JP2005100332A - 接触式ｉｃカードまたはｉｃモジュールに内蔵されたｉｃチップの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源 - Google Patents
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Abstract
【課題】 接触式ＩＣカードをリーダライタに挿入した状態で電圧電流などの電気特性の測定を行うことができる、接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源を提供する。
【解決手段】 リーダライタＲ／Ｗ１０１に拡張ボード１０２を挿入し、拡張ボード１０２にソケットボード１０８を接続し、ソケットボード１０８にＩＣカード１０９を挿入することにより、リーダライタ１０１とＩＣカード１０９とが電気的に接続される。ソケットボード１０８のジャック１０７に、電流計１１２が接続されたプラグ１１３を挿入すると、ＩＣカードの消費電流が測定でき、拡張ボード１０２の各測定端子２１１〜２１８に測定器を接続することにより、ＩＣカード１０９の電気特性が測定できる。
【選択図】 図１
【解決手段】 リーダライタＲ／Ｗ１０１に拡張ボード１０２を挿入し、拡張ボード１０２にソケットボード１０８を接続し、ソケットボード１０８にＩＣカード１０９を挿入することにより、リーダライタ１０１とＩＣカード１０９とが電気的に接続される。ソケットボード１０８のジャック１０７に、電流計１１２が接続されたプラグ１１３を挿入すると、ＩＣカードの消費電流が測定でき、拡張ボード１０２の各測定端子２１１〜２１８に測定器を接続することにより、ＩＣカード１０９の電気特性が測定できる。
【選択図】 図１
Description
本発明は、接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源に関する。
ＩＣカード開発及びＩＣカードの故障原因を究明するために、ＩＣカードやそれに用いられるＣＯＴ（Ｃｈｉｐ Ｏｎ Ｔａｐｅ：多数のＩＣモジュールが巻き取り方向に数列に配置されたテープ）のＩＣモジュールの電気的な特性を測定しなければいけない。
そこで、接触式のＩＣカードの故障判定を短時間に行うことが提案されている。
そこで、接触式のＩＣカードの故障判定を短時間に行うことが提案されている。
これは、判定対象のＩＣカードの所定端子に対して接合ダイオードが十分オンする電圧と十分オフする電圧の少なくとも２種の電圧をそれぞれ印加して抵抗測定することによりＩ−Ｖ特性の概要を判別し、これに基づいて２種の抵抗値を正常なＩＣカードの値と比較して分類することにより、故障を推定するようにしたものであり、特別の専門知識やカーブトレーサ等を用いることなくＩＣカードの故障判定ができる（例えば特許文献１参照）。
特開平８−３３８８５５号公報
しかしながら、上述した従来技術は、ＩＣカードに対してプローブ等を用いて電圧を２点印加して電流測定し、その結果を数値で判定し分類することで故障を推定するものである。このため、接触式ＩＣカードをリーダライタに挿入した状態で電圧電流などの電気特性の測定を行うことができないという問題があった。
そこで、本発明の目的は、接触式ＩＣカードをリーダライタに挿入した状態で電圧電流などの電気特性の測定を行うことができる、接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源を提供することにある。
請求項１記載の発明は、接触式ＩＣカード用のリーダライタを経由してコンピュータと接続され接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定を行う検査・測定方法であって、前記リーダライタに着脱自在で挿入時に該リーダライタから延出するように形成された基板と、該基板に設けられ前記リーダライタの各電極と接続するための第１の接続端子と、前記基板の前記リーダライタから延出する側に設けられた第１の接続部とを有する第１の検査・測定モジュールと、前記第１の接続部に着脱自在な第２の接続部と、前記ＩＣチップに電気的に接続可能な第３の接続部とを有するソケットモジュールと、前記第１の検査・測定モジュールもしくは前記ソケットモジュールの電源ラインまたは信号ラインに設けられた少なくとも１つの外部出力可能なポートと、を準備し、前記コンピュータ、前記リーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール、及び前記ＩＣチップを電気的に接続し、前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させると共に、前記ポートで前記ＩＣチップの電気特性を測定することを特徴とする。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記電源ラインに設けられたポートに可変抵抗器及び電流計のいずれか一方もしくは両方を備えた第２の検査・測定モジュールを挿入し、前記コンピュータ、前記リーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び前記ＩＣチップを電気的に接続し、前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させると共に前記可変抵抗器の抵抗値を変化させることで、前記ＩＣチップに流れる電流または電圧を測定することを特徴とする。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、前記電源ラインに設けられ前記電源ラインからの電圧が印加されるとオン動作する電子スイッチ及び該電子スイッチに接続され前記ＩＣチップに電圧を供給するための安定化電源を備えた第３の検査・測定モジュールを挿入し、前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させる前に電子スイッチをオン動作させてから、前記安定化電源からの電圧を前記ＩＣチップに印加したときの電気特性を測定することを特徴とする。
請求項４記載の発明は、請求項１から３のいずれか１項記載の発明において、前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、前記電子スイッチを介して遅延回路または、遅延回路及び安定化電源と、外部出力可能な端子とを備えた第４の検査・測定モジュールを接続し、前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させると共に前記第４の検査・測定モジュールの遅延回路の時定数を制御することで前記ＩＣチップの電気特性を測定することを特徴とする。
請求項５記載の発明は、請求項１から４のいずれか１項記載の発明において、前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、前記信号ラインのうちクロックラインに設けられたポートに、任意の周波数のクロック信号を印加するためのクロック回路を備えた第５の検査・測定モジュールを接続し、前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させると共に前記第５の検査・測定モジュールのクロック周波数を制御することで前記ＩＣチップの周波数特性を測定することを特徴とする。
請求項６記載の発明は、接触式ＩＣカード用のリーダライタを経由してコンピュータと接続され接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定を行う検査・測定システムであって、前記検査・測定を行うための各種検査・測定モジュールから構成され、前記検査・測定モジュールを組み合わせることにより前記ＩＣチップの種々の電気特性の検査・測定を行うようにしたことを特徴とする。
請求項７記載の発明は、接触式ＩＣカード用のリーダライタを経由してコンピュータと接続され接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定を行う検査・測定システムであって、前記リーダライタに着脱自在で挿入時に該リーダライタから延出するように形成された基板と、該基板に設けられ前記リーダライタの各電極と接続するための第１の接続端子と、前記基板の前記リーダライタから延出する側に設けられた第１の接続部とを有する第１の検査・測定モジュールと、前記第１の接続部に着脱自在な第２の接続部と、前記ＩＣチップに電気的に接続可能な第３の接続部とを有するソケットモジュールと、前記第１の検査・測定モジュールもしくは前記ソケットモジュールの電源ラインまたは信号ラインに設けられた少なくとも１つの外部出力可能なポートと、を備えたことを特徴とする。
請求項８記載の発明は、請求項６または７記載の発明において、前記コンピュータ、前記リーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール、及び前記ＩＣチップを電気的に接続し、前記電源ラインに設けられたポートに可変抵抗器及び電流計を備えた第２の検査・測定モジュールを接続したことを特徴とする。
請求項９記載の発明は、請求項６から８のいずれか１項記載の発明において、前記コンピュータ、前記リーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び前記ＩＣチップを電気的に接続し、前記電源ラインに設けられ前記電源ラインからの電圧でオン動作する電子スイッチ及び該電子スイッチに接続され前記ＩＣチップに電圧を供給するための安定化電源を備えた第３の検査・測定モジュールを接続したことを特徴とする。
請求項１０記載の発明は、請求項６から９のいずれか１項記載の発明において、前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、前記電子スイッチを介して遅延回路または、遅延回路及び安定化電源と、外部出力可能な端子とを備えた第４の検査・測定モジュールを接続したことを特徴とする。
請求項１１記載の発明は、請求項６から１０のいずれか１項記載の発明において、前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、前記信号ラインのうちクロックラインに設けられたポートに、任意の周波数のクロック信号を印加するためのクロック回路を備えた第５の検査・測定モジュールを接続したことを特徴とする。
請求項１２記載の発明は、定電圧源と電子スイッチとを有する電気特性の検査・測定システムに用いられる安定化電源であって、前記定電圧源の入力端子に常時電圧が印加され、前記定電圧源の一方の出力端子と前記電子スイッチの電圧入力端子とが接続されると共に、前記定電圧源の他方の出力端子と前記電子スイッチの制御入力端子との間に前記定電圧源の動作を制御するメカニカルスイッチが挿入され、前記電子スイッチの電圧出力端子からの出力電圧で電気特性の検査・測定を行うことを特徴とする。
請求項１２記載の発明によれば、定電圧源の入力端子には常時電圧が印加されているので、定電圧源から出力される電圧は定常状態となっている。この定常状態となった電圧を電子スイッチに印加することにより、立ち上がりの速い電圧を用いて電気特性の検査・測定を行うことができる。
請求項１３記載の発明は、請求項１２記載の発明において、前記電子スイッチの電圧出力端子に遅延回路の入力端子を接続したことを特徴とする。
請求項１３記載の発明によれば、遅延回路を用いることにより、立ち上がりの遅い電圧を用いて電気特性の検査・測定を行うことができ、遅延時間を変化させる場合には検査・測定の範囲がさらに広くなる。
請求項１４記載の発明は、請求項１２または１３記載の発明において、前記電子スイッチの電圧出力端子または前記遅延回路の出力端子に接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップが接続され、該ＩＣチップの電気特性の検査・測定が行われるようにしたことを特徴とする。
検査・測定モジュールを組み合わせることで種々の検査・測定が可能となるので、接触式ＩＣカードをリーダライタに挿入した状態で電圧・電流などの電気特性の検査・測定を行うことができる接触式ＩＣカードの電気特性の検査・測定方法及び接触式ＩＣカードの製造に用いられるＩＣモジュールの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源の提供を実現することができる。
図１（ａ）は本発明の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法を適用した検査・測定システムに用いられる第１の検査・測定モジュールを含む検査・測定システムの概念図であり、図１（ｂ）は図１（ａ）にシンボルで示したジャックの図記号である。請求項１、７のポートは、このジャックに対応する。
図２は図１（ａ）に示した拡張ボードの平面図である。
図２は図１（ａ）に示した拡張ボードの平面図である。
図１（ａ）において、リーダライタ（以下「Ｒ／Ｗ」）１０１に着脱自在で挿入時にＲ／Ｗ１０１から延出するように形成された基板であるプリント基板２０１と、プリント基板２０１に設けられＲ／Ｗ１０１の各電極と接続するための第１の接続端子である端子部１１１、プリント基板２０１のＲ／Ｗ１０１から延出する側に設けられた第１の接続部であるボード側コネクタ２１０により構成されている拡張ボード１０２が第１の検査・測定モジュールとなる。
又、図１（ａ）において、Ｒ／Ｗ１０１に接続されているコンピュータ（図示されない）、Ｒ／Ｗ１０１、拡張ボード１０２、ソケットモジュールとしてのソケットボード１０８により、ＩＣカード１０９に内蔵されたＩＣチップの検査・測定システムが構成される。
コンピュータにＲ／Ｗ１０１が接続され、拡張ボード１０２がＲ／Ｗ１０１に挿入され、第１の接続部としてのボード側コネクタ２１０に第２の接続部としてのジャック側コネクタ１０３を接続し、第３の接続部としてのソケット１０４に接触式ＩＣカード（以下「ＩＣカード」という）１０９が挿入された状態でＩＣカード１０９の電気特性が検査・測定されるようになっている。
尚、以下に示すジャックは、電源電圧、ノイズ、周波数等を印加・入力したり、また、電圧、電流、波形等の検査・測定に用いるためのポートとして使用される。
又、図１（ａ）において、Ｒ／Ｗ１０１に接続されているコンピュータ（図示されない）、Ｒ／Ｗ１０１、拡張ボード１０２、ソケットモジュールとしてのソケットボード１０８により、ＩＣカード１０９に内蔵されたＩＣチップの検査・測定システムが構成される。
コンピュータにＲ／Ｗ１０１が接続され、拡張ボード１０２がＲ／Ｗ１０１に挿入され、第１の接続部としてのボード側コネクタ２１０に第２の接続部としてのジャック側コネクタ１０３を接続し、第３の接続部としてのソケット１０４に接触式ＩＣカード（以下「ＩＣカード」という）１０９が挿入された状態でＩＣカード１０９の電気特性が検査・測定されるようになっている。
尚、以下に示すジャックは、電源電圧、ノイズ、周波数等を印加・入力したり、また、電圧、電流、波形等の検査・測定に用いるためのポートとして使用される。
例えば、図１（ａ）に示すポートとしてのジャック１０７に、電流計１１２が接続されたプラグ１１３を挿入することにより、ＩＣカード１０９の消費電流（消費電力）を測定することができ、消費電流値（消費電力値）によりＩＣカード１０９の良否の検査を行うことができる。また、電源電圧が不安定となるＩＣカード１０９の選別が可能となる。
図２に示すように拡張ボード１０２は、ＩＣカード１０９用のＲ／Ｗ１０１（図１参照）に着脱自在で挿入時にＲ／Ｗ１０１に挿入される挿入部１０２−１と、Ｒ／Ｗ１０１への挿入時にＲ／Ｗ１０１から露出するように延出された延出部１０２−２とを有するプリント基板２０１と、プリント基板２０１に設けられ、挿入時にＲ／Ｗ１０１の各電極（図示せず）とそれぞれ接触する端子部１１１の各端子Ｄ１〜Ｄ８（ＩＣカード１０９の電源電圧Ｖｃｃ用端子Ｃ１、リセット信号ＲＳＴ用端子Ｃ２、クロック信号ＣＬＫ用端子Ｃ３、予備ＲＦＵ用端子Ｃ４、グランドＧＮＤ用端子Ｃ５、プログラム供給電圧ＶＰＰ用端子Ｃ６、データ信号のシリアル入力信号Ｉ／Ｏ用端子Ｃ７及び予備ＲＦＵ用端子Ｃ８に対応する）と、延出部１０２−２に設けられ各端子Ｄ１〜Ｄ８に配線パターン２０２〜２０９を介して接続された第１の接続部としてのボード側コネクタ２１０（図ではエッジコネクタ端子となっているが限定されない。）とを有する。
プリント基板２０１には、例えばガラス布基材エポキシ樹脂銅張積層板やガラス布基材イミド樹脂銅張積層板等のガラス布基材銅張積層板が用いられる（セラミック基板やフェノール樹脂基板を用いてもよい。）。プリント基板２０１は、外形が通常のＩＣカード１０９（図１参照）の形状（縦Ｌａ５４ｍｍ、横Ｌｂ８６ｍｍ、図では波線左側）に形成されＩＣモジュール１１０（図１参照）の位置に端子Ｄ１〜Ｄ８からなる端子部１１１が設けられた挿入部１０２−１と、挿入部１０２−１の電極Ｄ１〜Ｄ８から遠い方の短辺（図では右側の短辺）を所定の長さだけ延出させた延出部１０２−２とを有している。延出部１０２−２の長さＬｃは複数（図２ではＩＣモジュールの端子の数と同一であるが限定されない。）の測定端子２１１〜２１８とボード側コネクタ（例えば８ピン１列）とを配置することができる程度の長さを有していればよい。
プリント基板２０１の挿入部１０２−１の各端子Ｄ１〜Ｄ８は各配線パターン２０２〜２０９の一端（図では左端）にそれぞれ接続され、配線パターン２０２〜２０９の他端（この場合右端）はボード側コネクタ２１０にそれぞれ接続されている。延出部１０２−２の各配線パターン２０２〜２０９には測定端子２１１〜２１８が設けられている。
尚、図中の楕円２１９は例えばＲＳ２３２Ｃ用のコネクタを示すシンボルであり、プリント基板２０１の裏面の配線パターンで測定端子（図示せず）に接続されている（この場合、プリント基板２０１は両面基板であり、測定端子２１１〜２１８はスルーホール（図示せず）を介して両面の配線パターンに接続されるか、もしくは両面のランドを貫通するボルトで接続されるように構成してもよい。また、ＲＳ２３２Ｃ用コネクタの代わりにＬＡＮボード用コネクタを用いてもよい。）。さらに、図ではボード側コネクタ２１０（２１９）は拡張ボード１０２の外側に設けられているが、拡張ボード１０２の延出部１０２−２の表面に８ピンコネクタを設けるようにしてもよい。
尚、図中の楕円２１９は例えばＲＳ２３２Ｃ用のコネクタを示すシンボルであり、プリント基板２０１の裏面の配線パターンで測定端子（図示せず）に接続されている（この場合、プリント基板２０１は両面基板であり、測定端子２１１〜２１８はスルーホール（図示せず）を介して両面の配線パターンに接続されるか、もしくは両面のランドを貫通するボルトで接続されるように構成してもよい。また、ＲＳ２３２Ｃ用コネクタの代わりにＬＡＮボード用コネクタを用いてもよい。）。さらに、図ではボード側コネクタ２１０（２１９）は拡張ボード１０２の外側に設けられているが、拡張ボード１０２の延出部１０２−２の表面に８ピンコネクタを設けるようにしてもよい。
図１（ａ）に示すソケットボード１０８は、拡張ボード１０２のボード側コネクタ２１０に着脱自在な第２の接続部としてのジャック側コネクタ１０３と、ＩＣカード１０９が着脱自在に挿入され、挿入時にＩＣカード１０９のＩＣモジュール１１０の各端子Ｃ１〜Ｃ８とそれぞれ接触する電極（図示せず）を内蔵したソケット１０４と、ジャック側コネクタ１０３とソケット１０４とを電気的に接続するバスラインとしてのコード（例えば８芯フラットケーブル）１０５と、コード１０５の中の電源ライン（Ｖｃｃライン）１０６に挿入されたジャック１０７とで構成されている。
ジャック１０７は図１（ｂ）に示すような例えばスイッチ付きイヤホンジャック（ヘッドホンジャックでもよい。）が用いられる。このジャック１０７は、トランジスタラジオやテレビジョンなどに使用される公知のジャックであり、図１（ｂ）に示す通常の状態（プラグ１１３が挿入されていない状態）ではジャック１０７のスイッチ部１０７ｂと可動切片１０７ｃとが導通状態となって電源ラインＶｃｃが導通状態となっている。電流計１１２にコードで接続されたプラグ１１３がジャック１０７に挿入されると、ジャック１０７のスイッチ部１０７ｂと可動切片１０７ｃとが離れると共に、プラグの円筒状の導電部がジャック１０７の固定切片１０７ａと接触し、プラグの先端の導電部が可動切片１０７ｃと接触する。この結果、電源ライン１０６と電流計１１２とが直列状態となる。
尚、図１（ａ）ではジャック１０７とソケット１０４とはコード１０５で接続されただけの状態が示されているが、ジャック１０７とソケット１０４とを図示しないボード（例えばプリント基板）上もしくは拡張ボード１０２上に設けてもよい。
これら拡張ボード１０２とソケットボード１０８とでＩＣカード１０９の第１の検査・測定モジュールが構成されている。
図１（ａ）に示した第１の検査・測定モジュールを用い、電流計１１２が接続されたプラグ１１３をジャック１０７に挿入することにより、ＩＣカード１０９を作動させた状態で電源ライン１０６に流れる電流、すなわちＩＣカード１０９の消費電流を測定することができる。また、拡張ボード１０２の各測定端子（テストポイント）２１１〜２１８に電圧計もしくはオシロスコープ等の測定器を接続することにより全ての信号の電圧や波形等の電気特性を測定することができる。さらに、ＲＳ２３２Ｃ用のコネクタをＩＣカード１０９とＲ／Ｗ１０１との間の信号のタイミング等を測定することができる。すなわち、本検査・測定システムを用いることにより、ＩＣカード１０９の故障原因の解析に利用することができる。
図１（ａ）に示した第１の検査・測定モジュールを用い、電流計１１２が接続されたプラグ１１３をジャック１０７に挿入することにより、ＩＣカード１０９を作動させた状態で電源ライン１０６に流れる電流、すなわちＩＣカード１０９の消費電流を測定することができる。また、拡張ボード１０２の各測定端子（テストポイント）２１１〜２１８に電圧計もしくはオシロスコープ等の測定器を接続することにより全ての信号の電圧や波形等の電気特性を測定することができる。さらに、ＲＳ２３２Ｃ用のコネクタをＩＣカード１０９とＲ／Ｗ１０１との間の信号のタイミング等を測定することができる。すなわち、本検査・測定システムを用いることにより、ＩＣカード１０９の故障原因の解析に利用することができる。
尚、ジャック１０７に電流計１１２付きのプラグ１１３を挿入して電流を測定する代わりに、電源ライン１０６に図示しない電流プローブ（例えばテクトロニクス社製電流プローブＡ６３０２）と電流計とを用いて電流を測定するようにしてもよい。また、電流プローブとオシロスコープとを組み合わせて測定することにより、電流の波形及びその波形変化を測定することが可能となる。
図３は図１に示した検査・測定システムに用いることができる第３の検査・測定モジュールとしての電源立ち上がり時間調整ボードの外観図であり、図４は図３に示した電源立ち上がり時間調整ボードの概念図であり、図５は図４の動作原理を説明するための説明図である。図５において横軸は時間軸であり、縦軸は電圧軸である。
図３に示した電源立ち上がり時間調整ボード３００は、拡張ボード１０２（図１（ａ）参照）のボード側コネクタ２１０に着脱自在なコネクタ３０１と、ソケットボード１０８のジャック側コネクタ１０３に着脱自在なコネクタ３０２とを有している。
この電源立ち上がり時間調整ボード３００の本体としての電源立ち上がり時間調整回路３０３は、図４に示した電子スイッチ（例えばＭＯＳトランジスタ等の半導体素子）４００であり、例えばプリント基板上に設けられ、安定化電源（例えばスイッチングレギュレータ、もしくは電池）４０１に接続されるようになっている（図では電子スイッチ４００と安定化電源４０１とは別個の部材として示されているが、電子スイッチ４００と安定化電源４０１とを一体化してもよい）。尚、図中３０４はバスライン用のコードであり、例えばフラットケーブルが用いられる。
拡張ボード１０２の測定端子２１１にオシロスコープを接続しておき、Ｒ／Ｗ１０１から電源電圧Ｖｃｃを電子スイッチ４００としてのＭＯＳトランジスタのゲートに印加すると、ＭＯＳトランジスタのドレインとソースとの間が遮断状態（オフ）から導通状態（オン）に変わり、安定化電源４０１の出力電圧がＩＣカード１０９の端子Ｃ１（図１（ａ）参照）に印加される。
ここで、電源立ち上がり時間調整回路３０３の安定化電源４０１の電圧を調整することによりＩＣカード１０９への供給電圧を変更することが可能となる。これは、ＩＣカード１０９の実際動作の電圧範囲を測定でき、低電圧でＣＰＵが暴走するか否かを確認し、高電圧でＩＣが損壊されるか否かを確認するためである。例えば、ＩＣカード１０９のＩＣモジュールのＩＣ仕様書にＶｃｃの範囲が４．５Ｖ〜５．５Ｖと記載されている場合、外部電源電圧を調整しながらＩＣチップの必要最低限電圧範囲を把握することが可能となり、６Ｖを与えても壊されないこと等が確認できる。また、電源立ち上がり時間を調整することにより、不良カードを選別することができる。
このＩＣカード１０９への電源電圧印加時の電圧の変化は図５のように示される。
時刻ｔ1 に電子スイッチ４００がオフからオンになると安定化電源４０１からの電圧が増加して時刻ｔ2 に設定した目標値として例えば５Ｖになる（立ち上がり時間Ｔ＝ｔ2 −ｔ1 ）。このような電源立ち上がり時間調整ボード３００を用いることにより、ＩＣカード１０９に加わる電源電圧の立ち上がり時間をオシロスコープ（図示せず）で測定することができる。
時刻ｔ1 に電子スイッチ４００がオフからオンになると安定化電源４０１からの電圧が増加して時刻ｔ2 に設定した目標値として例えば５Ｖになる（立ち上がり時間Ｔ＝ｔ2 −ｔ1 ）。このような電源立ち上がり時間調整ボード３００を用いることにより、ＩＣカード１０９に加わる電源電圧の立ち上がり時間をオシロスコープ（図示せず）で測定することができる。
図６は図１に示した検査・測定システムに用いることができる第４の検査・測定モジュールを示すブロック図であり、図７は図６に示した第４の検査・測定モジュールに用いられる遅延回路の一例である。
図６に示した電源立ち上がり時間調整ボードと図４に示した電源立ち上がり時間調整ボードとの相違点は、遅延回路を用いた点である。
図６に示した電源立ち上がり時間調整ボードと図４に示した電源立ち上がり時間調整ボードとの相違点は、遅延回路を用いた点である。
図６に示した第４の検査・測定モジュールとしての電源立ち上がり時間調整ボード６００は、拡張ボード１０２（図１（ａ）参照）のボード側コネクタ２１０に着脱自在なコネクタ３０１（図３参照）と、ソケットボード１０８（図１（ａ）参照）のジャック側コネクタ１０３に着脱自在なコネクタ３０２（図３参照）と、遅延回路６０１とを有している。
この遅延回路６０１は、コンピュータＰＣから入力した信号（この場合、電源電圧）がＩＣカード１０９の端子に出力するまでの時間（遅延時間）を調整できるようになっている。
この遅延回路６０１は、コンピュータＰＣから入力した信号（この場合、電源電圧）がＩＣカード１０９の端子に出力するまでの時間（遅延時間）を調整できるようになっている。
図７に示した遅延回路６０１は、一端（図では下端）が接地された複数（図では五つであるが限定されない）のコンデンサ６０２、６０３、６０４、６０５、６０６と、一端（この場合上端）が共通で他端（この場合下端）が各コンデンサ６０２〜６０６の他端（図では上端）に接続された複数（図では五つであるがコンデンサ６０２〜６０６の数と同数であればよい。）の単極単投型のスイッチ（トグルスイッチもしくはディップスイッチ）６０７、６０８、６０９、６１０、６１１と、一端（この場合下端）が各スイッチ６０７〜６１１の一端に接続された可変抵抗器（例えばポテンショメータ、もしくは半固定可変抵抗器）６１２と、可変抵抗器６１２の他端（この場合上端）に一端が接続された固定抵抗器６１３とで構成されている。
電子スイッチ４００の切り替えによってコンピュータからの電源電圧Ｖｃｃもしくは安定化電源４０１からの電源電圧が入力信号Ｖｉとして固定抵抗器６１３の他端（この場合上端）に入力され、出力信号Ｖｏは可変抵抗器６１２と固定抵抗器６１３との結合部から出力されるようになっている。
電子スイッチ４００の切り替えによってコンピュータからの電源電圧Ｖｃｃもしくは安定化電源４０１からの電源電圧が入力信号Ｖｉとして固定抵抗器６１３の他端（この場合上端）に入力され、出力信号Ｖｏは可変抵抗器６１２と固定抵抗器６１３との結合部から出力されるようになっている。
このような遅延回路６０１の遅延時間は、コンデンサ６０２〜６０５の合計容量値と可変抵抗器６１２及び固定抵抗器６１３の合計抵抗値との積（時定数）で決まる。この遅延回路６０１の遅延時間は、各スイッチ６０７〜６１１のオンオフの組み合わせで粗調整することができ、可変抵抗器６１２の摺動子の摺動量で微調整することができるようになっている。
図６に示した電源立ち上がり時間調整ボード６００は、拡張ボード１０２とソケットボード１０８（共に図１（ａ）参照）との間に挿入し、図７に示した遅延回路６０１のスイッチ６０７〜６１１のオンオフを組み合わせ、可変抵抗器６１２の抵抗値を変えて遅延時間を調整することにより、ＩＣカード１０９の電源電圧の立ち上がり特性を調整できるようになっている。
図８（ａ）は図１に示した検査・測定システムに用いることができる第５の検査・測定モジュールの外観図であり、図８（ｂ）は図８（ａ）のポート部の回路図である。図８（ｂ）は両ポート部にプラグが挿入されていない状態を示している。請求項５、１１のポートはジャック８０４、８０５に対応する。
図８（ａ）は図１に示した検査・測定システムに用いることができる第５の検査・測定モジュールの外観図であり、図８（ｂ）は図８（ａ）のポート部の回路図である。図８（ｂ）は両ポート部にプラグが挿入されていない状態を示している。請求項５、１１のポートはジャック８０４、８０５に対応する。
図８（ａ）に示した第５の検査・測定モジュールとしてのクロック信号ブリッジボード８００は、拡張ボード１０２のボード側コネクタ２１０（共に図１（ａ）参照）もしくは電源立ち上がり時間調整回路のコネクタ３０２（図３参照）に着脱自在なコネクタ８０１と、ソケットボード１０８のジャック側コネクタ１０３（図１（ａ）参照）に着脱自在なコネクタ８０２と、複数（図では二つであるが限定されない。）のジャック８０４、８０５が設けられたプリント基板８０６と、コネクタ８０１、８０２間を接続するバスライン用のコード（例えば８芯フラットケーブル）８０３とを有している。
ジャック８０４には図１（ｂ）に示したジャックと同様のイヤホンジャックが用いられ、ジャック８０５にはテレビジョン等に用いられる公知のスイッチ無しのイヤホンジャック（ヘッドホンジャックでもよい。）が用いられる。図８（ｂ）に示すポート８０４は、ジャックと切り替え用のスイッチとで構成されており、通常はコンピュータからの信号等がコネクタ８０１、スイッチ、及びコネクタ８０２を介してＩＣカード１０９（図１参照）へ印加される。
このクロック信号ブリッジボード８００を拡張ボード１０２とソケットボード１０８との間に挿入接続し、ジャック８０４に図示しないクロック信号発生器の出力端子（プラグ）を挿入し、ジャック８０５に図示しないノイズ発生器の出力端子（プラグ）を挿入すると、スイッチが切り替わり、外部ＣＬＫ（外部クロック信号）がスイッチ及びコネクタ８０２を介してＩＣカード１０９へ印加され、ノイズ信号がいずれか一方のクロック信号に重畳される。すなわち、任意の周期のクロック信号をＩＣカード１０９のクロックＣＬＫ端子Ｃ３に印加することができ、ＩＣカード１０９の動作周波数範囲を測定することができる。また、クロック信号発生器の出力信号にノイズを重畳させることによりＩＣカード１０９の耐クロックノイズ性能を試すことが可能となる。
ここで、図９（ａ）は正常なクロック信号波形を示し、図９（ｂ）は異常なクロック信号波形を示す。図９（ａ）及び図９（ｂ）において横軸は時間軸を示し、縦軸は電圧軸を示す。
ここで、図９（ａ）は正常なクロック信号波形を示し、図９（ｂ）は異常なクロック信号波形を示す。図９（ａ）及び図９（ｂ）において横軸は時間軸を示し、縦軸は電圧軸を示す。
ＩＣカードのクロック信号端子に図９（ａ）に示すような正常な波形（矩形波）のクロック信号が印加される場合にはＩＣカード１０９（図１（ａ）参照）は正常に動作するが、図９（ｂ）に示すような異常な波形のクロック信号が印加される場合にはＩＣカード１０９が誤動作することがある。
従ってクロック信号ブリッジボード８００とノイズ発生器とを用いることにより、ＩＣカード１０９の耐ノイズ特性を測定することができる。
従ってクロック信号ブリッジボード８００とノイズ発生器とを用いることにより、ＩＣカード１０９の耐ノイズ特性を測定することができる。
図１０（ａ）は図１（ａ）に示した検査・測定システムに用いることができる第２の検査・測定モジュールの外観図であり、図１０（ｂ）は図１０（ａ）に示した第２の検査・測定モジュールを用いた電圧降下の原理の説明図である。
第２の検査・測定モジュール１０００は、ジャック１０７に着脱自在なプラグ１１３と、プラグ１１３に一端（図では左端）が接続された電流計１１２と、電流計１１２の他端（この場合右端）に一端が接続され他端がプラグ１１３に接続された可変抵抗器１００１とで構成されている。
このような第２の検査・測定モジュール１０００をＲ／Ｗ１０１とＩＣカード１０９との間に挿入接続することにより、パソコンＰＣ１００２及びＲ／Ｗ１０１を用いてＩＣカード１０９を駆動させた状態で電源電圧Ｖｃｃを変化させてＩＣカード１０９への電圧を調整することにより、ＩＣカード１０９への供給電圧を変更させることが可能となる。
このような第２の検査・測定モジュール１０００をＲ／Ｗ１０１とＩＣカード１０９との間に挿入接続することにより、パソコンＰＣ１００２及びＲ／Ｗ１０１を用いてＩＣカード１０９を駆動させた状態で電源電圧Ｖｃｃを変化させてＩＣカード１０９への電圧を調整することにより、ＩＣカード１０９への供給電圧を変更させることが可能となる。
この結果、ＩＣカード１０９の実際動作の電圧範囲や電流を測定できる。すなわち、低電圧でＩＣカード１０９のＣＰＵが暴走するか否かを確認することができ、高電圧でＩＣチップが損壊されるか否かを確認することができる。例えば、ＩＣカード１０９のＩＣモジュールのＩＣ仕様書にＶｃｃの範囲が４．５Ｖ〜５．５Ｖと記載されている場合、外部電源電圧を調整しながらＩＣチップの必要最低限電圧範囲を把握することが可能となり、６Ｖを与えても壊されないこと等が確認できる。
尚、ジャック１０７に電流計の接続されたプラグを挿入して電流の変化を測定してもよく、また同時に拡張ボード１０２（図１（ａ））の各測定端子２１１〜２１８（図２参照）に電圧計やオシロスコープのフックチップを接続して波形測定を行ってもよい。さらに、図ではプラグ１１３に電流計１１２と可変抵抗器１００１とが直列接続されているが、本発明はこれに限定されるものではなく、電流計１１２もしくは可変抵抗器１００１のいずれか一方がプラグ１１３に接続されていてもよい（可変抵抗器１００１のみの場合はコンピュータＰＣ１００２からの操作、例えば可変抵抗器１００１の抵抗値変化と信号の授受との関係を検査・測定することによりＩＣチップの評価が可能となる。）。
尚、ジャック１０７に電流計の接続されたプラグを挿入して電流の変化を測定してもよく、また同時に拡張ボード１０２（図１（ａ））の各測定端子２１１〜２１８（図２参照）に電圧計やオシロスコープのフックチップを接続して波形測定を行ってもよい。さらに、図ではプラグ１１３に電流計１１２と可変抵抗器１００１とが直列接続されているが、本発明はこれに限定されるものではなく、電流計１１２もしくは可変抵抗器１００１のいずれか一方がプラグ１１３に接続されていてもよい（可変抵抗器１００１のみの場合はコンピュータＰＣ１００２からの操作、例えば可変抵抗器１００１の抵抗値変化と信号の授受との関係を検査・測定することによりＩＣチップの評価が可能となる。）。
図１１は図１０（ａ）、（ｂ）に示した第２の検査モジュールとバスラインとの関係を示す図である。
電源ラインＶｃｃに可変抵抗器１００１が挿入され、可変抵抗器１００１とＧＮＤラインとの間の波形検査・測定を行うようになっている。波形検査はオシロスコープを用いることで行われ、測定は電流計を用いて行われる。
電源ラインＶｃｃに可変抵抗器１００１が挿入され、可変抵抗器１００１とＧＮＤラインとの間の波形検査・測定を行うようになっている。波形検査はオシロスコープを用いることで行われ、測定は電流計を用いて行われる。
図１２（ａ）は接触式ＩＣカード製造用のＩＣモジュールの端子と拡張ボードとを接続するためのアダプタボードの部分拡大外観図であり、図１２（ｂ）は図１２（ａ）の１２ｂ−１２ｂ線断面図である。
アダプタボード１１００は、ボード側コネクタ２１０、電源立ち上がり時間調整回路３０３（図３）のコネクタ３０２に着脱自在なジャック側コネクタ１０３と、ＩＣカード製造用のＣＯＴの各ＩＣモジュール１１１７の端子Ｃ１〜Ｃ８に接触可能な複数（図では八つであるが限定されない。）の電極１１０２〜１１０９が一方の面（図１１（ｂ）では下側の面）に設けられ、各電極１１０２〜１１０９の一部が他方の面（図１１（ｂ）では上側の面）から観察できるように複数の貫通穴１１１０〜１１１６が形成されたボード１１１７と、ボード１１１７の各電極１１０２〜１１０９とジャック側コネクタ１０３とを接続するコード１０５と、コード１０５の中の電源ライン１０６に挿入され、通常は電源ライン１０６が導通状態となり、図示しない電流計に接続されたプラグが挿入されると電源ライン１０６と電流計とが直列状態となるジャック（例えばスイッチ付きイヤホンジャック）１０７とで構成されている。
各電極１１０２〜１１０９は、基部がボード１１１７に固定され、先端部が外側（この場合端子側）に凸状に湾曲しており、弾性を有している。電極１１０２〜１１０９の材質には金めっき銅片が用いられるが、銀めっき銅片などの金属片を用いてもよい。電極１１０２〜１１０９のボード１１１７への固定は接着剤を用いても、図示しない溝穴に差し込むようにしてもよい。貫通穴１１１０〜１１１６は図では円形であるが、限定されるものではなく、楕円、矩形、多角形のいずれであってもよい。
ボード１１１７のＩＣモジュール１１２０上への位置合わせは、ボード１１１７の各貫通穴１１１０〜１１１６がＩＣモジュール１１２０の全端子Ｃ１〜Ｃ８が位置するように移動させることにより行われる。
ボード１１１７のＩＣモジュール１１２０上への位置合わせは、ボード１１１７の各貫通穴１１１０〜１１１６がＩＣモジュール１１２０の全端子Ｃ１〜Ｃ８が位置するように移動させることにより行われる。
図１３は本発明の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法を適用した検査・測定システムの概念を示すブロック図である。
コンピュータＰＣ１３０１にバスライン用のケーブルを介して拡張ボード１０２、ソケットボード１０８、及びＩＣカード１０９が接続され、拡張ボード１０２とソケットボード１０８との間に電源立ち上がり時間調整回路３００及びクロック信号ブリッジボード８００が挿入接続されている。これら、拡張ボード１０２、電源立ち上がり時間調整回路３００、クロック信号ブリッジボード８００、及びソケットボード１０８で検査・測定システムが構成されている。
コンピュータＰＣ１３０１にバスライン用のケーブルを介して拡張ボード１０２、ソケットボード１０８、及びＩＣカード１０９が接続され、拡張ボード１０２とソケットボード１０８との間に電源立ち上がり時間調整回路３００及びクロック信号ブリッジボード８００が挿入接続されている。これら、拡張ボード１０２、電源立ち上がり時間調整回路３００、クロック信号ブリッジボード８００、及びソケットボード１０８で検査・測定システムが構成されている。
図１４は図１３に示した検査・測定システムとバスラインとの関係を示す図である。
図１４において電源ラインＶｃｃに挿入された電子スイッチ４００が電源立ち上がり時間調整回路３００によって制御され、オシロスコープを用いて電源ラインＶｃｃの波形検査・測定が行われるようになっている。クロックラインＣＬＫにスイッチ１４００が挿入されているが、このスイッチ１４００はクロック信号ブリッジボード８００のジャック８０４、８０５を意味する。このようなクロック信号ブリッジボード８００を用いることにより、グランドラインＧＮＤとクロックラインＣＬＫとの間の波形検査・測定を行うことができる。
図１４において電源ラインＶｃｃに挿入された電子スイッチ４００が電源立ち上がり時間調整回路３００によって制御され、オシロスコープを用いて電源ラインＶｃｃの波形検査・測定が行われるようになっている。クロックラインＣＬＫにスイッチ１４００が挿入されているが、このスイッチ１４００はクロック信号ブリッジボード８００のジャック８０４、８０５を意味する。このようなクロック信号ブリッジボード８００を用いることにより、グランドラインＧＮＤとクロックラインＣＬＫとの間の波形検査・測定を行うことができる。
以下、図１５〜図２１は本発明の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法を適用した検査・測定システムの変形例を示すブロック図である。尚、Ｒ／Ｗに接続されるコンピュータは省略されている。また、前述した実施の形態における部材と同様の部材には共通の符号を用いた。
図１５に示す検査・測定システム１５００は、拡張ボード１０２とソケットボード１０８とで構成されるＩＣカード用の検査・測定システムであり、図１（ａ）に示した検査・測定システムに対応している。
図１５に示す検査・測定システム１５００は、拡張ボード１０２とソケットボード１０８とで構成されるＩＣカード用の検査・測定システムであり、図１（ａ）に示した検査・測定システムに対応している。
図１５に示す検査・測定システム１５００と、電流計１１２付きのプラグ１１３（図）もしくは図示しない電流プローブを用いることによりＩＣカード１０９の端子Ｃ１とＲ／Ｗ１０１との間に流れる電流（ＩＣカードの消費電流）を測定することができる他、オシロスコープを用いることにより拡張ボード１０２の各測定端子２１１〜２１８（図２参照）の電圧波形、即ちＩＣカード１０９の各端子Ｃ１〜Ｃ８に印加される信号波形を測定することができる。
図１６に示す検査・測定システム１６００は、拡張ボード１０２と、電源立ち上がり時間調整回路３００と、ソケットボード１０８とで構成されるＩＣカード用の検査・測定システムである。
同図に示す検査・測定システム１６００は、電流計１１２付きのプラグ１１３（図１（ａ）参照）もしくは図示しない電流プローブを用いることによりＩＣカード１０９の消費電流を測定することができ、またオシロスコープを用いることによりＩＣカード１０９の各端子Ｃ１〜Ｃ８の電圧波形を測定することができ、さらにＩＣカード１０９へ加わる電圧の立ち上がり時間を調整できる（例えば、０Ｖ→５Ｖへの変化過程は、４０ｎｓ〜１００ｍｓまで連続調整可能）。
図１７に示す検査・測定システム１７００は、拡張ボード１０２と、クロック信号ブリッジボード８００と、ソケットボード１０８とで構成されるＩＣカード用の検査・測定システムである。
同図に示す検査・測定システム１７００は、電流計１１２付きのプラグ１１３もしくは電流プローブを用いることによりＩＣカード１０９の消費電流を測定することができ、オシロスコープを用いることによりＩＣカード１０９の各端子Ｃ１〜Ｃ８の信号波形を測定することができ、クロック信号ブリッジボード８００に外部クロック信号を印加することにより、可変クロック状態を実現することができる。
同図に示す検査・測定システム１７００は、電流計１１２付きのプラグ１１３もしくは電流プローブを用いることによりＩＣカード１０９の消費電流を測定することができ、オシロスコープを用いることによりＩＣカード１０９の各端子Ｃ１〜Ｃ８の信号波形を測定することができ、クロック信号ブリッジボード８００に外部クロック信号を印加することにより、可変クロック状態を実現することができる。
図１８に示す検査・測定システム１８００は、拡張ボード１０２と、アダプタボード１１００とで構成されるＩＣモジュール用の検査・測定システムであり、図１５に対応している。
図１８に示す検査・測定システム１８００を用いることにより、図１５に示した検査・測定システムと同等の効果が得られる。
図１８に示す検査・測定システム１８００を用いることにより、図１５に示した検査・測定システムと同等の効果が得られる。
図１９に示す検査・測定システム１９００は、拡張ボード１０２と、電源立ち上がり時間調整ボード３００と、アダプタボード１１００とで構成されるＩＣモジュール用の検査・測定システムである。
図１９に示した検査・測定システム１９００を用いることにより図１６に示した検査・測定システムと同様の効果が得られる。
図１９に示した検査・測定システム１９００を用いることにより図１６に示した検査・測定システムと同様の効果が得られる。
図２０に示す検査・測定システム２０００は、拡張ボード１０２と、クロック信号ブリッジボード８００と、アダプタボード１１００とで構成されるＩＣモジュール用の検査・測定システムである。
図２０に示した検査・測定システム２０００を用いることにより図１７に示した検査・測定システム１７００と同様の効果が得られる。
図２０に示した検査・測定システム２０００を用いることにより図１７に示した検査・測定システム１７００と同様の効果が得られる。
図２１に示す検査・測定システム２１００は、拡張ボード１０２と、電源立ち上がり時間調整ボード３００と、クロック信号ブリッジボード８００と、アダプタボード１１００とで構成されるＩＣモジュール用の検査・測定システムである。
図２１に示した検査・測定システム２１００を用いることにより図１３に示した検査・測定システム１３００と同様の効果が得られる。
図２１に示した検査・測定システム２１００を用いることにより図１３に示した検査・測定システム１３００と同様の効果が得られる。
ところで、図４、図６、図７に示した検査・測定システムを用いてＩＣカード１０９を検査・測定したり、図１２に示したアダプタボード１１００を用いてＩＣモジュール１１１７を検査・測定したりした場合、それらＩＣカード１０９やＩＣモジュール１１１７に用いられているＩＣチップによっては誤動作を生じることがあった。そこで本発明者らは、検査・測定システムを用いて検査・測定する際に、安定化電源４０１からの電源電圧が電子スイッチ４００を介してＩＣカード１０９（もしくはＩＣモジュール１１１７）に印加される電源電圧の立ち上がりの波形が緩やかさもしくは急峻さにより生じるものと考えた。
そこで、本発明者らは、接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システムに用いられる安定化電源について提案した。
そこで、本発明者らは、接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システムに用いられる安定化電源について提案した。
図２２は、本発明の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システムに用いられる安定化電源のブロック図である。図２３（ａ）は、図２２に示した安定化電源に用いられる遅延回路の一実施例を示す回路図であり、図２３（ｂ）は、図２２に示した安定化電源に用いられる遅延回路の他の実施例を示す回路図である。
図２２に示す安定化電源は、入力端子２２００ａに常時商用電源電圧（例えば単相交流１００Ｖ：５０Ｈｚもしくは６０Ｈｚ）が印加され、図には示されていない接触式ＩＣカード（またはＩＣモジュール）に内蔵されたＩＣチップの動作に必要な電圧を一方（図では下側）の出力端子２２００ｃに出力し、電子スイッチ４００のオンオフに必要な電圧を他方（この場合左側）の出力端子２２００ｂに出力する定電圧源２２００と、入力端子４００ａが定電圧源２２００の一方の出力端子２２００ｃに接続され、出力端子４００ｃが接触式ＩＣカードに直接的もしくは間接的に接続される電子スイッチ４００と、定電圧源２２００の他方の出力端子２２０２ｂと電子スイッチ４００の制御入力端子４００ｂとの間に接続されたメカニカルスイッチ（例えば、スナップスイッチ、トグルスイッチ、押しボタンスイッチ）２２０１と、電子スイッチ４００の出力端子４００ｃと接触式ＩＣカード（もしくはＩＣモジュール）との間に挿入された遅延回路２２０２とで構成されている。
遅延回路２２０２は、例えば複数の遅延線と、各遅延線のいずれか一つを選択するか順次直列接続するためのロータリースイッチとで構成されている。
遅延回路２２０２は、例えば複数の遅延線と、各遅延線のいずれか一つを選択するか順次直列接続するためのロータリースイッチとで構成されている。
図２３（ａ）に示す遅延回路２２０２−１は、入力端子Ｐｉ（図２２では２２０２ａ）に入力側が接続され異なる遅延時間を有する複数（ｎ個）の遅延線Ｄ１、Ｄ２、…、Ｄｎと、各遅延線Ｄ１、Ｄ２、…、Ｄｎの出力側が各固定接点２３０２ｂ、…、２３０２ｎに接続され摺動接点２３０１が出力端子Ｐｏ（図２２では２２０２ｂ）に接続されたロータリースイッチ２３００と、固定接点２３０２ａと入力端子Ｐｉとの間に接続されたジャンパ線２３０３とで構成されている。
この遅延回路２２０２−１は、ロータリースイッチ２３００の摺動接点２３０１が固定接点２３０２ａと接触するときは、入力端子Ｐｉと出力端子Ｐｏとの間はジャンパ線２３０２で接続されているので、遅延時間は「０」となる。ロータリースイッチ２３００の摺動接点２３０１が固定接点２３０２ｂと接触するときは、入力端子Ｐｉから出力端子Ｐｏへの遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間となる。同様にロータリースイッチ２３００の摺動接点２３０１が固定接点２３０２ｎと接触するときは、入力端子Ｐｉから出力端子Ｐｏへの遅延時間は遅延線Ｄｎの遅延時間となる。
この遅延回路２２０２−１は、ロータリースイッチ２３００の摺動接点２３０１が固定接点２３０２ａと接触するときは、入力端子Ｐｉと出力端子Ｐｏとの間はジャンパ線２３０２で接続されているので、遅延時間は「０」となる。ロータリースイッチ２３００の摺動接点２３０１が固定接点２３０２ｂと接触するときは、入力端子Ｐｉから出力端子Ｐｏへの遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間となる。同様にロータリースイッチ２３００の摺動接点２３０１が固定接点２３０２ｎと接触するときは、入力端子Ｐｉから出力端子Ｐｏへの遅延時間は遅延線Ｄｎの遅延時間となる。
一方、図２３（ｂ）に示す遅延回路２２０２−２は、入力端子Ｐｉに入力側が同一方向を向くように直列接続され異なる遅延時間を有する複数（ｎ個）の遅延線Ｄ１、Ｄ２、…、Ｄｎと、各遅延線Ｄ１、Ｄ２、…、Ｄｎの入出力側に固定接点２３１２ａ、２３１２ｂ、…、２３１２ｎに接続され、摺動接点２３１１ａが入力端子Ｐｉに接続され、固定接点２３１２ａが出力端子Ｐｏに接続されたロータリースイッチ２３１０とで構成されている（尚、遅延回路２２０２−１、２２０２−２は遅延線Ｄ１〜Ｄｎとロータリースイッチ２３１０とで構成されているが、本発明はこれに限定されるものではなく、抵抗もしくはコンデンサによって遅延回路を構成してもよい。）。
この遅延回路２２０２−２は、ロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１が固定接点２３１２ａと接触するときは入力端子Ｐｉと出力端子Ｐｏとの間が短絡されているので、遅延時間は「０」である。ロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１が固定接点２３１２ｂと接触するときは、入力端子Ｐｉから出力端子Ｐｏへの遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間となるが、ロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１が固定接点２３１２ｃと接触するときは、入力端子Ｐｉから出力端子Ｐｏへの遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間と遅延線Ｄ２の遅延時間との和となる。同様にロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１が固定接点２３０２ｎと接触するときは、入力端子Ｐｉから出力端子Ｐｏへの遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間、遅延線Ｄ２の遅延時間、…、遅延線Ｄｎの遅延時間の和となる。
従って、遅延回路２２０２−１は遅延時間の変化の範囲を細かくとることができ、遅延回路２２０２−２は遅延時間の変化範囲を広くとることができる。例えば、遅延線Ｄ１の遅延時間が１μｓｅｃであり、遅延線Ｄ２の遅延時間２μｓｅｃであり、…、遅延線Ｄ１０の遅延時間が１０μｓｅｃであるとすると、遅延回路２２０２−１の遅延時間の変化範囲は０μｓｅｃ〜１０μｓｅｃとなり、遅延回路２２０２−２の遅延時間の変化範囲は０μｓｅｃ〜５５μｓｅｃとなる。
尚、本実施例では定電圧電源に入力する電圧として商用電源電圧を単相交流１００Ｖ（５０Ｈｚもしくは６０Ｈｚ）として説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、１００Ｖ〜１２０Ｖであっても２２０Ｖ〜２４０Ｖであってもよい。また、商用電源電圧でなくてもよく、例えば、エンジン式発電機、蓄電池、燃料電池、太陽電池等を用いてもよい。
尚、本実施例では定電圧電源に入力する電圧として商用電源電圧を単相交流１００Ｖ（５０Ｈｚもしくは６０Ｈｚ）として説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、１００Ｖ〜１２０Ｖであっても２２０Ｖ〜２４０Ｖであってもよい。また、商用電源電圧でなくてもよく、例えば、エンジン式発電機、蓄電池、燃料電池、太陽電池等を用いてもよい。
次に図２２に示した安定化電源の動作について図２４（ａ）〜（ｃ）を参照して説明する。
図２４（ａ）は、図２２に示した安定化電源に用いられる定電圧源２２００の出力電圧と時間との関係を示し、図２４（ｂ）は図２２に示した安定化電源の電子スイッチ４００の出力電圧と時間との関係を示し、図２４（ｃ）は図２２に示した安定化電源の遅延回路２２０２の出力電圧と時間との関係を示す。図２４（ａ）〜（ｃ）において、横軸は時間を示し、縦軸は電圧を示す。
図２４（ａ）は、図２２に示した安定化電源に用いられる定電圧源２２００の出力電圧と時間との関係を示し、図２４（ｂ）は図２２に示した安定化電源の電子スイッチ４００の出力電圧と時間との関係を示し、図２４（ｃ）は図２２に示した安定化電源の遅延回路２２０２の出力電圧と時間との関係を示す。図２４（ａ）〜（ｃ）において、横軸は時間を示し、縦軸は電圧を示す。
図２２に示した安定化電源は、定電圧電源２２００に常時商用電源（ＡＣ１００Ｖ）が印加されているので、図２４（ａ）に示すような定常状態の電圧（ＤＣ５Ｖ）が電子スイッチ４００の入力端子に印加される。このような状態でメカニカルスイッチ２２０１をオンにすると、定電圧源２２００から定常状態の電圧（ＤＣ１５Ｖ）が電子スイッチ４００の制御入力端子に印加される。このため、電子スイッチ４００の出力端子から図２４（ｂ）に示すように立ち上がりの急峻な電圧（最大ＤＣ５Ｖ）が出力される。この電子スイッチ４００の出力電圧が遅延回路２２０２に印加されると、図２４（ｃ）に示すような立ち上がりの緩やかな電圧（最大ＤＣ５Ｖ）が出力される。
図２５は、図２２に示した安定化電源の遅延回路２２０２の遅延時間を変化させたときの出力電圧の変化を示す図であり、横軸が時間を示し、縦軸が出力電圧を示す。
遅延時間の変化には例えば、図２３（ａ）に示した回路を用いてもよく、図２３（ｂ）に示した回路を用いてもよく、両者を組み合わせてもよい。
遅延回路として、図２３（ｂ）に示した回路を用いるとすると、ロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１を固定接点２３１２ａに接触させると遅延回路２２０２−２の遅延時間は０となるので、出力電圧はＬ１に示すような急峻な立ち上がりになる（図２５）。ロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１を固定接点２３１２ｂに接触させると遅延回路２２０２−２の遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間となるので、出力電圧はＬ２に示すようなやや緩やかな立ち上がりになる（図２５）。同様にしてロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１を固定接点２３１２ｂ、２３１２ｃ、…と順次接触させると遅延回路２２０２−２の遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間、遅延線Ｄ２の遅延時間、…となるので、出力電圧はＬ２、Ｌ３、…に示すような緩やかな立ち上がりになる（図２５）。
遅延時間の変化には例えば、図２３（ａ）に示した回路を用いてもよく、図２３（ｂ）に示した回路を用いてもよく、両者を組み合わせてもよい。
遅延回路として、図２３（ｂ）に示した回路を用いるとすると、ロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１を固定接点２３１２ａに接触させると遅延回路２２０２−２の遅延時間は０となるので、出力電圧はＬ１に示すような急峻な立ち上がりになる（図２５）。ロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１を固定接点２３１２ｂに接触させると遅延回路２２０２−２の遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間となるので、出力電圧はＬ２に示すようなやや緩やかな立ち上がりになる（図２５）。同様にしてロータリースイッチ２３１０の摺動接点２３１１を固定接点２３１２ｂ、２３１２ｃ、…と順次接触させると遅延回路２２０２−２の遅延時間は遅延線Ｄ１の遅延時間、遅延線Ｄ２の遅延時間、…となるので、出力電圧はＬ２、Ｌ３、…に示すような緩やかな立ち上がりになる（図２５）。
このような遅延時間が可変の安定化電源を用いて接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システムを行う際に、安定化電源からの出力電圧の立ち上がりを特性曲線Ｌ１からＬ２、Ｌ３、…と順次変化させていき、例えば一点鎖線Ｌ４の傾きより緩やかな傾きの遅延特性曲線Ｌ５、Ｌ６、…でも正常に動作するものを良品とし、一点鎖線Ｌ４の傾きより緩やかな傾きの遅延特性Ｌ５、Ｌ６、…では誤動作するものを不良品として選別することができる。また、これとは逆に出力電圧の立ち上がりを緩やかな状態から徐々に急峻な状態へ変化させるようにして良品と不良品との選別を行ってもよい。
以上において、本実施の形態によれば、定電圧源の入力端子には常時商用電源が印加されているので、定電圧源から出力される電圧は定常状態となっている。この定常状態となった電圧を電子スイッチに印加することにより、立ち上がりの速い電圧をＩＣチップに印加することができ、立ち上がりの速い電圧を出力する読み取り装置もしくは読み取り／書込装置にも対応することができ、検査・測定の範囲が広くなり、実際の読み取り装置もしくは読み取り／書込装置に近い状態で検査・測定を行うことができる。また、遅延回路を用いて遅延時間を変化させることによって、検査・測定の範囲がさらに広くなり、実際の読み取り装置もしくは読み取り／書込装置にさらに近い状態で検査・測定を行うことができる。
１０１ リーダライタ（Ｒ／Ｗ）
１０２ 拡張ボード
１０３ ジャック側コネクタ
１０４ ソケット
１０５ コード
１０６ 電源ライン（Ｖｃｃライン）
１０７ ジャック（ポート）
１０８ ソケットボード
１０９ 接触式ＩＣカード（ＩＣカード）
１１０ ＩＣモジュール
１１１ 端子部
２２００ 定電圧源
２２０１ メカニカルスイッチ
２２０２ 遅延回路
Ｄ１〜Ｄｎ 遅延線
２３００、２３１０ ロータリースイッチ
１０２ 拡張ボード
１０３ ジャック側コネクタ
１０４ ソケット
１０５ コード
１０６ 電源ライン（Ｖｃｃライン）
１０７ ジャック（ポート）
１０８ ソケットボード
１０９ 接触式ＩＣカード（ＩＣカード）
１１０ ＩＣモジュール
１１１ 端子部
２２００ 定電圧源
２２０１ メカニカルスイッチ
２２０２ 遅延回路
Ｄ１〜Ｄｎ 遅延線
２３００、２３１０ ロータリースイッチ
Claims (14)
- 接触式ＩＣカード用のリーダライタを経由してコンピュータと接続され接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定を行う検査・測定方法であって、
前記リーダライタに着脱自在で挿入時に該リーダライタから延出するように形成された基板と、該基板に設けられ前記リーダライタの各電極と接続するための第１の接続端子と、前記基板の前記リーダライタから延出する側に設けられた第１の接続部とを有する第１の検査・測定モジュールと、
前記第１の接続部に着脱自在な第２の接続部と、前記ＩＣチップに電気的に接続可能な第３の接続部とを有するソケットモジュールと、
前記第１の検査・測定モジュールもしくは前記ソケットモジュールの電源ラインまたは信号ラインに設けられた少なくとも１つの外部出力可能なポートと、
を準備し、
前記コンピュータ、前記リーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール、及び前記ＩＣチップを電気的に接続し、
前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させると共に、前記ポートで前記ＩＣチップの電気特性を測定することを特徴とする接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法。 - 前記電源ラインに設けられたポートに可変抵抗器及び電流計のいずれか一方もしくは両方を備えた第２の検査・測定モジュールを挿入し、
前記コンピュータ、前記リーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び前記ＩＣチップを電気的に接続し、
前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させると共に前記可変抵抗器の抵抗値を変化させることで、前記ＩＣチップに流れる電流または電圧を測定することを特徴とする請求項１記載の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法。 - 前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、
前記電源ラインに設けられ前記電源ラインからの電圧が印加されるとオンオフ動作する電子スイッチ及び該電子スイッチに接続され前記ＩＣチップに電圧を供給するための安定化電源を備えた第３の検査・測定モジュールを挿入し、
前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させる前に電子スイッチをオンさせてから、前記安定化電源からの電圧を前記ＩＣチップに印加したときの電気特性を測定することを特徴とする請求項１または２記載の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法。 - 前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、
前記電子スイッチを介して遅延回路または、遅延回路及び安定化電源と、外部出力可能な端子とを備えた第４の検査・測定モジュールを接続し、
前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させると共に前記第４の検査・測定モジュールの遅延回路の時定数を制御することで前記ＩＣチップの電気特性を測定することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法。 - 前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、
前記信号ラインのうちクロックラインに設けられたポートに、任意の周波数のクロック信号を印加するためのクロック回路を備えた第５の検査・測定モジュールを接続し、
前記コンピュータによりＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを作動させると共に前記第５の検査・測定モジュールのクロック周波数を制御することで前記ＩＣチップの周波数特性を測定することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項記載の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法。 - 接触式ＩＣカード用のリーダライタを経由してコンピュータと接続され接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定を行う検査・測定システムであって、
前記検査・測定を行うための各種検査・測定モジュールから構成され、
前記検査・測定モジュールを組み合わせることにより前記ＩＣチップの種々の電気特性の検査・測定を行うようにしたことを特徴とする接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システム。 - 接触式ＩＣカード用のリーダライタを経由してコンピュータと接続され接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定を行う検査・測定システムであって、
前記リーダライタに着脱自在で挿入時に該リーダライタから延出するように形成された基板と、該基板に設けられ前記リーダライタの各電極と接続するための第１の接続端子と、前記基板の前記リーダライタから延出する側に設けられた第１の接続部とを有する第１の検査・測定モジュールと、
前記第１の接続部に着脱自在な第２の接続部と、前記ＩＣチップに電気的に接続可能な第３の接続部とを有するソケットモジュールと、
前記第１の検査・測定モジュールもしくは前記ソケットモジュールの電源ラインまたは信号ラインに設けられた少なくとも１つの外部出力可能なポートと、
を備えたことを特徴とする接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システム。 - 前記コンピュータ、前記リーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール、及び前記ＩＣチップを電気的に接続し、
前記電源ラインに設けられたポートに可変抵抗器及び電流計を備えた第２の検査・測定モジュールを接続したことを特徴とする請求項６または７に記載の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システム。 - 前記コンピュータ、前記リーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び前記ＩＣチップを電気的に接続し、
前記電源ラインに設けられ前記電源ラインからの電圧でオンオフする電子スイッチ及び該電子スイッチに接続され前記ＩＣチップに電圧を供給するための安定化電源を備えた第３の検査・測定モジュールを接続したことを特徴とする請求項６から８のいずれか１項記載の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システム。 - 前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、
前記電子スイッチを介して遅延回路または、遅延回路及び安定化電源と、外部出力可能な端子とを備えた第４の検査・測定モジュールを接続したことを特徴とする請求項６から９のいずれか１項記載の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システム。 - 前記コンピュータ、前記ＩＣカード用のリーダライタ、前記第１の検査・測定モジュール、前記ソケットモジュール及び、前記ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップを電気的に接続し、
前記信号ラインのうちクロックラインに設けられたポートに、任意の周波数のクロック信号を印加するためのクロック回路を備えた第５の検査・測定モジュールを接続したことを特徴とする請求項６から１０のいずれか１項記載の接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定システム。 - 定電圧源と電子スイッチとを有する電気特性の検査・測定システムに用いられる安定化電源であって、
前記定電圧源の入力端子に常時電圧が印加され、
前記定電圧源の一方の出力端子と前記電子スイッチの電圧入力端子とが接続されると共に、前記定電圧源の他方の出力端子と前記電子スイッチの制御入力端子との間に前記定電圧源の動作を制御するメカニカルスイッチが挿入され、
前記電子スイッチの電圧出力端子からの出力電圧で電気特性の検査・測定を行うことを特徴とする安定化電源。 - 前記電子スイッチの電圧出力端子に遅延回路の入力端子を接続したことを特徴とする請求項１２に記載の安定化電源。
- 前記電子スイッチの電圧出力端子または前記遅延回路の出力端子に接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップが接続され、該ＩＣチップの電気特性の検査・測定が行われるようにしたことを特徴とする請求項１２または１３記載の安定化電源。
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|---|---|---|---|
| JP2004128927A JP2005100332A (ja) | 2003-08-29 | 2004-04-23 | 接触式ｉｃカードまたはｉｃモジュールに内蔵されたｉｃチップの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源 |
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| JP2003307352 | 2003-08-29 | ||
| JP2004128927A JP2005100332A (ja) | 2003-08-29 | 2004-04-23 | 接触式ｉｃカードまたはｉｃモジュールに内蔵されたｉｃチップの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源 |
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|---|---|
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- 2004-04-23 JP JP2004128927A patent/JP2005100332A/ja active Pending
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