JP2004245979A - 蛍光顕微鏡 - Google Patents

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雅之 三木
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Abstract

【課題】試料に外光が入射しないように蛍光顕微鏡の全体又は一部を覆う遮光部材を備えた蛍光顕微鏡において、明視野透過照明用光源による明視野観察から蛍光落射用光源による蛍光観察に切り替える際に必要な操作の手間を省く。
【解決手段】遮光部材である暗箱と、暗箱の一部に設けられた開口部を開閉する蓋と、蓋による開口部の開閉状態を検出する開閉検出部50と、蛍光落射用光源22から試料SPに至る光路を開閉するシャッター22aと、開閉検出部50の出力信号に基づいてシャッター22aの駆動を制御する制御回路51とを備える。制御回路51は、開口部が閉じられているときに蛍光落射用光源22からの光を通過させ、かつ、開口部が開けられているときに蛍光落射用光源22からの光を遮るように、シャッター22aの駆動を制御する。
【選択図】 図4

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ステージに載置された試料に対して特定の波長帯域の励起光を照射する蛍光落射用光源を備え、前記励起光によって前記試料から放射された蛍光を光学系で結像して観察する蛍光顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】
この種の蛍光顕微鏡では、特定の波長帯域の励起光を試料に照射し、試料に含まれる蛍光物質から放射される蛍光を光学系で結像して観察する。蛍光は励起光より波長が長いので、対物レンズと接眼レンズとの間に設けたダイクロイックミラーや吸収フィルタによって励起光と蛍光を分離し、蛍光のみが接眼レンズへ向かうようにする。
【0003】
試料中の蛍光物質から放射される蛍光は励起光や外光に比べて強度が非常に低い。励起光の影響をできるだけ小さくするために、通常の照明光と異なり、励起光を上側から対物レンズを通して試料に照射する落射型の蛍光顕微鏡が一般的である。また、外光の影響を抑えて、試料の蛍光部分のみを良好なコントラストで観察できるようにするために、試料を含むステージ部分を覆う遮光部(箱体)を設けることが提案されている(例えば特開2002−207177号公報参照)。あるいは、蛍光顕微鏡の全体を暗箱で覆った状態で蛍光観察を行ってもよい。
【0004】
上記のように、蛍光顕微鏡の全体又は一部を覆うことによって試料に外光が入射しないようにすれば、部屋を暗くしないで観察を行うことができる。この場合に、暗箱又は遮光部材の一部に開閉自在の開口部を設け、この開口部から試料を出し入れすればよい。
【0005】
また、ステージに載置された試料に対して透過照明光を照射するための明視野透過照明用光源を備えた蛍光顕微鏡もある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上記のような暗箱又は遮光部材の開口部を閉じた状態では試料が外部から見えなくなるので、対物レンズと試料との位置関係が分からなくなる。そこで、通常は、開口部を閉じる前に明視野透過照明用光源による明視野観察を行い、位置合わせをしてから開口部を閉じて蛍光観察に切り替えることになる。蛍光観察に切り替えるには、明視野透過照明用光源による試料の照明を停止し、蛍光落射用光源からの励起光で試料を照射する。
【0007】
上記のような明視野透過照明用光源から蛍光落射用光源への切り替え作業は、この光源の切り替え作業に不慣れなユーザにとっては注意力の要る作業である。更に、蛍光落射用光源からの励起光として紫外線を使用する場合は、ユーザの目への悪影響にも気をつける必要がある。
【0008】
本発明は、上記のような課題に鑑み、試料に外光が入射しないように蛍光顕微鏡の全体又は一部を覆う遮光部材を備えた蛍光顕微鏡において、明視野透過照明用光源による明視野観察から蛍光落射用光源による蛍光観察に切り替える際に必要な操作の手間を省くことを目的とする。また、励起光として紫外線を用いる場合の安全性を確保することも本発明の目的である。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明による蛍光顕微鏡は、ステージに載置された試料に対して特定の波長帯域の励起光を照射する蛍光落射用光源を備え、励起光によって試料から放射された蛍光を光学系で結像して観察する蛍光顕微鏡であって、試料に外光が入射しないように蛍光顕微鏡の全体又は一部を覆う箱状の遮光部材と、遮光部材の一部に設けられた開口部を開閉する蓋と、蓋による開口部の開閉状態を検出する開閉検出部と、蛍光落射用光源から試料に至る光路を開閉するシャッターと、開閉検出部の出力信号に基づいてシャッターの駆動を制御する制御回路とを備え、制御回路は、開口部が閉じられているときに蛍光落射用光源からの光を通過させ、かつ、開口部が開けられているときに蛍光落射用光源からの光を遮るように、シャッターの駆動を制御することを特徴とする。
【0010】
このような構成によれば、遮光部材の開口部を開閉する蓋の開閉操作に連動して蛍光落射用光源からの光の通過又は遮断がシャッターによって制御されるので、操作の手間が省かれる。また、遮光部材の開口部が開けられているときには蛍光落射用光源からの光がシャッターによって遮断されるので、励起光として紫外線を用いる場合の安全性が確保される。なお、蛍光落射用光源として使用される水銀ランプやキセノンランプは放電管であり、一旦、通電オフ状態にするとしばらく通電オン状態にすることができない。このため、蛍光落射用光源の通電はオン状態のままにして、シャッターで光を通過させたり遮断したりする方法が採られる。
【0011】
好ましい実施形態において、ステージに載置された試料に対して透過照明光を照射するための明視野透過照明用光源と、明視野透過照明用光源から試料に至る光路を開閉する第2のシャッターを更に備え、制御回路は、開口部が開けられているときに明視野透過照明用光源からの光を通過させ、かつ、開口部が閉じられているときに明視野透過照明用光源からの光を遮るように、第2のシャッターを制御する。
【0012】
このような構成によれば、蛍光落射用光源からの光の通過又は遮断だけでなく、明視野透過照明用光源からの光の通過又は遮断についても、遮光部材の開口部を開閉する蓋の開閉操作に連動して自動的に制御されるので、操作の手間が省かれる。
【0013】
更に好ましい実施形態において、制御回路は、開口部が開けられているときに明視野透過照明用光源を点灯させ、かつ、開口部が閉じられているときに明視野透過照明用光源を消灯させるように制御する。上記の第2のシャッターによる明視野透過照明用光源からの光の通過又は遮断の制御の代わりに、明視野透過照明用光源の点灯又は消灯の制御を行ってもよいし、両方の制御を併用してもよい。明視野透過照明用光源として放電管ではない通常のランプを用いる場合は、透過照明が不要な蛍光観察中は明視野透過照明用光源を消灯したほうが省電力のためにもランプの寿命を伸ばすためにも好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【0015】
図1は、本発明の実施形態に係る蛍光顕微鏡の全体構成を示す図である。図1において、蛍光顕微鏡1は、鏡胴11の上部に接眼レンズ部12を備え、鏡胴11の下部に切り替え可能な複数の対物レンズ部13を備えている。対物レンズ部13の下方には、試料のプレパラート又はシャーレを載置するステージ14が備えられている。
【0016】
ステージ14は固定枠19に取り付けられたXY位置調整つまみ15X及び15Yを回転させることにより、対物レンズ部13の光軸を横切る方向であるX方向及びY方向に個別に移動可能である。ステージ14をXYステージということもある。また、Z方向調整つまみ16を回転させることにより、ステージ14を対物レンズ部13の光軸に沿う方向であるZ方向に移動させることができる。
【0017】
蛍光顕微鏡1の上部にはCCDカメラ17が取り付けられ、CCDカメラ17とコントローラ2がケーブル4で接続されている。また、コントローラ2と表示装置3がケーブル5で接続されている。CCDカメラ17で撮像された試料の画像は、コントローラ2で処理され、表示装置3の画面に表示される。また、光磁気ディスク(MO)のドライブ装置18がコントローラ2に備えられ、撮像された画像のデータをMOに保存しておくことができる。コントローラ2には、ユーザが各種操作や設定を行うためのコンソール6がケーブル7で接続されている。
【0018】
本実施例ではコントローラ2とコンソール6にてユーザが各種操作や設定を行うことができるようにしているが、コントローラ6をパーソナルコンピュータに置き換え、専用のソフトウェアをインストールし、マウス等を用いて各種操作や設定を行うことができるようにしてもよい。
【0019】
図2は、本発明の実施形態に係る蛍光顕微鏡の光学系の概略構成を示す図である。この蛍光顕微鏡1は、透過光による通常の観察を行うための明視野透過照明用光源21と、蛍光観察を行うための蛍光落射用光源22を備えている。明視野透過照明用光源21にはハロゲンランプが使用され、蛍光落射用光源22には水銀ランプ又はキセノンランプが使用される。
【0020】
明視野透過照明用光源21から発した光は、後述するシャッター(第2シャッター)21aを通り、複数枚のフィルタ23を通過して明るさや色調を整えられた後に視野絞り24を通りミラー25で反射して上方に向かう。上方に向かう光は視野絞りを投影する窓レンズ26及び開口絞り27を通過し、コンデンサレンズ28で集光されて、ステージ14に載置された試料SPを下から照明する。
【0021】
透過照明光により得られた試料の像は対物レンズ29(対物レンズ部13)によって無限遠方に投影され、ダイクロイックミラー30を通過し、吸収フィルタ32を通過する。この後、結像レンズ31によって集光され、光路分割用のプリズム33に入射する。プリズム33をそのまま通過する光路の光はCCDカメラ17に向かい、プリズム33で曲げられた光路の光は更に左右の接眼レンズ34(接眼レンズ部12)によって拡大され、ユーザ(観察者)の両眼に至る。
【0022】
他方、蛍光落射用光源22から発した光は、後述するシャッター(第1シャッター)22aを通り、コレクタレンズ37で略平行光とされ、励起フィルタ36を通過して特定の短い波長帯域の励起光とされた後、ダイクロイックミラー30で反射して対物レンズ29に向かう。対物レンズ29を通過した励起光は集光されて、ステージ14に載置された試料SPを上から照射する。試料SPに含まれている蛍光物質が短い波長の励起光で照射されると、長い波長の蛍光を放射する。
【0023】
この蛍光による像は、上述の透過照明光による像と同様に、対物レンズ29、ダイクロイックミラー30、吸収フィルタ32、結像レンズ31及びプリズム33を経てCCDカメラ17に向かい、あるいは更に接眼レンズ34を経て観察者の両眼に至る。
【0024】
蛍光観察において、明視野透過照明用光源21は消灯され、蛍光落射用光源22のみが点灯される。そして、後述のようにして外光の影響も取り除かれる。ダイクロイックミラー30は、通常のハーフミラーの働きだけでなく、短い波長の励起光を通過させずに長い波長の蛍光のみを通過させる働きを有する。更に、吸収フィルタ32の働きによって、短い波長の光成分の通過が阻止される。
【0025】
しかしながら、蛍光の強度は非常に小さいので、周囲を暗くして蛍光による像が良好なコントラストで観察できるようにする必要がある。また、試料SPに含まれている蛍光物質から発する蛍光は減衰していくので、この減衰をできるだけ遅らせるためにも、試料SPに励起光以外の光が当たらないようにすることが望ましい。部屋全体を暗くしてもよいが、CCDカメラ17で撮像した試料の蛍光画像を表示装置3の画面に表示させて観察するような場合は部屋全体を暗くすることが困難である。部屋全体を暗くしたとしても、表示装置3の画面から出る光が試料に影響することになる。
【0026】
そこで、本実施形態では、図3に示すような暗箱(遮光部材に相当する)40を使用して蛍光顕微鏡1の全体を覆う。暗箱40の前面には、開閉自在な蓋41で閉じられた開口部42が設けられている。図3(a)は蓋41を閉じた状態を示し、図3(b)は蓋41を開けた状態を示している。また、蛍光顕微鏡1とコントローラ2とを接続するケーブル4の挿通孔43が暗箱40の側面に設けられている。挿通孔43を設けないで、暗箱40の開放下面からケーブル4を引き出すようにしてもよい。図3(b)に示すように、蓋41を開けた状態で試料SPを開口部42から出し入れし、試料SPを蛍光顕微鏡1のステージ14にセットする。
【0027】
暗箱40の開口部42を閉じた状態では試料SPが外部から見えなくなるので、対物レンズ部13と試料SPとの位置関係が分からなくなる。そこで、通常は、開口部42を閉じる前に明視野透過照明用光源21による明視野観察を行い、位置合わせをしてから開口部42を閉じて蛍光観察に切り替えることになる。蛍光観察に切り替えるには、明視野透過照明用光源21による試料SPの照明を停止し、蛍光落射用光源22からの励起光で試料SPを照射する。
【0028】
本実施形態の蛍光顕微鏡1では、上記のような明視野透過照明用光源21による試料SPの照明から蛍光落射用光源22による試料SPの蛍光励起への切り替えを開口部42(蓋41)の開閉に連動させて自動的に行う。このために、開口部42(蓋41)の開閉状態を検出する近接センサー44a及び44bが暗箱40の本体側と蓋41とに設けられている。近接センサー44a,44bとして、磁気センサー、光センサー、メカニカルスイッチ等を使用することができる。
【0029】
図4は、暗箱の開口部の開閉状態の検出情報に基づいて蛍光落射用光源による試料の蛍光励起のオン・オフ及び明視野透過照明用光源による試料の照明を制御する構成を示すブロック図である。近接センサー44a,44bを含む開閉検出部50の出力信号が制御回路51に与えられている。制御回路51は、開閉検出部50の出力信号にしたがって、第1シャッター駆動回路52、第2シャッター駆動回路53及び照明ランプ点灯回路54を制御する。
【0030】
第1シャッター駆動回路52は、図2に示したように、蛍光落射用光源22から試料に至る光路を開閉するシャッター(第1シャッター)22aを駆動し、第2シャッター駆動回路53は、明視野透過照明用光源21から試料に至る光路を開閉する第2シャッター21aを駆動する。照明ランプ点灯回路54は、明視野透過照明用光源21の点灯回路である。
【0031】
制御回路51は、暗箱40の開口部42が閉じられているときに蛍光落射用光源22からの光を通過させ、かつ、開口部42が開けられているときに蛍光落射用光源22からの光を遮るように、第1シャッター駆動回路52を介して第1シャッター22aの駆動を制御する。また、暗箱40の開口部42が開けられているときに明視野透過照明用光源21からの光を通過させ、かつ、開口部42が閉じられているときに明視野透過照明用光源21からの光を遮るように、第2シャッター駆動回路53を介して第2シャッター21aの駆動を制御する。
【0032】
制御回路51は更に、暗箱40の開口部42が開けられているときに明視野透過照明用光源21を点灯させ、かつ、開口部42が閉じられているときに明視野透過照明用光源21を消灯させるように、照明ランプ点灯回路54を介して明視野透過照明用光源21を制御する。第2シャッター21aによる明視野透過照明用光源21からの光の通過又は遮断の制御と、明視野透過照明用光源21の点灯又は消灯の制御は、いずれか一方のみを行ってもよいし、両方の制御を併用してもよい。
【0033】
明視野透過照明用光源21として放電管ではない通常のランプを用いる場合は、透過照明が不要な蛍光観察中は明視野透過照明用光源21を消灯したほうが省電力のためにもランプの寿命を伸ばすためにも好ましい。一方、シャッターを用いた光の通過又は遮断の制御は試料SPの照明のオン・オフを素早く行うことができるメリットがる。
【0034】
なお、蛍光落射用光源22に使用される水銀ランプやキセノンランプは放電管であり、一旦、通電オフ状態にするとしばらく通電オン状態にすることができない。このため、蛍光落射用光源22については、点灯状態を維持させて、シャッターによる光の通過又は遮断の制御を行う方法が採られる。
【0035】
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は上記の実施形態に限らず、種々の形態で実施することが可能である。例えば、上記の実施形態では暗箱40で蛍光顕微鏡1の全体を覆うが、本発明は、試料を含むステージ部分のみを覆う如く、蛍光顕微鏡1の一部を遮光部材(又は箱体)で覆う構成にも適用することができる。
【0036】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明の蛍光顕微鏡によれば、遮光部材の開口部を開閉する蓋の開閉操作に連動して、蛍光落射用光源による試料の蛍光励起のオン・オフ及び明視野透過照明用光源による試料の照明が制御されるので、操作の手間が省かれると共に、励起光として紫外線を用いる場合の安全性が確保される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る蛍光顕微鏡の全体構成を示す図である。
【図2】本発明の実施形態に係る蛍光顕微鏡の光学系の概略構成を示す図である。
【図3】本発明の実施形態に係る蛍光顕微鏡の全体を覆う暗箱を示す図である。
【図4】暗箱の開口部の開閉状態の検出情報に基づいて蛍光落射用光源による試料の蛍光励起のオン・オフ及び明視野透過照明用光源による試料の照明を制御する構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 蛍光顕微鏡
13 対物レンズ
14 ステージ
21 明視野透過照明用光源
21a 第2シャッター
22 蛍光落射用光源
22a シャッター(第1シャッター)
40 暗箱(遮光部材)
41 蓋
42 開口部
50 開閉検出部
51 制御回路
SP 試料

Claims (3)

  1. ステージに載置された試料に対して特定の波長帯域の励起光を照射する蛍光落射用光源を備え、前記励起光によって前記試料から放射された蛍光を光学系で結像して観察する蛍光顕微鏡であって、
    前記試料に外光が入射しないように蛍光顕微鏡の全体又は一部を覆う箱状の遮光部材と、前記遮光部材の一部に設けられた開口部を開閉する蓋と、前記蓋による前記開口部の開閉状態を検出する開閉検出部と、前記蛍光落射用光源から試料に至る光路を開閉するシャッターと、前記開閉検出部の出力信号に基づいて前記シャッターの駆動を制御する制御回路とを備え、
    前記制御回路は、前記開口部が閉じられているときに前記蛍光落射用光源からの光を通過させ、かつ、前記開口部が開けられているときに前記蛍光落射用光源からの光を遮るように、前記シャッターを制御することを特徴とする蛍光顕微鏡。
  2. 前記ステージに載置された試料に対して透過照明光を照射するための明視野透過照明用光源と、前記明視野透過照明用光源から試料に至る光路を開閉する第2のシャッターを更に備え、前記制御回路は、前記開口部が開けられているときに前記明視野透過照明用光源からの光を通過させ、かつ、前記開口部が閉じられているときに前記明視野透過照明用光源からの光を遮るように、前記第2のシャッターを制御することを特徴とする
    請求項1記載の蛍光顕微鏡。
  3. 前記制御回路は、前記開口部が開けられているときに前記明視野透過照明用光源を点灯させ、かつ、前記開口部が閉じられているときに前記明視野透過照明用光源を消灯させるように制御することを特徴とする
    請求項1又は2記載の蛍光顕微鏡。
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1666947A2 (en) * 2004-12-03 2006-06-07 Keyence Corporation Fluorescence microscope
JP2006162764A (ja) * 2004-12-03 2006-06-22 Keyence Corp 倒立型顕微鏡
WO2006106966A1 (ja) * 2005-04-01 2006-10-12 Olympus Corporation 光測定装置
EP1816503A1 (en) * 2004-11-26 2007-08-08 Olympus Corporation Luminescent sample imaging method, luminescent cell imaging method and object lens
JP2008096407A (ja) * 2006-10-16 2008-04-24 Olympus Corp 微弱光撮像装置
EP1772765B1 (en) * 2005-10-06 2009-01-14 Olympus Corporation Examination apparatus
EP2068188A1 (en) 2007-12-04 2009-06-10 Olympus Corporation Observation apparatus
JP2010066344A (ja) * 2008-09-09 2010-03-25 Nikon Corp 顕微鏡照明光用遮蔽カバー
JP2010102095A (ja) * 2008-10-23 2010-05-06 Olympus Corp 顕微鏡システム、該制御プログラム、及び該制御方法
JP2015114578A (ja) * 2013-12-13 2015-06-22 株式会社島津製作所 光測定装置及びそれに用いられる安全装置
US10161872B2 (en) 2016-04-14 2018-12-25 Shimadzu Corporation Optical measuring device and safety device used therein
JP2020051955A (ja) * 2018-09-27 2020-04-02 富士フイルム株式会社 試料撮影装置
JP2023127100A (ja) * 2022-03-01 2023-09-13 スガ試験機株式会社 光学特性測定器
JP2023127101A (ja) * 2022-03-01 2023-09-13 スガ試験機株式会社 光学特性測定器

Cited By (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1816503A1 (en) * 2004-11-26 2007-08-08 Olympus Corporation Luminescent sample imaging method, luminescent cell imaging method and object lens
US20070223798A1 (en) * 2004-11-26 2007-09-27 Olympus Corporation Luminescent sample imaging method, luminescent cell imaging method and objective lens
EP1816503B1 (en) * 2004-11-26 2017-11-08 Olympus Corporation Luminescent sample imaging method
EP1666947A2 (en) * 2004-12-03 2006-06-07 Keyence Corporation Fluorescence microscope
JP2006162771A (ja) * 2004-12-03 2006-06-22 Keyence Corp 蛍光顕微鏡
JP2006162764A (ja) * 2004-12-03 2006-06-22 Keyence Corp 倒立型顕微鏡
EP1666947A3 (en) * 2004-12-03 2006-10-04 Keyence Corporation Fluorescence microscope
JP4728632B2 (ja) * 2004-12-03 2011-07-20 株式会社キーエンス 倒立型顕微鏡
US7639420B2 (en) 2004-12-03 2009-12-29 Keyence Corporation Fluorescence microscope
US7321462B2 (en) 2004-12-03 2008-01-22 Keyence Corporation Fluorescence microscope
EP1909131A3 (en) * 2004-12-03 2008-06-04 Keyence Corporation Fluorescence microscope
CN100429552C (zh) * 2004-12-03 2008-10-29 株式会社其恩斯 荧光显微镜
WO2006106966A1 (ja) * 2005-04-01 2006-10-12 Olympus Corporation 光測定装置
US7534987B2 (en) 2005-04-01 2009-05-19 Olympus Corporation Light measuring apparatus
JP2006284448A (ja) * 2005-04-01 2006-10-19 Olympus Corp 光測定装置
EP1772765B1 (en) * 2005-10-06 2009-01-14 Olympus Corporation Examination apparatus
JP2008096407A (ja) * 2006-10-16 2008-04-24 Olympus Corp 微弱光撮像装置
EP2068188A1 (en) 2007-12-04 2009-06-10 Olympus Corporation Observation apparatus
US8017903B2 (en) 2007-12-04 2011-09-13 Olympus Corporation Observation apparatus
JP2009139475A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Olympus Corp 観察装置
JP2010066344A (ja) * 2008-09-09 2010-03-25 Nikon Corp 顕微鏡照明光用遮蔽カバー
JP2010102095A (ja) * 2008-10-23 2010-05-06 Olympus Corp 顕微鏡システム、該制御プログラム、及び該制御方法
JP2015114578A (ja) * 2013-12-13 2015-06-22 株式会社島津製作所 光測定装置及びそれに用いられる安全装置
US10161872B2 (en) 2016-04-14 2018-12-25 Shimadzu Corporation Optical measuring device and safety device used therein
JP2020051955A (ja) * 2018-09-27 2020-04-02 富士フイルム株式会社 試料撮影装置
JP7018006B2 (ja) 2018-09-27 2022-02-09 富士フイルム株式会社 試料撮影装置
US11313801B2 (en) 2018-09-27 2022-04-26 Fujifilm Corporation Sample imaging apparatus
JP2023127100A (ja) * 2022-03-01 2023-09-13 スガ試験機株式会社 光学特性測定器
JP2023127101A (ja) * 2022-03-01 2023-09-13 スガ試験機株式会社 光学特性測定器
JP7450953B2 (ja) 2022-03-01 2024-03-18 スガ試験機株式会社 光学特性測定器
JP7498973B2 (ja) 2022-03-01 2024-06-13 スガ試験機株式会社 光学特性測定器

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