TWI412925B - Ieee1394介面測試裝置 - Google Patents

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TWI412925B TW99126397A TW99126397A TWI412925B TW I412925 B TWI412925 B TW I412925B TW 99126397 A TW99126397 A TW 99126397A TW 99126397 A TW99126397 A TW 99126397A TW I412925 B TWI412925 B TW I412925B
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Description

IEEE1394介面測試裝置
本發明係關於一種測試裝置，尤指一種用於測試電子產品上的IEEE1394介面的測試裝置。
目前，很多電子產品上都設有IEEE1394介面，其為一種串列介面標準，是由IEEE---Institute of Electrical and Electronics Engineers, 即電氣和電子工程師協會制定的，此標準為該協會第1394個標準文件，故稱為IEEE1394。在電子產品研發階段或出貨前測試階段，需要對電子產品上的IEEE1394介面進行測試，以驗證是否符合IEEE1394規範的要求。
通常的測試方法是購買一款符合IEEE1394規範的IEEE1394設備（如IEEE1394硬碟），再透過一測試卡將待測的電子設備的IEEE1394介面與該符合IEEE1394規範的IEEE1394設備的IEEE1394介面連接起來，然後在測試卡上引出IEEE1394訊號線，做好接地回路，再利用測試儀器的探棒進行探測。但上述方式需要事先購買符合IEEE1394規範的IEEE1394設備，故測試成本會很高，另外，測試待測的電子設備的IEEE1394介面與該符合IEEE1394規範的IEEE1394設備之間需用較長的線纜連接，可能會有訊號反射現象發生，從而導致測試不精確。
鑒於上述內容，有必要提供一種精確度高且成本低廉的IEEE1394介面測試裝置。
一種IEEE1394介面測試裝置，包括一IEEE1394晶片、一IEEE1394插頭、一IEEE1394插座、一切換開關模組、至少一測試頭，該IEEE1394插頭、IEEE1394插座及IEEE1394晶片均包括一接地引腳、兩對差分訊號引腳、一電源引腳，該測試頭包括至少一接地測試插孔、兩對差分訊號測試插孔、一電源訊號測試插孔，該IEEE1394插頭、IEEE1394插座、IEEE1394晶片上的接地引腳及測試頭上的接地測試插孔相互連接，該IEEE1394插頭、IEEE1394插座、IEEE1394晶片上的電源引腳及測試頭上的電源訊號測試插孔相互連接，該IEEE1394晶片的兩對差分訊號引腳與該測試頭上的兩對差分訊號測試插孔對應連接，該切換開關模組連接在該IEEE1394晶片與該IEEE1394插頭、IEEE1394插座之間，用於選擇性地將該IEEE1394晶片的兩對差分訊號引腳與該IEEE1394插頭或IEEE1394插座上的兩對差分訊號引腳對應相連。
相較習知技術，本發明IEEE1394介面測試裝置透過該IEEE1394晶片及切換開關模組選擇性的連接至該IEEE1394插頭及IEEE1394插座，並透過該測試頭將測試的訊號引出來，由於不需額外購買符合IEEE1394規範的IEEE1394設備，故可大大節省測試成本。
請參考圖1，本發明IEEE1394介面測試裝置100的較佳實施方式包括一IEEE1394晶片U1、一IEEE1394插頭J1、一IEEE1394插座J2、一切換開關模組K、三個測試頭J3-J5。上述所有元件都設在一電路板體10上，具體位置不限只要方便測試即可。該測試頭J3包括四個測試插孔，分別為兩接地測試插孔G、第一對差分訊號測試插孔A+及A-，該測試頭J4包括四個測試插孔，分別為兩接地測試插孔G、第二對差分訊號測試插孔B+及B-，該測試頭J5包括兩個測試插孔分別為電源訊號測試插孔VP、接地測試插孔G。上述測試插孔可方便插接外部測試設備（如示波器）的探棒。該切換開關模組K可以為一撥碼開關。該兩對差分訊號測試插孔A+、A-、B+、B-及電源訊號測試插孔VP中的每一測試插孔均與一個該接地測試插孔G相鄰設置在該電路板體10上，以方便外部測試設備的兩探棒插接測試。
請參考圖2，該IEEE1394插頭J1、IEEE1394插座J2及IEEE1394晶片U1均包括一接地引腳G、一第一對差分訊號引腳TPB+及TPB-、一第二對差分訊號引腳TPA+及TPA-、一電源引腳VP，分別用於接地、傳輸兩對差分訊號、傳輸電源訊號。該切換開關模組K包括四個單刀雙擲開關K1-K4，該等單刀雙擲開關K1-K4均包括兩擲點1、2及一刀部3。
該IEEE1394插頭J1、IEEE1394插座J2、IEEE1394晶片U1上的引腳G及測試頭J3-J5上的插孔G相互連接。該IEEE1394插頭J1、IEEE1394插座J2、IEEE1394晶片U1上的引腳VP及測試頭J5的插孔VP相互連接。該IEEE1394插頭J1上的引腳TPB+、TPB-、TPA+、TPA-分別連接至該等單刀雙擲開關K1-K4的擲點1，該IEEE1394插座J2上的引腳TPB+、TPB-、TPA+、TPA-分別連接至該等單刀雙擲開關K1-K4的擲點2。該單刀雙擲開關K1的刀部3連接至該測試頭J4的測試插孔B+及IEEE1394晶片U1的引腳TPB+，該單刀雙擲開關K2的刀部3連接至該測試頭J4的測試插孔B-及IEEE1394晶片U1的引腳TPB-，該單刀雙擲開關K3的刀部3連接至該測試頭J3的測試插孔A+及IEEE1394晶片U1的引腳TPA+，該單刀雙擲開關K4的刀部3連接至該測試頭J3的測試插孔A-及IEEE1394晶片U1的引腳TPA-。
測試時，如果是近端測試，則撥動該切換開關模組K以使該等單刀雙擲開關K1-K4均處於刀部3與擲點1電性接觸的狀態，此時該IEEE1394插頭J1與該IEEE1394晶片U1對應電性連接。直接將該IEEE1394插頭J1插入待測電子設備的IEEE1394介面中，根據測試要求將測試儀器的探棒直接插入測試頭J3-J5中需要探測的測試插孔即可，由於測試點非常接近待測電子設備，故反射訊號干擾較小，從而提高了測試準確度。
如果是遠端測試，則則撥動該切換開關模組K以使該等單刀雙擲開關K1-K4均處於刀部3與擲點2電性接觸的狀態，此時該IEEE1394插座J2與該IEEE1394晶片U1對應電性連接。透過一IEEE1394資料線纜將該IEEE1394插座J2與待測電子設備的IEEE1394介面相連，同理，根據測試要求將測試儀器的探棒直接插入測試頭J3-J5中需要探測的測試插孔即可，測試十分方便。另外，本發明IEEE1394介面測試裝置100不需額外購買符合IEEE1394規範的IEEE1394設備，故可大大節省測試成本。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士，在爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
100‧‧‧IEEE1394介面測試裝置
10‧‧‧電路板體
U1‧‧‧IEEE1394晶片
J1‧‧‧IEEE1394插頭
J2‧‧‧IEEE1394插座
K‧‧‧切換開關模組
J3-J5‧‧‧測試頭
G、A+、A-、B+、B-、VP‧‧‧測試插孔
G、TPB+、TPB-、TPA+、TPA-、VP‧‧‧引腳
K1-K4‧‧‧單刀雙擲開關
1、2‧‧‧擲點
3‧‧‧刀部
圖1係本發明IEEE1394介面測試裝置較佳實施方式的示意圖。
圖2係本發明IEEE1394介面測試裝置較佳實施方式的電路圖。
100‧‧‧IEEE1394介面測試裝置
U1‧‧‧IEEE1394晶片
J1‧‧‧IEEE1394插頭
J2‧‧‧IEEE1394插座
K‧‧‧切換開關模組
J3-J5‧‧‧測試頭
G、A+、A-、B+、B-、VP‧‧‧測試插孔
G、TPB+、TPB-、TPA+、TPA-、VP‧‧‧引腳
K1-K4‧‧‧單刀雙擲開關
1、2‧‧‧擲點
3‧‧‧刀部

Claims (5)

  1. 一種IEEE1394介面測試裝置，包括一IEEE1394晶片、一IEEE1394插頭、一IEEE1394插座、一切換開關模組、至少一測試頭，該IEEE1394插頭、IEEE1394插座及IEEE1394晶片均包括一接地引腳、兩對差分訊號引腳、一電源引腳，該測試頭包括至少一接地測試插孔、兩對差分訊號測試插孔、一電源訊號測試插孔，該IEEE1394插頭、IEEE1394插座、IEEE1394晶片上的接地引腳及測試頭上的接地測試插孔相互連接，該IEEE1394插頭、IEEE1394插座、IEEE1394晶片上的電源引腳及測試頭上的電源訊號測試插孔相互連接，該IEEE1394晶片的兩對差分訊號引腳與該測試頭上的兩對差分訊號測試插孔對應連接，該切換開關模組連接在該IEEE1394晶片與該IEEE1394插頭、IEEE1394插座之間，用於選擇性地將該IEEE1394晶片的兩對差分訊號引腳與該IEEE1394插頭或IEEE1394插座上的兩對差分訊號引腳對應相連。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之IEEE1394介面測試裝置，其中該IEEE1394晶片、IEEE1394插頭、IEEE1394插座、切換開關模組、測試頭均設置於一電路板體上。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之IEEE1394介面測試裝置，其中該兩對差分訊號測試插孔及電源訊號測試插孔中的每一測試插孔均與一個接地測試插孔相鄰設置在該電路板體上。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之IEEE1394介面測試裝置，其中該測試頭包括第一至第三測試頭，該第一測試頭設有兩個該接地測試插孔及該兩對差分訊號測試插孔中的一對，該第二測試頭設有兩個該接地測試插孔及該兩對差分訊號測試插孔中的另一對，該第一測試頭設有一個該接地測試插孔及該電源訊號測試插孔。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之IEEE1394介面測試裝置，其中該切換開關模組包括四個單刀雙擲開關，分別包括一刀部、第一及第二擲點，該IEEE1394晶片的兩對差分訊號引腳分別連接至該四個單刀雙擲開關的刀部，該IEEE1394插頭的兩對差分訊號引腳分別連接至該四個單刀雙擲開關的第一擲點，該IEEE1394插座的兩對差分訊號引腳分別連接至該四個單刀雙擲開關的第二擲點。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040015738A1 (en) * 2001-02-07 2004-01-22 Yu-Wei Chang Method for testing IEEE 1394 controllers
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