JP2012141956A

JP2012141956A - ハードディスク電流のテストシステム及びそのアダプターボード

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Publication number: JP2012141956A
Application number: JP2011257493A
Authority: JP
Inventors: Wen-Sen Hu; 文森胡; Kuo-Yi Chen; 国義陳
Original assignee: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd; Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Current assignee: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd; Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date: 2010-12-29
Filing date: 2011-11-25
Publication date: 2012-07-26
Anticipated expiration: 2031-11-25
Also published as: CN102539880A; CN105718345A; CN105718345B; JP5426642B2; CN102539880B; US20120169349A1

Abstract

【課題】ハードディスクの電流を容易に測定することができるハードディスク電流のテストシステム及びこの測定を補佐するアダプターボードを提供すること。
【解決手段】本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び２つのクリップオン電流計を備える。前記アダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び１つのバスラインを備える。前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行う。その過程において、２つの前記クリップオン電流計のクリップで、それぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定する。
【選択図】図１

Description

本発明は、ハードディスク電流のテストシステム及びそのアダプターボード（ａｄａｐｔｅｒｂｏａｒｄ）に関するものである。

ハードディスクの品質を確保するため、ハードディスクの組立てが完了した後、それに対して一連のテストを行わなければならない。しかし、従来のテスト方法ではハードディスクの電流を直接測定することができないため、ユーザーは、ハードディスクがデータを読み書きする際の電流変化等の具体的なパラメーターを確認できない。

以上の問題点に鑑みて、本発明は、ハードディスクの電流を容易に測定することができるハードディスク電流のテストシステム及びこの測定を補佐するアダプターボードを提供することを目的とする。

上記の目的を達成するために、本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び２つのクリップオン電流計を備える。前記アダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び１つのバスラインを備え、前記第一コネクター及び前記第二コネクターは、それぞれ１つの第一バット及び１つの第三バットを有する。前記第一ポートは、前記ハードディスクに接続され且つ前記バスラインを介して前記第二ポートに接続され、前記第二ポートは、前記テスト装置に接続され、前記第一コネクターの第一バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第二コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され且つ前記第一ケーブルを介して前記第一コネクターの第一バットに接続され、前記第二コネクターの第三バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され且つ前記第二ケーブルを介して前記第一コネクターの第三バットに接続される。前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第一コネクターの第一バット、前記第一ケーブル、前記第二コネクターの第一バット及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電される。前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第一コネクターの第三バット、前記第二ケーブル、前記第二コネクターの第三バット及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電される。前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行い、その過程において、２つの前記クリップオン電流計のクリップでそれぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定する。

また、上記の目的を達成するために、本発明に係るアダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び１つのバスラインを備える。前記第一コネクター及び前記第二コネクターは、それぞれ１つの第一バット及び１つの第三バットを備え、前記第一ポートは、前記ハードディスクに接続され且つ前記バスラインを介して前記第二ポートに接続され、前記第二ポートは、前記テスト装置に接続され、前記第一コネクターの第一バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第二コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され且つ前記第一ケーブルを介して前記第一コネクターの第一バットに接続され、前記第二コネクターの第三バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され且つ前記第二ケーブルを介して前記第一コネクターの第三バットに接続される。前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第一コネクターの第一バット、前記第一ケーブル、前記第二コネクターの第一バット及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電される。前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第一コネクターの第三バット、前記第二ケーブル、前記第二コネクターの第三バット及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電される。前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行い、その過程において、２つの前記クリップオン電流計のクリップでそれぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定する。

従来の技術と比較して、本発明のハードディスク電流のテストシステムは、第一及び第二コネクターを設けて、前記アダプターボードの第一電源信号及び第二電源信号を導出し、且つ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを介してこの導出された第一及び第二電源信号の信号経路を形成する。これによって、２つの前記クリップオン電流計は、前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟むことで、前記ハードディスクの電流を測定できる。

本発明の実施形態に係るハードディスク電流のテストシステムの動作原理を示す図である。

図１に示したように、本発明の実施形態に係るハードディスク電流のテストシステム１００は、ハードディスク１０、アダプターボード２０、テスト装置３０、第一ケーブル４０、第二ケーブル５０及び２つのクリップオン電流計（ｃｌｉｐｏｎａｍｍｅｔｅｒ）６０を備える。

前記アダプターボード２０は、第一ポート２２、第二ポート２６、１つのバスライン２８及び２つのコネクターＪ１、Ｊ２を備える。前記コネクターＪ１、Ｊ２は、三つのジャンパー（ｊｕｍｐｅｒ）部品或いはケーブルを介して互いに接続されるバット１〜３を備える。前記第一ポート２２は、前記ハードディスク１０のポートに接続され、前記第二ポート２６は、前記テスト装置３０のポートに接続される。前記コネクターＪ１のバット１は、前記第二ポート２６の５Ｖ電源ピンに接続され、前記コネクターＪ１のバット２は、接地され、前記コネクターＪ１のバット３は、前記第二ポート２６の１２Ｖ電源ピンに接続される。前記コネクターＪ２のバット１は、前記第一ポート２２の５Ｖ電源ピンに接続され、前記コネクターＪ２のバット２は、接地され、前記コネクターＪ２のバット３は、前記第一ポート２２の１２Ｖ電源ピンに接続される。前記第一ポート２２の信号ピン(図示せず)は、前記バスライン２８を介して前記第二ポート２６の信号ピン(図示せず)に接続される。

本発明の実施形態において、前記ハードディスク１０は、２．５インチのＳＡＴＡ（ＳｅｒｉａｌＡｄｖａｎｃｅｄＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙＡｔｔａｃｈｍｅｎｔ）ディスク、３．５インチＳＡＴＡディスク、２．５インチＳＡＳ（ＳｅｒｉａｌＡｔｔａｃｈｅｄＳＣＳＩ）ディスク或いは３．５インチＳＡＳディスクである。前記第一ポート２２及び前記第二ポート２６は、すべてＳＡＳポートである。しかし、ＳＡＳポートはＳＡＴＡポートと兼用でき且つＳＡＴＡハードディスクもＳＡＳの運行環境で使用できるため、前記第一ポート２２をＳＡＴＡハードディスクにも接続することができる。前記テスト装置３０は、ハードディスクテストソフトウェアが内蔵されたコンピューター或いはサーバーである。前記テスト装置３０は、前記ハードディスク１０に５Ｖ電源及び１２Ｖ電源のみを供給するため、前記ハードディスク１０が正常に動作するために必要な各種電圧（例えば、１．８Ｖ、２．５Ｖ、３．３Ｖ及び８Ｖ等）は、すべて相応する電気回路により転換された後に得ることができる。つまり、上記した５Ｖ及び１２Ｖの電源経路を流れる電流を測定すれば、前記ハードディスク１０の電流を知ることができる。

前記ハードディスク１０がテスト過程における電流を測定する際には、前記ハードディスク１０のポートを前記アダプターボード２０の第一ポート２２に接続し、前記テスト装置３０のポートを前記アダプターボード２０の第二ポート２６に接続し、前記コネクターＪ１のバット１を前記第一ケーブル４０にて前記コネクターＪ２のバット１に接続し、前記コネクターＪ１のバット３を前記第二ケーブル５０にて前記コネクターＪ２のバット３に接続する。前記テスト装置３０から出力された５Ｖ電源は、前記第二ポート２６の５Ｖ電源ピン、前記コネクターＪ１のバット１、前記第一ケーブル４０、前記コネクターＪ２のバット１及び前記第一ポート２２の５Ｖ電源ピンを通して、前記ハードディスク１０に給電される。前記テスト装置３０から出力された１２Ｖ電源は、前記第二ポート２６の１２Ｖ電源ピン、前記コネクターＪ１のバット３、前記第二ケーブル５０、前記コネクターＪ２のバット３及び前記第一ポート２２の１２Ｖ電源ピンを通して、前記ハードディスク１０に給電される。前記ハードディスク１０が通電された後、前記テスト装置３０は前記第二ポート２６、前記バスライン２８及び前記第一ポート２２を介して前記ハードディスク１０と情報を交換して、前記ハードディスク１０に対するテストを行う。このテスト過程において、２つの前記クリップオン電流計６０のクリップでそれぞれ前記第一ケーブル４０及び前記第二ケーブル５０を挟むことによって、前記ハードディスク１０の５Ｖ電源経路及び１２Ｖ電源経路を流れる電流を測定することができる。

前記アダプターボード２０は、２つのコネクターＪ３、Ｊ４をさらに備える。前記コネクターＪ３、Ｊ４は、それぞれ三つのジャンパー部品或いはケーブルを介して互いに接続されるバット１〜３を備える。前記コネクターＪ３のバット１は、前記第一ポート２２の５Ｖ電源ピンに接続され、前記コネクターＪ３のバット２は、いずれにも接続されず、前記コネクターＪ３のバット３は、前記第二ポート２６の５Ｖ電源ピンに接続されている。前記コネクターＪ４のバット１は、前記第一ポート２２の１２Ｖ電源ピンに接続され、前記コネクターＪ４のバット２は、いずれにも接続されず、前記コネクターＪ４のバット３は、前記第二ポート２６の１２Ｖ電源ピンに接続される。

前記ハードディスク１０のみをテストして、前記ハードディスク１０の電流を測定しない場合、前記コネクターＪ１のバット１と前記コネクターＪ２のバット１との接続、及び前記コネクターＪ１のバット３と前記コネクターＪ２のバット３との接続をそれぞれ断ってから、２つのジャンパー部品（図示せず）を介して前記コネクターＪ３のバット１及びバット３、及び前記コネクターＪ４のバット１及びバット３をそれぞれ連接すればよい。前記テスト装置３０から出力された５Ｖ電源は、前記第二ポート２６の５Ｖ電源ピン、前記コネクターＪ３及び前記第一ポート２２の５Ｖ電源ピンを通して、前記ハードディスク１０に給電される。前記テスト装置３０から出力された１２Ｖ電源は、前記第二ポート２６の１２Ｖ電源ピン、前記コネクターＪ４及び前記第一ポート２２の１２Ｖ電源ピンを通して、前記ハードディスク１０に給電される。前記ハードディスク１０が通電された後、前記テスト装置３０は、前記第二ポート２６、前記バスライン２８及び前記第一ポート２２を介して前記ハードディスク１０と情報を交換して、前記ハードディスク１０に対するテストを行う。

なお、変形例として、前記コネクターＪ３、Ｊ４は省略してもよい。

本発明の実施形態において、前記ハードディスク電流のテストシステム１００は、前記アダプターボード２０にそれぞれＳＡＳポートである第一ポート２２及び第二ポート２６を設けることによって、２．５インチＳＡＴＡハードディスク、３．５インチＳＡＴＡハードディスク、２．５インチＳＡＳハードディスク或いは３．５インチＳＡＳハードディスクに対するテストが実現できる。さらに、コネクターＪ１、Ｊ２を設けて、前記アダプターボード２０上の５Ｖ及び１２Ｖ電源信号を導出して、且つ前記第一ケーブル４０及び第二ケーブル５０を介してこの導出された５Ｖ及び１２Ｖ電源信号の信号経路を形成する。これによって、２つの前記クリップオン電流計６０は、前記第一ケーブル４０及び前記第二ケーブル５０を挟むことで、前記ハードディスク１０の電流を測定できる。さらに、本発明は、コネクターＪ３、Ｊ４を設けることによって、前記第一ケーブル４０及び第二ケーブル５０を使用しない時の、前記ハードディスク１０に対するテストを実現する。

以上、本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形又は修正が可能であり、該変形又は修正も又、本発明の特許請求の範囲内に含まれるものであることは、いうまでもない。

１０ハードディスク
２０アダプターボード
２２第一ポート
２６第二ポート
２８バスライン
３０テスト装置
４０第一ケーブル
５０第二ケーブル
６０クリップオン電流計
１００ハードディスク電流のテストシステム

Claims

ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び２つのクリップオン電流計を備えるハードディスク電流のテストシステムにおいて、
前記アダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び１つのバスラインを備え、前記第一コネクター及び前記第二コネクターは、それぞれ１つの第一バット及び１つの第三バットを有し、前記第一ポートは、前記ハードディスクに接続され且つ前記バスラインを介して前記第二ポートに接続され、前記第二ポートは、前記テスト装置に接続され、前記第一コネクターの第一バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第二コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され且つ前記第一ケーブルを介して前記第一コネクターの第一バットに接続され、前記第二コネクターの第三バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され且つ前記第二ケーブルを介して前記第一コネクターの第三バットに接続され、
前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第一コネクターの第一バット、前記第一ケーブル、前記第二コネクターの第一バット及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、
前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第一コネクターの第三バット、前記第二ケーブル、前記第二コネクターの第三バット及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、
前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行い、その過程において、２つの前記クリップオン電流計のクリップで、それぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定することを特徴とするハードディスク電流のテストシステム。
前記第一ポート及び前記第二ポートは、すべてＳＡＳポートであることを特徴とする請求項１に記載のハードディスク電流のテストシステム。
前記ハードディスクは、２．５インチＳＡＴＡハードディスク、３．５インチＳＡＴＡハードディスク、２．５インチＳＡＳハードディスク或いは３．５インチＳＡＳハードディスクであることを特徴とする請求項２に記載のハードディスク電流のテストシステム。
前記アダプターボードは、さらに第三コネクター及び第四コネクターを備え、前記第三コネクター及び前記第四コネクターは、それぞれ１つの第一バット及び１つの第三バットを有し、
前記第三コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され、前記第三コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第四コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され、前記第四コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、
前記第一コネクターの第一バットと前記第二コネクターの第一バットとが切断され、且つ前記第一コネクターの第三バットと前記第二コネクターの第三バットとが切断された後に、１つのジャンパー部品を介して前記第三コネクターの第一バットと第三バットとを連接し、もう１つのジャンパー部品を介して前記第四コネクターの第一バットと第三バットとを連接して、
前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第三コネクター及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第四コネクター及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行うことを特徴とする請求項１に記載のハードディスク電流のテストシステム。
前記テスト装置から出力される第一電源は、５Ｖ電源であり、前記テスト装置から出力される第二電源は、１２Ｖ電源であることを特徴とする請求項１から４の何れか一項に記載のハードディスク電流のテストシステム。
第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び１つのバスラインを備えるアダプターボードにおいて、
前記第一コネクター及び前記第二コネクターは、それぞれ１つの第一バット及び１つの第三バットを備え、前記第一ポートは、前記ハードディスクに接続され且つ前記バスラインを介して前記第二ポートに接続され、前記第二ポートは、前記テスト装置に接続され、前記第一コネクターの第一バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第二コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され且つ前記第一ケーブルを介して前記第一コネクターの第一バットに接続され、前記第二コネクターの第三バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され且つ前記第二ケーブルを介して前記第一コネクターの第三バットに接続され、
前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第一コネクターの第一バット、前記第一ケーブル、前記第二コネクターの第一バット及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、
前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第一コネクターの第三バット、前記第二ケーブル、前記第二コネクターの第三バット及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、
前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行い、その過程において、２つの前記クリップオン電流計のクリップで、それぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定することを特徴とするアダプターボード。
前記第一ポート及び前記第二ポートは、すべてＳＡＳポートであることを特徴とする請求項６に記載のアダプターボード。
前記アダプターボードは、さらに第三コネクター及び第四コネクターを備え、前記第三コネクター及び前記第四コネクターは、それぞれ１つの第一バット及び１つの第三バットを有し、
前記第三コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され、前記第三コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第四コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され、前記第四コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、
前記第一コネクターの第一バットと前記第二コネクターの第一バットとが切断され、且つ前記第一コネクターの第三バットと前記第二コネクターの第三バットとが切断された後に、１つのジャンパー部品を介して前記第三コネクターの第一バットと第三バットとを連接し、もう１つのジャンパー部品を介して前記第四コネクターの第一バットと第三バットとを連接して、
前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第三コネクター及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第四コネクター及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行うことを特徴とする請求項６に記載のアダプターボード。