TW201310242A - Sas介面輸出訊號偵測裝置 - Google Patents

Sas介面輸出訊號偵測裝置 Download PDF

Info

Publication number
TW201310242A
TW201310242A TW100129658A TW100129658A TW201310242A TW 201310242 A TW201310242 A TW 201310242A TW 100129658 A TW100129658 A TW 100129658A TW 100129658 A TW100129658 A TW 100129658A TW 201310242 A TW201310242 A TW 201310242A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
sas
pins
group
pin
data
Prior art date
Application number
TW100129658A
Other languages
English (en)
Inventor
Hui Li
Fa-Sheng Huang
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Publication of TW201310242A publication Critical patent/TW201310242A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/16Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor

Abstract

一種SAS介面輸出訊號偵測裝置,包括板體、SAS母頭連接器、SAS公頭連接器、第一及第二對SMA連接頭及第一及第二組開關,SAS母頭連接器用於連接電子設備的SAS介面, SAS公頭連接器用於連接一系統的SAS介面上,當第一組SMA連接頭連接示波器來對電子設備的一對輸出訊號進行測試時,第二組開關閉合且第一組開關斷開以使電子設備與連接至系統的伺服器進行通訊,當第二組SMA連接頭連接示波器來對電子設備的另一對輸出訊號進行測試時,第一組開關閉合且第二組開關斷開以使電子設備與連接至系統的伺服器進行通訊。

Description

SAS介面輸出訊號偵測裝置
本發明係關於一種訊號偵測裝置,尤指一種用於偵測具有SAS介面的電子設備的SAS介面輸出訊號的偵測裝置。
SAS(Serial Attached SCSI)介面中文名為串列連接SCSI介面,或串列連接小型電腦系統介面。作為新一代的SCSI技術,由於其具有傳輸速度快、相容性好、成本低等方面的優勢,具有SAS介面的電子設備已被廣泛的應用於各個領域,如SAS硬碟機應用於企業級的工作站或存儲設備中。
SAS硬碟機有兩組資料連結(雙埠),每一組都是由輸出輸入訊號組成,它們由獨立的晶片來控制。在以SAS技術為傳輸架構的記憶體產品中,我們需要對SAS硬碟機的輸出訊號進行偵測,以根據偵測結果來評估與其相連的系統的設計品質。習知偵測方法是在讀取硬碟機資料時用示波器探棒直接接觸硬碟機上SAS介面對應的訊號輸出端進行測量,這將造成以下問題:
1.硬碟機輸出的測試碼型不是測量規範中定義的規定碼型,而是隨機資料流程,這將影響測試的準確性。
2.探棒直接接觸SAS介面的訊號輸出端測量為非標準測試方法,由於阻抗不匹配的問題,將造成測試結果不準確。
3.無法對硬碟機上SAS介面訊號輸出端所輸出的訊號的電壓幅度和預加重等參數進行調整,以適用不同的系統設計。
鑒於上述內容,有必要提供一種SAS介面輸出訊號偵測裝置,以準確、方便地對電子設備的SAS介面的訊號輸出端所輸出的訊號進行偵測。
一種SAS介面輸出訊號偵測裝置,包括一板體及設置在該板體上的一SAS母頭連接器、一SAS公頭連接器、第一至第二對SMA連接頭及第一及第二組開關,該SAS母頭連接器用於連接一電子設備的SAS介面,該SAS公頭連接器用於連接一系統的SAS介面,該SAS母頭連接器上的引腳包括三個部分,第一部分為第一組資料連結引腳,第二部分為第二組資料連結引腳,第三部分為電源訊號引腳,該第三部分的電源訊號引腳與該SAS公頭連接器的電源訊號引腳對應相連,該第一資料連結引腳包括第一組接地引腳、第一組資料接收引腳及第一組資料輸出引腳,該第二組資料連結引腳包括第二組接地引腳、第二組資料接收引腳及第三組資料輸出引腳,該第一組接地引腳、該第一組資料接收引腳、該第二組接地引腳及該第二組資料接收引腳分別與該SAS公頭連接器上的對應引腳相連,該第一組資料輸出引腳的一端與該第一對SMA連接頭相連,該第一組資料輸出引腳的另一端透過該第一組開關連接至該SAS公頭連接器上對應該第一組資料輸出引腳的引腳,該第二組資料輸出引腳的一端與該第二對SMA連接頭相連,該第二資料輸出引腳的另一端透過該第二組開關連接至該SAS公頭連接器上對應該第二組資料輸出引腳的引腳,當該第一對SMA連接頭連接一示波器來對該電子設備的一對輸出訊號進行測試時,該第二組開關閉合且該第一組開關斷開以使該電子設備與一連接至該系統的伺服器進行通訊,當該第二對SMA連接頭連接該示波器來對該電子設備的另一對輸出訊號進行測試時,該第一組開關閉合且該第二組開關斷開以使該電子設備與連接至該系統的伺服器進行通訊。
相較習知技術,該SAS介面輸出訊號偵測裝置透過該SAS母頭連接器及SAS公頭連接器來傳輸該電子設備及連接至該系統的伺服器之間的資料,並同一時刻僅使一組資料連結引腳工作,而另一組資料連結引腳的資料輸出引腳透過SMA連接頭進行偵測,如此,未工作的那一組資料連結引腳的資料輸出引腳所對應的電子設備的資料輸出引腳輸出的測試碼型可透過工作的那一組資料連結引腳接收系統的控制訊號進行規範的設定,還可透過接收系統的控制訊號進行電壓幅度、預加重等參數的設定。另,示波器的探頭是透過SMA連接頭連接的,透過阻抗設定可滿足阻抗匹配要求,如此,可大大提高測試的準確性及便利性。
請參考圖1,本發明SAS介面輸出訊號偵測裝置800的較佳實施方式包括一板體10、一SAS母頭連接器J1、一SAS公頭連接器J2、第一及第二對SMA(SubMiniature version A)連接頭J3及J4及第一及第二組開關K1及K2。該SAS母頭連接器J1設於板體10的上表面,用於插接一電子設備的SAS介面。該SAS公頭連接器J2設於該板體10的端部,用於插接一系統的SAS介面。該第一及第二對SMA連接頭J3-J4均設於該板體10的端部。
其中,該SAS母頭連接器J1上的引腳包括三個部分,第一部分S1-S7為第一組資料連結引腳,第二部分S8-S14為第二組資料連結引腳,第三部分P1-P15為電源訊號引腳。該第一至第二對SMA連接頭J3-J4具有50歐姆的阻抗匹配特性,其他實施方式也可選用其他阻抗匹配參數的SMA連接頭。
該第一組資料連結引腳包括一第一組接地引腳S1、S4、S7、一第一組資料接收引腳S2、S3及一第一組資料輸出引腳S5及S6。該第二組資料連結引腳包括一第二組接地引腳S8、S11、S14、一第二組資料接收引腳S9、S10及一第二組資料輸出引腳S12及S13。該第一組開關K1包括一第一開關K11及第二開關K12。該第二組開關K2包括一第三開關K21及一第四開關K22。
該SAS母頭連接器J1上第一組接地引腳S1、S4、S7及第一組資料接收引腳S2、S3分別與該SAS公頭連接器J2上的對應引腳相連。該SAS母頭連接器J1上引腳的第一組資料輸出引腳S5及S6的一端分別連接至該第一對SAS連接頭J3上。該SAS母頭連接器J1上引腳的第一組資料輸出引腳S5及S6的另一端分別透過第一及第二開關K11及K12連接至該SAS公頭連接器J2上的對應引腳S51及S61。該SAS母頭連接器J1上引腳的第二組接地引腳S8、S11、S14及第二組資料接收引腳S9、S10分別與該SAS公頭連接器J2上的對應引腳相連。該SAS母頭連接器J1上引腳的第二組資料輸出引腳S12及S13的一端分別連接至該第二對SAS連接頭J4上。該SAS母頭連接器J1上引腳的第二組資料輸出引腳S12及S13的另一端分別透過第三及第四開關K21及K22連接至該SAS公頭連接器J2上的對應引腳S121及S131。
請參考圖2,當需要對一電子設備如SAS硬碟機100的一對輸出訊號進行測試時,如對該第一對SMA連接頭J3對應的一對輸出訊號進行測試時,將該SAS硬碟機100插接至該SAS母頭連接器J1上,將該SAS公頭連接器J2插接至一系統(如存取器系統)的背板400的對應SAS介面上,將該第一對SMA連接頭J3連接至一示波器300的探頭上,並閉合該第三及第四開關K21及K22,同時斷開該第一及第二開關K11及K12。
該背板400還連接一電源500,以提供電源訊號給該SAS硬碟機100,該背板400還透過一擴展器(Expander)600與一伺服器700相連,該伺服器700可透過該擴展器600傳輸控制訊號給該SAS硬碟機100以對該SAS硬碟機100的輸出訊號進行測試。其他實施方式中,該系統可能還包括其他元件,如中央處理器,由於為習知技術,故此處不再具體說明。
該伺服器700分別透過該擴展器600、該背板400、該SAS公頭連接器J2及該SAS母頭連接器J1上的第二部分S8-S14(即第二組資料連結引腳)來與該SAS硬碟機100進行通訊,透過該伺服器700輸出控制訊號可對該SAS硬碟機100上與SAS母頭連接器J1的第一部分S1-S7中的第一資料輸出引腳S5及S6對應的引腳所輸出訊號的電壓幅度、預加重等參數進行設定,並設定符合測試要求的測試碼型,以使該SAS硬碟機100上與SAS母頭連接器J1的第一部分S1-S7中的第一資料輸出引腳S5及S6對應的引腳所輸出訊號符合測試要求,然後透過該示波器300進行觀察即可。
同理,當對該SAS硬碟機100的另一對輸出訊號進行測試時,將該第二對SMA連接頭J4分別連接至該示波器300的探頭上,並閉合該第一及第二開關K11及K12,同時斷開該第三及第四開關K21及K22。該伺服器700分別透過該擴展器600、該背板400、該SAS公頭連接器J2及該SAS母頭連接器J1上的第一部分S1-S7來與該SAS硬碟機100進行通訊,透過伺服器700輸出控制訊號使該SAS硬碟機100上與SAS母頭連接器J1的第二部分S8-S14中的引腳S12及S13對應的引腳所輸出訊號符合測試要求,然後透過示波器300進行觀察即可。
相較於習知技術,該SAS硬碟機100的資料輸出引腳輸出的測試碼型是測量規範中定義的規定碼型,可大大提高測試的準確性;示波器300的探頭是透過第一對SMA連接頭J3或第二對SMA連接頭J4連接SAS硬碟機100的第一組或第二組資料輸出引腳的,滿足阻抗匹配;測試該SAS硬碟機100的兩個輸出訊號。同時,SAS硬碟機100的兩對輸出訊號的測試需要分別進行,透過切換該第一及第二組開關K1及K2即可實現對SAS硬碟機100的兩對輸出訊號分別進行測試,方便快捷。另外,由於SAS硬碟機100的第一或第二組資料輸出引腳輸出的訊號可透過伺服器700進行電壓幅度、預加重等參數的設定,故可適用於不同的系統。
綜上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施例,舉凡熟悉本案技藝之人士,在爰依本發明精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10...板體
J1...SAS母頭連接器
J2...SAS公頭連接器
J3...第一對SMA連接頭
J4...第二對SMA連接頭
S1、S4、S7...第一組接地引腳
S2、S3...第一組資料接收引腳
S5、S6...第一組資料輸出引腳
S8、S11、S14...第二組接地引腳
S9、S10...第二組資料接收引腳
S12、S13...第二組資料輸出引腳
S51、S61、S121、S131...引腳
P1、P15...電源訊號引腳
K1...第一組開關
K11...第一開關
K12...第二開關
K2...第二組開關
K21...第三開關
K22...第四開關
100...SAS硬碟機
300...示波器
400...背板
500...電源
600...擴展器
700...伺服器
800...SAS介面輸出訊號偵測裝置
圖1係本發明SAS介面輸出訊號偵測裝置的較佳實施方式的示意圖。
圖2係應用本發明SAS介面輸出訊號偵測裝置對電子設備的SAS介面的輸出訊號進行偵測的示意圖。
10...板體
J1...SAS母頭連接器
J2...SAS公頭連接器
J3...第一對SMA連接頭
J4...第二對SMA連接頭
S1、S4、S7...第一組接地引腳
S2、S3...第一組資料接收引腳
S5、S6...第一組資料輸出引腳
S8、S11、S14...第二組接地引腳
S9、S10...第二組資料接收引腳
S12、S13...第二組資料輸出引腳
S51、S61、S121、S131...引腳
P1、P15...電源訊號引腳
800...SAS介面輸出訊號偵測裝置
K1...第一組開關
K11...第一開關
K12...第二開關
K2...第二組開關
K21...第三開關
K22...第四開關

Claims (3)

  1. 一種SAS介面輸出訊號偵測裝置,包括一板體及設置在該板體上的一SAS母頭連接器、一SAS公頭連接器、第一至第二對SMA連接頭及第一及第二組開關,該SAS母頭連接器用於連接一電子設備的SAS介面,該SAS公頭連接器用於連接一系統的SAS介面,該SAS母頭連接器上的引腳包括三個部分,第一部分為第一組資料連結引腳,第二部分為第二組資料連結引腳,第三部分為電源訊號引腳,該第三部分的電源訊號引腳與該SAS公頭連接器的電源訊號引腳對應相連,該第一資料連結引腳包括第一組接地引腳、第一組資料接收引腳及第一組資料輸出引腳,該第二組資料連結引腳包括第二組接地引腳、第二組資料接收引腳及第三組資料輸出引腳,該第一組接地引腳、該第一組資料接收引腳、該第二組接地引腳及該第二組資料接收引腳分別與該SAS公頭連接器上的對應引腳相連,該第一組資料輸出引腳的一端與該第一對SMA連接頭相連,該第一組資料輸出引腳的另一端透過該第一組開關連接至該SAS公頭連接器上對應該第一組資料輸出引腳的引腳,該第二組資料輸出引腳的一端與該第二對SMA連接頭相連,該第二資料輸出引腳的另一端透過該第二組開關連接至該SAS公頭連接器上對應該第二組資料輸出引腳的引腳,當該第一對SMA連接頭連接一示波器來對該電子設備的一對輸出訊號進行測試時,該第二組開關閉合且該第一組開關斷開以使該電子設備與一連接至該系統的伺服器進行通訊,當該第二對SMA連接頭連接該示波器來對該電子設備的另一對輸出訊號進行測試時,該第一組開關閉合且該第二組開關斷開以使該電子設備與連接至該系統的伺服器進行通訊。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之SAS介面輸出訊號偵測裝置,其中該第一至第四對SMA連接頭具有50歐姆的阻抗匹配特性。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之SAS介面輸出訊號偵測裝置,其中該電子設備為SAS硬碟機。
TW100129658A 2011-08-17 2011-08-19 Sas介面輸出訊號偵測裝置 TW201310242A (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011102360099A CN102955728A (zh) 2011-08-17 2011-08-17 Sas接口输出信号侦测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201310242A true TW201310242A (zh) 2013-03-01

Family

ID=47712212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100129658A TW201310242A (zh) 2011-08-17 2011-08-19 Sas介面輸出訊號偵測裝置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8760173B2 (zh)
CN (1) CN102955728A (zh)
TW (1) TW201310242A (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102750215A (zh) * 2011-04-22 2012-10-24 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Sas接口输出信号侦测装置
CN103531247B (zh) * 2012-07-04 2016-08-03 纬创资通股份有限公司 测试装置
CN103969570A (zh) * 2013-01-28 2014-08-06 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试治具
CN105588993A (zh) * 2015-08-18 2016-05-18 杭州华三通信技术有限公司 一种信号测试方法、被测设备和信号测试系统

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5272664A (en) * 1993-04-21 1993-12-21 Silicon Graphics, Inc. High memory capacity DRAM SIMM
JP3887489B2 (ja) * 1998-06-16 2007-02-28 富士通株式会社 基準電圧発生回路
JP3736399B2 (ja) * 2000-09-20 2006-01-18 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス型表示装置の駆動回路及び電子機器及び電気光学装置の駆動方法及び電気光学装置
US7444401B1 (en) * 2002-11-18 2008-10-28 Arkion Systems Llc Method and apparatus for inexpensively monitoring and controlling remotely distributed appliances
EP1460861A1 (en) * 2003-03-19 2004-09-22 Alcatel Signaling application service
US7260700B2 (en) * 2004-09-30 2007-08-21 Lsi Corporation Method and apparatus for separating native, functional and test configurations of memory
US7492061B2 (en) * 2004-12-29 2009-02-17 Finisar Corporation Tapped interposer for connecting disk drive to chassis
JP4820558B2 (ja) * 2005-02-18 2011-11-24 第一電子工業株式会社 コネクタ
TWI304283B (en) * 2006-03-20 2008-12-11 Hith Tech Computer Corp Connector
JP2008003049A (ja) * 2006-06-26 2008-01-10 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体
TW200801897A (en) * 2006-06-29 2008-01-01 Ibm Single system board with automatic feature selection based on installed configuration selection unit
US7644304B2 (en) * 2006-08-28 2010-01-05 Dell Products L.P. Using SAS address zoning to add/replace hot spares to RAID set
US7490176B2 (en) * 2007-02-15 2009-02-10 Inventec Corporation Serial attached SCSI backplane and detection system thereof
KR100906999B1 (ko) * 2007-06-11 2009-07-08 주식회사 하이닉스반도체 메모리 모듈 및 메모리 시스템
CN101408857B (zh) * 2007-10-09 2010-09-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Sas接口测试装置
US7676707B2 (en) * 2007-10-30 2010-03-09 Inventec Corporation Device and method for testing SAS channels
KR100915822B1 (ko) * 2007-12-11 2009-09-07 주식회사 하이닉스반도체 바운더리 스캔 테스트 회로 및 바운더리 스캔 테스트 방법
US9065742B2 (en) * 2007-12-28 2015-06-23 Emulex Corporation Snooping in SAS expander networks
CN101620558B (zh) * 2008-07-01 2011-08-03 环旭电子股份有限公司 通用侦错辅助装置
US7979232B2 (en) * 2008-09-02 2011-07-12 Lsi Corporation Apparatuses and methods for determining configuration of SAS and SATA cables
US8184437B2 (en) * 2009-02-17 2012-05-22 Pallas Systems, Llc Modular test systems for severe environments
CN101819550A (zh) * 2009-02-26 2010-09-01 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 串行连接小型计算机系统接口测试系统及方法
JP2011015259A (ja) * 2009-07-03 2011-01-20 Renesas Electronics Corp 半導体集積回路装置およびその試験方法
US8255607B2 (en) * 2009-11-05 2012-08-28 Emulex Design & Manufacturing Corporation SAS expander-based SAS/SATA bridging
CN102253878B (zh) * 2010-05-19 2014-03-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Sas接口输出信号侦测装置
CN102750215A (zh) * 2011-04-22 2012-10-24 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Sas接口输出信号侦测装置
US8539135B2 (en) * 2011-05-12 2013-09-17 Lsi Corporation Route lookup method for reducing overall connection latencies in SAS expanders
SG186504A1 (en) * 2011-06-10 2013-01-30 Tyco Electronics Singapore Pte Ltd Cross talk reduction for a high speed electrical connector
CN103308843A (zh) * 2012-03-09 2013-09-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 具有接收器测试功能的芯片及电路板
US8979558B2 (en) * 2012-03-12 2015-03-17 Fci Americas Technology Llc Interposer assembly
JP2013232312A (ja) * 2012-04-27 2013-11-14 Jst Mfg Co Ltd カード部材及びカードエッジコネクタ並びにカード部材の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20130043883A1 (en) 2013-02-21
US8760173B2 (en) 2014-06-24
CN102955728A (zh) 2013-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI479957B (zh) 用以摘取於受測裝置與自動化測試設備間交換之信號的概念
TW201310242A (zh) Sas介面輸出訊號偵測裝置
TWI475381B (zh) Sas介面輸出訊號偵測裝置
TWI440864B (zh) 訊號測試裝置
TWI510798B (zh) 通用型測試平台及其測試方法
US7633308B1 (en) Combined pulse and DC test system
TW201337295A (zh) 具有接收器測試功能的晶片及電路板
TWI412771B (zh) Sas介面輸出訊號偵測裝置
CN102253878B (zh) Sas接口输出信号侦测装置
US20220390513A1 (en) Multi-input remote heads for sequential testing
CN102567167A (zh) mSATA接口测试卡及测试系统
CN109324988A (zh) 一种基于3u vpx架构的标准机箱在线硬件调试转接板
CN113205853B (zh) 测试用转接装置、测试系统及固态硬盘
CN209447156U (zh) 基于3u vpx架构的标准机箱在线硬件调试转接板
CN101752013B (zh) 测试装置
US6895365B2 (en) Systems and methods for analyzing data of an SPI data bus
TWI412925B (zh) Ieee1394介面測試裝置
CN109840170A (zh) Pcie信号量测电路
TW201439776A (zh) 主機板
TWI402515B (zh) 訊號測試裝置
TWI507702B (zh) 測試系統、識別待測裝置中缺陷之方法、電腦可讀儲存媒體、高速輸出入裝置及其測試方法
CN102539880A (zh) 硬盘电流测试系统及其转接板
US8547129B2 (en) Connector test system
US20230386596A1 (en) Interposers for memory device testing and characterization, including interposers for testing and characterizing decision feedback equalization circuitry of ddr5 memory devices
TWI486604B (zh) 硬碟機電流測試系統及其轉接板