JP2004302391A - オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡 - Google Patents

オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP2004302391A
JP2004302391A JP2003098433A JP2003098433A JP2004302391A JP 2004302391 A JP2004302391 A JP 2004302391A JP 2003098433 A JP2003098433 A JP 2003098433A JP 2003098433 A JP2003098433 A JP 2003098433A JP 2004302391 A JP2004302391 A JP 2004302391A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
optical axis
autofocus mechanism
autofocus
microscope
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003098433A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryosuke Komatsu
亮介 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2003098433A priority Critical patent/JP2004302391A/ja
Publication of JP2004302391A publication Critical patent/JP2004302391A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

【課題】オートフォーカス動作に要する時間の短縮化を図ったオートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡を提供する。
【解決手段】光学系(6,7,8)の焦点位置を光軸方向に走査して標本4への合焦を行うオートフォーカス機構において、標本4の存在する光軸方向の範囲を検出する検出手段13を有し、検出手段13で検出した標本4の存在する範囲に基づいて光学系(6,7,8)の焦点位置を光軸方向に走査することを特徴とするオートフォーカス機構。
【選択図】図2

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、レンズ光学系の焦点位置を光軸方向に走査し、CCD(Charge−coupled device)カメラを用いて焦点位置毎の標本像のコントラストを検出し、該コントラストに基づいて標本に対する合焦を行うオートフォーカス装置が知られている。斯かる装置として、次のような構成のものが提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
【0003】
従来のオートフォーカス装置は、予め定めた第1の走査範囲にわたってレンズ光学系の焦点位置を走査し、コントラストが最大になる焦点位置を検出する。この焦点位置の検出は、次の2つの動作によって行われる。
まず、第1の走査幅の範囲(第1の走査範囲と同範囲)にわたって、第1の走査ピッチで画像を取得しコントラストの検出を行い、コントラストが極大になる位置を検出する粗フォーカス動作を行う。ここで、コントラストが極大になる位置が検出されない場合には、第1の走査範囲に隣接する第2の走査範囲について同様に粗フォーカス動作を行い、コントラストが極大になる位置を検出する。
【0004】
次に、粗フォーカス動作によって検出された位置を含む第1の走査幅より小さい第2の走査幅の範囲にわたって、第1の走査ピッチよりも細かな第2の走査ピッチでコントラストの検出を行い、コントラストが最大になる焦点位置を検出する密フォーカス動作を行う。
そして従来のオートフォーカス装置は、この密フォーカス動作によって検出された焦点位置を、標本に対する合焦位置(フォーカスポイント)として合焦を行う。
【0005】
【特許文献1】
特開平10−48505号公報
【00006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のオートフォーカス装置は、第1の走査範囲における粗フォーカス動作によってコントラストが極大になる位置が検出されない場合、上述のように第2の走査範囲において粗フォーカス動作を繰り返し行わなければならない。このような場合、合焦位置を求めるための時間が増大してしまう。したがって、上記従来のオートフォーカス装置は、焦点位置を求め、標本への合焦を完了するまでの時間(オートフォーカス動作に要する時間)が増大してしまうという問題がある。
【0007】
特に、不透明の筐体に覆われた顕微鏡に上記従来のオートフォーカス装置を適用した場合、使用者は標本とレンズ光学系の位置を直接目視にて確認することができない。したがって使用者は、レンズ光学系の焦点位置を標本の近傍へ配置するためにレンズ光学系の位置を調整することができない。このため、斯かる顕微鏡においては、標本に対する合焦位置の検出をレンズ光学系の焦点位置と標本とが大きく離れた状態で行わなければならない。したがって、粗フォーカス動作を繰り返し行わなければならなくなり、標本に対する合焦位置を求めるための時間が増大し、その結果オートフォーカス動作に要する時間が増大することとなってしまう。
【0008】
そこで本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、オートフォーカス動作に要する時間の短縮化を図ったオートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために請求項1の発明は、
光学系の焦点位置を光軸方向に走査して標本への合焦を行うオートフォーカス機構において、
前記標本の存在する前記光軸方向の範囲を検出する検出手段を有し、
前記検出手段で検出した前記標本の存在する範囲に基づいて前記光学系の焦点位置を光軸方向に走査することを特徴とするオートフォーカス機構を提供する。
【0010】
また、請求項2に記載のオートフォーカス機構は、
前記オートフォーカス機構は、前記光軸の複数の位置で前記標本の画像を取得し、前記標本の画像のコントラストに基づいて前記標本の合焦を行うことを特徴とする。
【0011】
また、請求項3に記載のオートフォーカス機構は、
前記標本の存在する範囲で前記光学系の焦点位置を光軸方向に走査することを特徴とする。
【0012】
また、請求項4に記載のオートフォーカス機構は、
前記標本は、ガラス基板に保持され、
前記検出手段は、前記標本および前記ガラス基板の存在する光軸方向の範囲を検出し、
前記検出手段で検出した前記標本および前記ガラス基板の存在する範囲で前記光学系の焦点位置を光軸方向に走査することを特徴とする。
【0013】
また、請求項5に記載の顕微鏡は、
請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のオートフォーカス機構を備えたことを特徴とする。
【0014】
また、請求項6に記載の顕微鏡は、
請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のオートフォーカス機構を備え、当該オートフォーカス機構とともに不透明な筐体内に配設されていることを特徴とする。
【0015】
また、請求項7に記載の顕微鏡は、
前記標本はステージに載置され、
前記ステージは前記筐体外で標本を載置して前記筐体内に移動し、
前記検出手段は前記標本が前記筐体外から前記筐体内に移動する際に、前記標本の存在する光軸方向の範囲を検出することを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡の外観を示す部分透視図である。また図2は、本発明の実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡と該顕微鏡の制御系とを示す概略構成図である。
【0017】
まず、本実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡1の基本的な構成について説明する。
図1に示すように、顕微鏡1は、不透明の筐体2内に配設されている。この筐体2の側面には、ステージ3を筐体2から出し入れするための挿脱口2aが設けられている。また、挿脱口2aの下方には、ステージ3を筐体2外へせり出させ、せり出したステージ3上に標本4を載置して再び筐体2内へ挿入するための挿脱指示ボタン2bが設けられている。
【0018】
図2に示すように、顕微鏡1において、ステージ3の下方には、標本4を照明するための光源5が配置されている。ステージ3は、不図示のステージ用駆動モータによりステージ3の平面方向(xy方向)へ移動可能である。尚、このステージ用駆動モータは、コントローラ15からの制御信号に基づいてステージ制御回路19によって制御されている。
一方、ステージ3の上方には、対物レンズ6とミラー7と結像レンズ8とからなるレンズ光学系と、CCDカメラ9とが配置されている。対物レンズ6は、不図示の駆動モータを介して光軸方向(z方向)へ移動可能である。これにより、標本4への合焦、およびレンズ光学系の焦点位置のz方向への走査を行うことができる。また、CCDカメラ9は、撮像素子10とCCD制御回路11とを備えており、モニタ12に接続されている。
また、ステージ3の上方であって挿脱口2a付近には、後述する反射変位センサ13が配設されている(図1を参照。)。
【0019】
以上の構成の下、光源5によって照明された標本4からの光は、対物レンズ6で集光され、ミラー7によって反射される。ミラー7によって反射されたこの光は、結像レンズ8によって結像され、CCDカメラ9における撮像素子10の撮像面上に標本4の像(以下、「標本像」という。)が形成される。撮像素子10で得られた標本像は、その映像信号がCCD制御回路11に送られ、モニタ12上に表示される。このようにして使用者は、モニタ13を介して標本4を観察することができる。
【0020】
次に、本実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡1のオートフォーカス動作について説明する。
まず、オートフォーカス制御部14およびコントローラ15は、レンズ光学系の焦点位置をz方向へ走査するために、対物レンズ駆動回路16に対して制御信号を送る。
対物レンズ駆動回路16は、この制御信号に基づいて上記不図示の駆動モータを回転させて、対物レンズ6をz方向へ移動させる。上述のように、これによってレンズ光学系の焦点位置を光軸方向へ走査することができる。また、対物レンズ駆動回路16は、対物レンズ6に設けられた不図示のz方向カウンタによって対物レンズ6のz方向における位置(z方向位置)を求め、該z方向位置を表す信号をコントローラ15へ出力する。尚、z方向カウンタは、不図示のz方向駆動モータのエンコーダを使用しても構わない。
【0021】
レンズ光学系の焦点位置をz方向へ走査することにより、CCDカメラ9では焦点位置毎の標本像が得られる。CCD制御回路11は、得られた標本像の映像信号をオートフォーカス制御部14に出力する。
オートフォーカス制御部14は、映像信号から焦点位置毎の標本像のコントラストを検出する。そして、コントラストが最大となった標本像が得られた焦点位置を求め、この焦点位置を標本4に対する顕微鏡1の合焦位置(フォーカスポイント)として採用する。
オートフォーカス制御部14およびコントローラ15は、対物レンズ駆動回路16を制御して対物レンズ6をz方向へ移動させ、採用したフォーカスポイントにレンズ光学系の焦点位置を合わせる。
本実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡1では、以上のオートフォーカス動作によって、標本4に対する合焦が行われる。
【0022】
次に、本実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡1において最も特徴的なオートフォーカス動作の前処理について説明する。
上述の反射変位センサ13は、測定対象物に対して検出光を照射し、測定対象物からの反射光を受光して測定対象物のz方向の変位を測定するセンサである。この反射変位センサ13は、コントローラ15からの制御信号に基づき、反射変位センサ制御回路17によって制御される。尚、反射変位センサ13には、光を利用したセンサに限られず、超音波や静電容量を利用したセンサを用いることもできる。
【0023】
本実施の形態では、標本4を載置したステージ3を筐体2内へ挿入する際に、オートフォーカス動作の前処理として次の処理が行われる。尚、図3は、本発明の実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡におけるオートフォーカス動作の前処理を説明する図である。
まず、ステージ3の筐体2内への挿入直前、反射変位センサ13は、ステージ3に向かって検出光を照射する。照射された検出光はステージ3の上面で反射され、反射変位センサ13はこの反射光を受光する。このとき反射変位センサ13において検出されるz方向の変位をゼロとして初期化する。尚、反射変位センサ13は、ステージ3の筐体2内への挿入が終了するまでステージ3へ向かって検出光を照射する。
【0024】
挿脱指示ボタン2bを操作した直後、ステージ3は筐体2内へ入り始める。しかし、反射変位センサ13は、この時点においてステージ3の上面からの反射光を受光しているため、検出される変位はゼロのままである(図3(a)を参照)。
【0025】
ステージ3が筐体2内へ挿入され、スライドガラス4aが反射変位センサ13の真下を通過するとき、反射変位センサ13から照射された検出光は、スライドガラス4aの上面で反射される。このため、反射変位センサ13では、スライドガラス4aの上面による反射光が受光される。したがって、このとき反射変位センサ13では、ステージ3の上面からスライドガラス4aの上面までのz方向における間隔を示す変位D1が検出される(図3(b)を参照)。すなわちこの変位D1は、標本4における最もステージ3側の位置(標本4の下面)を示し、上記オートフォーカス動作においてレンズ光学系の焦点位置を走査する際の走査開始位置となる。
【0026】
ステージ3が筐体2内へさらに挿入され、カバーガラス4bが反射変位センサ13の真下を通過するとき、反射変位センサ13から照射された検出光は、カバーガラス4bの上面で反射される。このため、反射変位センサ13では、カバーガラス4bの上面による反射光が受光される。したがって、このとき反射変位センサ13では、スライドガラス4aの上面からカバーガラス4bの上面までのz方向における間隔を示す変位D2が検出される(図3(c)を参照)。すなわちこの変位D2は、標本4における上述した最もステージ3側の位置に対して反対側の位置(標本4の上面)を示し、上記オートフォーカス動作においてレンズ光学系の焦点位置を走査する際の走査終了位置となる。尚、上記説明のように本実施の形態では、標本4の上面としてカバーガラス4bの上面を検出している。
【0027】
以上の処理により、標本4における最もステージ3側の位置(D1)と、反対側の位置(D2)とが検出される。
反射変位センサ制御回路17は、反射変位センサ13によって検出された変位D1,D2をコントローラ15へ出力する。そしてコントローラ15は、ステージ3の挿入動作終了時に、変位D1,D2をメモリ18へ保存する。
【0028】
そして、顕微鏡使用者からの指示により、コントローラ15は、レンズ光学系の焦点位置を走査開始位置に配置するための対物レンズ6のz方向位置を求める。このz方向位置は、レンズ光学系の焦点位置がステージ3の上面に位置するときの対物レンズ6のz方向位置に、メモリ18に保存されている変位D1を加算することによって求められる。
対物レンズ制御回路16は、求めたz方向位置まで対物レンズ6を移動させることによって、レンズ光学系の焦点位置を走査開始位置に配置する。
本実施の形態では、以上によってオートフォーカス動作の前処理が終了し、これに続いて上述のオートフォーカス動作が行われる。
【0029】
ここで、オートフォーカス動作についてさらに説明する。
顕微鏡1において、レンズ光学系の焦点位置の走査は、走査開始位置すなわちスライドガラス4aの上面から+z方向へ向かって行われる。ここで、検出したいフォーカスポイントは、ふつう標本4内に位置する。このため、このレンズ光学系の焦点位置の走査は、フォーカスポイントの近傍から、確実に該フォーカスポイントの存在する方向へ向かって行われていると言うことができる。
【0030】
そして、レンズ光学系の焦点位置の走査は、該焦点位置が上述の走査終了位置すなわちカバーガラス4bの上面に到達するまで行われる。これにより、レンズ光学系の焦点位置の走査を、フォーカスポイントが確実に存在する範囲であって、かつフォーカスポイントの近傍範囲に制限することができる。尚、走査終了位置における対物レンズ6のz方向位置は、走査開始位置における対物レンズ6のz方向位置に、メモリ18に保存されている変位D2を加算することによって求められる。
【0031】
尚、本実施の形態では、レンズ光学系の焦点位置の走査終了後、コントラストが最大となる焦点位置すなわちフォーカスポイントが検出されなかった場合、走査を行った箇所には標本4がなかったと判断することができる。
また、本実施の形態では、上述のように走査終了位置としてカバーガラス4bの上面を検出する構成である。しかしこれに限られず、カバーガラス4bのz方向の厚さが予め分かっている場合、変位D2からこの厚さ分を差し引いた位置を走査終了位置として走査を行う構成とすることもできる。
また、本実施の形態では、スライドガラス4aの上面からカバーガラス4bの上面までを走査しているが、走査する範囲はこれに限られずもっと広い範囲を走査しても構わない。例えば、ステージ3の上面から、カバーガラス4bの上面まで走査しても良い。
【0032】
また、本実施の形態では、対物レンズ6の先端からステージ3の上面までの間隔が、変位D1と変位D2とを足し合わせた間隔を下回ると、対物レンズ6によって標本4を破損してしまう危険がある。このため、この変位D1と変位D2とを足し合わせた間隔を、手動によるフォーカス動作の−z方向の限界値として利用し、標本4の破損を防止する構成とすることができる。さらにオートフォーカス時に、変位D1と変位D2を足し合わせた範囲が、対物レンズ6のワーキングディスタンスよりも大きい場合にも同様に標本4の破損を防止することができる。
また、本実施の形態では、上述の変位D1と変位D2とを足し合わせた間隔がゼロである場合には、標本4がステージ3上に載置されていないと判断することができる。このため、斯かる判断がされた場合、光源5の照明をオフにするなどの構成とすることにより、消費電力の軽減を図ることもできる。
尚、本実施の形態では標本像のコントラストから焦点位置を検出しているが、焦点位置の検出方法はこれに限られず、光を標本に照射しその反射光の位置から焦点位置を検出する方法や、標本からの光の強度が最大になる位置から焦点位置を検出する方法などを使用しても構わない。
【0033】
以上、本実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡1は、走査開始位置として標本4における最もステージ3側位置(スライドガラス4aの上面)を検出することによって、上述のようにレンズ光学系の焦点位置の走査を標本4に対する合焦位置が確実に存在する方向に向かって行うことができる。これにより、オートフォーカス動作に要する時間を短縮することができる。
また、本実施の形態では、走査終了位置として標本4における最もステージ3側位置の反対側位置(スライドガラス4aの上面)を検出することによって、上述のようにレンズ光学系の焦点位置の走査を標本4に対する合焦位置が確実に存在する走査範囲内で行うことができる。これにより、オートフォーカス動作に要する時間をさらに短縮することができる。
また、本実施の形態では、走査開始位置が標本4における最もステージ3側位置であるため、カバーガラス4b上にゴミなどが付着している場合であっても標本4に対して正確に合焦を行うことができる。
【0034】
【発明の効果】
本発明によれば、オートフォーカス動作に要する時間の短縮化を図ったオートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡の外観を示す部分透視図である。
【図2】本発明の実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡と該顕微鏡の制御系とを示す概略構成図である。
【図3】本発明の実施の形態に係るオートフォーカス機構を適用した顕微鏡におけるオートフォーカス動作の前処理を説明する図である。
【符号の説明】
1 顕微鏡
2 筐体
3 ステージ
4 標本
6 対物レンズ
9 CCDカメラ
13 反射変位センサ

Claims (7)

  1. 光学系の焦点位置を光軸方向に走査して標本への合焦を行うオートフォーカス機構において、
    前記標本の存在する前記光軸方向の範囲を検出する検出手段を有し、
    前記検出手段で検出した前記標本の存在する範囲に基づいて前記光学系の焦点位置を光軸方向に走査することを特徴とするオートフォーカス機構。
  2. 前記オートフォーカス機構は、前記光軸の複数の位置で前記標本の画像を取得し、前記標本の画像のコントラストに基づいて前記標本の合焦を行うことを特徴とする請求項1に記載のオートフォーカス機構。
  3. 前記標本の存在する範囲で前記光学系の焦点位置を光軸方向に走査することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のオートフォーカス機構。
  4. 前記標本は、ガラス基板に保持され、
    前記検出手段は、前記標本および前記ガラス基板の存在する光軸方向の範囲を検出し、
    前記検出手段で検出した前記標本および前記ガラス基板の存在する範囲で前記光学系の焦点位置を光軸方向に走査することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のオートフォーカス機構。
  5. 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のオートフォーカス機構を備えたことを特徴とする顕微鏡。
  6. 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のオートフォーカス機構を備え、当該オートフォーカス機構とともに不透明な筐体内に配設されていることを特徴とする顕微鏡。
  7. 前記標本はステージに載置され、
    前記ステージは前記筐体外で標本を載置して前記筐体内に移動し、
    前記検出手段は前記標本が前記筐体外から前記筐体内に移動する際に、前記標本の存在する光軸方向の範囲を検出することを特徴とする請求項6に記載の顕微鏡。
JP2003098433A 2003-04-01 2003-04-01 オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡 Withdrawn JP2004302391A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003098433A JP2004302391A (ja) 2003-04-01 2003-04-01 オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003098433A JP2004302391A (ja) 2003-04-01 2003-04-01 オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004302391A true JP2004302391A (ja) 2004-10-28

Family

ID=33409956

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003098433A Withdrawn JP2004302391A (ja) 2003-04-01 2003-04-01 オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004302391A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4121849B2 (ja) 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
KR20090077036A (ko) 동적 주사 자동 현미경 및 동적 주사 방법
JP5307221B2 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP5053691B2 (ja) 標本スキャナ装置、該装置による標本位置検出方法
JP2013142769A (ja) 顕微鏡システム、オートフォーカスプログラムおよびオートフォーカス方法
JP5848596B2 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP5301642B2 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP2004294788A (ja) オートフォーカス機能を備えた電子内視鏡装置
JP2010181317A (ja) 欠陥検査装置
JP5296861B2 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JPH1062354A (ja) 透明板の欠陥検査装置及び欠陥検査方法
WO2014112084A1 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
WO2014112085A1 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP2004302391A (ja) オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡
WO2014112086A1 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP2004102032A (ja) 走査型共焦点顕微鏡装置
KR20110121497A (ko) Pzt 스테이지를 이용한 공초점 현미경 시스템 및 그 스캔방법
JP2008046361A (ja) 光学システム及び光学システムの制御方法
WO2014112083A1 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP2007147756A (ja) 光学測定装置
JPH09230250A (ja) 光学顕微鏡自動合焦点装置
JPH1138324A (ja) レーザ走査顕微鏡
KR101138647B1 (ko) 고속기판검사장치 및 이를 이용한 고속기판검사방법
JP2005111110A (ja) 内視鏡システム
JP5986041B2 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20060606