JP2004341972A - 半導体集積回路 - Google Patents

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JP2004341972A JP2003139824A JP2003139824A JP2004341972A JP 2004341972 A JP2004341972 A JP 2004341972A JP 2003139824 A JP2003139824 A JP 2003139824A JP 2003139824 A JP2003139824 A JP 2003139824A JP 2004341972 A JP2004341972 A JP 2004341972A
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Abstract

【課題】システムクロックの高速化に伴い増加する内部回路による遅延の影響を軽減するロジック回路を提供する。
【解決手段】アドレスデータを受けるアドレス端子、クロック信号を受けるクロック端子、データの出力端子、さらに内部に記憶領域を有する複数個の回路モジュールを持つ半導体集積回路である。
クロックを内部で分周し、それを低速で動作する周辺装置用の内部の回路モジュールに供給するようにする。また、内部の回路モジュール内にすべてのビットを0または1で出力する回路を設け、すべての回路モジュール出力の論理和または論理積をとって外部に出力するようにする。
【選択図】 図6

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体集積回路に関する。特にアドレス端子を有し、アドレス端子を介して供給されるアドレスデータにより選択された領域に格納されているデータを出力する半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
CPU(Central Processing Unit)で処理されるデータを格納しておくデバイス(半導体集積回路)としてDRAM(Dynamic Random Access Memory)やSRAM(Static Random Access Memory)などに代表されるメモリがある。近年ではCPUの高速化もあり、クロック端子を持ち、CPUの動作周波数を決めているクロックを取り込み、それに同期して高速にアクセスできるようなSDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory)がパーソナルコンピュータなどのシステムに広く使われてきている。また、パーソナルコンピュータに見られる汎用CPUを中心としたシステムの場合、接続される外部I/Oデバイス(例えばPCカードドライブ)のデータを処理する為、外部I/Oデバイスに対応したインタフェース仕様を備え、外部I/Oデバイスのデータを一時的に格納しておくバッファを有する専用のインタフェースIC(例えば、図2に示すPCカードコントローラ)や外部I/Oデバイスの仕様に合わせて設計されたASIC(Application Specific Integration Circuit)が使われる(図1)。こうしたシステムの場合、接続されているメモリ(この場合、SDRAM)や専用のインタフェースICまたはASICなどは一般にCPUと同じクロック信号(図1のシステムクロック8)を取り込み、それに同期して動作している(特許文献1)。
【0003】
図3に前述のシステムにおけるASIC内部の構成の一例を示す。図3におけるASIC2は、外部I/Oデバイスから取り込んだデータを格納しておくバッファを内部に持つ複数の内部モジュール(15−18)、アドレス端子から供給されるアドレスをデコードして所望の内部モジュールを選択する選択信号を生成するアドレスデコーダ14および接続される複数の回路モジュールの中からアドレスデコーダ14にて生成される選択信号19により所望の内部モジュールを選択して出力するセレクタ34から構成されている。
【0004】
ところが、年々CPUは高速化され、その為システムクロックの周波数も高くなってきており、それに伴い、SDRAMと同様にシステムクロックを取り込んでいるASICでは内部モジュールの消費電力が大きくなるばかりだけではなく、内部回路による遅延の影響が大きくなってくる。図4(a)に正常に書き込みが行われた場合、図4(b)に遅延の影響により、データが不確定なうちに書き込みを行ってしまった例を示す。
【0005】
【特許文献1】
特開2002−82904号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、こうした問題点を鑑み、システムクロックの高速化に伴う回路構成による遅延の影響を軽減する半導体集積回路を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この課題を解決するために本発明では、内部モジュールの少なくとも一部に対してその動作クロックとして取り込んだクロックを分周したクロックを提供するようにしている。また、内部回路の一部を簡素化することでも対応を図っている。
【0008】
【発明の実施の形態】
本発明における半導体集積回路の一実施例における内部モジュールの構成およびその動作について説明する。内部モジュールは図5に示す複数のレジスタ群とセレクタで構成されており、内部モジュール選択信号19により該内部モジュール18が選択されると、セレクタ34はアドレスバス4から内部モジュール18内の該当するアドレスを持つレジスタ(例えばレジスタ33)を選択し、選択されたレジスタ(レジスタ33)の値を出力する。内部モジュール選択信号19により該内部モジュール18が選択されていない場合には、セレクタ34は“0000h”出力回路36を選択し、内部データバス35に“0000h”を出力する。
【0009】
次に前記回路モジュールを内部に複数個持つ本発明の半導体集積回路の一実施例について図6を用いて説明する。クロック入力端子より取り込まれたシステムクロック8は内部動作クロック20を生成する為、1/2分周器13に入力され、そこで2分周され各内部モジュールに供給される。一方、アドレス端子から供給されるアドレスバスデータ4はアドレスデコーダ14にてデコードされ内部モジュール選択信号19を生成し、各内部モジュールに供給される。また、本実施例では内部モジュール17の内部に後述のライトイネーブル信号生成回路(図7)を設けて、CPU(図示せず)から供給されるライト信号0とライト信号1から書き込み許可信号(ライトイネーブル信号21)を生成し、該信号を内部モジュール17自身ならびに他の内部モジュールへ供給しているが、該回路を独立させて構成しても構わない。一方、各モジュールから送出されたデータはすべてORゲート回路22に入力され、その出力は前記CPUに接続されているデータバスに出力される。なお、選択されていない内部モジュールからは前で説明したように“0000h”が出力されるのでORゲート回路からは、選択されている内部モジュールの出力がそのまま出力される。このように出力段の回路としてORゲート回路を用いたことにより従来の回路構成(セレクタ回路を使用;図3)に比べ、遅延も少なくなっている。また、クロックを分周して内部モジュールに供給することで接続されるCPUの高速化に伴い増加する消費電流も抑えている。
【0010】
次に図7に示すライトイネーブル信号生成回路の動作について説明する。この回路では入力されたライト信号0(10)およびライト信号1(11)をフリップフロップ(以下FF)23にてシステムクロック8の立下りに同期して取り込み、後段のFF24でさらにシステムクロック8の立ち上がりに同期し取り込むようにしている。これはCPUからのライト信号10および11がシステムクロックの立下りで出力される為、取り込みの際にメタステーブルが発生する可能性があるためである。そしてそれぞれのFFから出力された信号は2入力OR回路25に入力され、さらにFF26、インバータ回路27、FF28を介して、このFF28の出力とOR回路25の出力、さらに内部モジュール選択信号19を3入力OR回路29に入力してシステムクロック2個分の幅のライトイネーブル21を作成する。そのタイミング図を図8(b)に示す。この図からシステムクロック8が2分周されてどちらの位相で出力されたとしてもT4もしくはT5において安定したデータがレジスタに書き込まれることがわかる。
【0011】
【発明の効果】
以上説明したように本発明に係る半導体集積回路では、高速化に伴い内部回路の構成等により発生する遅延の影響を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】汎用CPUを中心としたシステムの一般的な構成を示す図。
【図2】PCカードコントローラの内部ブロック図。
【図3】従来の半導体集積回路(ASIC)内部の構成例を示す図。
【図4】従来の半導体集積回路の問題点を説明する図。
【図5】本実施例の内部モジュールの構成を示す図。
【図6】本実施例の半導体集積回路の内部構成を示す図。
【図7】本実施例のライトイネーブル生成回路の構成図。
【図8】本実施例のライトイネーブル生成回路の動作を説明するタイミングチャート図。
【符号の説明】
1…汎用CPU(Central Processing Unit)、2…カスタムASIC、3…コントロール信号、4…アドレスバス、5…データバス、6…低速デバイス、7…SDRAM、8…システムクロック、9…チップセレクト、10、11…ライト信号0、1、12…リード信号、13…1/2分周器、14…アドレスデコーダ、15、16、17、18…内部モジュール、19…内部モジュール信号、20…内部動作クロック、21…ライトイネーブル、22、25…2入力OR回路、23、24、26、28…フリップフロップ回路、27…インバータ回路、29…3入力OR回路、30、31、32、33…レジスタ、34…セレクタ、fcpu、fasic…CPUおよびカスタムASICの動作周波数、Ts…チップセレクト・アドレスセットアップサイクル、T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7…バスサイクル。

Claims (4)

  1. アドレスデータを受けるアドレス端子、クロック信号を受けるクロック端子、データの出力端子、さらに内部に記憶領域を有する複数個の回路モジュールを持つ半導体集積回路であって、
    前記クロック端子を介して供給されたクロック信号を分周し、
    前記アドレス端子を介して供給されたアドレスデータをデコードし、
    デコードされてできた選択信号に基づいて前記複数の回路モジュールの中から前記アドレスデータによって指定された記憶領域を持つ回路モジュールを選択し、前記選択信号および前記アドレスデータに基づいて前記記憶領域に格納されているデータを前記分周クロックに同期して前記出力端子から出力することを特徴とする半導体集積回路。
  2. アドレスデータを受けるアドレス端子、クロック信号を受けるクロック端子、データの入出力端子、さらに内部に記憶領域を有する複数個の回路モジュールを持つ半導体集積回路であって、すべてのビットを0で出力するデータ出力手段を前記回路モジュール内に設け、前記アドレス端子を介して供給されたアドレスデータにより選択されていない回路モジュールは前記データ出力手段の出力データを選択し出力するとともに前記回路モジュールすべての出力の論理和をとって前記出力端子から出力するようにしたことを特徴とする半導体集積回路。
  3. アドレスデータを受けるアドレス端子、クロック信号を受けるクロック端子、データの入出力端子、さらに内部に記憶領域を有する複数個の回路モジュールを持つ半導体集積回路であって、すべてのビットを1で出力するデータ出力手段を前記回路モジュール内に設け、前記アドレス端子を介して供給されたアドレスデータにより選択されていない回路モジュールは前記データ出力手段の出力データを選択し出力するとともに、前記回路モジュールすべての出力の論理積をとって前記出力端子より出力するようにしたことを特徴とする半導体集積回路。
  4. 請求項1ないし3に記載の半導体集積回路であって、さらに書き込み許可信号を取り込む端子を設け、前記書き込み許可信号を前記分周クロックに同期して少なくとも1個分遅延させ、かつ前記書き込み許可信号の有効長を前記分周クロックの整数倍の長さに補正することを特徴とする半導体集積回路。
JP2003139824A 2003-05-19 2003-05-19 半導体集積回路 Pending JP2004341972A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010165247A (ja) * 2009-01-16 2010-07-29 Renesas Electronics Corp 半導体装置及びデータプロセッサ

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