JP2005101230A - 半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子 - Google Patents

半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2005101230A
JP2005101230A JP2003332303A JP2003332303A JP2005101230A JP 2005101230 A JP2005101230 A JP 2005101230A JP 2003332303 A JP2003332303 A JP 2003332303A JP 2003332303 A JP2003332303 A JP 2003332303A JP 2005101230 A JP2005101230 A JP 2005101230A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sapphire substrate
gan
semiconductor
chromium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003332303A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Watanabe
健一 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2003332303A priority Critical patent/JP2005101230A/ja
Publication of JP2005101230A publication Critical patent/JP2005101230A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

【課題】クロムまたはクロム及びチタンを含有するサファイア基板上に複数の凹凸を形成し、該基板上にGaN系LEDを作成し、該LEDから放射される光を効率的にサファイア基板側に入射させることにより、サファイア基板を通して光を取り出し、さらに該LEDの少なくとも上部または側面部に蛍光体を設置することにより、演色性の良い白色LEDを作製する。
【解決手段】クロムまたはクロム及びチタンをドープしたサファイア基板上に複数の凹凸を形成し、GaN系の半導体結晶層を成長させてLEDを作成し、該LEDの少なくとも上部または側面部に蛍光体を設置する。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いた半導体発光素子(LED)に関する物であり、特にその半導体発光素子がGaN系半導体結晶からなる青色LED、紫外LED、及びこれらを用いた演色性の良い白色LEDに関する。
GaN系半導体は、青色発光可能なバンドギャップの大きな材料として注目され、青色から紫外のGaN系LEDが実用化されたことから、これに蛍光体を組み合わせ、白色発光可能なLED(白色LED)が検討されている。
その1つの例として、青色LEDと黄色蛍光体とを組み合わせた白色LEDが挙げられる。この白色LEDの構成は、図6に模式的に示すように、青色LEDチップ26を覆う樹脂モールド27中に、黄色蛍光体28(青色光25で励起され黄色光を発する蛍光体)を分散させたものである。このような構成によって、蛍光体に吸収されず樹脂モールドを通過する青色光29と、蛍光体からの黄色光30とが混ざり合い、白色に近い光が出力され、白色LEDとして使われている。
特開平10−242513 特開2003−197969 特開2002−141615 特表2003−514401 特開2002−280611 特開2003−60227 JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PYSICS VOL.5,No.11,NOVEMBER,1966 日経エレクトロニクス2003年3月31日号p128〜p133
しかし、青色光と黄色光とを組み合わせた白色光は、色純度が悪く(即ち、3原色の光を完全には含んでおらず)、照明として用いるには好ましくない。
一方図7に模式的に示すように、紫外LED32と、RGB蛍光体33とを組み合わせ、色純度の良好な白色光34を発生させる試みもなされている。RGB蛍光体33は、紫外LEDからの主発光31に励起されて3原色(R、G、B、3波長)の蛍光を発する蛍光体成分を含むものである。3原色の混色による色純度の良好な白色光は、演色性が高く、好ましい照明用光源となり得る。
しかし、このようなRGB白色蛍光体を用いたものは、特定色の蛍光についての変換効率、特に赤色についての変換効率が悪いために、該赤色蛍光体の含有量を増加して補正する必要がある。よって、そのために白色光の出力が弱くなるという問題がある。
尚、特許文献4には、サファイアに希土類あるいは遷移金属をドープすることによりLEDから出た光がサファイアのドーパントに吸収され、ドーパントが放出する赤色の発光がLEDの表面から放射されると記載されている。しかし、この場合LEDから放射された光の多くは窒化ガリウムとサファイアの屈折率の違いから、サファイアの表面で反射されてしまい、実際にはLEDの表面から放射される赤色の光は非常に弱いものであり、実用には適さないレベルのものである。これは、発光層から上下方向に発せられた光の一部はサファイア基板内に入射してサファイアのドーパントに吸収されるが、発光層から横方向に向かって生じた光の多くは、例えば側壁で反射され、反射を繰り返すなどにより、素子内で吸収され減衰し消滅してしまう為である。従って、この方法得られた赤色の発光は演色性の良い白色LEDを得るには不十分である。
また、特許文献4にはドーパントとして非常に多くの元素が挙げられているが、これらの元素の内の、どの元素が最も効果が大きいのか明確ではなく、また複数の組み合わせについても述べられていない。
本発明の課題は、上記問題に鑑み、演色性の良い白色光を発するLED用のサファイア基板を提供すること、及び該サファイア基板を用いた演色性の良い白色LED素子を提供することにある。
本発明者は、上記問題を解決すべく研究を行った結果、0.01%〜10%の濃度のクロムまたはクロム及びチタンを含有し、かつ主面に複数の凹凸を形成した基板上にGaN系LEDを作製することにより、白色LEDの演色性を高めるために必要な赤色の光を効率よく取り出すことができ、該基板を用いて演色性の良い白色LED素子を作成することが出来ることを見出した。
即ち本発明は、少なくともクロムを含有するサファイアから成り、波長が350〜600nmの光を吸収し、かつ少なくともルビーのR1線(波長694nm)及びR2線(波長693nm)の光を含む赤色の光を放射するサファイア基板であって、主面上に複数の凹凸を有する半導体素子用単結晶サファイア基板としたとを特徴とする。
また、前記凹凸がストライプ状の溝または少なくとも側面あるいは底面を持つ多角形状であることを特徴とする。
さらに、前記凹凸の少なくとも底面または側面に複数のエッチピットを有することを特徴とする。
また、前記凹凸の側面とサファイア基板の主面とのなす角度が10°〜90°であることを特徴とする。
さらに、前記エッチピットが角錐状であり主面に垂直な方向から見た時の底辺の少なくとも一辺が、サファイアのA軸に平行であるかまたはA軸に垂直であるか、もしくはサファイアのM軸に平行であるかまたはM軸に垂直であることを特徴とする。
また、前記クロムの含有量が0.01%以上かつ10%以下であることを特徴とする。
さらに、少なくともクロム及びチタンを含有し、クロムとチタンの合計含有量が0.01%以上かつ10%以下であることを特徴とする。
また、サファイアの主面が、C面±2°以内、A面±2°以内、R面±2°以内、M面±2°以内またはM面から30°±2°以内のいずれかを満たすことを特徴とする。
さらに、厚みが0.05mm以上2mm以下であることを特徴とする。
また、前記凹凸をドライエッチング法により形成して上記半導体素子用単結晶サファイア基板を製造することを特徴とする。
さらに、前記凹凸は単結晶サファイアの主面に所定のパターン形状の保護膜を密着し、主面をウェットエッチングすることによって形成することを特徴とする。
また、前記保護膜をECRスパッター法によって形成することを特徴とする。
さらに、EFG法、チョクラルスキー法、またはカイロポーラス法の何れかの方法で作製することを特徴とする。
また、前記サファイア基板の主面上に、AlGaN(X+Y=1,X≧0,Y≧0)のバッファ層を形成した後、その上にサファイア基板とは異なる屈折率を有するGaN系の半導体結晶層を成長させ、その中に発光層を含む半導体結晶層が積層された素子構造を有するGaN系半導体発光素子としたことを特徴とする。
さらに、前記凹凸の凹部において、前記GaN系の半導体層と前記サファイア基板との間に空洞を有することを特徴とする。
また、前記発光層から発せられる光の波長における、単結晶サファイア基板の屈折率と半導体結晶層の屈折率との差が、0.05以上であることを特徴とする。
さらに、前記半導体発光素子をフリップチップ実装してサファイア基板側から光を取り出すようにしたことを特徴とする。
また、前記発光層から放射される光が緑色系、青色系、青紫色系の少なくとも一つであることを特徴とする。
さらに、前記サファイア基板側から取り出された光が、緑色系、青色系、青紫色系の少なくとも一つの光と、これらの光がサファイア基板を通過する際にクロムまたはクロム及びチタンを励起することによって発光する中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光とが混合した光が放射されることを特徴とする。
また、前記GaN系半導体発光素子の少なくとも上部または側面部に、少なくともCeを含有するYAG系蛍光体を設置し、該蛍光体が前記GaN系半導体発光素子から放射される光の一部を吸収し、かつ黄色系の光を放射することにより、緑色系、青色系、青紫系の少なくとも一つの光と、中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光と、上記黄色系の光とが混合した光が放射されるようにしてGaN系半導体白色発光素子を構成したことを特徴とする。
さらに、前記GaN系半導体発光素子の少なくとも上部または側面部に青色または青紫色の光の一部を吸収し緑色を発光する蛍光体を設置することにより、青色系、青紫系の少なくとも一つの光と、中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光と、これらの光が上記蛍光体に照射されることにより放射される緑色系の光とが混合した光を放射するようにしてGaN系半導体白色発光素子を構成したことを特徴とする。
また、前記GaN系半導体発光素子から放射される、青紫色、青色、緑色の少なくとも一つの光の発光強度に合わせて、白色の演色性が最も良くなるように、あらかじめドープするクロムまたはクロム及びチタンの濃度と、基板の厚みを調整して作製されたサファイア基板を用いることを特徴とする。
以上のように本発明によれば、クロムまたはクロム及びチタンを含有するサファイア基板上に複数の凹凸を形成し、該基板上にGaN系LEDを作成し、該LEDから放射される光を効率的にサファイア基板側に入射させることにより、サファイア基板を通して光を取り出し、さらに該LEDの少なくとも上部または側面部に蛍光体を設置することにより、演色性の良い白色LEDを作製することが出来る。
以下、GaN系材料を用いたLED(GaN系LED)を例として挙げ、本発明を実施するための最良の形態を説明する。
図1に示す単結晶サファイア基板6は、少なくともクロムを含有するサファイアから成り、波長が350〜600nmの光を吸収し、かつ少なくともルビーのR1線(波長694nm)及びR2線(波長693nm)の光を放射するサファイア基板であって、主面6a上に複数の凹凸6cを有する。
クロムを含有するサファイアは、上記のように波長350〜600nmの光を吸収し、R1線、R2線を放射するので、通常の蛍光体では変換効率の悪い赤色系の光を効率良く放射させることが出来る。
また、基板の主面上に複数の凹凸6cを作成し、この基板の上にLED等の半導体発光素子を作製することにより、LEDから放射され基板側に向かう光を凹凸6cによって散乱させることができるので、GaN系半導体層とサファイア基板との界面で反射される光を低減させることが出来、光を効率良くサファイア基板側に導くことが出来る。また、この効果を高めるために、前記凹凸6cはストライプ状の溝であるか、または少なくとも側面あるいは底面を持つ多角形状であることが好ましい。
また、前記半導体素子用単結晶サファイア基板6は、前記凹凸6cの少なくとも底面または側面に複数のエッチピット6bを有することが好ましい。エッチピットを有する基板を用いることにより、散乱の効果をさらに高めることが出来るためである。これによって、LEDから放射された光の内、GaN層とサファイア基板6の界面で反射される光が減少し、サファイア基板6側に入射する光が増え、サファイア基板6側に入射した光は、サファイア基板6にドープされたクロムまたはクロム及びチタンを励起して、赤色の光を放射するので、結果的にLEDからは本来の発光である青色あるいは青紫色の光と基板から二次的に放射される赤色の光が混合された光が放射される。
また、前記凹凸6cの側面とサファイア基板6の主面とのなす角度が10°〜90°であることが好ましい。これは、この単結晶サファイア基板6を利用して作製するLED等の発光素子から放射される光を有効にサファイア基板6側に導くために有効である。
また、前記エッチピット6bが角錐状であり主面に垂直な方向から見た時の底辺の少なくとも一辺が、サファイアのA軸に平行であるかまたはA軸に垂直であるか、もしくはサファイアのM軸に平行であるかまたはM軸に垂直であることが好ましい。これは、当該基板の上に成長させるGaNなどの欠陥の低減に有効である。これはサファイア基板を適切な条件でエッチングを行うことにより達成できる。
エッチピット6bの数と大きさは熱リン酸等の温度と処理時間に依って決まる。また、エッチピット6bの向きは単結晶サファイア基板6の結晶方位と軸方位とによって決まる。このエッチピット6bの向きと形状を一定にするために単結晶サファイア6の主面6aはC面±2°以内、A面±2°以内、R面±2°以内、M面±2°以内またはM面から30°±2°以内のいずれかを満たす必要がある。これは、GaN系半導体を適正な結晶性でエピタキシャル成長させるために必要な範囲でもある。
また、前記半導体素子用単結晶サファイア基板6の厚みは0.05mm以上2mm以下であることが好ましい。これは赤色の発光強度を調整するために必要な厚さの範囲である。
ここで、上記サファイア基板6の複数の凹凸6cは、上記サファイア基板をエッチングして形成する。この基板の上にLED等の半導体発光素子を作製することにより、LEDから放射され基板側に向かう光を凹凸によって散乱させることができる。
前記凹凸はドライエッチング法によって形成しても良く、あるいはウェットエッチング法によって形成してもよい。
ドライエッチング法に於いては、単結晶サファイア基板6の主面6aにニッケルを主成分とする保護膜をスパッタ法で形成し、これにフォトレジストを塗布して通常の半導体露光プロセスを用いてストライプ状または、三角形、四角形、五角形、六角形などの所定のパターン状に加工し、残されたニッケルを主成分とする保護膜をマスクとして、反応性イオンエッチング法(RIE法)または逆スパッタ法によりサファイア基板をエッチング加工を行う。
また、ウェットエッチング法に於いては、単結晶サファイア基板6の主面6aにSiOを主成分とする保護膜を密着して積層する。この保護膜の形成には通常のスパッタ法を用いても良いが、ウェットエッチングに用の保護膜としては、ECRスパッタ法を用いる方がより好ましい。次に、該保護膜を通常の半導体プロセスを用いてストライプ状または、三角形、四角形、五角形、六角形などの所定のパターン状に加工し、残された該SiOを主成分とする保護膜をマスクとして、熱リン酸または熱リン酸と熱硫酸の混酸または熱溶融水酸化カリウムを用いて該サファイア基板6の主面6aをウェットエッチングすることにより凹凸6cを形成する。この製造工程に於いては、SiOをマスクとして200℃〜400℃の熱リン酸でウェットエッチングを行うという比較的簡単な工程で凹凸付きの基板を比較的安価に量産することが出来ることができる。即ち、適切な治具を用いることにより、一度に多数枚を処理できるため、従来のRIE法による方法に比べて非常に生産性が高く、量産に適している。この時の、熱リン酸によるエッチング温度と単位時間当たりのエッチング量との関係を図3に示す。
なお、この時エッチング条件によって凹凸6cの底面または側面にエッチピット6bが発生することがあるが、これはこの後の工程であるGaN半導体層の形成には悪影響を及ぼすことは無く、発光素子から放射される光を基板側に導く為にはかえって有用である。
このエッチピット6bの密度をさらに上げたい場合は単結晶サファイア基板6に熱や圧力を加えて故意に結晶欠陥を導入した後、エッチング処理を行っても良い。例えば、1200℃〜1400℃で20気圧を加えた後、更に熱処理を行う等の処理を行っても良い。
また、このエッチピット6bの大きさは一辺が300μm以下となるように温度と時間の条件を調整することが好ましい。これは、LED素子の大きさが通常300μm×300μm程度であり、横方向の光を効率よく取り出すためにはエッチピット6bの大きさが少なくともこのサイズ以下に成るようにコントロールする必要が有るためである。ここでエッチピット6bの深さの好ましい範囲は、幾何学的な考察から250μm以下が好ましく、また、LEDの製造工程で、一般的にダイシング工程の前に基板をバックグラインドを行い、厚みを薄くすることからもエッチピットの深さは250μm以下が好ましい。
さらに、前記単結晶サファイア基板6は、クロムの含有量が0.01%以上かつ10%以下であることが好ましい。また、前記単結晶サファイア基板6は、少なくともクロム及びチタンを含有し、クロムとチタンの合計含有量が0.01%以上かつ10%以下であってもよい。前記クロムまたはクロム及びチタンの含有量はLEDから放射される青紫色、青色、緑色などの発光強度と赤の発光とのバランスによって決まるものであり、また、クロムまたはクロム及びチタンを10%以上ドープするとサファイアの結晶が悪化恐れがあるため、適正な含有量の範囲がある。
さて、この様な単結晶サファイア基板は、EFG法、チョクラルスキー法(Cz法)、カイロポーラス法などによって軸方位の定まったサファイア素材を引き上げて作製する。ここではチョクラルスキー法による場合を説明する。
図2に示すように、引き上げ炉はイリジウムルツボ1と、その周りに断熱材として配置したジルコニアの粉末と、その外側に備えたアルミナルツボと、高周波誘導コイル2から構成されている。また、イリジウムルツボ1の下側には温度測定のためのサファイアロッドが設置されている。さらに、引き上げられたサファイア結晶3の周りには、アルミナ製の断熱材4が配置されている。
原料5として、例えばベルヌーイ法で作られたクロムドープされたサファイアを粉砕して用いる。あるいは、高濃度のクロムをドープする必要がある場合にはこの原料にさらに酸化クロムを添加する。引き上げは、酸化雰囲気中で2070〜2150℃で行う。
さらにこの素材を適宜切断、研削加工、研磨加工、洗浄を施した後、前記エッチング加工を行い、前記複数の凹凸6cを有するサファイア基板6を作製する。
次に、図4に示すように、クロムまたはクロム及びチタンをドープし、凹凸を有するサファイア基板7を用いて、MOCVD法によってこの基板上に、AlGaN(X+Y=1,X≧0,Y≧0)のバッファ層8を介してサファイア基板とは異なる屈折率を有するGaN系の半導体結晶層を形成する。即ち、n型GaNコンタクト層9、n型AlGaNクラッド層11、GaN系半導体発光層12(MQW構造)、p型AlGaNクラッド層13、p型GaNコンタクト層14を形成し、この上に上部電極15(通常はp型電極)を、上記n型GaNコンタクト層上に下部電極10(通常はn型電極)を形成し、GaN系LEDを作製する。その後、サファイア基板7の裏面に基板側から光を取り出すために、鏡面研磨を施す。
なお、GaN系の半導体結晶層の形成条件により、前記凹凸の凹部において、GaN系の半導体層と前記サファイア基板との間に空洞を無くすこともでき、また空洞をを有するようにすることもできる。
GaN系の半導体層を成長させる際に凹凸と半導体層の間に空洞が無い場合は、光は半導体層とサファイア基板の界面で散乱され、効率よく基板側に光を導入し、凹凸が無い場合よりもより多くの赤色の光を取り出すことが出来る効果がある。
このとき、前記発光層から発せられる光の波長における、単結晶サファイア基板の屈折率と半導体結晶層の屈折率との差が、0.05以上であることが好ましい。
一方GaN系の半導体層を成長させる際に凹凸と半導体層の間に空洞が有る場合は、光を散乱させる効果の他に、GaN系の半導体層が成長する場合にELOの効果により、GaN系の半導体層の結晶欠陥を減少させる効果も合わせ持つので、LEDの発光強度は増すことになる。
さらに、図5に示すように、このLEDのp型電極とn型電極のそれぞれにマイクロバンプ18及び24を形成し、これらのLEDを個別のチップに切断、分離し、その後マイクロバンプを基板またはリードフレームのp側17及びn側16に接続することによって、サファイア基板側を主光取り出し面とするフリップチップ型のLEDとする。
次に、このフリップチップ型のLEDを覆うように蛍光体粒子を含む樹脂22でモールドを行う。このように前記GaN系半導体発光素子をフリップチップ実装してサファイア基板側から光を取り出す。
フリップチップ実装により、GaN系発光素子からの光を効率よく前面に取り出すことができる。なおこの時、光はLEDの前面からだけではなく、側面からも放射されるが、この側面から放射される光も有効に利用する構造、例えば側面にも蛍光体を配置し、さらに反射鏡を設置する等により、発光効率をさらに改善することが出来る。
図8にこのフリップチップ実装されたGaN系半導体発光素子37の詳細を示す。当該GaN系半導体発光素子37の発光層から放射された光36はサファイア基板側から取り出される。その光の一部は、発光層からの放射光41としてそのまま外部に取り出される。残りの光の一部はクロムまたはクロムおよびチタンを含有するサファイア基板40のクロムまたはチタンを励起し、その結果赤色の光42が放射される。さらに残りの光は、樹脂モールド38中の蛍光体39を励起し、その結果蛍光体から放射された光43が放射される。このようにして、外部にはこれらの41,42,43の3種類が混合された光が放射され、全体として白色に光るLEDとなる。
このとき、前記発光層の組成と構成は該発光層から放射される光が緑色系、青色系、青紫色系の少なくとも一つになるように決められる。
また、前記GaN系半導体発光素子のサファイア基板側から取り出された光は、緑色系、青色系、青紫色系の少なくとも一つの光であり、これらの光がサファイア基板を通過する際にクロムまたはクロム及びチタンを励起することによって発光する中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光とが混合した光が放射される。
このとき、前記GaN系半導体発光素子の少なくとも上部または側面部に、少なくともCeを含有するYAG系蛍光体を設置し、該蛍光体が前記GaN系半導体発光素子から放射される光の一部を吸収し、かつ黄色系の光を放射することにより、緑色系、青色系、青紫系の少なくとも一つの光と、中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光と、上記黄色系の光とが混合した光が放射され、白色発光素子として機能する。
あるいは、前記GaN系半導体発光素子の少なくとも上部または側面部に青色または青紫色の光の一部を吸収し緑色を発光する蛍光体を設置することにより、青色系、青紫系の少なくとも一つの光と、中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光と、これらの光が上記蛍光体に照射されることにより放射される緑色系の光とが混合した光が放射され、白色発光素子として機能する。
さらに、前記GaN系半導体発光素子から放射される青紫色、青色、緑色の少なくとも一つの光の発光強度に合わせて、白色の演色性が最も良くなるように、あらかじめドープするクロムまたはクロム及びチタンの濃度と、基板の厚みを調整して作製されたサファイア基板を用いることにより、演色性の良いGaN系半導体白色発光素子を作製することが出来る。
本実施例では半導体素子用のクロムをドープしたサファイア基板の製造方法及びそれを用いて作製した白色LEDについて説明する。結晶成長方法としてはEFG法、チョクラルスキー法、またはカイロポーラス法等がありどの方法によっても作製することは出来るが、ここでは図1に示すようにチョクラルスキー法(Cz法)による方法で作製した。
種結晶として、C軸方向に方位を制御したサファイア単結晶を用いた。引き上げ速度は30〜200ミクロン/分とし、その時の回転数は10〜60rpmであった。引き上げ速度をこれ以上に上げると微少な泡が多数混入した。原料中のクロムの濃度と引き上げたサファイア中のクロムの濃度の比はおよそ1対0.75であった。
この様にして引き上げたクロムドープしたサファイアロッドをアニール処理を行った後、結晶方位の測定を行い、C軸方向に成長していることを確認すると同時に、微少な角度のズレの正確な値を測定した。その後、このサファイアロッドからワイヤソーを用いて、軸方位が正確にC軸となるように基板を切り出し、研削加工、研磨加工、洗浄を施し、窒化物半導体を成膜するためのサファイア基板を作製した。
次に、基板の主面にSiOを主成分とする保護膜を密着して積層し、該保護膜を通常の半導体プロセスを用いてストライプ状または、三角形、四角形、五角形、六角形などの所定のパターン状に加工し、残された保護膜をマスクとして、当該基板を熱リン酸中300℃で30分間エッチング処理を行い、当該サファイア基板の主面をウェットエッチングすることにより凹凸6cを形成した。この時、凹凸6cの底面には多数のエッチピット6bが形成された。この時エッチピット6bの形状は三角錐であった。
このサファイア基板を用いて、図4に示すような構造のGaN系LEDを作製し、裏面を鏡面研磨した後、個々のLEDチップに分割し、図5に示すようにフリップチップ実装し、その外側を蛍光体で覆った。
本実施例で作製したLEDは、発光層から放射される光の中心波長が青色であり、フリップチップ実装されたLEDの基板側に放射された光が基板を通過する際にクロムを励起することによってR1線及びR2線とが混ざった光が放射され、結果的に青と赤の2色が混合された光が放射された。
さらにこのLEDの少なくとも上部及び側面部に設置した青色を吸収して緑色の光を放射する蛍光体により、緑色の光が放射されるので、結果的に青、緑、赤の光の三原色が混合された、演色性の良い白色の光が放射された。
また、青、緑、赤の光の強度のバランスは、LEDに流す電流の強度と、その発光強度に合わせて、白色の演色性が最も良くなるように、あらかじめドープするクロムの濃度と基板の厚みを設計して作製した、適切なサファイア基板を用いることにより、最も白色の演色性が良くなるように調整が可能であった。
本発明は特に白色LEDの分野に有用な物であり、演色性の良い白色LEDの製造に有用であり、照明分野に於ける省エネルギーに寄与出来るものである。
本発明のサファイア基板を示しており、(a)は斜視図、(b)は(a)中のA部の拡大図、(c)はA部の断面図である。 チョクラルスキー法によるサファイア基板の製造方法を示す図である。 熱リン酸によるサファイア基板のエッチング量とエッチング温度との関係を示すグラフである。 本発明のGaN系半導体発光素子を示す図である。 本発明のGaN系半導体白色発光素子を示す図である。 従来のYAG蛍光体を用いた白色LEDを示す図である。 従来のRGB蛍光体を用いた白色LEDを示す図である。 本発明のGaN系半導体白色発光素子の詳細を示す図である。
符号の説明
1:イリジウムルツボ
2:高周波誘導コイル
3:サファイア結晶
4:アルミナ製断熱材
5:原料
6:サファイア基板
6a:主面
6b:エッチピット
6c:凹凸
7:サファイア基板
8:バッファ層
9:n型GaNコンタクト層
10:下部電極
11:n型AlGaNクラッド層
12:GaN系半導体発光層(MQW構造)
13:p型AlGaNクラッド層
14:p型GaNコンタクト層
15:上部電極
16:リードフレームn側
17:リードフレームp側
18:マイクロバンプ(p側)
19:p型電極
20:GaN層
21:サファイア基板
22:蛍光体を含む樹脂
23:n型電極
24:マイクロバンプ(n側)
25:青色光
26:青色LEDチップ
27:樹脂モールド
28:黄色蛍光体
29:青色光
30:黄色光
31:紫外LEDからの主発光
32:紫外LED
33:RGB蛍光体
34:白色光
35:樹脂モールド
36:発光層から放射された光
37:GaN系半導体発光素子
38:樹脂モールド
39:蛍光体
40:サファイア基板
41:発光層から放射された光
42:赤色発光
43:蛍光体から放射された光

Claims (22)

  1. 少なくともクロムを含有するサファイアから成り、波長が350〜600nmの光を吸収し、かつ少なくともルビーのR1線及びR2線の光を放射するサファイア基板であって、主面上に複数の凹凸を有することを特徴とする半導体素子用単結晶サファイア基板。
  2. 前記凹凸がストライプ状の溝または少なくとも側面あるいは底面を持つ多角形状であることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子用単結晶サファイア基板。
  3. 前記凹凸の少なくとも底面または側面に複数のエッチピットを有することを特徴とする請求項1〜2のいずれかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板。
  4. 前記凹凸の側面とサファイア基板の主面とのなす角度が10°〜90°であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板。
  5. 前記エッチピットが角錐状であり主面に垂直な方向から見た時の底辺の少なくとも一辺が、サファイアのA軸に平行であるかまたはA軸に垂直であるか、もしくはサファイアのM軸に平行であるかまたはM軸に垂直であることを特徴とする請求項3に記載の半導体素子用単結晶サファイア基板。
  6. 前記クロムの含有量が0.01%以上かつ10%以下であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板。
  7. 少なくともクロム及びチタンを含有し、クロムとチタンの合計含有量が0.01%以上かつ10%以下であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板。
  8. サファイアの主面が、C面±2°以内、A面±2°以内、R面±2°以内、M面±2°以内またはM面から30°±2°以内のいずれかを満たすことを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板。
  9. 厚みが0.05mm以上2mm以下であることを特徴とする請求項1〜8の何れかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板。
  10. 前記凹凸はドライエッチング法により形成することを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板の製造方法。
  11. 前記凹凸は単結晶サファイアの主面に所定のパターン形状の保護膜を密着し、主面をウェットエッチングすることによって形成することを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板の製造方法。
  12. 前記保護膜をECRスパッター法によって形成することを特徴とする請求項11に記載の半導体素子用単結晶サファイア基板の製造方法。
  13. EFG法、チョクラルスキー法、またはカイロポーラス法の何れかの方法で作製することを特徴とする請求項1〜9の何れかに記載の半導体素子用単結晶サファイア基板の製造方法。
  14. 請求項1〜9の何れかに記載のサファイア基板の主面上に、AlGaN(X+Y=1,X≧0,Y≧0)のバッファ層を形成した後、その上にサファイア基板とは異なる屈折率を有するGaN系の半導体結晶層を成長させ、その中に発光層を含む半導体結晶層が積層された素子構造を有することを特徴とするGaN系半導体発光素子。
  15. 前記凹凸の凹部において、前記GaN系の半導体層と前記サファイア基板との間に空洞を有することを特徴とする請求項14記載のGaN系半導体発光素子。
  16. 前記発光層から発せられる光の波長における、単結晶サファイア基板の屈折率と半導体結晶層の屈折率との差が、0.05以上であることを特徴とする請求項14〜15のいずれかに記載のGaN系半導体発光素子。
  17. 前記半導体発光素子をフリップチップ実装してサファイア基板側から光を取り出すようにしたことを特徴とする請求項14〜16のいずれかに記載のGaN系半導体発光素子。
  18. 前記発光層から放射される光が緑色系、青色系、青紫色系の少なくとも一つであることを特徴とする請求項14〜17のいずれかに記載のGaN系半導体発光素子。
  19. 前記サファイア基板側から取り出された光が、緑色系、青色系、青紫色系の少なくとも一つの光と、これらの光がサファイア基板を通過する際にクロムまたはクロム及びチタンを励起することによって発光する中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光とが混合した光が放射されることを特徴とする請求項17に記載のGaN系半導体発光素子。
  20. 請求項14〜19の何れかに記載のGaN系半導体発光素子の少なくとも上部または側面部に、少なくともCeを含有するYAG系蛍光体を設置し、該蛍光体が前記GaN系半導体発光素子から放射される光の一部を吸収し、かつ黄色系の光を放射することにより、緑色系、青色系、青紫系の少なくとも一つの光と、中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光と、上記黄色系の光とが混合した光が放射されることを特徴とするGaN系半導体白色発光素子。
  21. 請求項14〜19の何れかに記載GaN系半導体発光素子の少なくとも上部または側面部に青色または青紫色の光の一部を吸収し緑色を発光する蛍光体を設置することにより、青色系、青紫系の少なくとも一つの光と、中心発光波長が693nm及び694nmまたは693nm及び694nm及び794nmである赤色の光と、これらの光が上記蛍光体に照射されることにより放射される緑色系の光とが混合した光を放射することを特徴とするGaN系半導体白色発光素子。
  22. 前記GaN系半導体発光素子から放射される、青紫色、青色、緑色の少なくとも一つの光の発光強度に合わせて、白色の演色性が最も良くなるように、あらかじめドープするクロムまたはクロム及びチタンの濃度と、基板の厚みを調整して作製されたサファイア基板を用いることを特徴とする請求項20〜21のいずれかに記載のGaN系半導体白色発光素子。
JP2003332303A 2003-09-24 2003-09-24 半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子 Withdrawn JP2005101230A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003332303A JP2005101230A (ja) 2003-09-24 2003-09-24 半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003332303A JP2005101230A (ja) 2003-09-24 2003-09-24 半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005101230A true JP2005101230A (ja) 2005-04-14

Family

ID=34460689

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003332303A Withdrawn JP2005101230A (ja) 2003-09-24 2003-09-24 半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005101230A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7781790B2 (en) 2006-12-21 2010-08-24 Nichia Corporation Method for manufacturing substrate for semiconductor light emitting element and semiconductor light emitting element using the same
JP2013098298A (ja) * 2011-10-31 2013-05-20 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体発光素子の製造方法
KR101316115B1 (ko) 2007-03-29 2013-10-11 서울바이오시스 주식회사 수직형 발광 다이오드 제조방법
US9154678B2 (en) 2013-12-11 2015-10-06 Apple Inc. Cover glass arrangement for an electronic device
US9225056B2 (en) 2014-02-12 2015-12-29 Apple Inc. Antenna on sapphire structure
US9221289B2 (en) 2012-07-27 2015-12-29 Apple Inc. Sapphire window
US9232672B2 (en) 2013-01-10 2016-01-05 Apple Inc. Ceramic insert control mechanism
US9632537B2 (en) 2013-09-23 2017-04-25 Apple Inc. Electronic component embedded in ceramic material
US9678540B2 (en) 2013-09-23 2017-06-13 Apple Inc. Electronic component embedded in ceramic material
US10052848B2 (en) 2012-03-06 2018-08-21 Apple Inc. Sapphire laminates
US10406634B2 (en) 2015-07-01 2019-09-10 Apple Inc. Enhancing strength in laser cutting of ceramic components

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7781790B2 (en) 2006-12-21 2010-08-24 Nichia Corporation Method for manufacturing substrate for semiconductor light emitting element and semiconductor light emitting element using the same
US8394652B2 (en) 2006-12-21 2013-03-12 Nichia Corporation Method for manufacturing substrate for semiconductor light emitting element and semiconductor light emitting element using the same
US8686457B2 (en) 2006-12-21 2014-04-01 Nichia Corporation Method for manufacturing substrate for semiconductor light emitting element and semiconductor light emitting element using the same
US9054271B2 (en) 2006-12-21 2015-06-09 Nichia Corporation Method for manufacturing substrate for semiconductor light emitting element and semiconductor light emitting element using the same
KR101316115B1 (ko) 2007-03-29 2013-10-11 서울바이오시스 주식회사 수직형 발광 다이오드 제조방법
JP2013098298A (ja) * 2011-10-31 2013-05-20 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体発光素子の製造方法
US10052848B2 (en) 2012-03-06 2018-08-21 Apple Inc. Sapphire laminates
US9221289B2 (en) 2012-07-27 2015-12-29 Apple Inc. Sapphire window
US9232672B2 (en) 2013-01-10 2016-01-05 Apple Inc. Ceramic insert control mechanism
US9632537B2 (en) 2013-09-23 2017-04-25 Apple Inc. Electronic component embedded in ceramic material
US9678540B2 (en) 2013-09-23 2017-06-13 Apple Inc. Electronic component embedded in ceramic material
US9154678B2 (en) 2013-12-11 2015-10-06 Apple Inc. Cover glass arrangement for an electronic device
US10324496B2 (en) 2013-12-11 2019-06-18 Apple Inc. Cover glass arrangement for an electronic device
US10386889B2 (en) 2013-12-11 2019-08-20 Apple Inc. Cover glass for an electronic device
US9225056B2 (en) 2014-02-12 2015-12-29 Apple Inc. Antenna on sapphire structure
US9461357B2 (en) 2014-02-12 2016-10-04 Apple Inc. Antenna on sapphire structure
US9692113B2 (en) 2014-02-12 2017-06-27 Apple Inc. Antenna on sapphire structure
US10406634B2 (en) 2015-07-01 2019-09-10 Apple Inc. Enhancing strength in laser cutting of ceramic components

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6578588B2 (ja) 蛍光体部材及び発光装置
US9196794B2 (en) Semiconductor light-emitting device, method for forming recesses of the same, and light source apparatus using the same
JP5032171B2 (ja) 半導体発光素子およびその製造方法ならびに発光装置
JP4309106B2 (ja) InGaN系化合物半導体発光装置の製造方法
KR101876757B1 (ko) 단결정 인광체를 구비한 백색 발광 다이오드 및 제조 방법
WO2013172025A1 (ja) 波長変換素子およびその製造方法ならびに波長変換素子を用いたled素子および半導体レーザ発光装置
JP4613078B2 (ja) 半導体基板の製造方法
JP2007059418A (ja) 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JP2001352101A (ja) 発光装置
JP5306779B2 (ja) 発光素子及びその製造方法
JP2005064492A (ja) 単結晶サファイア基板とその製造方法及び半導体発光素子
JP2005101230A (ja) 半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子
JP2005085888A (ja) 半導体素子用単結晶サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子
JP2005079171A (ja) 半導体素子用サファイア基板とその製造方法及びこれを用いたGaN系半導体発光素子並びにGaN系半導体白色発光素子
JP3707446B2 (ja) 白色発光素子
TW200305296A (en) Light-emitting device and illumination apparatus using same
JP4269645B2 (ja) 付活剤を含有した基板を用いた窒化物半導体led素子、及び成長方法
JP6890556B2 (ja) 波長変換発光デバイス
JP2004253743A (ja) 付活剤を含有した基板を用いた発光装置
TWI624960B (zh) 包含定型基板的發光裝置
JP3705272B2 (ja) 白色発光素子
TWI702739B (zh) 發光裝置及其製造方法
US20100038656A1 (en) Nitride LEDs based on thick templates
JP2014053579A (ja) 発光ダイオード素子および発光装置
JP5543946B2 (ja) 半導体発光素子および発光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060912

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071210

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080415

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20080516

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080520

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080616

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090209