JP2005148010A - 被検体の形状及び明暗の検出方法とその装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 表面に比較的大きな凹凸があった場合でも、被検体の形状と明暗とを精度よく検出する方法とその装置を提供する。
【解決手段】 タイヤのサイドウォール部1の前面に設置されたラインレーザマーカー11と、このラインレーザマーカー11の左右に設置された上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bを移動させながら、タイヤのサイドウォール部1表面に垂直にレーザ光11pを照射し、上記照射部からの反射光11q,11rによる画像を上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bでそれぞれ撮影して、上記撮影された反射像を画像合成手段13にて合成し、この合成された反射像である合成画像を画像処理装置14にて画像処理して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出するようにした。
【選択図】 図1
【解決手段】 タイヤのサイドウォール部1の前面に設置されたラインレーザマーカー11と、このラインレーザマーカー11の左右に設置された上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bを移動させながら、タイヤのサイドウォール部1表面に垂直にレーザ光11pを照射し、上記照射部からの反射光11q,11rによる画像を上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bでそれぞれ撮影して、上記撮影された反射像を画像合成手段13にて合成し、この合成された反射像である合成画像を画像処理装置14にて画像処理して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出するようにした。
【選択図】 図1
Description
本発明は、例えば、タイヤやタイヤ構成部品などの被検体の形状と明暗とを検出する方法とその装置に関するものである。
従来、画像処理により被検体の形状を検出する方法として、被検体表面にスリット光を照射し、その反射像をカメラで撮影し、得られた画像データから上記被検体の形状や表面の凹凸状態を検出する光切断法が用いられている。上記光切断法は、例えば、タイヤ表面に半導体レーザなどの投光手段によりスリット光を照射して、エリアカメラで上記スリット光の照射部を撮影し、撮影された画像データを二次元座標に変換してタイヤの外形形状を求めるもので、この外形形状を予め記憶してある判定対象画像と比較することにより、ビート部,トレッド部,サイドウォール部などのタイヤの形状を検査することが可能となる。このとき、投光手段及び撮像手段とタイヤとを相対的に回転させることにより、所定の領域のタイヤ形状や円心度を検出する(例えば、特許文献1参照)。
また、プラスチック成形品を移動させながらその表面に斜め方向からスリット光を照射してその反射像を順次撮影し、上記成形品の表面の凹凸やうねりの状態、あるいは、微妙な色の変化に対応する上記反射像の濃淡のデータを数値化して上記反射像の輝度曲線を求めた後、上記輝度曲線の平均輝度偏差を算出して上記成形品の表面状態の良否を判定する方法も提案されている(例えば、特許文献2参照)。
特開平11−138654号公報
特開2003−139714号公報
また、プラスチック成形品を移動させながらその表面に斜め方向からスリット光を照射してその反射像を順次撮影し、上記成形品の表面の凹凸やうねりの状態、あるいは、微妙な色の変化に対応する上記反射像の濃淡のデータを数値化して上記反射像の輝度曲線を求めた後、上記輝度曲線の平均輝度偏差を算出して上記成形品の表面状態の良否を判定する方法も提案されている(例えば、特許文献2参照)。
しかしながら、上記光切断法は、表面の凹凸が滑らかな場合やその段差が小さい場合には有効であるが、被検体がタイヤサイドウォールに刻印されたタイヤ表示や模様などの標識などのように、凹凸の段差が比較的大きい場合には、図5(a)に示すように、ラインレーザマーカー51からのレーザ光51pが標識52の凹凸の段差に隠れてしまうため、図5(b)に示すように、カメラ53で撮影され、画像処理装置54で画像処理された上記標識52の反射像55には、画像データが欠落している部分(以下、死角という)Dが生じてしまい、上記標識52の形状や明暗を正確に検出することができないといった問題点があった。
本発明は、従来の問題点に鑑みてなされたもので、表面に比較的大きな凹凸があった場合でも、被検体の形状と明暗とを精度よく検出する方法とその装置を提供することを目的とする。
本発明の請求項1に記載の発明は、被検体を検出手段に対して相対移動させながら、上記被検体の検出対象面にスリット光を照射して上記スリット光による反射像を撮像手段にて撮影し、この撮影された反射像の画素データから上記被検体の形状と明暗とを検出する被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記スリット光の照射部からの互いに異なる少なくとも2つの方向の反射像を合成して、上記被検体の形状と明暗とを検出するようにしたことを特徴とするものである。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記スリット光の照射部の画像を、互いに異なる少なくとも2つの方向から撮影し、上記撮影された画像データを合成することを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、互いに異なる少なくとも2つの方向の反射光をミラーにて反射して上記撮像手段に導びき、これを合成するようにしたことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記スリット光の照射部の画像を、互いに異なる少なくとも2つの方向から撮影し、上記撮影された画像データを合成することを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、互いに異なる少なくとも2つの方向の反射光をミラーにて反射して上記撮像手段に導びき、これを合成するようにしたことを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1〜請求項3のいずれかに記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記被検体をタイヤとしたことを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記タイヤの側面の形状及び明暗を検出することを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記タイヤの側面の凹凸を検出することを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記タイヤの側面の形状及び明暗を検出することを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記タイヤの側面の凹凸を検出することを特徴とする。
また、請求項7に記載の発明は、被検体の検査対象面にスリット光を照射する投光手段と、上記スリット光の照射部を撮影する撮像手段と、上記投光手段及び撮像手段と上記被検体とを相対的に移動させる手段と、上記撮像手段の画素データに基づいて上記被検体の形状と明暗とを検出する被検体の形状及び明暗の検出装置において、上記スリット光の照射部の画像を、互いに異なる2つの方向から撮影する撮像手段を備えるとともに、上記2つの撮像手段で撮影された上記照射部の画像を合成する手段を備え、上記合成された画像から上記被検体の形状と明暗とを検出するようにしたものである。
また、請求項8に記載の発明は、被検体の検査対象面にスリット光を照射する投光手段と、上記スリット光の照射部を撮影する撮像手段と、上記投光手段及び撮像手段と上記被検体とを相対的に移動させる手段と、上記撮像手段の画素データに基づいて上記被検体の形状と明暗とを検出する被検体の形状及び明暗の検出装置において、上記スリット光の照射部からの反射光を上記撮像手段の方向に反射する第1のミラーと、上記反射光を上記撮像手段とは異なる方向に反射する第2のミラーと、上記第1のミラーからの反射光を透過し、上記第2のミラーからの反射光を上記撮像手段の方向に反射するビームスプリッターとを備え、上記第1及び第2のミラーからの反射光を合成し、上記合成された画像から上記被検体の形状と明暗とを検出するようにしたものである。
本発明によれば、被検体の検出対象面にスリット光を照射して上記スリット光による反射像を撮像手段にて撮影し、この撮影された反射像の画素データから上記被検体の形状と明暗とを検出する際に、上記スリット光の照射部からの互いに異なる少なくとも2つの方向の反射像を合成して、上記被検体の形状と明暗とを検出するようにしたので、被検体表面に比較的大きな凹凸があった場合でも、被検体の形状と明暗とを精度よく検出することができる。
以下、本発明の最良の形態について、図面に基づき説明する。
最良の形態1.
図1は、本発明の最良の形態1に係わるタイヤサイド部の形状・明暗検出方法とタイヤサイド部の形状・明暗検出装置10の概要を示す図で、同図において、11は被検体であるタイヤのサイドウォール部1にレーザ光11pを照射するラインレーザマーカー、12A,12Bは上記レーザ光11pの照射部である、タイヤのサイドウォール部1表面の稜線の画像(スリット像S)を撮影する第1及び第2の撮像手段、13は上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bで撮影された上記レーザ光11pによる反射像を合成する画像合成手段、14は上記得られた合成画像の画素データを画像処理して上記反射像の明暗の変化点の差と明暗階調とを算出して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出する画像処理装置である。本例では、上記撮像手段12A,12Bとして、CCD/C−MOSイメージセンサカメラを用いているが、一般に普及しているCCDカメラあるいはC−MOSC−MOSイメージセンサを用いてもよい。
最良の形態1.
図1は、本発明の最良の形態1に係わるタイヤサイド部の形状・明暗検出方法とタイヤサイド部の形状・明暗検出装置10の概要を示す図で、同図において、11は被検体であるタイヤのサイドウォール部1にレーザ光11pを照射するラインレーザマーカー、12A,12Bは上記レーザ光11pの照射部である、タイヤのサイドウォール部1表面の稜線の画像(スリット像S)を撮影する第1及び第2の撮像手段、13は上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bで撮影された上記レーザ光11pによる反射像を合成する画像合成手段、14は上記得られた合成画像の画素データを画像処理して上記反射像の明暗の変化点の差と明暗階調とを算出して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出する画像処理装置である。本例では、上記撮像手段12A,12Bとして、CCD/C−MOSイメージセンサカメラを用いているが、一般に普及しているCCDカメラあるいはC−MOSC−MOSイメージセンサを用いてもよい。
次に、上記装置10によるタイヤサイド部の形状・明暗検出方法について説明する。
まず、ラインレーザマーカー11を検査対象であるタイヤのサイドウォール部1の前面に設置するとともに、その左右に上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bを設置し、ラインレーザマーカー11からのレーザ光11pを上記サイドウォール部1表面に垂直に照射しながら、上記ラインレーザマーカー11と第1及び第2の撮像手段12A,12Bとを移動させる。そして、上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bにより、上記サイドウォール部1の上記照射部からの左右の反射光11q,11rによる画像(反射像)をそれぞれ撮影する。自動車用タイヤのサイドウォール部1には、タイヤ構造記号,断面幅,リム径呼び,偏平率などを表わす文字や数字から成るタイヤ表示や、模様などの標識2が刻印されている。この標識2は、上記サイドウォール部1の輪郭や凹凸よりも大きな段差を有しているため、例えば、図2に示すように、一方の撮像手段(ここでは、第2の撮像手段12B)で撮影した反射像15Bには、上記ラインレーザマーカー11からのレーザ光11pが標識52の凹凸の段差に隠れてしまうために生じる死角Dができてしまうが、他方の撮像手段(第1の撮像手段12A)で撮影した反射像15Aには、上記死角がないので、これらの反射像15A,15Bを画像合成手段13にて合成し、この合成された反射像である合成画像15Cを画像処理装置14に送り、上記合成画像15Cの画素データを画像処理して上記標識52の画像の変化点と明暗階調とを算出して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出するようにすれば、大きな段差を有する標識52が多数刻印されているタイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを容易にかつ正確に検出することができる。
まず、ラインレーザマーカー11を検査対象であるタイヤのサイドウォール部1の前面に設置するとともに、その左右に上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bを設置し、ラインレーザマーカー11からのレーザ光11pを上記サイドウォール部1表面に垂直に照射しながら、上記ラインレーザマーカー11と第1及び第2の撮像手段12A,12Bとを移動させる。そして、上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bにより、上記サイドウォール部1の上記照射部からの左右の反射光11q,11rによる画像(反射像)をそれぞれ撮影する。自動車用タイヤのサイドウォール部1には、タイヤ構造記号,断面幅,リム径呼び,偏平率などを表わす文字や数字から成るタイヤ表示や、模様などの標識2が刻印されている。この標識2は、上記サイドウォール部1の輪郭や凹凸よりも大きな段差を有しているため、例えば、図2に示すように、一方の撮像手段(ここでは、第2の撮像手段12B)で撮影した反射像15Bには、上記ラインレーザマーカー11からのレーザ光11pが標識52の凹凸の段差に隠れてしまうために生じる死角Dができてしまうが、他方の撮像手段(第1の撮像手段12A)で撮影した反射像15Aには、上記死角がないので、これらの反射像15A,15Bを画像合成手段13にて合成し、この合成された反射像である合成画像15Cを画像処理装置14に送り、上記合成画像15Cの画素データを画像処理して上記標識52の画像の変化点と明暗階調とを算出して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出するようにすれば、大きな段差を有する標識52が多数刻印されているタイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを容易にかつ正確に検出することができる。
このように、本最良の形態1によれば、タイヤのサイドウォール部1の前面に設置されたラインレーザマーカー11と、このラインレーザマーカー11の左右に設置された上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bを移動させながら、タイヤのサイドウォール部1表面に垂直にレーザ光11pを照射し、上記照射部からの反射光11q,11rによる画像を上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bでそれぞれ撮影して、上記撮影された反射像15A,15Bを画像合成手段13にて合成し、この合成された反射像である合成画像15Cを画像処理装置14にて画像処理して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出するようにしたので、大きな段差を有する標識52が多数刻印されたタイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを容易にかつ正確に検出することができる。
なお、上記最良の形態1では、被検体が製品タイヤのサイドウォール部1である場合について説明したが、本発明はこれに限るものではなく、製品タイヤのクラウン部のブロックパターン、ショルダー部のパターン、加硫前のタイヤやタイヤ構成部材、更には、各種機械部品やゴルフのヘッド、携帯電話,パソコン,テレビ,オーディオ,家電製品,自動車,オートバイ,自転車等の組付け品の欠陥、誤組付け、組付け隙間、加工品の加工形状,キズ,ワレ、部品の組付け形状、部品の組付け位置、異品の取付け、部品重なり、寸法検査など、形状や明暗の検査が必要とされる被検体に適用可能である。
また、上記例では、第1の撮像手段12Bで撮影した反射像15Bに死角Dが生じ、第1の撮像手段12Aで撮影した反射像15Aには、死角がないものとしたが、第1及び第2の撮像手段12A,12Bの設置位置や、標識2の形状等によっては、第1及び第2の撮像手段12A,12Bの両方に死角が生じる場合も考えられる。しかし、この場合でも、上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bでは反射像の撮影位置が異なることから、2つの反射像15A,15Bの死角の生じる箇所は異なるので、この場合でも、合成画像15Cとしては死角の極めて少ない画像を得ることができる。
また、上記例では、第1の撮像手段12Bで撮影した反射像15Bに死角Dが生じ、第1の撮像手段12Aで撮影した反射像15Aには、死角がないものとしたが、第1及び第2の撮像手段12A,12Bの設置位置や、標識2の形状等によっては、第1及び第2の撮像手段12A,12Bの両方に死角が生じる場合も考えられる。しかし、この場合でも、上記第1及び第2の撮像手段12A,12Bでは反射像の撮影位置が異なることから、2つの反射像15A,15Bの死角の生じる箇所は異なるので、この場合でも、合成画像15Cとしては死角の極めて少ない画像を得ることができる。
最良の形態2.
上記最良の形態1では、2つの撮像手段12A,12Bを用いて照射部の反射像15A,15Bを撮影して合成画像15Cを作成したが、図3に示すように、タイヤのサイドウォール部1からの異なる方向の反射光11q,11rをそれぞれミラー21A,21Bにて反射してこれを撮像手段22に導びき、これを合成するタイヤサイド部の形状・明暗検出装置20を構成すれば、撮像手段が1つであっても合成画像を作成することができる。
具体的には、ラインレーザマーカー11をタイヤのサイドウォール部1の前面に設置し、その左右に第1及び第2のミラー21A,21Bを設置するとともに、上記ラインレーザマーカー11からの反射像を撮影する撮像手段22の前にビームスプリッター23を設置する。上記ビームスプリッター23は、例えば、図4(a),(b)に示すように、薄膜23mに入射した入射光23aの一部を反射し、残りを透過させるもので、周知のハーフミラーの場合には、反射光23bと透過光23cとの比率は1:1となる。
本例では、上記第1のミラー21Aを、一方の反射光11qを反射した反射光21qが上記ビームスプリッター23を透過して撮像手段22の方向に入射するような位置に配置し、上記第2のミラー21Bを、他方の反射光11rを反射した反射光21rが上記ビームスプリッター23で反射されて上記撮像手段22の方向に入射するような位置に配置する。これにより、上記撮像手段22には、上記第1のミラー21Aを介して反射光11qが、上記第2のミラー21Bを介して反射光11rが入射されることになる。すなわち、上記撮像手段22には、上記ビームスプリッター23を介して、上記照射部からの互いに異なる方向の反射光11qと反射光11rとがともに入射されるので、上記撮像手段22で撮影して得られたた画像データは、上記反射像15Aと反射像15Bとを合成した合成射像15Cと同等の画像データとなる。したがって、画像処理装置14にて、上記画像データを画像処理して上記標識52の画像の変化点と明暗階調とを算出して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出するようにすれば、画像合成手段13を省略できるとともに、1つの撮像手段22であっても、タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを容易にかつ正確に検出することができる。
上記最良の形態1では、2つの撮像手段12A,12Bを用いて照射部の反射像15A,15Bを撮影して合成画像15Cを作成したが、図3に示すように、タイヤのサイドウォール部1からの異なる方向の反射光11q,11rをそれぞれミラー21A,21Bにて反射してこれを撮像手段22に導びき、これを合成するタイヤサイド部の形状・明暗検出装置20を構成すれば、撮像手段が1つであっても合成画像を作成することができる。
具体的には、ラインレーザマーカー11をタイヤのサイドウォール部1の前面に設置し、その左右に第1及び第2のミラー21A,21Bを設置するとともに、上記ラインレーザマーカー11からの反射像を撮影する撮像手段22の前にビームスプリッター23を設置する。上記ビームスプリッター23は、例えば、図4(a),(b)に示すように、薄膜23mに入射した入射光23aの一部を反射し、残りを透過させるもので、周知のハーフミラーの場合には、反射光23bと透過光23cとの比率は1:1となる。
本例では、上記第1のミラー21Aを、一方の反射光11qを反射した反射光21qが上記ビームスプリッター23を透過して撮像手段22の方向に入射するような位置に配置し、上記第2のミラー21Bを、他方の反射光11rを反射した反射光21rが上記ビームスプリッター23で反射されて上記撮像手段22の方向に入射するような位置に配置する。これにより、上記撮像手段22には、上記第1のミラー21Aを介して反射光11qが、上記第2のミラー21Bを介して反射光11rが入射されることになる。すなわち、上記撮像手段22には、上記ビームスプリッター23を介して、上記照射部からの互いに異なる方向の反射光11qと反射光11rとがともに入射されるので、上記撮像手段22で撮影して得られたた画像データは、上記反射像15Aと反射像15Bとを合成した合成射像15Cと同等の画像データとなる。したがって、画像処理装置14にて、上記画像データを画像処理して上記標識52の画像の変化点と明暗階調とを算出して上記タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを検出するようにすれば、画像合成手段13を省略できるとともに、1つの撮像手段22であっても、タイヤのサイドウォール部1の形状と明暗とを容易にかつ正確に検出することができる。
このように、本発明によれば、例えば、タイヤのサイドウォール部に刻印された文字などの様に、被検体表面に比較的大きな凹凸があった場合でも、被検体の形状と明暗とを精度よく検出することができるので、被検体の検査を正確に行うことができる。
1 タイヤのサイドウォール部、2 標識、
10 タイヤサイド部の形状・明暗検出装置、11 ラインレーザマーカー、
11p レーザ光、11q,11r 反射光、12A 第1の撮像手段、
12B 第2の撮像手段、13 画像合成手段、14 画像処理装置。
10 タイヤサイド部の形状・明暗検出装置、11 ラインレーザマーカー、
11p レーザ光、11q,11r 反射光、12A 第1の撮像手段、
12B 第2の撮像手段、13 画像合成手段、14 画像処理装置。
Claims (8)
- 被検体を検出手段に対して相対移動させながら、上記被検体の検出対象面にスリット光を照射して上記スリット光による反射像を撮像手段にて撮影し、この撮影された反射像の画素データから上記被検体の形状と明暗とを検出する被検体の形状及び明暗の検出方法において、上記スリット光の照射部からの互いに異なる少なくとも2つの方向の反射像を合成して、上記被検体の形状と明暗とを検出するようにしたことを特徴とする被検体の形状及び明暗の検出方法。
- 上記スリット光の照射部の画像を、互いに異なる少なくとも2つの方向から撮影し、上記撮影された画像データを合成することを特徴とする請求項1に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法。
- 互いに異なる少なくとも2つの方向の反射光をミラーにて反射して上記撮像手段に導びき、これを合成するようにしたことを特徴とする請求項1に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法。
- 上記被検体をタイヤとしたことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の被検体の形状及び明暗の検出方法。
- 上記タイヤの側面の形状及び明暗を検出することを特徴とする請求項4に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法。
- 上記タイヤの側面の凹凸を検出することを特徴とする請求項5に記載の被検体の形状及び明暗の検出方法。
- 被検体の検査対象面にスリット光を照射する投光手段と、上記スリット光の照射部を撮影する撮像手段と、上記投光手段及び撮像手段と上記被検体とを相対的に移動させる手段と、上記撮像手段の画素データに基づいて上記被検体の形状と明暗とを検出する被検体の形状及び明暗の検出装置において、上記スリット光の照射部の画像を、互いに異なる2つの方向から撮影する撮像手段を備えるとともに、上記2つの撮像手段で撮影された上記照射部の画像を合成する手段を備えたことを特徴とする被検体の形状及び明暗の検出装置。
- 被検体の検査対象面にスリット光を照射する投光手段と、上記スリット光の照射部を撮影する撮像手段と、上記投光手段及び撮像手段と上記被検体とを相対的に移動させる手段と、上記撮像手段の画素データに基づいて上記被検体の形状と明暗とを検出する被検体の形状及び明暗の検出装置において、上記スリット光の照射部からの反射光を上記撮像手段の方向に反射する第1のミラーと、上記反射光を上記撮像手段とは異なる方向に反射する第2のミラーと、上記第1のミラーからの反射光を透過し、上記第2のミラーからの反射光を上記撮像手段の方向に反射するビームスプリッターとを備えたことを特徴とする被検体の形状及び明暗の検出装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003389594A JP2005148010A (ja) | 2003-11-19 | 2003-11-19 | 被検体の形状及び明暗の検出方法とその装置 |
PCT/JP2004/016766 WO2005050131A1 (ja) | 2003-11-19 | 2004-11-11 | 被検体の形状及び明暗の検出方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family
ID=34616256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003389594A Pending JP2005148010A (ja) | 2003-11-19 | 2003-11-19 | 被検体の形状及び明暗の検出方法とその装置 |
Country Status (2)
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---|---|
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WO (1) | WO2005050131A1 (ja) |
Cited By (14)
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Publication number | Publication date |
---|---|
WO2005050131A1 (ja) | 2005-06-02 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090901 |