JP2004303310A - 情報記録の試し書き方法及び情報記録装置 - Google Patents

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Akemi Hirotsune
朱美 廣常
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Abstract

【課題】DVD−R等の追記型情報記録媒体では、この試し書きとして、再生信号のアシンメトリの値から記録パラメータを決定するが、高密度記録に適応しようとした場合、情報記録媒体の面内の記録感度差、ごみや傷の影響、作業環境変動による記録時のパワー変動、デフォーカス等で記録波形が変形した場合に記録パラメータが正しく求められない場合が生じてしまう。
【解決手段】情報記録媒体に異なるパワーレベルで記録を行うステップと、記録マークを再生するステップと、パワーレベルと記録マークの再生特性の相関関係から記録パラメータを決定するステップを含む試し書き方法とする。
【効果】情報記録用媒体に高密度の記録を行なう場合において、媒体ごとのばらつきや環境変化の影響がある場合でも、最適な記録パラメータを得ることができ、安定した高密度記録再生を可能とした。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、情報記録媒体にレーザ光を照射して記録を行う場合の記録パラメータを決めるための試し書き方法及びその機能を搭載した情報記録装置に関し、特に高密度記録に対応した試し書き方法及びその機能を搭載した情報記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
レーザ光を照射して薄膜(記録膜)に情報を記録する原理は種々知られているが、そのうちで膜材料の有機色素の消色、相変化(相転移、相変態とも呼ばれる)など、レーザ光の照射による原子配列変化を利用するものは・薄膜の変形をほとんど伴わないため、2枚のディスク部材を直接貼り合わせて両面ディスク構造の情報記録媒体が得られるという長所を持つ。
【0003】
通常、これら情報記録媒体は基板上に有機色素またはGeSbTe系等相変化材料からなる記録膜、反射層という構成からなる。また、これらの情報記録媒体に記録を行なう場合、媒体と装置の適合性を向上するため、また高密度化にはより小さなマークを精密に形成する必要があるため記録パラメータの高精度な制御が必要となるため、試し書きと呼ばれる記録パラメーターを最適化する手段が講じられる。従来方法、例えば公開特許公報(特開2002−279674)に記載されているように、DVD−R等の追記型情報記録媒体では、この試し書きとして、再生信号のアシンメトリの値から記録パラメータを決定する方法が考えられている
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来方法、例えばDVD−R等の追記型情報記録媒体では、この試し書きとして、再生信号のアシンメトリの値から記録パラメータを決定する方法が考えられているが、上記方法を高密度記録に適応しようとした場合、情報記録媒体の面内の記録感度差、ごみや傷の影響、作業環境変動による記録時のパワー変動、デフォーカス等で記録波形が変形した場合に記録パラメータが正しく求められない場合が生じるという問題点がある。
【0005】
ジッタが13%より低くなる記録パワー範囲を記録パワーマージンとして調べた場合、従来方法にて記録パラメータを求めた場合、図2(a)のように記録波形が正常な場合には、記録パワーマージンが±20%と実用的な範囲であるが、図2(b)に示したように記録波形が歪んだ場合には、記録パワー80%及び120%のいずれかの場合にジッタ13%より高くなることがわかった。記録パワーマージンが±20%未満と小さくなることがわかる。このように、従来方法では、記録パラメータがマージン広く正しく求められない場合が生じた。
【0006】
そこで、本発明の目的は、これら問題点を解決し、情報記録媒体の面内の記録感度差、ごみや傷の影響、作業環境変動による記録時のパワー変動、デフォーカス等で記録波形が変形した場合においても、記録パラメータが正しく求められる、情報記録方法、及び情報記録装置を提供することに有る。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記の問題点を解決するために本発明の情報記録方法、及び情報記録装置では,次の解決策を用いる。すなわち,具体的には、
(1)光の照射により原子配列が変化することによって記録を行う追記型の情報記録媒体に記録する場合において、前記情報記録媒体に異なるパワーレベルで記録を行うステップと、前記記録マークを再生するステップと、前記パワーレベルと前記記録マークの再生特性の相関関係から記録パラメータを決定するステップを含むことを特徴とする試し書き方法であること。
(2)(1)に記載の試し書き方法において、前記再生特性が、ジッターであることを特徴とすること。
(3)(1)〜(2)に記載の再生特性が、エラーであることを特徴とする試し書き方法であること。
(4)(1)に記載の試し書き方法において、前記試し書き時のパワーレベルが当該媒体に記載されている基準値を元に決定されることを特徴とすること。
(5)(1)に記載の試し書き方法において、前記試し書き時のパワーレベルが記録手段に記載されている基準値を元に決定されることを特徴とする。
(6)(1)に記載の試し書き方法において、前記記録マークの、記録部と未記録部の反射率差が最長マーク・スペースパターンの10%未満となる最短マーク・スペースパターンを有することを特徴とする。
(7)(1)〜(6)に記載の試し書き方法において、決定された記録パラメータを用いて記録する手段を有することを特徴とする情報記録装置であること。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を実施例によって詳細に説明する。
(実施例1)
(本発明の試し書き方法)
図1より、この発明の試し書き方法を説明する。これにより、記録パラメータは次のようにして決定された。基準の記録パワーを100%とし、それに比例したパワーで記録した後再生し、ジッタとの関係を調べ、ジッタがある一定の値(本図では図中に点線で示した13%)になった際の、低パワー側の記録パワーを読み取り、記録開始パワー(Pl)とした。同様の方法において、高パワー側は、最大記録パワー(Ph)とした。ここで得た、Pl、Phより、下式にて内挿し、55〜40%の間を算出した。
内挿z%の場合 : Pw(z%) = Pl+(Ph−Pl)×z÷100
図3に、実際にこの方法で試し書きを行ない、記録パワーを決定した場合の、パワーマージン測定結果を示す。図3(a)では基本の記録波形、図3(b)では波形が歪んだ場合の記録パワーとジッタの関係を示した。基本波形は図4に記載する記録波形を用いており、Tmpは0.5Tである。変形波形は、Tmpが0.6Tの波形を用いた。これより、ジッタより記録開始パワーと最大記録パワーを求め内挿する方法では、パワーマージンが狭い変形波形で記録した場合においても、記録パワー80%及び120%の両者でジッタが13%より低く、記録パワーマージン±20%を確保できた。以上より、本発明の試し書き方法を用いると、記録波形が歪んだ場合においても広い記録パワーマージンを確保できることがわかった。
【0009】
(実施例2)
実施例1の試し書き方法を実装した、情報記録再生装置の一例を図5の概略図を用いて説明する。
【0010】
記録媒体101は、光の照射により原子配列が変化することによって記録を行う追記型の情報記録媒体である。基板の上に、直接または保護層を介して相変化記録膜又は、有機色素記録膜を有している。記録媒体101は、モーター102により、光ヘッド103の半径位置により、回転数が切り替わるように制御することで、線速度が一定に回転される。記録再生を行う際のモーター制御方法としては、記録再生を行うゾーン毎にディスクの回転数を変化させるZCAV(Zoned Constant Linear Velocity)方式が採用されている。ここでのディスク線速度は約10.56m/sである。
【0011】
光源の波長λは395〜410nm、集光手段104のレンズの開口数は約0.85の光ヘッド103を用いた。ここで記録する変調方式は1−7変調符号を用い、検出窓幅Tは7.58nsとした。この変調方式では媒体上に、2T〜8Tの記録マーク長での情報の記録を行っている。
【0012】
中央制御手段109によって、ユーザデータを変調させた後、指令された光強度になるように光強度制御手段107は、光発生手段105を制御して光110を発生させ、この光110は集光手段104によって集光され光スポット112を記録媒体101の記録膜上に形成する。このとき、媒体101上に形成される記録マークの最短パターン長は約0.16マイクロメーターとなる。
【0013】
記録波形は図4に示した、3値のマルチパルスを用いた。3T以上の記録マークを形成する際は、複数の高パワーレベル(Pw)のパルスより成るパルス列を用い、パルス列のパルス間では幅が約T/2の低パワーレベル(Pb)のレーザー照射を行い、上記パルス列とパルス列の間の記録マークを形成しない部分では中間パワーレベル(Pe)のレーザー照射が行われるマルチパルス記録波形が生成される。この際、記録マークを形成するための高パワーレベルを5.5mW、中間パワーレベル(Pe)を0.3mW、低パワーレベル(Pb)を0.3mWとした。再生光のパワーは0.35mWとした。このように低パワーレベルを中間パワーレベルと同じにしても良いし、別のレベルにしてもよい。また、この際、高パワーレベルのパルス列を照射された領域は記録マークに変化する。また、上記記録波形発生回路内は、マーク部を形成するための一連の高パワーパルス列を形成する際に、マーク部の前後のスペース部の長さに応じてマルチパルス波形の先頭パルス幅と最後尾のパルス幅を変化する方式(適応型記録波形制御)に対応したマルチパルス波形テーブルを有しており、これによりマーク間に発生するマーク間熱干渉の影響を極力排除できるマルチパルス記録波形を発生している。また、この記録媒体の反射率は未記録部の方が高く、記録された領域の反射率が低くなっている。
【0014】
記録波形発生回路により生成された記録波形は、レーザ駆動回路等の光強度制御手段に転送され、光強度制御手段によって、この記録波形をもとに光ヘッド内の光発生手段の出力パワーを変化させる。
【0015】
この光スポット112からの反射光111を用いて、光検出手段106で検出する。この光検出手段は複数に分割された光検出器から構成されている。再生手段114は、この光検出器からの再生信号113を用いて、記録媒体101上に記録された情報を再生する。再生手段114には実施例1に記載した試し書き信号の検出手段115が内蔵されている。
【0016】
試し書き時には、中央制御手段109で実施例1に記載したように、記録パワーを変化させながら試し書きパターンの記録を行う機能と、
試し書き信号検出手段で検出された試し書き信号を取り込む機能、
及び取り込み結果を処理して最適パラメータを決定する機能を有している。
【0017】
本発明の情報記録再生装置を用いれば、感度の違う媒体や使用環境の変動等による影響を補正して最適な記録パラメータを求めることができるため、媒体や装置によらず均一な記録マークを形成でき、安定して高密度の情報記録再生が可能になる。
【0018】
(実施例3)
(本発明の試し書き方法の別の例)
図6より、この発明の試し書き方法を説明する。これにより、記録パラメータは次のようにして決定された。基準の記録パワーを100%とし、それに比例したパワーで記録した後再生し、PIエラーとの関係を調べ、エラーがある一定の値(100)になった際の、低パワー側の記録パワーを読み取り、記録開始パワー(Pl)とした。同様の方法において、高パワー側は、最大記録パワー(Ph)とした。ここで得た、Pl、Phより、下式にて内挿し、55〜40%の間を算出した。
内挿z%の場合 : Pw(z%) = Pl+(Ph−Pl)×z÷100
図6の方法で試し書きを行ない、記録パワーを決定した場合の、パワーマージン測定を行なった結果、実施例1と同様、記録パワーマージンが±20%以上とう広いパワーマージンが得られた。PIエラーより記録開始パワーと最大記録パワーを求め内挿する方法では、パワーマージンが狭い変形波形で記録した場合においても、記録パワー80%及び120%の両者でジッタが13%より低く、記録パワーマージン±20%を確保できた。以上より、本発明の試し書き方法を用いると、記録波形が歪んだ場合においても広い記録パワーマージンを確保できることがわかった。
【0019】
【発明の効果】
本発明では、情報記録用媒体に高密度の記録を行なう場合において、媒体ごとのばらつきや環境変化の影響がある場合でも、最適な記録パラメータを得ることができ、安定した高密度記録再生を可能とした。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による試し書き方法を示す模式図。
【図2】比較例によって決定した記録パラメータをもとに記録再生したジッタ。
【図3】本発明の方法によって決定した記録パラメータをもとに記録再生したジッタ。
【図4】記録波形。
【図5】本発明の方法を用いた装置の概略図。
【図6】本発明による試し書き方法の別の例を示す模式図。
【符号の説明】
101 …情報記録媒体、102 …モータ、103 …再生手段、104 …光集光手段、105 …光発生手段、106 …光検出手段、107 …光強度制御手段、109 …中央制御手段、110 …記録光、111 …再生光、112 …光スポット、113 …再生光、114 …再生手段、115 …試し書き信号検出手段。

Claims (7)

  1. 光の照射により原子配列が変化することによって記録を行う追記型の情報記録媒体に記録する場合において、
    前記情報記録媒体に異なるパワーレベルで記録を行うステップと、
    前記記録マークを再生するステップと、
    前記パワーレベルと前記記録マークの再生特性の相関関係から記録パラメータを決定するステップを含むことを特徴とする試し書き方法。
  2. 請求項1に記載の試し書き方法において、前記再生特性が、ジッターであることを特徴とする試し書き方法。
  3. 請求項1に記載の試し書き方法において、前記再生特性が、エラーであることを特徴とする試し書き方法。
  4. 請求項1に記載の試し書き方法において、前記試し書き時のパワーレベルが当該媒体に記載されている基準値を元に決定されることを特徴とする試し書き方法。
  5. 請求項1に記載の試し書き方法において、前記試し書き時のパワーレベルが記録手段に記載されている基準値を元に決定されることを特徴とする試し書き方法。
  6. 請求項1に記載の試し書き方法において、前記記録マークの、記録部と未記録部の反射率差が最長マーク・スペースパターンの10%未満となる最短マーク・スペースパターンを有することを特徴とする試し書き方法。
  7. 請求項1〜6に記載の試し書き方法において、決定された記録パラメータを用いて記録する手段を有することを特徴とする情報記録装置。
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