TWI440864B - 訊號測試裝置 - Google Patents

訊號測試裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI440864B
TWI440864B TW100112530A TW100112530A TWI440864B TW I440864 B TWI440864 B TW I440864B TW 100112530 A TW100112530 A TW 100112530A TW 100112530 A TW100112530 A TW 100112530A TW I440864 B TWI440864 B TW I440864B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test
test point
gold finger
pin
capacitor
Prior art date
Application number
TW100112530A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201241450A (en
Inventor
Hua Li
Rui Wu
xiao-wei Fu
Hua Yue
Tai Chen Wang
xue-hong Liu
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Publication of TW201241450A publication Critical patent/TW201241450A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI440864B publication Critical patent/TWI440864B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

訊號測試裝置
本發明涉及一種訊號測試裝置，特別涉及一種對PCI(Peripheral Component Interconnection，外設部件互連)插槽及PCIE(PCI-Express)插槽的時鐘訊號進行測試的裝置。
在對主機板上PCI或PCIE插槽的訊號進行測試時，一般是透過在PCI或PCIE插槽背面的電路層上焊接測試點來完成。該習知的測試方法具有以下幾個缺點：第一，當焊接的測試點較多較密時，探棒與測試點接觸的難度較大，且容易短路，從而損壞主機板及高端精密探棒；第二，當待測主機板有複數PCI或PCIE插槽時需要多次焊接；第三，焊接的測試點無法儘量靠近PCI或PCIE插槽，從而使得接入的反射訊號較大，無法準確的反映真實的訊號。
鑒於以上內容，有必要提供一種更為方便且精確的訊號測試裝置。
一種訊號測試裝置，包括一電路板、一第一金手指及一第一測試電路，該第一金手指設置於電路板的第一側，該第一測試電路包括一第一測試點、一第二測試點及一第一電容，該第一電容的第一端接地，第二端與第一金手指的第一引腳相連，該第二測試點及第一金手指的第二引腳均接地，該第一測試點及第二測試點用 於對應與兩探棒相連。
上述訊號測試裝置透過第一測試電路將插槽內的訊號引出，以方便對插槽的訊號進行測量，同時該第一測試電路中的第一電容還可以減少第一測試點處的反射訊號，從而可以提高所測試的精確度。
10‧‧‧電路板
12‧‧‧第一金手指
15‧‧‧第二金手指
120、121、150、151、152‧‧‧引腳
18‧‧‧第一測試電路
19‧‧‧第二測試電路
C1-C3‧‧‧電容
A、B、D、E、F、G、H、I‧‧‧測試點
圖1為本發明訊號測試裝置的較佳實施方式的第一面的示意圖。
圖2為圖1中訊號測試裝置的另一面的示意圖。
請參閱圖1及圖2，本發明訊號測試裝置的較佳實施方式包括一電路板10、一第一金手指12、一第二金手指15、一第一測試電路18及一第二測試電路19。
該第一金手指12設置於電路板10的第一側，該第二金手指15設置於電路板10的第二側，其中第一側與第二側相垂直。本實施方式中，該第一金手指12與習知PCI卡之金手指相同，該第二金手指15與習知PCIE卡之金手指相同。
該第一測試電路18與第一金手指12中的引腳120及121相連，該第二測試電路19與第二金手指15中的引腳150-152相連。
該第一測試電路18包括一電容C1、一第一測試點A及一第二測試點B。該電容C1的第一端接地，第二端與第一金手指12中的引腳120及第一測試點A均相連，該第二測試點B及引腳121均接地。
當需要對主機板上的PCI插槽的時鐘訊號進行測試時，即將該訊號測試裝置的第一金手指12插入到主機板的PCI插槽中，此時， 該引腳120則與PCI插槽中的時鐘引腳相連、引腳121則與PCI插槽中的接地引腳相連，如此將兩探棒分別與第一測試點A及第二測試點B相接觸即可對PCI插槽的時鐘訊號進行測量。該電容C1的電容值與連接第一測試點A及引腳120之間的傳輸線的阻抗相匹配，以減少第一測試點A處的反射訊號，從而可以提高所測試的精確度。
該第二測試電路19包括兩電容C2及C3、第三至第八測試點D-I。該電容C2的第一端接地，第二端與第三測試點D及引腳150均相連。該第四測試點E接地。該電容C3的第一端接地，第二端與第五測試點F及引腳151均相連，第六測試點G接地。該第七測試點H與第三測試點D相連，第八測試點I與第五測試點F相連。該第二金手指15的引腳152接地。
當需要對主機板上的PCIE插槽的時鐘訊號進行測試時，即將該訊號測試裝置的第二金手指15插入到主機板的PCIE插槽中，此時，該引腳150及151則對應與PCIE插槽中的時鐘引腳相連、引腳152則與PCIE插槽中的接地引腳相連，其中該PCIE插槽中的兩時鐘引腳傳輸差分訊號。如此將兩探棒分別與第三測試點D及第四測試點E相接觸即可對PCIE插槽的第一時鐘訊號進行測量。當將兩探棒分別與第五測試點F及第六測試點G相接觸即可對PCIE插槽的第二時鐘訊號進行測量。當將兩探棒分別與第七測試點H及第八測試點I相接觸即可對PCIE插槽的差分時鐘訊號進行測量。
該電容C2的電容值與連接第三測試點D及引腳150之間的傳輸線的阻抗相匹配，以減少第三測試點D處的反射訊號，從而可以提高所測試的精確度。同理，該電容C3的電容值與連接第五測試點F 及引腳151之間的傳輸線的阻抗相匹配，以減少第五測試點F處的反射訊號。
本實施方式中，該第一測試電路18設置於該電路板10的第一面上，第二測試電路19則設置於電路板10的第二面上，以使得具有更廣闊的佈線空間。當然若該電路板10的第一面或第二面上能夠容納第一測試電路18及第二測試電路19，則該第一測試電路18及第二測試電路19均可設置於電路板10的同一面上。
綜上所述，本發明確已符合發明專利的要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明的較佳實施方式，本發明的範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝的人士援依本發明的精神所作的等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10‧‧‧電路板
12‧‧‧第一金手指
15‧‧‧第二金手指
120、121‧‧‧引腳
18‧‧‧第一測試電路
C1‧‧‧電容
A、B‧‧‧測試點

Claims (7)

  1. 一種訊號測試裝置，包括一電路板、一第一金手指及一第一測試電路，該第一金手指設置於電路板的第一側，該第一測試電路包括一第一測試點、一第二測試點及一第一電容，該第一電容的第一端接地，第二端與第一金手指的第一引腳相連，該第二測試點及第一金手指的第二引腳均接地，該第一測試點及第二測試點用於對應與兩探棒相連，該訊號測試裝置還包括一第二金手指及一第二測試電路，該第二金手指設置於電路板的第二側，該電路板的第一側與第二側相互垂直，該第二測試電路包括一第二電容、一第三電容及第三至第八測試點，該第二電容的第一端接地，第二端與第三測試點及第二金手指的第一引腳相連，該第四測試點接地，該第三電容的第一端接地，第二端與第五測試點及第二金手指的第二引腳均相連，第六測試點接地，該第七測試點與第三測試點相連，第八測試點與第五測試點相連，該第二金手指的第三引腳接地，該第三與第四測試點、第五與第六測試點或第七與第八測試點用於對應與兩探棒相連。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之訊號測試裝置，其中該第一金手指用於插入一PCI插槽內。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之訊號測試裝置，其中該第一金手指的第一、第二引腳用於傳輸時鐘訊號。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之訊號測試裝置，其中該第二金手指用於插入一PCIE插槽內。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之訊號測試裝置，其中該第二金手指的第一、第二及第三引腳用於傳輸時鐘訊號。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之訊號測試裝置，其中該第一及第二測試電路分別設置於電路板的第一面及第二面。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之訊號測試裝置，其中該第一及第二測試電路均設置於電路板的第一面或第二面。
TW100112530A 2011-04-07 2011-04-12 訊號測試裝置 TWI440864B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011100861492A CN102735945A (zh) 2011-04-07 2011-04-07 信号测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201241450A TW201241450A (en) 2012-10-16
TWI440864B true TWI440864B (zh) 2014-06-11

Family

ID=46965601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100112530A TWI440864B (zh) 2011-04-07 2011-04-12 訊號測試裝置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8659314B2 (zh)
CN (1) CN102735945A (zh)
TW (1) TWI440864B (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103869106A (zh) * 2012-12-12 2014-06-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 测试用连接器
CN103901249A (zh) * 2012-12-28 2014-07-02 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 接口信号测试装置
CN104216809B (zh) * 2013-05-30 2016-12-28 中祥电子商务股份有限公司 信号测试装置
TWI645623B (zh) * 2017-09-30 2018-12-21 慧榮科技股份有限公司 記憶裝置
CN109684139B (zh) * 2018-12-04 2022-06-24 曙光信息产业(北京)有限公司 PCIe 4.0插槽的测试治具
US20210013648A1 (en) * 2020-09-25 2021-01-14 Keith Lyle Spencer Device under test board with offset connection to host board
CN115097173B (zh) * 2022-08-26 2022-11-22 广东大普通信技术股份有限公司 金手指、电路板组件以及测试设备

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2306678B (en) * 1995-11-02 1999-11-03 Ibm Surface mounting polarised electrical components on a printed circuit board
US6415346B1 (en) * 1999-03-18 2002-07-02 International Business Machines Corporation Pre-charging logic cards for hot insertion
TW515940B (en) * 2001-11-23 2003-01-01 Compal Electronics Inc Add-on card for wireless communication with power managing circuit
CN2577288Y (zh) * 2002-09-20 2003-10-01 联想(北京)有限公司 一种电气信号的测试装置
US7222247B2 (en) * 2004-04-05 2007-05-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Multiple-mode computer slot initialization
US20070168566A1 (en) * 2005-11-07 2007-07-19 Chip Hope Co., Ltd. Memory card with an indicator light
TWI297433B (en) * 2006-01-12 2008-06-01 Quanta Comp Inc Pci-e debug card
CN101206603A (zh) * 2006-12-22 2008-06-25 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 基于pci的ad信号接口卡
CN101276304A (zh) * 2007-03-30 2008-10-01 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Pcie 测试卡
CN101634962B (zh) * 2008-07-21 2011-11-09 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Pci 接口测试卡
CN201413379Y (zh) * 2009-03-24 2010-02-24 纬创资通股份有限公司 测试板
CN102141952B (zh) * 2010-02-01 2015-03-25 赛恩倍吉科技顾问（深圳）有限公司 系统管理总线测试装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW201241450A (en) 2012-10-16
US8659314B2 (en) 2014-02-25
CN102735945A (zh) 2012-10-17
US20120256650A1 (en) 2012-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI440864B (zh) 訊號測試裝置
KR100500452B1 (ko) 모듈기판 상에 실장된 볼 그리드 어레이 패키지 검사장치및 검사방법
CN108107237A (zh) 一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法
KR20020055909A (ko) 복수의 패턴층을 갖는 테스트 쿠폰 및 이를 이용한 메모리모듈 기판의 유전율 측정 방법
US6922062B2 (en) Timing markers for the measurement and testing of the controlled impedance of a circuit board
CN102141952B (zh) 系统管理总线测试装置
US7868625B2 (en) Slot interposer probe
US9622336B2 (en) Releasable probe connection
JP2006234780A (ja) 評価基板及びケーブルアッセンブリ評価方法
TW201239368A (en) Auxiliary test apparatus
CN101752013B (zh) 测试装置
TW201508646A (zh) 識別系統、實體裝置、識別裝置及實體裝置的識別方法
CN103455400A (zh) 一种测试内存smi2信号的方法
JP2015007552A (ja) プリント基板の検査方法
TW201007182A (en) Testing card for peripheral component interconnection interface
US7489154B2 (en) Testing high frequency signals on a trace
US12055582B2 (en) Sensor device for detecting electrical defects based on resonance frequency
Creech S-parameters allow high-frequency verification of RF switch models
TWI278639B (en) Memory test tool
JP7498176B2 (ja) コネクタ試験治具、遅延時間差の計算方法および試験装置
TWI412925B (zh) Ieee1394介面測試裝置
TW201342043A (zh) 測試裝置
TWI572867B (zh) Probe module with feedback test function (2)
TWI487920B (zh) 測量衰減的方法
TWI536028B (zh) 檢測電路接合可靠度的佈局

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees