JPH07146237A - 顕微測光装置 - Google Patents
顕微測光装置Info
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- JPH07146237A JPH07146237A JP29181393A JP29181393A JPH07146237A JP H07146237 A JPH07146237 A JP H07146237A JP 29181393 A JP29181393 A JP 29181393A JP 29181393 A JP29181393 A JP 29181393A JP H07146237 A JPH07146237 A JP H07146237A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、受光部の感度をパルス光により極
大化する光量に合わせる必要をなくし、測定感度の向上
及び受光部の保護を図ることにある。 【構成】 励起光を試料に照射して試料からの光量を受
光部が測定すると共に、パルス光を試料に入射してパル
ス光の入射前後で変化する光量を受光部が測定する顕微
測光装置において、パルス光を入射するとき、パルス光
により極大化する光量から受光部（１０）を保護する受
光部保護手段（９，１１，１２）を備えた顕微測光装
置。
大化する光量に合わせる必要をなくし、測定感度の向上
及び受光部の保護を図ることにある。 【構成】 励起光を試料に照射して試料からの光量を受
光部が測定すると共に、パルス光を試料に入射してパル
ス光の入射前後で変化する光量を受光部が測定する顕微
測光装置において、パルス光を入射するとき、パルス光
により極大化する光量から受光部（１０）を保護する受
光部保護手段（９，１１，１２）を備えた顕微測光装
置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、パルス光の照射前後に
おける試料内のカルシウムイオン濃度の変化を測定する
顕微測光装置に係わり、特にパルス光照射時における試
料からの過大な光から測定系を保護すると共に、測光感
度を向上し得る顕微測光装置に関する。
おける試料内のカルシウムイオン濃度の変化を測定する
顕微測光装置に係わり、特にパルス光照射時における試
料からの過大な光から測定系を保護すると共に、測光感
度を向上し得る顕微測光装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、細胞内の微細な現象を観察する
には蛍光による観察法が良く知られており、例えば細胞
（以下、試料という）内のカルシウムイオン濃度を測定
するカルシウムイオン濃度測定法が広く用いられてい
る。
には蛍光による観察法が良く知られており、例えば細胞
（以下、試料という）内のカルシウムイオン濃度を測定
するカルシウムイオン濃度測定法が広く用いられてい
る。
【０００３】この種のカルシウムイオン濃度測定では、
操作者により、カルシウムイオンに結合するイオン感受
性の蛍光指示薬が試料に注入される。なお、蛍光指示薬
としては、株式会社同仁化学研究所製の商標名ｆｌｕｏ
−３が使用可能である。
操作者により、カルシウムイオンに結合するイオン感受
性の蛍光指示薬が試料に注入される。なお、蛍光指示薬
としては、株式会社同仁化学研究所製の商標名ｆｌｕｏ
−３が使用可能である。
【０００４】続いて、試料は試料台に載置され、励起光
源から励起光が照射される。このとき、カルシウムイオ
ンに結合した蛍光指示薬は蛍光を発生し、その蛍光強度
はカルシウムイオン濃度の分布に対応して変化する。
源から励起光が照射される。このとき、カルシウムイオ
ンに結合した蛍光指示薬は蛍光を発生し、その蛍光強度
はカルシウムイオン濃度の分布に対応して変化する。
【０００５】従って、このような蛍光強度を試料の全体
にわたってフォトマルチプライヤが測光し、これによ
り、試料内の遊離カルシウムイオン濃度を測定してい
る。なお、フォトマルチプライヤは入射可能な光量に限
度があり、この限度を越えると、焼損してしまうもので
ある。このため、この種の測定では、入射光量が予め設
定された光量を越えたときに、入射光を遮断してフォト
マルチプライヤを過入射光から保護している。
にわたってフォトマルチプライヤが測光し、これによ
り、試料内の遊離カルシウムイオン濃度を測定してい
る。なお、フォトマルチプライヤは入射可能な光量に限
度があり、この限度を越えると、焼損してしまうもので
ある。このため、この種の測定では、入射光量が予め設
定された光量を越えたときに、入射光を遮断してフォト
マルチプライヤを過入射光から保護している。
【０００６】一方、新たな技術として、試料内にcaged
カルシウムイオン試薬を注入し、これに紫外光を照射す
ることにより、試料内のカルシウムイオン濃度を変化さ
せるというcaged カルシウムイオン濃度測定技術が開発
され、この測定のために顕微測光装置が用いられてい
る。なお、caged カルシウムイオン試薬としては、株式
会社同仁化学研究所製の商標名Ｎｉｔｒ−５が使用可能
である。
カルシウムイオン試薬を注入し、これに紫外光を照射す
ることにより、試料内のカルシウムイオン濃度を変化さ
せるというcaged カルシウムイオン濃度測定技術が開発
され、この測定のために顕微測光装置が用いられてい
る。なお、caged カルシウムイオン試薬としては、株式
会社同仁化学研究所製の商標名Ｎｉｔｒ−５が使用可能
である。
【０００７】この顕微測光装置では、操作者の操作によ
り、遊離カルシウムイオンを生じさせるためのcaged カ
ルシウムイオン試薬及びカルシウムイオンを観察するた
めの蛍光指示薬が予め試料に注入されている。また、注
入完了後、試料は試料台に載置される。
り、遊離カルシウムイオンを生じさせるためのcaged カ
ルシウムイオン試薬及びカルシウムイオンを観察するた
めの蛍光指示薬が予め試料に注入されている。また、注
入完了後、試料は試料台に載置される。
【０００８】まず、顕微測光装置は、前述同様に、この
試料に励起光を照射して試料内のカルシウムイオンから
蛍光を発生させ、この蛍光をフォトマルチプライヤ等の
受光部により測光してカルシウムイオン濃度を測定す
る。
試料に励起光を照射して試料内のカルシウムイオンから
蛍光を発生させ、この蛍光をフォトマルチプライヤ等の
受光部により測光してカルシウムイオン濃度を測定す
る。
【０００９】次に、顕微測光装置は、励起光を照射した
まま、この試料に紫外線パルスを照射し、試料内のcage
d カルシウムイオンのケージ（cage）を破壊して、該カ
ルシウムイオンを試料内に広げると共に、蛍光指示薬に
結合させて蛍光を発生させる。
まま、この試料に紫外線パルスを照射し、試料内のcage
d カルシウムイオンのケージ（cage）を破壊して、該カ
ルシウムイオンを試料内に広げると共に、蛍光指示薬に
結合させて蛍光を発生させる。
【００１０】これにより、顕微測光装置は、紫外線パル
スの照射前後における蛍光の強度変化をフォトマルチプ
ライヤで測光し、ケージを破壊されたカルシウムイオン
の濃度を測定している。
スの照射前後における蛍光の強度変化をフォトマルチプ
ライヤで測光し、ケージを破壊されたカルシウムイオン
の濃度を測定している。
【００１１】なお、紫外線パルスを照射するとき、もと
もと試料内に存在するカルシウムイオンＣａ2+と蛍光指
示薬との組合せからも蛍光が発生するため、蛍光強度が
非常に大きなピーク値を示す。このような紫外線パルス
によるピーク値は意味のない値であるが、フォトマルチ
プライヤは試料から発生する蛍光全体を測光するため、
予め感度がピーク値で遮断されない大きさに設定されて
いる。
もと試料内に存在するカルシウムイオンＣａ2+と蛍光指
示薬との組合せからも蛍光が発生するため、蛍光強度が
非常に大きなピーク値を示す。このような紫外線パルス
によるピーク値は意味のない値であるが、フォトマルチ
プライヤは試料から発生する蛍光全体を測光するため、
予め感度がピーク値で遮断されない大きさに設定されて
いる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以上の
ような顕微測光装置では、フォトマルチプライヤを保護
する観点からフォトマルチプライヤの感度が紫外線パル
スによるピーク値でしゃ断されない大きさに設定されて
いるため、測光感度を大きくとれず、紫外線パルスの照
射前後における蛍光の強度変化を測光することが困難と
なる問題がある。
ような顕微測光装置では、フォトマルチプライヤを保護
する観点からフォトマルチプライヤの感度が紫外線パル
スによるピーク値でしゃ断されない大きさに設定されて
いるため、測光感度を大きくとれず、紫外線パルスの照
射前後における蛍光の強度変化を測光することが困難と
なる問題がある。
【００１３】本発明は上記実情を考慮してなされたもの
で、受光部の感度をパルス光により極大化する光量に合
わせる必要をなくし、測定感度の向上を図ると共に、受
光部を保護し得る顕微測光装置を提供することを目的と
する。
で、受光部の感度をパルス光により極大化する光量に合
わせる必要をなくし、測定感度の向上を図ると共に、受
光部を保護し得る顕微測光装置を提供することを目的と
する。
【００１４】
【課題を解決するための手段】請求項１に対応する発明
は、励起光を試料に照射して当該試料からの光量を受光
部が測定すると共に、パルス光を前記試料に入射して当
該パルス光の入射前後で変化する前記光量を前記受光部
が測定する顕微測光装置において、前記パルス光を入射
するとき、当該パルス光により極大化する前記光量から
前記受光部を保護する受光部保護手段を備えた顕微測光
装置である。
は、励起光を試料に照射して当該試料からの光量を受光
部が測定すると共に、パルス光を前記試料に入射して当
該パルス光の入射前後で変化する前記光量を前記受光部
が測定する顕微測光装置において、前記パルス光を入射
するとき、当該パルス光により極大化する前記光量から
前記受光部を保護する受光部保護手段を備えた顕微測光
装置である。
【００１５】また、請求項２に対応する発明は、請求項
１に対応する顕微測光装置において、前記受光部保護手
段が、前記試料からの光を遮断又は減少させる遮断部を
備えた顕微測光装置である。
１に対応する顕微測光装置において、前記受光部保護手
段が、前記試料からの光を遮断又は減少させる遮断部を
備えた顕微測光装置である。
【００１６】さらに、請求項３に対応する発明は、請求
項１に対応する顕微測光装置において、前記受光部保護
手段が、前記受光部の感度を低下させる感度調整部を備
えた顕微測光装置である。
項１に対応する顕微測光装置において、前記受光部保護
手段が、前記受光部の感度を低下させる感度調整部を備
えた顕微測光装置である。
【００１７】
【作用】従って、請求項１に対応する発明は以上のよう
な手段を講じたことにより、パルス光を入射するとき、
受光部保護手段がパルス光により極大化する光量から受
光部を保護するので、受光部の感度をパルス光により極
大化する光量に合わせる必要をなくし、測定感度の向上
を図ることができると共に、受光部を保護することがで
きる。
な手段を講じたことにより、パルス光を入射するとき、
受光部保護手段がパルス光により極大化する光量から受
光部を保護するので、受光部の感度をパルス光により極
大化する光量に合わせる必要をなくし、測定感度の向上
を図ることができると共に、受光部を保護することがで
きる。
【００１８】また、請求項２に対応する発明は、上記受
光部保護手段が遮断部を備え、この遮断部が試料からの
光を遮断又は減少させるので、請求項１に対応する作用
に加え、高感度に設定された受光部の安定状態を乱すこ
となく、容易な構成で実現することができる。
光部保護手段が遮断部を備え、この遮断部が試料からの
光を遮断又は減少させるので、請求項１に対応する作用
に加え、高感度に設定された受光部の安定状態を乱すこ
となく、容易な構成で実現することができる。
【００１９】さらに、請求項３に対応する発明は、上記
受光部保護手段が感度調整部を備え、この感度調整部が
受光部の感度を低下させるので、請求項１に対応する作
用に加え、特に新たな設置スペースを必要とせず、容易
な構成で実現することができる。
受光部保護手段が感度調整部を備え、この感度調整部が
受光部の感度を低下させるので、請求項１に対応する作
用に加え、特に新たな設置スペースを必要とせず、容易
な構成で実現することができる。
【００２０】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図１は本発明の第１の実施例に係る顕微測
光装置の構成を示す模式図である。この顕微測光装置に
おいては、励起光源１で発生する励起光が照明光路２を
通り、ダイクロイックミラー３及び対物レンズ４を経て
試料５に入射される。なお、照明光路２は、例えばハー
フミラー２ａ及びレンズ２ｂからなり、パルス光源６で
発生する紫外光パルスを試料５への入射光軸に接続可能
なものである。また、試料５は細胞であって、前述した
通り、蛍光指示薬及びcaged カルシウムイオン試薬が予
め注入されている。
て説明する。図１は本発明の第１の実施例に係る顕微測
光装置の構成を示す模式図である。この顕微測光装置に
おいては、励起光源１で発生する励起光が照明光路２を
通り、ダイクロイックミラー３及び対物レンズ４を経て
試料５に入射される。なお、照明光路２は、例えばハー
フミラー２ａ及びレンズ２ｂからなり、パルス光源６で
発生する紫外光パルスを試料５への入射光軸に接続可能
なものである。また、試料５は細胞であって、前述した
通り、蛍光指示薬及びcaged カルシウムイオン試薬が予
め注入されている。
【００２１】試料５から発生する蛍光は、対物レンズ
４、ダイクロイックミラー３、反射ミラー７、測光絞り
８及びシャッター部９を通って受光部としてのフォトマ
ルチプライヤ１０に入射される。
４、ダイクロイックミラー３、反射ミラー７、測光絞り
８及びシャッター部９を通って受光部としてのフォトマ
ルチプライヤ１０に入射される。
【００２２】一方、パルス光源６はパルス光制御回路１
１に制御されて紫外線パルスを発生するものであり、パ
ルス光源６で発生した紫外線パルスは、前述した通り、
照明光路２を介して試料５への入射光軸に接続される。
１に制御されて紫外線パルスを発生するものであり、パ
ルス光源６で発生した紫外線パルスは、前述した通り、
照明光路２を介して試料５への入射光軸に接続される。
【００２３】パルス光制御回路１１は所定のパルス幅を
もつ紫外線パルスを発生させるようにパルス光源６を制
御するものであり、パルス光源６による紫外線パルスの
発生に同期してフォトマル保護信号をシャッター制御回
路１２に送出する機能をもっている。また、パルス光制
御回路１１は、例えば遅延回路を用いた時間調節機構を
有し、この時間調節機構により、紫外光パルスに対応し
てフォトマル保護信号のシャッター制御回路１２への送
出タイミング及び送出時間を変更可能としている。
もつ紫外線パルスを発生させるようにパルス光源６を制
御するものであり、パルス光源６による紫外線パルスの
発生に同期してフォトマル保護信号をシャッター制御回
路１２に送出する機能をもっている。また、パルス光制
御回路１１は、例えば遅延回路を用いた時間調節機構を
有し、この時間調節機構により、紫外光パルスに対応し
てフォトマル保護信号のシャッター制御回路１２への送
出タイミング及び送出時間を変更可能としている。
【００２４】シャッター制御回路１２は、パルス光制御
回路１１からフォトマル保護信号を受けたとき、測光絞
り８及びフォトマルチプライヤ１０の間に開閉自在に配
置されたシャッター部９を閉状態に制御し、パルス光制
御回路１１からフォトマル保護信号を受けないとき、シ
ャッター部９を開状態に制御するものである。なお、パ
ルス光制御回路１１、シャッター制御回路１２及びシャ
ッター部９は受光部保護手段を構成している。また、シ
ャッター部９は、紫外線パルスの発生に同期して試料５
からの蛍光を減少させるものでもよく、例えばＮＤフィ
ルタを光路に挿脱自在に保持するものとしてもよい。
回路１１からフォトマル保護信号を受けたとき、測光絞
り８及びフォトマルチプライヤ１０の間に開閉自在に配
置されたシャッター部９を閉状態に制御し、パルス光制
御回路１１からフォトマル保護信号を受けないとき、シ
ャッター部９を開状態に制御するものである。なお、パ
ルス光制御回路１１、シャッター制御回路１２及びシャ
ッター部９は受光部保護手段を構成している。また、シ
ャッター部９は、紫外線パルスの発生に同期して試料５
からの蛍光を減少させるものでもよく、例えばＮＤフィ
ルタを光路に挿脱自在に保持するものとしてもよい。
【００２５】フォトマルチプライヤ１０は、所定の動作
電圧を発生する高電圧源１３に接続され、この高電圧源
１３から受ける動作電圧に基づいて光電変換及び電気信
号の増幅を行うものであり、シャッター部９を通過した
蛍光を電気信号に変換して増幅し、この増幅された電気
信号を測定部１４に送出する機能をもっている。
電圧を発生する高電圧源１３に接続され、この高電圧源
１３から受ける動作電圧に基づいて光電変換及び電気信
号の増幅を行うものであり、シャッター部９を通過した
蛍光を電気信号に変換して増幅し、この増幅された電気
信号を測定部１４に送出する機能をもっている。
【００２６】測定部はフォトマルチプライヤ１０からの
電気信号に基づいて、カルシウムイオン濃度を測定する
機能をもっている。次に、このような顕微測光装置の動
作を図２を用いて説明する。
電気信号に基づいて、カルシウムイオン濃度を測定する
機能をもっている。次に、このような顕微測光装置の動
作を図２を用いて説明する。
【００２７】いま、励起光源１で発生した励起光が試料
５に照射されて試料５から蛍光が発生し、この蛍光がフ
ォトマルチプライヤ１０を介して蛍光強度（光量）に対
応した値の電気信号に変換増幅される。
５に照射されて試料５から蛍光が発生し、この蛍光がフ
ォトマルチプライヤ１０を介して蛍光強度（光量）に対
応した値の電気信号に変換増幅される。
【００２８】続いて、パルス光制御回路１１は、図２
（ａ）に示すように、時刻ｔ１においてパルス光源６か
ら紫外線パルスを発生させると共に、フォトマル保護信
号をシャッター制御回路１２に送出する。
（ａ）に示すように、時刻ｔ１においてパルス光源６か
ら紫外線パルスを発生させると共に、フォトマル保護信
号をシャッター制御回路１２に送出する。
【００２９】この紫外線パルスは、図２（ｂ）に示すよ
うに試料５から発生する蛍光の強度の極大化を引き起こ
す。一方、シャッター制御回路１２は、フォトマル保護
信号に基づいて、この極大化された蛍光をフォトマルチ
プライヤ１０に入射させないように、シャッター部９を
閉状態に制御する。
うに試料５から発生する蛍光の強度の極大化を引き起こ
す。一方、シャッター制御回路１２は、フォトマル保護
信号に基づいて、この極大化された蛍光をフォトマルチ
プライヤ１０に入射させないように、シャッター部９を
閉状態に制御する。
【００３０】よって、フォトマルチプライヤ１０は、図
２（ｃ）に示すように、紫外線パルスの発生中、試料５
で発生する極大化した蛍光から保護される。また、これ
により、フォトマルチプライヤ１０では、感度を蛍光強
度のピーク値でしゃ断されない大きさに設定する必要が
なくなり、感度が紫外線パルス照射終了後の蛍光強度の
値でしゃ断されないように設定される。ここで、紫外線
パルス終了後の蛍光強度の値がピーク値よりも大幅に小
さい値であるため、フォトマルチプライヤの感度を向上
させることができる。
２（ｃ）に示すように、紫外線パルスの発生中、試料５
で発生する極大化した蛍光から保護される。また、これ
により、フォトマルチプライヤ１０では、感度を蛍光強
度のピーク値でしゃ断されない大きさに設定する必要が
なくなり、感度が紫外線パルス照射終了後の蛍光強度の
値でしゃ断されないように設定される。ここで、紫外線
パルス終了後の蛍光強度の値がピーク値よりも大幅に小
さい値であるため、フォトマルチプライヤの感度を向上
させることができる。
【００３１】以下、前述同様に、フォトマルチプライヤ
１０は試料５からの蛍光を電気信号に変換してこの電気
信号を測定部１４に送出し、測定部１４はこの電気信号
に基づいてカルシウムイオン濃度を測定する。
１０は試料５からの蛍光を電気信号に変換してこの電気
信号を測定部１４に送出し、測定部１４はこの電気信号
に基づいてカルシウムイオン濃度を測定する。
【００３２】上述したように第１の実施例によれば、紫
外線パルスを試料５に入射するとき、パルス光制御回路
１１がフォトマル保護信号をシャッター制御回路１２に
送出してシャッター部９を閉状態に制御することによ
り、紫外線パルスにより極大化する蛍光強度からフォト
マルチプライヤ１０を保護するようにしたので、受光部
の感度をパルス光により極大化する光量に合わせる必要
をなくし、測定感度の向上を図ることができると共に、
フォトマルチプライヤ１０を保護することができる。
外線パルスを試料５に入射するとき、パルス光制御回路
１１がフォトマル保護信号をシャッター制御回路１２に
送出してシャッター部９を閉状態に制御することによ
り、紫外線パルスにより極大化する蛍光強度からフォト
マルチプライヤ１０を保護するようにしたので、受光部
の感度をパルス光により極大化する光量に合わせる必要
をなくし、測定感度の向上を図ることができると共に、
フォトマルチプライヤ１０を保護することができる。
【００３３】また、第１の実施例によれば、シャッター
部９が試料５からの光を遮断させるという簡易な構成に
したので、高感度に設定された受光部の安定状態を乱す
ことなく、容易に実現することができる。なお、シャッ
ター部９がＮＤフィルタを光路に挿脱する構成として
も、同様の効果を得ることができる。
部９が試料５からの光を遮断させるという簡易な構成に
したので、高感度に設定された受光部の安定状態を乱す
ことなく、容易に実現することができる。なお、シャッ
ター部９がＮＤフィルタを光路に挿脱する構成として
も、同様の効果を得ることができる。
【００３４】次に、本発明の第２の実施例に係る顕微測
光装置について説明する。図３はこの顕微測光装置の構
成を示す模式図であり、図１と同一部分には同一符号を
付してその詳しい説明は省略し、ここでは異なる部分に
ついてのみ述べる。
光装置について説明する。図３はこの顕微測光装置の構
成を示す模式図であり、図１と同一部分には同一符号を
付してその詳しい説明は省略し、ここでは異なる部分に
ついてのみ述べる。
【００３５】すなわち、本実施例装置は、従来の装置と
比べて新たな設置スペースを必要とせずに、図１に示す
装置と同様の効果を奏するものであって、具体的には図
１に示す装置に対し、シャッター部９及びシャッター制
御回路１２を省略し、高電圧源１３に代え、パルス光制
御回路１１からのフォトマル保護信号に基づいて、動作
電圧を可変してフォトマルチプライヤ１０に供給する高
電圧制御回路２１を設けたものである。なお、パルス光
制御回路１１及び高電圧制御回路２１は受光部保護手段
を構成し、高電圧制御回路２１は感度調整部を構成して
いる。
比べて新たな設置スペースを必要とせずに、図１に示す
装置と同様の効果を奏するものであって、具体的には図
１に示す装置に対し、シャッター部９及びシャッター制
御回路１２を省略し、高電圧源１３に代え、パルス光制
御回路１１からのフォトマル保護信号に基づいて、動作
電圧を可変してフォトマルチプライヤ１０に供給する高
電圧制御回路２１を設けたものである。なお、パルス光
制御回路１１及び高電圧制御回路２１は受光部保護手段
を構成し、高電圧制御回路２１は感度調整部を構成して
いる。
【００３６】ここで、前述した通り、励起光源１で発生
した励起光が試料５に照射されて試料５から蛍光が発生
し、この蛍光がフォトマルチプライヤ１０を介して蛍光
強度に対応した値の電気信号に変換増幅される。
した励起光が試料５に照射されて試料５から蛍光が発生
し、この蛍光がフォトマルチプライヤ１０を介して蛍光
強度に対応した値の電気信号に変換増幅される。
【００３７】続いて、パルス光制御回路１１は、図４
（ｄ）に示すように、時刻ｔ２においてパルス光源６か
ら紫外線パルスを発生させると共に、フォトマル保護信
号を高電圧制御回路２１に送出する。
（ｄ）に示すように、時刻ｔ２においてパルス光源６か
ら紫外線パルスを発生させると共に、フォトマル保護信
号を高電圧制御回路２１に送出する。
【００３８】この紫外線パルスは、図４（ｆ）に示すよ
うに試料５から発生する蛍光の強度の極大化を引き起こ
す。一方、高電圧制御回路１３は、フォトマル保護信号
に基づいて、蛍光強度のピークの際にフォトマルチプラ
イヤ１０の動作電圧を減少させる。
うに試料５から発生する蛍光の強度の極大化を引き起こ
す。一方、高電圧制御回路１３は、フォトマル保護信号
に基づいて、蛍光強度のピークの際にフォトマルチプラ
イヤ１０の動作電圧を減少させる。
【００３９】よって、フォトマルチプライヤ１０は、紫
外線パルスの発生中、動作電圧の減少に伴って感度が低
下するので、試料５で発生する極大化した蛍光から保護
され、図４（ｇ）に示すように、蛍光を変換増幅した電
気信号を測定部１４に送出する。
外線パルスの発生中、動作電圧の減少に伴って感度が低
下するので、試料５で発生する極大化した蛍光から保護
され、図４（ｇ）に示すように、蛍光を変換増幅した電
気信号を測定部１４に送出する。
【００４０】測定部１４はこの電気信号に基づいて、試
料５のカルシウムイオン濃度を測定する。上述したよう
に第２の実施例によれば、紫外線パルスを試料５に入射
するとき、パルス光制御回路１１がフォトマル保護信号
を高電圧制御回路２１に送出してフォトマルチプライヤ
１０の感度を低下させることにより、紫外線パルスによ
り極大化する蛍光強度からフォトマルチプライヤ１０を
保護するようにしたので、第１の実施例の効果を得るこ
とができ、且つ図１に示す装置からシャッター部９及び
シャッター制御回路１２を省略し、高電圧源１３を高電
圧制御回路２１に代えた簡易な構成としたので、従来の
装置から特に新たな設置スペースを必要とせず、容易に
実現することができる。その他、本発明はその要旨を逸
脱しない範囲で種々変形して実施できる。
料５のカルシウムイオン濃度を測定する。上述したよう
に第２の実施例によれば、紫外線パルスを試料５に入射
するとき、パルス光制御回路１１がフォトマル保護信号
を高電圧制御回路２１に送出してフォトマルチプライヤ
１０の感度を低下させることにより、紫外線パルスによ
り極大化する蛍光強度からフォトマルチプライヤ１０を
保護するようにしたので、第１の実施例の効果を得るこ
とができ、且つ図１に示す装置からシャッター部９及び
シャッター制御回路１２を省略し、高電圧源１３を高電
圧制御回路２１に代えた簡易な構成としたので、従来の
装置から特に新たな設置スペースを必要とせず、容易に
実現することができる。その他、本発明はその要旨を逸
脱しない範囲で種々変形して実施できる。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように請求項１の発明によ
れば、パルス光を入射するとき、受光部保護手段がパル
ス光により極大化する光量から受光部を保護するように
したので、受光部の感度をパルス光により極大化する光
量に合わせる必要をなくし、測定感度を向上できると共
に、受光部を保護できる顕微測光装置を提供できる。
れば、パルス光を入射するとき、受光部保護手段がパル
ス光により極大化する光量から受光部を保護するように
したので、受光部の感度をパルス光により極大化する光
量に合わせる必要をなくし、測定感度を向上できると共
に、受光部を保護できる顕微測光装置を提供できる。
【００４２】また、請求項２の発明によれば、上記受光
部保護手段が遮断部を備え、この遮断部が試料からの光
を遮断又は減少させるので、請求項１の効果に加え、高
感度に設定された受光部の安定状態を乱すことなく、容
易な構成で実現できる顕微測光装置を提供できる。
部保護手段が遮断部を備え、この遮断部が試料からの光
を遮断又は減少させるので、請求項１の効果に加え、高
感度に設定された受光部の安定状態を乱すことなく、容
易な構成で実現できる顕微測光装置を提供できる。
【００４３】さらに、請求項３の発明によれば、上記受
光部保護手段が感度調整部を備え、この感度調整部が受
光部の感度を低下させるので、請求項１の効果に加え、
特に新たな設置スペースを必要とせず、容易な構成で実
現できる顕微測光装置を提供できる。
光部保護手段が感度調整部を備え、この感度調整部が受
光部の感度を低下させるので、請求項１の効果に加え、
特に新たな設置スペースを必要とせず、容易な構成で実
現できる顕微測光装置を提供できる。
【図１】本発明の第１の実施例に係る顕微測光装置の構
成を示す模式図。
成を示す模式図。
【図２】同実施例における動作を説明するためのタイム
チャート。
チャート。
【図３】本発明の第２の実施例に係る顕微測光装置の構
成を示す模式図。
成を示す模式図。
【図４】同実施例における動作を説明するためのタイム
チャート。
チャート。
１…励起光源、２…照明光路、３…ダイクロイックミラ
ー、４…対物レンズ、５…試料、６…パルス光源、７…
反射ミラー、８…測光絞り、９…シャッター部、１０…
フォトマルチプライヤ、１１…パルス光制御回路、１２
…シャッター制御回路、１３…高電圧源、１４…測定
部、２１…高電圧制御回路。
ー、４…対物レンズ、５…試料、６…パルス光源、７…
反射ミラー、８…測光絞り、９…シャッター部、１０…
フォトマルチプライヤ、１１…パルス光制御回路、１２
…シャッター制御回路、１３…高電圧源、１４…測定
部、２１…高電圧制御回路。
Claims (3)
- 【請求項１】 励起光を試料に照射して当該試料からの
光量を受光部が測定すると共に、パルス光を前記試料に
入射して当該パルス光の入射前後で変化する前記光量を
前記受光部が測定する顕微測光装置において、 前記パルス光を入射するとき、当該パルス光により極大
化する前記光量から前記受光部を保護する受光部保護手
段を備えたことを特徴とする顕微測光装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の顕微測光装置において、 前記受光部保護手段は、前記試料からの光を遮断又は減
少させる遮断部を備えたことを特徴とする顕微測光装
置。 - 【請求項３】 請求項１記載の顕微測光装置において、 前記受光部保護手段は、前記受光部の感度を低下させる
感度調整部を備えたことを特徴とする顕微測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29181393A JPH07146237A (ja) | 1993-11-22 | 1993-11-22 | 顕微測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29181393A JPH07146237A (ja) | 1993-11-22 | 1993-11-22 | 顕微測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07146237A true JPH07146237A (ja) | 1995-06-06 |
Family
ID=17773754
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29181393A Pending JPH07146237A (ja) | 1993-11-22 | 1993-11-22 | 顕微測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07146237A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2338568B (en) * | 1998-06-19 | 2000-12-20 | Optiscan Pty Ltd | Two photon endoscope or microscope method and apparatus |
| GB2361314A (en) * | 1998-06-19 | 2001-10-17 | Optiscan Pty Ltd | Endoscope or microscope with photodetector |
| JP2003065850A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Shikoku Res Inst Inc | 回折光分離装置及びスペクトル時間分解測定方法 |
| JP2006524802A (ja) * | 2003-04-30 | 2006-11-02 | ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー | 光ビームのスペクトル領域のスペクトル選択・検出装置 |
| JP2009236846A (ja) * | 2008-03-28 | 2009-10-15 | Fujifilm Corp | 撮影装置及び露出タイミング制御方法 |
-
1993
- 1993-11-22 JP JP29181393A patent/JPH07146237A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2338568B (en) * | 1998-06-19 | 2000-12-20 | Optiscan Pty Ltd | Two photon endoscope or microscope method and apparatus |
| GB2361314A (en) * | 1998-06-19 | 2001-10-17 | Optiscan Pty Ltd | Endoscope or microscope with photodetector |
| JP2003065850A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Shikoku Res Inst Inc | 回折光分離装置及びスペクトル時間分解測定方法 |
| JP2006524802A (ja) * | 2003-04-30 | 2006-11-02 | ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー | 光ビームのスペクトル領域のスペクトル選択・検出装置 |
| JP2009236846A (ja) * | 2008-03-28 | 2009-10-15 | Fujifilm Corp | 撮影装置及び露出タイミング制御方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20021105 |