少なくとも一方は、非球面である。以下の説明では、光学面11及び光学面13は、ともに非球面である。また、光学面11は非球面レンズ10の上側の面であり、工学面13は非球面レンズ10の下側の面である。ここで、O1は光学面11の近軸曲率中心であり、O2は光学面13の近軸曲率中心である。そして、近軸曲率中心O1と近軸曲率中心O2とを結ぶ軸を光軸16とする。
以下に本発明の第1実施形態に係る偏心測定方法について説明する。図1(a)は、本発明の第1実施形態で測定する光学素子の形状を示す図である。ここで、光学素子は、非球面レンズである。非球面レンズ10は、互いに対向する光学面11と光学面13とを有している。光学面11と光学面13の少なくとも一方は、非球面である。以下の説明では、光学面11及び光学面13は、ともに非球面である。また、光学面11は非球面レンズ10の上側の面であり、工学面13は非球面レンズ10の下側の面である。ここで、O1は光学面11の近軸曲率中心であり、O2は光学面13の近軸曲率中心である。そして、近軸曲率中心O1と近軸曲率中心O2とを結ぶ軸を光軸16とする。
回転軸15は後述する回転手段の回転軸であり、測定の基準軸となる。非球面軸31,32はそれぞれ、光学面13と光学面11の非球面軸である。この非球面軸は、近軸曲率中心と非球面面頂とを結ぶ軸で定義される。非球面軸32は、光学面11の近軸曲率中心O1と光学面11の非球面面頂33とを結ぶ軸である。同様に、非球面軸31は、光学面13の近軸曲率中心O2と光学面13の非球面面頂34とを結ぶ軸である。
有効径φED1,φED2は、それぞれ光学面11と光学面13において、光線の通る範囲である。この範囲は、結像に関与する光線が通過する範囲を示している。第1領域としての光学面11,13は、有効径φED1,φED2の範囲よりも大きい範囲となっている。さらに、第2領域としての非球面形状12,14は、有効径φED1,φED2以外の部分であればどこに位置しても良い。図1では、第2領域は、第1領域の外側に位置している。
この非球面レンズ10において、非球面形状(第2領域)12は非球面軸32と同軸である。また、非球面形状(第2領域)12の非球面量は、光学面11よりも大きい。そして、この非球面形状12の近軸曲率中心の位置と、有効径φED1を含む光学面11の近軸曲率中心の位置は一致している。両者の非球面軸32は一致しているので、両者の近軸曲率半径も一致している。よって、両者の近軸曲率中心は、図1におけるO1で示された点となる。
同様に、非球面レンズ10において、非球面形状(第2領域)14は非球面軸31と同軸である。また、非球面形状14の非球面量は、光学面13よりも大きい。そして、この非球面形状14の近軸曲率中心の位置と、有効径φED2を含む光学面13の近軸曲率中心の位置は一致している。両者の非球面軸31は一致しているので、近軸曲率半径も一致している。よって、両者の近軸曲率中心は、図1におけるO2で示された点となる。
図1(a)のε1,ε2は、それぞれ光学面11、光学面13の非球面偏心量であり、非球面軸32,31の光軸16に対する傾きを示している。
図1(b)は非球面レンズの偏心方向を示す図である。図1(b)は光学面11,13の非球面軸32,31と光軸16とを、光軸16の上方(光軸に沿う方向)から見た図である。光学面11の非球面軸32は、近軸曲率中心O1と非球面面頂33を結んだ軸である。よって図1(b)では、非球面軸32は、点16と点33とを結んだ線32で表わせる。同様に、光学面13の非球面軸31は、点16と点34とを結んだ線31で表わせる。そして、+X軸と線32とのなす角度θε1が、光学面11の非球面偏心方向である。また、+X軸と線31とのなす角度θε2が、光学面13の非球面偏心方向である。
図2は非球面レンズの偏心測定装置(以下、単に、偏心測定装置とする。)の概略構成を示す図である。偏心測定装置は、非球面レンズ10を保持するための保持手段19と、保持手段19を回転させるための回転手段20と、回転手段20の回転角を検出するための回転角測定部21と、上面形状測定手段22aと下面形状測定手段22bとを有している。ここで、上面形状測定手段22aは、非球面形状12の3次元形状を測定する。また、下面形状測定手段22bは、非球面形状14の3次元形状を測定する。なお、上面形状測定手段22a及び下面形状測定手段22bは、いずれも接触式である。また、測定は輪帯状に行うが、これに限定されない。これらの要素は、測定テーブル30上に配置されている。
さらに、偏心測定装置は、スポット軌跡検出手段18と演算手段17を有している。スポット軌跡検出手段18は、回転手段20の回転軸15に沿って非球面レンズ10に光を照射すると共に、回転している光学面11,13で反射された光のスポットの軌跡を検出する。また、演算手段17は、スポット軌跡検出手段18、回転角測定部21及び形状測定手段22a,22bとから得られる情報を演算処理して、非球面レンズ10の非球面偏心量と非球面偏心方向を求める。
保持手段19は非球面レンズ10を保持する部材で、円筒形状を有している。図2では、保持手段19の断面形状を示してある。19aは、この保持手段19における非球面レンズ10との接触部である。この接触部19aは、回転軸15に対し同軸に加工されている。回転手段20は、保持手段19を回転可能に支持している。そのため、非球面レンズ10を、この回転手段20で回転させることができる。
回転角測定部21は、回転手段20の回転角を測定する。ここで、保持手段19は回転手段20に保持されているので、結果として、回転する保持手段19の回転角を測定することができる。更に、非球面レンズ10は保持手段19に保持されているので、非球面レンズ10の回転角を測定することができる。
上面形状測定手段22aは、球状の接触子35を有している。同様に、下面形状測定手段22bは、球状の接触子36を有している。接触子35及び接触子36は、測定時、非球面レンズ10の表面(非球面形状12、非球面形状14)に接触する。上下面形状測定手段22a,22bは、上下に移動可能な移動手段23に搭載されている。
以下に、第1実施形態における非球面レンズの偏心測定方法について、図3を参照して詳細を説明する。本実施形態では、光学面11が上になるように非球面レンズ10を保持手段19により保持し、図3に示す手順に従い、非球面レンズ10の非球面偏心測定を行う。
測定に先立って、非球面レンズ10の光軸16と回転軸15とがほぼ一致するように、非球面レンズ10の芯出し調整を行う。まず、スポット軌跡検出手段18を、光軸に沿って移動させる。このとき、光が上面の光学面11の近軸曲率中心O1に収束するように、スポット軌跡検出手段18の位置を調整する。ここで、光の収束位置は、スポット像として、スポット軌跡検出手段18によって検出できる。そこで、位置調整は、スポット像を観察しながら行う。次に、回転手段20により、非球面レンズ10を回転させる。このようにすると、スポット像が回転するので、スポット像の軌跡を検出することができる。このときに得られるスポット像の軌跡の振れ回りがほとんどなくなるように、非球面レンズ10を動かし芯出し調整を行う。
次に、スポット位置検出工程を実行する(ステップS24)。より詳細には、まず、非球面レンズ10の芯出し調整が完了した後、光学面11の近軸曲率中心O1に光を収束させた状態で、回転手段20により非球面レンズ10を回転させる。そして、スポット軌跡検出手段18により、光学面11についてスポット像の軌跡(位置)を検出する。その後、光学面13の近軸曲率中心O2に光が収束する位置にくるまで、スポット軌跡検出手段18を光軸に沿って移動させる。このとき、光は、光学面11を透過した状態になっている。そして、回転手段20により、非球面レンズ10を回転させる。そして、スポット軌跡検出手段18により、光学面13についてスポット像の軌跡を検出する。
光学面11によるスポット像の軌跡の情報と光学面13によるスポット像の軌跡の情報は、演算手段17に送られる。また同時に、演算手段17には、スポット像の軌跡に同期して、回転角測定手段21から非球面レンズ10の回転角の情報が入力される。その結果、演算手段17は、非球面レンズ10の回転角毎のスポット像の位置を取得する。
次に、近軸曲率中心位置取得工程を実行する(ステップS25)。より詳細には、ステップS24において検出された光学面11,13のスポット像の軌跡と回転角の情報に基づいて、光学面11の近軸曲率中心O1の回転軸15に対する偏心量及び偏心方向と、光学面13の近軸曲率中心O2の回転軸15に対する偏心量及び偏心方向とを取得する。光学面13の近軸曲率中心O2の偏心量及び偏心方向を求める際に、光学面11を透過した状態でスポットの軌跡を検出しているので、光学面11の近軸曲率中心O1の偏心量と偏心方向を考慮して求める必要がある。
次に、光軸取得工程を実行する(ステップS26)。より詳細には、ステップS25において求めた非球面レンズ10の光学面11の近軸曲率中心O1と光学面13の近軸曲率中心O2の回転軸15に対する位置から、非球面レンズ10の光軸16の回転軸15に対する位置と傾きを求める。
次に、3次元形状測定工程を実行する(ステップS27)。より詳細には、まず、上面形状測定手段22aを上下移動手段23により下方に移動させる。次に、上面形状測定手段22aの接触部35を非球面レンズ10の非球面形状(第2領域)12に接触させる。そして、この状態で、回転手段20により非球面レンズ10を回転させ、非球面形状12の3次元形状を測定する。この時、得られるデータは、輪帯状の各点におけるデータである。なお、非球面形状12の3次元形状を測定したデータを、第1測定データとする。
次に、下面の形状を測定するために、上面形状測定手段22aを上下移動手段23により上方に移動させる。その後、上下移動手段22により、下面形状測定手段22bを上方に移動させる。続いて、下面形状測定手段22bの接触部36を、非球面レンズ10の非球面形状(第2領域)14に接触させる。そして、この状態で、回転手段20により非球面レンズ10を回転させ、非球面形状14の3次元形状を測定する。この時、得られるデータは、輪帯状の各点におけるデータである。なお、非球面形状14の3次元形状を測定したデータを、第2測定データとする。
次に、非球面軸取得工程を実行する(ステップS28)。より詳細には、まず、ステップS27において得られた第1測定データと第2測定データが、演算手段17に送られる。そして、演算手段17において、測定データ(非球面形状の3次元形状データ)と設計式の3次元形状データの比較を行う。この比較において、両者の差が最も小さくなるように、シフト、チルトがデータに加わる。このような処理を経て、光学面(第1領域)11,13について、回転軸15に対する非球面軸32,31の位置と傾きが求まる。
以下に、光学面11における非球面軸32の位置と傾きを求める方法を述べる。光学面11の近軸曲率中心O1と非球面形状12の近軸曲率中心とは一致している。そこで、ステップS25において得られた光学面11の近軸曲率中心O1の偏心量と偏心方向に基づき、第1測定データを非球面形状12の設計式の3次元形状データ(以下、第1設計データとする。)に対し、相対的にシフトさせる。
次に、近軸曲率中心O1を基準として、第1測定データと第1設計データとの残差が最も小さくなるように、第1測定データを第1設計データに対して、相対的にチルトさせる。このようにすることで、非球面形状12の非球面軸の回転軸15に対する位置と傾きが求まる。ここで、非球面形状12は光学面11の非球面軸31と同軸であるので、非球面形状12の非球面軸と光学面11の非球面軸31は一致する。その結果、光学面11の非球面軸32の回転軸15に対する位置と傾きを求めることができる。
非球面レンズ10の光学面13における非球面軸32の位置と傾きも同様の方法で求められる。光学面13の近軸曲率中心O2と非球面形状14の近軸曲率中心とは一致している。そこで、ステップS25において得られた光学面13の近軸曲率中心O2の偏心量と偏心方向に基づき、第2測定データを非球面形状14の設計式の3次元形状データ(以下、第2設計データとする。)に対して、相対的にシフトさせる。次に、近軸曲率中心O2を基準して、第2測定データと第2設計データとの残差が最も小さくなるように、第2測定データを第2設計データに対して、相対的にチルトさせる。このようにすることで、非球面形状14の非球面軸の回転軸15に対する位置と傾きが求める。
ここで、非球面形状14は光学面13の非球面軸32と同軸であるので、非球面形状14の非球面軸と光学面13の非球面軸32とは一致する。その結果、光学面13の非球面軸32の回転軸15に対する位置と傾きを求めることができる。
次に、非球面偏心取得工程を実行する(ステップS29)。より詳細には、非球面レンズ10の光軸16の回転軸15に対する位置と傾きと、光学面11の非球面軸32の回転軸15に対する位置と傾きから、光学面11の非球面偏心量ε1と非球面偏心方向θε1を求める。
また、非球面レンズ10の光軸16の回転軸15に対する位置と傾きと、光学面13の非球面軸31の回転軸15に対する位置と傾きから、光学面13の非球面偏心量ε2と非球面偏心方向θε2を求める。
上記した第1実施形態によれば、第1領域である光学面の周囲に設けた大きな非球面形状を持つ領域(第2領域)の3次元形状を測定するようにしたので、非球面軸の傾きが微小であっても、非球面軸を高精度に求めることができる。更に、第1領域の近軸曲率中心の位置と第2領域の近軸曲率中心の位置とを略一致するようにしておけば、非球面レンズの非球面軸の回転軸に対する位置と傾きを容易に求めることができる。そして、非球面軸と光軸は共に回転軸を共通の基準にして、非球面と光軸の位置と傾きから非球面偏心量と非球面偏心方向を算出している。そのため、非球面レンズに傾きが生じても、その傾きは非球面軸と光軸に同じように加わるので、非球面軸と光軸から非球面偏心量と非球面偏心方向を求める際にキャンセルされてしまう。よって、非球面レンズのセッティング時の傾きの影響を受けない。
(第2実施形態)
以下に本発明の第2実施形態に係る偏心測定方法について説明する。ここでは、光学素子として両面非球面レンズを例にして説明する。図4は、本発明の第2実施形態で測定する非球面レンズの形状を示した図である。図4において、図1(a)と同一部分には同一番号及び同一記号を付してその説明を省略する。
以下に本発明の第2実施形態に係る偏心測定方法について説明する。ここでは、光学素子として両面非球面レンズを例にして説明する。図4は、本発明の第2実施形態で測定する非球面レンズの形状を示した図である。図4において、図1(a)と同一部分には同一番号及び同一記号を付してその説明を省略する。
第1領域としての光学面41,43は、有効径φED1,φED2の範囲よりも大きい範囲を有する。さらに、第2領域としての非球面形状42,44は、有効径φED1,φED2以外の部分であればどこに位置しても良い。
この非球面レンズ40においては、上面の有効径φED1内の非球面を形成する光学面41(第1領域)と有効径φED1外に光学面41の非球面軸45と同軸であり、光学面41よりも非球面量の大きい別の非球面形状(第2領域)42がある。この非球面形状42の輪帯状の3次元形状を測定するローカル曲率中心の位置と、有効径φED1内の光学面41の近軸曲率中心の位置とは略一致している。
下面の有効径φED2内の非球面を形成する光学面(第1領域)43と有効径φED2外に光学面43の非球面軸46に同軸であり、光学面43よりも非球面量の大きい別の非球面形状(第2領域)44がある。この非球面形状44の輪帯状の3次元形状を測定する部分のローカル曲率中心の位置と、有効径φED2内の光学面43の近軸曲率中心の位置とは略一致している。
本発明の第2実施形態の非球面レンズの偏心測定装置の構成は第1実施形態で使用した図2の構成と同様であるので説明を省略する。
以下に、本発明の第2実施形態の非球面偏心測定方法について、第1実施形態で使用した図3を参照して説明する。ステップS24〜S26,S29については第1実施形態と同様であるので、ここでは異なる工程(ステップS27、S28)についてのみ説明する。
3次元形状測定工程を実行する(ステップS27)。より詳細には、まず、上面形状測定手段22aを上下移動手段23により下方に移動させる。続いて、上面形状測定手段22aの接触部35を、非球面レンズ40の非球面形状42に接触させる。そして、この状態で、回転手段20により非球面レンズ40を回転させ、非球面形状42の3次元形状を測定する。この時、得られるデータは、輪帯状の各点におけるデータである。なお、非球面形状42の3次元形状を測定したデータを、第1’測定データとする。
次に、下面の形状を測定するために、上下移動手段23により、接触式の上面形状測定手段22aを上方に移動させる。その後、上下移動手段22により、下面形状測定手段22bを上方に移動させる。続いて、下面形状測定手段22bの接触部36を、非球面レンズ40の非球面形状44に接触させる。そして、この状態で、回転手段20により非球面レンズ40を回転させ、非球面形状44の3次元形状を測定する。この時、得られるデータは、輪帯状の各点におけるデータである。なお、非球面形状44の3次元形状を測定したデータを、第2’測定データとする。
次に、非球面軸取得工程を実行する(ステップS28)。より詳細には、まず、ステップS27において得られた第1’測定データと第2’測定データが、演算手段17に送られる。続いて、演算手段17において、測定データ(非球面形状の3次元形状データ)と設計式の3次元形状データとの比較が行われる。ここで、両者の差が最も小さくなるように、シフト、チルトがデータに加わる。このような処理を経て、上下面の非球面軸45,46の回転軸15に対する位置と傾きを求める。
以下にこの演算手段17での処理の詳細を説明する。光学面41における非球面軸45を求める方法を述べる。光学面41の近軸曲率中心O1と、非球面形状42の3次元形状を測定する部分(以下、第1測定部分とする。)のローカル曲率中心とは略一致している。そこで、ステップS25において得られた光学面41の近軸曲率中心O1の偏心量と偏心方向に基づき、第1’測定データを非球面形状42の設計式の3次元形状データ(以下、第1’設計データとする)に対して、相対的にシフトさせる。
次に、第1測定部分のローカル曲率中心を基準にして、第1’測定データと第1’設計データとの残差が最も小さくなるように、第1’測定データを第1’設計データに対して、相対的にチルトさせる。このようにすることで、非球面形状42の非球面軸の回転軸15に対する位置と傾きが求まる。ここで、非球面形状42は光学面41の非球面軸45と同軸であるので、非球面形状42の非球面軸と光学面41の非球面軸45は一致する。その結果、光学面41の非球面軸45の回転軸15に対する位置と傾きを求めることができる。
非球面レンズ40の光学面43における非球面軸46も、同様の方法で求められる。光学面43の近軸曲率中心と非球面形状44の輪帯状の3次元形状を測定する部分(以下、第2測定部分とする。)のローカル曲率中心とは略一致している。そこで、ステップS25において得られた光学面43の近軸曲率中心O2の偏心量と偏心方向に基づき、第2’測定データを非球面形状44の設計式の3次元形状データ(以下、第2’設計データとする。)に対し、相対的にシフトさせる。次に、第2測定部分のローカル曲率中心を基準にして、第2’測定データと第2’設計データとの残差が最も小さくなるように、相対的にチルトさせる。このようにすることで、非球面形状44の非球面軸の回転軸15に対する位置と傾きが求まる。ここで、非球面形状44は光学面43の非球面軸46と同軸であるので、非球面形状44の非球面軸と光学面43の非球面軸46は一致する。その結果、光学面43の非球面軸46の回転軸15に対する位置と傾きを求めることができる。
第2実施形態によれば、有効径外の非球面形状(第2領域)の輪帯体の3次元形状を測定する部分のローカル曲率中心の位置が、有効径内の光学面(第1領域)の近軸曲率中心の位置と略一致していればよいので、有効径外の非球面形状の設計の自由度を高くすることができる。
(付記)
上記した具体的な実施形態から以下のような構成の発明を抽出することができる。
上記した具体的な実施形態から以下のような構成の発明を抽出することができる。
1.少なくとも一方の面が非球面である光学素子の偏心を測定する偏心測定方法であって、
前記光学素子の非球面は、有効径を含む第1領域と、前記第1領域の非球面軸と同軸上にあって前記光学素子の外周部に設けられた第2領域とを備え、前記第2領域における非球面は、前記第1領域における非球面よりも大きな非球面量を有し、
前記光学素子を所定の回転軸周りに回転させ、前記回転軸に沿う方向から前記光学素子に対して光を照射する光照射工程と、
前記光学素子の各面について、前記第1領域から反射された反射光により形成されるスポットの位置を所定の回転角ごとに検出するスポット位置検出工程と、
前記スポット位置検出工程における検出結果に基づいて、前記光学素子の前記第1領域に係る各面について、前記回転軸に対する近軸曲率中心の位置を算出する近軸曲率中心位置算出工程と、
前記光学素子の各面における近軸曲率中心の位置に基づいて、前記回転軸に対する光軸の位置と傾きとを算出する第1算出工程と、
前記光学素子の前記第2領域の面形状を測定する工程と、
前記面形状測定工程での測定結果と、前記第2領域の設計式データとに基づいて、前記回転軸に対する前記第1領域の非球面軸の位置と傾きとを算出する第2算出工程と、
前記第1算出工程での算出結果と、前記第2算出工程での算出結果とに基づいて、前記第1領域における非球面偏心量と非球面偏心方向とを算出する非球面偏心算出工程と、
を具備することを特徴とする偏心測定方法。
前記光学素子の非球面は、有効径を含む第1領域と、前記第1領域の非球面軸と同軸上にあって前記光学素子の外周部に設けられた第2領域とを備え、前記第2領域における非球面は、前記第1領域における非球面よりも大きな非球面量を有し、
前記光学素子を所定の回転軸周りに回転させ、前記回転軸に沿う方向から前記光学素子に対して光を照射する光照射工程と、
前記光学素子の各面について、前記第1領域から反射された反射光により形成されるスポットの位置を所定の回転角ごとに検出するスポット位置検出工程と、
前記スポット位置検出工程における検出結果に基づいて、前記光学素子の前記第1領域に係る各面について、前記回転軸に対する近軸曲率中心の位置を算出する近軸曲率中心位置算出工程と、
前記光学素子の各面における近軸曲率中心の位置に基づいて、前記回転軸に対する光軸の位置と傾きとを算出する第1算出工程と、
前記光学素子の前記第2領域の面形状を測定する工程と、
前記面形状測定工程での測定結果と、前記第2領域の設計式データとに基づいて、前記回転軸に対する前記第1領域の非球面軸の位置と傾きとを算出する第2算出工程と、
前記第1算出工程での算出結果と、前記第2算出工程での算出結果とに基づいて、前記第1領域における非球面偏心量と非球面偏心方向とを算出する非球面偏心算出工程と、
を具備することを特徴とする偏心測定方法。
(作用・効果)
非球面軸を求めるにあたって、第1領域よりも大きな非球面量が与えられている第2領域を用いて、第2領域の面形状を測定することによって、非球面軸の傾きが微小であっても、第1領域に比べて、得られる形状の振幅が大きくなり、信号対ノイズ比(S/N比)を向上することができ、非球面軸を高精度に求めることができる。
非球面軸を求めるにあたって、第1領域よりも大きな非球面量が与えられている第2領域を用いて、第2領域の面形状を測定することによって、非球面軸の傾きが微小であっても、第1領域に比べて、得られる形状の振幅が大きくなり、信号対ノイズ比(S/N比)を向上することができ、非球面軸を高精度に求めることができる。
また、本発明では、光学素子の光軸と各面の非球面軸から、非球面偏心量と非球面偏心方向を算出している。
これらは、いずれも回転軸を基準にして得ている。そうすると、セッティング時に光学素子が傾いたとしても、この傾きは、光学素子の光軸と非球面軸の両方に同じ量だけ加わるため、光学素子の光軸と各面の非球面軸から算出する際にキャンセルされる。よって、セッティング時の傾きの影響をうけることがない。
2.前記第1領域における近軸曲率中心の位置と、前記第2領域における近軸曲率中心の位置とは略一致していることを特徴とする1記載の偏心測定方法。
(作用・効果)
有効径を含む第1領域の近軸曲率中心の位置と、その外周部に設けられた第2領域の近軸曲率中心の位置が略一致するようにしておけば、光学素子の第2領域の非球面軸の回転軸に対する位置と傾きを求めることができる。
有効径を含む第1領域の近軸曲率中心の位置と、その外周部に設けられた第2領域の近軸曲率中心の位置が略一致するようにしておけば、光学素子の第2領域の非球面軸の回転軸に対する位置と傾きを求めることができる。
3.前記第1領域における近軸曲率中心の位置と、前記第2領域におけるローカル曲率中心の位置とは略一致していることを特徴とする1記載の偏心測定方法。
(作用・効果)
有効径を含む第1領域の近軸曲率中心の位置とその外周部に設けられた第2領域のローカル曲率中心の位置とが略一致するようにしておけば、光学素子の第2領域の非球面軸の回転軸に対する位置と傾きを求めることができる。
有効径を含む第1領域の近軸曲率中心の位置とその外周部に設けられた第2領域のローカル曲率中心の位置とが略一致するようにしておけば、光学素子の第2領域の非球面軸の回転軸に対する位置と傾きを求めることができる。
4.少なくとも一方の面が非球面である光学素子の偏心を測定する偏心測定装置であって、
前記光学素子の非球面は、有効径を含む第1領域と、前記第1領域の非球面軸と同軸上にあって前記光学素子の外周部に設けられた第2領域とを備え、前記第2領域における非球面は、前記第1領域における非球面よりも大きな非球面量を有し、
前記光学素子を所定の回転軸周りに回転させ、前記回転軸に沿う方向から前記光学素子に対して光を照射する光照射部と、
前記光学素子の各面について、前記第1領域から反射された反射光により形成されるスポットの位置を所定の回転角ごとに検出するスポット位置検出部と、
前記スポット位置検出部での検出結果に基づいて、前記光学素子の前記第1領域に係る各面について、前記回転軸に対する近軸曲率中心の位置を算出する近軸曲率中心位置算出部と、
前記光学素子の各面における近軸曲率中心の位置に基づいて、前記回転軸に対する光軸の位置と傾きとを算出する第1算出部と、
前記光学素子の前記第2領域の面形状を測定する面形状測定部と、
前記面形状測定部での測定結果と、前記第2領域の設計式データとに基づいて、前記回転軸に対する前記第1領域の非球面軸の位置と傾きとを算出する第2算出部と、
前記第1算出部での算出結果と、前記第2算出部での算出結果とに基づいて、前記第1領域における非球面偏心量と非球面偏心方向とを算出する非球面偏心算出部と、
を具備することを特徴とする偏心測定装置。
前記光学素子の非球面は、有効径を含む第1領域と、前記第1領域の非球面軸と同軸上にあって前記光学素子の外周部に設けられた第2領域とを備え、前記第2領域における非球面は、前記第1領域における非球面よりも大きな非球面量を有し、
前記光学素子を所定の回転軸周りに回転させ、前記回転軸に沿う方向から前記光学素子に対して光を照射する光照射部と、
前記光学素子の各面について、前記第1領域から反射された反射光により形成されるスポットの位置を所定の回転角ごとに検出するスポット位置検出部と、
前記スポット位置検出部での検出結果に基づいて、前記光学素子の前記第1領域に係る各面について、前記回転軸に対する近軸曲率中心の位置を算出する近軸曲率中心位置算出部と、
前記光学素子の各面における近軸曲率中心の位置に基づいて、前記回転軸に対する光軸の位置と傾きとを算出する第1算出部と、
前記光学素子の前記第2領域の面形状を測定する面形状測定部と、
前記面形状測定部での測定結果と、前記第2領域の設計式データとに基づいて、前記回転軸に対する前記第1領域の非球面軸の位置と傾きとを算出する第2算出部と、
前記第1算出部での算出結果と、前記第2算出部での算出結果とに基づいて、前記第1領域における非球面偏心量と非球面偏心方向とを算出する非球面偏心算出部と、
を具備することを特徴とする偏心測定装置。
(作用・効果)
構成4の作用・効果は構成1と同様である。
構成4の作用・効果は構成1と同様である。
10…非球面レンズ、11…光学面、12…非球面形状、13…光学面、14…非球面形状、15…回転軸、16…光軸、17…演算手段、18…スポット軌跡検出手段、19…保持手段、19a…接触部、20…回転手段、21…回転角測定部、22a…上面形状測定手段、22b…下面形状測定手段、23…上下移動手段、30…測定テーブル、31…非球面軸、32…非球面軸、33…非球面面頂、34…非球面面頂、35…接触部、36…接触部。
Claims (4)
- 少なくとも一方の面が非球面である光学素子の偏心を測定する偏心測定方法であって、
前記光学素子の非球面は、有効径を含む第1領域と、前記第1領域の非球面軸と同軸上にあって前記光学素子の外周部に設けられた第2領域とを備え、前記第2領域における非球面は、前記第1領域における非球面よりも大きな非球面量を有し、
前記光学素子を所定の回転軸周りに回転させ、前記回転軸に沿う方向から前記光学素子に対して光を照射する光照射工程と、
前記光学素子の各面について、前記第1領域から反射された反射光により形成されるスポットの位置を所定の回転角ごとに検出するスポット位置検出工程と、
前記スポット位置検出工程における検出結果に基づいて、前記光学素子の前記第1領域に係る各面について、前記回転軸に対する近軸曲率中心の位置を算出する近軸曲率中心位置算出工程と、
前記光学素子の各面における近軸曲率中心の位置に基づいて、前記回転軸に対する光軸の位置と傾きとを算出する第1算出工程と、
前記光学素子の前記第2領域の面形状を測定する工程と、
前記面形状測定工程での測定結果と、前記第2領域の設計式データとに基づいて、前記回転軸に対する前記第1領域の非球面軸の位置と傾きとを算出する第2算出工程と、
前記第1算出工程での算出結果と、前記第2算出工程での算出結果とに基づいて、前記第1領域における非球面偏心量と非球面偏心方向とを算出する非球面偏心算出工程と、
を具備することを特徴とする偏心測定方法。 - 前記第1領域における近軸曲率中心の位置と、前記第2領域における近軸曲率中心の位置とは略一致していることを特徴とする請求項1記載の偏心測定方法。
- 前記第1領域における近軸曲率中心の位置と、前記第2領域におけるローカル曲率中心の位置とは略一致していることを特徴とする請求項1記載の偏心測定方法。
- 少なくとも一方の面が非球面である光学素子の偏心を測定する偏心測定装置であって、
前記光学素子の非球面は、有効径を含む第1領域と、前記第1領域の非球面軸と同軸上にあって前記光学素子の外周部に設けられた第2領域とを備え、前記第2領域における非球面は、前記第1領域における非球面よりも大きな非球面量を有し、
前記光学素子を所定の回転軸周りに回転させ、前記回転軸に沿う方向から前記光学素子に対して光を照射する光照射部と、
前記光学素子の各面について、前記第1領域から反射された反射光により形成されるスポットの位置を所定の回転角ごとに検出するスポット位置検出部と、
前記スポット位置検出部での検出結果に基づいて、前記光学素子の前記第1領域に係る各面について、前記回転軸に対する近軸曲率中心の位置を算出する近軸曲率中心位置算出部と、
前記光学素子の各面における近軸曲率中心の位置に基づいて、前記回転軸に対する光軸の位置と傾きとを算出する第1算出部と、
前記光学素子の前記第2領域の面形状を測定する面形状測定部と、
前記面形状測定部での測定結果と、前記第2領域の設計式データとに基づいて、前記回転軸に対する前記第1領域の非球面軸の位置と傾きとを算出する第2算出部と、
前記第1算出部での算出結果と、前記第2算出部での算出結果とに基づいて、前記第1領域における非球面偏心量と非球面偏心方向とを算出する非球面偏心算出部と、
を具備することを特徴とする偏心測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003398173A JP2005156469A (ja) | 2003-11-27 | 2003-11-27 | 偏心測定方法及び偏心測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003398173A JP2005156469A (ja) | 2003-11-27 | 2003-11-27 | 偏心測定方法及び偏心測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005156469A true JP2005156469A (ja) | 2005-06-16 |
Family
ID=34723092
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003398173A Withdrawn JP2005156469A (ja) | 2003-11-27 | 2003-11-27 | 偏心測定方法及び偏心測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005156469A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008089401A (ja) * | 2006-10-02 | 2008-04-17 | Topcon Corp | レンズ振れ測定装置、レンズ芯取り装置、形状測定装置 |
WO2015146634A1 (ja) * | 2014-03-28 | 2015-10-01 | コニカミノルタ株式会社 | 非球面の偏心量測定方法及び形状解析方法 |
-
2003
- 2003-11-27 JP JP2003398173A patent/JP2005156469A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008089401A (ja) * | 2006-10-02 | 2008-04-17 | Topcon Corp | レンズ振れ測定装置、レンズ芯取り装置、形状測定装置 |
WO2015146634A1 (ja) * | 2014-03-28 | 2015-10-01 | コニカミノルタ株式会社 | 非球面の偏心量測定方法及び形状解析方法 |
JPWO2015146634A1 (ja) * | 2014-03-28 | 2017-04-13 | コニカミノルタ株式会社 | 非球面の偏心量測定方法及び形状解析方法 |
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