JP2005010307A - 光学素子 - Google Patents
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Abstract
【課題】新たな製造工程を必要とすることなく、成形後の光学素子の外表面の一部の面から、必要十分な反射光を検出することが可能な光学素子を提供する。
【解決手段】光学素子１は、光学有効部１ａと、これに隣接する枠部１ｂとを備える。光学素子１の少なくとも一方の面において、枠部１ｂは表面粗さが互いに異なる第１平面部及び第２平面部を少なくとも備える。
【選択図】図１
【解決手段】光学素子１は、光学有効部１ａと、これに隣接する枠部１ｂとを備える。光学素子１の少なくとも一方の面において、枠部１ｂは表面粗さが互いに異なる第１平面部及び第２平面部を少なくとも備える。
【選択図】図１
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＤＶＤ、コンピューター用の光記録装置などの光ヘッドに用いられる光学素子に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光ディスク等の光学記録装置用ピックアップレンズや、ＣＤ（コンパクトディスク）またはＤＶＤで知られているように、音楽情報、映像情報の蓄積またはコンピュータデータの保存装置用ピックアップレンズ等の光学素子が知られている。この光学素子としてプラスチックレンズが多用されている。これらのピックアップにレンズを組み込む際に、レンズの傾きと必要な補正量とを検知する必要がある。これを実現するために特許文献１には以下の方法が開示されている。即ち、レンズの光軸と平行な法線を有する平面部をレンズに設け、この平面部に所定の波長帯域の光のみを反射する反射部を形成する。そして、この反射部からの反射光を検出してレンズの傾きと必要な補正量とを検知する。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００１−３４９９１公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記の従来の方法では、光学素子（レンズ）の平面部上に、アルミニウム膜と誘電体膜等とを順次成膜して反射部を形成する必要があり、光学素子の製造工程が増える。また、光学素子の光学有効部の外側の外周部が複雑な形状を有する場合に、上記の膜を所望する位置に成膜することが困難となる。
【０００５】
本発明は、上記の従来の技術における課題を解決し、新たな製造工程を必要とすることなく、成形後の光学素子の外表面の一部の面から、必要十分な反射光を検出することが可能な光学素子を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明は以下の構成とする。
【０００７】
本発明の第１の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が表面粗さが互いに異なる第１平面部及び第２平面部を少なくとも備えることを特徴とする。
【０００８】
かかる第１の光学素子によれば、表面粗さが小さな平面部からの反射光のみを選択的に検出することができる。また、このような表面粗さが異なる第１平面部及び第２平面部は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の表面粗さに加工しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【０００９】
上記の第１の光学素子において、前記第１平面部及び前記第２平面部はいずれも前記光学素子の光軸に対して直交することが好ましい。これにより、表面粗さが小さい方の平面部を反射面として使用し、表面粗さが大きい方の平面部を光学素子をホルダーに保持させるための当接面として使用することができる。
【００１０】
本発明の第２の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の平面部を有することを特徴とする。
【００１１】
かかる第２の光学素子によれば、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の平面部からの反射光を検出することができる。また、このような表面粗さを有する平面部は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の表面粗さに加工しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００１２】
上記の第２の光学素子において、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、そのうちの１つの平面部が表面粗さＲａが０．１μｍ以下の前記平面部であり、残りの平面部の表面粗さＲａはいずれも０．１μｍより大きいことが好ましい。これにより、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の平面部からの反射光のみを選択的に検出することができる。従って、精度良い検出が可能になる。
【００１３】
本発明の第３の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、前記複数の平面部のうち最も大きな面積を有する第１平面部が光学反射面であることを特徴とする。
【００１４】
かかる第３の光学素子によれば、最も大きな面積を有する第１平面部からの反射光を検出することができる。また、このような第１平面部は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の寸法に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００１５】
上記の第３の光学素子において、前記複数の平面部のうち、前記第１平面部の表面粗さＲａが０．１μｍ以下であり、前記第１平面部を除く残りの平面部の表面粗さＲａがいずれも０．１μｍより大きいことが好ましい。これにより、最も大きな面積を有し、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の第１平面部からの反射光のみを選択的に検出することができる。従って、精度良い検出が可能になる。
【００１６】
本発明の第４の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が複数の面を有し、前記複数の面のうち、１つは前記光学素子の光軸に対して直交する平面部であり、残りは全て前記光軸に対して傾斜した斜面であることを特徴とする。
【００１７】
かかる第４の光学素子によれば、光学素子の光軸に対して直交する平面部からの反射光のみを選択的に検出することができる。また、このような平面部及び斜面は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する各面の方向を所定の方向に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００１８】
本発明の第５の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、前記複数の平面部のうちの１つの半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上であることを特徴とする。
【００１９】
かかる第５の光学素子によれば、半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上である平面部からの反射光を検出することができる。また、このような平面部は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の寸法に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００２０】
上記の第５の光学素子において、前記複数の平面部のうち、半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上である前記１つの平面部を除く残りの平面部の半径方向の寸法がいずれも０．１ｍｍ未満であることが好ましい。これにより、半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上である平面部からの反射光のみを検出することができる。従って、精度良い検出が可能になる。
【００２１】
上記の第１〜第５の光学素子において、前記平面部には、光学素子の材料である樹脂又はガラスが露出していることが好ましい。これにより、反射膜を設けることなく平面部を反射面として使用できるので、製造工程の増加を招くことなく反射光検出が可能な光学素子を提供できる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の光学素子について図面を参照しつつさらに具体的に説明する。
【００２３】
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１に係る光学素子を図１〜図２を用いて説明する。
【００２４】
図１は本発明の実施の形態１に係る光学素子１の断面図である。光学素子１は、図１に示したように、光束が入射して光学素子としての本来の機能を発揮する光学有効部１ａと、その外側に隣接して形成された枠部１ｂとを備える。光学有効部１ａは、入射する光束に対して所定の光学的作用を発揮するように所定の形状が付与された、互いに対向する光学有効面２、３を有する。枠部１ｂは、光学有効面２，３側から半径方向外側に向かって順に、平面部４ａ、４ｂと、斜面５ａ、５ｂと、平面部６ａ、６ｂとを有し、これらは互いに隣接し合っている。光学有効面２，３に隣接する平面部４ａ，４ｂは、光学素子１の光学中心軸（以下「光軸」という）に対して垂直な平面である。斜面５ａ，５ｂは、円錐面の一部を構成する。斜面５ａ，５ｂに隣接する平面部６ａ、６ｂは、光学有効面２、３よりも光軸方向にそれぞれ突出しており、これにより光学素子の製造工程において光学有効面２，３に傷が付くのを防止している。また、平面部６ａ、６ｂは、光学素子１をピックアップのレンズホルダーに組み込む際にレンズホルダーに対する当接面となるため、光軸と垂直な平面である。レンズホルダーとの接着代ろが必要であること、及び射出成形で光学素子１を成形する際に溶融樹脂を流し込むゲート口を大きくとる必要があることのために、枠部１ｂはなるべく大きな寸法が要求される。平面部４ａ、４ｂは、光が入射した際の反射率を高めるために小さな表面粗さを有している。一方、平面部６ａ、６ｂは、光が入射した際に光が特定の方向に反射せずに乱反射するように、大きな表面粗さを有している。
【００２５】
図２は、光学素子１の傾き検出装置の概略構成図である。傾き検出装置は、光ビームを出射する光源１１と、ピンホール１２ａを有するピンホール板１２と、コリメートレンズ１３と、ビームスプリッタ１４と、コリメートレンズ１５と、たとえばＣＣＤからなる受光素子１６とを備える。
【００２６】
光源１１から出射され、ピンホール板１２のピンホール１２ａを通過した発散光はコリメートレンズ１３で平行光束となり、ビームスプリッタ１４で反射され、光学素子１に入射する。光学素子１に入射した光のうち枠部１ｂの平面部４ａに入射した光はビームスプリッタ１４に入射する。平面部４ａに入射した光は、ここで反射され、ビームスプリッタ１４を透過し、コリメートレンズ１５により受光素子１６に導かれ、受光素子１６上に一つの集光スポットを形成する。この集光スポットの受光素子１６上における位置を検出することにより、光学素子１の傾きを検出することができる。従って、光学素子１をピックアップのレンズホルダーに組み付けする際に、集光スポットの受光素子１６上の位置が所定位置に来るように、光学素子１の傾きを補正した後、光学素子１をレンズホルダーに接着固定する。これにより、光学素子をレンズホルダーに所定の相対的傾きで組み込むことができる。
【００２７】
上記において、平面部４ａと平行な平面部６ａに入射した光は、表面粗さが粗いため、乱反射されてしまうので、受光素子１６上に集光スポットを実質的に形成しない。また、斜面５ａに入射した光もここで反射される可能性があるが、同様に受光素子１６上に集光スポットを実質的に形成しない。従って、表面粗さが小さな平面部４ａからの反射光のみを選択的に検出して光学素子の傾き調整に使用することができる。
【００２８】
また、干渉計による光学素子１の収差評価において、平面部４ｂにレーザ光を照射して、これからの反射光を利用してあおり調整を行い、光学素子１の傾き調整を行った上で、光学有効面の測定を行うことにより、誤差が少なく、繰り返し測定においてもばらつきの少ない測定評価が可能となる。この場合も、平面部６ｂに入射したレーザ光は乱反射され、斜面５ｂに入射した光は異なる方向に反射されるので、いずれもあおり調整には利用されない。
【００２９】
以上のように、本実施の形態の光学素子１の枠部１ｂは、光学素子１の光軸に対して直交する平面部４ａ，４ｂと平面部６ａ，６ｂとを有するが、平面部４ａ，４ｂは平面部６ａ，６ｂよりも表面粗さが小さいので、平面部４ａ，４ｂからの十分な反射光のみを選択的に利用して、光学素子１の傾き検出及び干渉計による光学素子の収差評価を行うことができる。このような平面部４ａ，４ｂ及び平面部６ａ，６ｂは、光学素子１の材料である樹脂又はガラスが露出した面であり、反射膜の形成は不要である。従って、平面部４ａ，４ｂ及び平面部６ａ，６ｂは、光学素子１の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の表面粗さに加工しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００３０】
なお、上記の実施の形態では、平面部４ａ、４ｂの全面の表面粗さを小さくしたが、その一部分のみの表面粗さを小さくしても良く、その場合も上記と同様の効果が得られる。
【００３１】
（実施の形態２）
図３は本発明の実施の形態２に係る光学素子１の断面図である。本実施の形態の光学素子１の基本的な構造は実施の形態１の光学素子と同様である。図１に示した光学素子１と同様の構成要素には同一の符号を付してそられについての詳細な説明を省略する。
【００３２】
図１に示した光学素子と同様に、枠部１ｂは、光学有効面２，３側から半径方向外側に向かって順に、平面部４ａ、４ｂと、斜面５ａ、５ｂと、平面部６ａ、６ｂとを有する。平面部４ａ，４ｂと平面部６ａ，６ｂとは光軸に対して直交する。図３に示したように、平面部４ａ，４ｂ、平面部６ａ，６ｂの半径方向の幅をそれぞれ幅４Ａ，４Ｂ、幅６Ａ，６Ｂとすると、本実施の形態の一実施例では４Ａ＝０．３ｍｍ、６Ａ＝０．１５ｍｍとした。また、平面部４ａの表面粗さＲａ＝０．０８μｍ、平面部６ａの表面粗さＲａ＝５μｍとした。
【００３３】
図２に示した傾き検出装置に本実施の形態の光学素子１を適用すると、光学素子１に入射した光は、光学有効面２及び平面部４ａで反射される。このとき、平面部６ａに入射した光は、平面部６ａの表面粗さが粗いために乱反射され、拡散する。平面部４ａで反射した光は、ビームスプリッタ１４を透過し、コリメートレンズ１５により受光素子１６に導かれ、受光素子１６上に一つの集光スポットを形成する。この集光スポットの受光素子１６上における位置を検出することにより、光学素子１の傾きを検出することができる。
【００３４】
ここで、上記の実施例において平面部４ａの表面粗さＲａを変えたときの受光素子１６上における集光スポットの変化の様子を表１に示す。
【００３５】
【表１】
【００３６】
表１において、「○」は良好な集光スポットが形成されたことを、「×」は集光スポットが形成されないことを、「△」は集光スポットがぼやけた状態で形成され、光学素子１の傾き検出には支障が生じることを、それぞれ示している。
【００３７】
表１の結果から、表面粗さＲａが０．１μｍ以下であれば、良好な集光スポットが得られることが判明した。上記の実施例では平面部６ａの表面粗さＲａは０．１２μｍ以上であるため、平面部６ａでの反射光は、集光スポットを形成しないか、わずかに集光スポットを形成する場合があるが、平面部４ａでの反射光による集光スポットに比べてその光量が小さいので、無視されるレベルである。
【００３８】
なお、光軸と直交する平面部が複数ある場合、全ての複数の平面部の表面粗さＲａを０．１μｍ以下にすることも可能である。例えば、上記の例では、平面部４ａ及び平面部６ａの表面粗さＲａをいずれも０．１μｍ以下にすることもできる。この場合、平面部４ａ及び平面部６ａからの各反射光が共通する一つの集光スポットを形成する必要がある。しかしながら、光軸に対する平面部４ａ及び平面部６ａのそれぞれの垂直度が一致しないと、スポット像が歪んだり、大きくなったりする場合があり、傾き検出に不具合が生じる場合がある。従って、反射光を得るための面は１つの面であることが好ましい。
【００３９】
また、反射光を得るための面が１つであっても、その平面度が悪いと、同様にスポット像が歪んだり、大きくなったりする場合がある。従って、反射光を得るための面を、所定の平面度が確保できる特定の領域に限定しても良い。但し、反射面を得るための面の面積が小さすぎると、反射光の光量が不足し、集光スポットがはっきり見えない。従って、一般には、上記の実施の形態のように、枠部が光軸に直交する複数の平面部を有する場合には、最も大きな面積を有する平面部の表面粗さＲａを０．１μｍ以下として反射面として使用し、他の平面部の表面粗さＲａを０．１μｍより大きく（更には０．１４μｍ以上）とすることが好ましい。
【００４０】
また、干渉計による光学素子１の収差評価において、光学有効面３側にレーザ光を照射して計測する際に、光学素子１からの反射光を利用して光学素子のあおり調整を行う。このとき、一実施例では、枠部１ｂの光学有効面３側の面において、幅４Ｂ＞幅６Ｂであるため、平面部４ｂの表面粗さＲａを０．０８μｍ、平面部６ｂの表面粗さＲａを３μｍにした。レーザ光を照射した際に、平面部４ｂからの反射光を利用して光学素子１のあおり調整を行い、光学素子１の傾き調整を行った後に、光学有効面の測定を行うことにより、誤差が少なく、繰り返し測定においてもばらつきの少ない測定評価が可能となった。
【００４１】
以上のように、本実施の形態の光学素子１の枠部１ｂは、光軸に対して直交する平面部４ａ，４ｂ及び平面部６ａ，６ｂを備え、平面部４ａ，４ｂの表面粗さＲａが０．１μｍ以下であり、平面部６ａ，６ｂの表面粗さＲａが０．１μｍより大きく、平面部４ａ，４ｂの面積が平面部６ａ，６ｂの面積より大きいので、反射膜を設けることなく、平面部４ａ，４ｂからの十分な反射光のみを選択的に利用して、光学素子１の傾き検出及び干渉計による光学素子の収差評価を行うことができる。このような平面部４ａ，４ｂは、光学素子１の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の表面粗さに加工し、その寸法を適切に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００４２】
（実施の形態３）
図４は本発明の実施の形態３に係る光学素子１の断面図である。本実施の形態の光学素子１の基本的な構造は実施の形態１の光学素子と同様である。図１に示した光学素子１と同様の構成要素には同一の符号を付してそられについての詳細な説明を省略する。
【００４３】
本実施の形態の光学素子１では、図１に示した光学素子と異なり面６ａ，６ｂが光軸に対して傾斜している。即ち、図４に示す光学素子１の枠部１ｂにおいて、平面部４ａ，４ｂは光軸に対して直交する平面であり、その他の面５ａ，６ａ，５ｂ，６ｂは光軸に対して傾斜している。
【００４４】
図２に示した傾き検出装置に本実施の形態の光学素子１を適用すると、光学素子１に入射した光は、光学有効面２、平面部４ａ、斜面５ａ，６ａで反射される。このとき、平面部４ａでの反射光は、ビームスプリッタ１４を透過し、コリメートレンズ１５により受光素子１６に導かれ、受光素子１６上に一つの集光スポットを形成する。この集光スポットの受光素子１６上における位置を検出することにより、光学素子１の傾きを検出することができる。
【００４５】
一方、斜面５ａ，６ａでの反射光は受光素子１６上に集光スポットを実質的に形成しない。
【００４６】
従って、実施の形態１と同様に、光学素子をレンズホルダーに所定の相対的傾きで組み込むことができる。
【００４７】
また、干渉計による光学素子１の収差評価において、平面部４ｂにレーザ光を照射して、これからの反射光を利用してあおり調整を行い、光学素子１の傾き調整を行った上で、光学有効面の測定を行うことにより、誤差が少なく、繰り返し測定においてもばらつきの少ない測定評価が可能となる。
【００４８】
以上のように、本実施の形態の光学素子１の枠部１ｂは、光学素子１の光軸に対して直交する平面部４ａ，４ｂと、光軸に対して傾斜した斜面５ａ，６ａ，５ｂ，６ｂとを備えるので、反射膜を設けることなく、平面部４ａ，４ｂからの十分な反射光のみを選択的に利用して、光学素子１の傾き検出及び干渉計による光学素子の収差評価を行うことができる。このような平面部４ａ，４ｂ及び斜面５ａ，６ａ，５ｂ，６ｂは、光学素子１の成形の際に使用する成形金型を所定の形状に加工しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００４９】
（実施の形態４）
図５は本発明の実施の形態４に係る光学素子１の断面図である。本実施の形態の光学素子１の基本的な構造は実施の形態１の光学素子と同様である。図１に示した光学素子１と同様の構成要素には同一の符号を付してそられについての詳細な説明を省略する。
【００５０】
本実施の形態の光学素子１は、枠部１ｂに光軸と直交する平面部４ａ、６ａ、８ａ、及び平面部４ｂ、６ｂ、８ｂを有する。
【００５１】
図２に示した傾き検出装置を用いて光学素子にレーザ光を照射して平面部からの反射光を利用してあおり調整を行う際に、平面部の半径方向幅を変えたときの集光スポットの変化の様子を表２に示す。
【００５２】
【表２】
【００５３】
表２において、「○」は集光スポットが十分な光量を有していることを、「×」は集光スポットが光量不十分により明確に確認できないことを、「△」は集光スポットを確認できるものの光量が十分ではなく、光学素子１の傾き検出に支障が生じることを、それぞれ示している。
【００５４】
表２より、平面部の半径方向幅は０．１ｍｍ以上であれば、反射光量が十分に確保でき、集光スポットが良好となることが判明した。
【００５５】
そこで、一実施例では、枠部１ｂを構成する平面部４ａ，６ａ，８ａ，４ｂ，６ｂ，８ｂの半径方向幅を順に４Ａ，６Ａ，８Ａ，４Ｂ，６Ｂ，８Ｂとしたとき、４Ａ＝０．２５ｍｍ、６Ａ＝０．０８ｍｍ、８Ａ＝０．０５ｍｍ、４Ｂ＝０．２２ｍｍ、６Ｂ＝０．０７ｍｍ、８Ｂ＝０．０５ｍｍとした。
【００５６】
半径方向幅が０．１ｍｍ以上である平面部４ａ，４ｂからは十分な反射光量が得られ、その他の平面部６ａ，８ａ，６ｂ，８ｂからの反射光量は不十分であり、実質的に無視できる程度である。
【００５７】
従って、図２に示した傾き検出装置において集光スポットの受光素子１６上における位置を検出する際には、平面部４ａからの反射光のみを利用して光学素子１の傾きを検出することができる。これにより、光学素子１をピックアップのレンズホルダーに組み付ける際に光学素子１の傾きを補正しながら接着することが可能となる。
【００５８】
また、干渉計による光学素子１の収差評価において、平面部４ｂにレーザ光を照射して、これからの反射光を利用してあおり調整を行い、光学素子１の傾き調整を行った上で、光学有効面の測定を行うことにより、誤差が少なく、繰り返し測定においてもばらつきの少ない測定評価が可能となる。
【００５９】
以上のように、本実施の形態の光学素子１の枠部１ｂは、光学素子１の光軸に対して直交する環状の平面部４ａ、６ａ、８ａ、及び環状の平面部４ｂ、６ｂ、８ｂを有し、これらのうち平面部４ａ，４ｂの半径方向寸法が０．１ｍｍ以上であり、平面部６ａ，８ａ，６ｂ，８ｂの半径方向寸法が０．１ｍｍ未満である。従って、反射膜を設けることなく、平面部４ａ，４ｂからの十分な反射光のみを選択的に利用して、光学素子１の傾き検出及び干渉計による光学素子の収差評価を行うことができる。このような平面部４ａ，４ｂは、光学素子１の成形の際に使用する成形金型の各部を所定の寸法に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００６０】
上記の実施の形態１〜４では、枠部１ｂの両面に、反射面４ａ，４ｂを形成したが、一方の面にのみ反射面４ａ又は反射面４ｂを形成しても良い。
【００６１】
また、本発明の光学素子は、上記の実施の形態１〜４に示した各形態のうちの２以上の形態を同時に備えていても良い。また、光学素子の一方の面と他方の面とが異なる形態を有していても良い。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光学素子によれば、新たな製造工程を必要とすることなく、成形後の光学素子の枠部に設けた平面部から、必要十分な反射光を検出することができる。従って、例えば、傾き検出装置における光学素子の傾き検出や、干渉計による光学素子の収差評価を行う際に、光学素子の平面部からの反射光を利用して、正確な調整や評価が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１の光学素子の断面図。
【図２】光学素子の傾き検出装置の概略構成図。
【図３】本発明の実施の形態２の光学素子の断面図。
【図４】本発明の実施の形態３の光学素子の断面図。
【図５】本発明の実施の形態４の光学素子の断面図。
【符号の説明】
１ 光学素子
１ａ 光学有効部
１ｂ 枠部
２、３ 光学有効面
４ａ，４ｂ 平面部
５ａ，５ｂ 斜面
１１ 光源
１２ａ ピンホール
１２ ピンホール板
１３ コリメートレンズ
１４ ビームスプリッタ
１５ コリメートレンズ
１６ 受光素子
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＤＶＤ、コンピューター用の光記録装置などの光ヘッドに用いられる光学素子に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光ディスク等の光学記録装置用ピックアップレンズや、ＣＤ（コンパクトディスク）またはＤＶＤで知られているように、音楽情報、映像情報の蓄積またはコンピュータデータの保存装置用ピックアップレンズ等の光学素子が知られている。この光学素子としてプラスチックレンズが多用されている。これらのピックアップにレンズを組み込む際に、レンズの傾きと必要な補正量とを検知する必要がある。これを実現するために特許文献１には以下の方法が開示されている。即ち、レンズの光軸と平行な法線を有する平面部をレンズに設け、この平面部に所定の波長帯域の光のみを反射する反射部を形成する。そして、この反射部からの反射光を検出してレンズの傾きと必要な補正量とを検知する。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００１−３４９９１公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記の従来の方法では、光学素子（レンズ）の平面部上に、アルミニウム膜と誘電体膜等とを順次成膜して反射部を形成する必要があり、光学素子の製造工程が増える。また、光学素子の光学有効部の外側の外周部が複雑な形状を有する場合に、上記の膜を所望する位置に成膜することが困難となる。
【０００５】
本発明は、上記の従来の技術における課題を解決し、新たな製造工程を必要とすることなく、成形後の光学素子の外表面の一部の面から、必要十分な反射光を検出することが可能な光学素子を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明は以下の構成とする。
【０００７】
本発明の第１の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が表面粗さが互いに異なる第１平面部及び第２平面部を少なくとも備えることを特徴とする。
【０００８】
かかる第１の光学素子によれば、表面粗さが小さな平面部からの反射光のみを選択的に検出することができる。また、このような表面粗さが異なる第１平面部及び第２平面部は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の表面粗さに加工しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【０００９】
上記の第１の光学素子において、前記第１平面部及び前記第２平面部はいずれも前記光学素子の光軸に対して直交することが好ましい。これにより、表面粗さが小さい方の平面部を反射面として使用し、表面粗さが大きい方の平面部を光学素子をホルダーに保持させるための当接面として使用することができる。
【００１０】
本発明の第２の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の平面部を有することを特徴とする。
【００１１】
かかる第２の光学素子によれば、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の平面部からの反射光を検出することができる。また、このような表面粗さを有する平面部は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の表面粗さに加工しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００１２】
上記の第２の光学素子において、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、そのうちの１つの平面部が表面粗さＲａが０．１μｍ以下の前記平面部であり、残りの平面部の表面粗さＲａはいずれも０．１μｍより大きいことが好ましい。これにより、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の平面部からの反射光のみを選択的に検出することができる。従って、精度良い検出が可能になる。
【００１３】
本発明の第３の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、前記複数の平面部のうち最も大きな面積を有する第１平面部が光学反射面であることを特徴とする。
【００１４】
かかる第３の光学素子によれば、最も大きな面積を有する第１平面部からの反射光を検出することができる。また、このような第１平面部は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の寸法に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００１５】
上記の第３の光学素子において、前記複数の平面部のうち、前記第１平面部の表面粗さＲａが０．１μｍ以下であり、前記第１平面部を除く残りの平面部の表面粗さＲａがいずれも０．１μｍより大きいことが好ましい。これにより、最も大きな面積を有し、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の第１平面部からの反射光のみを選択的に検出することができる。従って、精度良い検出が可能になる。
【００１６】
本発明の第４の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が複数の面を有し、前記複数の面のうち、１つは前記光学素子の光軸に対して直交する平面部であり、残りは全て前記光軸に対して傾斜した斜面であることを特徴とする。
【００１７】
かかる第４の光学素子によれば、光学素子の光軸に対して直交する平面部からの反射光のみを選択的に検出することができる。また、このような平面部及び斜面は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する各面の方向を所定の方向に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００１８】
本発明の第５の光学素子は、光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、前記複数の平面部のうちの１つの半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上であることを特徴とする。
【００１９】
かかる第５の光学素子によれば、半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上である平面部からの反射光を検出することができる。また、このような平面部は、光学素子の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の寸法に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００２０】
上記の第５の光学素子において、前記複数の平面部のうち、半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上である前記１つの平面部を除く残りの平面部の半径方向の寸法がいずれも０．１ｍｍ未満であることが好ましい。これにより、半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上である平面部からの反射光のみを検出することができる。従って、精度良い検出が可能になる。
【００２１】
上記の第１〜第５の光学素子において、前記平面部には、光学素子の材料である樹脂又はガラスが露出していることが好ましい。これにより、反射膜を設けることなく平面部を反射面として使用できるので、製造工程の増加を招くことなく反射光検出が可能な光学素子を提供できる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の光学素子について図面を参照しつつさらに具体的に説明する。
【００２３】
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１に係る光学素子を図１〜図２を用いて説明する。
【００２４】
図１は本発明の実施の形態１に係る光学素子１の断面図である。光学素子１は、図１に示したように、光束が入射して光学素子としての本来の機能を発揮する光学有効部１ａと、その外側に隣接して形成された枠部１ｂとを備える。光学有効部１ａは、入射する光束に対して所定の光学的作用を発揮するように所定の形状が付与された、互いに対向する光学有効面２、３を有する。枠部１ｂは、光学有効面２，３側から半径方向外側に向かって順に、平面部４ａ、４ｂと、斜面５ａ、５ｂと、平面部６ａ、６ｂとを有し、これらは互いに隣接し合っている。光学有効面２，３に隣接する平面部４ａ，４ｂは、光学素子１の光学中心軸（以下「光軸」という）に対して垂直な平面である。斜面５ａ，５ｂは、円錐面の一部を構成する。斜面５ａ，５ｂに隣接する平面部６ａ、６ｂは、光学有効面２、３よりも光軸方向にそれぞれ突出しており、これにより光学素子の製造工程において光学有効面２，３に傷が付くのを防止している。また、平面部６ａ、６ｂは、光学素子１をピックアップのレンズホルダーに組み込む際にレンズホルダーに対する当接面となるため、光軸と垂直な平面である。レンズホルダーとの接着代ろが必要であること、及び射出成形で光学素子１を成形する際に溶融樹脂を流し込むゲート口を大きくとる必要があることのために、枠部１ｂはなるべく大きな寸法が要求される。平面部４ａ、４ｂは、光が入射した際の反射率を高めるために小さな表面粗さを有している。一方、平面部６ａ、６ｂは、光が入射した際に光が特定の方向に反射せずに乱反射するように、大きな表面粗さを有している。
【００２５】
図２は、光学素子１の傾き検出装置の概略構成図である。傾き検出装置は、光ビームを出射する光源１１と、ピンホール１２ａを有するピンホール板１２と、コリメートレンズ１３と、ビームスプリッタ１４と、コリメートレンズ１５と、たとえばＣＣＤからなる受光素子１６とを備える。
【００２６】
光源１１から出射され、ピンホール板１２のピンホール１２ａを通過した発散光はコリメートレンズ１３で平行光束となり、ビームスプリッタ１４で反射され、光学素子１に入射する。光学素子１に入射した光のうち枠部１ｂの平面部４ａに入射した光はビームスプリッタ１４に入射する。平面部４ａに入射した光は、ここで反射され、ビームスプリッタ１４を透過し、コリメートレンズ１５により受光素子１６に導かれ、受光素子１６上に一つの集光スポットを形成する。この集光スポットの受光素子１６上における位置を検出することにより、光学素子１の傾きを検出することができる。従って、光学素子１をピックアップのレンズホルダーに組み付けする際に、集光スポットの受光素子１６上の位置が所定位置に来るように、光学素子１の傾きを補正した後、光学素子１をレンズホルダーに接着固定する。これにより、光学素子をレンズホルダーに所定の相対的傾きで組み込むことができる。
【００２７】
上記において、平面部４ａと平行な平面部６ａに入射した光は、表面粗さが粗いため、乱反射されてしまうので、受光素子１６上に集光スポットを実質的に形成しない。また、斜面５ａに入射した光もここで反射される可能性があるが、同様に受光素子１６上に集光スポットを実質的に形成しない。従って、表面粗さが小さな平面部４ａからの反射光のみを選択的に検出して光学素子の傾き調整に使用することができる。
【００２８】
また、干渉計による光学素子１の収差評価において、平面部４ｂにレーザ光を照射して、これからの反射光を利用してあおり調整を行い、光学素子１の傾き調整を行った上で、光学有効面の測定を行うことにより、誤差が少なく、繰り返し測定においてもばらつきの少ない測定評価が可能となる。この場合も、平面部６ｂに入射したレーザ光は乱反射され、斜面５ｂに入射した光は異なる方向に反射されるので、いずれもあおり調整には利用されない。
【００２９】
以上のように、本実施の形態の光学素子１の枠部１ｂは、光学素子１の光軸に対して直交する平面部４ａ，４ｂと平面部６ａ，６ｂとを有するが、平面部４ａ，４ｂは平面部６ａ，６ｂよりも表面粗さが小さいので、平面部４ａ，４ｂからの十分な反射光のみを選択的に利用して、光学素子１の傾き検出及び干渉計による光学素子の収差評価を行うことができる。このような平面部４ａ，４ｂ及び平面部６ａ，６ｂは、光学素子１の材料である樹脂又はガラスが露出した面であり、反射膜の形成は不要である。従って、平面部４ａ，４ｂ及び平面部６ａ，６ｂは、光学素子１の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の表面粗さに加工しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００３０】
なお、上記の実施の形態では、平面部４ａ、４ｂの全面の表面粗さを小さくしたが、その一部分のみの表面粗さを小さくしても良く、その場合も上記と同様の効果が得られる。
【００３１】
（実施の形態２）
図３は本発明の実施の形態２に係る光学素子１の断面図である。本実施の形態の光学素子１の基本的な構造は実施の形態１の光学素子と同様である。図１に示した光学素子１と同様の構成要素には同一の符号を付してそられについての詳細な説明を省略する。
【００３２】
図１に示した光学素子と同様に、枠部１ｂは、光学有効面２，３側から半径方向外側に向かって順に、平面部４ａ、４ｂと、斜面５ａ、５ｂと、平面部６ａ、６ｂとを有する。平面部４ａ，４ｂと平面部６ａ，６ｂとは光軸に対して直交する。図３に示したように、平面部４ａ，４ｂ、平面部６ａ，６ｂの半径方向の幅をそれぞれ幅４Ａ，４Ｂ、幅６Ａ，６Ｂとすると、本実施の形態の一実施例では４Ａ＝０．３ｍｍ、６Ａ＝０．１５ｍｍとした。また、平面部４ａの表面粗さＲａ＝０．０８μｍ、平面部６ａの表面粗さＲａ＝５μｍとした。
【００３３】
図２に示した傾き検出装置に本実施の形態の光学素子１を適用すると、光学素子１に入射した光は、光学有効面２及び平面部４ａで反射される。このとき、平面部６ａに入射した光は、平面部６ａの表面粗さが粗いために乱反射され、拡散する。平面部４ａで反射した光は、ビームスプリッタ１４を透過し、コリメートレンズ１５により受光素子１６に導かれ、受光素子１６上に一つの集光スポットを形成する。この集光スポットの受光素子１６上における位置を検出することにより、光学素子１の傾きを検出することができる。
【００３４】
ここで、上記の実施例において平面部４ａの表面粗さＲａを変えたときの受光素子１６上における集光スポットの変化の様子を表１に示す。
【００３５】
【表１】
表１において、「○」は良好な集光スポットが形成されたことを、「×」は集光スポットが形成されないことを、「△」は集光スポットがぼやけた状態で形成され、光学素子１の傾き検出には支障が生じることを、それぞれ示している。
【００３７】
表１の結果から、表面粗さＲａが０．１μｍ以下であれば、良好な集光スポットが得られることが判明した。上記の実施例では平面部６ａの表面粗さＲａは０．１２μｍ以上であるため、平面部６ａでの反射光は、集光スポットを形成しないか、わずかに集光スポットを形成する場合があるが、平面部４ａでの反射光による集光スポットに比べてその光量が小さいので、無視されるレベルである。
【００３８】
なお、光軸と直交する平面部が複数ある場合、全ての複数の平面部の表面粗さＲａを０．１μｍ以下にすることも可能である。例えば、上記の例では、平面部４ａ及び平面部６ａの表面粗さＲａをいずれも０．１μｍ以下にすることもできる。この場合、平面部４ａ及び平面部６ａからの各反射光が共通する一つの集光スポットを形成する必要がある。しかしながら、光軸に対する平面部４ａ及び平面部６ａのそれぞれの垂直度が一致しないと、スポット像が歪んだり、大きくなったりする場合があり、傾き検出に不具合が生じる場合がある。従って、反射光を得るための面は１つの面であることが好ましい。
【００３９】
また、反射光を得るための面が１つであっても、その平面度が悪いと、同様にスポット像が歪んだり、大きくなったりする場合がある。従って、反射光を得るための面を、所定の平面度が確保できる特定の領域に限定しても良い。但し、反射面を得るための面の面積が小さすぎると、反射光の光量が不足し、集光スポットがはっきり見えない。従って、一般には、上記の実施の形態のように、枠部が光軸に直交する複数の平面部を有する場合には、最も大きな面積を有する平面部の表面粗さＲａを０．１μｍ以下として反射面として使用し、他の平面部の表面粗さＲａを０．１μｍより大きく（更には０．１４μｍ以上）とすることが好ましい。
【００４０】
また、干渉計による光学素子１の収差評価において、光学有効面３側にレーザ光を照射して計測する際に、光学素子１からの反射光を利用して光学素子のあおり調整を行う。このとき、一実施例では、枠部１ｂの光学有効面３側の面において、幅４Ｂ＞幅６Ｂであるため、平面部４ｂの表面粗さＲａを０．０８μｍ、平面部６ｂの表面粗さＲａを３μｍにした。レーザ光を照射した際に、平面部４ｂからの反射光を利用して光学素子１のあおり調整を行い、光学素子１の傾き調整を行った後に、光学有効面の測定を行うことにより、誤差が少なく、繰り返し測定においてもばらつきの少ない測定評価が可能となった。
【００４１】
以上のように、本実施の形態の光学素子１の枠部１ｂは、光軸に対して直交する平面部４ａ，４ｂ及び平面部６ａ，６ｂを備え、平面部４ａ，４ｂの表面粗さＲａが０．１μｍ以下であり、平面部６ａ，６ｂの表面粗さＲａが０．１μｍより大きく、平面部４ａ，４ｂの面積が平面部６ａ，６ｂの面積より大きいので、反射膜を設けることなく、平面部４ａ，４ｂからの十分な反射光のみを選択的に利用して、光学素子１の傾き検出及び干渉計による光学素子の収差評価を行うことができる。このような平面部４ａ，４ｂは、光学素子１の成形の際に使用する成形金型の対応する面を所定の表面粗さに加工し、その寸法を適切に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００４２】
（実施の形態３）
図４は本発明の実施の形態３に係る光学素子１の断面図である。本実施の形態の光学素子１の基本的な構造は実施の形態１の光学素子と同様である。図１に示した光学素子１と同様の構成要素には同一の符号を付してそられについての詳細な説明を省略する。
【００４３】
本実施の形態の光学素子１では、図１に示した光学素子と異なり面６ａ，６ｂが光軸に対して傾斜している。即ち、図４に示す光学素子１の枠部１ｂにおいて、平面部４ａ，４ｂは光軸に対して直交する平面であり、その他の面５ａ，６ａ，５ｂ，６ｂは光軸に対して傾斜している。
【００４４】
図２に示した傾き検出装置に本実施の形態の光学素子１を適用すると、光学素子１に入射した光は、光学有効面２、平面部４ａ、斜面５ａ，６ａで反射される。このとき、平面部４ａでの反射光は、ビームスプリッタ１４を透過し、コリメートレンズ１５により受光素子１６に導かれ、受光素子１６上に一つの集光スポットを形成する。この集光スポットの受光素子１６上における位置を検出することにより、光学素子１の傾きを検出することができる。
【００４５】
一方、斜面５ａ，６ａでの反射光は受光素子１６上に集光スポットを実質的に形成しない。
【００４６】
従って、実施の形態１と同様に、光学素子をレンズホルダーに所定の相対的傾きで組み込むことができる。
【００４７】
また、干渉計による光学素子１の収差評価において、平面部４ｂにレーザ光を照射して、これからの反射光を利用してあおり調整を行い、光学素子１の傾き調整を行った上で、光学有効面の測定を行うことにより、誤差が少なく、繰り返し測定においてもばらつきの少ない測定評価が可能となる。
【００４８】
以上のように、本実施の形態の光学素子１の枠部１ｂは、光学素子１の光軸に対して直交する平面部４ａ，４ｂと、光軸に対して傾斜した斜面５ａ，６ａ，５ｂ，６ｂとを備えるので、反射膜を設けることなく、平面部４ａ，４ｂからの十分な反射光のみを選択的に利用して、光学素子１の傾き検出及び干渉計による光学素子の収差評価を行うことができる。このような平面部４ａ，４ｂ及び斜面５ａ，６ａ，５ｂ，６ｂは、光学素子１の成形の際に使用する成形金型を所定の形状に加工しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００４９】
（実施の形態４）
図５は本発明の実施の形態４に係る光学素子１の断面図である。本実施の形態の光学素子１の基本的な構造は実施の形態１の光学素子と同様である。図１に示した光学素子１と同様の構成要素には同一の符号を付してそられについての詳細な説明を省略する。
【００５０】
本実施の形態の光学素子１は、枠部１ｂに光軸と直交する平面部４ａ、６ａ、８ａ、及び平面部４ｂ、６ｂ、８ｂを有する。
【００５１】
図２に示した傾き検出装置を用いて光学素子にレーザ光を照射して平面部からの反射光を利用してあおり調整を行う際に、平面部の半径方向幅を変えたときの集光スポットの変化の様子を表２に示す。
【００５２】
【表２】
表２において、「○」は集光スポットが十分な光量を有していることを、「×」は集光スポットが光量不十分により明確に確認できないことを、「△」は集光スポットを確認できるものの光量が十分ではなく、光学素子１の傾き検出に支障が生じることを、それぞれ示している。
【００５４】
表２より、平面部の半径方向幅は０．１ｍｍ以上であれば、反射光量が十分に確保でき、集光スポットが良好となることが判明した。
【００５５】
そこで、一実施例では、枠部１ｂを構成する平面部４ａ，６ａ，８ａ，４ｂ，６ｂ，８ｂの半径方向幅を順に４Ａ，６Ａ，８Ａ，４Ｂ，６Ｂ，８Ｂとしたとき、４Ａ＝０．２５ｍｍ、６Ａ＝０．０８ｍｍ、８Ａ＝０．０５ｍｍ、４Ｂ＝０．２２ｍｍ、６Ｂ＝０．０７ｍｍ、８Ｂ＝０．０５ｍｍとした。
【００５６】
半径方向幅が０．１ｍｍ以上である平面部４ａ，４ｂからは十分な反射光量が得られ、その他の平面部６ａ，８ａ，６ｂ，８ｂからの反射光量は不十分であり、実質的に無視できる程度である。
【００５７】
従って、図２に示した傾き検出装置において集光スポットの受光素子１６上における位置を検出する際には、平面部４ａからの反射光のみを利用して光学素子１の傾きを検出することができる。これにより、光学素子１をピックアップのレンズホルダーに組み付ける際に光学素子１の傾きを補正しながら接着することが可能となる。
【００５８】
また、干渉計による光学素子１の収差評価において、平面部４ｂにレーザ光を照射して、これからの反射光を利用してあおり調整を行い、光学素子１の傾き調整を行った上で、光学有効面の測定を行うことにより、誤差が少なく、繰り返し測定においてもばらつきの少ない測定評価が可能となる。
【００５９】
以上のように、本実施の形態の光学素子１の枠部１ｂは、光学素子１の光軸に対して直交する環状の平面部４ａ、６ａ、８ａ、及び環状の平面部４ｂ、６ｂ、８ｂを有し、これらのうち平面部４ａ，４ｂの半径方向寸法が０．１ｍｍ以上であり、平面部６ａ，８ａ，６ｂ，８ｂの半径方向寸法が０．１ｍｍ未満である。従って、反射膜を設けることなく、平面部４ａ，４ｂからの十分な反射光のみを選択的に利用して、光学素子１の傾き検出及び干渉計による光学素子の収差評価を行うことができる。このような平面部４ａ，４ｂは、光学素子１の成形の際に使用する成形金型の各部を所定の寸法に設定しておくことで容易に形成できるので、新たな製造工程を必要としない。
【００６０】
上記の実施の形態１〜４では、枠部１ｂの両面に、反射面４ａ，４ｂを形成したが、一方の面にのみ反射面４ａ又は反射面４ｂを形成しても良い。
【００６１】
また、本発明の光学素子は、上記の実施の形態１〜４に示した各形態のうちの２以上の形態を同時に備えていても良い。また、光学素子の一方の面と他方の面とが異なる形態を有していても良い。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光学素子によれば、新たな製造工程を必要とすることなく、成形後の光学素子の枠部に設けた平面部から、必要十分な反射光を検出することができる。従って、例えば、傾き検出装置における光学素子の傾き検出や、干渉計による光学素子の収差評価を行う際に、光学素子の平面部からの反射光を利用して、正確な調整や評価が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１の光学素子の断面図。
【図２】光学素子の傾き検出装置の概略構成図。
【図３】本発明の実施の形態２の光学素子の断面図。
【図４】本発明の実施の形態３の光学素子の断面図。
【図５】本発明の実施の形態４の光学素子の断面図。
【符号の説明】
１ 光学素子
１ａ 光学有効部
１ｂ 枠部
２、３ 光学有効面
４ａ，４ｂ 平面部
５ａ，５ｂ 斜面
１１ 光源
１２ａ ピンホール
１２ ピンホール板
１３ コリメートレンズ
１４ ビームスプリッタ
１５ コリメートレンズ
１６ 受光素子
Claims (10)
- 光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が表面粗さが互いに異なる第１平面部及び第２平面部を少なくとも備えることを特徴とする光学素子。
- 前記第１平面部及び前記第２平面部はいずれも前記光学素子の光軸に対して直交する請求項１に記載の光学素子。
- 光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する、表面粗さＲａが０．１μｍ以下の平面部を有することを特徴とする光学素子。
- 前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、そのうちの１つの平面部が表面粗さＲａが０．１μｍ以下の前記平面部であり、残りの平面部の表面粗さＲａはいずれも０．１μｍより大きい請求項３に記載の光学素子。
- 光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、前記複数の平面部のうち最も大きな面積を有する第１平面部が光学反射面であることを特徴とする光学素子。
- 前記複数の平面部のうち、前記第１平面部の表面粗さＲａが０．１μｍ以下であり、前記第１平面部を除く残りの平面部の表面粗さＲａがいずれも０．１μｍより大きい請求項５に記載の光学素子。
- 光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が複数の面を有し、前記複数の面のうち、１つは前記光学素子の光軸に対して直交する平面部であり、残りは全て前記光軸に対して傾斜した斜面であることを特徴とする光学素子。
- 光学有効部と、前記光学有効部と隣接する枠部とを備えた光学素子であって、前記光学素子の少なくとも一方の面において、前記枠部が前記光学素子の光軸に対して直交する複数の平面部を有し、前記複数の平面部のうちの１つの半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上であることを特徴とする光学素子。
- 前記複数の平面部のうち、半径方向の寸法が０．１ｍｍ以上である前記１つの平面部を除く残りの平面部の半径方向の寸法がいずれも０．１ｍｍ未満である請求項８に記載の光学素子。
- 前記平面部には、光学素子の材料である樹脂又はガラスが露出している請求項１〜９のいずれかに記載の光学素子。
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| JP (1) | JP2005010307A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006118221A1 (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 対物レンズの傾き調整方法、光ピックアップの製造方法、対物レンズの傾き調整装置、光ピックアップ部品、光ピックアップ、及び光情報記録再生装置 |
| JP2008152010A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Fujifilm Corp | 鮮鋭化素子の製造方法 |
| WO2010087068A1 (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-05 | コニカミノルタオプト株式会社 | レンズ及び成形金型 |
| CN102081173A (zh) * | 2009-11-30 | 2011-06-01 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 镜片以及制造该镜片的模具 |
| JP2011207739A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-10-20 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス基板 |
| WO2012164938A1 (ja) * | 2011-05-31 | 2012-12-06 | 三洋電機株式会社 | 光ピックアップ装置および対物レンズ |
| EP3836531A4 (en) * | 2018-08-14 | 2021-09-29 | Ningbo Sunny Opotech Co., Ltd. | OPTICAL LENS, PHOTOGRAPHY MODULE AND ASSOCIATED ASSEMBLY METHODS |
-
2003
- 2003-06-17 JP JP2003172466A patent/JP2005010307A/ja not_active Withdrawn
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006118221A1 (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 対物レンズの傾き調整方法、光ピックアップの製造方法、対物レンズの傾き調整装置、光ピックアップ部品、光ピックアップ、及び光情報記録再生装置 |
| JP2008152010A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Fujifilm Corp | 鮮鋭化素子の製造方法 |
| WO2010087068A1 (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-05 | コニカミノルタオプト株式会社 | レンズ及び成形金型 |
| CN102292657A (zh) * | 2009-01-30 | 2011-12-21 | 柯尼卡美能达精密光学株式会社 | 透镜及成型模具 |
| JPWO2010087068A1 (ja) * | 2009-01-30 | 2012-07-26 | コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 | レンズ及び成形金型 |
| CN102081173A (zh) * | 2009-11-30 | 2011-06-01 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 镜片以及制造该镜片的模具 |
| JP2011207739A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-10-20 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス基板 |
| WO2012164938A1 (ja) * | 2011-05-31 | 2012-12-06 | 三洋電機株式会社 | 光ピックアップ装置および対物レンズ |
| EP3836531A4 (en) * | 2018-08-14 | 2021-09-29 | Ningbo Sunny Opotech Co., Ltd. | OPTICAL LENS, PHOTOGRAPHY MODULE AND ASSOCIATED ASSEMBLY METHODS |
| US20210337093A1 (en) * | 2018-08-14 | 2021-10-28 | Ningbo Sunny Opotech Co., Ltd. | Optical camera lens, camera module and assembly method thereof |
| US11974033B2 (en) | 2018-08-14 | 2024-04-30 | Ningbo Sunny Opotech Co., Ltd. | Optical camera lens, including at least three smooth regions for reflecting a light beam emitted by distance measuring equipment camera module and assembly method thereof |
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