JP2004309323A - 発光素子の絶対量子効率測定方法及び装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
【解決手段】積分球10に配設した有機EL素子8を電流駆動し、その際の発光スペクトルを計測する。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、発光素子の絶対量子効率測定方法及び装置に係り、特に、計算による想定値を用いることなく、有機エレクトロルミネッセント(ELと略する)素子の絶対量子効率を実測することが可能な、発光素子の絶対量子効率測定方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、発光物質に有機物を用いた有機EL素子を、携帯電話の表示パネル、カーオーディオの表示パネル、動画・静止画用表示パネル、デジタルスチルカメラの画像表示用、その他各種の表示装置に使用するべく、研究が進められている。この有機EL素子の評価項目の1つに、絶対量子効率があり、その測定方法を実用化することが望まれている。
【0003】
従来、積分球を用いて光源の外部量子効率を測定する方法は特許文献1に記載され、太陽電池の内部量子効率を測定する方法は特許文献2に記載され、外部励起光によって励起された蛍光の量子効率を計測する方法は特許文献3に記載されている。
【0004】
【特許文献1】
特許第2823275号公報
【特許文献2】
特開2002−353474号公報
【特許文献3】
特開平9−292281号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、有機EL素子や、これを多数用いたフラットパネルディスプレイ(FPD)の絶対量子効率を計測するものではなく、輝度計での計測データと、デバイスの発光特性の過程から、計算による想定値を得るのみで、実測できないという問題点を有していた。
【0006】
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたもので、有機EL素子や、これを用いたFPDの絶対量子効率を実測可能とすることを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は、積分球に配設した発光素子を電流駆動し、その際の発光スペクトルを計測するようにして、前記課題を解決したものである。
【0008】
本発明は、又、有機EL素子の表面のみを前記積分球内に露出させた時の発光スペクトルの計測値と、前記有機EL素子の表面と側面を前記積分球内に露出させた時の発光スペクトルの計測値の差に基づいて、前記有機EL素子の側面の絶対量子効率を測定するようにしたものである。
【0009】
本発明は、又、発光素子が配設される積分球と、該積分球に配設した発光素子を電流駆動する手段と、該発光素子の発光スペクトルを計測するための分光装置と、を備えたことを特徴とする発光素子の絶対量子効率測定装置を提供するものである。
【0010】
又、有機EL素子を前記積分球に出入れして、前記有機EL素子の表面のみを前記積分球内に露出させた時の発光スペクトルの計測値と、前記有機EL素子の表面と側面を前記積分球内に露出させた時の発光スペクトルの計測値を得るための試料移動手段を更に備えたものである。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下図面を参照して、有機EL素子の測定に適用した本発明の実施形態を詳細に説明する。
【0012】
本発明の第1実施形態は、図1に示す如く、有機EL素子(以下単に素子とも称する)8が配設される積分球10と、前記素子8を電流駆動すると共に、駆動電流I及び駆動電圧Vを測定するための駆動・計測回路20と、前記素子8の発光スペクトルを計測するための分光装置40と、これらを制御すると共に、得られたデータを処理するための制御・処理装置60とから主に構成されている。
【0013】
前記積分球10の内径は、例えば200mm、内面材質は例えば硫酸バリウムとされるとともに、盲蓋12が設けられ、ここに必要に応じて色彩輝度計14が取付可能とされている。
【0014】
前記素子8は、上下機構18により上下動可能なステージ16上に配設される。
【0015】
前記駆動計測回路20は、ELパルス電源22及び必要に応じて選択される直流電圧発生器24と、これらを選択するための切換器26と、電流計28及び電圧計30を含んでいる。
【0016】
前記分光装置40は、例えばロータリソレノイドにより必要に応じて挿入されるフィルタ42と、レンズ44と、光量を調整して絞るため、例えば手動により設定される5段階のアパーチャ46と、例えばロータリソレノイドにより駆動されるシャッタ48と、例えば複数(図では2枚)の凹面回折格子50A、50Bを備えたポリクロメータ50と、該ポリクロメータ50の出力を検出するためのCCDエリアイメージセンサを備えたマルチチャンネル検出器52とを含んで構成されている。
【0017】
前記制御・処理装置60は、センサ・システムコントローラ62と、パーソナルコンピュータ(PC)64と、プリンタ66とを含んでいる。
【0018】
以下、図2を参照して、測定手順を説明する。
【0019】
まず、ステップ100で、図3に示す如く、ステージ16を下方位置として、素子8の表面だけを積分球10内に露出させ、素子表面からの発光特性Pu(λ)を計測する。
【0020】
次いで、ステップ110で、ステージ16を上に移動して、図4に示す如く、素子8の表面及び側面を全て積分球10内に露出させ、ステップ120で、素子8の上面及び側面からの発光特性Pu(λ)とPs(λ)の総和Pt=Pu+Psを計測する。
【0021】
そして、ステップ130で、ステップ100で測定した試料上面からの発光特性Pu(λ)と、ステップ120で測定した試料の上面と側面からの発光特性の総和Pt(λ)との差Ps=Pt−Puにより、素子の上面と側面からの発光特性を個別に計測する。
【0022】
この際、発光特性(スペクトル分布)と同時に、その時の電気特性を駆動・計測回路20の電流計28や電圧計30で同時計測し、更に、ELパルス電流22や直流電圧発生器24により駆動電流又は電圧の任意のパターンを時系列的に出力し、様々な条件下での発光特性を自動計測することができる。
【0023】
このようにして、素子の上面、側面等、素子構造上の注目部位からの発光特性を、独立、個別に計測可能である。特に、有機EL素子の場合には、側面からの発光量も40%程度あり、無視できないものである。
【0024】
本実施形態においては、試料素子8をステージ16に載置して積分球10に臨む位置を変更可能としているので、素子の上面や側面等、素子構造上の注目部位からの発光特性を、独立、個別に計測可能である。
【0025】
なお、第1実施形態においては、分光装置40を用いていたが、図1に2点鎖線で示したように、盲蓋12の代りに色彩輝度計14を配設して、輝度と色度を計測することも可能である。
【0026】
あるいは、図5に示す第2実施形態のように、内部励起光を入射するための励起光入口70を積分球10に設けて、外部励起光による蛍光の発光特性を計測したり、燐光の発光特性を計測することも可能である。
【0027】
又、図6に示す第3実施形態のように、積分球10の上方に設けた光源72から擬似太陽光をFPD6に照射して、擬似太陽光下でのFPD6の発光特性を計測して、屋外発光特性を計測することも可能である。
【0028】
更に、図8に示す第4実施形態のように、大直径の積分球11を用いることにより、大画面FPD7の発光特性も計測可能である。
【0029】
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、FPD素子として用いられる有機EL素子やFDPの絶対量子効率を実測することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態の全体構成を示す構成図
【図2】第1実施形態の測定手順を示す流れ図
【図3】第1実施形態で、試料上面からの発光特性を計測している状態を示す断面図
【図4】同じく、試料の上面と側面からの発光特性の総和を計測している状態を示す断面図
【図5】本発明の第2実施形態の要部構成を示す断面図
【図6】同じく第3実施形態の要部構成を示す断面図
【図7】同じく第4実施形態の要部構成を示す断面図
【符号の説明】
6…フラットパネルディスプレイ(FPD)
8…有機EL素子
10…積分球
14…色彩輝度計
16…ステージ
18…上下機構
20…駆動・計測回路
40…分光装置
50…ポリクロメータ
52…マルチチャンネル検出器
60…制御・処理装置
Claims (4)
- 積分球に配設した発光素子を電流駆動し、
その際の発光スペクトルを計測することを特徴とする発光素子の絶対量子効率測定方法。 - 有機EL素子の表面のみを前記積分球内に露出させた時の発光スペクトルの計測値と、
前記有機EL素子の表面と側面を前記積分球内に露出させた時の発光スペクトルの計測値の差に基づいて、
前記有機EL素子の側面の絶対量子効率を測定することを特徴とする請求項1に記載の発光素子の絶対量子効率測定方法。 - 発光素子が配設される積分球と、
該積分球に配設した発光素子を電流駆動する手段と、
該発光素子の発光スペクトルを計測するための分光装置と、
を備えたことを特徴とする発光素子の絶対量子効率測定装置。 - 有機EL素子を前記積分球に出入れして、前記有機EL素子の表面のみを前記積分球内に露出させた時の発光スペクトルの計測値と、前記有機EL素子の表面と側面を前記積分球内に露出させた時の発光スペクトルの計測値を得るための試料移動手段を更に備えたことを特徴とする請求項3に記載の発光素子の絶対量子効率測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003103689A JP3773499B2 (ja) | 2003-04-08 | 2003-04-08 | 発光素子の外部量子効率測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003103689A JP3773499B2 (ja) | 2003-04-08 | 2003-04-08 | 発光素子の外部量子効率測定方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004309323A true JP2004309323A (ja) | 2004-11-04 |
JP3773499B2 JP3773499B2 (ja) | 2006-05-10 |
Family
ID=33466714
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003103689A Expired - Fee Related JP3773499B2 (ja) | 2003-04-08 | 2003-04-08 | 発光素子の外部量子効率測定方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3773499B2 (ja) |
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WO2018211839A1 (ja) | 2017-05-17 | 2018-11-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光測定装置及び分光測定方法 |
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-
2003
- 2003-04-08 JP JP2003103689A patent/JP3773499B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JP3773499B2 (ja) | 2006-05-10 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090224 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100224 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110224 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120224 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130224 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130224 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140224 Year of fee payment: 8 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |