JP2004348332A - コンピュータ装置、当該コンピュータ装置を備える部品実装装置、記憶装置の寿命診断方法、及びハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータと基準値とを比較し、当該比較の結果、上記動作不良パラメータが上記基準値を超過している場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う。
【選択図】図6
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、生産設備等における制御を担うコンピュータ装置が備える記憶装置のその機能的な寿命の予測診断を行なうコンピュータ装置及び記憶装置の寿命診断方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の生産設備、例えば部品実装装置などに搭載されるコンピュータ装置は、その内部に、磁気ディスクを記録媒体として有する大容量の記憶装置であるハードディスクドライブユニット(以下、HDDユニットと略す)を搭載している。このようなHDDユニットは、当該生産設備に搭載されていることにより、生産に伴う外部よりの振動等の影響を受け、その機能的な動作を行うことができる寿命が短縮化されたり、場合によっては、破壊される可能性もある一方、当該生産設備における生産を連続的に安定して行なうための安定性が要求されている。このような要求に応えるべく、このような従来のコンピュータ装置においては、予備用のHDDユニットが備えられ、合計2台のHDDユニットが搭載されているものがある。(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
このような従来のコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図を図1に示す。図1に示すように、コンピュータ装置100は、ハードディスク制御回路101、生産設備の稼動において必要となる基本OSや生産情報、及び当該設備を稼動させるプログラム等のデータが読み取り可能に記憶されるHDDユニットの一例である基本ドライブ102、基本ドライブ102と全く同様の生産設備の稼動において必要となる基本OSや生産情報、及び当該設備を稼動させるプログラム等のデータが読み取り可能に記憶される予備用のHDDユニットの一例であるバックアップ用ドライブ103、基本ドライブ102とバックアップ用ドライブ103のドライブユニット選択回路104、主メモリ105、中央処理装置106、及び外部入出力制御回路107を備えている。また、コンピュータ装置100には、外部入出力制御回路107を介して、外部表示装置108及び外部入力装置109が接続されている。
【0004】
このような構成のコンピュータ装置100においては、基本ドライブ102内部に記憶されているデータであって上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取るとともに、一時的に主メモリ105に記憶させて、当該記憶されたデータを中央処理装置106で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路107に送信して、外部表示装置108で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、外部表示装置108で通知された情報から、必要な情報を外部入力装置109で入力する。中央処理装置106は、外部入力装置109で入力された情報を解読して、主メモリ105に格納されるデータを参照し、演算処理に必要なデータが主メモリ105内に存在しない場合、基本ドライブ102に格納されているデータを主メモリ105に再び読み取って解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置108に表示する手順を繰り返して行なう。また、主メモリ105で演算された結果は、必要に応じて、基本ドライブ102に書き込まれて記憶される。通常、基本ドライブ102において正常な記憶動作が行われているような場合には、図1に示すように、基本ドライブ102とバックアップ用ドライブ103のドライブユニット選択回路104は、接点104−1側にスイッチが選択された状態で、上記夫々の手順が繰り返し行なわれる。これに対して、上記生産設備の稼動時、又は上記生産設備の搬送時等に生じる外部からの振動や温湿度等によって、基本ドライブ102が破損し、その機能が果たせなくなったような場合にあっては、コンピュータ装置100は稼動停止となる。この場合、基本ドライブ102とバックアップ用ドライブ103のドライブユニット選択回路104のスイッチが接点104−2側に切り換えられて選択されることにより、上記破損した基本ドライブ102に代わって、バックアップ用ドライブ103を使用することが可能となり、上記稼動停止していたコンピュータ装置100を、復旧させることができる。
【0005】
また、従来の生産設備などに搭載されるコンピュータ装置には、その内部に、大容量の記憶装置として、シリコンディスクドライブユニット(以下、SDDユニットと略す)が搭載されているものもある。SDDユニットは、内部の記録媒体としてフラッシュメモリを使用しているが、このようなフラッシュメモリは、その特性上、データの書込み回数に制約を有しているものの、最大限にその機能を活用するために、当該制約の中で上記書き込み回数を最大限に延長されている場合が多い。
【0006】
このようなコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図を図2に示す。なお、図2においては、上述した図1のコンピュータ装置100と同じ構成を有する部分については、同じ符号を用いている。図2に示すように、コンピュータ装置110は、シリコンディスク制御回路111、SDDユニット112、主メモリ105、中央処理装置106、外部入出力制御回路107を備えている。
【0007】
このようなコンピュータ装置110においては、SDDユニット112の内部に読み取り可能に記憶されているデータであって、上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取って、一時的に主メモリ105に記憶させ、当該記憶されたデータを中央処理装置106で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路107に送信し、外部表示装置108で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、外部表示装置108で通知された情報から、必要な情報を外部入力装置109で入力する。中央処理装置106は、外部入力装置109で入力された情報を解読して、主メモリ105に記憶されているデータを参照し、これらのデータの中に演算処理に必要なデータが存在しない場合には、SDDユニット112に記憶されているデータを主メモリ105に再び読み取って、解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置109に表示するという手順を繰り返して行なう。また、主メモリ105で演算された結果は必要に応じて、SDDユニット112に書き込にで記憶させる。
【0008】
ここで、図2を用いて、SDDユニット112の内部構造について説明する。SDDユニット112は、複数のブロックと呼ばれる記憶領域を有し、かつ、データの書き込みによる記憶の際に、これらのブロック単位でデータの書き換えを行うフラッシュメモリを記録媒体としている。また、図2に示すように、SDDユニット112は、上記記録媒体であって、上記データの一例であるファイルデータを記憶するメモリ部の一例であるデータメモリ112−5と、上記記録媒体であって、データメモリ112−5への上記データの書き込み動作の動作エラー(動作不良)が発生した場合に、データメモリ112−5における上記動作エラーの発生したブロックに代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部の一例であるバッファメモリ112−3と、データメモリ112−5の上記動作エラーの情報を記憶するエラーメモリ部の一例であるエラーメモリ112−4とを備えている。さらに、SDDユニット112は、データメモリ112−5、バッファメモリ112−3、及びエラーメモリ112−4に対するデータの読み取り動作、書き込み動作、及び消去動作を行うメモリ制御部の一例であるメモリコントローラ112−2と、このメモリコントローラ112−2を制御するマイコン112−1とを備えている。
【0009】
このようなSDDユニット112においては、コンピュータ装置110の中央処理装置106で演算された結果を、SDDユニット112にデータメモリ112−5にブロック単位で書き込み動作を行う際に、このデータメモリ112−5への上記書き込み動作の動作エラーが発生した場合には、データメモリ112−5内における上記書き込み不良を起こしたブロックのアドレスをエラーメモリ112−4に記憶させるとともに、バッファメモリ112−3にブロック単位で当該データを書き込むことにより、SDDユニット112の寿命の延命を行うことができる。
【0010】
【特許文献1】
特開平11−249824号公報
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述のようなコンピュータ装置100における基本ドライブ102のようなHDDユニットは、データの入出力を行う制御部と磁気ディスクにデータを書き込む機構部で構成され、長期間HDDユニットを使用すると機構部の劣化が生じ、データの入出力を行うことができなくなるという問題がある。
【0012】
当該HDDユニットの模式的な内部構造を示す模式説明図を図3(A)に示し、このような問題について図3(A)を用いて説明する。図3(A)に示すように、HDDユニット120は、データの入出力を行う制御基板121、記録媒体である円盤状の磁気ディスク125、この磁気ディスク125を高速に回転させるモータ124、磁気ディスク125にその円周方向に沿って形成された複数の線状のデータ記憶位置(領域)であるトラックに対して、データを読み取り動作及び書き込み動作を行うヘッド部の一例であるヘッド123、このヘッド123を制御基板121から指定されたトラック位置に移動させることにより、上記指定されたトラック位置とヘッド123との位置合わせを行なうアクチュエータ122とを備えている。
【0013】
このようなHDDユニット120を、図1に示す基本ドライブ102と同視して説明すると、HDDユニット120における制御基板121は、図1のコンピュータ装置100内のハードディスク制御回路101との間で送受信されるデータを一時的に記憶する一時記憶メモリ121−2と、磁気ディスク125のデータ制御を行うメモリコントローラ121−3と、磁気ディスク125に対するデータの読み込み動作又は書き込み動作の解読を行なうとともに、アクチュエータ122の動作を制御して、指定のトラック位置に高速にヘッド123を移動させることにより、上記指定のトラック位置とヘッド123との位置合わせを行なって、読み込み動作又は書き込み動作の制御を行うメモリコントローラ121−3とを備えている。
【0014】
また、ここで、HDDユニット120における磁気ディスク125の部分拡大模式説明図を図3(B)に示す。図3(B)に示すように、磁気ディスク125とモータ124の間には、微小な大きさのボールベアリング126が複数配置されており、これらのボールベアリング126は、円盤状の磁気ディスク125を保持しながらその高速かつ同心円上の回転を案内する役割を担っている。このようにボールベアリング126が備えられていることにより、HDDユニット120において、磁気ディスク125の上記回転は、同心円上の軌跡127を描くことができるが、HDDユニット120を長期間使用するとボールベアリング126が摩耗し、摩耗が進行するにしたがって、上記磁気ディスク125の保持位置に位置ズレが生じて、上記同心円上の軌跡127に位置ズレが生じるようになり、図3(B)に示すような位置ズレが発生した軌跡128を描くようになる。このような場合にあっては、マイコン121−1は、ヘッド123を正常のトラック位置に移動させることが困難となる。さらに、ボールベアリング126の摩耗が任意の状態に進行すると、ヘッド123と上記トラック位置との位置合わせに障害を来たし、マイコン121−1が位置合わせを行なおうとするトラック位置とは異なるトラック位置のデータを読み書きすることとなり、HDDユニット120は、読み書きできなくなってしまうという問題点がある。
【0015】
また、コンピュータ装置110に備えられているSDDユニット112は、フラッシュメモリのデータの読み取り動作をDRAMやSRAMと同様にバイトやワード単位の小さいデータ単位で自由に行なうことが可能であるが、書き込み動作については、その特性上、書き換え回数に制限がある。従って、Windows(登録商標)系のOSの下で使用する場合、ディレクトリやFAT領域のような領域は他の領域に比べて書き換え回数が多いので、ディレクトリやFAT領域に使用されるフラッシュメモリの特定のブロックのみが、当該フラッシュメモリの書き換え回数の制限を越える可能性が高い。上記ブロックで上記書き換え回数の制限を超えるような場合が生じて異常が発生した場合には、SDDユニット112は、代替となるブロックにデータを書き換えるが、代替となるブロックの個数は有限である。よって、当該代替となる全てのブロックが繰り返し使用された結果、上記書換え回数の制限を越えた場合には、SDDユニット112は、読み書きできなくなってしまうという問題がある。
【0016】
このようなHDDユニット120やSDDユニット112等の記憶装置を搭載したコンピュータ装置を生産設備等で使用した場合、上述のような要因で読み書きができなくなり、HDDユニット120やSDDユニット112の寿命が尽きてしまったような場合には、コンピュータ装置を正常に作動させることができず、当該生産設備の稼動において致命的な障害を与えることになるという問題がある。
【0017】
従って、本発明の目的は、上記問題を解決することにあって、ハードディスクドライブユニットやシリコンディスクドライブユニット等の記憶装置を搭載したコンピュータ装置が、上記記憶装置の寿命が尽きて使用できなくなるという致命的な障害を回避することができるコンピュータ装置、当該コンピュータ装置を備える部品実装装置、記憶装置の寿命診断方法、及びハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラムを提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成する。
【0019】
本発明の第1態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置と、上記記憶装置への上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置とを備えるコンピュータ装置において、
上記中央処理装置による上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段を備えることを特徴とするコンピュータ装置を提供する。
【0020】
本発明の第2態様によれば、上記記憶装置は、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニットであって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第1態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0021】
本発明の第3態様によれば、上記記憶装置は、上記磁気ディスクにおけるデータ記憶位置との位置合わせを行なうことにより、上記データの書き込み動作又は上記読み取り動作を行うヘッド部を備え、
上記計測されるデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間は、上記ハードディスクドライブユニットの使用時間の経過に伴って生じる上記磁気ディスクの保持位置の位置ズレによって増加する、上記データ記憶位置と上記ヘッド部との位置合わせに要する時間を含んでいる第2態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0022】
本発明の第4態様によれば、上記基準値は、上記ハードディスクドライブユニットにおける単位データ量当りの書き込み動作又は読み取り動作に要する初期時間の2倍以上の時間である第2態様又は第3態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0023】
本発明の第5態様によれば、上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニットであって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第1態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0024】
本発明の第6態様によれば、上記シリコンディスクドライブユニットは、
上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部への上記データの書き込み動作の動作不良が発生した場合に、上記メモリ部に代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部と、
上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生を検出可能であって、当該検出が行なわれると、上記データの上記予備メモリ部への書き込み動作の実行と、上記エラーメモリ部へ上記書き込み動作の動作不良の発生回数の記憶動作の実行との夫々の動作制御を行なうメモリ制御部とを備え、
上記寿命診断手段は、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記寿命予測通知を行なう第5態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0025】
本発明の第7態様によれば、上記基準値は、上記メモリ部が有する夫々の上記ブロック数に基づいて設定される第6態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0026】
本発明の第8態様によれば、連続的に順次供給される複数の基板に対して、複数の部品を実装する部品実装装置における部品実装動作の制御を行う制御装置として、第1態様から第7態様のいずれか1つに記載のコンピュータ装置を備える部品実装装置であって、
上記制御装置は、上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の結果である上記寿命予測通知を、上記部品実装装置の作業者に認識可能に表示する表示部を備えていることを特徴とする部品実装装置を提供する。
【0027】
本発明の第9態様によれば、上記順次供給される基板を検出可能であり、当該検出により基板供給信号を上記コンピュータ装置に出力する基板供給検出部をさらに備え、
上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に上記基板供給検出部から入力される上記基板供給信号に基づいて、上記寿命診断処理を実行するとともに、上記供給された基板への部品実装動作の制御を開始する第8態様に記載の部品実装装置を提供する。
【0028】
本発明の第10態様によれば、上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に入力される基板供給信号の入力回数を積算可能であって、当該入力回数が基準回数に達した場合に、上記寿命診断処理を実行する第9態様に記載の部品実装装置を提供する。
【0029】
本発明の第11態様によれば、上記コンピュータ装置は、上記基準値に対する上記動作不良パラメータの近接度を検出可能であって、当該検出される近接度の増大に従って、上記基準回数を減少させる第10態様に記載の部品実装装置を提供する。
【0030】
本発明の第12態様によれば、上記基準値は、段階的に設定された複数の基準値であって、
上記寿命診断手段は、上記夫々の基準値のうちのいずれの基準値を超過しているかを認識可能に上記寿命予測通知を行ない、
上記表示部は、上記寿命予測通知に基づいて、上記記録装置の残りの予測寿命を、上記作業者に認識可能に表示させる第8態様から第11態様に記載の部品実装装置を提供する。
【0031】
本発明の第13態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置の寿命診断方法であって、
上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、
当該計測された上記動作不良パラメータと基準値とを比較し、
当該比較の結果、上記動作不良パラメータが上記基準値を超過している場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことを特徴とする記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【0032】
本発明の第14態様によれば、上記記憶装置は、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニットであって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第13態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【0033】
本発明の第15態様によれば、上記データの書き込み動作に要する時間を計測し、
上記計測された書き込み動作に要する時間が、上記基準値を超過しているかどうかを判断するとともに、
上記書き込まれたデータを読み取り、当該読み取られたデータと上記書き込まれるべきデータとが一致しているかどうかを照合し、
上記基準値が超過していると判断されるか、又は、上記夫々のデータが一致していないかのいずれか一方に該当する場合に、上記寿命予測通知を行なう第14態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【0034】
本発明の第16態様によれば、上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニットであって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第13態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【0035】
本発明の第17態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するハードディスクドライブユニットと、上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置とを備えるコンピュータ装置に、
上記中央処理装置による上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作又は上記ハードディスクドライブユニットよりの上記データの読み取り動作に要する時間を計測する手順と、
上記計測された書き込み動作に要する時間又は上記読み取り動作に要する時間が、基準値を超過しているかどうかを判断する手順と、
当該判断の結果、上記超過していると判断した場合に、上記ハードディスクドライブユニットの寿命予測通知を行なう手順とを、実行させるためのハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラムを提供する。
【0036】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【0037】
(第1実施形態)
本発明の第1の実施形態にかかるコンピュータ装置200の模式的な構成を示すブロック図を図4に示す。なお、以降の説明において、コンピュータ装置200の構成のうち、従来のコンピュータ装置100の構成と同一の構成を有する部分については、その説明の理解を容易とすることを目的として、同じ符号を用いている。また、コンピュータ装置200は、主に生産設備において制御装置として(あるいはその一部として)用いられる装置であり、例えば、このような生産装置の一例としては、複数の部品を基板に実装する部品実装を行う部品実装装置がある。
【0038】
図4に示すように、コンピュータ装置200は、ハードディスク制御回路101と、基本OSやプログラム等のデータが読み取り可能に書き込まれて格納(記憶)される記憶装置の一例であるハードディスクドライブユニット(以降、HDDユニットという)120と、主メモリ105と、中央処理装置106と、外部入出力制御回路107とを備えている。また、コンピュータ装置200には、外部入出力制御回路107を介して、外部表示装置108(例えば、モニタ等)及び外部入力装置109(例えば、キーボード等)が接続されている。
【0039】
また、図4に示すように、HDDユニット120は、その記憶機能を担う記録媒体として、円盤状の磁気ディスク125を有しており、この磁気ディスク125に対するデータの入出力を行う制御基板121と、この磁気ディスク125を高速に回転させる回転駆動部の一例であるモータ124と、磁気ディスク125の円周方向に沿って形成された複数の線状(あるいは、細い帯状)のデータ記憶位置(領域)であるトラックに対してデータの読み取り動作及び書き込み動作を行なうヘッド123(ヘッド部の一例である)と、このヘッド123を制御基板121から指定されたトラック位置(すなわち、上記データ記憶位置)に移動させることにより、上記指定されたトラック位置とヘッド123との位置合わせを行なう位置決め装置の一例であるアクチュエータ122とを備えている。
【0040】
また、HDDユニット120における制御基板121は、コンピュータ装置200内のハードディスク制御回路101との間で送受信されるデータを一時的に記憶する一時記憶メモリ121−2と、磁気ディスク125のデータ制御を行うメモリコントローラ121−3と、磁気ディスク125に対するデータの読み込み動作又は書き込み動作の解読を行なうとともに、アクチュエータ122の動作を制御して、指定のトラック位置に高速にヘッド123を移動させることにより、上記指定のトラック位置とヘッド123との位置合わせを行なって、読み込み動作又は書き込み動作の制御を行うメモリコントローラ121−3とを備えている。
【0041】
さらに、図4に示すように、磁気ディスク125とモータ124の間には、微小な大きさのボールベアリング126が複数配置されており、これらのボールベアリング126は、円盤状の磁気ディスク125を保持するとともに、その高速かつ同心円上の回転を案内する役割を担っている。
【0042】
このような構成のコンピュータ装置200においては、HDDユニット120の磁気ディスク125の内部に記憶されているデータより、上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取るとともに、一時的に主メモリ105に記憶させて、当該記憶されたデータを中央処理装置106で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路107に送信して、外部表示装置108で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、例えば、外部表示装置108で通知された情報から、あるいは、当該通知された情報に基づいて、必要な情報を外部入力装置109で入力する。中央処理装置106は、外部入力装置109で入力された情報を解読して、主メモリ105に格納されるデータを参照し、演算処理に必要なデータが主メモリ105内に存在しない場合、HDDユニット120の磁気ディスク125の内部に格納されているデータを主メモリ105に再び読み取って解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置108に表示する。このような手順を繰り返して行なうことにより、上記生産設備における制御が行なわれる。また、主メモリ105で演算された結果や、外部から入力されたデータ等は、必要に応じて、中央処理装置106により、HDDユニット120の磁気ディスク125の未使用領域のトラックに対して書き込まれ、また、当該書き込まれたデータ等は、必要に応じて、読み込み動作が行なわれる。
【0043】
次に、このような構成及び動作を行うコンピュータ装置200におけるHDDユニット120のその記憶装置としての寿命を予測診断する寿命診断方法について説明する。
【0044】
コンピュータ装置200は、このような寿命診断を行なう寿命診断手段を備えている。この寿命診断手段は、中央処理装置106によるHDDユニット120へのデータの書き込み動作、又は、HDDユニット120よりのデータの読み取り動作の実行におけるHDDユニット120の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、当該処理実行の結果、上記基準値を超過していると判断する場合に、HDDユニット120の寿命予測通知を行うという機能を有している。
【0045】
HDDユニット120は、その使用期間の経過とともに、磁気ディスク125の回転を案内するボールベアリング126が磨耗し、当該磨耗の進行に伴って、ボールベアリング126による磁気ディスク125の保持位置に位置ズレが生じ、磁気ディスク125の上記同心円上の回転を維持することができなくなる。このような場合にあっては、データが読み取られるべきトラック位置若しくはデータが書き込まれるべきトラック位置と、ヘッド123との位置合わせに要する時間が長くなるという問題がある。このような問題点を利用して、上記寿命診断手段は、磁気ディスク125に対するデータの読み取り動作に要する時間、あるいは、データの書き込み動作に要する時間を、HDDユニット120の上記動作不良パラメータとして、HDDユニット120の寿命診断処理を行なうものである。
【0046】
ここで、HDDユニット120の使用時間(期間)の経過(図示横軸)と、HDDユニット120の磁気ディスク125に対するデータの読み書き速度(すなわち、1秒間に読み書きできるデータ量(R/W速度ともいうものとする)、図示縦軸)との関係を示すグラフ形式の図を、図5に示し、図5を用いて、具体的に説明する。
【0047】
図5に示すように、HDDユニット120は、一定時間t1までは1秒間に読み書きできるデータ量が略一定となっており、その変化を示さないが、この一定時間t1を経過するとともに、1秒間に読み書きできるデータ量が減少する。これは、ボールベアリング126の摩耗が進行し、磁気ディスク125の回転軌跡が上記同心円上から位置ズレを生じ、ヘッド123のトラックヘの位置決めに時間がかかっていることを示している。従って、1秒間に読み書きできるデータ量が、例えば、任意の値Aを基準値として、当該基準値Aを下回るかどうかで、HDDユニット120の寿命が尽きる前に、当該寿命予測の判定を行うことができる。なお、上記1秒間に読み書きできるデータ量は、視点を逆にすれば、単位量のデータの読み取り動作又は書き込み動作に要する時間でもあることは明らかであり、これらのいずれを用いるような場合であってもよい。
【0048】
次に、コンピュータ装置200において、上記寿命診断手段の一例である寿命診断用プログラムにより、HDDユニット120の寿命診断処理が行なわれる場合のその具体的な手順について、図6に示すフローチャートを用いて説明する。なお、このような寿命診断用プログラムは、HDDユニット120の内部に記憶されている場合や、コンピュータ装置200のその他の記憶可能な部分に記憶されているような場合であってもよい。また、この寿命診断用プログラムは、CD等の記録媒体に記録された状態で、コンピュータ装置200にインストールされる場合や、通信手段等を用いて他の装置から入力されるような場合であってもよい。また、当該寿命診断用プログラムは、その使用される対象等の特性や状況に応じて、プログラムの内容の一部を書き換えたり、その機能を高めるためのバージョンアップを行ったりすることもできる。
【0049】
図6に示すように、まず、コンピュータ装置200において、中央処理装置106の内部にあるタイマーの一例である内部クロック(図示しない)を利用し、任意の時刻になった場合あるいは外部からの起動指令等に基づいて、HDDユニット120の寿命診断用プログラムを起動する。
【0050】
次に、当該起動された寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置106により、HDDユニット120の磁気ディスク125の複数のトラックのうちの空き領域のトラックに、任意サイズのデータの書き込み動作を開始する(ステップS1)。この書き込み動作の開始とともに、例えば、中央処理装置106の上記内部クロックあるいはその他のタイマー等を用いて、上記書き込み動作に要する時間を計測する(ステップS2)。その後、当該書き込み動作が終了したことが確認されると、上記時間の計測も終了する(ステップS3)。
【0051】
次に、中央処理装置106によって、HDDユニット120の磁気ディスク125に上記書き込まれたデータの読み取り動作が実行される(ステップS4)。当該読み取り動作により読み取られたデータは、主メモリ105に一時的に読み取られるとともに、先の書き込み動作にて書き込まれるべきデータ(当該データは、主メモリ105に一時的に保管されている)と一致しているかどうか、中央処理装置106による照合が行なわれる(ステップS5)。
【0052】
この中央処理装置106における当該照合の結果、互いのデータが一致しているものと判断された場合には、次に、上記計測された書き込み動作に要した時間が、予め設定されて、主メモリ105等のコンピュータ装置200内の記憶部に入力されて保持されている基準値との比較が行なわれ、上記計測された時間が上記基準値を超過しているかどうかが判断される(ステップS6)。なお、この場合、上記書き込み動作が行われたデータの容量と、上記計測された時間とにより、単位データ量当りの書き込みに要する時間が、中央処理装置106にて算出されて、単位データ量当りの書き込みに要する時間の基準時間を上記基準値として、両者の比較判断が、中央処理装置106にて行なわれる。なお、上記基準値は、例えば、HDDユニット120の使用初期における上記書き込み動作に要する時間(すなわち、初期時間)に基づいて決定することができる。例えば、上記基準値を、このような初期時間の2倍以上の時間と設定することができる。
【0053】
このステップS6における比較判断の結果、上記計測時間が上記基準値を超過していないと判断された場合には、HDDユニット120の寿命が尽きるまでには、まだ十分な余裕があるものとして、寿命診断処理が終了する。
【0054】
一方、ステップS6における比較判断の結果、上記計測時間が上記基準値を超過しているものと判断された場合には、HDDユニット120の寿命が尽きる時期が迫って来ている(すなわち、余命が少ない)ものとして、寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置106より、外部入出力制御回路107に寿命予測通知を出力する(ステップS7)。この寿命予測通知は、外部入出力制御回路107より外部表示装置108に出力されて、外部表示装置108にて当該寿命予測通知が表示あるいは通知される。これにより、上記生産装置の作業者に、HDDユニット120の寿命が尽きる時期が迫ってきていることを、認識させることができる。
【0055】
また、ステップS5において、上記書き込まれるべきデータと上記読み取られたデータとの照合の結果、両者が一致していないものと判断された場合には、上記書き込まれたデータを正常に読み取ることができない状態に磁気ディスク125がなっているものと推定して、中央処理装置106より、外部入出力制御回路107を介しての外部表示装置108への寿命予測通知を行なって、上記作業者に寿命予測通知を認識させることができる(ステップS7)。
【0056】
なお、上記ステップS6における上記計測時間と上記基準値との比較判断を行なうような場合に代えて、上記計測された時間と、上記書き込まれたデータの容量に基づいて、1秒間に書き込まれるデータ量(すなわち、R/W速度)を、中央処理装置106にて算出し、予め入力されているこのR/W速度の基準速度(例えば、図5における速度A)を基準値として、両者の比較判断を行なうような場合であってもよい。このような場合にあっては、ステップS6において、上記1秒間に書き込まれるデータ量が、上記基準値を下回っているかどうかが判断されて、下回っている場合には、ステップS7にて、寿命予測通知が行なわれる。
【0057】
また、上記寿命診断用プログラムに基づく、寿命診断処理の判断等(図6のステップS5やステップS6における判断等)は、コンピュータ装置200の中央処理装置106にて行なわれる場合について説明したが、このような場合のみに限定されるものではない。例えば、HDDユニット120のマイコン121−1に中央処理装置106と同様な機能を備えさせて、このマイコン121−1にて上記判断等を行なうような場合であってもよい。
【0058】
また、例えば、生産装置におけるコンピュータ装置200の機能障害の発生によって当該生産に与える障害の大きさや、HDDユニット120の交換に要する時間等を考慮して、上記基準値を設定し、上記寿命予測通知が出力されたときのHDDユニット120の余命の長さを調整することができる。
【0059】
さらに、上記寿命診断処理においては、上記基準値は1点のみしか設定していないが、このような場合に代えて、複数の基準値を段階的に設定し、上記計測された時間が、どの段階の基準値を超過しているのかを比較判断することにより、HDDユニット120の余命の度合いを含めた上記寿命予測通知を行なうような場合であってもよい。
【0060】
また、上述のように、HDDユニット120への読み込み動作又は書き込み動作に要する時間に基づいて、HDDユニット120の寿命を診断するような場合に代えて、当該読み込み動作時や書き込み動作時におけるHDDユニット120より発せられる音圧レベルや周波数成分を検出することにより、当該寿命を診断するような場合であってもよい。HDDユニット120は、ボールベアリング126を用いた機構系を用いて磁気ディスク125の回転駆動を行っており、ボールベアリング126が磨耗するに従って、当該回転駆動により発生する音圧レベルが大きくなったり、周波数成分が変化したりするからである。従って、このような場合にあっては、上記音圧レベルや上記周波数成分を動作不良パラメータの一例とすることができる。
【0061】
上記第1実施形態によれば、HDDユニット120が、その寿命が尽きて、記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、寿命診断用プログラムを用いて寿命診断処理を行なうことにより、HDDユニット120の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。従って、HDDユニット120の当該寿命が尽きることによる突然のコンピュータ装置200の機能停止や機能障害の発生による生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【0062】
具体的には、HDDユニット120が記録媒体として備える円盤状の磁気ディスク125は、ベアリング126によりその同心円上の回転が案内されているが、その使用期間の経過とともに、ベアリング126の磨耗等により、上記同心円上の回転に位置ズレが生じ、磁気ディスク125のトラックに対するデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間が長くなってくるという特徴を利用することにより、上記寿命診断処理を行なっている。すなわち、HDDユニット120の動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は上記データの読み取り動作に要する時間を用いて、当該時間を計測して、計測された時間が基準値を超過しているかどうかを比較判断することにより、上記寿命診断処理を行なうことができる。
【0063】
さらに、コンピュータ装置200にて、上記寿命診断処理の結果、上記計測された時間が上記基準値を超過しているものと判断されると、寿命予測通知を出力して、例えば、外部表示装置108に表示させることにより、上記生産設備の作業者に、HDDユニット120の寿命が迫っていることを認識させることができる。これにより、上記作業者は、上記生産装置の連続的な安定した稼動を担保するために、例えば、コンピュータ装置200にて寿命が迫っているHDDユニット120の交換や、記憶されているデータのバックアップを行なう等の必要な措置を採ることができる。
【0064】
また、上記寿命診断処理においては、上記計測された時間と上記基準値との比較判断に加えて、磁気ディスク125に上記書き込み動作を行った後に、当該書き込まれたデータの読み取り動作を行って、書き込まれるべきデータと読み込まれたデータとの照合を行ない、当該照合の結果、両データが一致していないと判断された場合にも、HDDユニット120が、書き込み動作又は読み取り動作を正常に行なうことができない状態にあるものと推定して、上記寿命予測通知を行なうことにより、より信頼性の高い診断処理を行なうことができる。
【0065】
(第2実施形態)
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その他種々の態様で実施できる。例えば、本発明の第2実施形態にかかるコンピュータ装置300の模式的な構成を示すブロック図を図7に示す。なお、以降の説明において、コンピュータ装置300の構成のうち、従来のコンピュータ装置110、あるいは上記第1実施形態のコンピュータ装置200と同一の構成を有する部分については、その説明の理解を容易とすることを目的として、同じ符号を用いている。また、コンピュータ装置300は、主に生産設備において制御装置として用いられる装置である。
【0066】
図7に示すように、コンピュータ装置300は、シリコンディスク制御回路111と、基本OSやプログラム等のデータが読み取り可能に書き込まれて格納(記憶)される記憶装置の一例であるシリコンディスクドライブユニット(以降、SDDユニットという)312と、主メモリ105と、中央処理装置106と、外部入出力制御回路107とを備えている。また、コンピュータ装置300には、外部入出力制御回路107を介して、外部表示装置108及び外部入力装置109が接続されている。
【0067】
また、SDDユニット312は、複数のブロックと呼ばれる記憶領域を有し、かつ、データの書き込みによる記憶の際に、これらのブロック単位でデータの書き換えを行なうフラッシュメモリを記録媒体としている。また、図7に示すように、SDDユニット312は、上記記録媒体であって、上記データの一例であるファイルデータを記憶するメモリ部の一例であるデータメモリ312−5と、上記データメモリ312−5への上記データの書き込み動作の動作エラー(動作不良)が発生した場合に、データメモリ312−5における上記動作エラーの発生したブロックに代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部の一例であるバッファメモリ312−3と、データメモリ312−5の上記動作エラーの情報を記憶するエラーメモリ部の一例であるエラーメモリ312−4とを備えている。さらに、SDDユニット312は、データメモリ312−5、バッファメモリ312−3、及びエラーメモリ312−4に対するデータの読み取り動作、書き込み動作、及び消去動作を行うメモリ制御部の一例であるメモリコントローラ312−2と、このメモリコントローラ312−2を制御するマイコン312−1とを備えている。
【0068】
このようなSDDユニット312においては、コンピュータ装置300の中央処理装置106で演算された結果を、SDDユニット312にデータメモリ312−5にブロック単位で書き込み動作を行う際に、このデータメモリ312−5への上記書き込み動作の動作エラーが発生した場合には、データメモリ312−5内における上記書き込み不良を起こしたブロックのアドレスをエラーメモリ312−4に記憶させるとともに、バッファメモリ312−3にブロック単位で当該データを書き込むことにより、SDDユニット312の寿命の延命を行うことができる。さらに、SDDユニット312におけるエラーメモリ312−4には、データメモリ312−5の上記書き込み不良の発生回数(すなわち、エラー発生回数)をカウント(積算して記憶)するエラーカウントメモリ312−6が備えられている。
【0069】
次に、このような構成を有するコンピュータ装置300におけるSDDユニット312のその記憶装置としての寿命を予測診断する寿命診断方法について説明する。
【0070】
コンピュータ装置300は、中央処理装置106によるSDDユニット312へのデータの書き込み動作又はSDDユニット312よりのデータの読み取り動作の実行におけるSDDユニット312の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段を備えている。
【0071】
SDDユニット312は、その使用期間の経過とともに、その記録媒体であるフラッシュメモリのブロックにおいて、特に、データメモリ312−5のブロックにおいて、書き換え回数の制限を超えるような場合が発生することとなる。このようにデータメモリ312−5におけるブロックにて書き換え回数の制限を越えた場合には、動作エラー(動作不良)が発生し、この動作エラーの発生に基づいて、バッファメモリ312−3のブロックを代替ブロックとしてデータの書き換えが行なわれることとなるが、代替となるブロックの個数は有限であり、代替となるブロックが全て無くなったときに、SDDユニット312は、データの記憶動作を行うことができず、その寿命が尽きることとなる。このような事態の発生を回避するため、上記動作エラーの発生回数をエラーカウントメモリ312−6にてカウントし、カウントされたエラー発生回数が予め設定された基準値を超過することにより、上記代替ブロックの残り個数が少なくなっている状態にあり、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断するというのが、本第2実施形態の寿命診断方法の概念である。
【0072】
ここで、SDDユニット312の使用時間(期間)の経過(図示横軸)と、SDDユニット312のエラーメモリ312−4におけるエラーカウントメモリ312−6にてカウントされた動作エラーの発生回数(図示縦軸)との関係を示すグラフ形式の図を図8に示し、図8を用いて具体的に説明する。
【0073】
図8に示すように、SDDユニット312の使用初期においては、データメモリ312−5の夫々のブロックへのデータの書き込みの際に動作エラーは発生しないが、時間の経過と共にブロックヘの書き込み回数が増加し、ある時間t2を境に書き込みエラーが発生する。これは、データメモリ312−5内の夫々のブロックのうちの一部のブロックが書き込み回数の制限値を超えるような状況となったためである。SDDユニット312におけるデータメモリ312−5が有するブロック数やバッファメモリ312−3が有するブロック数は、予め固定された値である。従って、このような夫々が有するブロック数を考慮して、動作エラーの発生回数がある基準回数Bを基準値として、この基準値を超過したときに、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が近づいているものと寿命診断を行なうことができる。
【0074】
次に、コンピュータ装置300において、上記寿命診断手段の一例である寿命診断用プログラムにより、SDDユニット312の寿命診断処理を行なう場合の具体的な手順について、図9に示すフローチャートを用いて説明する。なお、このような寿命診断用プログラムは、SDDユニット312の内部に記憶されている場合や、コンピュータ装置300のその他の記憶可能な部分に記憶されているような場合であってもよい。
【0075】
図9に示すように、まず、コンピュータ装置300において、中央処理装置106の内部にあるタイマーの一例である内部クロック(図示しない)を利用し、任意の時刻になった場合あるいは外部からの起動指令等に基づいて、SDDユニット312の寿命診断用プログラムを起動する。
【0076】
次に、当該起動された寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置106により、SDDユニット312のエラーメモリ312−4の内部のエラーカウントメモリ312−6に記憶されているエラー発生回数を読み取り、主メモリ105に一時的に記憶させる(ステップS11)。
【0077】
次に、予め設定されて、主メモリ105等のコンピュータ装置300内の記憶部等に入力されて保持されている基準値と、上記エラー発生回数との比較が行なわれ、上記エラー発生回数が上記基準値を超過しているかどうかが判断される(ステップS12)。
【0078】
このステップS12における比較判断の結果、上記エラー発生回数が上記基準値を超過していないと判断された場合には、SDDユニット312の寿命が尽きるまでには、まだ十分な余裕があるものとして、寿命診断処理が終了する。
【0079】
一方、ステップS12における比較判断の結果、上記エラー発生回数が上記基準値を超過しているものと判断された場合には、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が迫って来ている(すなわち、余命が少ない)ものとして、寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置106より、外部入出力制御回路107に寿命予測通知を出力する(ステップS13)。この寿命予測通知は、外部入出力制御回路107より外部表示装置108に出力されて、外部表示装置108にて当該寿命予測通知が表示あるいは通知される。これにより、上記生産装置の作業者に、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が迫ってきていることを、認識させることができる。なお、当該寿命予測通知を出力した後、上記寿命診断プログラムは終了する。
【0080】
なお、上記寿命診断用プログラムに基づく、寿命診断処理の判断等(図9のステップS12における判断等)は、コンピュータ装置300の中央処理装置106にて行なわれる場合について説明したが、このような場合のみに限定されるものではない。例えば、SDDユニット312のマイコン312−1に中央処理装置106と同様な機能を備えさせて、このマイコン312−1にて上記判断等を行なうような場合であってもよい。
【0081】
また、上記基準値は1点のみを設定する場合に限定されず、段階的に複数の基準値を設定し、作業者がSDDユニット312の余命を認識可能とするような寿命予測通知が行なわれるような場合であってもよい。
【0082】
また、SDDユニット312のデータメモリ312−5におけるブロックがデータ書き換え回数の制限を越えた場合の動作エラーの発生回数を、エラーカウントメモリ312−6にてカウントしていることより、データメモリ312−5が有するブロック数に、当該エラー発生回数がカウントされた場合に、SDDユニット312の寿命が尽きるものと考えることにより、上記基準値をデータメモリ312−5のブロック数に基づいて設定することができる(例えば、当該ブロック数の80%の値とする等)。
【0083】
上記第2実施形態によれば、コンピュータ装置300が備える記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするSDDユニット312であるような場合であっても、上記寿命診断手段として、データメモリ312−5におけるブロックの動作エラー発生回数を動作不良パラメータとする寿命診断用プログラムを用いることにより、SDDユニット312の寿命が迫って来ているかどうかの寿命診断処理を行なうことができる。
【0084】
具体的には、SDDユニット312のエラーメモリ312−4に、上記動作エラーの発生回数を積算して記憶するエラーカウントメモリ312−6を内蔵させて、このエラーカウントメモリ312−6にて積算されたエラー発生回数が、予め設定されたエラー発生回数の基準回数である基準値を超過していると判断された場合に、寿命予測通知を出力し、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が近づいていることを上記生産装置の作業者に認識させることができる。
【0085】
(第3実施形態)
次に、本発明の第3実施形態にかかるコンピュータ装置400について説明する。コンピュータ装置400は、上記第1実施形態のコンピュータ装置200又は上記第2実施形態のコンピュータ装置300と同じ構成及び機能を有しており、HDDユニット120又はSDDユニット312の記憶装置の寿命診断処理を行うことが可能となっている。また、図10のブロック図に示すように、コンピュータ装置400は、生産装置の一例である部品実装装置501の制御装置500に備えられている。また、コンピュータ装置400における図示しない外部入出力制御回路には、表示部の一例である外部表示装置108及び外部入力装置109が接続されるとともに、部品実装装置501の夫々の構成部との制御信号の受渡しを行なう信号ケーブル502が接続されている。
【0086】
部品実装装置501は、連続的に順次供給される基板の複数に対して、当該基板の表面における複数の部品実装位置に複数の部品を実装し、当該部品実装が終了した基板を連続的に順次排出するという部品実装動作を行なう生産装置である。従って、例えば、部品実装装置501に、部品が実装されるべき基板が搬送されて供給されると、部品実装装置501に備えられた基板供給検出部の一例である基板認識センサ503により、当該基板の供給が検出され、この検出信号(基板供給信号)が信号ケーブル502を介して、制御装置500におけるコンピュータ装置400に入力される。コンピュータ装置400においては、当該信号の入力が行われたことをもって、部品実装装置501への基板の供給が行われたものと認識し、当該基板に対する夫々の部品の部品実装動作の制御を開始する。その後、部品実装動作が完了し、部品実装済みの基板が搬送されて排出されると、次の基板が新たに供給されて、基板認識センサ503により当該基板の供給が検出されることとなる。このような動作が繰り返して順次行なわれることにより、部品実装装置501において、連続的に供給される夫々の基板に対する連続的な部品実装動作が行なわれることとなる。
【0087】
このような構成及び動作を行う部品実装装置501において、制御装置500が備えるコンピュータ装置400の記憶装置(HDDユニット又はSDDユニット)に対する寿命診断処理を行なう方法について、図11に示す寿命診断処理の手順を示すフローチャートを用いて説明する。
【0088】
図11に示すように、コンピュータ装置400においては、基板供給信号の入力待ちの状態とされており(ステップS21)、基板入力信号が入力されるまでこの状態が保たれる(ステップS22)。
【0089】
部品実装装置501において、基板が搬送されて入力されると、基板入力信号が信号ケーブル502を通じて、コンピュータ装置400に入力されて、図示しない中央処理装置にて当該入力が検出される(ステップS22)。当該入力が検出されると、コンピュータ装置400による、すなわち、制御装置500による部品実装装置501の上記供給された基板に対する部品実装動作の制御か開始される(ステップS23)。
【0090】
それとともに、この基板供給信号の入力回数、すなわち、基板の供給枚数が積算されて、例えば、上記記憶装置に読み取り可能に記憶される(ステップS24)。
【0091】
その後、当該積算された基板供給信号の入力回数が読み取られて、例えば、図示しない主メモリ等に一時的に記憶され、予め設定されて主メモリ等に記憶されている基板供給信号の設定回数(基準回数)と、上記積算回数とが比較判断が行なわれる(ステップS25)。
【0092】
当該比較判断において、上記積算回数が上記設定回数に達していないと判断された場合には、ステップS21に戻り、次に基板供給信号が入力されるまで待機状態とされる。
【0093】
一方、ステップS25における比較判断において、上記積算回数が上記設定回数以上となっていると判断された場合には、上記第1実施形態又は上記第2実施形態の寿命診断処理が実行される。当該寿命診断処理の結果、上記記憶装置の寿命が尽きるまでの期間が残り少ないと判断された場合には、寿命予測通知が行なわれ、外部表示装置108を通じて、当該通知を作業者に認識させることができる。
【0094】
診断結果の有無を問わず、上記寿命診断処理が終了すると、これまでに積算されて記憶されていた基板供給信号の入力回数の積算値がリセットされて0(ゼロ)とされる。このようにして、部品実装装置501において、コンピュータ装置400が備える記憶装置の寿命診断処理が行なわれる。
【0095】
図11のステップS25における上記比較判断の基準となる積算回数は、部品実装装置501における連続的な部品実装の重要性や、コンピュータ装置400の記憶装置の寿命が尽きる頻度や期間等に応じて、自由に設定することができる。例えば、上記積算回数を1回と設定する場合には、部品実装装置501への基板の供給が行なわれる毎に、上記寿命診断処理が行なわれることとなる。
【0096】
また、上記積算回数が常に設定された値に固定された状態で上記比較判断が行なわれるような場合のみに限定されるものではない。例えば、このような場合に代えて、図11のステップS26の寿命診断処理において、段階的に設定された複数の基準値(上記第1実施形態の書き込み時間や上記第2実施形態のエラー発生回数)を設けて、記憶装置の寿命が尽きる時期までの近接度を検出することにより、当該近接度に応じて、近接度が高くなる(すなわち、余命が少なくなる)に従って、上記基板供給信号の積算回数の上記設定値を少なくするような場合であってもよい。このような場合にあっては,上記記憶装置の余命が十分にあるときには、寿命診断処理を実行する頻度を少なくして、より効率的な部品実装の制御を行ないながら、上記寿命が尽きる時期への近接度が高くなるに従って、寿命診断処理を実行する頻度を高くして、より確実に寿命診断を行なうことができるという効果がある。
【0097】
なお、上記説明においては、一例として、部品実装装置501への基板の供給の回数(枚数)を、上記寿命診断処理を実行するかどうかの判断基準となるデータとしたが、このような場合に代えて、その他様々なデータを上記判断基準として用いることができる。このような上記判断基準となるデータの例としては、部品実装装置501の稼動時間や、部品の実装数量等を用いることもできる。
【0098】
また、上記基板が個別に順次供給されるような場合に代えて、上記基板が、連続的に形成されたテープ状基板であるような場合であってもよい。このようなテープ状基板においては、複数の部品が実装される部品実装領域が、テープ状の長手方向に沿って、連続的に形成されている。そのため、上記基板供給信号は、夫々の上記部品実装領域が部品実装装置501に部品実装が可能に供給されたことが検出されることにより、コンピュータ装置400に出力される。このような基板供給信号が入力されることにより、上記基板が個別に供給されるような場合と同様に、コンピュータ装置400における寿命診断処理を行うことができる。
【0099】
上記第3実施形態によれば、連続的かつ安定した動作制御が要求される部品実装装置501において、その制御装置500に備えられるコンピュータ装置400の記憶装置の寿命診断処理を行うタイミングを、部品実装装置501への基板の供給が行なわれる回数に応じて決定することで、コンピュータ装置400における部品実装の動作制御の処理量に擬似的に応じた状態で、上記寿命診断処理を行なうことができる。従って、上記記憶装置の寿命が突然やって来て、コンピュータ装置400が機能しなくなり、部品実装装置501の部品実装に障害が生じるという事態を、予め確実に予測することができる。よって、部品実装装置501における連続的かつ安定した部品実装の制御を行なうことができるコンピュータ装置を提供することができる。
【0100】
また、上記記憶装置の寿命予測通知を受けた作業者は、その後の生産スケジュール等を考慮しながら、計画的に、コンピュータ装置400の記憶装置の交換や記憶されているデータのバックアップ作業等を行なうことができるため、当該生産スケジュールに与える影響を最小限に抑えることができる。よって、このような寿命診断処理を行なうことにより、より効率化された部品実装を行なうことができる部品実装装置を提供することができる。
【0101】
【発明の効果】
本発明の上記第1態様によれば、コンピュータ装置が備える記憶装置が、その寿命が尽きて、上記記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、当該コンピュータ装置に備えさせている寿命診断手段を用いて、その寿命の診断である寿命診断処理を行なうことにより、上記記憶装置の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。
【0102】
具体的には、上記コンピュータ装置における中央処理装置による上記記憶装置へのデータの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する上記寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことができる。
【0103】
従って、上記寿命予測通知により上記記憶装置の余命が予め作業者等に認識されることにより、上記記憶装置の当該寿命が尽きることによる突然の上記コンピュータ装置の機能停止や機能障害の発生による問題の発生、例えば、上記コンピュータ装置が生産装置の生産動作の制御を行っているような場合にあっては、当該生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【0104】
本発明の上記第2態様又は上記第3態様によれば、上記記憶装置が、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニット(以降、HDDユニットという)であるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過している場合に、上記寿命予測通知を行なうことにより、当該HDDユニットの使用期間に応じて、上記磁気ディスクの保持位置に位置ズレが生じてその回転の軌跡に位置ズレが生じ、上記書き込み動作及び上記読み取り動作に要する時間が長くなる傾向にあるという上記HDDユニットの特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【0105】
本発明の上記第4態様によれば、上記基準値として、上記HDDユニットにおける単位データ量当りの書き込み動作又は読み取り動作に要する初期時間の2倍以上の時間を用いることにより、上記HDDユニットへの読み書きに要する時間が長くなることによる制御動作効率の低下の許容範囲と、上記HDDユニットの寿命が尽きるタイミングとを十分考慮した上記寿命予測通知を行なうことができる。
【0106】
本発明の上記第5態様によれば、上記記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニット(以降、SDDユニットという)であるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なうことにより、ブロック単位で上記データの記憶を行う上記フラッシュメモリにおいては、上記ブロックへの上記データの書き換え回数に制限があり、当該制限を超えると、上記データの書き込み動作において動作不良が発生するという特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【0107】
本発明の上記第6態様によれば、上記SDDユニットにおいて、上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部と、上記メモリ部における書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部とが備えられ、上記寿命診断手段が、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記基準値との比較判断を行なって、上記寿命予測通知を行なうことにより、確実な上記寿命診断処理を行なうことができる。
【0108】
本発明の上記第7態様によれば、上記比較判断の基準となる上記基準値が、上記メモリ部が有する夫々の上記ブロック数に基づいて設定される、例えば、上記夫々のブロック数よりも小さく設定されることにより、上記SDDユニットの寿命が尽きる前に、確実に上記寿命予測通知を行なうことができ、上記SDDユニットの突然の機能停止という問題の発生を確実に回避することができる。
【0109】
本発明の上記第8態様によれば、連続的に順次供給される複数の基板に対して、複数の部品を実装する部品実装装置における部品実装動作の制御を行う制御装置として、このような上記コンピュータ装置が備えられており、さらに、上記制御装置が、上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の結果である上記寿命予測通知を、上記部品実装装置の作業者に認識可能に表示する表示部を備えていることにより、上記コンピュータ装置が備える上記記憶装置の寿命が尽きる時期を予め予測して、上記表示部を介して上記作業者に認識させることができる。よって、上記記憶装置の寿命により突然に上記コンピュータ装置が機能しなくなり、上記部品実装装置の稼動に障害を来たすという事態を、予め計画的に回避することができる。従って、連続的な生産のための稼動が求められる上記部品実装装置における部品実装を確実に行なうことができ、その信頼性を向上させることができる。
【0110】
本発明の上記第9態様によれば、連続的に順次供給される上記夫々の基板に対して、上記夫々の部品の実装動作が行なわれるという上記部品実装装置の特性を用いて、その部品実装動作の制御を行なう上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の実行を、上記部品実装装置に上記基板が供給される毎に、上記コンピュータ装置に入力される基板供給信号に基づいて行なうことにより、確実に上記記憶装置の寿命を予測することができ、連続的に行なわれる部品実装をより安定して行なうことができる。
【0111】
本発明の上記第10態様によれば、上記コンピュータ装置が、上記入力される上記基板供給信号の入力回数を積算可能とされていることにより、当該入力回数が予め定められた基準回数に達した場合に上記寿命診断処理を実行することにより、当該寿命診断処理の実行による上記コンピュータ装置における処理動作の負担を軽減しながら、最適な上記実行の頻度を設定することができる。
【0112】
本発明の上記第11態様によれば、上記コンピュータ装置が、上記基準値に対する上記動作不良パラメータの近接度を検出可能であって、当該検出される近接度の増大に従って、上記基準回数を減少させることにより、上記記憶装置の余命に応じて、上記余命が長い場合には、上記寿命診断処理の実行の頻度を少なくして、上記実行による上記コンピュータ装置への処理動作の負担を軽減して効率的な部品実装動作の制御を行うことができ、一方、上記余命が少なくなってきた場合には、上記寿命診断処理の実行の頻度を多くして、上記実行により確実に余命が尽きる時期を検出して作業者に認識させることができる。従って、効率的な部品実装動作の制御と、装置の連続的稼動の担保のための確実な寿命予測を両立して行なうことができ、生産性が高められた部品実装装置を提供することができる。
【0113】
本発明の上記第12態様によれば、上記寿命診断処理における判断基準となる上記基準値として、段階的に設定された複数の基準値を用いることにより、上記記憶装置の余命の長さを、段階的に検出することができ、作業者に余命の長さを認識させることができる。よって、当該作業者は、上記認識により、より計画的に、上記記憶装置の交換やデータのバックアップ等の作業予定を立てることができ、信頼性のある連続稼動を行うことができる部品実装を、計画的に行なうことができる。
【0114】
本発明の上記第13態様によれば、記憶装置が、その寿命が尽きることにより、上記記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、その寿命予測のの診断を行なうことによって、上記記憶装置の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。
【0115】
具体的には、上記記憶装置へのデータの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことができる。
【0116】
従って、上記寿命予測通知により上記記憶装置の余命が予め作業者等に認識されることにより、上記記憶装置の当該寿命が尽きることによる上記記憶装置が備えられているコンピュータ装置等の突然の機能停止や機能障害の発生による問題の発生、例えば、上記コンピュータ装置が生産装置の生産動作の制御を行っているような場合にあっては、当該生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【0117】
本発明の上記第14態様又は上記第15態様によれば、上記記憶装置が、磁気ディスクを記録媒体とするHDDユニットであるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過している場合に、上記寿命予測通知を行なうことにより、当該HDDユニットの使用期間に応じて、上記磁気ディスクの保持位置に位置ズレが生じてその回転の軌跡に位置ズレが生じ、上記書き込み動作及び上記読み取り動作に要する時間が長くなる傾向にあるという上記HDDユニットの特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【0118】
さらに、上記基準値を超過しているかどうかの比較判断に加えて、上記書き込まれたデータを読み取り、当該読み取られたデータと上記書き込まれるべきデータとが一致しているかどうかを照合し、上記照合の結果、一致していないと判断された場合にも、上記書き込み動作又は上記読み取り動作を正常に行なうことができない状態にあるものとして、上記寿命予測通知を行なうことにより、より確実に上記HDDユニットの寿命診断を行なうことができる。
【0119】
本発明の上記第16態様によれば、上記記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするSDDユニットであるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なうことにより、ブロック単位で上記データの記憶を行う上記フラッシュメモリにおいては、上記ブロックへの上記データの書き換え回数に制限があり、当該制限を超えると、上記データの書き込み動作において動作不良が発生するという特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【0120】
本発明の上記第17態様によれば、上記第14態様の寿命診断方法を夫々の手順を行なうことができるような寿命診断用プログラムを用いることにより、上記第14態様による効果と同様な効果を得ることができる。特に、このようなプログラムを既存のHDDユニット等にインストールすることで、ハード的な構成を変更することなく、上記HDDユニットの寿命診断を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の生産設備に搭載されるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図である。
【図2】従来の生産設備に搭載されるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記憶装置としてSDDユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図3】(A)は、従来のコンピュータ装置におけるHDDユニットの模式的な内部構造を示すブロック図であり、(B)は、(A)のHDDユニットが備える磁気ディスクの部分拡大図である。
【図4】本発明の第1実施形態にかかるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記録装置としてHDDユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図5】図4のHDDユニットにおける使用時間の経過とR/W速度との関係を示すグラフ形式の図である。
【図6】図4のHDDユニットにおける寿命判断処理の手順を示すフローチャートである。
【図7】本発明の第2実施形態にかかるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記憶装置としてSDDユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図8】図7のSDDユニットにおける使用時間の経過とエラー発生回数との関係を示すグラフ形式の図である。
【図9】図7のSDDユニットにおける寿命判断処理の手順を示すフローチャートである。
【図10】本発明の第3実施形態にかかるコンピュータ装置をその制御装置に備える部品実装装置の模式的な構成を示すブロック図である。
【図11】図10のコンピュータ装置における寿命診断処理を実行する手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
100…コンピュータ装置、101…ハードディスク制御回路、102…基本ドライブ、103…バックアップ用ドライブ、4…ドライブユニット選択回路、105…主メモリ、6…中央処理装置、7…外部入出力制御回路、8…外部表示装置、9…外部入力装置、110…コンピュータ装置、111…シリコンディスク制御回路、112…シリコンディスクドライブユニット、120…ハードディスクドライブユニット、121…制御基板、121−1…マイコン、121−2…一時記憶メモリ、121−3…メモリコントローラ、122…アクチュエータ、123…ヘッド、124…モータ、125…磁気ディスク、126…ボールベアリング、127…同心円上の軌跡、128…磨耗進行時の軌跡、200…コンピュータ装置、300…コンピュータ装置、312…シリコンディスクドライブユニット、312−1…マイコン、312−2…メモリコントローラ、312−3…バッファメモリ、312−4…エラーメモリ、312−5…データメモリ、312−6…エラーカウントメモリ、400…コンピュータ装置、500…制御装置、501…部品実装装置、502…信号ケーブル、503…基板認識センサ。
Claims (17)
- データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置(120、312)と、上記記憶装置への上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置(106)とを備えるコンピュータ装置(200、300、400)において、
上記中央処理装置による上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値(A、B)を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段を備えることを特徴とするコンピュータ装置。 - 上記記憶装置は、磁気ディスク(125)を記録媒体とするハードディスクドライブユニット(120)であって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう請求項1に記載のコンピュータ装置。 - 上記記憶装置は、上記磁気ディスクにおけるデータ記憶位置との位置合わせを行なうことにより、上記データの書き込み動作又は上記読み取り動作を行うヘッド部(123)を備え、
上記計測されるデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間は、上記ハードディスクドライブユニットの使用時間の経過に伴って生じる上記磁気ディスクの保持位置の位置ズレによって増加する、上記データ記憶位置と上記ヘッド部との位置合わせに要する時間を含んでいる請求項2に記載のコンピュータ装置。 - 上記基準値は、上記ハードディスクドライブユニットにおける単位データ量当りの書き込み動作又は読み取り動作に要する初期時間の2倍以上の時間である請求項2又は3に記載のコンピュータ装置。
- 上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニット(312)であって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう請求項1に記載のコンピュータ装置。 - 上記シリコンディスクドライブユニットは、
上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部(312−5)と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部への上記データの書き込み動作の動作不良が発生した場合に、上記メモリ部に代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部(312−3)と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部(312−4)と、
上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生を検出可能であって、当該検出が行なわれると、上記データの上記予備メモリ部への書き込み動作の実行と、上記エラーメモリ部へ上記書き込み動作の動作不良の発生回数の記憶動作の実行との夫々の動作制御を行なうメモリ制御部(312−2)とを備え、
上記寿命診断手段は、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記寿命予測通知を行なう請求項5に記載のコンピュータ装置。 - 上記基準値は、上記メモリ部が有する夫々の上記ブロック数に基づいて設定される請求項6に記載のコンピュータ装置。
- 連続的に順次供給される複数の基板に対して、複数の部品を実装する部品実装装置における部品実装動作の制御を行う制御装置(500)として、請求項1から7のいずれか1つに記載のコンピュータ装置(400)を備える部品実装装置(501)であって、
上記制御装置は、上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の結果である上記寿命予測通知を、上記部品実装装置の作業者に認識可能に表示する表示部(108)を備えていることを特徴とする部品実装装置。 - 上記順次供給される基板を検出可能であり、当該検出により基板供給信号を上記コンピュータ装置に出力する基板供給検出部(503)をさらに備え、
上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に上記基板供給検出部から入力される上記基板供給信号に基づいて、上記寿命診断処理を実行するとともに、上記供給された基板への部品実装動作の制御を開始する請求項8に記載の部品実装装置。 - 上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に入力される基板供給信号の入力回数を積算可能であって、当該入力回数が基準回数に達した場合に、上記寿命診断処理を実行する請求項9に記載の部品実装装置。
- 上記コンピュータ装置は、上記基準値に対する上記動作不良パラメータの近接度を検出可能であって、当該検出される近接度の増大に従って、上記基準回数を減少させる請求項10に記載の部品実装装置。
- 上記基準値は、段階的に設定された複数の基準値であって、
上記寿命診断手段は、上記夫々の基準値のうちのいずれの基準値を超過しているかを認識可能に上記寿命予測通知を行ない、
上記表示部は、上記寿命予測通知に基づいて、上記記録装置の残りの予測寿命を、上記作業者に認識可能に表示させる請求項8から11に記載の部品実装装置。 - データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置(120、312、400)の寿命診断方法であって、
上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、
当該計測された上記動作不良パラメータと基準値とを比較し、
当該比較の結果、上記動作不良パラメータが上記基準値を超過している場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことを特徴とする記憶装置の寿命診断方法。 - 上記記憶装置は、磁気ディスク(125)を記録媒体とするハードディスクドライブユニット(120)であって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう請求項13に記載の記憶装置の寿命診断方法。 - 上記データの書き込み動作に要する時間を計測し、
上記計測された書き込み動作に要する時間が、上記基準値を超過しているかどうかを判断するとともに、
上記書き込まれたデータを読み取り、当該読み取られたデータと上記書き込まれるべきデータとが一致しているかどうかを照合し、
上記基準値が超過していると判断されるか、又は、上記夫々のデータが一致していないかのいずれか一方に該当する場合に、上記寿命予測通知を行なう請求項14に記載の記憶装置の寿命診断方法。 - 上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニット(312)であって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう請求項13に記載の記憶装置の寿命診断方法。 - データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するハードディスクドライブユニット(120)と、上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置(106)とを備えるコンピュータ装置に、
上記中央処理装置による上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作又は上記ハードディスクドライブユニットよりの上記データの読み取り動作に要する時間を計測する手順と、
上記計測された書き込み動作に要する時間又は上記読み取り動作に要する時間が、基準値を超過しているかどうかを判断する手順と、
当該判断の結果、上記超過していると判断した場合に、上記ハードディスクドライブユニットの寿命予測通知を行なう手順とを、実行させるためのハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラム。
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