JP2005069813A - 電子部品の測定治具 - Google Patents

Abstract

【課題】電子部品との電気的接触を確実に得ることによって測定精度を高めることができる電子部品の測定治具を提供する。
【解決手段】複数の測定用電極３ａ，３ｂが形成された基材２を備え、電子部品１０の端子１１，１２を上記測定用電極３ａ，３ｂに当接させて電気的特性を測定するようにした電子部品の測定治具において、上記測定用電極のうち少なくともグランド測定電極３ａに、中央部３ｄと両端部３ｃとで電極厚さｔ１，ｔ２が異なるように形成する。
【選択図】 図２

Description

本発明は、例えば、表面実装型のコンデンサ，インダクタ等の単体部品やＬＣフィルタ，高周波モジュール等の複合部品の電気的特性を測定する際に採用される測定治具に関する。

この種の測定治具として、従来、絶縁性基板上に金属板からなる複数の測定用電極を電子部品の端子ピッチに合わせて貼着したものを採用する場合がある（例えば、特許文献１参照）。この測定治具では、基板上に電子部品を配置するとともに、該電子部品の入出力端子，グランド端子を上記各測定用電極に当接させ、この状態で上記電子部品の電気的特性を測定して良否を判定するようにしている。
特開２０００−３５６６５０号公報

しかしながら、上記従来の測定治具では、測定用電極が平坦であったため電子部品の端子同士の厚みの差、例えば異なる電極幅の端子を塗布形成することによる厚みの差や、半田の盛り上がりによる厚みの差などを吸収できず、端子と測定用電極との電気的接触が十分に得られず、場合によっては測定精度に影響を与えるという懸念がある。

本発明は、上記従来の状況に鑑みてなされたもので、電子部品との電気的接触を確実に得ることによって測定精度を高めることができる電子部品の測定治具を提供することを目的としている。

請求項１の発明は、複数の測定用電極が形成された基材を備え、電子部品の端子を上記測定用電極に当接させて電気的特性を測定するようにした電子部品の測定治具において、上記測定用電極の少なくとも１つの測定用電極は、中央部と端部とで電極厚さが異なることを特徴としている。

請求項２の発明は、請求項１において、上記１つの測定用電極は、上記中央部の電極厚さより両端部の電極厚さが大きくなるように断面略凹形状に形成されていることを特徴としている。

請求項３の発明は、請求項２において、上記１つの測定用電極は、上記両端部の電極厚さが中央部の電極厚さの２倍〜５倍となっていることを特徴としている。

請求項４の発明は、請求項１ないし３の何れかにおいて、上記１つの測定用電極は、他の測定用電極より電極幅寸法が大きくなっていることを特徴としている。

請求項５の発明は、請求項１ないし４の何れかにおいて、上記 1つの測定用電極は、上記基材にレジスト膜を形成した状態でめっき処理を行なうことにより形成されたものであることを特徴としている。

請求項６の発明は、請求項１ないし５の何れかにおいて、上記電子部品は、直方体状の部品素子の実装面の各辺の内側又はコーナ部に複数の入出力端子及びグランド端子が形成されており、該グランド端子が上記１つの測定用電極に当接されていることを特徴としている。

請求項７の発明は、請求項６において、上記グランド端子の両隣には、上記入出力端子が形成され、該入出力端子と上記グランド端子とは略同じ高さに形成されていることを特徴としている。

請求項１の発明に係る測定治具によれば、少なくとも１つの測定用電極が、中央部と端部とで電極厚さが異なるので、電子部品の端子の形状に合わせて該１つの測定用電極に電子部品の１つの端子が複数箇所で接触することが可能となり、端子同士の厚みの差を吸収して電気的接触を十分に得ることができ、測定精度を高めることができる。

また上記１つの測定用電極により電子部品の端子の位置決めが可能となり、電子部品の位置ずれを防止でき、電子部品の複合化，小型化に伴い端子数が増加したり，端子ピッチが狭小化しても位置精度を高めることができる。

請求項２の発明では、上記１つの測定用電極の両端部の電極厚さを中央部より大きくしたので、凸状の電子部品の端子が該１つの測定用電極の両端部の内側角部に当接することとなり、電子部品の位置ずれを防止でき、端子同士の厚みの差を吸収して電気的接触を確実に得ることができる。

請求項３の発明では、上記１つの測定用電極の両端部の電極厚さを中央部の２〜５倍としたので、凸状の電子部品の端子の位置ずれを確実に防止することが可能となる。また凸状の電子部品の端子の曲率Ｒが所定範囲に含まれない場合にも、電子部品の端子を該１つの測定用電極に確実に当接させることが可能となる。

請求項４の発明では、上記１つの測定用電極の電極幅寸法を他の測定用電極の電極幅より大きくしたので、電極幅の大きい電子部品の端子と当接する場合でも位置決めが可能であるとともに、接触面積を大きくすることができ、電気的接触をより確実に行なうことができる。

請求項５の発明では、上記１つの測定用電極を、基材上にレジスト膜を形成した状態でめっき処理を施すことにより形成したので、従来のような金属板を貼着して形成したものと比べて、電極厚さの異なる該１つの測定用電極を精度良く，かつ容易に形成することができる。

請求項６の発明では、電子部品を部品素子の実装面の各辺の内側又はコーナ部に入出力端子，グランド端子を形成してなるものとし、該グランド端子を上記１つの測定用電極に当接させたので、入出力端子より幅広に形成されたグランド端子と入出力端子との厚みの差を吸収して、電子部品の位置ずれを防止するとともに、電気的接触をより確実に得ることができる。

請求項７の発明では、グランド端子の中央部と両隣の入出力端子とを略同じ高さとしたので、上記１つの測定用電極はグランド端子による電子部品の位置ずれ防止機能として特に役立つ。

以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。

図１ないし図３は、本発明の一実施形態による電子部品の測定治具を説明するための図であり、図１は測定治具の平面図、図２は測定治具の測定用電極部分の断面図（図１のII-II 線断面図) 、図３は測定用電極の一製造方法を示す工程図である。

図において、１は電子部品１０の電気的特性を測定するための測定治具を示しており、これは矩形板状の絶縁性基材２の上面中央部に、２組の第１測定用電極群３，３と２組の第２測定用電極群４，４とを、平面視でそれぞれ９０度ごとに交互に位置するように矩形状に配置した概略構造を有している。

上記各第１測定用電極群３は中央のグランド測定用電極３ａの両隣に入出力測定用電極３ｂ，３ｂを所定ピッチで並列配置して構成されている。また上記各第２測定用電極群４は、入出力測定用あるいはグランド測定用となるもので、複数の測定用電極４ａを所定ピッチで並列配置して構成されている。これらの各測定用電極３ａ，３ｂ，４ａは、不図示のリード線を介して上記基材２の外縁部に形成された各ターミナル電極５に接続されており、各ターミナル電極５には不図示の測定機器が接続されている。

上記グランド測定用電極３ａの電極幅ｗ１は隣り合う入出力測定用電極３ｂの電極幅ｗ２より大きくなっており、具体的には入出力測定用電極３ｂの電極幅ｗ２の２〜４倍程度に設定されている。

上記グランド測定用電極３ａには、電極幅ｗ１方向の中央部３ｄの電極厚さｔ１より両端部３ｃ，３ｃと電極厚さｔ２が異なるように断面略凹形状の段部が形成されている。上記両端部３ｃの電極厚さｔ２は中央部３ｄの電極厚さｔ１の２〜５倍となっている。また上記両入出力測定用電極３ｂはグラント測定用電極３ａの両端部３ｃの電極厚さｔ２と同じ厚さとなっている。

上記位置決め部６の両端部３ｃの電極厚さｔ２は、５０μｍ以上となっており，好ましくは１００〜１５０μｍ以上となっている。この電極厚さｔ２を１００〜１５０μｍ以上とすることによって、電子部品の実装面の平坦度に影響されることなく電気的測定が可能となる。即ち、電子部品の平坦度（コプラナティ，電子部品の端子を含めた傾き）は一般に１００μｍ以下に設定されている。これは電子部品の平坦度が１００μｍを超えると、ユーザ側で電子部品を半田付け実装する際の半田フィレットがうまく形成できなくなるからである。このため、電子部品の平坦度に影響されない電極厚さｔ２を得るには少なくとも１００μｍ以上必要となる。上記グランド測定用電極３ａの両端部３ｃの電極厚さｔ２が電極の平坦度より小さい場合には、電子部品の角が基材に接触するおそれがある。

上記第１測定用電子部品群３は、図３に示す製造方法により形成されたものである。

まず、基材２の上面に上記グランド測定用電極３ａの中央部３ｄの電極厚さｔ１と同じ厚さからなる下地電極１６を形成する（図３（ａ）参照）。この下地電極１６は、めっきレジスト法，スクリーン印刷法，あるいは金属板を貼着することにより形成する。

次に、基材２の上面に感光膜１７を形成し、露光を行なった後に現像を行なうことによりメッキレジストを形成し（図３（ｂ），（ｃ）参照）、次いで銅めっきにより上記下地電極１６上にめっき生長させることによりめっき膜１８を形成し、この後感光膜１７を除去する（図３（ｄ），（ｅ）参照）。このようにして上述のグランド測定用電極３ａ及び入出力測定用電極３ｂが形成される。

上記電子部品１０は、表面実装型のコンデンサ，インダクタ等の単体部品やＬＣフィルタ，高周波モジュール等の複合部品からなり、主として内部電極（不図示）を有する互に対向する長辺と短辺とからなる直方体状の部品素子１０ａの各短辺に、該部品素子１０ａの実装面（底面）と側面とに跨がるように上記内部電極に接続された入出力端子１１，１１及びグランド端子１２を形成した構造となっている。

また各端子１１，１２は中央部が両端部より円弧状をなすように膨出しており、この膨出部１１ａ，１２ａがそれぞれ入出力測定用電極３ｂ，グランド測定用電極３ａに当接するようになっている。また上記各入出力，グランド端子１１，１２の膨出部１１ａ，１２ａは略同じ高さとなっており、各端子１１ａ，１２ａの高さは１０〜２０μｍ程度となっている。

本実施形態の測定治具１を用いて電子部品１０の電気的特性を測定するには、基材２上に電子部品１０を各短辺の入出力端子１１，及びグランド端子１２がそれぞれ入出力，グランド測定用電極３ｂ，３ａに当接するように配置し、この状態で電子部品１０の電気的特性を測定して良否を判別する。

この場合、グランド端子１２の膨出部１２ａがグランド測定用電極３ａにて位置決めされ、電子部品１０の電極幅ｗ１方向におけるずれが阻止される。具体的には、グランド端子１２の膨出部１２ａが両端部３ｃ，３ｃの内側角部に当接することとなる。

このように本実施形態によれば、グランド測定用電極３ａを、中央部３ｄと両端部３ｃとで電極厚さｔ１，ｔ２が異なるように形成したので、電子部品１０のグランド端子１２がグランド測定用電極３ａと２カ所で接触することとなり、電気的接触を十分に得ることができ、測定精度を高めることができる。

またグランド測定用電極３ａの断面略凹形状の段部により、電子部品１０の位置ずれを防止でき、電子部品の複合化，小型化に伴う端子数の増加，端子ピッチの狭小化に対応できる。

本実施形態では、上記グランド測定用電極３ａの両端部３ｃの電極厚さｔ２を中央部３ｄの電極厚さｔ１より大きくしたので、電子部品１０のグランド端子１２が上記両端部３ｃの内側角部に当接することとなり、電子部品の位置ずれを防止でき、電気的接触を確実に得ることができる。

また上記両端部３ｃの電極厚さｔ２を中央部３ｄの２〜５倍としたので、グランド端子１２の位置ずれを確実に防止することができる。

上記グランド測定用電極３ａの電極幅ｗ１を隣り合う端子測定用電極３ｂの電極幅ｗ２より大きくしたので、グランド端子１２との電気的接触をより確実に行なうことができる。

上記入出力，グランド測定用電極３ｂ，３ａをめっき処理を施すことにより形成したので、電極厚さｔ１，ｔ２の異なる形状を精度良く，かつ容易に形成することができる。これにより電子部品の複合化，小型化に伴う端子数の増加，端子ピッチの狭小化に対応できる。

本実施形態では、上記電子部品１０を部品素子１０ａの実装面と側面とに跨がるように入出力端子１１，１１及びグランド端子１２を形成してなるものとしたので、幅広に形成されたグランド端子１２を断面略凹形状のグランド測定用電極３ａに当接させることにより、電子部品の位置ずれをより確実に防止できる。

上記グランド端子１２の中央部と両隣の入出力端子１１、１１とを略同じ高さとしたので、各端子１１，１２と測定用電極３ｂ，３ａとの電気的接触性を高めることができる。 なお、上記実施形態では、グランド測定用電極３ａに断面略凹形状の段部を形成したが、本発明では、入出力測定用電極３ｂに断面略凹形状の段部を形成することを可能であり、この場合にも上記実施形態と同様の効果が得られる。

また上記グランド端子１２は中央部が膨出するように概ね円弧状に形成されているが、逆に該グランド端子１２を断面略凹形状に形成し、グランド測定用電極３ａを断面略凸形状に形成しても確実に当接させることができる。

本発明の一実施形態による測定治具の平面図である。 上記測定治具の測定用電極部分の断面図（図１のII-II 線断面図) である。 上記測定用電極の一製造方法を示す工程図である。

符号の説明

１ 測定治具
２ 基材
３ａ グランド測定用電極
３ｂ 入出力測定用電極
３ｃ 端部
３ｄ 中央部
１０ 電子部品
１０ａ 部品素子
１１ 入出力端子
１２ グランド端子
ｔ１，ｔ２ 電極厚さ

Claims (7)

1. 複数の測定用電極が形成された基材を備え、電子部品の端子を上記測定用電極に当接させて電気的特性を測定するようにした電子部品の測定治具において、上記測定用電極の少なくとも１つの測定用電極は、中央部と端部とで電極厚さが異なることを特徴とする電子部品の測定治具。
2. 請求項１において、上記１つの測定用電極は、上記中央部の電極厚さより両端部の電極厚さが大きくなるように断面略凹形状に形成されていることを特徴とする電子部品の測定治具。
3. 請求項２において、上記１つの測定用電極は、上記両端部の電極厚さが中央部の電極厚さの２倍〜５倍となっていることを特徴とする電子部品の測定治具。
4. 請求項１ないし３の何れかにおいて、上記１つの測定用電極は、他の測定用電極より電極幅寸法が大きくなっていることを特徴とする電子部品の測定治具。
5. 請求項１ないし４の何れかにおいて、上記 1つの測定用電極は、上記基材にレジスト膜を形成した状態でめっき処理を行なうことにより形成されたものであることを特徴とする電子部品の測定治具。
6. 請求項１ないし５の何れかにおいて、上記電子部品は、直方体状の部品素子の実装面の各辺の内側又はコーナ部に複数の入出力端子及びグランド端子が形成されており、該グランド端子が上記１つの測定用電極に当接されていることを特徴とする電子部品の測定治具。
7. 請求項６において、上記グランド端子の両隣には、上記入出力端子が形成され、該入出力端子と上記グランド端子とは略同じ高さに形成されていることを特徴とする電子部品の測定治具。

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