JP2004354367A - 頭部付きネジの検査装置、検査方法及びパンチの欠け検出方法 - Google Patents

頭部付きネジの検査装置、検査方法及びパンチの欠け検出方法 Download PDF

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Abstract

【課題】頭部付きネジの操作穴の不良検出は、ダミービットを差し込んで穴の深さを計る方法でなされているが、この方法は効率が悪いので、画像検査による操作穴の良否検査を可能にする。
【解決手段】頭部付きネジWを頭部が上になる姿勢にして位置決め保持する検査部1と、この検査部の直上に配置するCCDカメラ2と、検査部1とCCDカメラ2との間に配置する環状光源3と、CCDカメラの画像を処理し、処理画像に基づいて良否判定を行う判別装置4とで検査装置10を構成し、環状光源3によりネジの操作穴Aを影ができないように照らしてCCDカメラで操作穴の穴底を鮮明に写すようにした。ネジWの頭頂面の検査も行える。
【選択図】図1

Description

この発明は、頭部付きネジ(この発明で言う頭部付きネジには操作穴の付いたボルトも含まれる)の頭部に形成されている操作穴の良否や頭頂面を光学的に検査する検査装置と検査方法及びその装置を利用してネジの頭部を加工するヘッダのパンチにチッピングが発生したことを検出するパンチの欠け検出方法に関する。
頭部付きネジは、製造後に必要項目について検査を行い、不良品を取り除いて出荷される。その検査項目の中に、ネジの頭部に形成された操作穴の検査がある。ネジの操作穴には、六角、トルクス、四角、十字、十字とマイナスを組み合わせたプラマイ、ハイオス、及び特殊形状の穴がある。
操作穴は、ネジの頭部をヘッダで加工するときに同時に形成されるが、ヘッダのパンチの操作穴形成部の先端に微小な欠け(チッピング)があると、それが穴底に転写されて穴底の一部が盛り上がる。また、ヘッダによる操作穴の加工が正常になされた後に、穴の内部にネジ加工等によって生じた異物が入り込み、この異物が穴底に付着した状態でネジのメッキがなされて異物が穴底に固着して残ることもあり、この場合にも穴底が盛り上がる。
このような欠陥が生じると、操作用のビットが操作穴にうまく嵌まらず、ネジの操作に支障がでたり、無理な操作で穴を潰す等の問題が生じる。従って、穴底に盛り上がり部が生じたネジは検査して取り除く必要がある。
この操作穴の検査は、従来、ダミービットを操作穴に挿入して穴の深さを確認する方法でなされていた。
ダミービットによる検査は処理能力に問題があり、コストも嵩む。そこで、効率の良い画像検査法を採用することを考えた。ところが、従来の画像検査装置では、検査エリアが操作穴の中心部に限定される場合には検査が可能であるが、肝心の欠陥が生じやすい部分の検査が行えないという問題があった。
操作穴の欠陥は穴の中心部ではなく外周部に発生し易い。例えば、上述したヘッダのパンチのチッピングはパンチ先端の外周エッジ部に生じるので、そのチッピングによる操作穴の欠陥は当然に穴の外周部に発生する。
この欠陥が集中する操作穴の外周部を既存の画像検査装置で検査しようとすると、操作穴の外周のエッジ部に影ができ、カメラの画像から穴底の凹凸の違いを見極めることが困難である。欠陥部は凸になっているので、画像検査のためには穴底の凹凸の見極めが必要であり、それが出来なかったために効率の悪いダミービットによる深さ確認の方法を採らざるを得なかったのが実情である。
そこで、この発明は、検査効率を高めるために、従来困難とされてきた画像検査による操作穴の欠陥検出を可能ならしめることを課題としている。
上記の課題を解決するため、この発明においては、検査対象の頭部付きネジを頭部がCCDカメラの側を向く姿勢にして検査部に位置決め保持し、この頭部付きネジの頭部に前記検査部よりもCCDカメラ側にカメラの視野を取り囲むように配置した環状光源から照明光を照射し、この状態で前記カメラにより検査部に配置した前記ネジの頭頂部を写し、得られた画像を処理し、処理後の情報に基づいて前記ネジの頭部に形成された操作穴又はネジの頭頂面の良否判定を行う頭部付きネジの検査方法と、
検査対象の頭部付きネジを頭部がCCDカメラの側を向く姿勢にして位置決め保持する検査部と、この検査部に保持されたネジの頭部に対面させるCCDカメラと、前記検査部とCCDカメラとの間にCCDカメラの視野を取り囲むように配置する環状光源と、CCDカメラの画像を処理し、処理画像に基づいて良否判定を行う判別装置とを有し、前記環状光源から検査部に置かれたネジの頭部に斜め前方から光を照射してネジの頭頂部を前記CCDカメラで写し、得られた画像を処理して前記判別装置でネジの頭部に形成された操作穴又はネジの頭頂面の良否判定を行うようにした頭部付きネジの検査装置を提供する。
また、頭部加工工程から送られてくる頭部付きネジの操作穴又は頭頂面の検査を前述の検査方法又は検査装置を用いて行い、その操作穴又は頭頂面に設定した検査エリアに不良があり、かつ同一検査エリアの不良検出が複数のネジについて連続してなされたときに、ネジの頭部を加工するヘッダのパンチに欠けが発生したと判断するヘッダのパンチの欠け検出方法も併せて提供する。
なお、検査装置は、外周に定ピッチで設けた切り欠溝に検査対象の頭部付きネジを頭部が上を向く姿勢にして受け入れ、垂直軸を支点に回転して前記切り欠溝に受け入れた頭部付きネジを検査部に搬送するターンテーブルと、前記判別装置により良否判定がなされた頭部付きネジを、良品、不良品に分けて前記切り欠溝から取り出す払出し部とをさらに備えさせたものや、
放射状に伸びる周方向に定ピッチで配置された溝を上面の外周部に有し、その溝に検査対象の頭部付きネジを水平向きに、かつ、頭部が外周側になる姿勢にして受け入れ、垂直軸を支点に回転して前記溝に受け入れた頭部付きネジを検査部に搬送するターンテーブルと、前記判別装置により良否判定がなされた頭部付きネジを、良品、不良品に分けて前記切り欠溝から取り出す払出し部とをさらに備えさせたものなどが、効率的な検査を行えて好ましい。
また、検査装置の環状光源は、その中心を検査部の中心とCCDカメラの中心とを結ぶ線上、或いはその線の近くに配置するのがよい。
この発明の検査装置と検査方法は、検査部とCCDカメラとの間に環状光源を配置し、その環状光源からの照射光で検査部に配置した頭部付きネジの頭頂部の照明を行う。環状光源を用いると、点光源による照明で影になる部分にも反対側から光が差し込むので操作穴の外周のエッジ部に影ができない。
また、環状光源からの照明光が操作穴の内部に斜め上方から導入されるので穴底に欠陥の凸部があると、その凸部による影が生じ、穴底の凹凸がカメラの画像に鮮明に現れる。これにより、操作穴の画像検査が可能になり、検査効率が飛躍的に向上する。
なお、この発明の検査装置は、ネジの頭部の頭頂面の良否検査も行える。また、この発明の検査方法や検査装置を使用すれば、ネジの頭部を加工するヘッダのパンチにチッピングや欠けが生じたことを操作穴や頭頂面の検査状況に基づいて早期に発見することも可能になる。そのための方法に関する詳細説明は次項で行う。
図1及び図2に、この発明の検査装置の実施形態を示す。図1の1は、検査対象の頭部付きネジWを位置決めして保持する検査部、2は検査部1の直上に配置したCCDカメラ、3は検査部1とCCDカメラ2との間に配置した環状光源、4はCCDカメラ2で写した画像を処理して操作穴の良否判定を行う判別装置であり、この4者によって検査装置10が構成されている。
この検査装置10は、回転テーブル5を使用した図2の選別機13などに組み込まれる。図2の選別機13は、垂直軸5bを支点にして回転させる回転テーブル5の外周に、頭部付きネジW(以下単にネジWと記す)の軸部を半径方向に入り込ませる切欠き溝5aを周方向に定ピッチで設けており、供給部6において切欠き溝5aにネジWを導入する。そして、テーブル5の上面でそのネジWの頭部を受け支え、この状態でテーブル5を間欠回転或いは連続回転させて軸部の長さ検査を行う検査部7や、図1の検査装置10で操作穴の良否検査を行う検査部1(選別機の検査部は、必要に応じてその数を増減させることができる)などにネジWを送り込むようになっている。
また、最終検査部を通過したネジWは、払出し部8において良品と不良品に分けて回転テーブル5から取り出すようにしてある。図2の9は、ネジWの脱落防止のために供給部6から払出し部8の手前までの区間において切欠き溝5aの入口を塞ぐガイドプレートである。なお、払出し部8の払出し手段は図示のアクチュエータ8aに限定されない。エアーの吹き付けによる払出しも可能である。
CCDカメラ2は、検査部1に搬入されたネジWの頭部を真上から撮影する。
また、図示の環状光源3は、リング3aの下部に多数の発光ダイオード(LED)3bを設けて構成されている。この環状光源3は、検査部1の中心とCCDカメラ2の中心を結ぶ線(センターラインC)上、あるいはその近くに中心を置くと、周方向の全域から検査部1に向けて平均的に光を照射することができる。
図3に、検査部1に置かれたネジWの頭部に環状光源3からの照明光Lを当てた様子を模式化して示す。図中2aは、CCDカメラ2のレンズを表す。点光源を用いた照明であると、ネジWの頭部に形成された操作穴Aの深さや光源からの投光角によっては照明光Lが操作穴Aの穴縁に遮られて穴底に届かない箇所(図3のハッチングを入れた部分)が生じ、その部分に影ができるが、環状光源を用いれば影となる部分も反対方向からの光によって明るく照らされるので影ができない。従って、カメラの画像に穴底が鮮明に現れる。また、穴底に対して照明光が斜め上方から差し込むので、穴底に欠陥(凸)があるとその部分に欠陥による影ができる。
CCDカメラ2で捕らえた正常な操作穴Aの画像を図4(a)に、また、ヘッダのパンチにチッピングが発生してそれによる欠陥Bが穴底に生じた操作穴Aの画像を図4(b)にそれぞれ示す。図4(b)の画像に現れた欠陥Bは、操作穴Aの外周側に偏っており、凹凸ができている。この欠陥Bの位置には欠陥のある側から照射された光は殆ど届かないが、反対側からの光は遮られずに差込む。そのため、欠陥発生部に正常な操作穴の画像には見られない影ができており、この影の有無によって穴底の欠陥の有無即ち操作穴Aの良否を見分けることができる。
判別装置4は、CCDカメラ2で写した画像を二値化処理する画像処理部を有している。また、図4(b)に丸枠で囲んだ検査エリアaを設定する機能と、処理後の画像から検査エリアaに欠陥が有るか否かを判定する機能を有している。
図3に示した操作穴Aは、図5に示すトルクスネジの操作穴であり、操作用ビットの凸部が係合する6ヵ所の溝を有している。操作穴Aの欠陥はその溝の部分に発生する可能性が高く、検査エリアaを図4(b)の丸枠で囲んだ位置に設定することでその欠陥を確実に見つけ出して欠陥品を排除することができる。
この発明の検査装置は、ネジの頭部に形成された操作穴の良否を上述したように画像検査によって行うことができ、検査効率を大きく向上させることが可能になる。例えば、図2の選別機を使った連続検査では、ダミービットを使用して行う手作業に比較してトルクスネジで約3倍、十字ネジで約6倍の数の処理が可能であった。
また、この発明の検査装置を頭部付きネジの製造ラインの中に配置して頭部加工工程から順次送られて来るネジの頭部の操作穴の良否検査を行うと、ネジの頭部を加工するヘッダのパンチにチッピングが生じたことを早期に発見することができる。
ヘッダのパンチは、ストロークを管理しているので、ストローク変化を伴う大きな欠損が生じると欠損したことが分かるが、ストロークに影響が出ない微小チッピングはヘッダを運転している間は確認することができない。その確認ができるまでの間、高速作動するヘッダの運転を続けると、欠陥品を大量に発生させることになり好ましくない。
そこで、この発明の検査装置を利用する。操作穴に設定した検査エリアに不良があり、かつ同一検査エリアの不良検出が複数のネジについて連続してなされた場合、ヘッダのパンチに欠けが発生したと考えてよく、この方法でヘッダのパンチの欠けを早期に知ることができる。なお、ヘッダで頭部を加工した直後のネジは加工油が付着しているので、この発明の装置でヘッダを通過した直後に操作穴の画像検査を行う場合には穴底に付着した加工油や異物をエアーなどで吹き払って検査を行うのがよい。
図6に、頭部付きネジの生産管理システムの一例を示す。図の11はネジメーカの工場、12は工場内に設けられた頭部付きネジの製造装置、13はこの発明の検査装置を含む製品の選別機、14は箱詰めベルトコンベア、15は製造工場の事務所に設けられたパソコン(パーソナルコンピュータ)、16はメーカの本社に設けたパソコン、17は選別機13のメンテナンスを行う会社(選別機の納入メーカ等)の選別機管理用パソコンである。
製造装置12は、材料の定尺切断、ヘッダによる頭部加工、ねじ切りなどを行う。また、選別機13は製造された頭部付きネジの良否検査を行って、良品と不良品を選り分ける。
製造装置12、選別機13は社内LAN回線18を介してパソコン15に繋がれ、さらにパソコン15、16はインターネット回線を通じて情報をやり取りするようにしており、パソコン15、16により生産状況、在庫状況などの一括管理がなされる。また、営業マンは、ノートパソコンや携帯端末(PDA)などを使って本社のパソコンにアクセスし生産状況や在庫状況を把握できるようにしている。
この様な生産システムであれば、製造されたネジの操作穴の不良発生状況からヘッダのパンチのチッピングを早期に検出することができる。また、装置停止などの他のトラブルも分かり、そのトラブルを装置のオペレータに携帯電話19等を通じて知らせることができる。
なお、ここではトルクスネジを例に挙げて説明を行ったが、この発明の装置は、六角穴、四角穴、十字穴、プラマイ、ハイオスあるいは特殊形状の穴を有するネジの検査やネジの頭部の頭頂面の良否検査にも利用することができる。頭頂面を検査するネジは、操作穴の有無を問わない。
また、ネジの検査は、メッキ処理後に行ってもよい。
さらに、ネジの検査は、検査対象のネジWを図7に示すように水平に保持して行うこともできる。図7の検査装置20は、放射状に伸びる溝25aを上面の外周部に周方向に定ピッチで設けた回転テーブル25を備えている。溝25aは、図示のV溝が好ましい。
この回転テーブル25の上面の溝25aに検査対象のネジWを水平向きにして、かつ、頭部が外周側に来る向きにして落とし込み、回転テーブル25を垂直軸25bを支点に回転させてこの回転テーブル25で保持したネジWを検査部1に送り込むようにしている。
検査部1と、ネジWの頭部に対面させるCCDカメラ2と、そのCCDカメラ2と回転テーブル25との間に配置する環状光源3は、ここでは水平なセンターラインC上に配置しており、この装置でも、図2の検査装置と同様の検査を行うことができる。
なお、ネジWを水平に保持して検査する場合のネジの搬送手段は、図示の回転テーブルに限定されない。例えば、ベルトコンベヤに代表される無端軌道搬送装置の搬送面上に平行配置のV溝などを設け、その溝にネジを入れて保持し、そのネジの頭部の検査を搬送途中に行うこともできる。
この発明の検査装置の全体の概要を示す図 図1の装置を組み込んだ選別機の概要を示す平面図 (a)はこの発明の検査装置による照明原理の説明図、(b)は操作穴の照明状態を拡大して示す図 (a)はCCDカメラで捕らえた正常な操作穴の画像を示す図、(b)はCCDカメラで捕らえた異常操作穴の画像を示す図 (a)はトルクスネジの頭部破断側面図、(b)はトルクスネジの頭部の平面図 頭部付きネジの生産システムの一例を示す図 (a)は検査装置の他の実施形態の全体の概要を示す断面図、(b)は回転テーブルに設けた溝の斜視図。
符号の説明
1 検査部
2 CCDカメラ
3 環状光源
4 判別装置
5、25 回転テーブル
6 供給部
7 長さ検査部
8 払出し部
9 ガイドプレート
10、20 検査装置
W 頭部付きネジ
A 操作穴
B 欠陥
C センターライン
a 検査エリア

Claims (5)

  1. 検査対象の頭部付きネジを頭部がCCDカメラの側を向く姿勢にして検査部に位置決め保持し、この頭部付きネジの頭部に前記検査部よりもCCDカメラ側にカメラの視野を取り囲むように配置した環状光源から照明光を照射し、この状態で前記カメラにより検査部に配置した前記ネジの頭頂部を写し、得られた画像を処理し、処理後の情報に基づいて前記ネジの頭部に形成された操作穴又はネジの頭頂面の良否判定を行う頭部付きネジの検査方法。
  2. 検査対象の頭部付きネジを頭部がCCDカメラの側を向く姿勢にして位置決め保持する検査部と、この検査部に保持されたネジの頭部に対面させるCCDカメラと、前記検査部とCCDカメラとの間にCCDカメラの視野を取り囲むように配置する環状光源と、CCDカメラの画像を処理し、処理画像に基づいて良否判定を行う判別装置とを有し、前記環状光源から検査部に置かれたネジの頭部に斜め前方から光を照射してネジの頭頂部を前記CCDカメラで写し、得られた画像を処理して前記判別装置でネジの頭部に形成された操作穴又はネジの頭頂面の良否判定を行うようにした頭部付きネジの検査装置。
  3. 外周に定ピッチで設けた切り欠溝に検査対象の頭部付きネジを頭部が上を向く姿勢にして受け入れ、垂直軸を支点に回転して前記切り欠溝に受け入れた頭部付きネジを検査部に搬送するターンテーブルと、前記判別装置により良否判定がなされた頭部付きネジを、良品、不良品に分けて前記切り欠溝から取り出す払出し部とをさらに備えさせた請求項2に記載の頭部付きネジの検査装置。
  4. 放射状に伸びる周方向に定ピッチで配置された溝を上面の外周部に有し、その溝に検査対象の頭部付きネジを水平向きに、かつ、頭部が外周側になる姿勢にして受け入れ、垂直軸を支点に回転して前記溝に受け入れた頭部付きネジを検査部に搬送するターンテーブルと、前記判別装置により良否判定がなされた頭部付きネジを、良品、不良品に分けて前記切り欠溝から取り出す払出し部とをさらに備えさせた請求項2に記載の頭部付きネジの検査装置。
  5. 頭部加工工程から送られてくる頭部付きネジの操作穴又は頭頂面の検査を請求項2〜4のいずれかに記載の検査装置を用いて行い、その操作穴又は頭頂面に設定した検査エリアに不良があり、かつ同一検査エリアの不良検出が複数のネジについて連続してなされたときに、ネジの頭部を加工するヘッダのパンチに欠けが発生したと判断するヘッダのパンチの欠け検出方法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101038739B1 (ko) * 2010-11-30 2011-06-02 주식회사 서울금속 나사 검사 장비
KR101039099B1 (ko) 2010-11-30 2011-06-03 주식회사 서울금속 나사 이송 장치
JP4816817B2 (ja) * 2009-12-17 2011-11-16 住友金属工業株式会社 管状品の検査装置
WO2012070743A1 (ko) * 2010-11-25 2012-05-31 주식회사 서울금속 부품 공급장치 및 부품 검사장비
JP2013221922A (ja) * 2012-04-19 2013-10-28 Dai Ichi High Frequency Co Ltd 鉄筋端部測定装置及び鉄筋端部測定方法
JPWO2014171285A1 (ja) * 2013-04-18 2017-02-23 株式会社ユタカ 軸体の良否検査装置

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7154080B1 (en) * 2005-01-13 2006-12-26 Dick Rauth System and method for detecting the efficacy of machined parts
KR100804318B1 (ko) * 2006-04-26 2008-02-15 한전케이피에스 주식회사 스터드 홀 자동화 크리닝, 검사 및 이력 관리 시스템
TWM323343U (en) * 2007-03-12 2007-12-11 Wu Jiun Nan Improvement for imaging apparatus of device examination
KR100775033B1 (ko) * 2007-03-15 2007-11-08 주식회사 엠비젼 휴대용 보안인쇄물 진위 식별기
CN101342537B (zh) * 2007-07-10 2010-06-30 韩电Kps株式会社 用于自动清洁和检查柱螺栓孔并管理柱螺栓孔历史的系统
US9116133B2 (en) * 2010-03-09 2015-08-25 Federal-Mogul Corporation Bore inspection system and method of inspection therewith
US8570504B2 (en) 2011-05-17 2013-10-29 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting parts
US10094785B2 (en) 2011-05-17 2018-10-09 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting headed manufactured parts
US9697596B2 (en) 2011-05-17 2017-07-04 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting parts
US9575013B2 (en) 2011-05-17 2017-02-21 Gii Acquisition, Llc Non-contact method and system for inspecting a manufactured part at an inspection station having a measurement axis
US10088431B2 (en) 2011-05-17 2018-10-02 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting headed manufactured parts
US9372160B2 (en) 2011-05-17 2016-06-21 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting the ends of a manufactured part at a single inspection station having a measurement axis
US9047657B2 (en) 2011-05-17 2015-06-02 Gii Acquisition, Lcc Method and system for optically inspecting outer peripheral surfaces of parts
US10209200B2 (en) * 2012-03-07 2019-02-19 Gil Acquisition, LLC High-speed, 3-D method and system for optically inspecting parts
US10207297B2 (en) 2013-05-24 2019-02-19 GII Inspection, LLC Method and system for inspecting a manufactured part at an inspection station
US10300510B2 (en) 2014-08-01 2019-05-28 General Inspection Llc High speed method and system for inspecting a stream of parts
CN104209272B (zh) * 2014-08-28 2016-10-19 深圳市天麟精密模具有限公司 一种根据图像信息进行产品分拣的设备
CN107741606B (zh) * 2017-08-31 2019-02-22 江苏宜润智能装备产业创新研究院有限公司 一种塑料热铆接组装监测方法及装置
WO2020046917A1 (en) * 2018-08-27 2020-03-05 Ascend Robotics LLC Automated construction robot systems and methods
CN110595745B (zh) * 2019-04-26 2021-05-07 深圳市豪视智能科技有限公司 针对设备的固定螺丝异常的检测方法及相关产品

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5165551A (en) * 1990-03-30 1992-11-24 Automation Associates, Inc. Apparatus and method for detecting defects in an article
US6228169B1 (en) * 1999-05-18 2001-05-08 Nd Industries, Inc. Method and apparatus for application of 360° coatings to articles
JP3184183B2 (ja) * 1999-06-04 2001-07-09 株式会社ユタカ 扁平ワークの検査装置
US6761126B2 (en) * 2001-05-21 2004-07-13 Nylok Corporation Apparatus for application of polymer resin onto threaded fasteners
US20020180959A1 (en) * 2001-05-30 2002-12-05 Hiroshi Nakajima Optical system for detecting surface defects and disk tester and disk testing method utilizing the same optical system
US6620246B2 (en) * 2001-06-14 2003-09-16 Nylok Corporation Process controller for coating fasteners
US7364043B2 (en) * 2003-12-30 2008-04-29 Zen Voce Manufacturing Pte Ltd Fastener inspection system

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4816817B2 (ja) * 2009-12-17 2011-11-16 住友金属工業株式会社 管状品の検査装置
WO2012070743A1 (ko) * 2010-11-25 2012-05-31 주식회사 서울금속 부품 공급장치 및 부품 검사장비
KR101038739B1 (ko) * 2010-11-30 2011-06-02 주식회사 서울금속 나사 검사 장비
KR101039099B1 (ko) 2010-11-30 2011-06-03 주식회사 서울금속 나사 이송 장치
JP2013221922A (ja) * 2012-04-19 2013-10-28 Dai Ichi High Frequency Co Ltd 鉄筋端部測定装置及び鉄筋端部測定方法
JPWO2014171285A1 (ja) * 2013-04-18 2017-02-23 株式会社ユタカ 軸体の良否検査装置
US9965839B2 (en) 2013-04-18 2018-05-08 Yutaka Co., Ltd. Apparatus for quality inspection of shafts

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