JP2004287609A - Setting method of product inspection content, changing method of product inspection content, setting system of product inspection content and changing system of product inspection content - Google Patents

Setting method of product inspection content, changing method of product inspection content, setting system of product inspection content and changing system of product inspection content Download PDF

Info

Publication number
JP2004287609A
JP2004287609A JP2003076382A JP2003076382A JP2004287609A JP 2004287609 A JP2004287609 A JP 2004287609A JP 2003076382 A JP2003076382 A JP 2003076382A JP 2003076382 A JP2003076382 A JP 2003076382A JP 2004287609 A JP2004287609 A JP 2004287609A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
product
data
target product
defect
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003076382A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4480947B2 (en
Inventor
Masataka Hayashida
正敬 林田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2003076382A priority Critical patent/JP4480947B2/en
Publication of JP2004287609A publication Critical patent/JP2004287609A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4480947B2 publication Critical patent/JP4480947B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • General Factory Administration (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a setting method of product inspection content, changing method of product inspection content, setting system of product inspection content and changing system of product inspection content capable of realizing a reduction in cost or inspection time by eliminating duplicate inspections for the same failure. <P>SOLUTION: In this setting method, an inspection method for inspecting a portion of a part constituting a product is set from object product detectable data in which information for the part, the portion of the part, an inspection method for inspecting the portion, and a failure phenomenon detectable by the inspection method is compared, by use of inspection method characteristic data showing inspection method characteristics by inspection method as a determination basis. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、製品の検査を効率的に行うことができる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に製品の検査は、図８の様に複数回の工程内検査と最終検査で構成されている。それぞれの検査の工程は、同機能の検査装置を重複して使用する場合もあれば、異なる機能、性能の検査装置を使用することも有る。また、一つの検査工程に複数台の同一機能の検査装置のみならず、異なる機能の検査装置を用いることもある。工程内検査で発見されない不良は、後工程の検査や最終検査で発見されることになる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、後工程以降で発見される不良は、意図して発見されるものでなく原因不明のままのことがあり、例えば、プリント基板では、どこの部分の半田付けがされていない（オープン）とか、どこがショートしているというように直接的に真の不良原因が判らないことが殆どであり、不良原因を解明しようとすれば時間がかかり製造コストの増加に繋がることになる。また、不良はより前の工程で発見される方が全体の工数低減に繋がることになり、適正な工程でモレのない検査を行うことが重要である。また、重複した検査を行うことも当然無駄な作業を行っていることであり、生産効率の低下、設備の消耗に繋がり、好ましくない。そこで、本発明は、上述の問題点を解決するためになされたもので、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
上述の問題点を解決するために、請求項１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する製品検査内容設定方法を最も主要な特徴とする。
請求項２記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項４記載の発明では、過去の不良発生状況から、前記設計条件に対応した不良発生データを推定し、設計条件に対応した不良発生データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項５記載の発明では、前記対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
【０００５】
請求項６記載の発明では、前記対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項７記載の発明では、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、前記検査内容に必要な前記製品や前記検査ジグの検査用の部位を設計する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項８記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、発生しない不良の検査を除外する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項９記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査を除外する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１０記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良が発生したとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良に傾向的な増加が見られるとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
【０００６】
請求項１２記載の発明では、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１３記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１４記載の発明では、前記対象製品検出可能データを作成するとき、対象製品を検査する検査方法を選択できる製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１５記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００７】
請求項１６記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、前記検査内容設定部は、前記不良発生データ作成部の前記対象製品不良発生データと前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項１７記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記不良発生データ作成部は、前記データ収集部の前記対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる設計条件に対応した不良発生データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項１８記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定し、前記不良発生データ作成部は、過去の不良発生状況から、設計条件に対応した不良発生データを推定する不良予測システムから、設計条件に対応した不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００８】
請求項１９記載の発明では、前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項２０記載の発明では、前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項２１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部とを備え、前記検査内容設定部は、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部と、該検査内容を製品設計システム、検査ジグ設計システムに出力する対象製品検査内容入出力部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００９】
請求項２２記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、対象製品不良発生データにない不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２３記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２４記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データにある不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
【００１０】
請求項２５記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的増加が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２６記載の発明では、前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２７記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２８記載の発明では、前記検出可能データ作成部は対象製品を検査する検査方法を選択できる対象製品検査方法入力部を有する製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
【００１１】
請求項２９記載の発明では、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３０記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３１記載の発明では、前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項３２記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）の構成を示す。製品検査内容設定システムの主要部は製品の設計データを記憶するデータベース部１０と、データベース部１０のデータから対象製品のデータを収集するデータ収集部２０と、データ収集部２０のデータから対象製品の検出可能データを作成する検出可能データ作成部３０と、対象製品の不良を予測する不良予測システム１００と、不良予測システム１００、データ収集部２０等のデータから、対象製品の不良発生データを作成する不良発生データ作成部４０と、検査方法特徴データを作成する検査方法特徴データ作成部５０と、不良発生データ作成部４０のデータと検出可能データ作成部３０のデータから、発生する不良現象に対して、その不良現象が検出可能な検査方法を抽出し、検査方法特徴データ作成部５０のデータを判断の基準として検査内容を設定する検査内容設定部６０とから構成される。
データベース部１０は製品の組付け箇所ごと製品設計データや、その製品の工程（組付け、検査）ごと工程設計データや、その製品の組付け部品識別ごと組付け部品設計データや、その製品の接続箇所ごと接続箇所設計データや、その製品の接続箇所関連データが記憶されている製品設計データベース１１と、製品の不良データや、生産データが記憶されている製造品質データベース１２とから構成される。
製品設計データベース１１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け部品識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無で表される組付け箇所ごと製品設計データと、製品識別、ライン識別、工程識別（組付け方法、検査方法）、順序で表される工程設計データと、組付け部品識別、組付け部品特性で表される組付け部品設計データと、製品識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、接続箇所特性、接続箇所関連識別で表される接続箇所設計データと、製品識別、接続箇所関連識別、接続箇所関連特性で表される接続箇所関連データが記憶される。
ここで、組付け箇所特性とは、被組み付け部品や組立ジグの、組付け箇所ごと特性等の組み合わせを表す。組付け部品特性とは、組付け部品ごと特性等の組み合わせを表す。接続箇所特性とは、接続箇所ごと特性等の組み合わせを表す。またここで特性とは、構造的特性や材料特性や特徴等の組み合わせを表す。構造的特性とは、形状、寸法、角度、重量、配置等の条件の組み合わせを表す。材料特性とは、材質、表面処理等の条件の組み合わせを表す。また特徴とは、種類、荷姿、検査用設計有無等の条件の組み合わせを表す。
【００１３】
製造品質データベース１２は生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数で表される不良データと、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、生産枚数で表される生産データとが記憶される。
データ収集部２０は対象製品の製品識別、ライン識別を入力する対象製品識別ライン識別入力部２１と、対象製品の設計データを収集する対象製品設計データ収集部２２と、その設計データを記憶する対象製品設計データ記憶部２３と、その設計データを入出力する対象製品設計データ入出力部２４と、対象製品の品質データを収集する対象製品品質データ収集部２５と、その品質データを記憶する対象製品品質データ記憶部２６と、その品質データを入出力する対象製品品質データ入出力部２７とから構成される。
対象製品識別ライン識別入力部２１は、対象製品設計データ収集部２２、対象製品品質データ収集部２５にて、データを収集する対象製品の製品識別、ライン識別として、製品設計データベース１１に記憶されている製品識別、ライン識別を選定入力する。この場合、任意の製品識別、ライン識別を入力することができる。そして、ここでは、入力はある範囲を区切った範囲入力、あるいは区切らないあいまい入力のいずれでもよい。
【００１４】
対象製品設計データ収集部２２は、製品設計データベース１１から対象製品識別ライン識別入力部２１によって入力された製品識別、ライン識別の組付け箇所ごと製品設計データ、工程設計データ、接続箇所設計データ、接続箇所関連データと、その組付け箇所ごと製品設計データにある組付け部品識別の組付け部品設計データとを収集する。組付け箇所ごと製品設計データと組付け部品設計データの組付け部品識別を比較し、組付け箇所ごと製品設計データに組付け部品設計データを対応付け、対応付けデータＡとする。対応付けデータＡと接続箇所設計データの、組付け箇所識別を比較し、対応付けデータＡに接続箇所設計データを対応付け、対応付けデータＢとする。対応付けデータＢと接続箇所関連データの、組付け箇所識別、接続箇所識別を比較し、対応付けデータＢに接続箇所関連データを対応付け、接続箇所ごと製品設計データとする。接続箇所ごと製品設計データと工程設計データを、対象製品設計データ記憶部２３に記憶させる。
対応付けデータＡは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性で表される。対応付けデータＢは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続箇所関連識別で表される。
対象製品設計データ記憶部２３は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性で表される接続箇所ごと製品設計データと、製品識別、ライン識別、工程識別（組付け方法、検査方法）、順序で表される工程設計データとが記憶される。
対象製品設計データ入出力部２４は対象製品設計データ記憶部２３に記憶されているデータを入力、編集、出力する。生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数で表される不良データと、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、生産枚数で表される生産データとが記憶される。
対象製品設計データ収集部２５は製品品質データベース１２から対象製品識別ライン識別入力部２１によって入力された製品識別、ライン識別の、不良データ、生産データを収集する。不良データと生産データの、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法を比較し、不良データに生産データを対応付け、対応付けデータＣとする。対応付けデータＣから、不良率（不良件数／生産枚数）、不良の傾向を算出し、対応付けデータＣに対応付け、接続箇所ごと製造品質データとする。接続箇所ごと製造品質データを、対象製品設計データ記憶部２６に記憶させる。対応付けデータＣは、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、生産枚数で表される。
対象製品品質データ記憶部２６は生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、生産枚数、不良率、不良の傾向で表される組付け箇所識別ごと製造品質データが記憶される。対象製品品質データ入出力部２７は対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
【００１５】
検出可能データ作成部３０は対象製品の検出可能データを記憶する対象製品検出可能データ記憶部３１と、その検出可能データを入出力する対象製品検出可能データ入出力部３２と、各検査方法の設計条件に対応した検出可能データを記憶する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５と、その検出可能データを入出力する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６と、対象製品の検査方法を入力する対象製品検査方法入力部３４と、対象製品の設計データ、各検査方法の設計条件に対応した検出可能データ、対象製品の検査方法から、対象製品の検出可能データを作成する対象製品検出可能データ作成部３３から構成される。
設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５は検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、接続箇所関連特性、不良現象、検出可否で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データが記憶される。設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６は設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
対象製品検査方法入力部３４は対象製品検出可能データ作成部３３にてデータを収集する検査方法を選定入力する。この場合、任意の検査方法を複数入力することができる。そして、ここでは、入力はある範囲を区切った範囲入力、あるいは区切らないあいまい入力のいずれでもよい。
対象製品検出可能データ作成部３３は設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶された設計条件に対応した各検査方法検出可能データから、予め指定された検査方法、または、対象製品検査方法入力部３４によって入力された検査方法のデータを抽出し、抽出データＡとする。
【００１６】
対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと抽出データＡの組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、接続箇所関連特性を比較し、接続箇所ごと製品設計データと抽出データＡを対応付け、対応付けデータＤとする。対応付けデータＤと対象製品設計データ記憶部２３に記憶された工程設計データの組付け方法を比較し、対応付けデータＤに工程設計データを対応付け、対応付けデータＥとする。ここで、工程設計データの順序は、組付け方法順序とする。
対応付けデータＥと対象製品設計データ記憶部２３に記憶された工程設計データの検査方法を比較し、対応付けデータＥに工程設計データを対応付け、対応付けデータＦとする。ここで、工程設計データの順序は、検査方法順序とする。対応付けデータＦの組付け方法順序と検査方法順序を比較し、組付け方法順序が検査方法順序より遅い場合は、検出可否を検出不可とし、対象製品検出可能データとする。対象製品検出可能データを対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶させる。対応付けデータＤは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される。
対応付けデータＥは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否、組付け方法順序で表される。
対応付けデータＦは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否、組付け方法順序、検査方法順序で表される。
【００１７】
対象製品検出可能データ記憶部３１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される対象製品検出可能データが記憶される。対象製品検出可能データ入出力部３２は対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。製品を構成する部品とその部品の部位とその部位を検査する検査方法とその検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データの例としては図２のようになる。図２では、検査できる場合は○、検査できない場合は×で示されている。
不良発生データ作成部４０は対象製品の不良発生データを記憶する対象製品不良発生データ記憶部４１と、その不良発生データを入出力する対象製品不良発生データ入出力部４２と、設計条件に対応した不良発生データを記憶する設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４と、その不良発生データを入出力する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部４５と、検査実施基準を記憶する検査実施基準記憶部４７と、その検査実施基準を入出力する検査実施基準入出力部４８と、対象製品の設計データ、設計条件に対応した不良発生データから、対象製品の不良発生データを作成する、または、対象製品の設計データに対して、その設計条件から発生すると予測された不良現象を抽出し、その抽出されたデータを対象製品の不良発生データとする、または、実際に発生した不良現象を抽出し、その抽出されたデータを対象製品の不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部４３と、その対象製品の不良発生データから、検査実施基準データを判断の基準として、検査する必要の無いところを削除する検査不必要箇所削除部４６とから構成される。製品を構成する部品とその部品の部位とその部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データの例としては図３のようになる。図３中単位ｐｐｍは、ｐａｒｔ ｐａｒ ｍｉｌｌｉｏｎの単位であり、１ｐｐｍは１００万分の１を意味する。
【００１８】
設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４は組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率で表される設計条件に対応した不良発生データが記憶される（不良件数、接続点数、不良率は、空白でも良い）。
設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部４５は、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶されているデータを入力、編集、出力する。検査実施基準記憶部４７は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、不良現象、検査要不要で表される製品ごと検査実施基準と、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査要不要で表される設計条件に対応した検査実施基準と、製品識別、ライン識別、目標不良率で表される不良率検査実施基準とが記憶される。
検査実施基準入出力部４８は検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータを入力、編集、出力する。対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶された設計条件に対応した不良発生データの組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性を比較し、接続箇所ごと製品設計データと設計条件に対応した不良発生データを対応付け、対象製品不良発生データとする。または、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと、不良予測システム１００から予測された不良現象を抽出し、その抽出したデータを、対応付け、対象製品不良発生データとする。または、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと、対象製品品質データ記憶部２６から実際に発生した不良現象を抽出したデータを、対応付け、対象製品不良発生データとする。そして、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。
【００１９】
対象製品不良発生データ記憶部４１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、不良の傾向で表される対象製品検出可能データが記憶される。この場合、不良件数、接続点数、不良率、不良の傾向は、空白でもよい。対象製品不良発生データ入出力部４２は対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
検査不必要箇所削除部４６は対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データと検査実施基準記憶部４７に記憶された設計条件に対応した検査実施基準の組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率を比較し、対象製品不良発生データに、設計条件に対応した検査実施基準を対応付け、対応付けデータＧとする。
対応付けデータＧと検査実施基準記憶部４７に記憶された製品ごと検査実施基準の製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対応付けデータＧと製品ごと検査実施基準を対応付け、対応付けデータＨとする。対応付けデータＨから設計条件に対応した検査要不要が「不要」で、対象製品検査要不要が「不要」であるデータと、設計条件に対応した検査要不要が「不要」で、対象製品検査要不要が空白であるデータと、設計条件に対応した検査要不要が空白で、対象製品検査要不要が「不要」であるデータとを削除し、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率を対象製品不良発生データとする。
対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。さらに、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データを不良率の小さい順に削除していき、（接続点数が少ないものは、信頼性が低い為、除いたりする）削除したデータの不良率の合計が、検査実施基準記憶部４７に記憶された不良率検査実施基準の目標不良率に達するまで、実施する。ここで、空白は、「要」でも「不要」でもないことを表す。
対応付けデータＧは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、設計条件に対応した検査要不要で表される。対応付けデータＨは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、設計条件に対応した検査要不要、対象製品検査要不要で表される。
【００２０】
検査方法特徴データ作成部５０は検査方法の特徴を記憶する検査方法特徴データ記憶部５１と、その特徴を入出力する検査方法特徴データ入出力部５２とから構成される。検査方法特徴データ記憶部５１は検査方法、検査方法特徴で表される検査方法ごと検査方法特徴データと、検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、検査ランクで表される検査方法設計条件ごと検査方法特徴データと、が記憶される。検査方法特徴データ入出力部５２は検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データの例としては図４のようになる。なお、図４中Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄはランク付けを示す。
検査内容設定部６０は対象製品の不良発生データ、対象製品の検出可能データ、検査方法の特徴データから、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部６１と、その検査内容を記憶する対象製品検査内容記憶部６２と、その検査内容を入出力する対象製品検査内容入出力部６３とから構成される。
対象製品検査内容設定部６１は対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データを抽出し、抽出データＢとする。または、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データと対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対象製品不良発生データにある対象製品検出可能データを抽出し、抽出データＢとする。
抽出データＢと検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データの検査方法を比較し、抽出データＢと検査方法ごと検査方法特徴データを対応付け、対応付けデータＩとする。対応付けデータＩから、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象が重複しているものを抽出し、検出可否が「可」で、検査方法特徴から判断し（例えば、負荷が小さいものを選択し）、対象製品検査内容とする。対象製品検査内容の例としては図５のようになる。
【００２１】
対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。または、抽出データＢと検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法設計条件ごと検査方法特徴データの検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象を比較し、抽出データＢと検査方法設計条件ごと検査方法特徴データを対応付け、対応付けデータＪとする。対応付けデータＪから、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象が重複しているものを抽出し、検出可否が「可」で、検査ランクが一番高いものを選択し、対象製品検査内容とする。
対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。さらに、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対象製品不良発生データにないものは、削除し、あるものは、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを判断の基準として（参照して）、追加する。
さらに、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されている対象製品品質データの傾向が傾向的減少であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータとの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する。
さらに、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されている対象製品品質データの傾向が傾向的増加であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータとの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として（参照して）、追加する。
傾向的減少とは、継続して不良の減少が見られる、ある期間にわたって継続して低い不良率を維持している／基準値を下回るような場合をいう。傾向的な不良増加とは、継続して不良の増加が見られる、ある期間にわたって継続して高い不良率を維持している／基準値をオーバーしているような場合をいう。
【００２２】
抽出データＢは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される。対応付けデータＩは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査方法、検出可否、検査方法特徴で表される。対応付けデータＪは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査方法、検出可否、検査ランクで表される。
対象製品検査内容記憶部６２は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、検査方法で表される対象製品検査内容が記憶される。検査方法特徴データ入出力部６３は対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力する。そのデータを製品設計システム２００、検査ジグ設計システム３００に出力する。
上述の各項目を例えば、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）にて例示すると、「生産時期」は、生産年月、生産年月日等、「製品識別」は、プリント基板の番号、プリント基板の名称等、「ライン識別」は、ライン番号、ライン名称等、「組付け箇所識別」は、リファレンス番号（アドレス）等、「部品識別」は、実装部品の番号、品名、メーカーとメーカー型番等、「組付け方法」は、実装方法、実装工程（設備、人等）、実装角度等の組み合わせ、「組付け箇所特性」は、実装面、実装座標、実装角度、パッド形状、寸法、レジスト形状、寸法、はんだ印刷マスク開口部形状、寸法等の組み合わせ、「組付け部品特性」は、形状概要（ＱＦＰ、ＳＯＰ、ＣＨＩＰ等）、ピン形状概要（フラット、ガルウィング等）、ピン数、長さ、幅、高さ、ピッチ、材質、マーク、極性、荷姿概要（エンボステープ、トレイ、スティック等）、荷姿寸法、荷姿角度等の組み合わせ、「検査方法」は、検査方法（外観検査機、インサーキット・テスタ、ファンクション・テスタ、目視等）等、「接続箇所識別」は、ピン番号等、「接続箇所特性」は、中心座標、パッド形状、寸法、レジスト形状、寸法、はんだ印刷マスク開口部形状、寸法等の組み合わせ、「接続箇所関連識別」は、ノード番号、信号線名等、「接続箇所関連特性」は、インサーキット・テスタやファンクション・テスタの為の、検査のピンがたつかどうか等を用いている。
【００２３】
図６、図７に本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）における処理フロー、即ち、本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法（製品検査内容変更方法）を示す。ここでは、データベース部１０は、予め用意されており、随時、メンテナンスされた新たなデータが入っているものとする。図６に示すように、フローがスタートすると、まずステップ２０１で判断する。そして、対象製品不良発生データを作成せず、対象製品検出可能データを設計条件から作成しない場合は、ステップ９１へ移り、対象製品不良発生データを入力し、対象製品検出可能データを設計条件から作成しない場合は、ステップ９１１へ移り、対象製品不良発生データを設計条件から作成するか、対象製品検出可能データを設計条件から作成する場合は、ステップ７０へ移る。
ステップ９１では、対象製品検出可能データ入出力部３２を用いて、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ２０５へ移る。ステップ９１１ではステップ９１と同様の処理が行われ、その後、ステップ１０１へ移り、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ２０５へ進む。
ステップ７０では、対象製品識別ライン識別入力部２１を用いて、製品設計データベース１１に記憶されている製品識別、ライン識別を選定入力、または、任意の製品識別、ライン識別を入力する。そして、ステップ８１へ移る。ステップ８１において、対象製品設計データ収集部２２は、製品設計データベース１１から、ステップ７０によって入力された製品識別、ライン識別の、組付け箇所ごと製品設計データ、工程設計データ、接続箇所設計データ、接続箇所関連データと、その組付け箇所ごと製品設計データにある組付け部品識別の組付け部品設計データとを収集し、そのデータの対応付けを実施し、接続箇所ごと製品設計データと工程設計データを、対象製品設計データ記憶部２３に記憶させる。このとき、対象製品設計データ入出力部２４を用いて、対象製品設計データ記憶部２３に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。
【００２４】
ステップ８１の後はステップ２０２へ移り、対象製品検出可能データを入力する場合は、ステップ９１２へ移る判断をし、対象製品検出可能データを設計条件から作成する場合は、ステップ２０３へ移る判断をする。ステップ９１２では、ステップ９１と同様の処理が行われ、その後、ステップ２０４へ移る。
ステップ２０３では、対象製品の検査方法を入力しない場合は、ステップ９２へ移る判断をし、入力する場合は、ステップ９４へ移る判断をする。ステップ９４では、対象製品検査方法入力部３４を用いて、データを収集する検査方法を選定入力、または、任意の検査方法を複数入力する。そして、ステップ９２へ進む。
ステップ９２では、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６を用いて、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ９３へ進む。ステップ９３において、対象製品検出可能データ作成部３３は、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶された設計条件に対応した各検査方法検出可能データ、予め指定された検査方法、または、対象製品検査方法入力部３４によって入力された検査方法のデータ、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データ、工程設計データの抽出、対応付け、変更を実施し、対象製品検出可能データを対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶させる。このとき、対象製品検出可能データ入出力部３２を用いて、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０４へ進む。
【００２５】
ステップ２０４では、対象製品不良発生データを設計条件だけから作成する場合は、ステップ１０２へ移る判断をし、過去の不良発生状況から推定する場合は、ステップ１０４へ移る判断をする。ステップ１０２では、設計条件に対応した不良発生データ入出力部４５を用いて、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ１０３へ移る。ステップ１０３において、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データ、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶された設計条件に対応した不良発生データ、の対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後はステップ２０５へ進む。
ステップ１０４においては、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された組付け箇所ごと製品設計データ、不良予測システム１００から予測された不良現象の抽出、対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２０５へ進む。
ステップ２０５では、検査不必要箇所を削除しない場合は、図７のステップ２０６へ進む判断をし、削除する場合で、検査を実施しない不良を登録し、削除する場合は、ステップ１１１へ進む判断をし、目標品質に応じて削除する場合は、ステップ１１３へ進む判断をする。
【００２６】
ステップ１１１では、検査実施基準入出力部４８を用いて、検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータ（製品ごと検査実施基準、設計条件に対応した検査実施基準）を入力、編集する。そして、ステップ１１２へ進む。ステップ１１２において、検査不必要箇所削除部４６は、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データ、検査実施基準記憶部４７に記憶された製品ごと検査実施基準、検査実施基準記憶部４７に記憶された設計条件に対応した検査実施基準の対応付け、削除を実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０６へ進む。
一方、ステップ１１３では、検査実施基準入出力部４８を用いて、検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータ（目標不良率）を入力、編集する。そして、ステップ１１４へ進んで、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データを不良率の小さい順に削除していき（組付け点数が少ないものは、信頼性が低い為、除いたりする）、削除したデータの不良率の合計が、検査実施基準記憶部４７に記憶された不良率検査実施基準の目標不良率に達するまで、実施する。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後はステップ２０６へ進む。
【００２７】
図７においてステップ２０６では、不良現象に対する検査ランクを対象製品検査特徴データとする場合、ステップ１２２へ進む判断をし、その他は、１２１へ進む判断をする。ステップ１２２では、検査方法特徴データ入出力部５２を用いて、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法設計条件ごと検査方法特徴データを入力、編集、出力する。そして、ステップ２０７へ進む。一方、ステップ１２１では、検査方法特徴データ入出力部５２を用いて、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データを入力、編集、出力する。そして、ステップ２０７へ進む。
ステップ２０７では、対象製品不良発生データを作成しなかった場合は、ステップ１３１へ進む判断をし、作成した場合は、ステップ１３２へ進む判断をする。ステップ１３１において、対象製品検査内容設定部６１は、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データの抽出、対応付けを実施する。その後、ステップ２０８へ進む。一方、ステップ１３２では、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データ、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データ、の抽出、対応付けを実施する。この後、ステップ２０８へ進む。
ステップ２０８では、不良現象に対する検査ランクを対象製品検査特徴データとした場合、ステップ１４２へ進む判断をし、その他は、１４１へ進む判断をする。ステップ１４１では、ステップ１３１または１３２で抽出、対応付けしたデータ、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データの対応付けを実施し、検出可否が「可」で、検査方法特徴から判断し（例えば、負荷が小さいものを選択し）、対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。このとき、対象製品検査内容入出力部６３を用いて、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２０９へ進む。
【００２８】
ステップ１４２では、ステップ１３１や、１３２で抽出、対応付けしたデータ、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データ、の対応付けを実施し、検出可否が「可」で、検査ランクが一番高いものを選択し、対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。このとき、対象製品検査内容入出力部６３を用いて、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０９へ進む。
ステップ２０９では、対象製品製造品質データを用いて、対象製品検査内容を変更する場合は、ステップ７０１へ進む判断をし、その他は、２１１へ進む判断をする。ステップ７０１では、ステップ７０と同様の処理が行われ、その後、ステップ８１１へ移る。ステップ８１１では、ステップ８１と同様の処理が行われ、その後、ステップ８２へ進む。ステップ８２において、対象製品設計データ収集部２５は、製品品質データベース１２から、ステップ７０によって入力された製品識別、ライン識別の、不良データ、生産データを収集し、そのデータの対応付け、計算を実施し、接続箇所ごと製造品質データを、対象製品設計データ記憶部２６に記憶させる。このとき、対象製品品質データ入出力部２７を用いて、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ９５へ進む。
ステップ９５では、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された組付け箇所ごと製品設計データ、対象製品品質データ記憶部２６から実際に発生した不良現象を抽出したデータ、の対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２１０へ進む。
【００２９】
ステップ２１０では、検査実績から、発生しない不良の検査を除外する場合は、ステップ１５１へ進む判断をし、検査実績から、減少傾向にある不良の検査を除外する場合は、ステップ１５２へ進む判断をし、後工程の検査実績から、発生しない不良の検査を追加する場合は、ステップ１５３へ進む判断をし、後工程の検査実績から、増加傾向にある不良の検査を追加する場合は、ステップ１５４へ進む判断をする。
ステップ１５１では、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの比較を実施し、対象製品不良発生データにないものは、削除する。ステップ１５２では、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの比較を実施し、対象製品不良発生データにあるものは、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを判断の基準として（参照して）、追加する。ステップ１５３では、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているその最終製品検査（あるいは後工程の検査）の対象製品品質データの傾向が傾向的減少であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータを比較し、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する。ステップ１５４では、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているその最終製品検査（あるいは後工程の検査）の対象製品品質データの傾向が傾向的増加であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータを比較し、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として（参照して）、追加する。ステップ１５１、１５２、１５３、１５４の後はステップ２０９へ戻る（図中のＢの個所）。
ステップ２１１では、対象製品の検出可能データ、対象製品の不良発生データ、対象製品の検査方法特徴データを修正するか、しないかを判断し、修正する場合は、スタートへ戻り、修正しない場合は、ステップ２１２へ進む。ステップ２１２では、対象製品を製品、ジグ設計システムに出力する場合は、ステップ１６０へ進む判断をし、その他は、エンドへ進んでフロー処理を終了する。ステップ１６０において、検査方法特徴データ入出力部６３は、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを製品設計システム２００、検査ジグ設計システム３００に出力する。そして、エンドへ進んでフロー処理を終了する。
【００３０】
したがって、上述した製品検査内容設定方法では、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
また、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
また、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
また、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
また、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
また、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
【００３１】
製品検査内容変更方法では、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
また、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
また、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
製品検査内容設定システムでは、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
また、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
また、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
【００３２】
また、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
また、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
また、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
製品検査内容変更システムでは、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
【００３３】
また、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
また、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
加えて、製品検査内容設定方法では、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
加えて、製品検査内容設定システムでは、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
【００３４】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１によれば、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
請求項２によれば、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
請求項３によれば、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
請求項４によれば、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項５によれば、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
請求項６によれば、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
請求項７によれば、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
【００３５】
請求項８によれば、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項９によれば、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項１０によれば、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
請求項１１によれば、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
請求項１２によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項１３によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項１４によれば、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
請求項１５によれば、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
【００３６】
請求項１６によれば、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
請求項１７によれば、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
請求項１８によれば、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項１９によれば、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
請求項２０によれば、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
請求項２１によれば、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
請求項２２によれば、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項２３によれば、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項２４によれば、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
【００３７】
請求項２５によれば、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
請求項２６によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項２７によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項２８によれば、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
請求項２９によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項３０によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項３１によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項３２によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）の構成を示す図である。
【図２】対象製品検出可能データの例を示す図である。
【図３】対象製品不良発生データの例を示す図である。
【図４】検査方法特徴データの例を示す図である。
【図５】対象製品検査内容の例を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム又は製品検査内容変更システムにおける処理フロー（本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法又は製品検査内容変更方法）を示すフローチャートである。
【図７】図６に続く製品検査内容設定システム又は製品検査内容変更システムにおける処理フロー（本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法又は製品検査内容変更方法）を示すフローチャートである。
【図８】一般的な製品の検査フローを示す図である。
【符号の説明】
１０ データベース部、１１ 製品設計データベース、１２ 製造品質データベース、２０ データ収集部、２１ 対象製品識別ライン識別入力部、２２ 対象製品設計データ収集部、２３ 対象製品設計データ記憶部、２４ 対象製品設計データ入出力部、２５ 対象製品品質データ収集部、２６ 対象製品品質データ記憶部、２７ 対象製品品質データ入出力部、３０ 検出可能データ作成部、３１ 対象製品検出可能データ記憶部、３２ 対象製品検出可能データ入出力部、３３ 対象製品検出可能データ作成部、３４ 対象製品検査方法入力部、３５各検査方法検出可能データ記憶部、３６ 各検査方法検出可能データ入出力部、４０ 不良発生データ作成部、４１ 不良発生データ記憶部、４２ 対象製品不良発生データ入出力部、４３ 対象製品不良発生データ作成部、４４ 不良発生データ記憶部、４５ 各検査方法検出可能データ入出力部、４６ 検査不必要箇所削除部、４７ 検査実施基準記憶部、４８ 検査実施基準入出力部、５０ 検査方法特徴データ作成部、５１ 検査方法特徴データ記憶部、５２ 検査方法特徴データ入出力部、６０ 検査内容設定部、６１ 対象製品検査内容設定部、６２ 対象製品検査内容記憶部、６３ 対象製検査内容入出力部、１００ 不良予測システム、２００ 製品設計システム、３００ 検査ジグ設計システム[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a product inspection content setting method, a product inspection content changing method, a product inspection content setting system, and a product inspection content changing system capable of efficiently performing product inspection.
[0002]
[Prior art]
Generally, the inspection of a product includes a plurality of in-process inspections and a final inspection as shown in FIG. In each of the inspection processes, an inspection device having the same function may be used repeatedly, or an inspection device having a different function and performance may be used. Further, not only a plurality of inspection apparatuses having the same function but also inspection apparatuses having different functions may be used in one inspection process. Defects not found in the in-process inspection will be found in the post-process inspection and final inspection.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, defects found after the post-process are not intended to be found and may be of unknown cause. For example, on a printed circuit board, which part is not soldered (open) In most cases, the true cause of the failure cannot be directly determined, such as where the circuit is short-circuited. If the cause of the failure is to be clarified, it takes time and the production cost increases. In addition, if a defect is found in an earlier process, it leads to a reduction in the overall man-hour, and it is important to perform an inspection without leakage in an appropriate process. In addition, it is natural that performing redundant inspections is also a wasteful operation, which leads to a decrease in production efficiency and equipment consumption, which is not preferable. Therefore, the present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and a product inspection content setting method and a product inspection content changing method capable of eliminating duplicate inspection for the same defect, realizing cost reduction and shortening inspection time. And a product inspection content setting system and a product inspection content changing system.
[0004]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problem, in the invention according to claim 1, information on a part constituting a product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and a defect phenomenon detectable by the inspection method are described. From the target product detectable data compared, the inspection method characteristic data representing the characteristics of the inspection method for each inspection method is used as a criterion for determining the inspection method for inspecting the part. Features.
According to the second aspect of the present invention, target product defect occurrence data in which information on parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts are compared, and the parts, the parts of the parts, and the parts. From the target product detectable data in which information on the inspection method for inspecting the inspection method and the defect phenomenon detectable by the inspection method are compared, an inspection method capable of detecting the defect phenomenon occurring at the site is extracted, and the inspection method The main feature is a product inspection content setting method for setting an inspection method for inspecting the above-described region, using inspection method characteristic data representing characteristics for each inspection method as a criterion for determination.
According to the third aspect of the present invention, target product design data including information in which information relating to parts constituting a product, parts of the parts, and an assembling method of the parts are compared, and the part, the parts, and the parts. The combination of information on the assembling method is a design condition, and failure occurrence data corresponding to the design condition expressed by a failure phenomenon generated from the design condition is associated with the part, the part of the part, and the part. The main feature is a product inspection content setting method that sets target product defect occurrence data by comparing information on a defect phenomenon that occurs.
The main feature of the invention according to claim 4 is a product inspection content setting method for estimating defect occurrence data corresponding to the design condition from past defect occurrence conditions and making the defect occurrence data correspond to the design condition.
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a product inspection content setting method for excluding unnecessary inspections from the target product defect occurrence data by using inspection execution reference data represented by a failure phenomenon in which an inspection is not performed as a criterion. Characteristics.
[0005]
In the invention according to claim 6, a product inspection content setting method for excluding unnecessary inspections from the target product defect occurrence data using inspection execution reference data represented by target quality of the target product as a criterion is mainly used. Features.
In the invention according to claim 7, at the stage of designing a part for inspection of a product or an inspection jig, an inspection content is set, and the product required for the inspection content or a product for designing an inspection part of the inspection jig is designed. The main feature is the inspection content setting method.
In the invention according to claim 8, a target product defect occurrence data obtained by comparing information relating to parts constituting a product, parts of the parts, and defect phenomena occurring in the parts is obtained based on product inspection contents. The main feature is a method of changing product inspection contents that is collected from inspection results and excludes inspections for defects that do not occur.
According to the ninth aspect of the present invention, target product defect occurrence data obtained by comparing information relating to parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts is based on the product inspection contents. The main feature is a method of changing the product inspection content that excludes the inspection of the defect if it is collected from the inspection results and the failure occurrence is analyzed by the analysis of the defect occurrence status.
According to the tenth aspect of the present invention, target product defect occurrence data obtained by comparing information relating to parts constituting a product, parts of the parts, and defect phenomena occurring in the parts are compared based on product inspection contents. Collected from the final product inspection results or post-process inspection results, when a defect that cannot be detected in the product inspection content occurs, the inspection method and the inspection method for inspecting the parts constituting the product, the parts of the parts and the parts From the target product detectable data, which compares information on detectable failure phenomena, the inspection methods that can detect the failure are extracted, and the inspection method characteristic data that expresses the characteristics of the inspection methods for each inspection method is used as the basis for judgment. The main feature is a method of changing the product inspection content for setting an inspection method for inspecting the defect.
According to the eleventh aspect of the present invention, target product defect occurrence data obtained by comparing information relating to parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts is performed based on product inspection contents. Collected from the final product inspection results or post-process inspection results, when there is a tendency to increase in defects that cannot be detected in the product inspection content, an inspection method for inspecting parts constituting the product, parts of the parts, and the parts Inspection method capable of detecting the defect is extracted from the target product detectable data in which information on the defect phenomenon detectable by the inspection method is compared with the inspection method, and inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method The main feature of this method is a method for changing the product inspection content, which sets an inspection method for inspecting the defect.
[0006]
According to the twelfth aspect of the present invention, the inspection rank of each inspection method for a component, a part of the component, and a defect phenomenon that occurs in the method of assembling the component is used as inspection method characteristic data, and the defect phenomenon that occurs is inspected. The main feature is a product inspection content change method in which an inspection method with a higher rank is preferentially set.
According to the thirteenth aspect of the present invention, there is provided information that compares information relating to a part that constitutes a product, a part of the part, a method of assembling the part, and a connection location of the part, and an assembly performed by the product. A target product design data including information comparing information on the order of a method and an inspection method, and a combination of information on a relationship between a part, a part of the part, an assembling method of the part, and a connection part of the part is determined by design conditions. And an inspection method for associating each inspection method detectable data corresponding to a design condition expressed by a defect phenomenon detectable from the design condition with a component constituting a product, a site of the component, and the site. The main feature of the method is a method of changing the product inspection content which is target product detectable data in which information on a defect phenomenon detectable by the inspection method is compared.
The invention according to claim 14 is characterized mainly by a product inspection content changing method capable of selecting an inspection method for inspecting the target product when creating the target product detectable data.
In the invention according to claim 15, target product detectable data in which information on parts constituting a product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and a defect phenomenon detectable by the inspection method are compared is input. Data generating unit having a target product detectable data input / output unit to be inspected and inspection method characteristic data input / output unit inputting inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method Target product inspection content for setting an inspection method for inspecting the part based on the inspection method characteristic data of the inspection method characteristic data generation unit from the target product detectable data of the detectable data generation unit A main feature is a product inspection content setting system including an inspection content setting unit having a setting unit.
[0007]
In the invention according to claim 16, a target product defect occurrence data input / output unit for inputting target product defect occurrence data in which information on parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts is compared. A defect occurrence data creation unit having the inspection content setting unit, based on the target product failure occurrence data of the failure occurrence data creation unit and the target product detectable data of the detectable data creation unit, the inspection method characteristic data The main feature of the present invention is a product inspection content setting system having a target product inspection content setting unit that sets an inspection method for inspecting the above-described region, using the inspection method characteristic data of the creating unit as a criterion for determination.
In the invention according to claim 17, a database section for storing design data of a product, and information in which information on parts constituting the product, parts of the parts, and a method of assembling the parts are compared based on the data of the database section. A data collection unit that collects target product design data including: the defect occurrence data creation unit, the target product design data of the data collection unit, a part, a part of the part, and a method of assembling the part. A combination of information on the design conditions is defined as a design condition, and defect occurrence data corresponding to the design condition expressed by a defect phenomenon generated from the design condition is associated with the component constituting the product, the part of the component, and the defect generated in the part. Mainly a product inspection content setting system that has a target product defect occurrence data creation unit that makes target product defect occurrence data that compares information with phenomena And it features.
In the invention according to claim 18, a target product defect occurrence data input / output unit for inputting target product defect occurrence data in which information relating to parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts is compared. Target product design data including information comparing a part constituting a product, a part of the part, and information on an assembling method of the part, the target part design data, and the part, the part, and the part A combination of information on the assembling method and the design condition, associating failure occurrence data corresponding to the design condition expressed by a failure phenomenon generated from the design condition with the target product failure occurrence data and the component Target product detectable data in which information on a part of the component, an inspection method for inspecting the part, and a defect phenomenon detectable by the inspection method are compared. Then, an inspection method for extracting a defect phenomenon occurring in the part is extracted, and an inspection method for inspecting the part is set based on inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method. The failure occurrence data creation unit creates a failure occurrence data corresponding to the design condition from a failure prediction system that estimates failure occurrence data corresponding to the design condition from a past failure occurrence state. The main feature of the system is a product inspection content setting system having a section.
[0008]
In the invention according to claim 19, the failure occurrence data creating unit excludes unnecessary inspections from the target product failure occurrence data using inspection execution reference data represented by a failure phenomenon in which inspection is not performed as a determination criterion. The main feature of this system is a product inspection content setting system having an inspection unnecessary part deletion unit.
In the invention according to claim 20, the defect occurrence data creation unit uses the inspection execution reference data represented by the target quality of the target product as a determination criterion from the target product defect occurrence data to exclude unnecessary inspections. The main feature of the system is a product inspection content setting system having an unnecessary part deletion unit.
According to the twenty-first aspect of the present invention, target product detectable data in which information on parts constituting a product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and a defect phenomenon detectable by the inspection method are compared is input. Data generating unit having a target product detectable data input / output unit to be inspected and inspection method characteristic data input / output unit inputting inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method Target product inspection content for setting an inspection method for inspecting the part based on the inspection method characteristic data of the inspection method characteristic data generation unit from the target product detectable data of the detectable data generation unit An inspection content setting unit having a setting unit, wherein the inspection content setting unit sets an inspection content at a stage of designing a part for inspection of a product or an inspection jig. And products examination content setting unit that, product design system the examination content is mainly characterized the product examination content setting system having products examination content output unit for outputting the inspection jig design system.
[0009]
In the invention according to claim 22, a database unit that stores product quality data, and a data collection unit that collects target product quality data including inspection results of product inspection based on product inspection contents from the data of the database unit. A defect occurrence data creating unit having a target product failure occurrence data creating unit that performs a product inspection based on the product inspection content and creates target product failure occurrence data from the target product quality data of the data collection unit; A main feature of the present invention is a product inspection content change system including an inspection content setting unit having a target product inspection content setting unit for excluding inspection of a defect not included in generated data.
In the invention according to claim 23, a database unit that stores product quality data, and a data collection unit that collects target product quality data including inspection results of product inspection based on product inspection contents from data of the database unit. A defect occurrence data creation unit having a target product failure occurrence data creation unit that performs a product inspection based on the product inspection content and creates target product failure occurrence data from the target product quality data of the data collection unit; If the failure occurrence is analyzed by analyzing the failure occurrence status of the failure occurrence data, if the failure inspection is included in the product inspection content, the inspection content having a target product inspection content setting section that excludes the inspection of the failure The main feature is a product inspection content change system including a setting unit.
In the invention according to claim 24, a database unit for storing product quality data, and target product quality data based on the final product inspection results or post-process inspection results based on the product inspection contents from the data of the database unit. A defect generation data generator having a data collection unit to be collected and a target product defect occurrence data generation unit for performing a product inspection based on the product inspection content and generating target product defect occurrence data from the target product quality data of the data collection unit. And an inspection method characteristic data creating unit having an inspection method characteristic data input / output unit for inputting inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method, and a defect inspection in the target product defect occurrence data. If it is not in the content of the product inspection, the inspection of the defective product is added using the inspection method characteristic data as a criterion for judgment. And the examination content setting unit having containers setting unit, the product inspection content changing system equipped with a main feature.
[0010]
According to the twenty-fifth aspect of the present invention, a database unit that stores product quality data, and target product quality data consisting of the final product inspection results or post-process inspection results based on the product inspection contents are collected from the database unit data. A data collection unit for performing a product inspection based on the content of the product inspection and a target product failure occurrence data creation unit for creating target product failure occurrence data from the target product quality data of the data collection unit; And an inspection method characteristic data creating unit having an inspection method characteristic data input / output unit for inputting inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method, and analyzing the defect occurrence status of the target product defect occurrence data. If there is a tendency for defects to increase, if the inspection for the defect is not included in the product inspection content, the inspection for the defect is performed according to the inspection method. As a measure of the characteristic data determination and the examination content setting unit with products examination content setting unit for adding the product inspection content changing system equipped with a primary features.
In the invention according to claim 26, the inspection method characteristic data creation unit has an inspection method characteristic data input / output unit that inputs an inspection rank for a failure phenomenon in each inspection method as inspection method characteristic data, and the inspection content setting unit is The main feature of the system is a product inspection content change system having a target product inspection content setting unit that preferentially sets an inspection method with a high inspection rank for a failure phenomenon that occurs.
In the invention according to claim 27, information in which information relating to a database unit for storing design data of a product, and information relating to a part constituting the product, a part of the component, and a method of assembling the component based on the data of the database unit are compared. A data collection unit that collects target product design data including the target product design data of the data collection unit, a part, a part of the part, and a method of assembling the part. The combination of the information on the parts assembling location is used as the design condition, and each test method detectable data corresponding to the design condition represented by the defect phenomenon detectable from the design condition is associated with the component constituting the product. Target product detectable data in which information on a part of the component and an inspection method for inspecting the part is compared with information on a defect phenomenon detectable by the inspection method. The goods inspection contents change system for the main feature.
The main feature of the invention according to claim 28 is that the detectable data creation unit has a product inspection content change system having a target product inspection method input unit capable of selecting an inspection method for inspecting a target product.
[0011]
In the invention according to claim 29, the inspection rank of each inspection method with respect to a part, a part of the part, and a defect phenomenon that occurs in the method of assembling the part is used as inspection method characteristic data, and inspection is performed on the defect phenomenon that occurs. The main feature is a product inspection content setting method that preferentially sets inspection methods with higher ranks.
According to the thirty-first aspect of the present invention, there is provided information that compares information relating to a part constituting a product, a part of the part, a method of assembling the part, and a connection location of the part, and an assembling performed by the product. A target product design data including information comparing information on the order of a method and an inspection method, and a combination of information on a relationship between a part, a part of the part, an assembling method of the part, and a connection part of the part is determined by design conditions. And an inspection method for associating each inspection method detectable data corresponding to a design condition expressed by a defect phenomenon detectable from the design condition with a component constituting a product, a site of the component, and the site. The main feature of the method is a product inspection content setting method in which target product detectable data is compared with information on a defect phenomenon detectable by the inspection method.
In the invention according to claim 31, the inspection method characteristic data creation unit has an inspection method characteristic data input / output unit that inputs an inspection rank for a failure phenomenon in each inspection method as inspection method characteristic data, and the inspection content setting unit is The main feature of the present invention is a product inspection content setting system having a target product inspection content setting unit that preferentially sets an inspection method having a high inspection rank with respect to a defective phenomenon that occurs.
In the invention according to claim 32, information in which information relating to a database unit for storing design data of a product, information relating to a part constituting the product, a part of the component, and an assembling method of the component is compared from the data of the database unit. A data collection unit that collects target product design data including the target product design data of the data collection unit, a part, a part of the part, and a method of assembling the part. The combination of the information on the parts assembling location is used as the design condition, and each test method detectable data corresponding to the design condition represented by the defect phenomenon detectable from the design condition is associated with the component constituting the product. Target product detectable data in which information on a part of the component and an inspection method for inspecting the part is compared with information on a defect phenomenon detectable by the inspection method. The goods inspection contents setting system is a major feature.
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of a product inspection content setting system (product inspection content changing system) according to an embodiment of the present invention. The main parts of the product inspection content setting system are a database unit 10 that stores product design data, a data collection unit 20 that collects data of a target product from the data of the database unit 10, and a data collection unit 20 that collects data of the target product from the data of the data collection unit 20. From the data of the detectable data creating unit 30 for creating detectable data, the failure prediction system 100 for predicting the failure of the target product, the failure prediction system 100, the data collection unit 20, etc., the failure occurrence data of the target product is created. A failure occurrence data creation unit 40, an inspection method feature data creation unit 50 for creating inspection method feature data, and a failure phenomenon generated from the data of the failure occurrence data creation unit 40 and the data of the detectable data creation unit 30 The inspection method capable of detecting the failure phenomenon is extracted, and the data of the inspection method characteristic data creating unit 50 is used as a determination criterion. It consists examination content setting unit 60 for setting the examination content Te.
The database unit 10 includes product design data for each product assembly location, process design data for each process (assembly and inspection) of the product, assembly component design data for each component identification of the product, and connection of the product. It is composed of a product design database 11 in which connection point design data for each point and connection point related data of the product are stored, and a manufacturing quality database 12 in which product defect data and production data are stored.
The product design database 11 includes product design data for each assembly location represented by product identification, line identification, assembly location identification, assembly component identification, assembly method, assembly location characteristics, and presence or absence of the product identification, product identification, and line. Process design data represented by identification, process identification (assembly method, inspection method), sequence, assembly component identification, assembly component design data represented by assembly component characteristics, product identification, assembly location identification In addition, connection point design data represented by connection point identification, connection point characteristics, and connection point related identification, and connection point related data represented by product identification, connection point related identification, and connection point related characteristics are stored.
Here, the assembling point characteristics represent a combination of characteristics and the like of each assembling point of a part to be assembled or an assembling jig. The assembled component characteristics represent combinations of characteristics and the like for each assembled component. The connection point characteristics represent a combination of characteristics and the like for each connection point. Here, the characteristic means a combination of a structural characteristic, a material characteristic, a characteristic, and the like. The structural characteristics represent a combination of conditions such as shape, size, angle, weight, and arrangement. The material characteristics represent a combination of conditions such as a material and a surface treatment. The feature represents a combination of conditions such as a type, a packing style, and the presence or absence of a design for inspection.
[0013]
The manufacturing quality database 12 includes defect data represented by a production time, a product identification, a line identification, an inspection method, an assembly location identification, a connection location identification, a defect phenomenon, and the number of defects, and a production time, a product identification, a line identification, and an inspection method. , And production data represented by the number of productions.
The data collection unit 20 includes a target product identification line identification input unit 21 for inputting product identification and line identification of the target product, a target product design data collection unit 22 for collecting design data of the target product, and a target for storing the design data. A product design data storage unit 23, a target product design data input / output unit 24 for inputting / outputting the design data, a target product quality data collection unit 25 for collecting quality data of the target product, and a target product for storing the quality data It comprises a quality data storage section 26 and a target product quality data input / output section 27 for inputting and outputting the quality data.
The target product identification line identification input unit 21 is stored in the product design database 11 as the product identification and the line identification of the target product for which data is collected by the target product design data collection unit 22 and the target product quality data collection unit 25. Select and enter the product identification and line identification. In this case, any product identification and line identification can be input. Here, the input may be either a range input that divides a certain range or an ambiguous input that does not divide.
[0014]
The target product design data collection unit 22 is a product identification data input from the product design database 11 by the target product identification line identification input unit 21, product design data for each assembly point of line identification, process design data, connection location design data, connection The part-related data and the assembled part design data of the assembled part identification in the product design data for each of the assembled parts are collected. The assembling part design data is compared with the assembling part design data for each assembling part, and the assembling part design data is associated with the assembling part for the product design data. The assembling location identification between the association data A and the connection location design data is compared, the association location design data is associated with the association data A, and the association data B is set. The assembling location identification and the connection location identification of the correspondence data B and the connection location related data are compared, the connection location related data is associated with the correspondence data B, and the connection location is used as product design data. The product design data and the process design data are stored in the target product design data storage unit 23 for each connection point.
The association data A is represented by product identification, line identification, assembling location identification, assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, and assembling component characteristics. The association data B is represented by product identification, line identification, assembling location identification, assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, assembling component characteristics, connection location identification, connection location characteristics, and connection location related identification. You.
The target product design data storage unit 23 stores product identification, line identification, assembling location identification, assembling method, assembling location characteristics, assembling status, assembling component characteristics, connecting location identification, connection location characteristics, connection-related identification, and connection. The product design data for each connection location represented by the location-related characteristics, and the process design data represented by product identification, line identification, process identification (assembly method, inspection method), and order are stored.
The target product design data input / output unit 24 inputs, edits, and outputs data stored in the target product design data storage unit 23. Defect data represented by production time, product identification, line identification, inspection method, assembly location identification, connection location identification, failure phenomenon, number of failures, and production time, product identification, line identification, inspection method, production quantity And production data to be stored.
The target product design data collection unit 25 collects, from the product quality database 12, the product identification, line identification defect data, and production data input by the target product identification line identification input unit 21. The production time, product identification, line identification, and inspection method of the defective data and the production data are compared, and the defective data is associated with the production data, which is referred to as association data C. From the association data C, the defect rate (number of defects / the number of products produced) and the tendency of the defect are calculated, and the defect data is associated with the association data C, and the connection quality is set as manufacturing quality data. The manufacturing quality data for each connection point is stored in the target product design data storage unit 26. The association data C is represented by a production time, a product identification, a line identification, an inspection method, an assembly location identification, a connection location identification, a defect phenomenon, the number of defects, and the number of products produced.
The target product quality data storage unit 26 is an assembly represented by a production time, a product identification, a line identification, an inspection method, an assembly location identification, a connection location identification, a failure phenomenon, the number of failures, the number of productions, a failure rate, and a tendency of failure. Manufacturing quality data is stored for each location identification. The target product quality data input / output unit 27 inputs, edits, and outputs data stored in the target product quality data storage unit 26.
[0015]
The detectable data creation unit 30 includes a target product detectable data storage unit 31 that stores detectable data of the target product, a target product detectable data input / output unit 32 that inputs and outputs the detectable data, and a design of each inspection method. Each inspection method detectable data storage unit 35 corresponding to a design condition for storing detectable data corresponding to a condition, and each inspection method detectable data input / output unit 36 corresponding to a design condition for inputting / outputting the detectable data. Target product inspection method input section 34 for inputting the target product inspection method, target product design data, detectable data corresponding to the design conditions of each inspection method, target product inspection method, Is formed from a target product detectable data creating unit 33 for creating a target product.
The inspection method detectable data storage unit 35 corresponding to the design conditions stores the inspection method, the assembling method, the assembling location characteristics, whether or not to assemble, the assembling component characteristics, the connection location characteristics, the connection location related characteristics, the failure phenomenon, and the detection possibility Each test method detectable data corresponding to the design condition represented by is stored. Each test method detectable data input / output unit 36 corresponding to the design conditions inputs, edits, and outputs data stored in each test method detectable data storage unit 35 corresponding to the design conditions.
The target product inspection method input unit 34 selects and inputs an inspection method for collecting data in the target product detectable data creating unit 33. In this case, a plurality of arbitrary inspection methods can be input. Here, the input may be either a range input that divides a certain range or an ambiguous input that does not divide.
The target product detectable data creation unit 33 extracts the inspection method specified in advance from the inspection method detectable data corresponding to the design condition stored in the inspection method detectable data storage unit 35 corresponding to the design condition, The data of the inspection method input by the product inspection method input unit 34 is extracted and set as extracted data A.
[0016]
Comparison of the assembling method of the product design data and the extracted data A for each connection point stored in the target product design data storage unit 23, assembling point characteristics, whether or not to assemble, assembling component characteristics, connecting point characteristics, and connecting point related characteristics. Then, the product design data is associated with the extracted data A for each connection point, and is referred to as association data D. The assembling method of the association data D and the process design data stored in the target product design data storage unit 23 is compared, and the association data D is associated with the process design data, which is referred to as association data E. Here, the order of the process design data is the order of the assembling method.
The associating data E is compared with the inspection method of the process design data stored in the target product design data storage unit 23, and the process design data is associated with the associating data E to be the associating data F. Here, the order of the process design data is the inspection method order. The assembling method order and the inspection method order of the associating data F are compared, and if the assembling method order is later than the inspection method order, whether or not detection is possible is determined as undetectable, and the target product is detectable data. The target product detectable data is stored in the target product detectable data storage unit 31. The correspondence data D includes product identification, line identification, assembling location identification, assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, assembling component characteristics, connection location identification, connection location characteristics, connection related identification, connection location related It is represented by characteristics, failure phenomena, inspection methods, and detectability.
The correspondence data E includes product identification, line identification, assembling location identification, assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, assembling component characteristics, connection location identification, connection location characteristics, connection related identification, and connection location related. It is expressed in the order of characteristics, failure phenomena, inspection method, detection possibility, and assembly method.
The association data F includes product identification, line identification, assembling location identification, assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, assembling component characteristics, connection location identification, connection location characteristics, connection related identification, connection location related It is represented by characteristics, failure phenomena, inspection methods, detectability, assembling method order, and inspection method order.
[0017]
The target product detectable data storage unit 31 stores product identification, line identification, assembling location identification, assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, assembling component characteristics, connecting location identification, connecting location characteristics, connection related identification, Target product detectable data represented by connection-related characteristics, failure phenomena, inspection methods, and detectability is stored. The target product detectable data input / output unit 32 inputs, edits, and outputs data stored in the target product detectable data storage unit 31. FIG. 2 shows an example of target product detectable data in which information on parts constituting a product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and a defect phenomenon detectable by the inspection method are compared. . In FIG. 2, a circle indicates that the inspection can be performed, and a cross indicates that the inspection cannot be performed.
The failure occurrence data creation unit 40 has a target product failure occurrence data storage unit 41 for storing failure occurrence data of the target product, a target product failure occurrence data input / output unit 42 for inputting / outputting the failure occurrence data, and a design condition. A failure occurrence data storage unit corresponding to the design condition for storing the failure occurrence data, an inspection method detectable data input / output unit corresponding to the design condition for inputting / outputting the failure occurrence data, and an inspection execution standard are stored. From the inspection standard storage unit 47, the inspection standard input / output unit for inputting / outputting the inspection standard, and the defect generation data corresponding to the design data and the design conditions of the target product, defect occurrence data of the target product is created. Or, from the design data of the target product, extract failure phenomena that are predicted to occur based on the design conditions, and From the target product defect occurrence data creating unit 43 which sets the occurrence data as the defect data or extracts the defect phenomenon actually occurred, and uses the extracted data as the defect occurrence data of the target product, from the defect occurrence data of the target product, The inspection execution reference data is used as a criterion for determination, and the inspection unnecessary portion deletion unit 46 for deleting a portion that does not need to be inspected. FIG. 3 shows an example of target product failure occurrence data in which information on parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts is compared. The unit ppm in FIG. 3 is a unit of part par million, and 1 ppm means 1 / 100,000.
[0018]
The failure occurrence data storage unit 44 corresponding to the design condition is a design represented by an assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, assembling component characteristics, connection location characteristics, failure phenomenon, number of failures, number of connection points, and failure rate. The failure occurrence data corresponding to the condition is stored (the number of failures, the number of connection points, and the failure rate may be blank).
Each inspection method detectable data input / output unit 45 corresponding to the design condition inputs, edits, and outputs data stored in the failure occurrence data storage unit 44 corresponding to the design condition. The inspection execution standard storage unit 47 stores the inspection execution standard for each product expressed as product identification, line identification, assembling location identification, failure phenomenon, and necessity of inspection, assembling method, assembling location characteristics, assembling status, assembling. Inspection criteria corresponding to the design conditions expressed as component characteristics, connection point characteristics, failure phenomena, number of failures, number of connection points, failure rate, inspection unnecessary, failures represented by product identification, line identification, and target failure rate The rate inspection performance standard is stored.
The inspection standard input / output unit 48 inputs, edits, and outputs data stored in the inspection standard storage unit 47. The target product defect occurrence data creating unit 43 generates a defect occurrence corresponding to the design condition stored in the defect occurrence data storage unit 44 corresponding to the product design data and the design condition for each connection point stored in the target product design data storage unit 23. Compare data assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, assembling component characteristics, and connecting location characteristics, associating product design data and failure occurrence data corresponding to design conditions for each connection location, Data. Alternatively, the product design data for each connection point stored in the target product design data storage unit 23 and the failure phenomenon predicted by the failure prediction system 100 are extracted, and the extracted data is associated with the target product failure occurrence data. I do. Alternatively, the product design data for each connection point stored in the target product design data storage unit 23 is associated with data obtained by extracting a defect phenomenon actually occurring from the target product quality data storage unit 26, and the target product defect occurrence data is associated with the data. I do. Then, the target product defect occurrence data is stored in the target product defect occurrence data storage unit 41.
[0019]
The target product defect occurrence data storage unit 41 stores target product detectable data represented by product identification, line identification, assembly location identification, connection location identification, failure phenomena, number of failures, number of connection points, failure rate, and failure tendency. Is done. In this case, the number of failures, the number of connection points, the failure rate, and the tendency of failure may be blank. The target product defect occurrence data input / output unit 42 inputs, edits, and outputs data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41.
The inspection unnecessary part deleting unit 46 is a method of assembling the inspection execution standard corresponding to the target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 and the design condition stored in the inspection execution standard storage unit 47, Comparing assembly location characteristics, assembly presence / absence, assembly component characteristics, connection location characteristics, failure phenomena, number of failures, number of connection points, and failure rate, and corresponding to the defect occurrence data of the target product, the inspection implementation standard corresponding to the design conditions And associated data G.
The association data G is compared with the product identification, the line identification, the assembly location identification, the connection location identification, and the failure phenomenon of the inspection implementation standard for each product stored in the inspection implementation standard storage unit 47, and the association data G is inspected for each product. The execution standard is associated, and is referred to as association data H. From the correspondence data H, data indicating that the necessity of the inspection corresponding to the design condition is “unnecessary” and the necessity of the inspection of the target product is unnecessary and “unnecessary”. Delete data that is unnecessary and unnecessary, and data that is blank and do not need to be inspected in accordance with design conditions and are unnecessary and do not need to inspect the target product.Product identification, line identification, assembly location identification, connection The location identification, the failure phenomenon, the number of failures, the number of connection points, and the failure rate are taken as target product failure occurrence data.
The target product defect occurrence data is stored in the target product defect occurrence data storage unit 41. Further, the target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 is deleted in ascending order of the defect rate, and the deletion is performed (a connection having a small number of connection points is removed because of low reliability). The test is performed until the total of the defect rates of the obtained data reaches the target defect rate of the defect rate inspection implementation standard stored in the inspection implementation standard storage unit 47. Here, the blank represents neither “necessary” nor “unnecessary”.
The associating data G is represented without the need for inspection corresponding to the product identification, line identification, assembly location identification, connection location identification, failure phenomenon, number of failures, number of connection points, failure rate, and design conditions. The associating data H is represented as product identification, line identification, assembling location identification, connection location identification, failure phenomena, number of failures, number of connection points, failure rate, no need for inspection corresponding to the design condition, no need for inspection of the target product. You.
[0020]
The inspection method characteristic data creation unit 50 includes an inspection method characteristic data storage unit 51 that stores characteristics of the inspection method, and an inspection method characteristic data input / output unit 52 that inputs and outputs the characteristics. The inspection method characteristic data storage unit 51 stores inspection method characteristic data for each inspection method represented by an inspection method and an inspection method characteristic, and also includes an inspection method, an assembling method, an assembling location characteristic, whether or not to assemble, an assembling component characteristic, and a connection location Inspection method characteristic data is stored for each inspection method design condition represented by a characteristic, a failure phenomenon, and an inspection rank. The inspection method characteristic data input / output unit 52 inputs, edits, and outputs data stored in the inspection method characteristic data storage unit 51. FIG. 4 shows an example of the inspection method characteristic data in which the characteristics of the inspection method are represented for each inspection method. In FIG. 4, A, B, C, and D indicate ranking.
The inspection content setting unit 60 is a target product inspection content setting unit 61 for setting inspection content from defect occurrence data of the target product, detectable data of the target product, and characteristic data of the inspection method, and a target product inspection for storing the inspection content. It comprises a content storage unit 62 and a target product inspection content input / output unit 63 for inputting and outputting the inspection content.
The target product inspection content setting unit 61 extracts the target product detectable data stored in the target product detectable data storage unit 31 and sets it as extracted data B. Alternatively, product identification, line identification, and assembly location identification of the target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 and the target product detectable data stored in the target product detectable data storage unit 31 Then, the connection point identification and the defect phenomenon are compared, and the target product detectable data in the target product defect occurrence data is extracted as extracted data B.
The extracted data B is compared with the inspection method characteristic data for each inspection method stored in the inspection method characteristic data storage unit 51, and the extracted data B is associated with the inspection method characteristic data for each inspection method. I do. From the associating data I, the one in which the assembling location identification, the connection location identification, and the failure phenomenon are duplicated is extracted, and whether or not detection is possible is determined based on the characteristics of the inspection method. )) And the content of the target product inspection. FIG. 5 shows an example of the target product inspection content.
[0021]
The target product inspection content is stored in the target product inspection content storage unit 62. Alternatively, the inspection method of the inspection method characteristic data, the assembling method, the assembling location characteristics, the presence or absence of assembling, the assembling component characteristics, and the connection for each of the extracted data B and the inspection method design conditions stored in the inspection method characteristic data storage unit 51. The location characteristics and the failure phenomena are compared, and the extracted data B and the inspection method characteristic data are associated with each other for each inspection method design condition, and are referred to as association data J. From the associating data J, the ones where the assembly location identification, the connection location identification, and the failure phenomenon are duplicated are extracted. And
The target product inspection content is stored in the target product inspection content storage unit 62. Further, product identification, line identification, and assembly location identification of the target product inspection content stored in the target product inspection content storage unit 62 and the target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41. , Connection point identification, and failure phenomena are compared. If the failure data is not included in the target product failure occurrence data, the data is deleted. ),to add.
Further, when the tendency of the target product quality data stored in the target product quality data storage unit 26 is a tendency to decrease, the target product inspection contents stored in the target product inspection content storage unit 62 and the data The product identification, the line identification, the assembly location identification, the connection location identification, and the failure phenomenon are compared, and if the inspection of the failure is in the product inspection content, the inspection of the failure is excluded.
Furthermore, when the tendency of the target product quality data stored in the target product quality data storage unit 26 is a tendency to increase, the target product inspection contents stored in the target product inspection content storage unit 62 and the data The product identification, line identification, assembly location identification, connection location identification, and defect phenomena are compared. If the defect inspection is not included in the product inspection content, the defect inspection is performed, and the inspection method feature data is used as a criterion. As (see), add.
The trend decrease refers to a case where a continuous decrease in failure is observed, and a low failure rate is continuously maintained over a certain period of time / below a reference value. The tendency of a failure increase is a case where a failure increase is continuously observed and a high failure rate is continuously maintained over a certain period of time / a reference value is exceeded.
[0022]
The extracted data B includes product identification, line identification, assembling location identification, assembling method, assembling location characteristics, assembling presence / absence, assembling component characteristics, connection location identification, connection location characteristics, connection related identification, connection location related characteristics. , Failure phenomena, inspection methods, and detectability. The association data I is represented by product identification, line identification, assembly location identification, connection location identification, failure phenomena, number of failures, number of connection points, failure rate, inspection method, detectability, and inspection method characteristics. The association data J is represented by product identification, line identification, assembly location identification, connection location identification, failure phenomenon, number of failures, number of connection points, failure rate, inspection method, detectability, and inspection rank.
The target product inspection content storage unit 62 stores target product inspection content represented by product identification, line identification, assembly location identification, connection location identification, failure phenomena, and an inspection method. The inspection method characteristic data input / output unit 63 inputs, edits, and outputs data stored in the target product inspection content storage unit 62. The data is output to the product design system 200 and the inspection jig design system 300.
For example, when the above-described items are exemplified by a printed circuit board (including one on which electric components are mounted), “production time” is production date, production date, etc., and “product identification” is printed circuit board. Number, name of printed circuit board, etc. "Line identification" is line number, line name, etc. "Assembly location identification" is reference number (address), etc. "Component identification" is number, product name, manufacturer of mounted component "Assembling method" is a combination of mounting method, mounting process (equipment, people, etc.), mounting angle, etc. "Assembly location characteristics" are mounting surface, mounting coordinates, mounting angle, pad shape, Combinations of dimensions, resist shapes, dimensions, solder print mask opening shapes, dimensions, etc., "Assembled component characteristics" include outlines of shapes (QFP, SOP, CHIP, etc.), outlines of pin shapes (flat, gull wing, etc.), number of pins Combination of length, width, height, pitch, material, mark, polarity, package outline (embossed tape, tray, stick, etc.), package dimensions, package angle, etc. (Inspection machine, in-circuit tester, function tester, visual inspection, etc.) "Connection identification" is pin number etc. "Connection characteristic" is center coordinate, pad shape, size, resist shape, size, solder printing Combination of mask opening shape, dimensions, etc., "Connection-related identification" is node number, signal line name, etc. "Connection-related characteristics" are inspection pins for in-circuit tester and function tester. Whether or not it is used is used.
[0023]
6 and 7 show a processing flow in the product inspection content setting system (product inspection content changing system) according to the embodiment of the present invention, that is, a product inspection content setting method (product inspection content changing) according to the embodiment of the present invention. Method). Here, it is assumed that the database unit 10 is prepared in advance and contains new data that is maintained as needed. As shown in FIG. 6, when the flow starts, a determination is first made in step 201. If the target product defect occurrence data is not created and the target product detectable data is not created from the design conditions, the process proceeds to step 91, where the target product defect occurrence data is input, and the target product detectable data is created from the design conditions. If not, the process proceeds to step 911. If the target product defect occurrence data is created from the design conditions, or if the target product detectable data is created from the design conditions, the process proceeds to step 70.
In step 91, the data stored in the target product detectable data storage unit 31 is input and edited using the target product detectable data input / output unit 32. Then, the process proceeds to step 205. In step 911, the same processing as in step 91 is performed, and thereafter, the process proceeds to step 101, where the data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 is input using the target product defect occurrence data input / output unit 42, To edit. Then, the process proceeds to step 205.
In step 70, the product identification and line identification stored in the product design database 11 are selected and input, or any product identification and line identification are input using the target product identification line identification input unit 21. Then, the process proceeds to a step 81. In step 81, the target product design data collection unit 22 outputs the product design data, process design data, connection location design data, and connection design data from the product design database 11 for the product identification and the line identification input in step 70. Collect the location-related data and the assembly part design data for the assembly part identification in the product design data for each assembly location, associate the data, and compare the product design data and process design data for each connection location. , In the target product design data storage unit 23. At this time, the data stored in the target product design data storage unit 23 may be input, edited, and output using the target product design data input / output unit 24.
[0024]
After step 81, the process proceeds to step 202. If the target product detectable data is to be input, the process proceeds to step 912. If the target product detectable data is created from design conditions, the process proceeds to step 203. . In step 912, the same processing as in step 91 is performed, and then the process proceeds to step 204.
In step 203, when the inspection method of the target product is not inputted, the judgment is made to proceed to step 92, and when it is inputted, the judgment is made to proceed to step 94. In step 94, using the target product inspection method input unit 34, an inspection method for collecting data is selected and input, or a plurality of arbitrary inspection methods are input. Then, the process proceeds to step 92.
In step 92, the data stored in the test method detectable data storage unit 35 corresponding to the design condition is input and edited using the test method detectable data input / output unit 36 corresponding to the design condition. Then, the process proceeds to step 93. In step 93, the target product detectable data creating unit 33 checks each test method detectable data corresponding to the design condition stored in each test method detectable data storage unit 35 corresponding to the design condition, Alternatively, the data of the inspection method input by the target product inspection method input unit 34, the product design data for each connection point stored in the target product design data storage unit 23, and the process design data are extracted, associated, and changed. Then, the target product detectable data is stored in the target product detectable data storage unit 31. At this time, the data stored in the target product detectable data storage unit 31 may be input, edited, and output using the target product detectable data input / output unit 32. Then, the process proceeds to step 204.
[0025]
In step 204, if the target product defect occurrence data is created only from the design conditions, the process proceeds to step 102, and if the target product defect occurrence data is estimated from the past defect occurrence status, the process proceeds to step 104. In step 102, the data stored in the failure occurrence data storage unit 44 corresponding to the design conditions is input and edited using the failure occurrence data input / output unit 45 corresponding to the design conditions. Then, the process proceeds to step 103. In step 103, the target product defect occurrence data creating unit 43 compares the product design data for each connection point stored in the target product design data storage unit 23 with the design conditions stored in the defect occurrence data storage unit 44 corresponding to the design conditions. Correspondence with the corresponding failure occurrence data is performed, and the target product failure occurrence data is stored in the target product failure occurrence data storage unit 41. At this time, the data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 may be input, edited, and output using the target product defect occurrence data input / output unit 42. Thereafter, the process proceeds to step 205.
In step 104, the target product defect occurrence data creation unit 43 extracts the product design data for each assembly location stored in the target product design data storage unit 23 and extracts and associates the defect phenomenon predicted by the defect prediction system 100. Then, the target product defect occurrence data is stored in the target product defect occurrence data storage unit 41. At this time, the data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 may be input, edited, and output using the target product defect occurrence data input / output unit 42. Thereafter, the process proceeds to step 205.
In step 205, if the unnecessary portion is not deleted, it is determined to proceed to step 206 in FIG. 7. If it is to be deleted, a defect for which inspection is not performed is registered. If it is to be deleted, the process proceeds to step 111. However, when deleting according to the target quality, it is determined to proceed to step 113.
[0026]
In step 111, the data (inspection standard for each product, inspection standard corresponding to the design condition) stored in the inspection standard storage unit 47 is input and edited using the inspection standard input / output unit 48. Then, the process proceeds to step 112. In step 112, the inspection unnecessary part deletion unit 46 checks the target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41, the inspection execution standard for each product stored in the inspection execution reference storage unit 47, The inspection execution reference corresponding to the design condition stored in the reference storage unit 47 is associated and deleted, and the target product defect occurrence data is stored in the target product defect occurrence data storage unit 41. At this time, the data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 may be input, edited, and output using the target product defect occurrence data input / output unit 42. Then, the process proceeds to step 206.
On the other hand, in step 113, the data (target failure rate) stored in the inspection execution reference storage unit 47 is input and edited using the inspection execution reference input / output unit 48. Then, the process proceeds to step 114 to delete the target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 in ascending order of the defect rate. The process is performed until the total of the defect rates of the deleted data reaches the target defect rate of the defect rate inspection standard stored in the inspection standard storage unit 47. At this time, the data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 may be input, edited, and output using the target product defect occurrence data input / output unit 42. Thereafter, the process proceeds to step 206.
[0027]
In FIG. 7, in step 206, when the inspection rank for the failure phenomenon is used as the target product inspection feature data, it is determined to proceed to step 122, and otherwise, it is determined to proceed to 121. In step 122, the inspection method feature data input / output unit 52 is used to input, edit, and output inspection method feature data for each inspection method design condition stored in the inspection method feature data storage unit 51. Then, the process proceeds to step 207. On the other hand, in step 121, using the inspection method characteristic data input / output unit 52, the inspection method characteristic data for each inspection method stored in the inspection method characteristic data storage unit 51 is input, edited, and output. Then, the process proceeds to step 207.
In step 207, if the target product defect occurrence data is not created, it is determined to proceed to step 131, and if it is created, it is determined to proceed to step 132. In step 131, the target product inspection content setting unit 61 extracts and correlates the target product detectable data stored in the target product detectable data storage unit 31. Thereafter, the process proceeds to step 208. On the other hand, in step 132, extraction and association of target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 and target product detectable data stored in the target product detectable data storage unit 31 are performed. carry out. Thereafter, the process proceeds to step 208.
In step 208, when the inspection rank for the defect phenomenon is the target product inspection feature data, it is determined to proceed to step 142, and otherwise, it is determined to proceed to 141. In step 141, the data extracted and associated in step 131 or 132 and the inspection method characteristic data for each inspection method stored in the inspection method characteristic data storage unit 51 are associated with each other. Judgment is made from the characteristics of the inspection method (for example, a product with a small load is selected), and the target product inspection content is stored in the target product inspection content storage unit 62. At this time, the data stored in the target product inspection content storage unit 62 may be input, edited, and output using the target product inspection content input / output unit 63. Thereafter, the process proceeds to step 209.
[0028]
In step 142, the data extracted and associated in steps 131 and 132 and the inspection method characteristic data for each inspection method stored in the inspection method characteristic data storage unit 51 are associated with each other. Then, the inspection product having the highest inspection rank is selected, and the target product inspection content is stored in the target product inspection content storage unit 62. At this time, the data stored in the target product inspection content storage unit 62 may be input, edited, and output using the target product inspection content input / output unit 63. Then, the process proceeds to step 209.
In step 209, when the target product inspection content is to be changed using the target product manufacturing quality data, it is determined to proceed to step 701; In step 701, the same processing as in step 70 is performed, and then the process proceeds to step 811. In step 811, the same processing as in step 81 is performed, and thereafter, the process proceeds to step 82. In step 82, the target product design data collection unit 25 collects, from the product quality database 12, the product identification and line identification defect data and production data input in step 70, and associates and calculates the data. Then, the production quality data for each connection point is stored in the target product design data storage unit 26. At this time, the data stored in the target product quality data storage unit 26 may be input, edited, and output using the target product quality data input / output unit 27. Then, the process proceeds to step 95.
In step 95, the target product defect occurrence data creating unit 43 extracts the product design data for each assembly location stored in the target product design data storage unit 23 and the defect phenomenon that actually occurred from the target product quality data storage unit 26. The target product defect occurrence data is stored in the target product defect occurrence data storage unit 41. At this time, the data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 may be input, edited, and output using the target product defect occurrence data input / output unit 42. Thereafter, the process proceeds to step 210.
[0029]
In step 210, when the inspection of the defect which does not occur is excluded from the inspection result, the determination is made to proceed to step 151. When the inspection of the defect which is decreasing is excluded from the inspection result, the determination is made to proceed to step 152. Then, when adding a defect inspection that does not occur based on the post-process inspection results, it is determined that the process proceeds to step 153. When adding a defect test that is increasing in trend from the post-process inspection results, step 154 is performed. Make a decision to proceed to.
In step 151, the comparison between the target product inspection content stored in the target product inspection content storage unit 62 and the target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 is performed. If not, delete it. In step 152, the comparison between the target product inspection content stored in the target product inspection content storage unit 62 and the target product defect occurrence data stored in the target product defect occurrence data storage unit 41 is performed. Are added using the data stored in the inspection method characteristic data storage unit 51 as a criterion (refer to). In step 153, if the trend of the target product quality data stored in the target product quality data storage unit 26 in the final product inspection (or the inspection in the post-process) is a tendency to decrease, the target product inspection content storage unit 62 Is compared with the data of the target product inspection stored in the product inspection data. If the inspection of the defect is included in the product inspection content, the inspection of the defect is excluded. In step 154, if the trend of the target product quality data stored in the target product quality data storage unit 26 in the final product inspection (or the inspection in the subsequent process) is a tendency to increase, the target product inspection content storage unit 62 Is compared with the data of the target product inspection stored in the product inspection data. If the inspection of the defect is not included in the product inspection content, the inspection of the defect is performed using the characteristic data of the inspection method as a criterion (refer to FIG. ),to add. After the steps 151, 152, 153, 154, the process returns to the step 209 (the point B in the figure).
In step 211, it is determined whether the detectable data of the target product, the defect occurrence data of the target product, and the inspection method characteristic data of the target product are corrected or not. If so, the process returns to the start. Proceed to step 212. In step 212, when outputting the target product to the product and the jig design system, it is determined that the process proceeds to step 160, and otherwise, the process proceeds to the end and the flow process is completed. In step 160, the inspection method characteristic data input / output unit 63 outputs the data stored in the target product inspection content storage unit 62 to the product design system 200 and the inspection jig design system 300. Then, the process proceeds to the end to end the flow processing.
[0030]
Therefore, in the above-described product inspection content setting method, since the inspection method for inspecting the parts of the parts constituting the product is set, the parts that can be inspected by the inspection items for each inspection step are not included in the target parts. This also copes with the case where parts are mixed, and eliminates duplicate inspection of the same defect as a product. As a result, duplicate inspections for the same defect can be eliminated, and inspection contents that can realize cost reduction and inspection time reduction can be set.
In addition, an inspection method that enables detection of a defect phenomenon that occurs in a part of a component constituting a product is extracted, and an inspection method for inspecting the part is set. No defect inspection is eliminated. As a result, it is possible to set an inspection content that eliminates an increase in inspection cost (an increase in inspection time, etc.) due to inspection of a defect that does not occur, and an outflow of a subsequent defect in a subsequent process.
Further, since it is not necessary to register in advance the failure phenomenon occurring in the target product, knowledge of the failure occurrence condition is not required.
In addition, since the estimation is performed based on the past defect occurrence status, it is possible to eliminate the inspection of the defect that does not occur according to the actual process capability or the like.
In addition, for example, if a defect that has occurred in a product produced in the past or a target product but does not occur now is registered as a defect phenomenon that does not perform the inspection, the inspection of the defect that does not currently occur can be excluded. Become like
Further, for example, it is possible to exclude inspections of defects that are less than the quality target in total.
In addition, at the stage of designing the inspection part of the product or the inspection jig, the inspection content is set, and the inspection part of the product or the inspection jig necessary for the inspection content is designed, so that the above-mentioned unnecessary part becomes unnecessary. Eliminates inspection parts for products and inspection jigs, thereby reducing costs. For example, when the target product is a printed circuit board (including one on which electrical components are mounted) and the inspection method is an electrical assembly inspection method (hereinafter referred to as an in-circuit tester), the part for product inspection is Inspection parts of the inspection jig such as pads for an in-circuit tester on a printed circuit board are pins of the jig of the in-circuit tester. By eliminating the pads and pins, it is possible to advantageously design and inspect a printed circuit board with high-density mounting.
[0031]
In the method of changing the product inspection content, since the actual results are used, it is possible to eliminate the inspection of the defect that does not actually occur.
In addition, since the results are used, it is possible to eliminate the inspection of a defect having a low defect rate.
In addition, since the results are used, it is possible to add an inspection for a defect that actually occurs.
Further, since the actual results are used, it is possible to add a defect inspection having a high defect rate.
In addition, when setting which inspection method is to be used for an inspection of a defective phenomenon, an inspection method having a higher inspection rank can be preferentially set. If the judgment is made based on the inspection capability and the like, the inspection content can be set with the optimal inspection time, inspection cost, and inspection capability.
In addition, since it is not necessary to register in advance the defect phenomena that can be detected in the target product in each inspection method, it is not necessary to have a knowledge of how each inspection method performs inspection. Further, it is possible to cope with a case where inspection items are different for each inspection process.
In addition, since the inspection method for inspecting the target product can be selected, after setting the inspection content, it is necessary to determine the optimal inspection content by judging from the inspection content and changing the inspection method for inspecting the target product. Will be able to
The product inspection content setting system sets the inspection method for inspecting the parts of the components that make up the product.Therefore, some of the target parts include parts that can be inspected and those that cannot be inspected in the inspection item for each inspection process. In such a case, the product does not need to be repeatedly inspected for the same defect. As a result, duplicate inspections for the same defect can be eliminated, and inspection contents that can realize cost reduction and inspection time reduction can be set.
In addition, an inspection method that enables detection of a defect phenomenon that occurs in a part of a component constituting a product is extracted, and an inspection method for inspecting the part is set. No defect inspection is eliminated. As a result, it is possible to set an inspection content that eliminates an increase in inspection cost (an increase in inspection time, etc.) due to inspection of a defect that does not occur, and an outflow of a subsequent defect in a subsequent process.
Further, since it is not necessary to register in advance the failure phenomenon occurring in the target product, knowledge of the failure occurrence condition is not required.
[0032]
In addition, since the estimation is performed based on the past defect occurrence status, it is possible to eliminate the inspection of the defect that does not occur according to the actual process capability or the like.
In addition, for example, if a defect that has occurred in a product produced in the past or a target product but does not occur now is registered as a defect phenomenon that does not perform the inspection, the inspection of the defect that does not currently occur can be excluded. Become like
Further, for example, it is possible to exclude inspections of defects that are less than the quality target in total.
In addition, at the stage of designing the inspection part of the product or the inspection jig, the inspection content is set, and the inspection part of the product or the inspection jig necessary for the inspection content is designed, so that the above-mentioned unnecessary part becomes unnecessary. Eliminates inspection parts for products and inspection jigs, thereby reducing costs. For example, when the target product is a printed circuit board (including one on which electrical components are mounted) and the inspection method is an electrical assembly inspection method (hereinafter referred to as an in-circuit tester), the part for product inspection is Inspection parts of the inspection jig such as pads for an in-circuit tester on a printed circuit board are pins of the jig of the in-circuit tester. By eliminating the pads and pins, it is possible to advantageously design and inspect a printed circuit board with high-density mounting.
In the product inspection content change system, since the actual results are used, it is possible to eliminate the inspection of defects that do not actually occur.
In addition, since the results are used, it is possible to eliminate the inspection of a defect having a low defect rate.
In addition, since the results are used, it is possible to add an inspection for a defect that actually occurs.
Further, since the actual results are used, it is possible to add a defect inspection having a high defect rate.
[0033]
In addition, when setting which inspection method is to be used for an inspection of a defective phenomenon, an inspection method having a higher inspection rank can be preferentially set. If the judgment is made based on the inspection capability and the like, the inspection content can be set with the optimal inspection time, inspection cost, and inspection capability.
In addition, since it is not necessary to register in advance the defect phenomena that can be detected in the target product in each inspection method, it is not necessary to have a knowledge of how each inspection method performs inspection. Further, it is possible to cope with a case where inspection items are different for each inspection process.
In addition, since the inspection method for inspecting the target product can be selected, after setting the inspection content, it is necessary to determine the optimal inspection content by judging from the inspection content and changing the inspection method for inspecting the target product. Will be able to
In addition, according to the product inspection content setting method, when setting an inspection method for a defect phenomenon that occurs, an inspection method having a higher inspection rank can be set preferentially. Is determined from the inspection time, the inspection cost, the inspection capability, and the like, the inspection content can be set with the optimal inspection time, inspection cost, and inspection capability.
In addition, since it is not necessary to register in advance the defect phenomena that can be detected in the target product in each inspection method, it is not necessary to have a knowledge of how each inspection method performs inspection. Further, it is possible to cope with a case where inspection items are different for each inspection process.
In addition, the product inspection content setting system can prioritize the inspection method with the higher inspection rank when setting which inspection method to use for the defective phenomenon that occurs. Is determined from the inspection time, the inspection cost, the inspection capability, and the like, the inspection content can be set with the optimal inspection time, inspection cost, and inspection capability.
In addition, since it is not necessary to register in advance the defect phenomena that can be detected in the target product in each inspection method, it is not necessary to have a knowledge of how each inspection method performs inspection. Further, it is possible to cope with a case where inspection items are different for each inspection process.
[0034]
【The invention's effect】
As described above, according to the first aspect, since an inspection method for inspecting a part of a part constituting a product is set, a part which can be inspected by an inspection item for each inspection step is included in a target part. This also copes with the case where possible parts are mixed, and eliminates duplicate inspection of the same defect as a product. As a result, duplicate inspections for the same defect can be eliminated, and inspection contents that can realize cost reduction and inspection time reduction can be set.
According to the second aspect, an inspection method that enables detection of a defect phenomenon that occurs in a part of a component configuring a product is extracted and an inspection method that inspects the part is set, so that a defect that occurs as a product is inspected. Inspection of defects that do not occur and defects that do not occur are eliminated. As a result, it is possible to set an inspection content that eliminates an increase in inspection cost (an increase in inspection time, etc.) due to inspection of a defect that does not occur, and an outflow of a subsequent defect in a subsequent process.
According to the third aspect, it is not necessary to register in advance the failure phenomenon that occurs in the target product, so that knowledge of the failure occurrence condition becomes unnecessary.
According to the fourth aspect, since the estimation is made based on the past defect occurrence status, it is possible to eliminate the inspection of the defect that does not occur according to the actual process capability or the like.
According to claim 5, for example, if a defect that has occurred in a product produced in the past or a target product but does not occur at present is registered as a defect phenomenon that does not perform inspection, a defect that does not occur at present is generated. Inspections can be excluded.
According to the sixth aspect, for example, it is possible to exclude inspections of defects that are below the quality target in total.
According to claim 7, at the stage of designing a part for inspection of a product or an inspection jig, an inspection content is set, and a part for inspection of a product or an inspection jig necessary for the inspection content is designed. Eliminating unnecessary parts for inspection of products and inspection jigs can reduce costs. For example, when the target product is a printed circuit board (including one on which electrical components are mounted) and the inspection method is an electrical assembly inspection method (hereinafter referred to as an in-circuit tester), the part for product inspection is Inspection parts of the inspection jig such as pads for an in-circuit tester on a printed circuit board are pins of the jig of the in-circuit tester. By eliminating the pads and pins, it is possible to advantageously design and inspect a printed circuit board with high-density mounting.
[0035]
According to the eighth aspect, since the actual result is used, it is possible to eliminate the inspection of a defect that does not actually occur.
According to the ninth aspect, since the results are used, it is possible to eliminate the inspection of the defect having a low defect rate.
According to the tenth aspect, since the results are used, it is possible to add an inspection for a defect that actually occurs.
According to the eleventh aspect, since the results are used, it is possible to add a defect inspection with a high defect rate.
According to the twelfth aspect, when setting which inspection method should be used for a defect phenomenon to occur, an inspection method having a higher inspection rank can be preferentially set. If the judgment is made based on the time, the inspection cost, the inspection capability, and the like, the inspection content can be set with the optimal inspection time, inspection cost, and inspection capability.
According to the thirteenth aspect, in each inspection method, it is not necessary to register in advance the defect phenomenon detectable in the target product, so that it is unnecessary to know how each inspection method performs inspection. become. Further, it is possible to cope with a case where inspection items are different for each inspection process.
According to the fourteenth aspect, the inspection method for inspecting the target product can be selected. Therefore, after setting the inspection contents, the inspection method for inspecting the target product is changed by judging from the inspection contents, and thereby the optimum inspection is performed. You can set the content.
According to the fifteenth aspect, an inspection method for inspecting a part of a component constituting a product is set, so that a part that can be inspected and an part that cannot be inspected in an inspection item for each inspection step are mixed in a target part. In such a case, the product does not need to be repeatedly inspected for the same defect. As a result, duplicate inspections for the same defect can be eliminated, and inspection contents that can realize cost reduction and inspection time reduction can be set.
[0036]
According to the sixteenth aspect, an inspection method that enables detection of a failure phenomenon that occurs in a part of a component constituting a product is extracted and an inspection method that inspects the part is set, so that a failure that occurs as a product is inspected. Inspection of defects that do not occur and defects that do not occur are eliminated. As a result, it is possible to set an inspection content that eliminates an increase in inspection cost (an increase in inspection time, etc.) due to inspection of a defect that does not occur, and an outflow of a subsequent defect in a subsequent process.
According to the seventeenth aspect, it is not necessary to register in advance the failure phenomenon occurring in the target product, so that knowledge of the failure occurrence condition becomes unnecessary.
According to the eighteenth aspect, since the estimation is made based on the past defect occurrence status, it is possible to eliminate the inspection of the defect that does not occur according to the actual process capability or the like.
According to the nineteenth aspect, for example, if a defect that has occurred in a product produced in the past or a target product but does not currently occur is registered as a failure phenomenon that does not perform inspection, a defect that does not currently occur does not occur. Inspections can be excluded.
According to the twentieth aspect, for example, it is possible to exclude inspections for defects that are below the quality target in total.
According to the twenty-first aspect, at the stage of designing a part for inspection of a product or an inspection jig, an inspection content is set, and a part for inspection of a product or an inspection jig necessary for the inspection content is designed. By eliminating unnecessary parts for inspection of products and inspection jigs, costs can be reduced. For example, when the target product is a printed circuit board (including one on which electrical components are mounted) and the inspection method is an electrical assembly inspection method (hereinafter referred to as an in-circuit tester), the part for product inspection is Inspection parts of the inspection jig such as pads for an in-circuit tester on a printed circuit board are pins of the jig of the in-circuit tester. By eliminating the pads and pins, it is possible to advantageously design and inspect a printed circuit board with high-density mounting.
According to the twenty-second aspect, since the results are used, it is possible to eliminate the inspection of the defects that do not actually occur.
According to the twenty-third aspect, since the results are used, it is possible to eliminate the inspection of the defect having a low defect rate.
According to the twenty-fourth aspect, since the results are used, it is possible to add an inspection for a defect that actually occurs.
[0037]
According to the twenty-fifth aspect, since the results are used, it is possible to add a defect inspection having a high defect rate.
According to the twenty-sixth aspect, when setting which inspection method should be used for a defect phenomenon to occur, an inspection method having a higher inspection rank can be preferentially set. If the judgment is made based on the time, the inspection cost, the inspection capability, and the like, the inspection contents can be set with the optimal inspection time, inspection cost, and inspection capability.
According to the twenty-seventh aspect, it is not necessary to register in advance the defect phenomena that can be detected in the target product in each inspection method, so that it is not necessary to know how each inspection method performs the inspection. become. Further, it is possible to cope with a case where inspection items are different for each inspection process.
According to claim 28, since the inspection method for inspecting the target product can be selected, after setting the inspection content, it is judged from the inspection content and the inspection method for inspecting the target product is changed, so that the optimal inspection is performed. You can set the content.
According to claim 29, when setting which inspection method should be used for a defect phenomenon to occur, an inspection method having a higher inspection rank can be preferentially set. If the judgment is made based on the time, the inspection cost, the inspection capability, and the like, the inspection contents can be set with the optimal inspection time, inspection cost, and inspection capability.
According to the thirty-third aspect, it is not necessary to register in advance the defect phenomena that can be detected in the target product in each inspection method, so that it is not necessary to know how each inspection method performs inspection. become. Further, it is possible to cope with a case where inspection items are different for each inspection process.
According to the thirty-first aspect, when setting which inspection method is to be used for a defect phenomenon to occur, an inspection method having a higher inspection rank can be preferentially set. If the judgment is made based on the time, the inspection cost, the inspection capability, and the like, the inspection content can be set with the optimal inspection time, inspection cost, and inspection capability.
According to claim 32, it is not necessary to previously register a defect phenomenon detectable in a target product in each inspection method, so that it is unnecessary to know how each inspection method performs inspection. become. Further, it is possible to cope with a case where inspection items are different for each inspection process.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a product inspection content setting system (product inspection content changing system) according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of target product detectable data.
FIG. 3 is a diagram showing an example of target product defect occurrence data.
FIG. 4 is a diagram showing an example of inspection method feature data.
FIG. 5 is a diagram showing an example of a target product inspection content.
FIG. 6 is a flowchart showing a processing flow (a product inspection content setting method or a product inspection content changing method according to an embodiment of the present invention) in the product inspection content setting system or the product inspection content changing system according to the embodiment of the present invention; It is.
FIG. 7 is a flowchart showing a processing flow (a product inspection content setting method or a product inspection content changing method according to an embodiment of the present invention) in the product inspection content setting system or the product inspection content changing system subsequent to FIG. 6;
FIG. 8 is a diagram showing a general product inspection flow.
[Explanation of symbols]
10 database section, 11 product design database, 12 manufacturing quality database, 20 data collection section, 21 target product identification line identification input section, 22 target product design data collection section, 23 target product design data storage section, 24 target product design data input Output unit, 25 Target product quality data collection unit, 26 Target product quality data storage unit, 27 Target product quality data input / output unit, 30 Detectable data creation unit, 31 Target product detectable data storage unit, 32 Target product detectable data Input / output unit, 33 Target product detectable data generation unit, 34 Target product inspection method input unit, 35 Each inspection method detectable data storage unit, 36 Each inspection method detectable data input / output unit, 40 Failure occurrence data generation unit, 41 Failure data storage unit, 42 Target product failure data input / output unit, 43 Target product failure data Creation unit, 44 Failure occurrence data storage unit, 45 Inspection method detectable data input / output unit, 46 Inspection unnecessary part deletion unit, 47 Inspection standard storage, 48 Inspection standard input / output unit, 50 Inspection method characteristic data creation Unit, 51 inspection method characteristic data storage unit, 52 inspection method characteristic data input / output unit, 60 inspection content setting unit, 61 target product inspection content setting unit, 62 target product inspection content storage unit, 63 target product inspection content input / output unit, 100 failure prediction system, 200 product design system, 300 inspection jig design system

Claims (32)

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容設定方法。From the target product detectable data in which information relating to parts constituting the product, parts of the parts, and inspection methods for inspecting the parts and defect phenomena that can be detected by the inspection methods, characteristics of the inspection methods are determined by each inspection method. A product inspection content setting method, wherein an inspection method for inspecting the site is set using the inspection method characteristic data separately represented as a criterion for determination. 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データと、
前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、
前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容設定方法。Target product defect occurrence data, which compares the information on the parts constituting the product, the parts of the parts and the defect phenomena occurring in the parts,
From the target product detectable data, which compares the information regarding the inspection method for inspecting the part, the part of the part and the part and the defect phenomenon detectable by the inspection method,
Extracting an inspection method capable of detecting a defect phenomenon occurring in the part, and setting an inspection method for inspecting the part using inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method as a criterion for determination. Product inspection content setting method characterized by the following. 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、
前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、
前記部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとすることを特徴とする請求項２記載の製品検査内容設定方法。Target product design data including information that compares information relating to the parts constituting the product, the parts of the parts, and the method of assembling the parts,
A combination of information on the part, the part, and the method of assembling the part as a design condition, and associating failure occurrence data corresponding to the design condition expressed by a failure phenomenon generated from the design condition,
3. The product inspection content setting method according to claim 2, wherein target product defect occurrence data is obtained by comparing information on the part, a part of the part, and a defect phenomenon occurring in the part. 過去の不良発生状況から、前記設計条件に対応した不良発生データを推定し、設計条件に対応した不良発生データとすることを特徴とする請求項３記載の製品検査内容設定方法。4. The product inspection content setting method according to claim 3, wherein failure occurrence data corresponding to the design condition is estimated from a past failure occurrence status, and is set as the failure occurrence data corresponding to the design condition. 前記対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外することを特徴とする請求項２から４のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。5. An unnecessary inspection is excluded from the target product defect occurrence data by using inspection execution reference data represented by a failure phenomenon in which an inspection is not performed as a determination criterion. Product inspection content setting method. 前記対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外することを特徴とする請求項２から５のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。6. An unnecessary inspection is excluded from the target product defect occurrence data using inspection execution reference data represented by target quality of the target product as a criterion for determination. Product inspection content setting method. 製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、前記検査内容に必要な前記製品や前記検査ジグの検査用の部位を設計することを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。2. The method according to claim 1, wherein at the stage of designing a part for inspection of a product or an inspection jig, inspection contents are set, and a part for inspection of the product or the inspection jig required for the inspection contents is designed. 6. The product inspection content setting method according to any one of 6. 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、発生しない不良の検査を除外することを特徴とする製品検査内容変更方法。Collects target product failure occurrence data, which is a comparison of information about parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts, from inspection results of product inspections performed based on product inspection contents, and does not occur. A method for changing the content of a product inspection, wherein a defect inspection is excluded. 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査を除外することを特徴とする製品検査内容変更方法。Collecting target product defect occurrence data, which compares information on the parts constituting the product, the parts of the parts, and the defect phenomena occurring in the parts, from the inspection results of the product inspection performed based on the product inspection contents, and A method for changing the product inspection content, wherein inspection of the defect is excluded when a tendency of the defect is found by the analysis of the situation. 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良が発生したとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容変更方法。The final product inspection results of the product inspection performed based on the product inspection contents and the target product defect occurrence data comparing the information on the parts constituting the product, the parts of the parts, and the defect phenomena occurring at the parts Collected from inspection results, and when a defect that cannot be detected in the product inspection content occurs, information on parts constituting the product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and a defect phenomenon detectable by the inspection method. An inspection method that extracts an inspection method that can detect the defect from the target product detectable data in which the inspection method is compared, and uses the inspection method characteristic data representing the characteristics of the inspection method for each inspection method as a criterion for the inspection method to inspect the defect A method of changing product inspection contents, wherein 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良に傾向的な増加が見られるとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容変更方法。The final product inspection results of the product inspection performed based on the product inspection contents and the target product defect occurrence data comparing the information on the parts constituting the product, the parts of the parts, and the defect phenomena occurring at the parts Collected from inspection results, when there is a tendency to increase in defects that cannot be detected in the product inspection content, parts constituting the product, parts of the parts and inspection methods for inspecting the parts and detectable by the inspection method An inspection method that can detect the defect is extracted from the target product detectable data that compares the information on the defect phenomenon and the inspection method characteristic data that expresses the characteristics of the inspection method for each inspection method is used as a criterion for judgment. A method for changing a product inspection content, wherein an inspection method for inspecting a product is set. 部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することを特徴とする請求項１０又は１１に記載の製品検査内容変更方法。The inspection rank of each inspection method for the parts, the parts of the parts, and the failure phenomena occurring in the method of assembling the parts is used as inspection method characteristic data, and the inspection method having a high inspection rank is given priority to the failure phenomena occurring. The method according to claim 10 or 11, wherein the method is set to: 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、
部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、
製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項１０から１２のいずれかに記載の製品検査内容変更方法。Information comparing the information relating to the parts constituting the product, the parts of the parts, the method of assembling the parts, and the connection locations of the parts, and the information relating to the order of the assembling methods and the inspection methods performed on the product. Target product design data including information that compares
Each inspection method corresponding to a design condition in which a combination of information relating to a part, a part of the part, an assembling method of the part, and a connection part of the part is set as a design condition and is expressed by a defect phenomenon detectable from the design condition. Associating detectable data with
11. The target product detectable data in which information on a component constituting a product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and information on a defect phenomenon detectable by the inspection method are compared. 13. The method for changing the content of a product inspection according to any one of items 1 to 12. 前記対象製品検出可能データを作成するとき、対象製品を検査する検査方法を選択できることを特徴とする請求項１３記載の製品検査内容変更方法。14. The method according to claim 13, wherein an inspection method for inspecting the target product can be selected when the target product detectable data is created. 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、
検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、
前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容設定システム。Target product detectable data input / output for inputting target product detectable data in which information on parts constituting a product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and a defect phenomenon detectable by the inspection method is compared. A detectable data creating unit having a unit,
An inspection method characteristic data creating unit having an inspection method characteristic data input / output unit for inputting inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method,
From the target product detectable data of the detectable data creation unit, a target product inspection content setting unit that sets an inspection method for inspecting the part using the inspection method feature data of the inspection method feature data creation unit as a criterion for determination. An inspection content setting unit having
A product inspection content setting system comprising: 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、
前記検査内容設定部は、前記不良発生データ作成部の前記対象製品不良発生データと前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項１５の製品検査内容設定システム。A defect generation data creation unit having a target product defect occurrence data input / output unit for inputting target product defect occurrence data obtained by comparing information on parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts; ,
The inspection content setting unit determines inspection method characteristic data of the inspection method characteristic data generating unit from the target product defect occurrence data of the defect occurrence data generating unit and the target product detectable data of the detectable data generating unit. 16. The product inspection content setting system according to claim 15, further comprising a target product inspection content setting unit that sets an inspection method for inspecting the part as a criterion. 製品の設計データを記憶するデータベース部と、
前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、
前記不良発生データ作成部は、前記データ収集部の前記対象製品設計データと、
部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる設計条件に対応した不良発生データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部を有することを特徴とする請求項１６記載の製品検査内容設定システム。A database unit for storing product design data,
A data collection unit that collects target product design data including information obtained by comparing information relating to parts constituting a product from the data of the database unit, the parts of the parts, and the method of assembling the parts,
The failure occurrence data creation unit, the target product design data of the data collection unit,
A combination of information on a part, a part of the part, and an assembling method of the part is set as a design condition, and failure occurrence data corresponding to a design condition expressed by a failure phenomenon generated from the design condition is associated with the product to configure the product. 17. The product inspection according to claim 16, further comprising a target product defect occurrence data creating unit that sets target product defect occurrence data by comparing information on a part to be replaced, a part of the part, and a defect phenomenon occurring in the part. Content setting system. 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、
製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、
前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、
前記対象製品不良発生データと、
前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、
前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定し、
前記不良発生データ作成部は、過去の不良発生状況から、設計条件に対応した不良発生データを推定する不良予測システムから、設計条件に対応した不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有することを特徴とする製品検査内容設定システム。A defect generation data creation unit having a target product defect occurrence data input / output unit for inputting target product defect occurrence data obtained by comparing information on parts constituting a product, parts of the parts, and failure phenomena occurring in the parts; ,
Target product design data including information that compares information relating to the parts constituting the product, the parts of the parts, and the method of assembling the parts,
A combination of information on the part, the part, and the method of assembling the part as a design condition, and associating failure occurrence data corresponding to the design condition expressed by a failure phenomenon generated from the design condition,
Said target product defect occurrence data,
From the target product detectable data, which compares the information regarding the inspection method for inspecting the part, the part of the part and the part and the defect phenomenon detectable by the inspection method,
Extracting an inspection method capable of detecting a defect phenomenon occurring in the part, and setting an inspection method for inspecting the part, using inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method as a criterion,
The defect occurrence data creating unit, from a failure prediction system that estimates failure occurrence data corresponding to design conditions from a past failure occurrence situation, a target product failure occurrence data creation unit that creates defect occurrence data corresponding to design conditions. A product inspection content setting system characterized by having: 前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有することを特徴とする請求項１６から１８のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。The failure occurrence data creation unit includes an inspection unnecessary part deletion unit that excludes unnecessary inspections from the target product failure occurrence data, using inspection execution reference data represented by a failure phenomenon that is not subjected to inspection as a criterion for determination. The product inspection content setting system according to any one of claims 16 to 18, wherein: 前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有することを特徴とする請求項１６から１９のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。The defect occurrence data creating unit may include an inspection unnecessary part deletion unit that excludes unnecessary inspections from the target product defect occurrence data, using the inspection execution reference data represented by the target quality of the target product as a criterion for determination. The product inspection content setting system according to any one of claims 16 to 19, characterized in that: 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、
検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、
前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部とを備え、
前記検査内容設定部は、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部と、該検査内容を製品設計システム、検査ジグ設計システムに出力する対象製品検査内容入出力部を有することを特徴とする製品検査内容設定システム。Target product detectable data input / output for inputting target product detectable data in which information on parts constituting a product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and a defect phenomenon detectable by the inspection method is compared. A detectable data creating unit having a unit,
An inspection method characteristic data creating unit having an inspection method characteristic data input / output unit for inputting inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method,
From the target product detectable data of the detectable data creation unit, a target product inspection content setting unit that sets an inspection method for inspecting the part using the inspection method feature data of the inspection method feature data creation unit as a criterion for determination. And an inspection content setting unit having
The inspection content setting unit outputs the inspection content to a product design system and an inspection jig design system at the stage of designing a product or an inspection part of an inspection jig, and a target product inspection content setting unit for setting the inspection content. A product inspection content setting system having a target product inspection content input / output unit. 製品の品質データを記憶するデータベース部と、
前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、
製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、
対象製品不良発生データにない不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。A database unit for storing product quality data;
From the data of the database unit, a data collection unit that collects target product quality data including inspection results of product inspection based on the product inspection content,
Perform a product inspection based on the product inspection content, from the target product quality data of the data collection unit, a defect occurrence data creation unit having a target product failure occurrence data creation unit that creates target product failure occurrence data,
An inspection content setting unit having a target product inspection content setting unit for excluding inspection of a defect not included in the target product defect occurrence data,
A product inspection content change system comprising: 製品の品質データを記憶するデータベース部と、
前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、
製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、
前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。A database unit for storing product quality data;
From the data of the database unit, a data collection unit that collects target product quality data including inspection results of product inspection based on the product inspection content,
Perform a product inspection based on the product inspection content, from the target product quality data of the data collection unit, a defect occurrence data creation unit having a target product failure occurrence data creation unit that creates target product failure occurrence data,
If the defect occurrence is analyzed by analyzing the defect occurrence status of the target product defect occurrence data, if the defect inspection is included in the product inspection content, a target product inspection content setting unit that excludes the defect inspection is provided. An inspection content setting unit having
A product inspection content change system comprising: 製品の品質データを記憶するデータベース部と、
前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、
製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、
検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、
前記対象製品不良発生データにある不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。A database unit for storing product quality data;
From the data of the database unit, a data collection unit that collects target product quality data including the final product inspection results or post-process inspection results based on the product inspection contents,
Perform a product inspection based on the product inspection content, from the target product quality data of the data collection unit, a defect occurrence data creation unit having a target product failure occurrence data creation unit that creates target product failure occurrence data,
An inspection method characteristic data creating unit having an inspection method characteristic data input / output unit for inputting inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method,
If the inspection of the defect in the target product defect occurrence data is not included in the product inspection content, the inspection of the defect has an inspection product setting including a target product inspection content setting unit to be added using the inspection method characteristic data as a reference. Department and
A product inspection content change system comprising: 製品の品質データを記憶するデータベース部と、
データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、
製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、
検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、
前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的増加が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。A database unit for storing product quality data;
A data collection unit that collects target product quality data including the final product inspection results or post-process inspection results based on the product inspection contents from the data in the database unit;
Perform a product inspection based on the product inspection content, from the target product quality data of the data collection unit, a defect occurrence data creation unit having a target product failure occurrence data creation unit that creates target product failure occurrence data,
An inspection method characteristic data creating unit having an inspection method characteristic data input / output unit for inputting inspection method characteristic data representing characteristics of the inspection method for each inspection method,
If a trend of failures is found by analyzing the failure occurrence status of the target product failure occurrence data, if the failure inspection is not included in the product inspection content, the inspection of the failure is performed by judging the inspection method characteristic data. As a reference, an inspection content setting unit having a target product inspection content setting unit to be added,
A product inspection content change system comprising: 前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項２４又は２５に記載の製品検査内容変更システム。The inspection method feature data creation unit has an inspection method feature data input / output unit that inputs an inspection rank for a failure phenomenon in each inspection method as inspection method feature data. The product inspection content change system according to claim 24 or 25, further comprising a target product inspection content setting unit that preferentially sets an inspection method having a high inspection rank. 製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、
前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項２４から２６のいずれかに記載の製品検査内容変更システム。A database unit for storing design data of the product, and target product design data including information on information on parts constituting the product, parts of the parts, and an assembling method of the parts are collected from the data of the database unit. And a data collection unit that performs
The detectable data creation unit, the target product design data of the data collection unit, a combination of information on the part, the part of the part, the method of assembling the part, and the assembling location of the part as design conditions, An inspection method and an inspection method for associating each inspection method detectable data corresponding to a design condition represented by a failure phenomenon detectable from a design condition, and inspecting a part constituting a product, a part of the part, and the part The product inspection content change system according to any one of claims 24 to 26, wherein the target product detectable data is obtained by comparing information on a defect phenomenon detectable by the target product. 前記検出可能データ作成部は対象製品を検査する検査方法を選択できる対象製品検査方法入力部を有することを特徴とする請求項２７記載の製品検査内容変更システム。28. The product inspection content change system according to claim 27, wherein the detectable data creating unit has a target product inspection method input unit that can select an inspection method for inspecting a target product. 部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。The inspection rank of each inspection method for the parts, the parts of the parts, and the failure phenomena occurring in the method of assembling the parts is used as inspection method characteristic data, and the inspection method having a high inspection rank is given priority to the failure phenomena occurring. The product inspection content setting method according to claim 1, wherein: 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、
部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、
製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。Information comparing the information relating to the parts constituting the product, the parts of the parts, the method of assembling the parts, and the connection locations of the parts, and the information relating to the order of the assembling methods and the inspection methods performed on the product. Target product design data including information that compares
Each inspection method corresponding to a design condition in which a combination of information relating to a part, a part of the part, an assembling method of the part, and a connection part of the part is set as a design condition and is expressed by a defect phenomenon detectable from the design condition. Associating detectable data with
2. A target product detectable data in which information on a part constituting a product, a part of the part, an inspection method for inspecting the part, and information on a defect phenomenon detectable by the inspection method are compared. 7. The method for setting product inspection contents according to any one of items 1 to 6. 前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項１５から２０のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。The inspection method feature data creation unit has an inspection method feature data input / output unit that inputs an inspection rank for a failure phenomenon in each inspection method as inspection method feature data. 21. The product inspection content setting system according to claim 15, further comprising a target product inspection content setting unit that preferentially sets an inspection method having a high inspection rank. 製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、
前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項１５から２０のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。A database unit for storing design data of the product, and target product design data including information on information on parts constituting the product, parts of the parts, and an assembling method of the parts are collected from the data of the database unit. And a data collection unit that performs
The detectable data creation unit, the target product design data of the data collection unit, a combination of information on the part, the part of the part, the method of assembling the part, and the assembling location of the part as design conditions, An inspection method and an inspection method for associating each inspection method detectable data corresponding to a design condition represented by a failure phenomenon detectable from a design condition, and inspecting a part constituting a product, a part of the part, and the part 21. The product inspection content setting system according to claim 15, wherein the target product detectable data is obtained by comparing information on a defect phenomenon detectable by the target product.
JP2003076382A 2003-03-19 2003-03-19 Product inspection content setting method, product inspection content changing method, product inspection content setting system, and product inspection content changing system Expired - Fee Related JP4480947B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003076382A JP4480947B2 (en) 2003-03-19 2003-03-19 Product inspection content setting method, product inspection content changing method, product inspection content setting system, and product inspection content changing system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003076382A JP4480947B2 (en) 2003-03-19 2003-03-19 Product inspection content setting method, product inspection content changing method, product inspection content setting system, and product inspection content changing system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004287609A true JP2004287609A (en) 2004-10-14
JP4480947B2 JP4480947B2 (en) 2010-06-16

Family

ID=33291457

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003076382A Expired - Fee Related JP4480947B2 (en) 2003-03-19 2003-03-19 Product inspection content setting method, product inspection content changing method, product inspection content setting system, and product inspection content changing system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4480947B2 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006172427A (en) * 2004-11-18 2006-06-29 Seiko Epson Corp Inspection instruction sheet creating system, inspection instruction sheet creating device, inspection instruction sheet creating method, inspection instruction sheet creating program, and recording medium
JP2007286818A (en) * 2006-04-14 2007-11-01 Fuji Xerox Co Ltd Inspection system and its inspection method
US7643896B2 (en) 2004-06-08 2010-01-05 Ricoh Company, Ltd. Operation-related information display method and operation-related information display system
WO2020241888A1 (en) * 2019-05-30 2020-12-03 旭化成株式会社 Model for predicting occurrence of corrosion under heat insulating material, and plant maintenance support device
KR102366216B1 (en) * 2021-04-07 2022-02-23 표현학 System and method for qauality management of smart factory
CN115932530A (en) * 2023-01-09 2023-04-07 东莞市兆恒机械有限公司 Method for calibrating semiconductor detection equipment

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63163287A (en) * 1986-12-26 1988-07-06 Toshiba Corp Management device for manufacture of substrate
JPH05240745A (en) * 1992-02-28 1993-09-17 Hitachi Ltd Method for generating test specification
JPH07149268A (en) * 1993-11-26 1995-06-13 Toyota Motor Corp Nonconformity information input device
JP2001344006A (en) * 2000-03-28 2001-12-14 Toshiba Corp Device and method for manufacture controlling, and program
JP2002050555A (en) * 2000-07-31 2002-02-15 Ricoh Co Ltd Semiconductor manufacturing system
JP2002324109A (en) * 2001-04-26 2002-11-08 Semiconductor Leading Edge Technologies Inc Enhancing system for operating rate of equipment, monitor, supply apparatus for component, enhancing method for the rate, recording medium and program

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63163287A (en) * 1986-12-26 1988-07-06 Toshiba Corp Management device for manufacture of substrate
JPH05240745A (en) * 1992-02-28 1993-09-17 Hitachi Ltd Method for generating test specification
JPH07149268A (en) * 1993-11-26 1995-06-13 Toyota Motor Corp Nonconformity information input device
JP2001344006A (en) * 2000-03-28 2001-12-14 Toshiba Corp Device and method for manufacture controlling, and program
JP2002050555A (en) * 2000-07-31 2002-02-15 Ricoh Co Ltd Semiconductor manufacturing system
JP2002324109A (en) * 2001-04-26 2002-11-08 Semiconductor Leading Edge Technologies Inc Enhancing system for operating rate of equipment, monitor, supply apparatus for component, enhancing method for the rate, recording medium and program

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7643896B2 (en) 2004-06-08 2010-01-05 Ricoh Company, Ltd. Operation-related information display method and operation-related information display system
JP2006172427A (en) * 2004-11-18 2006-06-29 Seiko Epson Corp Inspection instruction sheet creating system, inspection instruction sheet creating device, inspection instruction sheet creating method, inspection instruction sheet creating program, and recording medium
JP2007286818A (en) * 2006-04-14 2007-11-01 Fuji Xerox Co Ltd Inspection system and its inspection method
WO2020241888A1 (en) * 2019-05-30 2020-12-03 旭化成株式会社 Model for predicting occurrence of corrosion under heat insulating material, and plant maintenance support device
JPWO2020241888A1 (en) * 2019-05-30 2021-12-09 旭化成株式会社 Corrosion generation prediction model under heat insulating material and plant maintenance support device
JP7085067B2 (en) 2019-05-30 2022-06-15 旭化成株式会社 Corrosion generation prediction model under heat insulating material and plant maintenance support device
KR102366216B1 (en) * 2021-04-07 2022-02-23 표현학 System and method for qauality management of smart factory
CN115932530A (en) * 2023-01-09 2023-04-07 东莞市兆恒机械有限公司 Method for calibrating semiconductor detection equipment

Also Published As

Publication number Publication date
JP4480947B2 (en) 2010-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006317266A (en) Inspection standard setting system, inspection standard setting method and process inspection device
US7137083B2 (en) Verification of integrated circuit tests using test simulation and integrated circuit simulation with simulated failure
JP3813757B2 (en) Weighted fault coverage evaluation system
JP2004287609A (en) Setting method of product inspection content, changing method of product inspection content, setting system of product inspection content and changing system of product inspection content
JP5017943B2 (en) FAILURE ANALYSIS SUPPORT DEVICE, FAILURE ANALYSIS SUPPORT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM CONTAINING FAILURE ANALYSIS SUPPORT PROGRAM
TW202113599A (en) System for generating detection model according to standard data to confirm soldering state and method thereof
JP4160656B2 (en) Printed circuit board test method
JP2002093875A (en) Method of evaluating hazardous spot information on pattern of semiconductor device
JP7373675B2 (en) Extraction device, extraction method, and storage medium for defect patterns to be inspected
CN112131826B (en) PCB detection evaluation method, evaluation device, electronic equipment and storage medium
JP3192278B2 (en) Printed circuit board wiring test processing method
JPH1164235A (en) Automatic packaging parts inspection system and device and method for setting packaging parts inspecting standard
JPH10275168A (en) Design support method and system therefor
JP2004132805A (en) Inspection method, inspection device, program and recording medium
JPH09171056A (en) Test design method and device, test method and device
JPH0669700A (en) Visual inspection system for printed board unit
JP2006024883A (en) Display method and system for work relating information, display system and method for printed wiring board work relating information, manufacturing method of printed circuit mounted article utilizing just mentioned display method, computer program for executing just mentioned display method, and recording medium capable of recording computer program
JP3696009B2 (en) Semiconductor test apparatus, semiconductor test method, and recording medium
JPH03120485A (en) Fault location estimating system for semiconductor integrated circuit
JPH10170585A (en) Inspection method for circuit board
JP3691925B2 (en) Soldering appearance inspection apparatus and soldering appearance inspection method
JPH10247207A (en) System for estimating inconvenient part
JP4987827B2 (en) Electronic circuit board design support system
JP2003258499A (en) Inspection subject decision unit, program, and method therefor
JPH10199953A (en) Method and apparatus for analyzing yield

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051104

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20051104

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090407

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090605

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090825

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090911

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100316

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100317

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130326

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140326

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees