JP2008198308A - 磁気ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】磁気ディスクに対する衝撃により、磁気ヘッドや磁気ディスクに不具合や性能劣化を引き起こす損傷が加わることに起因するヘッドクラッシュの発生を防止することが可能な磁気ディスク装置を提供する。
【解決手段】磁気ヘッド３が通常位置するホームポジション領域１７に、予めテスト領域１８を設けて、予めテストを行い、その結果を不揮発性記憶手段６に格納しておき、動作時には自己診断テストを同じテスト領域１８で行い、その結果を不揮発性記憶手段６に格納し、以前の結果と比較することで、磁気ヘッド３及び磁気ディスク２の不具合と性能劣化を検出し、磁気ディスク装置１の致命的な障害であるヘッドクラッシュの可能性を早期に上位装置１０に警告通知し、データのバックアップを行う構成とした。
【選択図】図４

Description

本発明は、磁気ディスク装置に関するものである。

ＣＳＳ（Contact−start−stop）方式の磁気ディスク装置においては、動作時には磁気ヘッドを回転する磁気ディスク表面から浮上させてデータの読み書きを行い、磁気ディスクの回転が停止している非動作時には、磁気ヘッドを磁気ディスク上の退避領域に退避させている。この退避領域をＣＳＳ領域と呼んでおり、磁気ディスク装置の非動作時および磁気ヘッドが浮上するまでは、磁気ヘッドをこのＣＳＳ領域に接触させている。
一方、ディスク最外周の記録領域の外側に配置されたランプを用いたロード・アンロード方式の磁気ディスク装置においては、非動作時にはランプ上の待機位置に退避させ、動作時には磁気ヘッドを磁気ディスク上にロードし、磁気ディスクの表面から浮上させてデータの読み書きを行っている。しかし、常に磁気ディスク面上に位置している訳ではなく、一定時間データの読み書きが無い場合には、磁気ヘッドをランプ上へと移動させる。そして、次のデータの読み書きが行われるまで、ランプ上の待機位置に留まり、磁気ディスク面上から退避させている。

特許文献１には、所定の自己診断テスト時に、磁気ディスクと磁気ヘッドの接触位置において、磁気ディスクに予め書き込まれている自己診断データを読み出し、読み出した結果に基づいて磁気ディスクにおける欠陥の有無を検出することが開示されている。
また、特許文献２には、突起検査装置に対して、突起検出ヘッドの接触方式または動的方式による各ローディングの際に、ピエゾ素子の振動パルスが入力されないとき、突起検出ヘッドを故障と判定して故障信号を出力する故障判定部と、故障信号により警報を行う警報器とを備え、かつ故障信号を制御回路に与えて駆動モータの回転を停止させることが開示されている。これにより、検査ミスの発生を防止している。
さらに、特許文献３には、磁気ディスク装置の磁気ヘッドの周速を小さくするとヘッドの浮上量が低下する特性を利用して、ディスク回転数を通常よりも低くしてデータの記録・再生を行うことが開示されている。これにより、磁気ヘッドとディスクとが接触する時の磁気ヘッドの振動による記録位置の乱れを再生時に検出して、磁気ヘッドとディスクとの接触の有無を検査している。
特開平１０−２７４３６号公報（第１項、第１図、第２図） 特開平６−３１８３２０号公報（第１項、第１図、第２図） 特開平６−１３１６３９号公報（第１項、第２図、第５図、第６図）

しかしながら、上述した従来の磁気ディスク装置では、以下の示すような問題を有している。
すなわち、近年、装置の小型化により、磁気ディスク装置は、内蔵のバッテリーにより駆動される携帯型のパーソナルコンピュータ等に搭載されるようになってきている。このため、動作時、非動作時に関らず、磁気ディスク装置は、耐衝撃性能以上の外部衝撃を受け易い状況にある。
また、磁気ディスク装置の動作時においては、信号の読み書きが行われない場合に頻繁に磁気ヘッドを磁気ディスク上から退避させることは、消費電力の増加に繋がりバッテリー駆動時間が短縮されてしまう。このため、退避の頻度を増やすことは困難であり、使用状況によっては、磁気ディスク装置駆動中のほとんどの時間において磁気ヘッドが磁気ディスク上から退避せずに磁気ディスク上に位置することもある。この場合、磁気ヘッドをディスク面方向へ押さえ付けている荷重（グラムロード）以上の衝撃が外部から加えられると、磁気ヘッドがディスク面から遠ざかり（持ち上がり）、その反動で磁気ディスクを叩いてしまうおそれがある。これにより、磁気ディスク面上に圧痕が付いて磁気ディスク上に書かれたデータが消失する、磁気ヘッドにその浮上量や浮上姿勢を変化させてしまう程の損傷が加わってヘッドクラッシュを発生させる、等の問題を発生させるおそれがある。

本発明の課題は、磁気ディスクに対する衝撃により、磁気ヘッドや磁気ディスクに不具合や性能劣化を引き起こす損傷が加わることに起因するヘッドクラッシュの発生を防止することが可能な磁気ディスク装置を提供することにある。

第１の発明に係る磁気ディスク装置は、磁気ディスクの近傍に配置されたランプ上の待機位置と磁気ディスク上の位置との間において、磁気ヘッドがローディングまたはアンローディングを行う磁気ディスク装置において、磁気ヘッドと、磁気ディスクと、制御部と、を備えている。磁気ヘッドは、磁気ディスクに対してデータの読み書きを行う。磁気ディスクは、装置の動作時においてデータの読み書きを行っていないときに磁気ヘッドが位置するホームポジション領域に、テスト領域が設けられている。制御部は、テスト領域上に磁気ヘッドを配置した状態において、データの読み書きが行われていない非動作時に第１のデータテストを行った後、動作時における所定のタイミングで第２のデータテストを行う。そして、制御部は、第１・第２のデータテストの結果を比較して、磁気ディスクまたは磁気ヘッドの異常の有無を判定する。

ここでは、通常、磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触等の問題が発生し易いとされる磁気ヘッドのホームポジション領域をテスト領域として使用して第１のデータテストを行い、時間差を設けて改めて同じテスト領域で第２データテストを行うとともに、その結果を比較することで、異常の発生の有無を判定する。
ここで、第１データテストは、例えば、テストデータの書き込み、読み出し、ベリファイテスト等であって、装置の電源投入後すぐ等のように早期に実施されるものであり、異常の有無を判定する際の基準となる結果を得るために実施される。また、第２データテストは、例えば、テストデータの書き込み、読み出し、ベリファイテスト等を行う自己診断テストであって、上位装置からの命令を受信した場合や、動作時における磁気ディスクへのデータの読み書きが行われない場合に実施される。

これにより、第１・第２のデータテストの結果を比較することで、磁気ディスク装置の動作時に衝撃が加わった場合における磁気ヘッドと磁気ディスクの衝撃による損傷や不具合や性能劣化を早い段階で検出することができる。この結果、磁気ディスク装置において致命的な障害となるヘッドクラッシュの発生を効果的に防止することができる。また、その検出結果を上位装置に警告通知した場合には、データのバックアップを効果的に行うことができるため、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
第２の発明に係る磁気ディスク装置は、磁気ディスクの近傍に配置されたランプ上の待機位置と磁気ディスク上の位置との間において、磁気ヘッドがローディングまたはアンローディングを行う磁気ディスク装置において、磁気ヘッドと、磁気ディスクと、制御部と、を備えている。磁気ヘッドは、磁気ディスクに対してデータの読み書きを行う。磁気ディスクは、磁気ヘッドがローディングまたはアンローディングする際に使用するロード・アンロード領域に、テスト領域が設けられている。制御部は、テスト領域上に磁気ヘッドを配置した状態において、データの読み書きが行われていない非動作時に第１のデータテストを行った後、動作時における所定のタイミングで第２のデータテストを行う。そして、制御部は、第１・第２のデータテストの結果を比較して、磁気ディスクまたは磁気ヘッドの異常の有無を判定する。

ここでは、通常、磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触等の問題が発生し易いとされるロード・アンロード領域をテスト領域として使用して第１のデータテストを行い、時間差を設けて改めて同じテスト領域で第２データテストを行うとともに、その結果を比較することで、異常の発生の有無を判定する。
ここで、第１データテストは、例えば、テストデータの書き込み、読み出し、ベリファイテスト等であって、装置の電源投入後すぐ等のように早期に実施されるものであり、異常の有無を判定する際の基準となる結果を得るために実施される。また、第２データテストは、例えば、テストデータの書き込み、読み出し、ベリファイテスト等を行う自己診断テストであって、上位装置からの命令を受信した場合や、動作時における磁気ディスクへのデータの読み書きが行われない場合に実施される。

これにより、第１・第２のデータテストの結果を比較することで、磁気ディスク装置の動作時に衝撃が加わった場合における磁気ヘッドと磁気ディスクの衝撃による損傷や不具合や性能劣化を早い段階で検出することができる。この結果、磁気ディスク装置において致命的な障害となるヘッドクラッシュの発生を効果的に防止することができる。また、その検出結果を上位装置に警告通知した場合には、データのバックアップを効果的に行うことができるため、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
第３の発明に係る磁気ディスク装置は、第２の発明に係る磁気ディスク装置であって、制御部は、ロード・アンロード領域を、装置の動作時における磁気ディスクへのデータの読み書きが行われない場合に磁気ヘッドが通常位置するホームポジション領域として使用する。

ここでは、上述したテスト領域として使用するロード・アンロード領域を、磁気ヘッドが通常位置するホームポジション領域としても使用する。
これにより、磁気ヘッドがテスト領域上に配置されている頻度・時間を増加させることができるため、衝撃等が加えられた後に第２データテストを行って第１データテストの結果と比較することで、より効率よくヘッドクラッシュにつながる磁気ヘッドや磁気ディスクの損傷を早期に検出することができる。
第４の発明に係る磁気ディスク装置は、第３の発明に係る磁気ディスク装置であって、制御部は、磁気ディスク上におけるホームポジション領域と複数のデータ領域とをテスト領域として、第１・第２のデータテストを行う。
ここでは、磁気ヘッドのホームポジション領域に加えて、磁気ディスクのデータ領域もテスト領域として使用し、第１・第２のデータテストを行う。

これにより、衝撃等が加えられた時に磁気ヘッドが位置していなかった領域をテスト領域に加えることができる。このため、衝撃等が加えられた後にホームポジション領域と複数のデータ領域とにおけるテスト結果を比較することで、検出した不具合の原因が磁気ヘッドの性能劣化にあるのか、磁気ディスクの損傷にあるのかを容易に判断することができる。
第５の発明に係る磁気ディスク装置は、第１の発明に係る磁気ディスク装置であって、制御部は、磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量が最も低い領域を、ホームポジション領域とする。
ここでは、通常、磁気ヘッドと磁気ディスクとが接触しやすいとされる磁気ヘッドの浮上量が最も低い領域を、ホームポジション領域とし、かつその領域をテスト領域として使用する。なお、磁気ヘッドの浮上量については、予めドライブの設計段階において認識できるものとする。

これにより、装置に対して外部から衝撃等が加えられた場合でも、磁気ディスク等に損傷が生じている確率が高い位置においてテストを行うことで、磁気ヘッドと磁気ディスクの損傷や不具合や性能劣化等の早い段階で検出することができる。この結果、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性をより効果的に低減することができる。
第６の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第５の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、装置が受けた衝撃を検出する衝撃検出部をさらに備えている。そして、制御部は、衝撃検出部において衝撃を検出した場合に、第２のデータテストを行う。
ここでは、装置に対して外部から付与された衝撃や振動等を検出する衝撃検出部を設け、衝撃等が検出された場合に、第２のデータテストを行う。

これにより、磁気ディスク装置における磁気ヘッドと磁気ディスクの衝撃による損傷や不具合や性能劣化を、衝撃を受けた直後に早い段階で検出することができる。この結果、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性をより効果的に低減することができる。
第７の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第６の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、制御部は、磁気ディスク上における中央付近であってデータ領域中に存在する領域を、装置の動作時において磁気ディスクへのデータの読み書きを行っていないときに磁気ヘッドが位置するホームポジション領域として使用する。
ここでは、データ領域に含まれる磁気ディスクの中央付近にホームポジション領域を設けている。

これにより、上位装置からのデータの読み書きを行う命令に対して、磁気ヘッドの移動距離が短くなるため、より効率よく磁気ヘッドによるデータの読み書きを実施することができる。
第８の発明に係る磁気ディスク装置は、第１または第２の発明に係る磁気ディスク装置であって、制御部は、ホームポジション領域およびテスト領域を除く領域を、データ領域として使用する。
ここでは、ホームポジション領域およびテスト領域以外の領域を、データ領域として使用する。
これにより、ホームポジション領域とテスト領域とをユーザが使用するデータ領域として用いないようにしているため、装置の外部から衝撃が加えられて磁気ヘッドが磁気ディスク面上を傷付けた場合でも、磁気ディスクに書き込まれたデータを失うことなく保護することができる。

第９の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第９の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、制御部は、第１のデータテストにおいて、テストデータの書き込み、読み出し、ベリファイテスト、ヘッド出力テスト、およびサーボデータのベリファイテストの少なくとも１つを行う。
ここでは、テストデータの書き込みや読み出し等が、第１のデータテストにおいて実施される。
これにより、磁気ディスク装置における磁気ヘッドと磁気ディスクの衝撃による損傷や不具合や性能劣化を検出するために、磁気ディスク装置の磁気ヘッドと磁気ディスクの初期状態を効率よく確認することができる。
第１０の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第９の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、第２のデータテストは自己診断テストである。そして、制御部は、上位装置からの命令を受信した時、または動作時における磁気ディスクへのデータの読み書きが行われないときに、所定の間隔で自己診断テストを行う。

ここでは、自己診断テストとしての第２のデータテストを、上位装置からの命令受信時や、磁気ディスクへのデータの読み書きが行われていないときに所定の時間ごとに実施する。
これにより、磁気ディスク装置における磁気ヘッドと磁気ディスクの衝撃による損傷や不具合や性能劣化をできるだけ早期に検出することができる。この結果、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性をより効果的に低減することができる。
第１１の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第１０の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、第２のデータテストは自己診断テストである。そして、制御部は、動作時における磁気ヘッドをランプ上の待機位置にアンロードさせる前と、ランプ上の待機位置から磁気ディスク上にロードさせた後に、自己診断テストを行う。

ここでは、自己診断テストとしての第２のデータテストを、磁気ヘッドをランプ上へ移動させる際や、ランプ上から磁気ディスク上へ移動させた後に実施する。
これにより、磁気ディスク装置における磁気ヘッドと磁気ディスクの衝撃による損傷や不具合や性能劣化を、動作開始時および動作終了時に検出することができる。この結果、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性をより効果的に低減することができる。
第１２の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第１１の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、制御部は、第２のデータテストにおいて、テストデータの書き込み、読み出し、ベリファイテスト、ヘッド出力テスト、およびサーボデータのベリファイテストの少なくとも１つを行う。

ここでは、第２のデータテストにおいて、第１のデータテストに対応する、テストデータの書き込み、読み出し等の処理を行う。
これにより、磁気ディスク装置における磁気ヘッドと磁気ディスクの衝撃による損傷や不具合や性能劣化を早期に検出するために、磁気ディスク装置の磁気ヘッドと磁気ディスクの現在の状態を効率よく確認することができる。
第１３の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第１２の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、制御部は、第１・第２のデータテストの結果を比較して、テストデータのベリファイエラー、サーボデータのベリファイエラーの発生回数や、テストデータの読み出し時におけるヘッド出力の変化に基づいて、磁気ヘッドおよび磁気ディスクの異常の有無を判定する。

ここでは、制御部における異常発生の有無の判定として、上述したテストデータやサーボデータのベルファイエラーの発生回数等を参酌する。
これにより、磁気ディスク装置の動作時に衝撃が加わった場合における磁気ヘッドと磁気ディスクの衝撃による損傷や不具合や性能劣化等の問題の発生を、より効果的に検出することができる。
第１４の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第１３の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、制御部は、磁気ヘッドおよび磁気ディスクの異常が所定のレベル以上のものである場合には、磁気ヘッドを前記ランプ上の待機位置に移動させる。
ここでは、制御部における異常レベルの判定に際して、上述したテストデータやサーボデータのベリファイエラーの回数に加えて、上述したデータテストやサーボベリファイテストにおけるリトライの発生回数等を参酌し、磁気ヘッドや磁気ディスクに生じた異常レベル（重症度）に応じて、磁気ヘッドを所定の待機位置へ移動させる。

これにより、磁気ヘッド等に発生した異常が重症である場合には、それ以上磁気ヘッドや磁気ディスクが損傷を受けないようにすることができる。この結果、発生した異常がこれ以上悪化することを防止して、ヘッドクラッシュ等の発生を効果的に防止することができる。
第１５の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第１４の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、制御部において異常有りと判定された場合に、異常発生の警告通知を行う警告通知部を、さらに備えている。
ここでは、異常発生時における報知を、警告通知部によって行う。
これにより、ユーザに対して磁気ディスク装置における異常の発生状況を、すぐに警告通知することができる。この結果、ユーザは、より効率的にデータのバックアップ等の措置を講じることができるため、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。

第１６の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第１５の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、制御部における異常の有無の判定結果を表示する表示部を、さらに備えている。
ここでは、異常発生の判定結果を示す表示部として、モニタ等を設けている。
これにより、ユーザは、異常の発生の有無を即座に確認することができる。この結果、異常発生時には、即座にデータのバックアップ等の措置を講じることができるため、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
第１７の発明に係る磁気ディスク装置は、第１６の発明に係る磁気ディスク装置であって、制御部は、異常有りと判定した際に、検出した異常のレベルに応じて表示部における表示状態を切り換える。

ここでは、磁気ディスク装置内において発生した異常のレベル（重症度）に応じて、例えば、緊急度がユーザに伝わるように表示を切り換える。
これにより、ユーザは、異常の発生の有無やその重症度を即座に確認することができる。この結果、異常発生時には、即座にデータのバックアップ等の措置を講じることができるため、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
第１８の発明に係る磁気ディスク装置は、第１から第１７の発明のいずれか１つに係る磁気ディスク装置であって、第１・第２のデータテストの結果を格納する記憶部を、さらに備えている。
ここでは、磁気ディスク装置において発生した異常の有無を判定するためのデータテストの結果を、例えば、不揮発性のメモリ等に格納している。

これにより、第１のデータテストを実施後、所定時間経過後に第２のデータテストを実施する場合でも、判定の基準となる第１のデータテストの結果を記憶部から取り出して、比較を行うことができる。

本発明の磁気ディスク装置によれば、磁気ヘッドや磁気ディスクの損傷等の不具合の発生を早期に検出して、ヘッドクラッシュの発生を効果的に防止するとともに、データのバックアップ等を行うことにより磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。

［実施形態１］
本実施形態の磁気ディスク装置１について、図１〜図６を用いて説明すれば以下の通りである。
［磁気ディスク装置１の構成］
磁気ディスク装置１は、図１に示すように、記録媒体としての磁気ディスク２と、磁気ヘッド３と、ランプ５と、不揮発性記憶部６と、衝撃検出部７と、表示部８と、制御部９と、を備えている。
磁気ヘッド３は、ランプ５上の待機位置と磁気ディスク２上との間でローディングまたはアンローディングするアクチュエータ４に取り付けられている。
ランプ５は、磁気ディスク２の近傍に配置されている。

不揮発性記憶部６は、第１のデータテストと第２のデータテストの結果を格納する。なお、この不揮発性記憶部６としては、図２に示すように、フラッシュメモリ１１を用いることができる。
衝撃検出部７は、磁気ディスク装置１に加えられた衝撃を検出する。なお、この衝撃検出部７としては、ショックセンサ１２を用いることができる。
表示部８は、図２に示すように、２つのＬＥＤ１３，１４を用いることができ、不具合の発生を表示する。
制御部９は、磁気ディスク装置１におけるデータの読み書きおよび衝撃の検出処理を制御する。そして、制御部９は、第１データテストおよび第２データテストの結果を比較して不具合を検出した場合には、図２に示すように、上位装置１０としてのホストＰＣ１６に警告通知を行うとともにＬＥＤ１３，１４（表示部８）に表示させる制御回路１５である。

本実施形態では、図３に示すように、磁気ディスク２上にホームポジション領域１７とテスト領域１８とを設けている。具体的には、磁気ディスク２上の中央付近のユーザが使用するデータ領域に、ホームポジション領域１７とテスト領域１８とが設けられている。そして、ホームポジション領域１７およびテスト領域１８は、ユーザが使用するデータ領域として使用されないように構成されている。
ホームポジション領域１７は、磁気ディスク装置１の動作時で磁気ディスク２へのデータの読み書きが行われない場合に磁気ヘッド３が通常位置する領域である。
テスト領域１８は、そのホームポジション領域１７内に設けられており、異常発生の有無を判定するための基準となる第１のデータテストと、磁気ディスク装置１の動作時において自己診断テスト（第２のデータテスト）と、が行われる領域である。

テスト領域１８において実施される第１のデータテストでは、テスト領域１８上に磁気ヘッド３を配置した状態で、テストデータの書き込みや読み出し、ベリファイテスト、ヘッド出力テスト、およびサーボデータのベリファイテスト等が実施される。なお、この第１のデータテストは、磁気ディスク装置１に電源投入された直後等のように、装置の立ち上げから早い段階で実施され、異常発生の有無判定の基準として、フラッシュメモリ１１（不揮発性記録部６）にテスト結果が格納される。
一方、同じくテスト領域１８において実施される第２のデータテストでは、テスト領域１８上に磁気ヘッド３を配置した状態で、第１のデータテストにおいて実施されたテストと同じ内容のテストが行われる。なお、この第２のデータテストは、自己診断テストとして実施され、上位装置からの命令を受信した時、または動作時における磁気ディスク２へのデータの読み書きが行われないときに所定の間隔で実施される。また、第２のデータテストは、動作時における磁気ヘッド３をランプ５上の待機位置にアンロードさせる前や、ランプ５上の待機位置から磁気ディスク２上にロードさせた後で実施されてもよい。

制御部９では、このテスト領域１８において実施された第１・第２のデータテストの結果を比較して、その差が所定量以上ある場合には、磁気ヘッド３あるいは磁気ディスク２において異常が発生したものと判定を行う。なお、この異常発生の判定までの流れについては、後段にて詳述する。
＜磁気ディスク装置１の動作＞
次に、本実施形態における磁気ディスク装置１の動作について、図４〜図６を用いて説明する。
まず、図４に示すように、ステップＳ４−１において、装置の電源が投入されると、ステップＳ４−２では、制御回路１５は、磁気ディスク装置１の初期化を行う。そして、磁気ディスク２が所定の回転数に達すると、アクチュエータ４を動作させて、磁気ヘッド３がランプ５上の待機位置から磁気ディスク２上にローディングされる。さらに、このとき制御回路１５は、磁気ディスク２上のシステム情報の読み出し等を行い、磁気ヘッド３を磁気ディスク装置１の動作時におけるデータの読み書きが行われない間に、磁気ヘッド３が通常位置するホームポジション領域１７に移動させる。

次に、ステップＳ４−３では、制御回路１５は、第１のデータテストが既に行われているかどうかを確認するために、フラッシュメモリ１１にアクセスする。ここで、フラッシュメモリ１１に第１のデータテストの結果が存在しない場合には、ステップＳ４−５に進む。一方、フラッシュメモリ１１に第１のデータテストの結果が存在する場合には、ステップＳ４−４に進む。
ステップＳ４−５において実施される第１のデータテストの内容については、図５を用いて後段にて詳述する。
ステップＳ４−３でフラッシュメモリ１１に第１のデータテストの結果が存在する場合には、ステップＳ４−４で自己診断テストとして第２のデータテストが行われる。なお、このステップＳ４−４における自己診断テストについては、図６を用いて後段にて説明する。

ステップＳ４−６では、検出した不具合や性能劣化が磁気ディスク装置１にとって致命的なものである場合には、磁気ディスク装置１の使用を中止する。一方、不具合や性能劣化を検出したが、磁気ディスク装置１の使用を継続する場合や、不具合や性能劣化が検出されなかった場合には、ステップＳ４−７に進む。
ステップＳ４−７では、磁気ヘッド３をホームポジション領域１７上で待機させる。
ステップＳ４−８では、制御回路１５が磁気ディスク装置１の動作に関する割り込みを待つ。制御回路１５は、割り込みを検出するとステップＳ４−９で割り込みの解析を行う。検出した割り込みがデータのアクセス要求である場合には、ステップＳ４−１０に進み、データのアクセス要求でなければ、ステップＳ４−１１に進む。
ステップＳ４−１０では、要求されたデータのアクセスを行い、アクセス終了後、再びステップＳ４−７に進み、磁気ヘッド３はホームポジション領域１７上で待機して、ステップＳ４−８で次の割り込みを待つ。

ステップＳ４−１１では、検出した割り込みが、磁気ディスク装置１に加えられた衝撃によって、ショックセンサ１２が検出した衝撃割り込みである場合には、ステップＳ４−１４に進み、それ以外では、ステップＳ４−１２に進む。
ステップＳ４−１２では、検出した割り込みが、ホストＰＣ１６からの自己診断テストの命令であるのか、または磁気ヘッド３をランプ５上の待機位置にアンローディングさせる命令なのか、それともそれ以外なのかを解析する。検出した割り込みが、ホストＰＣ１６からの自己診断テストの命令、または磁気ヘッド３をランプ５上の待機位置にアンローディングさせる命令の場合には、ステップＳ４−１４に進み、それ以外ではステップＳ４−１３に進む。
ステップＳ４−１３では、検出した割り込みが、制御回路１５における自己診断テストのためのタイマー割り込みなのか、それともそれ以外なのかを解析する。検出した割り込みが、制御回路１５における自己診断テストのためのタイマー割り込みの場合には、ステップＳ４−１４に進み、それ以外ではステップＳ４−１６に進む。

ステップＳ４−１４では、自己診断テストとして第２のデータテストが行われる。なお、このステップＳ４−１４における自己診断テストの動作については、図６を用いて後段にて説明する。
ステップＳ４−１５では、検出した不具合や性能劣化が磁気ディスク装置１にとって致命的なものである場合には、磁気ディスク装置１の使用を中止する。一方、不具合や性能劣化を検出したが、磁気ディスク装置１の使用を継続する場合や、不具合や性能劣化が検出されなかった場合には、ステップＳ４−７に戻る。
ステップＳ４−１６では、磁気ディスク装置１の動作終了の命令であるかどうかを解析し、他の命令である場合には、ステップＳ４−１８に進み、対応した処理を行い、ステップＳ４−７に戻る。一方、磁気ディスク装置１の動作終了の命令である場合には、ステップＳ４−１７に進む。動作終了時に磁気ディスク３をランプ５上にアンローディングさせる前に自己診断テストとして第２のデータテストを実施する。なお、このステップＳ４−１７における自己診断テストの動作については、図６を用いて後段にて説明する。そして、ステップＳ４−１７において自己診断テストが完了した後、処理を終了する。

＜第１のデータテストの内容＞
ここで、上述したステップＳ４−５において実施される第１のデータテストに関して、図５を用いて詳しく説明する。
すなわち、ステップＳ５−１では、磁気ヘッド３を所定のテスト領域１８に移動させる。
ステップＳ５−２では、磁気ヘッド３の出力テストを行う。具体的には、任意の一定なデータを書き込み、それを読み出して、１トラックあたりの出力の平均値を求める。
ステップＳ５−３では、テスト領域１８のサーボデータのベリファイを行う。
ステップＳ５−４では、テストデータのベリファイテストを行う。具体的には、まず、テスト領域１８にテストデータを書き込み、続いてそれを読み出してベリファイを行う。

ステップＳ５−５では、ステップＳ５−２からステップＳ５−４までの結果を、フラッシュメモリ１１に格納する。
ステップＳ５−６において、予め定められたテスト結果の判定基準とステップＳ５−５での格納結果を比較して、磁気ディスク２および磁気ヘッド３に不具合があるかどうかを検出する。ここで、不具合が無いと判定された場合には、ステップＳ５−９に進み、上位装置であるホストＰＣ１６に正常である旨の通知や表示を行う。ここでは、例えば、ＬＥＤ１３とＬＥＤ１４の両方を点灯させる。一方、ステップＳ５−６で不具合があると判断されると、ステップＳ５−７に進む。
ステップＳ５−７では、不具合のレベルを判断する。ここで磁気ディスク装置として致命的な障害であるヘッドクラッシュ等の不具合があると判断されれば、ステップＳ５−８に進む。その他の不具合の場合には、磁気ヘッド３を磁気ディスク２上からランプ５上の待機位置に退避させることなく、ステップＳ５−９に進む。

ステップＳ５−８では、磁気ディスク２に書き込まれているデータを保護するために、磁気ヘッド３を磁気ディスク２上からランプ５上の待機位置に退避させ、ステップＳ５−９に進む。
ステップＳ５−９では、検出した不具合をホストＰＣ１６に通知するとともに、不具合に応じてＬＥＤ１３とＬＥＤ１４を点灯させる。この時、例えば、テストデータのベリファイによって磁気ディスク２の欠陥を検出した場合には、ＬＥＤ１３のみで１秒間隔の点滅表示を行う。そして、ヘッド出力テストで不具合を検出した場合には、ＬＥＤ１４でのみで５秒間隔の点滅表示を行うというように、表示状態を可変にして表示する。
ステップＳ５−１０では、警告通知されたことをホストＰＣ１６が認識して、ＬＥＤ１３とＬＥＤ１４の表示を終了させ、必要であればデータのバックアップ処理等を行い、図４のステップＳ４−６へ戻る。

＜自己診断テストの内容＞
ここでさらに、上述したステップＳ４−４、ステップＳ４−１４、およびステップＳ４−１７における自己診断テストの内容について、図６を用いて詳しく説明する。
すなわち、ステップＳ６−１では、磁気ヘッド３を所定のテスト領域１８に移動させる。
ステップＳ６−２では、磁気ヘッド３の出力テストを行う。具体的には、任意の一定なデータを書き込み、それを読み出して、１トラックあたりの出力の平均値を求める。
ステップＳ６−３では、テスト領域１８のサーボデータのベリファイを行う。
ステップＳ６−４では、テストデータのベリファイテストを行う。具体的には、まず、テスト領域１８にテストデータを書き込み、続いてそれを読み出してベリファイを行う。

ステップＳ６−５では、ステップＳ６−２からステップＳ６−４までの結果をフラッシュメモリ１１に格納する。
ステップＳ６−６では、予め定められたテスト結果の判定基準とステップＳ６−５で格納されたテストの結果と、既に格納されている第１のデータテストおよび第２のデータテストの結果とを比較し、磁気ディスク２および磁気ヘッド３の性能に劣化があるか、または磁気ディスク２および磁気ヘッド３に不具合があるかどうかを検出する。ここで、不具合や性能劣化が無い場合には、ステップＳ６−９に進み、上位装置であるホストＰＣ１６に正常である通知を行って正常である旨の表示を行う。ここでは、例えば、ＬＥＤ１３とＬＥＤ１４の両方を点灯させる。ステップＳ６−６で不具合があると判断されると、ステップＳ６−７に進む。

ステップＳ６−７では、不具合や性能劣化のレベルを判断する。ここで磁気ディスク装置として致命的な障害であるヘッドクラッシュ等の不具合があると判断されれば、ステップＳ６−８に進む。その他の不具合や性能劣化の場合には、磁気ヘッド３を磁気ディスク２上からランプ５上の待機位置に退避させることなく、ステップＳ６−９に進む。
ステップＳ６−８では、磁気ディスク２に書き込まれているデータを保護するために、磁気ヘッド３を磁気ディスク２上からランプ５上の待機位置に退避させ、ステップＳ６−９に進む。
ステップＳ６−９では、検出した不具合や性能劣化をホストＰＣ１６に通知するとともに、不具合に応じてＬＥＤ１３とＬＥＤ１４を点灯させる。この時、例えば、テストデータのベリファイにより磁気ディスク２の欠陥を検出した場合には、ＬＥＤ１３のみで１秒間隔の点滅表示を行う。そして、ヘッド出力テストで不具合を検出した場合には、ＬＥＤ１４でのみで５秒間隔の点滅表示を行うというように、表示状態を可変にして表示する。

ステップＳ６−１０では、警告通知されたことをホストＰＣ１６が認識して、ＬＥＤ１３とＬＥＤ１４の表示を終了させる。一方、ステップＳ４−４における自己診断テストの場合には、必要であればデータのバックアップ処理等を行って図４のステップＳ４−６に進む。また、ステップＳ４−１０における自己診断テストの場合には、必要であればデータのバックアップ処理等を行い、図４のステップＳ４−１５に進む。さらに、ステップＳ４−１７における自己診断テストの場合には、必要であればデータのバックアップ処理等を行い、磁気ヘッド３をランプ５上にアンローディングさせ、磁気ディスク装置１の動作を終了させる。
［本磁気ディスク装置１の特徴］
本実施形態の磁気ディスク装置１では、以上のように、予め磁気ディスク２上におけるホームポジション領域１７に設けられたテスト領域１８において、磁気ヘッド３と磁気ディスク２のテスト（第１のデータテスト）を行い、そのテスト結果をフラッシュメモリ１１に格納する。そして、磁気ディスク装置１の動作時における自己診断テスト時に、同じテスト領域１８にてテスト（第２のデータテスト）を行い、そのテスト結果を比較して、結果に所定量以上の差があるか否か等に応じて、異常の発生の有無の判定を行う。

これにより、装置の外部から衝撃等が加えられた場合に磁気ヘッド３が通常位置するホームポジション領域１７においてテストを行うことで、動作時における磁気ヘッド３と磁気ディスク２の衝撃による損傷や不具合や性能劣化を早い段階で効率よく検出することができる。この結果、磁気ディスク装置１の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性を効果的に低減することができる。
また、異常発生の場合には、早期にホストＰＣ１６に警告通知することで、ユーザとしては、早期にデータのバックアップを行うことができる。この結果、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
また、ショックセンサ１２により、磁気ディスク装置１に加えられた衝撃を検出することで、磁気ヘッド３と磁気ディスク２の衝撃による損傷や不具合や性能劣化を、衝撃を受けた直後にテストすることができる。この結果、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの可能性をより早い段階で検出することができる。このため、この検出結果を早期に上位装置に警告通知することで、ユーザは事前にデータのバックアップを行うことができるため、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。

さらに、磁気ヘッド３が通常位置するホームポジション領域１７を、磁気ディスク２上の中央付近でユーザが使用するデータ領域中に設けているため、データへのアクセス要求に対して、磁気ヘッド３の移動をより効率よく行うことができる。
さらに、ホームポジション領域１７およびテスト領域１８を、ユーザが使用するデータ領域として用いないようにしているため、衝撃が加えられて、磁気ヘッド３が磁気ディスク２面上を傷付けたとしても、ユーザデータを失うことなく保護することができる。
［実施形態２］
本発明の他の実施形態に係る磁気ディスク装置について、図７を用いて説明すれば以下の通りである。なお、上述した実施形態１において説明した部材と共通の形状、機能を有する部材については同じ符号を付すことで、ここでではその説明を省略する。

本実施形態では、図７に示すように、磁気ヘッド３が磁気ディスク２上にローディングまたはアンローディングする際に使用するロード・アンロード領域１９に、異常発生の有無を判定するための基準となる第１のデータテストや磁気ディスク装置の自己診断テスト時に第２のデータテストが行われるテスト領域１８が設けられている点で、上記実施形態１とは異なっている。
そして、ロード・アンロード領域１９とテスト領域１８とは、上記実施形態１と同様に、ユーザが使用するデータ領域としては使用されないように構成されている。
＜磁気ディスク装置の動作＞
以下では、上記実施形態１において説明した図４〜図６に示す処理の流れについて、異なる部分だけを抽出して説明する。

図４のステップＳ４−１からステップＳ４−１８については、基本的に、上記実施形態１と同様である。
なお、ステップＳ４−４、ステップＳ４−１４、ステップＳ４−１７において実施される自己診断テストでは、ステップＳ６−１において、磁気ヘッド３をロード・アンロード領域１９内の所定のテスト領域１８に移動させるものとし、それ以外の点については上記実施形態１と同様の処理が行われる。
また、同様に、ステップＳ４−５において実施される第１のデータテストでは、ステップＳ５−１において、磁気ヘッド３をロード・アンロード領域１９内の所定のテスト領域１８に移動させるものとし、それ以外の点については上記実施形態１と同様の処理が行われる。

［本磁気ディスク装置の特徴］
本実施形態の磁気ディスク装置では、磁気ディスク２上におけるロード・アンロード領域１９内に設けられたテスト領域１８において、磁気ヘッド３および磁気ディスク２のテストを行い、その結果をフラッシュメモリ１１に格納する。そして、磁気ディスク装置の動作時における自己診断テスト時に、同じテスト領域１８においてテスト（第２のデータテスト）を行い、その結果を比較して、磁気ディスク２や磁気ヘッド３における異常発生の有無を判定する。
これにより、一般的に磁気ディスク３等に問題が発生し易いとされるロード・アンロード領域１９内においてテストを実施することで、磁気ディスク装置のローディングまたはアンローディング時における磁気ヘッド３および磁気ディスク２の衝撃による損傷や不具合や性能劣化を早い段階で検出することができる。この結果、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性を低減することができる。

また、異常発生の場合には、その検出結果を早期にホストＰＣ１６に警告通知することで、ユーザは早期にデータのバックアップを行うことが可能となることから、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
さらに、ショックセンサ１２によって、磁気ディスク装置に加えられた衝撃を検出することで、磁気ヘッド３と磁気ディスク２の衝撃による損傷や不具合や性能劣化を、衝撃を受けた直後にテストすることができる。これにより、磁気ディスク装置内における磁気ディスク２や磁気ヘッド３等の損傷等を早期に発見して、致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生をより効果的に防止することができる。
［実施形態３］
本発明のさらに他の実施形態に係る磁気ディスク装置について、図８を用いて説明すれば以下の通りである。なお、上述した実施形態１，２において説明した部材と共通の形状、機能を有する部材については同じ符号を付すことで、ここでではその説明を省略する。

本実施形態では、図８に示すように、磁気ヘッド３がローディングまたはアンローディングする際に使用するロード・アンロード領域１９を、磁気ディスク装置の動作時で磁気ディスク２へのデータの読み書きが行われない場合に磁気ヘッド３が通常位置するホームポジション領域１７としている。そして、このホームポジション領域１７に、異常発生の有無を判定するための基準となる第１のデータテストと磁気ディスク装置の動作時における自己診断テスト時に第２のデータテストとが行われるテスト領域１８が設けられている点で、上記実施形態１，２とは異なっている。そして、ホームポジション領域１７とテスト領域１８とは、上記実施形態と同様に、ユーザが使用するデータ領域として使用しない構成になっている。
＜磁気ディスク装置の動作＞
以下では、上記実施形態１において説明した図４〜図６に示す処理の流れについて、異なる部分だけを抽出して説明する。

図４のステップＳ４−１からステップＳ４−１８については、基本的に、上記実施形態１と同様である。
なお、ステップＳ４−２において、制御回路１５が磁気ヘッド３を移動させるホームポジション領域１７は、磁気ヘッド３がローディングまたはアンローディングする際に使用するロード・アンロード領域１９である。
なお、ステップＳ４−４、ステップＳ４−１４、ステップＳ４−１７において実施される自己診断テストでは、ステップＳ６−１において、ホームポジション領域１７であるロード・アンロード領域１９内の所定のテスト領域１８に磁気ヘッド３を移動させるものとし、それ以外の点については上記実施形態１と同様の処理が行われる。
また、同様に、ステップＳ４−５において実施される第１のデータテストでは、ステップＳ５−１において、ホームポジション領域１７であるロード・アンロード領域１９内の所定のテスト領域１８に磁気ヘッド３を移動させるものとし、それ以外の点については上記実施形態１と同様の処理が行われる。

［本磁気ディスク装置の特徴］
本実施形態の磁気ディスク装置によれば、ロード・アンロード領域１９であるホームポジション領域１７内の予め定めておいたテスト領域１８で、磁気ヘッド３と磁気ディスク２のテストを行い、その結果をフラッシュメモリ１１に格納する。そして、磁気ディスク装置の動作時における自己診断テスト時に、同じテスト領域１８にてテスト（第２のデータテスト）を行い、その結果を比較することで、磁気ディスク２や磁気ヘッド３における異常の発生の有無を早期に検出することができる。
これにより、一般的に磁気ディスク３等に問題が発生し易いとされるロード・アンロード領域１９を磁気ヘッド３のホームポジション領域１７とし、その内部においてテストを実施することで、磁気ディスク装置のローディングまたはアンローディング時における磁気ヘッド３および磁気ディスク２の衝撃による損傷や不具合や性能劣化を早い段階で検出することができる。この結果、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性を低減することができる。

また、異常発生の場合には、その検出結果を早期にホストＰＣ１６に警告通知することで、ユーザは早期にデータのバックアップを行うことが可能となることから、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
また、ショックセンサ１２により、磁気ディスク装置に加えられた衝撃を検出することで、衝撃を受けた直後にテストを実施することができる。この結果、磁気ヘッド３と磁気ディスク２との衝撃による損傷や不具合や性能劣化を、早期に検出することができる。よって、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性をより効果的に低減することができる。
さらに、ロード・アンロード領域１９をホームポジション領域１７とし、かつその領域にテスト領域１８を設けているため、装置に衝撃が加えられて、磁気ヘッド３が磁気ディスク２面上を傷付けたとしても、データを保護することができる。そして、ロード・アンロード領域にテスト領域１８を設けたことによるデータ領域の減少を抑えることができる。

［実施形態４］
本発明のさらに他の実施形態に係る磁気ディスク装置について、図９〜図１１を用いて説明すれば以下の通りである。なお、上述した実施形態１において説明した部材と共通の形状、機能を有する部材については同じ符号を付すことで、ここでではその説明を省略する。
本実施形態では、図９に示すように、磁気ヘッド３がローディングまたはアンローディングする際に使用するロード・アンロード領域１９を磁気ディスク装置１の動作時で磁気ディスク２へのデータの読み書きが行われない場合に磁気ヘッド３が通常位置するホームポジション領域１７としている。そして、ホームポジション領域１７と、ユーザが使用する複数のデータ領域とに、異常発生の有無を判定するための基準となる第１のデータテストと磁気ディスク装置１の動作時における自己診断テスト時に第２のデータテストとが行われるテスト領域１８，２０をそれぞれ設けている点において、上記実施形態１〜３とは異なっている。そして、ホームポジション領域１７とテスト領域１８，２０とは、ユーザが使用するデータ領域として使用されないように構成されている。

＜磁気ディスク装置の動作＞
以下では、上記実施形態１において説明した図４に示す処理の流れについて、異なる部分だけを抽出して説明する。
図４のステップＳ４−２において、制御回路１５が磁気ヘッド３を移動させるホームポジション領域１７は、磁気ヘッド３がローディングまたはアンローディングする際に使用するロード・アンロード領域１９である。
なお、ステップＳ４−５において実施される第１のデータテストについては、上記実施形態１説明した内容（図５参照）と一部異なっているため、以下において図１０を用いて説明する。
また、同様に、ステップＳ４−４、ステップＳ４−１４、ステップＳ４−１７において実施される自己診断テストについても、上記実施形態１において説明した内容（図６参照）と一部異なっているため、以下において図１１を用いて説明する。

＜第１のデータテストの内容＞
ここで、ステップＳ４−５において実施される第１のデータテストについて、図１０を用いて説明すれば以下の通りである。
図１０のステップＳ１０−１では、磁気ヘッド３をホームポジション領域１７内の所定のテスト領域１８に移動させる。
ステップＳ１０−２では、磁気ヘッド３の出力テストを行う。任意の一定なデータを書き込み、それを読み出して、１トラックあたりの出力の平均値を求める。
ステップＳ１０−３では、テスト領域１８のサーボデータのベリファイを行う。
ステップＳ１０−４では、テストデータのベリファイテストを行う。具体的には、まずテスト領域１８にテストデータを書き込み、続いてそれを読み出してベリファイを行う。

ステップＳ１０−５では、ステップＳ１０−２からステップＳ１０−４までの結果をフラッシュメモリ１１に格納する。
ステップＳ１０−６では、第１のデータテストが終了したかどうかをチェックする。ここで、データ領域のテスト領域２０における第１のデータテストが終了していれば、ステップＳ１０−７に進む。一方、終了していなければステップＳ１０−１に戻り、テスト領域２０に移動してステップＳ１０−２からステップＳ１０−４を行ってから、ステップＳ１０−５においてその結果をフラッシュメモリ１１に格納する。そして、ステップＳ１０−６において、テスト領域２０での第１のデータテストが終了した場合には、ステップＳ１０−７に進む。
ステップＳ１０−７では、予め定められたテスト結果の判定基準とステップＳ１０−５において格納したテスト領域１８およびテスト領域２０におけるテスト結果を比較し、磁気ディスク２および磁気ヘッド３に異常があるかどうかを検出する。ここで、不具合が無い場合には、ステップＳ１０−１０に進み、上位装置であるホストＰＣ１６に正常である通知を行う。このとき、正常である表示として、例えば、ＬＥＤ１３とＬＥＤ１４の両方を点灯させる。一方、ステップＳ１０−７において異常有りと判断されると、ステップＳ１０−８に進む。

ステップＳ１０−８では、検出された異常のレベルを判定する。ここで、磁気ディスク装置として致命的な障害であるヘッドクラッシュ等の不具合があると判断されれば、ステップＳ１０−９に進む。一方、磁気ディスク２に書き込まれているデータを保護するために、磁気ヘッド３を磁気ディスク２上からランプ５上の待機位置に退避させ、ステップＳ１０−１０に進む。その他の不具合の場合には、磁気ヘッド３を磁気ディスク２上からランプ５上の待機位置に退避させることなく、ステップＳ１０−１０に進む。
ステップＳ１０−１０では、検出した不具合をホストＰＣ１６に通知するとともに、不具合に応じてＬＥＤ１３とＬＥＤ１４を点灯させる。このとき、例えば、テストデータのベリファイにより磁気ディスク２の欠陥を検出した場合には、ＬＥＤ１３のみで１秒間隔の点滅表示を行い、ヘッド出力テストで不具合を検出した場合には、ＬＥＤ１４でのみで５秒間隔の点滅表示を行うというように、異常の種類やレベル等に応じて表示状態を切り換えて表示する。

ステップＳ１０−１１では、警告通知されたことをホストＰＣ１６が認識して、ＬＥＤ１３とＬＥＤ１４の表示を終了させ、必要であればデータのバックアップ処理等を行い、図４のステップＳ４−６に進む。
＜自己診断テストの内容＞
ステップＳ４−４において実施される自己診断テストについて、図１１を用いて説明すれば以下の通りである。
図１１のステップＳ１１−１では、磁気ヘッド３をホームポジション領域１７内の所定のテスト領域１８に移動させる。
ステップＳ１１−２では、磁気ヘッド３の出力テストを行う。具体的には、任意の一定なデータを書き込みそれを読み出して、１トラックあたりの出力の平均値を求める。

ステップＳ１１−３では、テスト領域１８のサーボデータのベリファイを行う。
ステップＳ１１−４では、テストデータのベリファイテストを行う。具体的には、まず、テスト領域１８にテストデータを書き込み、続いてそれを読み出してベリファイを行う。
ステップＳ１１−５では、ステップＳ１１−２からステップＳ１１−４までの結果をフラッシュメモリ１１に格納する。
ステップＳ１１−６では、第２のデータテストが終了したかどうかをチェックする。ここで、データ領域のテスト領域２０における第２のデータテストが終了していれば、ステップＳ１１−７に進む。一方、終了していなければステップＳ１１−１に戻り、テスト領域２０に移動して、ステップＳ１１−２からステップＳ１１−４を行い、ステップＳ１１−５においてその結果をフラッシュメモリ１１に格納する。そして、ステップＳ１１−６でテスト領域２０における第２のデータテストが終了すると、ステップＳ１１−７へ進む。

ステップＳ１１−７では、予め定められたテスト結果の判定基準とステップＳ１１−５で格納したテスト領域１８，２０におけるテスト結果を比較して、磁気ディスク２および磁気ヘッド３に異常（不具合）があるかどうかを検出する。ここで、不具合が無い場合には、ステップＳ１１−１０に進み、上位装置であるホストＰＣ１６に正常である通知を行う。このとき、正常である表示として、例えばＬＥＤ１３とＬＥＤ１４の両方を点灯させる。ステップＳ１１−７で不具合があると判断されると、ステップＳ１１−８に進む。
ステップＳ１１−８では、不具合のレベルを判断する。ここで磁気ディスク装置として致命的な障害であるヘッドクラッシュ等の異常発生と判断されれば、ステップＳ１１−９に進む。その他の不具合の場合には、磁気ヘッド３を磁気ディスク２上からランプ５上の待機位置に退避させることなく、ステップＳ１１−１０に進む。

ステップＳ１１−９では、磁気ディスク２に書き込まれているデータを保護するために、磁気ヘッド３を磁気ディスク２上からランプ５上の待機位置に退避させ、ステップＳ１１−１０に進む。
ステップＳ１１−１０では、検出した不具合をホストＰＣ１６に通知するとともに、不具合に応じてＬＥＤ１３，１４を点灯させる。このとき、例えば、テストデータのベリファイによって磁気ディスク２の欠陥を検出した場合には、ＬＥＤ１３のみで１秒間隔の点滅表示を行う。一方、ヘッド出力テストで不具合を検出した場合には、ＬＥＤ１４でのみで５秒間隔の点滅表示を行うというように、異常発生の種類、レベル等に応じて表示状態を切り換えて表示する。
ステップＳ１１−１１では、警告通知されたことをホストＰＣ１６が認識して、ＬＥＤ１３とＬＥＤ１４の表示を終了させ、必要であればデータのバックアップ処理等を行い、図４のステップＳ４−６に進む。

［本磁気ディスク装置の特徴］
本実施形態の磁気ディスク装置によれば、ロード・アンロード領域１９であるホームポジション領域１７内の予め定めておいたテスト領域１８と、データ領域に設けられた複数のテスト領域２０とにおいて、磁気ヘッド３と磁気ディスク２のテストを行い、その結果をフラッシュメモリ１１に格納する。そして、磁気ディスク装置の動作時における自己診断テスト時に、同じテスト領域１８とテスト領域２０においてテスト（第２のデータテスト）を行い、その結果を比較することで、ローディングまたはアンローディング時における磁気ヘッド３や磁気ディスク２の損傷や不具合、性能劣化等の異常の有無を判定する。
これにより、磁気ディスク２や磁気ヘッド３における異常の発生を、比較的早い段階で検出することができる。この結果、磁気ディスク装置１の致命的な障害であるヘッドクラッシュ発生の可能性を低減することができる。

そして、この異常の発生を早期にホストＰＣ１６に警告通知することで、ユーザとしては事前にデータのバックアップを行うことができる。この結果、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
また、ショックセンサ１２によって装置に加えられた衝撃を検出することで、磁気ヘッド３や磁気ディスク２の損傷や不具合等を調べるためのテストを、衝撃を受けた直後に実施することができる。
さらに、ロード・アンロード領域１９にホームポジション領域１７とテスト領域１８とを設けているため、装置に衝撃が加えられて磁気ヘッド３が磁気ディスク２面上を傷付けた場合でも、ユーザデータを保護することができる。よって、テスト領域１８を設けたことによるデータ領域の減少を抑えることができる。

さらに、磁気ディスク２上にテスト領域２０を複数設けたことにより、第１のデータテストの結果と第２のデータテスト（自己診断テスト）との結果を比較する際の信頼性を向上させることができる。
［実施形態５］
本発明のさらに他の実施形態に係る磁気ディスク装置について、図１２および図１３を用いて説明すれば以下の通りである。なお、上述した実施形態１において説明した部材と共通の形状、機能を有する部材については同じ符号を付すことで、ここでではその説明を省略する。
本実施形態では、図１２に示すように、磁気ヘッド３の磁気ディスク２に対する浮上量が最も低い領域を含む低浮上領域２１を磁気ディスク装置１の動作時で磁気ディスク２へのデータの読み書きが行われない場合に磁気ヘッド３が通常位置するホームポジション領域１７としている。そして、そのホームポジション領域１７に、第１のデータテストと磁気ディスク装置１の動作時における自己診断テスト時に第２のデータテストが行われるテスト領域１８が設けてある点において、上記実施形態１〜４とは異なっている。そして、テスト領域１８は、ユーザが使用するデータ領域としては使用されないように構成されている。

なお、磁気ヘッド３の磁気ディスク２の表面に対する低浮上領域２１は、一般的に、磁気ヘッド３の浮上姿勢や出力値の変化の影響が現れやすいといわれる領域であって、磁気ディスク装置の設計段階において認識できるものである。
本実施形態において、磁気ヘッド３の浮上量と磁気ディスク２上の位置関係は、図１３に示すように、磁気ディスク３の半径方向外側に向かってなだらかに上昇するように設計されている。そして、上述した低浮上領域２１としては、磁気ディスク２の半径方向における距離が１５ｍｍ前後であって、浮上量が０．５８０μｍ前後の領域を意味している。
＜磁気ディスク装置の動作＞
以下では、上記実施形態１において説明した図４〜図６に示す処理の流れについて、異なる部分だけを抽出して説明する。

図４のステップＳ４−１からステップＳ４−１８については、基本的に、上記実施形態１と同様である。
なお、ステップＳ４−２において、制御回路１５が磁気ヘッド３を移動させるホームポジション領域１７は、低浮上領域２１内に配置されている。
また、ステップＳ４−４、ステップＳ４−１４、ステップＳ４−１７において実施される自己診断テストでは、ステップＳ６−１において、低浮上領域２１内のホームポジション領域１７に設けられたテスト領域１８へ磁気ヘッド３を移動させる。ステップＳ６−２以降の工程においては、上記実施形態１と同様の処理が行われる。
また、同様に、ステップＳ４−５において実施される第１のデータテストでは、ステップＳ５−１において、磁気ヘッド３を低浮上領域２１内のホームポジション領域１７に設けてある所定のテスト領域１８に移動させるものとし、それ以降の工程においては、上記実施形態１と同様の処理が行われる。

［本磁気ディスク装置の特徴］
本実施形態の磁気ディスク装置によれば、一般的に、磁気ヘッド３の浮上姿勢や出力値の変化の影響が現れやすいといわれる低浮上領域２１内にホームポジション領域１７を設けている。さらに、このホームポジション領域１７にテスト領域１８を設けて、磁気ヘッド３と磁気ディスク２のテストを行い、その結果をフラッシュメモリ１１に格納する。そして、磁気ディスク装置１の動作時における自己診断テスト時に、同じテスト領域１８においてテストを行い、その結果を比較して、磁気ディスク２や磁気ヘッド３に異常があるか否かを検出する。
これにより、磁気ヘッド３の異常等が発生し易い低浮上領域２１をテスト領域１８として、第１・第２のデータテストを実施することで、磁気ヘッド３や磁気ディスク２の衝撃による損傷や不具合や性能劣化を早い段階で検出することができる。この結果、磁気ディスク装置１の致命的な障害であるヘッドクラッシュ発生の可能性を低減することができる。

また、ここでの異常発生の検出結果を、早期にホストＰＣ１６に警告通知することで、ユーザとしては事前にデータのバックアップを行うことができるため、磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができる。
また、ショックセンサ１２によって、磁気ディスク装置１に加えられた衝撃を検出することで、磁気ヘッド３と磁気ディスク２の衝撃による損傷や不具合や性能劣化を検出するテストを、衝撃を受けた直後に実施することができる。よって、磁気ディスク装置の致命的な障害であるヘッドクラッシュの発生の可能性をより効果的に低減することができる。
なお、本実施形態では、図１２において、ホームポジション領域１７を磁気ヘッド３の低浮上領域２１内に設けているが、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、図１４に示すように、低浮上領域２１とは別にホームポジション領域１７を設けた構成であってもよい。

本発明の磁気ディスク装置は、磁気ヘッドや磁気ディスクの損傷等の不具合の発生を早期に検出して、ヘッドクラッシュの発生を効果的に防止するとともに、データのバックアップ等を行うことにより磁気ディスク装置の信頼性を大幅に向上させることができるという効果を奏することから、ＨＤＤ等に搭載されるディスク装置に対しても広くて起用可能である。

本発明の実施形態１から５に係る磁気ディスク装置の基本構成を示すブロック図。 本発明の実施形態１から５における磁気ディスク装置の構成をより具体的に示したブロック図。 本発明の実施形態１における磁気ディスク上のホームポジション領域とテスト領域の構成図。 本発明の実施形態１から５における磁気ディスク装置の動作を説明するフローチャート。 本発明の実施形態１、２、３、５における磁気ディスク装置の第１のデータテストを説明するフローチャート。 本発明の実施形態１、２、３、５における磁気ディスク装置の自己診断テストを説明するフローチャート。 本発明の実施形態２における磁気ディスク上のホームポジション領域とテスト領域の構成図。 本発明の実施形態３における磁気ディスク上のホームポジション領域とテスト領域の構成図。 本発明の実施形態４における磁気ディスク上のホームポジション領域とテスト領域の構成図。 本発明の実施形態４における磁気ディスク装置の第１のデータテストを説明するフローチャート。 本発明の実施形態４における磁気ディスク装置の自己診断テストを説明するフローチャート。 本発明の実施形態５における磁気ディスク上のホームポジション領域とテスト領域の構成図。 本発明の実施形態５における磁気ヘッドの浮上量と磁気ディスク上の位置関係を示す図。 本発明の実施形態５における磁気ディスク上のホームポジション領域を低浮上領域とは別に設けた構成図。

符号の説明

１ 磁気ディスク装置
２ 磁気ディスク
３ 磁気ヘッド
４ アクチュエータ
５ ランプ
６ 不揮発性記憶部（記憶部）
７ 衝撃検出部
８ 表示部
９ 制御部
１０ 上位装置
１１ フラッシュメモリ（記憶部）
１２ ショックセンサ（衝撃検出部）
１３ ＬＥＤ（表示部）
１４ ＬＥＤ（表示部）
１５ 制御回路（制御部）
１６ ホストＰＣ
１７ ホームポジション領域
１８ テスト領域
１９ ロード・アンロード領域
２０ テスト領域
２１ 低浮上領域

Claims (18)

1. 磁気ディスクの近傍に配置されたランプ上の待機位置と前記磁気ディスク上の位置との間において、磁気ヘッドがローディングまたはアンローディングを行う磁気ディスク装置において、
   前記磁気ディスクに対してデータの読み書きを行う磁気ヘッドと、
   装置の動作時において前記データの読み書きを行っていないときに前記磁気ヘッドが位置するホームポジション領域に、テスト領域が設けられた磁気ディスクと、
   前記テスト領域上に前記磁気ヘッドを配置した状態において、前記データの読み書きが行われていない非動作時に第１のデータテストを行った後、動作時における所定のタイミングで第２のデータテストを行うとともに、前記第１・第２のデータテストの結果を比較して、前記磁気ディスクまたは前記磁気ヘッドの異常の有無を判定する制御部と、
   を備えている磁気ディスク装置。
2. 磁気ディスクの近傍に配置されたランプ上の待機位置と前記磁気ディスク上の位置との間において、磁気ヘッドがローディングまたはアンローディングを行う磁気ディスク装置において、
   前記磁気ディスクに対してデータの読み書きを行う磁気ヘッドと、
   前記磁気ヘッドがローディングまたはアンローディングする際に使用するロード・アンロード領域に、テスト領域が設けられた磁気ディスクと、
   前記テスト領域上に前記磁気ヘッドを配置した状態において、前記データの読み書きが行われていない非動作時に第１のデータテストを行った後、動作時における所定のタイミングで第２のデータテストを行うとともに、前記第１・第２のデータテストの結果を比較して、前記磁気ディスクまたは前記磁気ヘッドの異常の有無を判定する制御部と、
   を備えている磁気ディスク装置。
3. 前記制御部は、前記ロード・アンロード領域を、装置の動作時における前記磁気ディスクへのデータの読み書きが行われない場合に前記磁気ヘッドが通常位置するホームポジション領域として使用する、
   請求項２に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記制御部は、前記磁気ディスク上における前記ホームポジション領域と複数のデータ領域とをテスト領域として、前記第１・第２のデータテストを行う、
   請求項３に記載の磁気ディスク装置。
5. 前記制御部は、前記磁気ヘッドの前記磁気ディスクに対する浮上量が最も低い領域を、前記ホームポジション領域とする、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
6. 装置が受けた衝撃を検出する衝撃検出部をさらに備えており、
   前記制御部は、前記衝撃検出部において衝撃を検出した場合に、前記第２のデータテストを行う、
   請求項１から５のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
7. 前記制御部は、前記磁気ディスク上における中央付近であってデータ領域中に存在する領域を、装置の動作時において前記磁気ディスクへのデータの読み書きを行っていないときに前記磁気ヘッドが位置するホームポジション領域として使用する、
   請求項１から６のいずれか１項に記載の装置。
8. 前記制御部は、前記ホームポジション領域および前記テスト領域を除く領域を、データ領域として使用する、
   請求項１または２に記載の磁気ディスク装置。
9. 前記制御部は、前記第１のデータテストにおいて、テストデータの書き込み、読み出し、ベリファイテスト、ヘッド出力テスト、およびサーボデータのベリファイテストの少なくとも１つを行う、
   請求項１から８のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
10. 前記第２のデータテストは自己診断テストであって、
    前記制御部は、上位装置からの命令を受信した時、または動作時における前記磁気ディスクへのデータの読み書きが行われないときに、所定の間隔で前記自己診断テストを行う、
    請求項１から９のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
11. 前記第２のデータテストは自己診断テストであって、
    前記制御部は、動作時における前記磁気ヘッドを前記ランプ上の待機位置にアンロードさせる前と、前記ランプ上の待機位置から前記磁気ディスク上にロードさせた後に、前記自己診断テストを行う、
    請求項１から１０のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
12. 前記制御部は、前記第２のデータテストにおいて、テストデータの書き込み、読み出し、ベリファイテスト、ヘッド出力テスト、およびサーボデータのベリファイテストの少なくとも１つを行う、
    請求項１から１１のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
13. 前記制御部は、前記第１・第２のデータテストの結果を比較して、テストデータのベリファイエラー、サーボデータのベリファイエラーの発生回数や、前記テストデータの読み出し時におけるヘッド出力の変化に基づいて、前記磁気ヘッドおよび前記磁気ディスクの異常の有無を判定する、
    請求項１から１２のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
14. 前記制御部は、前記磁気ヘッドおよび前記磁気ディスクの異常が所定のレベル以上のものである場合には、前記磁気ヘッドを前記ランプ上の待機位置に移動させる、
    請求項１から１３のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
15. 前記制御部において異常有りと判定された場合に、異常発生の警告通知を行う警告通知部を、さらに備えている、
    請求項１から１４のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
16. 前記制御部における異常の有無の判定結果を表示する表示部を、さらに備えている、
    請求項１から１５のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
17. 前記制御部は、前記異常有りと判定した際に、検出した異常のレベルに応じて前記表示部における表示状態を切り換える、
    請求項１６に記載の磁気ディスク装置。
18. 前記第１・第２のデータテストの結果を格納する記憶部を、さらに備えている、
    請求項１から１７のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
    

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