JP2004303719A - 質量分析計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】質量分析計は、イオンを生成するイオン源1、イオンを蓄積するイオントラップ部と、飛行時間によりイオンの質量分析を行なう飛行時間型質量分析部と、イオントラップ部と飛行時間型質量分析部との間に配置される衝突ダンピング部とを有する。衝突ダンピング部には、イオントラップ部から排出されたイオンの運動エネルギーを低減するためのガスが導入される。衝突ダンピング部の内部に多重極電場を生成する複数の電極20が配置されている。イオントラップから衝突ダンピング部へイオン入射可能、または入射不可能とするイオン透過調整機構14をイオントラップ部と衝突ダンピング部との間に設ける。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明の実施例1の大気圧イオン化四重極イオントラップ飛行時間型質量分析計の構成図である。
図10は、本発明の実施例2のマトリックス支援レーザーイオン化四重極イオントラップ飛行時間型質量分析計の構成図である。以下、実施例2の質量分析計の構成の相違点について説明する。サンプル溶液とマトリックス溶液とを混合させ滴下、乾燥させたサンプルプレート53に対し、窒素レーザーなどのイオン化用レーザー51を照射する。照射位置はCCDカメラ55で確認する。生成したイオンは多重極電極6によりイオントラップへ輸送される。イオン化室50の圧力は0.1Pa〜10Pa程度であり、ポンプ5により排気される。その後の分析方法は実施例1と同様である。
Claims (12)
- イオンを生成するイオン源、および前記イオンを蓄積するイオントラップ部と、飛行時間により前記イオンの質量分析を行なう飛行時間型質量分析部と、前記イオントラップ部と前記飛行時間型質量分析部との間に配置され、内部に多重極電場を生成する複数の電極を具備する衝突ダンピング部を有し、前記衝突ダンピング部にガスが導入されることを特徴とする質量分析計。
- 請求項1記載の質量分析計において、前記イオントラップ部から前記衝突ダンピング部へイオン入射可能、または入射不可能とするイオン透過調整機構を前記イオントラップ部と前記衝突ダンピング部と間に有することを特徴とする質量分析計。
- 請求項2に記載の質量分析計において、前記透過調整機構が、1枚以上のレンズからなることを特徴とする質量分析計。
- 請求項3に記載の質量分析計において、前記レンズに、前記イオントラップ部へイオンが導入される期間と前記イオントラップ部からイオンが排出される期間で異なる電圧を印加することを特徴とする質量分析計。
- 請求項1に記載の質量分析計において、前記イオントラップ部が、リング電極および1対のエンドキャップ電極よりなる3次元四重極イオントラップから構成されることを特徴とする質量分析計。
- 請求項1に記載の質量分析計において、前記衝突ダンピング部に導入されるガスがヘリウムであり、前記衝突ダンピング部の圧力と長さの積が0.2Pa・m〜5Pa・mであることを特徴とする質量分析計。
- 請求項1に記載の質量分析計において、前記衝突ダンピング部に導入されるガスがアルゴン、空気、窒素またはそれらの混合気体であり、前記衝突ダンピング部の圧力と長さの積が0.07Pa・m〜2Pa・mであることを特徴とする質量分析計。
- 請求項1に記載の質量分析計において、前記衝突ダンピング部の内部に多重極電場を生成する複数の電極が、4本、または6本、または8本のロッドよりなり、前記各ロッドに交互に高周波電圧を印加することを特徴とする質量分析計。
- 請求項1に記載の質量分析計において、前記イオントラップ部および前記衝突ダンピング部へのガス供給機構を各々有すること特徴とする質量分析計。
- 請求項1に記載の質量分析計において、前記イオン源が大気圧に配置されていることを特徴とする質量分析計。
- 請求項1に記載の質量分析計において、前記イオン源がレーザーイオン化イオン源であることを特徴とする質量分析計。
- 請求項11に記載の質量分析計において、前記イオン源がマトリックス支援レーザーイオン源であることを特徴とする質量分析計。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006196190A (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | Maldiイオントラップ型質量分析装置及び分析方法 |
JP2007066533A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Shimadzu Corp | レーザー照射質量分析装置 |
JP2007242425A (ja) * | 2006-03-09 | 2007-09-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2008084850A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-04-10 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
JP2008257982A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-10-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2009146905A (ja) * | 2003-03-31 | 2009-07-02 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析計 |
JPWO2008047464A1 (ja) * | 2006-10-19 | 2010-02-18 | 株式会社島津製作所 | Ms/ms型質量分析装置 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0312940D0 (en) * | 2003-06-05 | 2003-07-09 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | A method for obtaining high accuracy mass spectra using an ion trap mass analyser and a method for determining and/or reducing chemical shift in mass analysis |
JP4690641B2 (ja) * | 2003-07-28 | 2011-06-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析計 |
JP4193734B2 (ja) * | 2004-03-11 | 2008-12-10 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
WO2008044290A1 (fr) * | 2006-10-11 | 2008-04-17 | Shimadzu Corporation | Spectroscope de masse ms/ms |
US7667195B2 (en) * | 2007-05-01 | 2010-02-23 | Virgin Instruments Corporation | High performance low cost MALDI MS-MS |
US7838824B2 (en) * | 2007-05-01 | 2010-11-23 | Virgin Instruments Corporation | TOF-TOF with high resolution precursor selection and multiplexed MS-MS |
US7564026B2 (en) * | 2007-05-01 | 2009-07-21 | Virgin Instruments Corporation | Linear TOF geometry for high sensitivity at high mass |
US7663100B2 (en) * | 2007-05-01 | 2010-02-16 | Virgin Instruments Corporation | Reversed geometry MALDI TOF |
US7564028B2 (en) * | 2007-05-01 | 2009-07-21 | Virgin Instruments Corporation | Vacuum housing system for MALDI-TOF mass spectrometry |
US7589319B2 (en) | 2007-05-01 | 2009-09-15 | Virgin Instruments Corporation | Reflector TOF with high resolution and mass accuracy for peptides and small molecules |
JP5341323B2 (ja) * | 2007-07-17 | 2013-11-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
US8334506B2 (en) | 2007-12-10 | 2012-12-18 | 1St Detect Corporation | End cap voltage control of ion traps |
WO2009095952A1 (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-06 | Shimadzu Corporation | Ms/ms型質量分析装置 |
US20090194679A1 (en) * | 2008-01-31 | 2009-08-06 | Agilent Technologies, Inc. | Methods and apparatus for reducing noise in mass spectrometry |
US7973277B2 (en) | 2008-05-27 | 2011-07-05 | 1St Detect Corporation | Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter |
US8674299B2 (en) * | 2009-02-19 | 2014-03-18 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometric system |
CN105424789A (zh) * | 2014-09-05 | 2016-03-23 | 北京理工大学 | 分析离子结构的方法 |
WO2016033807A1 (zh) * | 2014-09-05 | 2016-03-10 | 北京理工大学 | 分析离子结构的方法 |
WO2017022125A1 (ja) * | 2015-08-06 | 2017-02-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
US11232940B2 (en) * | 2016-08-02 | 2022-01-25 | Virgin Instruments Corporation | Method and apparatus for surgical monitoring using MALDI-TOF mass spectrometry |
EP3676865A1 (en) * | 2017-08-31 | 2020-07-08 | DH Technologies Development PTE. Ltd. | Dynamic equilibration time calculation to improve ms/ms dynamic range |
CN107799381B (zh) * | 2017-10-09 | 2019-08-09 | 清华大学 | 双线性离子阱间实现离子解离的质谱仪 |
JP2023016583A (ja) * | 2021-07-21 | 2023-02-02 | 株式会社島津製作所 | 直交加速飛行時間型質量分析装置 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT528250A (ja) | 1953-12-24 | |||
DE3650304T2 (de) * | 1985-05-24 | 1995-10-12 | Finnigan Corp | Betriebsverfahren für eine Ionenfalle. |
CA1307859C (en) * | 1988-12-12 | 1992-09-22 | Donald James Douglas | Mass spectrometer and method with improved ion transmission |
US6011259A (en) * | 1995-08-10 | 2000-01-04 | Analytica Of Branford, Inc. | Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis |
DE4425384C1 (de) * | 1994-07-19 | 1995-11-02 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren zur stoßinduzierten Fragmentierung von Ionen in Ionenfallen |
US6331702B1 (en) * | 1999-01-25 | 2001-12-18 | University Of Manitoba | Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use |
US6507019B2 (en) | 1999-05-21 | 2003-01-14 | Mds Inc. | MS/MS scan methods for a quadrupole/time of flight tandem mass spectrometer |
US6504148B1 (en) * | 1999-05-27 | 2003-01-07 | Mds Inc. | Quadrupole mass spectrometer with ION traps to enhance sensitivity |
EP1196940A2 (en) * | 1999-06-11 | 2002-04-17 | Perseptive Biosystems, Inc. | Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use |
US6483109B1 (en) * | 1999-08-26 | 2002-11-19 | University Of New Hampshire | Multiple stage mass spectrometer |
JP3855593B2 (ja) | 2000-04-14 | 2006-12-13 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置 |
KR20040010541A (ko) * | 2000-10-11 | 2004-01-31 | 싸이퍼젠 바이오시스템즈, 인코포레이티드 | 친화성 포착 탠덤 질량 분광계를 위한 장치 및 방법 |
US6700120B2 (en) | 2000-11-30 | 2004-03-02 | Mds Inc. | Method for improving signal-to-noise ratios for atmospheric pressure ionization mass spectrometry |
CA2364676C (en) | 2000-12-08 | 2010-07-27 | Mds Inc., Doing Business As Mds Sciex | Ion mobility spectrometer incorporating an ion guide in combination with an ms device |
WO2002048699A2 (en) | 2000-12-14 | 2002-06-20 | Mds Inc. Doing Business As Mds Sciex | Apparatus and method for msnth in a tandem mass spectrometer system |
JP2002260573A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
US6627883B2 (en) * | 2001-03-02 | 2003-09-30 | Bruker Daltonics Inc. | Apparatus and method for analyzing samples in a dual ion trap mass spectrometer |
GB2390478B (en) | 2002-05-17 | 2004-06-02 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US6770871B1 (en) * | 2002-05-31 | 2004-08-03 | Michrom Bioresources, Inc. | Two-dimensional tandem mass spectrometry |
JP4738326B2 (ja) | 2003-03-19 | 2011-08-03 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | イオン母集団内複数親イオン種についてのタンデム質量分析データ取得 |
US7064319B2 (en) * | 2003-03-31 | 2006-06-20 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer |
-
2003
- 2003-03-31 US US10/401,944 patent/US7064319B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-03-01 JP JP2004055798A patent/JP4653957B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2004-03-26 CA CA002462049A patent/CA2462049A1/en not_active Abandoned
- 2004-03-29 EP EP04007590A patent/EP1467398A3/en not_active Withdrawn
-
2009
- 2009-02-04 JP JP2009023285A patent/JP2009146905A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009146905A (ja) * | 2003-03-31 | 2009-07-02 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析計 |
JP2006196190A (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | Maldiイオントラップ型質量分析装置及び分析方法 |
JP4701720B2 (ja) * | 2005-01-11 | 2011-06-15 | 株式会社島津製作所 | Maldiイオントラップ型質量分析装置及び分析方法 |
JP2007066533A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Shimadzu Corp | レーザー照射質量分析装置 |
JP2007242425A (ja) * | 2006-03-09 | 2007-09-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2008084850A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-04-10 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
JPWO2008047464A1 (ja) * | 2006-10-19 | 2010-02-18 | 株式会社島津製作所 | Ms/ms型質量分析装置 |
US8148675B2 (en) | 2006-10-19 | 2012-04-03 | Shimadzu Corporation | Collision cell for an MS/MS mass spectrometer |
JP4968260B2 (ja) * | 2006-10-19 | 2012-07-04 | 株式会社島津製作所 | Ms/ms型質量分析装置 |
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