JP2005093494A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 89
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 22
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 22
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 7
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 3
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 2
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 7
- 238000013459 approach Methods 0.000 abstract description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
Images
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/483—Containers
- H01L33/486—Containers adapted for surface mounting
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/62—Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H—ELECTRICITY
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/022—Mountings; Housings
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
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- H01S5/022—Mountings; Housings
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Abstract
【課題】 波長の短い光の発光または受光を行う素子を内蔵して、外部との光信号の入出力を問題なく行う半導体装置装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 底部12Aおよび側部12Bから成り上部に開口部を有する筐体と、底部12Aの表面に固着されて且つその表面に受光部または発光部が設けられた半導体素子13と、底部12Aに埋め込まれて一端が半導体素子13に接近するように配置されたリード11と、半導体素子13とリード11とを接続する金属細線14と、受光部が受光する光または発光部が発光する光に対して透明性を有する材料から成り且つ開口部を塞ぐ蓋部15とを有する構成となっている。
【選択図】 図1
【解決手段】 底部12Aおよび側部12Bから成り上部に開口部を有する筐体と、底部12Aの表面に固着されて且つその表面に受光部または発光部が設けられた半導体素子13と、底部12Aに埋め込まれて一端が半導体素子13に接近するように配置されたリード11と、半導体素子13とリード11とを接続する金属細線14と、受光部が受光する光または発光部が発光する光に対して透明性を有する材料から成り且つ開口部を塞ぐ蓋部15とを有する構成となっている。
【選択図】 図1
Description
本発明は、受発光を行う半導体素子を内蔵する半導体装置およびその製造方法に関する。
図6を参照して、従来型の半導体装置100の構成について説明する。図6(A)は半導体装置100の平面図であり、図6(B)はその断面図である(特許文献1参照)。
図6(A)および図6(B)を参照して、半導体装置100の中央部には導電材料から成るランド102が形成され、ランド102の周囲には多数個のリード101の一端が接近している。リード101の一端は金属細線105を介して半導体素子104と電気的に接続され、他端は封止樹脂103から露出している。封止樹脂103は、半導体素子104、ランド102およびリード101を封止して一体に支持する働きを有する。また、半導体素子104として光学素子が採用された場合は、光に対して透明性を有する樹脂が封止樹脂103として採用される。
特開平11−340257号公報
しかしながら、上記した半導体素子104として、波長の短い光の発光または受光を行う素子を採用した場合、多々問題が発生する。具体的には、波長の短い光により封止樹脂103が悪影響を受ける場合と、封止樹脂により光信号が劣化してしまう場合が考えられる。前者の場合は、半導体素子104として波長の短い光(例えば波長475nm程度のブルーレーザー)の受発光を行う素子を採用すると、その光により封止樹脂103が変色等を起こしてしまう。また、後者の場合は、離形剤等が混入されている封止樹脂16の透明さが不十分であることから、半導体素子が受発光するブルーレーザー等の波長の短い光が封止樹脂16により減衰してしまう。
本発明は上述した問題点を鑑みて成されたものであり、本発明の主な目的は、波長の短い光の発光または受光を行う素子を内蔵して、外部との光信号の入出力を問題なく行う半導体装置装置およびその製造方法を提供することにある。
本発明は、底部および側部から成り上部に開口部を有する筐体と、前記底部の表面に固着されて且つその表面に受光部または発光部が設けられた半導体素子と、前記底部に埋め込まれて一端が前記半導体素子に接近するように配置されたリードと、前記半導体素子と前記リードとを接続する金属細線と、前記受光部が受光する光または前記発光部が発光する光に対して透明性を有する材料から成り且つ前記開口部を塞ぐ蓋部とを有することを特徴とする。
本発明は、下方に突出する凸部を各々に有する複数個のリードより成るユニットを形成する工程と、電気的接続領域となる箇所の前記リードの表面を露出させて前記リードが埋め込まれるように樹脂による底部を形成し、同時に前記底部から連続する側部を形成して前記各ユニット毎に開口部を有する筐体を射出成形する工程と、前記底部に半導体素子を固着する工程と、前記リードの凸部付近の表面にワイヤボンディングを行うことにより前記半導体素子と前記リードとを金属細線により接続する工程と、透明性を有する材料から成る蓋部を用いて前記開口部を塞ぐ工程と、前記リードおよび前記側部を切断することにより前記各ユニットを分離する工程とを有することを特徴とする。
本発明では、以下に示すような効果を奏することができる。
樹脂製の筐体に半導体素子を収納させ、この筐体の開口部を塞ぐように透明性を有する蓋部を形成した。この蓋部は半導体素子が受発光を行う光線に対して高い透明度を有するので、封止材よる光信号の劣化を防止することができる。
更に、製法では、電気的接続領域となる箇所の下部に第1の凸部を設け、この領域上面をモールド金型の上金型に当接させ、第1の凸部を下金型に当接させている。従って、リードの電気的接続領域に封止樹脂が付着してしまうのを防止することができる。
図1を参照して、本発明の半導体装置の詳細な構成を説明する。図1(A)は本発明の半導体装置10の平面図であり、図1(B)は裏面図であり、図1(C)は図1(B)のX−X’線に於ける断面図である。
同図を参照して、本発明の半導体装置10は、底部12Aおよび側部12Bから成り上部に開口部を有する筐体12と、底部12Aの表面に固着されて且つその表面に受光部または発光部が設けられた半導体素子13と、底部12Aに埋め込まれて一端が半導体素子13に接近するように配置されたリード11と、半導体素子13とリード11とを接続する金属細線14と、受光部が受光する光または発光部が発光する光に対して透明性を有する材料から成り且つ開口部を塞ぐ蓋部15とを有する構成となっている。
筐体12は、樹脂から成り、半導体素子13が収納される空間を内部に構成して、上部に開口部を有する。また、筐体12は、ケースの底辺を構成する底部12Aと、底部12Aの周辺部四方から上方に延在する側部12Bとから成る。
図1(A)を参照して、リード11は、一方の端部が半導体素子13に接近するように延在し、他方の端部が半導体装置10の周辺部まで延在している。また、半導体装置13付近に於けるリード11同士の間隔よりも、周辺部におけるリード11同士の間隔が大きく成っている。更に、リード11は、半導体素子13を両端方向から挟み込むように複数個が延在している。また、半導体素子13を囲むように4方向にリード11が延在しても良い。
図1(C)を参照して、リード11の断面構造を説明する。リード11は、半導体素子13近傍の端部付近にて下方に突出する第1の凸部11Aと、半導体装置10の周辺部付近にて下方に突出する第2の凸部11Bとを有する。この第1の凸部11Aと第2の凸部11Bとは、下方に凹状に形成された箇所を介して連続している。また、半導体素子13に接近しない方(周辺部付近)のリード11の端部は、筐体12の側部12Bから外部に露出する。そして、第1および第2の凸部11A、11Bの裏面は底部12Aから露出し、この状態を図1(B)に示す。また、外部に露出する第2の凸部11Bの裏面は、半田等のロウ材を介して外部との電気的接続を行う外部電極として機能する。従って、第2の凸部11B同士の間隔は、半田ブリッジを起こさない範囲で決定される。また、第1の凸部11Aも筐体12裏面から露出するが、ここでも半田ブリッジを起こさないように、第1の凸部11Aと第2の凸部11Bとの間隔は、第2の凸部11B同士の間隔と同程度以上に長く設定される。
半導体素子13は、筐体12内部に収納され、底部12Aの表面に固着されている。そして、半導体素子13の電極とリード11とは、金属細線14を介して電気的に接続されている。半導体素子13としては、その表面に受光素子または/および発光素子が形成されている。また、ここでは、波長475nm程度の高周波のブルーレーザーの受発光を行う素子を、半導体素子13として採用することができる。
凹部16は、樹脂より成る底部12Aの表面を部分的に窪ませた領域であり、その平面的な大きさは載置される半導体素子13の大きさに対応している。そして、この凹部16に塗布されたAgペースト等の接着剤を介して半導体素子13は固着されている。
蓋部15は、筐体12の開口部を上部から塞ぐ役割を有し、その材料としては半導体素子13が受発光する光に対して透明性を有する材料が採用される。例えば、半導体素子13が波長475nm程度の高周波のブルーレーザーの受発光を行うときは、このブルーレーザーに対して透明性を有する材料が、蓋部15として採用される。一例として、ガラスは蓋部15として好適な材料である。
図2を参照して、上記した半導体装置10の実装構造を説明する。図2(A)および図2(B)は実装基板20に実装された半導体装置10の断面図である。
図2(A)を参照して、装置裏面に露出する第2の凸部11Bに、半田等のロウ材22を付着させることにより、半導体装置10は実装基板20上の導電路21に固着されている。即ち、銅等の金属より成るリード11の露出する部分の濡れ性を用いて、ロウ材22の形状を規制し、半田ブリッジによるショートの危険性を排除している。
図2(B)を参照して、ここでは、半導体装置10裏面に半田レジスト17が形成され、第2の凸部11Bに対応する箇所に開口部が形成されてロウ材22が形成されている。従って、ここでは、レジスト17に設けた開口部によりロウ材22の位置及び形状が規制され、半田流れをより防止することができる。
図3以降を参照して、上記した半導体装置10の製造方法を説明する。
先ず、図3を参照して、下方に突出する凸部を各々に有する複数個のリード11より成るユニット32を形成する。図3(A)はブロック33が複数個形成される導電箔であるフレーム31の平面図であり、図3(B)は1つのブロック33の中のユニット32を拡大した図であり、図3(C)は図3(B)のX−X’線での断面図である。
図3(A)を参照して、銅等の金属から成る導電箔であるフレーム31を加工することにより、フレーム31には複数個のブロック33が所定の距離だけ離間されて配置されている。個々のブロックにはマトリックス状に多数個のユニット32が形成されている。ここで「ユニット」とは、1つの半導体装置を構成する要素単位のことである。
図3(B)を参照して、上記ユニット32の具体的構成を説明する。本発明では、ブロック33内部に等間隔で第1の連結部34Aおよび第2の連結部34Bが延在している。ここでは、紙面の縦方向に第1の連結部34Aが等間隔で延在し、この第1の連結部34Aと直角に交差するように第2の連結部34Bが等間隔に延在している。ここでは、横方向に延在する第2の連結部34Bから上下方向にリード11が延在している。1つのユニット32を見ると、ユニット32の上部に位置する第2の連結部34Bからユニット内側(下方向)に多数個のリード11が延在する。更に、ユニット32の下部に位置する第2の連結部34Bからユニット内側(上方向)に多数個のリード11が延在する。
図3(C)を参照して、リード11の断面構造を説明する。リード11には、先端部に第1の凸部11Aを有し、ユニット32の周辺部に対応する箇所に第2の凸部を有する。また上記したフレーム31の加工は、プレスまたはエッチングにより行うことができる。
次に、図4を参照して、電気的接続領域となる箇所のリード11の表面を露出させてリード11が埋め込まれるように樹脂による底部12Aを形成し、同時に底部12Aから連続する側部12Bを形成して各ユニット32毎に開口部を有する筐体12を射出成形する。図4(A)はユニット32を拡大した図であり、図4(B)は図4(A)のX−X’線での断面図である。
ここでは、ブロック毎に1つのキャビティに収納されて一括して樹脂封止が行われる。熱可塑性樹脂を用いるインジェクションモールド、または、熱硬化性樹脂を用いるトランスファーモールドにより、この樹脂封止は行うことができる。また、半導体素子が収納される領域が形成されるように、本工程に用いる上金型は、筐体12の内部領域の形状に対応した形状になっている。即ち、筐体12の内部領域と嵌合する形状の凸状の部分が、モールドを行う上金型に形成されている。樹脂封止時に於いては、リード11の表面は上金型の下面に当接している。このことにより、電気的接続領域に、封止樹脂が誤って付着してしまうのを防止することができる。
また、リード11の電気的接続領域(金属細線と接続する箇所)の下部には、第1の凸部11Aが設けられている。従って、樹脂封止時では、リード11の電気的接続領域がモールド金型の上金型に当接し、第1の凸部11Aが下金型に当接している。このことから、リード11が上下方向に移動せず、上記した効果を更に大きくすることができる。
また、本工程により、半導体素子が載置される予定の領域に、凹部16が形成される。凹部16の平面的な大きさは、載置予定の半導体素子よりも若干大きく形成されてよい。
次に、図5を参照して、底部12Aに半導体素子13を固着し、リード11の凸部付近の表面にワイヤボンディングを行うことにより半導体素子16とリード11とを金属細線14により接続する。図5(A)はユニット32を拡大した図であり、図5(B)は図5(A)のX−X’線での断面図である。
先ず、底部12Aに設けた凹部16に、接着剤を介して半導体素子13を固着する。ここで、接着剤としてはAgペーストの他に、絶縁性接着剤等を全般的に用いることができる。このように凹部16に半導体素子13を固着することにより、オーバーフローした接着剤がリード11等に付着してしまうのを防止することができる。
また、凹部16の形成により、半導体素子13の位置を低くすることができる。このことにより、次工程で、金属細線を用いて半導体素子13とリード11とを接続するが、半導体素子13の位置が低いことから、半導体素子13表面とリード11表面との段差を小さくすることができる。従って、半導体素子13とリード11との金属細線14による接続を容易に行うことができ、更に、ワイヤボンディングの工程の歩溜まりを向上させることができる。
次に、同じ図5(B)を参照して、透明性を有する材料から成る蓋部15を用いて開口部を塞ぎ、リード11および側部12Bを切断することにより各ユニット32を分離する。
ガラス等の透明な材料からなる蓋部15により、半導体素子の上方開口部を塞ぐ。また蓋部15の接着は絶縁性の接着剤により行うことができる。ここでは、半導体素子13が内蔵される内部領域よりも平面的な大きさが若干大きいサイズの蓋部15を用いて、個々の開口部を塞いでいるが。1つのブロック33全体を塞ぐようなサイズの蓋部15を用いることも可能である。この場合は、次工程で他の構成要素と共に、分割される。
そして、図5(B)に示す点線の位置で、側部12Bおよびリード11をスクライブすることにより、個々のユニット32に分割する。即ち、本工程で、個々のリード11は電気的に分断される。以上の工程で、図1に示すような半導体素子13が完成する。
10 半導体装置
11 リード
12 筐体
13 半導体素子
14 金属細線
15 蓋部
11 リード
12 筐体
13 半導体素子
14 金属細線
15 蓋部
Claims (7)
- 底部および側部から成り上部に開口部を有する筐体と、
前記底部の表面に固着されて且つその表面に受光部または発光部が設けられた半導体素子と、
前記底部に埋め込まれて一端が前記半導体素子に接近するように配置されたリードと、
前記半導体素子と前記リードとを接続する金属細線と、
前記受光部が受光する光または前記発光部が発光する光に対して透明性を有する材料から成り且つ前記開口部を塞ぐ蓋部とを有することを特徴とする半導体装置。 - 前記底部の裏面に部分的に露出する前記リードの裏面により、外部電極が形成されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記底部表面には凹部が設けられ、前記凹部に塗布される接着剤を介して前記半導体素子は前記底部に固着されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記蓋部は、ガラスより成ることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 下方に突出する凸部を各々に有する複数個のリードより成るユニットを形成する工程と、
電気的接続領域となる箇所の前記リードの表面を露出させて前記リードが埋め込まれるように樹脂による底部を形成し、同時に前記底部から連続する側部を形成して前記各ユニット毎に開口部を有する筐体を射出成形する工程と、
前記底部に半導体素子を固着する工程と、
前記リードの凸部付近の表面にワイヤボンディングを行うことにより前記半導体素子と前記リードとを金属細線により接続する工程と、
透明性を有する材料から成る蓋部を用いて前記開口部を塞ぐ工程と、
前記リードおよび前記側部を切断することにより前記各ユニットを分離する工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法。 - マトリックス状に形成された複数の前記ユニットから成るブロックが導電箔に形成されることを特徴とする請求項5記載の半導体装置の製造方法。
- 前記凸部は、前記リードの端部付近に設けた第1の凸部と、前記ユニットの周辺部付近のリードに設けた第2の凸部から成ることを特徴とする請求項5記載の半導体装置の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003321051A JP2005093494A (ja) | 2003-09-12 | 2003-09-12 | 半導体装置およびその製造方法 |
TW093124626A TWI269612B (en) | 2003-09-12 | 2004-08-17 | Semiconductor device and its manufacturing method |
CN2004100749098A CN1595641B (zh) | 2003-09-12 | 2004-08-30 | 半导体装置及其制造方法 |
KR1020040070757A KR100650463B1 (ko) | 2003-09-12 | 2004-09-06 | 반도체 장치 및 그 제조 방법 |
US10/936,182 US7307288B2 (en) | 2003-09-12 | 2004-09-08 | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003321051A JP2005093494A (ja) | 2003-09-12 | 2003-09-12 | 半導体装置およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005093494A true JP2005093494A (ja) | 2005-04-07 |
Family
ID=34452834
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003321051A Pending JP2005093494A (ja) | 2003-09-12 | 2003-09-12 | 半導体装置およびその製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7307288B2 (ja) |
JP (1) | JP2005093494A (ja) |
KR (1) | KR100650463B1 (ja) |
CN (1) | CN1595641B (ja) |
TW (1) | TWI269612B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009071199A (ja) * | 2007-09-17 | 2009-04-02 | Element Denshi:Kk | 実装基板およびそれを用いた薄型発光装置の製造方法 |
JP2011091170A (ja) * | 2009-10-21 | 2011-05-06 | Canon Inc | パッケージ、その製造方法、及び半導体装置 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101114637B (zh) * | 2006-07-25 | 2010-05-12 | 日月光半导体制造股份有限公司 | 半导体元件封装结构 |
TWI462348B (zh) * | 2011-01-27 | 2014-11-21 | 矽品精密工業股份有限公司 | 發光裝置及其製法 |
WO2014189221A1 (ko) * | 2013-05-23 | 2014-11-27 | 엘지이노텍주식회사 | 발광 모듈 |
CN106206614B (zh) * | 2016-08-25 | 2019-03-12 | 上海天马微电子有限公司 | 一种柔性显示面板和柔性显示装置 |
WO2020037552A1 (en) * | 2018-08-22 | 2020-02-27 | Shenzhen Raysees Technology Co., Ltd. | Vertical cavity surface emitting laser (vcsel) array package and manufacturing method |
CN111739844B (zh) * | 2020-08-06 | 2021-01-29 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 一种芯片及芯片封装方法、电子设备 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5367530A (en) * | 1992-05-29 | 1994-11-22 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus |
KR100244708B1 (ko) * | 1996-12-10 | 2000-02-15 | 김영환 | 반도체 패키지 |
DE19700393C2 (de) * | 1997-01-08 | 2002-03-14 | Infineon Technologies Ag | Gehäuse mit einer Halbleiter-Sensoranordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
JP3958864B2 (ja) | 1998-05-21 | 2007-08-15 | 浜松ホトニクス株式会社 | 透明樹脂封止光半導体装置 |
KR100333386B1 (ko) * | 1999-06-29 | 2002-04-18 | 박종섭 | 칩 스캐일 패키지 |
JP2001077277A (ja) | 1999-09-03 | 2001-03-23 | Sony Corp | 半導体パッケージおよび半導体パッケージ製造方法 |
US6720207B2 (en) * | 2001-02-14 | 2004-04-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Leadframe, resin-molded semiconductor device including the leadframe, method of making the leadframe and method for manufacturing the device |
TW490826B (en) | 2001-05-02 | 2002-06-11 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Semiconductor package device and its manufacture method |
CN1200464C (zh) * | 2001-08-20 | 2005-05-04 | 翰立光电股份有限公司 | 电致发光元件的封装方法 |
JP4095827B2 (ja) * | 2002-05-10 | 2008-06-04 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
US6680525B1 (en) * | 2003-01-09 | 2004-01-20 | Kingpak Technology Inc. | Stacked structure of an image sensor |
-
2003
- 2003-09-12 JP JP2003321051A patent/JP2005093494A/ja active Pending
-
2004
- 2004-08-17 TW TW093124626A patent/TWI269612B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-08-30 CN CN2004100749098A patent/CN1595641B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-09-06 KR KR1020040070757A patent/KR100650463B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-09-08 US US10/936,182 patent/US7307288B2/en active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009071199A (ja) * | 2007-09-17 | 2009-04-02 | Element Denshi:Kk | 実装基板およびそれを用いた薄型発光装置の製造方法 |
JP2011091170A (ja) * | 2009-10-21 | 2011-05-06 | Canon Inc | パッケージ、その製造方法、及び半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1595641A (zh) | 2005-03-16 |
US7307288B2 (en) | 2007-12-11 |
KR100650463B1 (ko) | 2006-11-29 |
KR20050027016A (ko) | 2005-03-17 |
US20050093129A1 (en) | 2005-05-05 |
CN1595641B (zh) | 2010-05-12 |
TWI269612B (en) | 2006-12-21 |
TW200511906A (en) | 2005-03-16 |
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