JPS60420A - 螢光顕微測光装置 - Google Patents
螢光顕微測光装置Info
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- JPS60420A JPS60420A JP10890883A JP10890883A JPS60420A JP S60420 A JPS60420 A JP S60420A JP 10890883 A JP10890883 A JP 10890883A JP 10890883 A JP10890883 A JP 10890883A JP S60420 A JPS60420 A JP S60420A
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 28
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 abstract 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 7
- 238000002073 fluorescence micrograph Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000005562 fading Methods 0.000 description 2
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- 238000012757 fluorescence staining Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
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- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は螢光顕微測光装置に関し、特に螢光標本を透過
光で観察し、標本の位置決めｔした後に、螢光測光をす
ることができる装置に関する。
光で観察し、標本の位置決めｔした後に、螢光測光をす
ることができる装置に関する。
従来−螢光測光をする場合、標本の細胞の観察及び細胞
の位置決めは螢光観察で行なっている。
の位置決めは螢光観察で行なっている。
例えば、第１図〈示す落射螢光装置が知られている。第
１図において、超高圧水銀灯の光源１より出た元綜は、
レンズ２で集光され、チョッパー３で変調をかけられた
後〜レンズ４により、ピノホール５ビ背後から照明する
。
１図において、超高圧水銀灯の光源１より出た元綜は、
レンズ２で集光され、チョッパー３で変調をかけられた
後〜レンズ４により、ピノホール５ビ背後から照明する
。
上記ピノホール５を出た光は、ダイクロイックミラー６
で反射され、対物レンズ７により、ステージ上の標本８
上にピンホール５の像を結像する。
で反射され、対物レンズ７により、ステージ上の標本８
上にピンホール５の像を結像する。
上記ピノホール５を通過した励起光により励起された標
本８から発する螢光は一対物レンズ７により収れんされ
、ダイクロイックミラー６、吸収フィルター９および測
光フィルター１０により、励起光成分を取除かれ℃、検
出器１１で測光される。
本８から発する螢光は一対物レンズ７により収れんされ
、ダイクロイックミラー６、吸収フィルター９および測
光フィルター１０により、励起光成分を取除かれ℃、検
出器１１で測光される。
上記検出器１１からの出力信号は増幅器１２によって増
幅されて、演算回路１３により所定の処理を行ない螢光
値として出力される。上記落射螢光装置を使用して、螢
光測光を行なうために、標本８の中の細胞を選択し、位
置決めχする場合には、ピンホール５を光路から退避さ
せるか、大きなピノホール５を使用することにより、標
本８の視野全体を励起し、観察用プリズム１４を光路に
挿入して、接眼レンズ１５によって、細胞の螢光像を観
察しながら行なっている。
幅されて、演算回路１３により所定の処理を行ない螢光
値として出力される。上記落射螢光装置を使用して、螢
光測光を行なうために、標本８の中の細胞を選択し、位
置決めχする場合には、ピンホール５を光路から退避さ
せるか、大きなピノホール５を使用することにより、標
本８の視野全体を励起し、観察用プリズム１４を光路に
挿入して、接眼レンズ１５によって、細胞の螢光像を観
察しながら行なっている。
しかしながら、上記従来の装置においては次のような欠
点ビ有している。即ち、細胞像を観察しながら選択し、
位置決めｔする際Ｋ、螢光用の励起光を標本忙照射する
ので、螢光測光ｙ１１−する前に、標本８の螢光染色に
退色が生じてしまい、正確な螢光測光をすることができ
ない。又、螢光像を観察する場合は、従来慣れている透
過観察と見える像カ大巾に異なるので、細胞の選択１位
置決めに手間どり、螢光測光をする場合に抵抗を感じる
。
点ビ有している。即ち、細胞像を観察しながら選択し、
位置決めｔする際Ｋ、螢光用の励起光を標本忙照射する
ので、螢光測光ｙ１１−する前に、標本８の螢光染色に
退色が生じてしまい、正確な螢光測光をすることができ
ない。又、螢光像を観察する場合は、従来慣れている透
過観察と見える像カ大巾に異なるので、細胞の選択１位
置決めに手間どり、螢光測光をする場合に抵抗を感じる
。
さらに、透過観察による細胞診の時の判断のノウハウが
生かされないという欠点を有している。
生かされないという欠点を有している。
本発明は、上記欠点忙鑑みてなされたもので、螢光測光
において一標本を透過光で観察して、標本の選択２位置
決めをした後に、螢光測光を行なうようにした螢光顕微
測光装置を提供することを目的とする。
において一標本を透過光で観察して、標本の選択２位置
決めをした後に、螢光測光を行なうようにした螢光顕微
測光装置を提供することを目的とする。
本発明は、標本の選択２位置決めをするために透過照明
系り有する透過光観察光学系と〜標本に励起光を照射す
る励起光照明系及び標本からの螢光を測光する検出器を
有する螢光測光光学系と、励起光照明系の励起光を標本
に照射するために透過光観察光学系及び螢光測光光学系
の光路に配置された分光割部材と、透過光観察光学系と
螢光測光光学系とを切替えるためのプリズムを有するこ
と罠よって、標本を透過光によって観察して、標本の選
択１位置決めをした後、励起光照明系に裏って励起光χ
標本に照射して一標本から発する螢光を測光することが
できるものである。
系り有する透過光観察光学系と〜標本に励起光を照射す
る励起光照明系及び標本からの螢光を測光する検出器を
有する螢光測光光学系と、励起光照明系の励起光を標本
に照射するために透過光観察光学系及び螢光測光光学系
の光路に配置された分光割部材と、透過光観察光学系と
螢光測光光学系とを切替えるためのプリズムを有するこ
と罠よって、標本を透過光によって観察して、標本の選
択１位置決めをした後、励起光照明系に裏って励起光χ
標本に照射して一標本から発する螢光を測光することが
できるものである。
図面を参照して、本発明の一実施例を説明する。
第１図の部分と同じ部分については、同じ番号が付けら
れている。タングステノヲンブ、ハｐり７ラノプ等の透
過用光源１６から発する光は、レンズ１７により集光し
、４５度忙斜設された全反射ミラー１８によって反射さ
れ、コンテツサーレンズ１９によってステージ上忙載置
されている標本８を下方から照明する。２ｏは透過光用
シャッターで、標本８とコノテンサーレンズ１９０間に
配置されており、透過観察の場合忙は開放されている。
れている。タングステノヲンブ、ハｐり７ラノプ等の透
過用光源１６から発する光は、レンズ１７により集光し
、４５度忙斜設された全反射ミラー１８によって反射さ
れ、コンテツサーレンズ１９によってステージ上忙載置
されている標本８を下方から照明する。２ｏは透過光用
シャッターで、標本８とコノテンサーレンズ１９０間に
配置されており、透過観察の場合忙は開放されている。
上記標本８を透過した光は、対物レンズ７によつ℃収れ
んされ、ダイクロイックミラー６、吸収フィルター９を
通り、観察用プリズム１４ＩＣより光路を曲げられて、
接眼レンズ１５ｙ１１−介して標本８が観察される。上
記観察用プリズム１４は光路に挿脱自在に配置されてお
り、標本８を観察する場合のみ光路に挿入され、螢光測
光を行なう場合には、光路から退けられる。２１は光源
１６の制御電源であり、後述する螢光測光・螢光観察を
行なう場合に検出器１１の保護及び消費電力の低減のた
め罠、光源１６の明るさを制御することができる。
んされ、ダイクロイックミラー６、吸収フィルター９を
通り、観察用プリズム１４ＩＣより光路を曲げられて、
接眼レンズ１５ｙ１１−介して標本８が観察される。上
記観察用プリズム１４は光路に挿脱自在に配置されてお
り、標本８を観察する場合のみ光路に挿入され、螢光測
光を行なう場合には、光路から退けられる。２１は光源
１６の制御電源であり、後述する螢光測光・螢光観察を
行なう場合に検出器１１の保護及び消費電力の低減のた
め罠、光源１６の明るさを制御することができる。
次忙、螢光測光の光学系について説明する。
超高圧水銀灯の光源１から発する光線は一励起光用シャ
ッター２２を通り、レンズ２によって集光され、チョッ
パー３で変調をかけられた後、レンズ４により、標本８
上の励起光による照射面を規制するためのピンホール５
ｙ１１−背後から照明する。
ッター２２を通り、レンズ２によって集光され、チョッ
パー３で変調をかけられた後、レンズ４により、標本８
上の励起光による照射面を規制するためのピンホール５
ｙ１１−背後から照明する。
上記ピノホール５を出た光線は、ダイクロイックミラー
６で反射され、対物レンズ７により、ステージ上に載置
されている標本８上にピンホール５の像を結像する。こ
のピンホール５により励起された標本８から発する螢光
は対物レンズ７により収れんされ、ダイクロイックミラ
ー６によって反射されて、励起光な遮断する吸収フィル
ター９を透過する。この吸収フィルター９を透過した光
線は、検出器用シャッター２３及び測光フィルター１０
％＝通過して、螢光測光を検出する高感度の検出器１１
に入射する。上記検出画工１の出力信号は増幅器１２に
よつ℃増幅された後、演算回路１３によって、所要の処
理が行なわれ、螢光値とし℃出力される。上記励起光用
シャッター２２は標本８の後述する螢光観察及び螢光測
光を行なう場合は開放されており、透過光ＶｃＬる標本
８の観察の場合は閉じられている。さらに、上記検出器
用シャッター２３は螢光測光を行なう場合のみ開放され
ており、透過光による標本８の観餅及び後述する螢光観
察の場合は閉じられており、高感度の検出器１１が透過
光や外米光の入射に裏って破損されるのを防いでいる。
６で反射され、対物レンズ７により、ステージ上に載置
されている標本８上にピンホール５の像を結像する。こ
のピンホール５により励起された標本８から発する螢光
は対物レンズ７により収れんされ、ダイクロイックミラ
ー６によって反射されて、励起光な遮断する吸収フィル
ター９を透過する。この吸収フィルター９を透過した光
線は、検出器用シャッター２３及び測光フィルター１０
％＝通過して、螢光測光を検出する高感度の検出器１１
に入射する。上記検出画工１の出力信号は増幅器１２に
よつ℃増幅された後、演算回路１３によって、所要の処
理が行なわれ、螢光値とし℃出力される。上記励起光用
シャッター２２は標本８の後述する螢光観察及び螢光測
光を行なう場合は開放されており、透過光ＶｃＬる標本
８の観察の場合は閉じられている。さらに、上記検出器
用シャッター２３は螢光測光を行なう場合のみ開放され
ており、透過光による標本８の観餅及び後述する螢光観
察の場合は閉じられており、高感度の検出器１１が透過
光や外米光の入射に裏って破損されるのを防いでいる。
さらＫ、螢光観察を行なう場合（ついて説明する。上記
螢光測光の状態で、観察用プリズム１４を光路に挿入す
ることによって、標本８の螢光像を接眼レンズ１５を介
して観察することができる。
螢光測光の状態で、観察用プリズム１４を光路に挿入す
ることによって、標本８の螢光像を接眼レンズ１５を介
して観察することができる。
上記標本８は螢光測光及び観察用の染色と透過光による
観察のための染色との二種類の染色を施しておく必要が
ある。例えば、）オイルグツ染色のように、螢光測光及
び観察用の染色が、可視域で吸収を持つ場合は、透過光
による観察のために使用することができる。また、透過
光による観察を位相差検鏡にして透過用の染色火省くこ
とも可能である。位相差検鏡としては対物外位相差、フ
ンデフ１す外信相差も可能である。
観察のための染色との二種類の染色を施しておく必要が
ある。例えば、）オイルグツ染色のように、螢光測光及
び観察用の染色が、可視域で吸収を持つ場合は、透過光
による観察のために使用することができる。また、透過
光による観察を位相差検鏡にして透過用の染色火省くこ
とも可能である。位相差検鏡としては対物外位相差、フ
ンデフ１す外信相差も可能である。
第３図は透過光による観察によって〜標本の選択１位置
決め火しながら、螢光測光に切換える場合のシャッター
関係の開閉を主としたフｐ−の一例を示しており、特に
高感度の検出器の保護に注意をしたフローを示している
。
決め火しながら、螢光測光に切換える場合のシャッター
関係の開閉を主としたフｐ−の一例を示しており、特に
高感度の検出器の保護に注意をしたフローを示している
。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種々の
変形が考えられる。観察用プリズムとじて半透過用プリ
ズムを使用すれば、螢光像観察をしながら、螢光測光も
同時に行なうこともできる。
変形が考えられる。観察用プリズムとじて半透過用プリ
ズムを使用すれば、螢光像観察をしながら、螢光測光も
同時に行なうこともできる。
さらに、励起光用シャッターもチョッパー羽根が光路を
遮った位置で止めるようにすれば、励起光用シャッター
を省略することもできろ。さらに−螢光用のダイクルイ
ックミラー及び吸収フィルターを介して透過光による像
に色づきが発生する場合には、透過光に！る観察の際に
は、ダイクロ、イックミラー及び吸収フィルターを光路
から退けることもでとる。さらに本発明の装置は螢光測
光を目的としない場合には、螢光観察と透過観察を切替
えながら観察する目的忙も使用できる。さらに、上記シ
ャッターの開閉、光源の制御をマイコンを使用して制御
するようにすれば、制御も容易で、誤動作を防ぐことも
できる。さらに、ダイクルイックミラーの代りに、光分
割部材としてプリズムを使用し℃もよい。
遮った位置で止めるようにすれば、励起光用シャッター
を省略することもできろ。さらに−螢光用のダイクルイ
ックミラー及び吸収フィルターを介して透過光による像
に色づきが発生する場合には、透過光に！る観察の際に
は、ダイクロ、イックミラー及び吸収フィルターを光路
から退けることもでとる。さらに本発明の装置は螢光測
光を目的としない場合には、螢光観察と透過観察を切替
えながら観察する目的忙も使用できる。さらに、上記シ
ャッターの開閉、光源の制御をマイコンを使用して制御
するようにすれば、制御も容易で、誤動作を防ぐことも
できる。さらに、ダイクルイックミラーの代りに、光分
割部材としてプリズムを使用し℃もよい。
本発明によれば、透過観察と螢光測光及び観察を切替え
て使用することができるので、透過観察で螢光標本の選
択１位置決めを行なった後に、螢光測光ｆＸ−すること
ができるので、螢光標本の退色を防ぐことができる。又
、螢光観察だけでは得られない形態的情報を透過観察に
よって得ることがでとるので、従来の透過観察による細
胞診のミラー・つ火螢光測光のデータと合わせて活用す
ることができる。
て使用することができるので、透過観察で螢光標本の選
択１位置決めを行なった後に、螢光測光ｆＸ−すること
ができるので、螢光標本の退色を防ぐことができる。又
、螢光観察だけでは得られない形態的情報を透過観察に
よって得ることがでとるので、従来の透過観察による細
胞診のミラー・つ火螢光測光のデータと合わせて活用す
ることができる。
第１図は従来例の光学系、第２図は本発明の一実施例の
光学系、第３図は第２図の光学系を使用した操作の７０
−チャートである。 第１図 第２ 図 第３ 図
光学系、第３図は第２図の光学系を使用した操作の７０
−チャートである。 第１図 第２ 図 第３ 図
Claims (1)
- 螢光顕微測光装置において、標本の選択２位置決めをす
るために透過照明系を有する透過光観察光学系と、標本
に励起光を照射する励起光照明系及び標本からの螢光を
測光する検出器を有する螢光測光光学系と、励起光照明
系の励起光を標本に照射するために透過光観察光学系及
び螢光測光光学系の光路に配置された光分割部材と、透
過光観察光学系と螢光測光光学系とを切替えるのに使用
するためのプリズムを有することを特徴とする螢光顕微
測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10890883A JPS60420A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | 螢光顕微測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10890883A JPS60420A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | 螢光顕微測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60420A true JPS60420A (ja) | 1985-01-05 |
| JPH055083B2 JPH055083B2 (ja) | 1993-01-21 |
Family
ID=14496680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10890883A Granted JPS60420A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | 螢光顕微測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60420A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61144444U (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-06 | ||
| JPS6216911U (ja) * | 1985-07-16 | 1987-01-31 | ||
| EP0510329A2 (en) * | 1991-04-26 | 1992-10-28 | Olympus Optical Co., Ltd. | Photographing apparatus for microscopes |
| JPH10206743A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Olympus Optical Co Ltd | 蛍光顕微鏡 |
| US6025956A (en) * | 1995-12-26 | 2000-02-15 | Olympus Optical Co., Ltd. | Incident-light fluorescence microscope |
| CN1112487C (zh) * | 1996-08-28 | 2003-06-25 | 王国奋 | 沉管预制钢砼扩底桩 |
| EP1340973A1 (en) * | 2002-01-16 | 2003-09-03 | Hitachi High-Technologies Corporation | Light measuring device |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53122489A (en) * | 1977-04-01 | 1978-10-25 | Olympus Optical Co Ltd | Cancer diagnosis apparatus by fluorescent polarization photometric microscope |
| JPS53122471A (en) * | 1977-04-01 | 1978-10-25 | Olympus Optical Co Ltd | Fluorescent photometric microscope |
-
1983
- 1983-06-17 JP JP10890883A patent/JPS60420A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53122489A (en) * | 1977-04-01 | 1978-10-25 | Olympus Optical Co Ltd | Cancer diagnosis apparatus by fluorescent polarization photometric microscope |
| JPS53122471A (en) * | 1977-04-01 | 1978-10-25 | Olympus Optical Co Ltd | Fluorescent photometric microscope |
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| JPS61144444U (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-06 | ||
| JPS6216911U (ja) * | 1985-07-16 | 1987-01-31 | ||
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| CN1112487C (zh) * | 1996-08-28 | 2003-06-25 | 王国奋 | 沉管预制钢砼扩底桩 |
| JPH10206743A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Olympus Optical Co Ltd | 蛍光顕微鏡 |
| EP1340973A1 (en) * | 2002-01-16 | 2003-09-03 | Hitachi High-Technologies Corporation | Light measuring device |
| US6839134B2 (en) | 2002-01-16 | 2005-01-04 | Hitachi, Ltd. | Light measuring device avoiding influence of fluorescence or phosphorescence of lenses and filters in optical path |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH055083B2 (ja) | 1993-01-21 |
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