JP2005069750A - 光スペクトラムアナライザ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、波長対レベルからなるスペクトラムの解析を行う光スペクトラムアナライザに改良を加えたものである。本装置は、第一の被測定光を測定したスペクトラムを保存する第一の記憶部と、第二の被測定光を測定したスペクトラムを保存する第二の記憶部と、オフセット値を保存するオフセット値記憶部と、このオフセット値記憶部のオフセット値と第一の記憶部のスペクトラムとから閾値を求める閾値演算部と、この閾値演算部の求めた閾値により、第二の記憶部のスペクトラムのピークを検出するピーク検出部とを設けたことを特徴とするものである。
【選択図】 図1
Description
分光器1が、入力される被測定光を測定し、波長対レベルからなるスペクトラムをメモリ2に格納する。そして、解析部3が、メモリ2からスペクトラムを読み出し、図示しない設定部から設定される閾値に従って、この閾値より大きなレベルとなる部分をピークとして検出する。さらに、解析部3が、検出したピークごとに、ピーク波長、ピークレベル、半値全幅等を求め、表示部4に解析結果やスペクトラムの表示を行う。
波長対レベルからなるスペクトラムの解析を行う光スペクトラムアナライザにおいて、
第一の被測定光を測定したスペクトラムを保存する第一の記憶部と、
第二の被測定光を測定したスペクトラムを保存する第二の記憶部と、
オフセット値を保存するオフセット値記憶部と、
このオフセット値記憶部のオフセット値と前記第一の記憶部のスペクトラムとから閾値を求める閾値演算部と、
この閾値演算部の求めた閾値により、前記第二の記憶部のスペクトラムのピークを検出するピーク検出部と
を設けたことを特徴とするものである。
閾値演算部は、前記スペクトラムのレベルに前記オフセット値を加算または減算する加減算手段を有することを特徴とするを特徴とするものである。
閾値演算部は、前記オフセット値を波長ごとに変換し、前記加減算手段に変換したオフセット値を出力する変換手段を有することを特徴とするものである。
ピーク検出部は、前記第一の被測定光を測定したときの第一の測定条件と前記第二の被測定光を測定したときの第二の測定条件とから、前記閾値の補正を行う補正手段を有することを特徴とするものである。
ピーク検出部は、前記閾値と前記スペクトラムとのレベルを比較してピークを検出することを特徴とするものである。
ピーク検出部は、前記閾値と前記スペクトラムとの差分の大きさよりピークを検出することを特徴とするものである。
第一の被測定光は、広帯域光源からの出力光であり、
第二の被測定光は、前記広帯域光源の出力光をフィルタリングしたものまたは前記広帯域光源の出力光に光信号を重畳したものであることを特徴とするものである。
請求項1〜7によれば、閾値演算部がオフセット値と第一の被測定光のスペクトラムのレベルから閾値を求め、ピーク検出部が閾値演算部が求めた閾値により、第二の被測定光のスペクトラムのピークを検出するので、従来の装置のようにピークごとに閾値を設定する必要が無い。これにより、各ピーク近傍のスペクトラムのレベルが異なっていても、精度良く容易にピークの検出を行うことができる。
[第1の実施例]
図1は本発明の第1の実施例を示す構成図である。図2は、スペクトラムの表示例である。ここで、図5、図6と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図1において、広帯域光源5は、ASE光源やファイバラマン光源等であり、数10[nm]の広帯域に渡って、高レベルの出力光を発するものである。測定・解析対象の光学素子である光波長フィルタ6は、取外しが可能であり取付けた場合、広帯域光源5の出力光をフィルタリングし、分光器1に入力する。なお、光波長フィルタ6を取外した場合は、広帯域光源5の出力光が第一の被測定光として分光器1に入力される。一方、光波長フィルタ6を取付けた場合は、広帯域光源5の出力光をフィルタリングしたフィルタリング光が第二の被測定光として分光器1に入力される。もちろん、分光器1は、第一、第二の被測定光それぞれが入力され、入力される第一、第二の被測定光を測定し各波長ごとのレベルを検出し、波長対レベルからなるスペクトラムを求める。
まず、光波長フィルタ6を取外して、分光器1が第一の被測定光の測定を行う(S10)。そして、分光器1が、波長対レベルからなるスペクトラム(図2中、広帯域光源の出力光のスペクトラム200)をメモリ7に格納する(S11)。さらに、解析部10の閾値演算部11がメモリ7からスペクトラム200を読み出すと共に、オフセット値メモリ9からオフセット値を読み出す(S12)。そして、加減算手段11aが、読み出したスペクトラム200とオフセット値(図2中、例えば7.5[dB])に従って、スペクトラム200のレベルから一様に7.5[dB]減算し、閾値201を求める。なお、オフセット値は、光波長フィルタ6のフィルタ特性からあらかじめ求めて、メモリ9に格納しておく。もちろん、オフセット値は7.5[dB]に限定されるものではない(S13)
図4は本発明の第2の実施例を示す構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図4において、温度センサ13、第三のメモリ14が光スペクトラムアナライザに新たに設けられる。温度センサ13は、分光器1の温度を測定する。第三のメモリ14は、温度センサ13が測定した温度を記憶する。また、ピーク検出部12に、補正手段12aが新たに設けらる。この補正手段12aは、メモリ14に格納されている分光器1が第一の被測定光を測定したときの第一の測定条件である温度と、同様にメモリ14に格納されている分光器1が第二の被測定光を測定したときの第二の測定条件である温度とを読み出し、読み出した温度から閾値演算部11が求めた閾値201の波長ずれの補正を行う
温度センサ13が、第一の被測定光、第二の被測定光を分光器1が測定するごとに分光器1の温度を測定し、メモリ14に格納する。そして、ピーク検出部12が閾値演算部11から閾値201を読み出した(S16)後、この閾値201に対して、補正手段14がメモリ14から温度を読み出し、読み出した温度に基づいて波長ずれの補正を行う。すなわち、分光器1は、回折格子を含む様々な部品があり、波長温度特性が存在する。そのため、温度によって波長がずれてしまう。例えば、波長温度特性が1[pm/℃]とすると、第一の被測定光と第二の被測定光を測定した時の温度差が15[℃]あった場合、15[pm]波長がずれてしまう。このずれ分を、補正手段12aが補正する。
図1、図4に示す装置において、表示部4に解析結果やスペクトラム200、202、閾値201の表示を行う構成を示したが、解析結果やスペクトラム200、202、閾値201のうち所望のものだけを表示させてもよい。
6 光波長フィルタ
7 第一のメモリ
8 第二のメモリ
9 オフセット値メモリ
11 閾値演算部
11a 加減算手段
12 ピーク検出部
12a 補正手段
Claims (7)
- 波長対レベルからなるスペクトラムの解析を行う光スペクトラムアナライザにおいて、
第一の被測定光を測定したスペクトラムを保存する第一の記憶部と、
第二の被測定光を測定したスペクトラムを保存する第二の記憶部と、
オフセット値を保存するオフセット値記憶部と、
このオフセット値記憶部のオフセット値と前記第一の記憶部のスペクトラムとから閾値を求める閾値演算部と、
この閾値演算部の求めた閾値により、前記第二の記憶部のスペクトラムのピークを検出するピーク検出部と
を設けたことを特徴とする光スペクトラムアナライザ。 - 閾値演算部は、前記スペクトラムのレベルに前記オフセット値を加算または減算する加減算手段を有することを特徴とする請求項1記載の光スペクトラムアナライザ。
- 閾値演算部は、波長ごとに前記オフセット値を変換し、前記加減算手段に変換したオフセット値を出力する変換手段を有することを特徴とする請求項2記載の光スペクトラムアナライザ。
- ピーク検出部は、前記第一の被測定光を測定したときの第一の測定条件と前記第二の被測定光を測定したときの第二の測定条件とから、前記閾値の補正を行う補正手段を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の光スペクトラムアナライザ。
- ピーク検出部は、前記閾値と前記スペクトラムとのレベルを比較してピークを検出することを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の光スペクトラムアナライザ。
- ピーク検出部は、前記閾値と前記スペクトラムとの差分の大きさよりピークを検出することを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の光スペクトラムアナライザ。
- 第一の被測定光は、広帯域光源からの出力光であり、
第二の被測定光は、前記広帯域光源の出力光をフィルタリングしたものまたは前記広帯域光源の出力光に光信号を重畳したものであることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の光スペクトラムアナライザ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2005069750A true JP2005069750A (ja) | 2005-03-17 |
JP4622216B2 JP4622216B2 (ja) | 2011-02-02 |
Family
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4622216B2 (ja) |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060516 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
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