JP2004222297A - トランシーバ - Google Patents

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Abstract

【課題】トランシーバが関連情報を識別し、故障解析のために保存しておく。
【解決手段】トランシーバ(120)は送信機(122)と前記送信機に接続されたコントローラ(126)と前記コントローラがアクセス可能なメモリ(144)とを備える。そして、前記コントローラは前記送信機から第1の故障解析情報を受信すると共に該第1の故障解析情報を前記メモリ内に保存する。
【選択図】図1

Description

本発明は、トランシーバに関し、更に詳しくは、故障解析情報を保存するべく構成されたトランシーバに関するものである。
光トランシーバなどのコンピュータシステムの電子構成要素は、通常、エンドユーザーへの出荷の前に、製造業者によって試験される。この試験には、構成要素が適切に動作し欠陥が存在していないことを確認するための動作及び/又は機能試験がしばしば含まれる。そして、この試験工程において、構成要素に欠陥が検出された場合には、製造業者は、その欠陥の原因を分離・解析し、構成要素に故障をもたらした原因を決定することができる。製造業者は、故障構成要素から取得した情報を使用し、改良すべき点や似通った構成要素におけるその他の欠陥を発見することができる。
欠陥や故障は、エンドユーザーが構成要素を操作した後にも、しばしば発生する。この場合にも、製造業者は、顧客から返却された故障構成要素の欠陥の原因について分離・解析を試みることは可能である。しかしながら、製造業者は、故障が発生した際にその構成要素が稼動していた環境に関する情報を有してはいない(有している場合にも、その量は、ごくわずかである)。更には、製造業者は、故障構成要素の製造履歴に関する情報も有してはいない(有している場合にも、その量は、ごくわずかである)。これら故障ユニットの稼動条件及び製造履歴情報は、いずれも製造業者による将来の構成要素の品質改善に有用なものである。
従って、トランシーバが関連情報を識別し、後で故障解析するために保存しておくことが本発明の目的である。
本発明は、送信機、コントローラ、及びコントローラがアクセス可能なメモリを含むトランシーバを提供するものであり、コントローラは、送信機から故障解析情報を受信し、その故障解析情報をメモリ内に保存するように構成されている。
好適な実施例に関する以下の詳細な説明においては、本明細書の一部を形成する添付の図面を参照しており、それらの図面には、例として、本発明を実施可能な特定の実施例が示されている。本発明の範囲を逸脱することなく、その他の実施例を利用することも可能であり、構造的又は論理的な変更を加えることも可能であることを理解されたい。従って、以下の詳細な説明は、限定を目的とするものとして解釈されてはならず、本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲によって定められている。
本明細書では、故障解析情報を保存するべく構成されたトランシーバについて例示し説明している。このトランシーバは、内部構成要素又は外部ホストから故障解析情報を受信し、その情報をトランシーバ上に位置するメモリ内に保存する。このトランシーバに存在する故障解析情報には、外部ホストを用いてトランシーバからアクセスすることができる。この情報を使用し、トランシーバに関連する故障を解析することが可能である。
図1は、故障解析情報を保存するべく構成されたトランシーバ120を含むシステム100の実施例を示すブロック図である。図示のごとく、図1には、トランシーバ120に接続されたホスト110が含まれている。トランシーバ120には、送信機122、受信機124、コントローラ126及び光インターフェイス128が含まれている。送信機122には、レーザ130、A/Dコンバータ(ADC)132、メモリ134、インターフェイス136、並びに変調器及びバイアスD/Aコンバータ(DAC)138が含まれている。受信機124には、A/Dコンバータ(ADC)140が含まれている。コントローラ126には、ファームウェア142とメモリ144が含まれている。
ホスト110は、トランシーバ120と共に動作するべく構成された有線又は無線装置であれば、どのようなタイプのものであってもよい。ホスト110は、トランシーバ120の外付けになっている。このような装置の例として、試験システム、サーバーコンピュータシステム、パーソナルコンピュータシステム、ラップトップコンピュータシステム、携帯コンピュータシステム、携帯情報端末及び携帯電話がある。
トランシーバ120は、以下に詳述するように、電気信号を送受信することによってホスト110と通信するべく構成された光トランシーバを備える。又、トランシーバ120は、光インターフェイス128を用いて光信号を送受信することにより、別の装置(図示されてはいない)とも通信する。光インターフェイス128は、ファイバチャネルインターフェイスやその他のタイプの光インターフェイスであってよい。
一実施例においては、トランシーバ120は、SFF(Small Form Factor)委員会が規定する光トランシーバ用のデジタル診断監視インターフェイスに関するSFF−8472規格に準拠している。その他の実施例においては、トランシーバ120は、その他の規格に準拠したものであってよい。
送信機122は、動作の際に、接続152を用いてホスト110からデジタル出力信号を受信するべく構成された光送信機を備える。変調器及びバイアスDAC138により、このデジタル出力信号がアナログ出力信号に変換され、このアナログ出力信号がレーザ130に供給される。これらのデジタル出力信号及びアナログ出力信号は、電気信号を有する。レーザ130は、このアナログ出力信号に応答して光出力信号を生成し、この光出力信号が接続154を用いて光インターフェイス128に供給される。
受信機124は、接続156を用いて光インターフェイス128から光入力信号を受信するべく構成された光受信機を備える。A/Dコンバータ140により、この光入力信号がアナログ入力信号からデジタル出力信号に変換され、このデジタル出力信号が接続158によってホスト110に供給される。これらのデジタル出力信号及びアナログ入力信号は、電気信号で構成されている。
トランシーバ120は、電気的接続160を用いてホスト110とも通信する。具体的には、トランシーバ120は、接続160を用いてホスト110から制御信号を受信する。更に、トランシーバ120は、接続160を用いてホスト110に情報を提供する。図1の実施例において、電気的接続160は、ホスト110を送信機122に接続しているが、この接続は、http://www.semiconductors.philips.com/acrobat/various/I2C_BUS_SPECIFICATION_3.pdfに存在するフィリップス半導体社(Philips Semiconductors)が提供するI2Cバス規格によって提供されるI2C接続、或いは、その他のタイプの2線シリアル、シリアル、又はパラレル接続であってよい。接続160がI2C接続などの2線シリアル接続から構成される実施例では、インターフェイス136は、2線シリアルバスインターフェイスから構成される。その他の実施例においては、電気的接続160によって、コントローラ126又はトランシーバ120のその他の構成要素にホスト110を直接接続することができる。
コントローラ126は、接続164を用いて送信機122及び受信機124に制御信号を供給すると共に、これらからフィードバック信号を受信する。接続164は、http://www.semiconductors.philips.com/acrobat/various/I2C_BUS_SPECIFICATION_3.pdfに存在するフィリップス半導体社(Philips Semiconductors)が提供するI2Cバス規格によって提供される内部I2C接続、或いは、その他のタイプのシリアル又はパラレル接続であってよい。コントローラ126には、制御信号を生成しフィードバック信号を受信並びに処理するべくコントローラ126が実行可能なファームウェア142が含まれている。メモリ144は、レジスタ、EEPROM、フラッシュメモリ、又はRAMを含むあらゆるタイプの揮発性及び不揮発性記憶装置、或いは、それらの組み合わせであってよい。その他の実施例においては、コントローラ126は、その他のハードウェア及びソフトウェアの組み合わせを使用し、本明細書で説明する機能を実行可能である。
トランシーバ120は、故障解析情報をメモリ144内に保存するべく構成されている。この故障解析情報は、定期的に(或いは、エラーやその他の故障などの特定のイベントに応答して)保存することができる。故障解析情報には、製造情報及び/又はフィールド稼動条件情報が含まれる。製造情報には、トランシーバ120の1つ又は複数の構成要素に関連するベンダ識別情報、トランシーバ120の1つ又は複数の構成要素に関連する日付コード情報、及びトランシーバ120の1つ又は複数の構成要素に関連する試験情報が含まれる。試験情報には、トランシーバ120の試験に使用した装置の名称、試験の日付、製品ロット番号、シリアル番号、及びトランシーバ120に対して行った試験の試験結果が含まれる。試験結果には、温度、電圧、光又はその他の出力、電流、又はトランシーバ120のその他の物理特性に関連する値が含まれる。これらの値は、それぞれの物理特性に関する最小、最大、平均、又はその他のタイプの値であってよい。フィールド稼動条件情報には、トランシーバ120の稼動の際にトランシーバ120によって生成又は保存された情報が含まれる。このような情報の例としては、温度、出力、電圧、電流、或いは、トランシーバ120の構成要素のその他の物理特性を示す値が含まれる。これらの値は、それぞれの物理特性に関する最小、最大、平均、過渡的、又はその他のタイプの値であってよい。フィールド稼動条件情報のその他の例として、ユーザーが選択したトランシーバ120の設定又は構成が含まれる。
コントローラ126は、故障解析情報をメモリ144内に保存するべく構成されている。図2〜図8を参照して後程詳述するように、コントローラ126は、送信機122及び受信機124などのトランシーバ120上の1つ又は複数の構成要素に存在する故障解析情報にアクセスするか、或いは、これを受信することも可能であり、トランシーバ120上の構成要素に故障解析情報を生成させることも可能であり、自分自身で故障解析情報を生成することも可能であり、ホスト110から故障解析情報を受信することも可能である。コントローラ126は、動作の際に、定期的に(或いは、構成変更、エラー、構成要素の故障、又はトランシーバ120の電源投入/電源切断などのイベントに応答し)故障解析情報を保存するべく構成可能である。コントローラ126は、特定のイベントに固有の故障解析情報を保存するべく構成することもできる。
図2は、故障解析情報を保存する方法の実施例を説明するフローチャートであり、この実施例の場合には、コントローラは、トランシーバの構成要素に存在する故障解析情報にアクセスするか、或いは、これを受信する。以下、図1を参照し、図2の方法の実施例について説明する。図2のブロック202に示されているように、故障解析情報に関連するコマンドがコントローラ126からトランシーバ120の構成要素に送信される。トランシーバ120の構成要素には、送信機122、受信機124、及び図1には示されてはいないトランシーバ120のその他の部分が含まれる。次いで、ブロック204に示されているように、準備完了信号がコントローラ126によって受信されているかどうかを判定する。そして、準備完了信号が受信されていない場合には、コントローラ126は、ブロック204の機能をその後再度反復する。準備完了信号が受信されている場合には、ブロック206に示されているように、コントローラ126は、構成要素に存在する故障解析情報にアクセスするか、或いは、これを受信する。そして、ブロック208に示されているように、その故障解析情報をメモリ内に保存する。
選択した故障解析情報のみをブロック208において保存するべくコントローラ126をプログラムすることも可能である。例えば、コントローラ126は、最小又は最大しきい値を逸脱した値などの予測値とは異なる故障解析情報の値を保存するべく選択可能である。更には、コントローラ126は、ユーザーによるトランシーバ120の構成変更に関連する(或いは、トランシーバ120の故障又はエラー状態に関連する)故障解析情報を保存するべく選択することも可能である。
図3は、トランシーバの構成要素が故障解析情報を供給する方法の実施例を説明するフローチャートである。以下、図1及び図2を参照し、図3の方法の実施例について説明する。図3のブロック302に示されているように、コントローラ126から、ブロック202で生成されたコマンドなどのコマンドを受信する。次いで、ブロック304に示されているように、このコマンドに関連する故障解析情報にアクセスするか、或いは、これを生成する。具体的には、構成要素は、レジスタ内に保存されている情報などの構成要素内に既に存在している故障解析情報にアクセスすることも可能であり、或いは、構成要素は、構成要素の一部で情報を取得、生成、又は算出することにより、故障解析情報を生成することもできる。
この構成要素による故障解析情報のアクセス又は生成に応答し、ブロック306に示されているように、構成要素からコントローラ126に準備完了信号が送信され、ブロック204に示されているように、これをコントローラ126が受信する。この準備完了信号は、接続162を用いてコントローラ126に送信される割込信号、コントローラ126がポーリングするフラグ、或いは、故障解析情報が入手可能であることをコントローラ126に検出させるその他の適切な信号であってよい。次いで、ブロック308に示されているように、故障解析情報がコントローラ126に供給される。構成要素は、故障解析情報をコントローラ126に送信するか、或いは、コントローラ126がアクセス可能な場所に、この情報を保存することができる。例えば、構成要素が送信機122の場合には、送信機122は、情報をメモリ134内に保存することができ、コントローラ126は、メモリ134に存在するこの情報にアクセスすることができる。受信機124やトランシーバ120のその他の構成要素にも、コントローラ126に故障解析情報を供給するべく、コントローラ126がアクセス可能なメモリ(図示されてはいない)を含むことができる。
この図2及び図3に示されている方法を使用し、送信機122は、メモリ134内に保存するべく、コントローラ126に供給する故障解析情報を保存又は生成することができる。例えば、LOP(光出力パワー:Light Output Power)、OMA(光変調振幅:Optical Modulation Amplitude)、平均レーザ出力、スロープ効率(レーザ出力の変化をレーザ電流の変化で除算したもの)、しきい値電流、平均レーザバイアス電流、その他のバイアス情報、或いは、レーザ130のその他の温度、出力、電圧、又は電流の値をA/Dコンバータ132によって検出し、メモリ134内にデジタル形式で保存することができる。送信機122が保存又は生成するその他の情報としては、伝送レート、エラー、クロック周波数、Vcc(電源電圧)、又は帯域幅情報が含まれる。コントローラ126は、前述のように、この故障解析情報にアクセスするか、或いは、これを受信し、その情報をメモリ144内に保存する。
受信機124も、この図2及び図3に示されている方法を使用し、メモリ134に保存するべく、コントローラ126に供給する故障解析情報を保存又は生成することができる。例えば、伝送レート、エラー、受信機感度、LOS(信号損失:Loss Of Signal)のしきい値、LOS極性、OMA、帯域幅、クロック周波数、Vcc、又は受信機124のその他の温度、出力、電圧、又は電流の値を検出又は生成し、コントローラ126がアクセスできるようにメモリ(図示されてはいない)に保存するか、或いは、コントローラ126に送信することができる。
図4は、故障解析情報を保存する方法の実施例を説明するフローチャートであり、この場合には、コントローラは、情報に直接アクセスするか、或いは、これを直接生成する。以下、図1を参照し、図4の方法の実施例について説明する。図4のブロック402に示されているように、コントローラ126は、故障解析情報にアクセスするか、或いは、これを生成する。コントローラ126は、コントローラ126自体内を含むコントローラ126がアクセス可能なトランシーバ120内の場所に存在する情報にアクセスすることができる。更には、コントローラ126は、コントローラ126がアクセス可能な情報を処理することにより、故障解析情報を生成することも可能である。コントローラがアクセス又は生成可能な情報の例としては、トランシーバ120の稼動時間量、コントローラ126の状態情報、バスの衝突、レジスタの内容破壊、トランシーバ120の構成要素間における状態の不一致、及び割込信号の消失を含む検出エラーが含まれる。次いで、ブロック404に示されているように、この故障解析情報がメモリ144内に保存される。
図5は、故障解析情報を生成する方法の実施例を説明するフローチャートであり、この実施例の場合には、外部ホストが情報を生成する。以下、図1を参照し、図5の方法の実施例について説明する。図5のブロック502に示されているように、コマンドと故障解析情報をホスト110からトランシーバ120に送信する。これらのコマンド及び故障解析情報は、インターフェイス136で受信し、メモリ134内に保存することができる。インターフェイス136は、このコマンドと故障解析情報の受信に応答し、接続162を用いて割込をコントローラ126に送信するか、コントローラ126がポーリングするフラグを設定するか、或いは、別の通知信号をコントローラ126に供給することができる。次いで、ブロック504に示されているように、ホスト110は、トランシーバ120から確認信号が受信されているかどうかを判定する。この確認信号は、コントローラ126によって生成され、インターフェイス136からホスト110に供給されるものである。確認信号が受信されている場合には、ホスト110は、コマンドに含まれたアドレスに関連付けられた場所に故障解析情報が保存されたものと見なし、この方法は終了する。確認信号が受信されていない場合には、ブロック506に示されているように、ホスト110は、タイムアウト状態に到達しているかどうかを判定する。そして、タイムアウト状態に到達していない場合には、ブロック508に示されているように、待機状態と見なし、ブロック504の機能がその後再度反復される。タイムアウト状態に到達している場合には、ブロック510に示されているように、エラー状態が報告され、この方法は終了する。
図6は、外部ホストから受信した故障解析情報を保存する方法の実施例を説明するフローチャートである。以下、図1及び図5を参照し、図6の方法の実施例について説明する。図6のブロック602に示されているように、コントローラ126は、故障解析情報保存コマンドがホスト110から受信されているかどうかを判定する。そして、故障解析情報保存コマンドが受信されていない場合には、ブロック602の機能がその後再度反復される。
故障解析情報保存コマンドが受信されている場合には、ブロック604に示されているように、コントローラ126は、ブロック502で供給されるコマンドと故障解析情報を受信する。インターフェイス136からの信号に応答し、コントローラ126は、メモリ134に存在するこのコマンド及び故障解析情報にアクセスする。そして、ブロック606に示されているように、コントローラ126は、そのコマンドを処理し、そのコマンドに含まれたアドレスに関連付けられている場所に故障解析情報を保存する。次いで、ブロック608に示されているように、確認信号がコントローラ126から送信され、ブロック504に示されているように、この信号が受信される。
この図5及び図6に示されている方法を使用し、ホスト110は、故障解析情報をトランシーバ120上に保存する。このような故障解析情報の例としては、トランシーバ120の1つ又は複数の構成要素に関連するベンダ識別情報、トランシーバ120の1つ又は複数の構成要素に関連する日付コード情報、トランシーバ120の1つ又は複数の構成要素に関連するレビジョン情報、及びトランシーバ120の1つ又は複数の構成要素に関連する試験情報が含まれる。試験情報には、トランシーバ120の試験に使用した装置の名称、試験の日付、製品ロット番号、シリアル番号、及びトランシーバ120に対して行った試験の試験結果が含まれる。試験結果には、温度、電圧、出力、電流、又はその他のトランシーバ120の物理特性に関連する値が含まれる。具体的には、この試験結果には、トランシーバ120のエンドユーザーに対してトランシーバ120を出荷する前のトランシーバ120の試験において生成されたパラメータの組が含まれる。トランシーバ120の故障解析を行う際に、ホスト110は、前述の図2、図3、及び図4を参照して説明した方法を使用し、この試験パラメータの組と、トランシーバ120の動作の際に保存されたパラメータの組とを比較することができる。
図7は、トランシーバに存在する故障解析情報に外部ホストがアクセスする方法の実施例を説明するフローチャートである。以下、図1を参照し、図7の方法の実施例について説明する。図7のブロック702に示されているように、ホスト110は、故障解析情報を受信するべく、コマンドとアドレスをトランシーバ120に送信する。これらのコマンド及びアドレスは、インターフェイス136が受信し、メモリ134内に保存することができる。インターフェイス136は、このコマンド及びアドレスの受信に応答し、接続162を用いて割込をコントローラ126に送信するか、コントローラ126がポーリングするフラグを設定するか、或いは、別の通知信号をコントローラ126に供給することができる。次いで、ブロック704に示されているように、故障解析情報が受信されているかどうかを判定する。そして、故障解析情報が受信されている場合には、この方法は終了する。
故障解析情報が受信されていない場合には、ブロック706に示されているように、タイムアウト状態に到達しているかどうかを判定する。そして、タイムアウト状態に到達していない場合には、ブロック708に示されているように、待機状態と見なし、ブロック704の機能がその後再度反復される。タイムアウト状態に到達している場合には、ブロック710に示されているように、エラー状態が報告され、この方法は終了する。
図8は、トランシーバから外部ホストに故障解析情報を供給する方法の実施例を説明するフローチャートである。以下、図1及び図7を参照し、図8の方法の実施例について説明する。図8のブロック802に示されているように、故障解析情報読取コマンドがトランシーバ120によって受信されているかどうかを判定する。そして、故障解析情報読取コマンドが受信されていない場合には、この方法は、ブロック802の機能をその後再度反復する。
故障解析情報読取コマンドが受信されている場合には、ブロック804に示されているように、そのコマンド及びアドレスを受信する。故障解析情報読取コマンドは、インターフェイス136を用いてホスト110から受信し、メモリ134内に保存される。コントローラ126は、インターフェイス136からの信号に応答し、メモリ134に存在するコマンドとアドレスにアクセスする。そして、コントローラ126は、ブロック806に示されているように、そのコマンドを処理し、そのアドレスに関連付けられている場所に存在するそのアドレスに関連付けられた故障解析情報にアクセスする。そして、コントローラ126は、その故障解析情報を送信機122に供給し、送信機が、その情報をメモリ134内に保存する。次いで、ブロック808に示されているように、インターフェイス136を使用し、この故障解析情報がメモリ134からホスト110に供給される。
図9は、故障解析情報を保存するべく構成されたトランシーバ120を含むシステム100の別の実施例を示すブロック図である。この図9の実施例は、前述の図1の実施例と略同様に動作する。しかしながら、図9の場合には、メモリ144がコントローラ126には含まれていない。この実施例は、トランシーバ120のその他の部分又は構成要素にメモリ144を含むことができることを示している。
本明細書においては、好適な実施例を説明するべく、特定の実施例について例示し説明しているが、当業者であれば、本発明の範囲を逸脱することなく、同一の目的を実現するべく適合された様々な代替及び/又は等価実施例により、これらの例示及び説明した特定の実施例を置換可能であることを理解するであろう。化学、機械、電気機械、電気、及びコンピュータ分野における知識を有する者であれば、本発明が、一部を下記する様々な実施態様で実施可能であることを容易に理解するであろう。本出願は、本明細書において説明した好適な実施例のあらゆる適合や変形を包含するものである。従って、本発明を限定するものは、特許請求の範囲及びその等価物のみである。
(実施態様1):送信機(122)と、前記送信機に接続されたコントローラ(126)と、前記コントローラがアクセス可能なメモリ(144)とを備え、前記コントローラは前記送信機から第1の故障解析情報を受信すると共に該第1の故障解析情報を前記メモリ内に保存するように構成されていることを特徴とするトランシーバ(120)。
(実施態様2):受信機(124)を更に有し、前記コントローラが前記受信機から第2の故障解析情報を受信すると共に、該第2故障解析情報を前記メモリ内に保存するように構成されていることを特徴とする実施態様1に記載のトランシーバ。
(実施態様3):前記送信機が、外部ホスト(110)から前記第1の故障解析情報を受信するように構成されていることを特徴とする実施態様1に記載のトランシーバ。
(実施態様4):前記送信機が、前記コントローラから受信したコマンドに応答し、前記第1の故障解析情報を前記コントローラに供給するように構成されていることを特徴とする実施態様1に記載のトランシーバ。
(実施態様5):前記送信機が、前記コマンドに応答し、前記第1の故障解析情報を生成するように構成されていることを特徴とする実施態様4に記載のトランシーバ。
(実施態様6):前記送信機が、前記コマンドに応答し、レジスタに存在する前記第1の故障解析情報にアクセスするように構成されていることを特徴とする実施態様4に記載のトランシーバ。
(実施態様7):前記第1の故障解析情報が、光出力情報を含むことを特徴とする実施態様1に記載のトランシーバ。
(実施態様8):前記第1の故障解析情報が、製造情報を含むことを特徴とする実施態様1に記載のトランシーバ。
(実施態様9):コントローラ(126)と、前記コントローラがアクセス可能なメモリ(144)とを備え、前記コントローラが外部ホスト(110)から故障解析情報を受信すると共に前記故障解析情報を前記メモリ内に保存することを特徴とするトランシーバ。
(実施態様10):前記故障解析情報が、前記トランシーバの試験によって生成された試験情報を含むことを特徴とする実施態様に9記載のトランシーバ。
(実施態様11):前記コントローラが、前記外部ホストからの要求を受信するのに応じて、前記故障解析情報を前記外部ホストに供給することを特徴とする実施態様9に記載のトランシーバ。
(実施態様12):光出力信号を生成するように構成されたレーザ(130)を更に備える実施態様9に記載のトランシーバ。
(実施態様13):前記外部ホストから前記故障解析情報を受信するように構成された2線シリアルバスインターフェイス(136)を更に備える実施態様9に記載のトランシーバ。
故障解析情報を保存するべく構成されたトランシーバを含むシステムの実施例を示すブロック図である。 故障解析情報を保存する方法の第1の実施例を説明するフローチャートである。 故障解析情報を提供する方法の第1の実施例を説明するフローチャートである。 故障解析情報を保存する方法の第2の実施例を説明するフローチャートである。 故障解析情報を提供する方法の第2の実施例を説明するフローチャートである。 故障解析情報を保存する方法の第3の実施例を説明するフローチャートである。 故障解析情報にアクセスする方法の実施例を説明するフローチャートである。 故障解析情報を提供する方法の実施例を説明するフローチャートである。 故障解析情報を保存するべく構成されたトランシーバを含むシステムの別の実施例を示すブロック図である。
符号の説明
110 外部ホスト
120 トランシーバ
122 送信機
124 受信機
126 コントローラ
130 レーザ
136 2線シリアルバスインターフェイス
144 メモリ

Claims (1)

  1. 送信機と、
    前記送信機に接続されたコントローラと、
    前記コントローラがアクセス可能なメモリと、
    を備え、
    前記コントローラは前記送信機から第1の故障解析情報を受信すると共に該第1の故障解析情報を前記メモリ内に保存するように構成されているトランシーバ。
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