CN111800191A - 光模块调测装置、调测方法及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种光模块调测装置、调测方法及电子设备，其中，光模块调测装置包括控制模块，以及分别与控制模块连接的电流监控模块、光模块插座以及温度检测模块；控制模块，用于在接收到上位机发送的电压控制信号的情况下，根据所述电压控制信号控制程控电压源向所述电流监控模块输出第一电压信号；电流监控模块，用于在输入所述第一电压信号的情况下，对输入所述电流监控模块的电流进行采样并向所述控制模块输出第二电压信号；控制模块还用于根据所述第二电压信号计算插入所述光模块插座的光模块的工作电流；所述温度检测模块，用于检测所述光模块处于工作状态的温度信息；控制模块，还用于将所述工作电流和所述温度信息向所述上位机发送。
Description
技术领域
本发明涉及通信领域，尤其涉及一种光模块调测装置、调测方法及电子设备。
背景技术
在开发和测试双路小型可插拔(Dual Small Form-factor Pluggable，DSFP)光模块的过程中，需要用到调测装置，而利用现有技术中，人工通过调测装置调测DSFP光模块比较费时。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例期望提供一种光模块调测装置、调测方法及电子设备，以解决利用现有技术中，人工通过调测装置调测DSFP光模块比较费时的技术问题。
为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
本发明实施例提供一种光模块调测装置，包括：控制模块，以及分别与所述控制模块连接的电流监控模块、光模块插座以及温度检测模块，所述电流监控模块还连接所述光模块插座；
所述控制模块，用于在接收到上位机发送的电压控制信号的情况下，根据所述电压控制信号控制程控电压源向所述电流监控模块输出第一电压信号；
所述电流监控模块，用于在输入所述第一电压信号的情况下，对输入所述电流监控模块的电流进行采样并向所述控制模块输出第二电压信号；
所述控制模块还用于根据所述第二电压信号计算插入所述光模块插座的光模块的工作电流；
所述温度检测模块，用于检测所述光模块处于工作状态的温度信息；
所述控制模块，还用于将所述工作电流和所述温度信息向所述上位机发送。
上述方案中，光模块调测装置还包括：与所述控制模块以及所述光模块插座连接的比较器模块；
所述控制模块还用于向所述比较器模块的第一同向输入端输入基准电压，以及用于在接收到所述上位机发送的状态控制信号的情况下，设置与所述比较器模块的第一反向输入端连接的第一接口的工作状态，并根据参考电平信号以及所述比较器模块的第一输出端输出的第一电平信号，确定出所述光模块是否处于异常状态；其中，
当所述参考电平信号与所述第一电平信号相同时，表征所述光模块处于异常状态。
上述方案中，所述比较器模块还包括第二同向输入端，所述第二同向输入端用于连接所述光模块插座，以及用于通过上拉电阻连接电源；
所述控制模块还用于向所述比较器模块的第二反向输入端输入基准电压，以及用于根据所述比较器模块的第二输出端输出的第二电平信号确定出是否有光模块插入所述光模块插座；当所述第二电平信号为高电平信号时，表征没有光模块插入所述光模块插座。
上述方案中，光模块调测装置还包括与所述光模块插座连接的射频连接器；所述射频连接器用于连接误码仪；
所述控制模块，还用于在接收到所述上位机发送的光功率测试指令的情况下，向插入所述光模块插座的光模块发送使能信号；所述使能信号表征允许所述光模块发射光信号；
所述射频连接器，用于在接收到所述误码仪发送的第一调制信号的情况下，向插入所述光模块插座的光模块发送所述第一调制信号，以触发所述光模块基于所述第一调制信号发射第一光信号；其中，所述第一调制信号由所述误码仪在接收到所述上位机发送的发射端测试指令时发送；所述第一光信号用于触发与所述光模块连接的分光器对所述第一光信号进行分光处理，并向与所述分光器连接的光功率计发送第二光信号，以通过所述光功率计检测所述第二光信号对应的第一光功率值。
上述方案中，所述射频连接器，还用于在接收到插入所述光模块插座的光模块发送的电信号的情况下，向所述误码仪发送所述电信号，以触发所述误码仪根据所述电信号中的调制信号以及第二调制信号确定出所述光模块的误码率；其中，所述电信号是所述光模块在接收到第四光信号的情况下，根据所述第四光信号生成；所述第四光信号是与所述光模块连接的分光器对第三光信号进行分光处理后得到的光信号；所述第三光信号由与所述分光器连接的衰减器对光源发射的测试光信号进行处理后得到；所述测试光信号由所述光源在接收到所述误码仪发送的第二调制信号的情况下发射；所述第二调制信号是由所述误码仪在接收到所述上位机发射的接收端测试指令时发送；
所述控制模块，还用于在获取到所述光模块发送的测试指标时，向所述上位机发送所述测试指标；所述测试指标包括光信号丢失指示标识以及所述第四光信号对应的第二光功率值；所述第二光功率值用于确定所述光模块的接收灵敏度，所述接收灵敏度由所述上位机基于所述误码仪发送的误码率以及所述第二光功率确定；所述光信号丢失指示标识由所述光模块基于所述第二光功率确定，用于指示是否有光信号丢失。
上述方案中，所述控制模块还用于在接收到所述上位机发送的第一配置信息的情况下，根据所述第一配置信息配置插入所述光模块插座的光模块的偏置电流；所述第一配置信息是所述上位机在第一光功率值未处于第一设定范围的情况下，基于所述第一光功率值生成；所述第一光功率值由所述光功率计发送；所述偏置电流用于调整所述光模块发射的光信号的光功率值。
所述控制模块还用于在接收到所述上位机发送的第二配置信息的情况下，根据所述第二配置信息配置插入所述光模块插座的光模块的调制电流；其中，所述第二配置信息是所述上位机在第一消光比未处于第二设定范围的情况下，基于所述第一消光比生成；所述第一消光比由所述光示波器发送；所述第一消光比由通过所述分光器与所述光模块连接的光示波器基于眼图得到；所述调制电流用于调整所述光模块的消光比；所述眼图由所述光示波器在接收到所述分光器发送的第五光信号的情况下生成；所述第五光信号由所述分光器对第一光信号进行分光处理后得到。
本发明实施例还提供了一种基于上述任一种光模块调测装置的光模块调测方法，光模块调测方法包括：
向光模块调测装置发送电流测试指令以及温度测试指令；所述电流测试指令用于触发所述光模块调测装置检测光模块的工作电流；所述温度测试指令用于触发所述光模块调测装置检测所述光模块表面的温度信息；
获取所述光模块调测装置在检测得到所述工作电流的情况下，发送的所述工作电流；
获取所述光模块调测装置在检测得到所述光模块的温度信息的情况下，发送的所述温度信息。
上述方案中，光模块调测方法还包括：
获取光功率计发送的光功率值；所述光功率值为所述光模块发射出的光信号的光功率值；
在所述光功率值未处于第一设定范围的情况下，向所述光模块调测装置发送第一配置信息；所述第一配置信息用于所述光模块调测装置配置所述光模块的偏置电流，以调整所述光模块发射出的光信号的光功率值。
上述方案中，光模块调测方法还包括：
获取光示波器发送的消光比；
在所述消光比未处于第二设定范围的情况下，向所述光模块调测装置发送第二配置信息；所述第二配置信息所述光模块调测装置配置所述光模块的调制电流，以调整所述光模块的消光比。
本发明实施例还提供了一种电子设备，包括：
发送单元，用于向光模块调测装置发送电流测试指令以及温度测试指令；所述电流测试指令用于触发所述光模块调测装置检测光模块的工作电流；所述温度测试指令用于触发所述光模块调测装置检测所述光模块表面的温度信息；
第一获取单元，用于获取所述光模块调测装置在检测到所述工作电流的情况下，发送的所述工作电流；
第二获取单元，用于获取所述光模块调测装置在检测到所述光模块的温度信息的情况下，发送的所述温度信息。
本发明实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器，
其中，所述处理器用于运行所述计算机程序时，执行上述任一种光模块调测方法的步骤。
本发明实施例还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种光模块调测方法的步骤。
本发明实施例，光模块调测装置包括控制模块，以及分别与控制模块连接的电流监控模块、光模块插座以及温度检测模块，控制模块在接收到上位机发送的电压控制信号的情况下，控制程控电压源向电流监控模块输出第一电压信号；控制模块在获取到电流监控模块输出的第二电压信号的情况下，根据第二电压信号计算插入光模块插座的光模块的工作电流；通过温度检测模块检测光模块的温度信息；控制模块可以将计算出的工作电流以及温度检测模块检测得到的温度信息向上位机发送。相对于人工测试来说，通过上位机与光模块调测装置对光模块进行自动化测试，提高了测试效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种光模块调测装置的组成结构示意图；
图2为本发明实施例提供的光模块调测装置中的电流监控模块的部分组成结构示意图；
图3为本发明实施例提供的光模块调测装置中的温度检测模块的部分组成结构示意图；
图4为本发明实施例提供的另一种光模块调测装置的组成结构示意图；
图5为本发明实施例提供的一种光模块调测装置中的比较器模块的部分组成结构示意图；
图6为本发明实施例提供的再一种光模块调测装置的组成结构示意图；
图7为本发明实施例提供的一种光模块调测方法的实现流程示意图；
图8为本发明实施例提供的另一种光模块调测方法的实现流程示意图；
图9为本发明实施例提供的再一种光模块调测方法的实现流程示意图；
图10为本发明实施例提供的一种电子设备的组成结构示意图；
图11为本发明实施例提供的一种电子设备的硬件组成结构示意图。
具体实施方式
以下结合说明书附图及具体实施例对本发明的技术方案做进一步的详细阐述。
参见图1，图1示出了本发明实施例提供的一种光模块调测装置的组成结构示意图。光模块调测装置至少包括控制模块11以及分别与控制模块11连接的电流监控模块12、光模块插座13以及温度检测模块14，电流监控模块12还连接光模块插座13。光模块插座13用于承载待调测的光模块。
控制模块11，用于在接收到上位机发送的电压控制信号的情况下，根据所述电压控制信号控制程控电压源向所述电流监控模块输出第一电压信号；
电流监控模块12，用于在输入所述第一电压信号的情况下，对输入所述电流监控模块的电流进行采样并向所述控制模块11输出第二电压信号；
控制模块11还用于根据所述第二电压信号计算插入所述光模块插座13的光模块的工作电流；
温度检测模块14，用于检测所述光模块处于工作状态的温度信息；
控制模块11，还用于将所述工作电流和所述温度信息向所述上位机发送。
需要说明的是，在本实施例中，上位机是指可以直接发出操控命令的计算机或其他电子设备。上位机与光模块调测装置之间采用USB通信协议进行通信。
需要说明的是，在本实施例中，程控电压源为独立的设备。在一些实施例中，也可以在光模块调测装置中集成可实现程控电压源的功能的电路模块，从而替代程控电压源。例如，在光模块调测装置中集成可调电压模块，以通过可调电压模块替代程控电压源。
这里，可调电压模块具有供电接口，供电接口用于连接外部电源，为可调电压模块供电。可调电压模块用于在接入外部电源，并且接收到控制模块11输入的控制信号的情况下，根据该控制信号向电流检测模块输出相应的电压信号。供电接口可以包括通用电源香蕉头和/或常用的直流接口，当供电接口包括通用电源香蕉头和常用的直流接口时，可调电压模块设有选择开关，选择开关用于选择供电接口。
当供电接口为通用电源香蕉头时，供电接口用于接入外部的直流电源，直流电源支持电压2.97V～3.63V范围内可调。可调电压模块用于在接收到控制模块11输入的控制信号的情况下，向电流检测模块输出第一电压信号，第一电压信号的电压值在2.97V～3.63V范围内可调。
当供电接口为常用的直流接口时，供电接口用于接入外部的5V电压源。可调电压模块用于在接收到控制模块11输入的控制信号的情况下，根据控制信号对固定的5V电压进行电压变换，从而向电流检测模块输出与控制信号对应的第一电压信号，第一电压信号的电压值在2.97V～3.63V范围内可调。
也就是说，当供电接口为通用电源香蕉头时，可调电压模块在接收到控制模块11输入的控制信号的情况下，不需要对输入的外部电源进行电压变换，即可输出相应的电压信号；当供电接口为常用的直流接口时，可调电压模块在接收到控制模块11输入的控制信号的情况下，需要对输入的外部电源进行电压变换，才能输出相应的电压信号。
上文介绍了光模块调测装置的结构组成之后，下面以程控电压源为例介绍光模块调测装置的工作原理：
用户通过上位机的交互界面，触发上位机启动光模块的调测程序或调测应用。上位机运行调测程序或调测应用，向光模块调测装置发送电压控制信号。这里，用户可以在相应的交互界面(例如，电流测试界面)中输入或选择相应的电压值，触发上位机向光模块调测装置发送电压控制信号。电压控制信号也可以是上位机基于调测程序或调测应用中设定的初始电压值发送，电压控制信号用于触发控制模块11控制程控电压源向电流监控模块12输出第一电压信号。
光模块调测装置中的控制模块11在接收到上位机发送的电压控制信号的情况下，向程控电压源发送控制信号，以使得程控电压源在接收到控制模块11发送的控制信号的情况下，输出第一电压信号。这里，当电压控制信号表征控制程控电压源输出电压值为3.3V的电压信号时，控制模块11向程控电压源发送的控制信号用于控制程控电压源输出电压值为3.3V的第一电压信号。
电流监控模块12在输入第一电压信号的情况下，对输入电流监控模块12的电流进行采样并向控制模块11输出第二电压信号。
控制模块11在接收到电流监控模块12输出的第二电压信号的情况下，将第二电压信号进行模数转换，从而将第二电压信号转换成相应的数字信号，并根据转换得到的数字信号计算出插入光模块插座的光模块的工作电流。控制模块11将计算得到的工作电流向上位机发送。这里，数字信号可以表征二进制数值。控制模块11可以根据转换得到的数字信号以及设定的电流计算公式，计算出光模块的工作电流；控制模块11可以根据电流值与数字信号之间的设定对应关系，确定出转换得到的数字信号对应的电流值，从而得到光模块的工作电流。
温度检测模块14检测插入光模块插座的光模块处于工作状态的情况下，光模块表面的温度信息。
控制模块11在接收到上位机发送的温度测试指令的情况下，获取温度检测模块14检测到的温度信息，将获取到的温度信息向上位机发送。
需要说明的是，用户在调试或测试光模块的过程中，可以触发上位机向光模块调测装置发送不同的电压控制信号，从而触发光模块调测装置的控制模块11控制程控电压源向电流监控模块输出不同的电压，从而调整插入光模块插座13的光模块的工作电流。
在本实施中，通过上位机向光模块调测装置发送相关的控制信号，触发光模块调测装置检测光模块的工作电流及检测光模块处于工作状态的温度信息，光模块调测装置将检测得到的工作电流以及温度信息向上位机发送，从而实现自动化测试光模块的工作电流及温度信息，可以提高光模块的测试效率。
作为本发明的一个实施例，图2示出了光模块调测装置中的电流监控模块的部分组成结构示意图。如图2所示，电流监控模块12包括电流采样电阻111以及运算放大器112。电流采样电阻111的一端a连接程控电压源，用于输入第一电压信号；电流采样电阻111的另一端b连接光模块插座13。运算放大器112的同向输入端和反向输入端分别连接电流采样电阻111的两端，运算放大器112的输出端c用于连接控制器11。
电流检测模块12在输入第一电压信号的情况下，通过电流采样电阻111对输入电流监控模块12的电流进行采样，将电流采样电阻111两端的电压信号输入运算放大器112，以通过运算放大器112对电流采样电阻111两端的电压差进行放大处理，得到第二电压信号，并向控制器11输出第二电压信号。
在本实施例中，电流采样电阻111的阻值可以为100毫欧姆，也可以为50毫欧姆，或者其他值。
本实施例中，通过较小的阻值的电流采样电阻进行电流采样，并对电流采样电阻两端的电压差进行放大处理之后，向控制模块输出第二电压信号，以便控制模块根据第二电压信号计算得到工作电流，可以减小工作电流的检测误差，从而提高工作电流的准确度。
作为本发明的另一个实施例，图3示出了光模块调测装置中的温度检测模块的部分组成结构示意图。如图3所示，温度检测模块14包括热电偶141、与热电偶141连接的运算放大器142、温度传感器143。
其中，热电偶141的两个输出端分别连接运算放大器142的同向输入端以及反向输入端；运算放大器142的输出端连接控制模块11的第一ADC接口。温度传感器143设置于热电偶141的输出端附近，用于对热电偶141进行冷端温度补偿；温度传感器143的输出端用于连接控制模块11的第二ADC接口。ADC接口是指模拟-数字接口，用于把输入的模拟信号转换成数字信号。
温度检测模块14在检测插入光模块插座13的光模块处于工作状态的温度时，热电偶141的探头贴近光模块的表面进行温度采集，产生第一热电偶信号，热电偶141的输出端向运算放大器142输出第一热电偶信号。
运算放大器142在接收到第一热电偶信号的情况下，对第一热电偶信号进行放大处理，得到第二热电偶信号，并向控制模块11输出第二热电偶信号。
温度传感器143用于采集热电偶141的输出端附近的温度，并向控制模块11输出温度信号。
控制模块11在接收到热电偶141输入的第二热电偶信号的情况下，将第二热电偶信号转换成第一数字信号，基于数字信号和温度值之间的设定对应关系，确定出第一数字信号对应的第一温度值，得到光模块表面的温度值；在接收到温度传感器143输入的温度信号的情况下，将温度信号转换成第二数字信号，基于数字信号和补偿温度值之间的设定对应关系，确定出第二数字信号对应的目标补偿温度值；通过目标补偿温度值修正第一温度值，得到光模块处于工作状态的温度值，并将得到的温度值向上位机发送。
本实施例中，通过对光模块表面的温度进行温度补偿，可以减小温度检测误差，从而提高光模块处于工作状态的温度的准确度。
作为本发明的另一个实施例，光模块调测装置可以检测插入光模块插座13的光模块是否处于异常状态。图4示出了本发明实施例提供的另一种光模块调测装置的组成结构示意图。在图1的基础上，图4中的光模块调测装置在控制模块11和光模块插座13之间增加了比较器模块15。
控制模块11还用于向比较器模块15的第一同向输入端输入基准电压，以及用于在接收到上位机发送的状态控制信号的情况下，设置与比较器模块15的第一反向输入端连接的第一接口的工作状态，并根据参考电平信号以及比较器模块15的第一输出端输出的第一电平信号，确定出所述光模块是否处于异常状态；其中，
当所述参考电平信号与所述第一电平信号不同时，表征所述光模块处于异常状态。
请一并参见图5，图5为本发明实施例提供的一种光模块调测装置中的比较器模块的部分组成结构示意图。比较器模块15包括第一运算放大器A1以及下拉电阻R1。第一运算放大器A1的同向输入端用于输入基准电压，第一运算放大器A1的反向输入端用于连接控制模块11的第一接口以及光模块插座13的第一接口，第一运算放大器A1的输出端用于连接控制模块11的第二接口。
这里，第一运算放大器A1的反向输入端为前文所述的比较器模块15的第一反向输入端，第一运算放大器A1的输出端为前文所述的比较器模块15的第一输出端。控制模块11的第一接口以及第二接口为数字接口，用于输入表征高电平信号或低电平信号的数值。光模块插座13的第一接口为电平控制接口INT/RSTn。
需要说明的是，在本发明实施例中，以光模块为DSFP光模块为例进行说明，在其他实施例中，光模块也可以为其他类型的光模块。
光模块调测装置检测插入光模块插座13的光模块是否处于异常状态的实现过程如下：
光模块调测装置的控制模块11向比较器模块15中的第一比较器A1的同向输入端输入基准电压。在本实施例中，基准电压可以为2.5伏特(V)。
控制模块11在接收到上位机发送的状态控制信号的情况下，设置与比较器模块15的第一接口的工作状态，并获取比较器模块15的第一比较器A1的输出端向控制模块11的第二接口输出的第一电平信号。控制模块11在获取到第一电平信号时，根据参考电平信号以及获取到的第一电平信号，确定出光模块是否处于异常状态；其中，当参考电平信号与第一电平信号相同时，表征光模块处于异常状态。控制模块11在确定出光模块处于异常状态的情况下，还向上位机发送用于表征光模块处于异常状态的提示信息。
在本实施例中，状态控制信号包括：第一状态控制信号以及第二状态控制信号。第一状态控制信号用于触发控制模块11将控制模块11的第一接口设置为高阻状态，第二状态控制信号用于触发控制控制模块11将控制控制模块11的第一接口设置为低电平状态。参考电平信号为低电平信号。
这里，控制模块11的第一接口在接收到上位机发送的第一状态控制信号，的情况下，控制模块11将控制模块11的第一接口的工作状态设置为高阻状态。此时，第一比较器的反向输入端的电压值等于光模块插座13的第一接口对应的电压值，第一比较器A1的输出端输出的第一电平信号由光模块插座13的第一接口对应的电压值决定。在第一比较器的反向输入端的电压值大于第一比较器的同向输入端的电压值的情况下，第一比较器A1的输出端输出的第一电平信号为低电平信号；这种情况下，控制模块11获取到的第一电平信号为低电平，由于第一电平信号与参考电平信号均为低电平，因此，控制模块11确定出光模块处于异常状态。
控制模块11的第一接口在接收到的状态控制信号为第二状态控制信号的情况下，控制模块11将控制模块11的第一接口的工作状态设置为低电平状态，向第一比较器A1的反向输入端输入复位信号，以对插入光模块插座13的光模块进行复位。此时，第一比较器的正向输入端的电压值大于第一比较器的反向输入端的电压值，第一比较器A1的输出端输出的第一电平信号为高电平信号。即，第一比较器A1的输出端向控制模块11的第二接口输出的第一电平信号为高电平信号，此时，第一电平信号仅仅用于指示光模块复位，第一电平信号不能表征光模块在复位前是处于异常状态还是处于正常状态。
在本实施例中，光模块调测装置可以通过比较器模块检测插入光模块插座的光模块是否处于异常状态。
作为本发明的另一个实施例，比较器模块15还包括第二同向输入端，第二同向输入端用于连接光模块插座13，以及用于通过上拉电阻连接电源。控制模块11还用于向比较器模块15的第二反向输入端输入基准电压，以及用于根据比较器模块15的第二输出端输出的第二电平信号确定出是否有光模块插入光模块插座13；当所述第二电平信号为高电平信号时，表征没有光模块插入光模块插座13。控制模块11在确定出没有光模块插入光模块插座13的情况下，还向上位机发送用于表征光模块不在位的提示信息。
如图5所示，比较器模块15还包括第二比较器A2以及第一上拉电阻R2，第二比较器A2的同向输入端还连接光模块插座13的第二接口，光模块插座13的第二接口为电平监控接口LPWn/PRSn。比较器模块15的第二同向输入端是指第二比较器A2的同向输入端，比较器模块15的第二反向输入端是指第二比较器A2的反向输入端，比较器模块15的第二输出端是指第二比较器A2的输出端。比较器模块15的第二输出端用于连接控制模块11的第三接口。控制模块11的第三接口为数字接口。
第二比较器A2的同向输入端还可以通过第二上拉电阻R3连接控制模块11的第四接口。控制模块11的第四接口为数字接口。控制模块11的第四接口用于控制插入光模块插座13的光模块处于低功耗状态或高功耗状态。控制模块11的第四接口处于高电平状态时，控制插入光模块插座13的光模块处于高功耗状态。控制模块11的第四接口处于高阻状态时，控制插入光模块插座13的光模块处于低功耗状态。
在本实施中，光模块调测装置可以通过比较器模块检测是否有光模块插入光模块插座，也就是检测光模块是否在位；还可以控制光模块进入低功耗状态，以降低光模块的功耗。
作为本发明的另一个实施例，图6为本发明实施例提供的再一种光模块调测装置的组成结构示意图。如图6所示，在图4的基础上，图6中增加了与光模块插座13连接的射频连接器16。射频连接器16用于连接误码仪，插入光模块插座13的光模块用于通过分光器连接光功率计。射频连接器16可以通过高频同轴电缆连接误码仪。在本实施例中，射频连接器16采用8颗2.92mm射频连接插座，组成共4组差分端口，4组差分端口用于传输高速信号。
控制模块11，还用于在接收到上位机发送的光功率测试指令的情况下，向插入光模块插座13的光模块发送使能信号；所述使能信号表征允许所述光模块发射光信号；
射频连接器16，用于在接收到误码仪发送的第一调制信号的情况下，向插入光模块插座13的光模块发送第一调制信号，以触发所述光模块基于所述第一调制信号发射第一光信号；所述第一调制信号由所述误码仪在接收到所述上位机发送的发射端测试指令时发送；所述第一光信号用于触发与所述光模块连接的分光器对所述第一光信号进行分光处理，并向与所述分光器连接的光功率计发送第二光信号，以通过所述光功率计检测所述第二光信号对应的第一光功率值。
光模块调测装置检测插入光模块插座13的光模块的发射端的光功率值的实现过程如下：
请一并参见图6，上位机向控制模块11发送光功率测试指令，控制模块11在接收到上位机发送的光功率测试指令的情况下，向插入光模块插座13的光模块发送使能信号，以允许光模块发射光信号。
上位机向误码仪发送发射端测试指令，误码仪在接收到上位机发送的发射端测试指令的情况下，向射频连接器16发送第一调制信号。
射频连接器16在接收到误码仪发送的第一调制信号的情况下，向插入光模块插座13的光模块发送第一调制信号，以触发光模块基于第一调制信号发射第一光信号。
分光器在接收到光模块发射的第一光信号的情况下，对第一光信号进行分光处理得到第二光信号，并向光功率计发送第二光信号，以通过光功率计检测第二光信号对应的第一光功率值。第一光功率值可以为平均光功率值。
光功率计在检测到第一光功率值的情况下，向上位机发送第一光功率值。
需要说明的是，在本实施例中，分光器与光模块调测装置是分开设置的，光模块调测装置预留有用于连接分光器的接口。在其他实施例中，分光器可以集成在光模块调测装置中。
在本实施例中，光模块调测装置可以用于自动化测试光模块的发射端的光功率值。
作为本发明的另一个实施例，控制模块11还用于在接收到所述上位机发送的第一配置信息的情况下，根据所述第一配置信息配置插入所述光模块插座13的光模块的偏置电流；所述第一配置信息是所述上位机在第一光功率值未处于第一设定范围的情况下，基于所述第一光功率值生成；所述第一光功率值由所述光功率计发送；所述偏置电流用于调整所述光模块发射的光信号的光功率值。
在实际应用中，上位机在获取到光功率计发送的第一光功率值的情况下，确定出第一光功率值是否处于第一设定范围，得到确定结果，第一设定范围是指依据光模块的指标规格书设定的光功率范围。在确定结果表征第一光功率值未处于第一设定范围的情况下，说明光模块发射出的光信号的光功率值不符合设定要求。由于调整光模块的偏置电流可以改变光模块发射出的光信号的光功率值，而偏置电流与光功率值成正比，因此，上位机基于第一光功率值以及第一设定范围生成第一配置信息。第一配置信息用于配置光模块的偏置电流。
这里，上位机可以将第一光功率值分别与第一设定范围的最大值以及最小值进行比较，得到比较结果。在比较结果表征第一光功率值小于第一设定范围的最小值时，说明需要增大光模块发射出的光信号的光功率值，上位机可以基于第一光功率值对应的第一偏置电流，确定出第二偏置电流，并生成包含第二偏置电流的第一配置信息，第二偏置电流大于第一偏置电流。在比较结果表征第一光功率值大于第一设定范围的最大值时，说明需要减小光模块发射出的光信号的光功率值，上位机确定出的第二偏置电流小于第一光功率值对应的第一偏置电流。
需要说明的是，上位机在确定第二偏置电流时，可以从第一设定范围中确定出目标光功率值，根据光功率值与偏置电流之间的对应关系，确定出目标光功率值对应的第二偏置电流；也可以在第一偏置电流的基础上，按设定的步进值增大或减小偏置电流，从而使得调整偏置电流后的光模块发出的光信号的光功率值处于第一设定范围。设定的步进值是指相邻两个偏置电流之间的差值。
控制模块11在接收到上位机发送的第一配置信息的情况下，通过I2C接口与插入光模块插座13的光模块进行通信，并根据第一配置信息中的第二偏置电流修改光模块的寄存器中的相关参数值，从而配置插入光模块插座13的光模块的偏置电流。
在本实施例中，上位机与光模块调测装置可以自动化调试光模块，配置光模块的偏置电流，从而调整光模块的发射端的功功率值。
作为本发明的另一个实施例，控制模块11还用于在接收到所述上位机发送的第二配置信息的情况下，根据所述第二配置信息配置插入所述光模块插座的光模块的调制电流；所述第二配置信息是所述上位机在第一消光比未处于第二设定范围的情况下，基于所述第一消光比生成；所述第一消光比由所述光示波器发送；所述第一消光比由所述光示波器基于所述眼图得到；所述调制电流用于调整所述光模块的消光比。
在实际应用中，上位机在获取到光示波器发送的第一消光比的情况下，确定出第一消光比是否处于第二设定范围，得到确定结果。第二设定范围是指依据光模块的指标规格书设定的消光比范围。在确定结果表征第一消光比未处于第二设定范围的情况下，表明需要调整光模块的消光比。由于影响光模块的消光比的因素包括调制电流，因此，光模块可以通过调整光模块的调制电流来改变光模块的消光比。这里，上位机可以基于消光比与调制电流的对应关系，确定出第一消光比对应的第二调制电流，从而生成包含第二调制电流的第二配置信息，并将第二配置信息向控制模块11发送。确定出的第二调制电流与第一消光比对应的第一调制电流不同。
控制模块11在接收到上位机发送的第二配置信息的情况下，通过I2C接口与插入光模块插座13的光模块进行通信，并根据第二配置信息中的第二调制电流修改光模块的寄存器中的相关参数值，从而配置插入光模块插座13的光模块的调制电流。
在本实施例中，上位机与光模块调测装置可以自动化调试光模块，配置光模块的调制电流，从而调整光模块的消光比。
作为本发明的另一个实施例，射频连接器16，还用于在接收到插入所述光模块插座13的光模块发送的电信号的情况下，向所述误码仪发送所述电信号，以触发所述误码仪根据所述电信号中的调制信号以及第二调制信号确定出所述光模块的误码率；其中，所述电信号是所述光模块在接收到第四光信号的情况下，根据所述第四光信号生成；所述第四光信号是与所述光模块连接的分光器对第三光信号进行分光处理后得到的光信号；所述第三光信号由与所述分光器连接的衰减器对光源发射的测试光信号进行处理后得到；所述测试光信号由所述光源在接收到所述误码仪发送的第二调制信号的情况下发射；所述第二调制信号是由所述误码仪在接收到所述上位机发射的接收端测试指令时发送；
控制模块11，还用于在获取到所述光模块发送的测试指标时，向所述上位机发送所述测试指标；所述测试指标包括光信号丢失指示标识以及所述第四光信号对应的第二光功率值；所述第二光功率值用于确定所述光模块的接收灵敏度，所述接收灵敏度由所述上位机基于所述误码仪发送的误码率以及所述第二光功率确定；所述光信号丢失指示标识由所述光模块基于所述第二光功率确定，用于指示是否有光信号丢失。
光模块调测装置检测插入光模块插座13的光模块的接收端的测试指标的实现过程如下：
请一并参见图6，上位机向误码仪发送接收端测试指令，误码仪在接收到上位机发送的接收端测试指令的情况下，向光源发送第二调制信号。
光源在接收到第二调制信号的情况下，根据第二调制信号向衰减器发射测试光信号。
衰减器在接收到光源发射的测试光信号的情况下，对测试光信号进行衰减处理，得到第三光信号，并向分光器发射第三光信号。在本实施例中，衰减器可以在接收到上位机发送的衰减参数的情况下，基于衰减参数对测试光信号进行衰减处理。
分光器在接收到衰减器发射的第三光信号的情况下，对第三光信号进行分光处理，得到第四光信号，并向插入光模块插座13的光模块发射第四光信号。
插入光模块插座13的光模块在接收到第四光信号的情况下，检测第四光信号的第二光功率值，并根据第四光信号中调制信号生成电信号，向射频连接器16发送电信号。生成电信号中包括第四光信号中调制信号。光模块还可以向控制模块11发送测试指标。测试指标包括第二光功率值、以及光信号丢失指示标识。光信号丢失指示标识由光模块基于第二光功率确定，用于指示是否有光信号丢失。在实际应用中，当第二光功率值小于或等于设定光功率值时，表征存在光信号丢失，光模块将光信号丢失指示标识设置为1，光模块生成的电信号对应为0；当第二光功率值大于设定光功率值时，表征不存在光信号丢失，光模块将光信号丢失指示标识设置为0，光模块生成的电信号对应为1。在本实施例中，第二光功率值可以为平均光功率值或光信号幅值。
射频连接器16在接收到插入光模块插座13的光模块发送的电信号的情况下，向误码仪发送该电信号。
误码仪在接收到射频连接器16发送的电信号的情况下，根据接收到的电信号中的调制信号以及第一调制信号确定出光模块的误码率，并向上位机发送对应的误码率。误码率是误码仪基于电信号中的调制信号以及第一调制信号中相同的数据以及不同的数据确定出。
控制模块13在获取到光模块发送的测试指标时，向上位机发送获取到的测试指标。
上位机在接收到控制模块11发送的测试指标，以及误码仪发送的误码率的情况下，基于测试指标中包含的第二光功率值以及误码仪发送的误码率，确定出光模块的接收灵敏度。第二光功率值与误码率相对应。接收灵敏度是指在一定速率、误码率情况下光模块的最小接收光功率。上位机通过第二光功率值以及第二光功率值对应的误码率来确定是否能够正确接收到光信号，在允许的误码率对应的第二光功率值中筛选出最小信号接收功率，从而得到接收灵敏度。这里，误码率较高表征光模块能够正确接收光信号的概率较低，光模块的接收灵敏度较较差。
本实施例中，可以通过上位机以及光模块调测装置自动化测试光模块的接收灵敏度，以及测试光模块的接收端是否存在光信号丢失的情况。
作为本发明的另一个实施例，所述第一光信号还用于触发与插入光模块插座13的光模块连接的分光器对所述第一光信号进行分光处理，并向与所述分光器连接的光示波器发送第五光信号，以使得所述光示波器在接收到所述误码仪发送的触发信号的情况下，生成所述第五光信号对应的眼图，所述眼图用于表征所述第五光信号的质量。
这里，分光器在将第一光信号进行分光处理得到第五光信号的情况下，向所述光示波器发送第五光信号。
误码仪可以在接收到上位机发送的眼图检测指令的情况下，向光示波器发送触发信号。
光示波器在接收到误码仪发送的触发信号，且接收到分光器发送的第五光信号的情况下，生成第五光信号对应的眼图，确定出眼图对应的第一消光比，并向上位机发送第一消光比。眼图用于表征第五光信号的质量。消光比，是指光模块的发射端在发射全“1”码时的光功率值P1与发射全“0”码时的光功率值P0之比。
在本实施例中，可以通过上位机以及光模块调测装置自动化测试光模块的发射端发射的光信号的质量。
作为本发明的另一个实施例，控制模块11还用于在接收到所述上位机发送的第二配置信息的情况下，根据所述第二配置信息配置插入所述光模块插座的光模块的调制电流；其中，所述第二配置信息是所述上位机在第一消光比未处于第二设定范围的情况下，基于所述第一消光比生成；所述第一消光比由所述光示波器发送；所述第一消光比由通过所述分光器与插入所述光模块插座的光模块连接的光示波器基于眼图得到；所述调制电流用于调整所述光模块的消光比；所述眼图由所述光示波器在接收到所述分光器发送的第五光信号的情况下生成；所述第五光信号由所述分光器对第一光信号进行分光处理后得到。
在实际应用中，上位机在获取到光示波器发送的第一消光比的情况下，确定出第一消光比是否处于第二设定范围，得到确定结果。第二设定范围是指依据光模块的指标规格书设定的消光比范围。在确定结果表征第一消光比未处于第二设定范围的情况下，表明需要调整光模块的消光比。由于影响光模块的消光比的因素包括调制电流，因此，可以通过调整光模块的调制电流来改变光模块的消光比。这里，上位机可以基于消光比与调制电流的设定变化关系，确定出第一消光比对应的第二调制电流，从而生成包含第二调制电流的第二配置信息，并将第二配置信息向控制模块11发送，以触发控制模块11根据第二配置信息将光模块的调制电流配置为第二调制电流，从而调整光模块的消光比。确定出的第二调制电流与第一消光比对应的第一调制电流不同。
控制模块11在接收到上位机发送的第二配置信息的情况下，通过I2C接口与插入光模块插座13的光模块进行通信，并根据第二配置信息中的第二调制电流修改光模块的寄存器中的相关参数值，从而配置插入光模块插座13的光模块的调制电流。
在本实施例中，上位机与光模块调测装置可以自动化调试光模块，配置光模块的调制电流，从而调整光模块的消光比。
作为本发明的另一个实施例，基于图1至图6对应的任一种光模块调测装置，本发明实施例还提供了一种光模块调测方法。光模块调测方法的执行主体为上位机。如图7所示，光模块调测方法包括以下步骤：
S101：向光模块调测装置发送电流测试指令以及温度测试指令；所述电流测试指令用于触发所述光模块调测装置检测光模块的工作电流；所述温度测试指令用于触发所述光模块调测装置检测所述光模块表面的温度信息。
用户通过上位机的交互界面，触发上位机启动光模块的调测程序或调测应用。上位机运行调测程序或调测应用，向光模块调测装置发送电流测试指令，以触发光模块调测装置检测光模块的工作电流；上位机还向光模块调测装置发送温度测试指令，以触发光模块调测装置检测光模块处于工作状态的温度信息。光模块表面的温度信息是指光模块处于工作状态时，光模块表面的温度信息。
光模块调测装置检测光模块的工作电流以及光模块处于工作状态的温度信息的具体实现过程，请参见前文的相关描述，此处不赘述。这里，光模块调测装置在检测光模块的工作电流的实现过程可以为：光模块调测装置中的控制模块在接收到上位机发送的电压控制信号的情况下，控制程控电压源向电流监控模块输出第一电压信号；光模块调测装置中的控制模块在接收到上位机发送电流测试指令的情况下，获取电流监控模块向控制模块输出第二电压信号，根据第二电压信号计算插入光模块插座的光模块的工作电流。
需要说明的是，可以将光模块调测装置放置于工作在设定温度的温箱内，从而调测光模块调测装置中的光模块。
S102：获取所述光模块调测装置在检测到所述工作电流的情况下，发送的所述工作电流。
光模块调测装置在检测到光模块的工作电流的情况下，向上位机发送检测到的工作电流。上位机获取光模块调测装置发送的工作电流。
S103：获取所述光模块调测装置在检测到所述光模块的温度信息的情况下，发送的所述温度信息。
光模块调测装置在检测到光模块处于工作状态的温度信息的情况下，向上位机发送检测到的温度信息。上位机获取光模块调测装置发送的温度信息。
在本实施例中，上位机通过向光模块调测装置发送相关的指令或控制信号，可以实现自动化测试光模块的工作电流和温度信息，可以提高光模块的测试效率。
作为本发明的另一个实施例，图8示出了本发明实施例提供的另一种光模块调测方法的实现流程示意图。图8在图7的基础上，增加了S104～S105，具体如下：
S104：获取光功率计发送的光功率值；所述光功率值为所述光模块发射出的光信号的光功率值。
上位机向光模块调测装置发送光功率测试指令，以触发光模块调测装置向光模块发送使能信号，从而允许光模块发射光信号。
上位机向误码仪发送发射端测试指令，以触发误码仪向光模块调测装置中的光模块发送第一调制信号，进而触发光模块在接收到第一调制信号的情况下，基于第一调制信号发射光信号。光模块调测装置向光功率计发送光信号。光模块调测装置检测光模块发射的光信号的光功率值的具体实现过程，请参见前文的相关描述，此处不赘述。
光功率计在检测到光模块调测装置输入的光信号的情况下，检测接收到的光信号的光功率值，并将检测到的光功率值向上位机发送。
上位机获取光功率计发送的光功率值。
S105：在所述光功率值未处于第一设定范围的情况下，向所述光模块调测装置发送第一配置信息；所述第一配置信息用于所述光模块调测装置配置所述光模块的偏置电流，以调整所述光模块发射的光信号的光功率值。
在实际应用中，上位机在获取到光功率计发送的光功率值的情况下，确定出光功率值是否处于第一设定范围，得到确定结果，第一设定范围是指依据光模块的指标规格书设定的光功率范围。在确定结果表征光功率值未处于第一设定范围的情况下，说明光模块发射出的光信号的光功率值不符合设定要求。由于调整光模块的偏置电流可以改变光模块发射出的光信号的光功率值，而偏置电流与光功率值成正比，因此，上位机基于光功率值以及第一设定范围生成第一配置信息，并向光模块调测装置发送第一配置信息，触发光模块调测装置配置光模块的偏置电流，以调整光模块发射出的光信号的光功率值。
这里，上位机可以将获取到的光功率值分别与第一设定范围的最大值以及最小值进行比较，得到比较结果。在比较结果表征第一光功率值小于第一设定范围的最小值时，说明需要增大光模块发射出的光信号的光功率值，上位机可以基于获取到的光功率值对应的第一偏置电流，确定出第二偏置电流，并生成包含第二偏置电流的第一配置信息，第二偏置电流大于第一偏置电流。在比较结果表征获取到的光功率值大于第一设定范围的最大值时，说明需要减小光模块发射出的光信号的光功率值，上位机确定出的第二偏置电流小于第一光功率值对应的第一偏置电流。
需要说明的是，上位机在确定第二偏置电流时，可以从第一设定范围中确定出目标光功率值，根据光功率值与偏置电流之间的对应关系，确定出目标光功率值对应的第二偏置电流；也可以在第一偏置电流的基础上，按设定的步进值增大或减小偏置电流，从而使得调整偏置电流后的光模块发出的光信号的光功率值处于第一设定范围。设定的步进值是指相邻两个偏置电流之间的差值。
本实施例中，上位机在获取到光功率计发送的光功率值的情况下，基于获取到的光功率值确定出第一配置信息，从而触发光模块调测装置配置光模块的偏置电流，以调整光模块发射出的光信号的光功率值。上位机与光模块调测装置及相关的设备配合工作，可以实现自动化测试光模块发射出的光信号的光功率值，还可以自动化调试或测试光模块的性能指标。
作为本发明的另一个实施例，图9示出了本发明实施例提供的再一种光模块调测方法的实现流程示意图。图9在图7或图8的基础上，增加了S106～S107，S106～S107与S104～S105为并列关系。S106～S107具体如下：
S106：获取光示波器发送的消光比。
上位机向误码仪发送眼图检测指令，误码仪在接收到上位机发送的眼图检测指令的情况下，向光示波器发送触发信号。
光示波器在接收到误码仪发送的触发信号，并且接收到光模块调测装置发送的光信号的情况下，生成接收到的光信号对应的眼图，确定出眼图对应的消光比，并向上位机发送消光比。眼图用于表征光示波器接收到的光信号的质量。
上位机获取光示波器发送的消光比。
S107：在所述消光比未处于第二设定范围的情况下，向所述光模块调测装置发送第二配置信息；所述第二配置信息所述光模块调测装置配置所述光模块的调制电流，以调整所述光模块的消光比。
上位机在获取到光示波器发送的消光比的情况下，确定出获取到的消光比是否处于第二设定范围，得到确定结果。第二设定范围是指依据光模块的指标规格书设定的消光比范围。在确定结果表征获取到的消光比未处于第二设定范围的情况下，表明需要调整光模块的消光比。由于影响光模块的消光比的因素包括调制电流，因此，光模块可以通过调整光模块的调制电流来改变光模块的消光比。这里，上位机可以基于消光比与调制电流的设定变化关系，确定出第一消光比对应的第二调制电流，从而生成包含第二调制电流的第二配置信息，并将第二配置信息向光模块调测装置发送，以触发光模块调测装置基于第二配置信息将光模块的调制电流配置为第二调制电流。确定出的第二调制电流与第一消光比对应的第一调制电流不同。
在本实施例中，上位机在获取到光示波器发送的消光比的情况下，可以通过光模块调测装置自动化配置光模块的调制电流，从而调试或测试光模块的性能指标。
为实现本发明实施例的方法，本发明实施例还提供了一种电子设备，如图10所示，该电子设备包括：
发送单元1010，用于向光模块调测装置发送电流测试指令以及温度测试指令；所述电流测试指令用于触发所述光模块调测装置检测光模块的工作电流；所述温度测试指令用于触发所述光模块调测装置检测所述光模块的温度信息；
第一获取单元1020，用于获取所述光模块调测装置在检测到所述工作电流的情况下，发送的所述工作电流；
第二获取单元1030，用于获取所述光模块调测装置在检测到所述光模块的温度信息的情况下，发送的所述温度信息。
在一实施例中，电子设备还包括：
第三获取单元，用于获取光功率计发送的光功率值；所述光功率值为所述光模块发射出的光信号的光功率值；
第一配置单元，用于在所述光功率值未处于第一设定范围的情况下，向所述光模块调测装置发送第一配置信息；所述第一配置信息用于所述光模块调测装置配置所述光模块的偏置电流，以调整所述光模块发射出的光信号的光功率值。
在一实施例中，电子设备还包括：
第四获取单元，用于获取光示波器发送的消光比；
第二配置单元，用于在所述消光比未处于第二设定范围的情况下，向所述光模块调测装置发送第二配置信息；所述第二配置信息所述光模块调测装置配置所述光模块的调制电流，以调整所述光模块的消光比。
实际应用时，电子设备包括的各个单元可由电子设备中的处理器来实现。当然，处理器需要运行存储器中存储的程序来实现上述各程序模块的功能。
需要说明的是：上述实施例提供的电子设备在调测光模块时，仅以上述各程序模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述处理分配由不同的程序模块完成，即将电子设备的内部结构划分成不同的程序模块，以完成以上描述的全部或者部分处理。另外，上述实施例提供的电子设备与光模块调测方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
基于上述程序模块的硬件实现，且为了实现本发明实施例的方法，本发明实施例还提供了一种电子设备。图11为本发明实施例提供的电子设备的硬件组成结构示意图，如图11所示，电子设备包括：
通信接口1，能够与其它设备比如其他电子设备等进行信息交互；
处理器2，与通信接口1连接，以实现与其它设备进行信息交互，用于运行计算机程序时，执行上述一个或多个技术方案提供的光模块调测方法。而所述计算机程序存储在存储器3上。
当然，实际应用时，电子设备中的各个组件通过总线系统4耦合在一起。可理解，总线系统4用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统4除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图11中将各种总线都标为总线系统4。
本发明实施例中的存储器3用于存储各种类型的数据以支持电子设备的操作。这些数据的示例包括：用于在电子设备上操作的任何计算机程序。
可以理解，存储器3可以是易失性存储器或非易失性存储器，也可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(ROM，Read Only Memory)、可编程只读存储器(PROM，Programmable Read-Only Memory)、可擦除可编程只读存储器(EPROM，Erasable Programmable Read-Only Memory)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM，Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)、磁性随机存取存储器(FRAM，ferromagnetic random access memory)、快闪存储器(Flash Memory)、磁表面存储器、光盘、或只读光盘(CD-ROM，Compact Disc Read-Only Memory)；磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(SRAM，Static Random Access Memory)、同步静态随机存取存储器(SSRAM，Synchronous Static Random Access Memory)、动态随机存取存储器(DRAM，Dynamic Random Access Memory)、同步动态随机存取存储器(SDRAM，SynchronousDynamic Random Access Memory)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(DDRSDRAM，Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)、增强型同步动态随机存取存储器(ESDRAM，Enhanced Synchronous Dynamic Random Access Memory)、同步连接动态随机存取存储器(SLDRAM，Sync Link Dynamic Random Access Memory)、直接内存总线随机存取存储器(DRRAM，Direct Rambus Random Access Memory)。本发明实施例描述的存储器3旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
上述本发明实施例揭示的方法可以应用于处理器2中，或者由处理器2实现。处理器2可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器2中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器2可以是通用处理器、DSP，或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。处理器2可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤，可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于存储介质中，该存储介质位于存储器3，处理器2读取存储器3中的程序，结合其硬件完成前述方法的步骤。
处理器2执行所述程序时实现本发明实施例的各个方法实施例，为了简洁，在此不再赘述。
在示例性实施例中，本发明实施例还提供了一种存储介质，即计算机存储介质，具体为计算机可读存储介质，例如包括存储计算机程序的存储器3，上述计算机程序可由处理器2执行，以完成前述图7至图9对应的任一实施例中的所述步骤。计算机可读存储介质可以是FRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、Flash Memory、磁表面存储器、光盘、或CD-ROM等存储器。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。
上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理模块中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
需要说明的是，本发明实施例所记载的技术方案之间，在不冲突的情况下，可以任意组合。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种光模块调测装置，其特征在于，包括：控制模块，以及分别与所述控制模块连接的电流监控模块、光模块插座以及温度检测模块，所述电流监控模块还连接所述光模块插座；
所述控制模块，用于在接收到上位机发送的电压控制信号的情况下，根据所述电压控制信号控制程控电压源向所述电流监控模块输出第一电压信号；
所述电流监控模块，用于在输入所述第一电压信号的情况下，对输入所述电流监控模块的电流进行采样并向所述控制模块输出第二电压信号；
所述控制模块还用于根据所述第二电压信号计算插入所述光模块插座的光模块的工作电流；
所述温度检测模块，用于检测所述光模块处于工作状态的温度信息；
所述控制模块，还用于将所述工作电流和所述温度信息向所述上位机发送。
2.根据权利要求1所述的光模块调测装置，其特征在于，还包括：与所述控制模块以及所述光模块插座连接的比较器模块；
所述控制模块还用于向所述比较器模块的第一同向输入端输入基准电压，以及用于在接收到所述上位机发送的状态控制信号的情况下，设置与所述比较器模块的第一反向输入端连接的第一接口的工作状态，并根据参考电平信号以及所述比较器模块的第一输出端输出的第一电平信号，确定出所述光模块是否处于异常状态；其中，
当所述参考电平信号与所述第一电平信号相同时，表征所述光模块处于异常状态。
3.根据权利要求2所述的光模块调测装置，其特征在于，所述比较器模块还包括第二同向输入端，所述第二同向输入端用于连接所述光模块插座，以及用于通过上拉电阻连接电源；
所述控制模块还用于向所述比较器模块的第二反向输入端输入基准电压，以及用于根据所述比较器模块的第二输出端输出的第二电平信号确定出是否有光模块插入所述光模块插座；当所述第二电平信号为高电平信号时，表征没有光模块插入所述光模块插座。
4.根据权利要求1至3任一项所述的光模块调测装置，其特征在于，还包括与所述光模块插座连接的射频连接器；所述射频连接器用于连接误码仪；
所述控制模块，还用于在接收到所述上位机发送的光功率测试指令的情况下，向插入所述光模块插座的光模块发送使能信号；所述使能信号表征允许所述光模块发射光信号；
所述射频连接器，用于在接收到所述误码仪发送的第一调制信号的情况下，向插入所述光模块插座的光模块发送所述第一调制信号，以触发所述光模块基于所述第一调制信号发射第一光信号；其中，所述第一调制信号由所述误码仪在接收到所述上位机发送的发射端测试指令时发送；所述第一光信号用于触发与所述光模块连接的分光器对所述第一光信号进行分光处理，并向与所述分光器连接的光功率计发送第二光信号，以通过所述光功率计检测所述第二光信号对应的第一光功率值。
5.根据权利要求4所述的光模块调测装置，其特征在于，
所述射频连接器，还用于在接收到插入所述光模块插座的光模块发送的电信号的情况下，向所述误码仪发送所述电信号，以触发所述误码仪根据所述电信号中的调制信号以及第二调制信号确定出所述光模块的误码率；其中，所述电信号是所述光模块在接收到第四光信号的情况下，根据所述第四光信号生成；所述第四光信号是与所述光模块连接的分光器对第三光信号进行分光处理后得到的光信号；所述第三光信号由与所述分光器连接的衰减器对光源发射的测试光信号进行处理后得到；所述测试光信号由所述光源在接收到所述误码仪发送的第二调制信号的情况下发射；所述第二调制信号是由所述误码仪在接收到所述上位机发射的接收端测试指令时发送；
所述控制模块，还用于在获取到所述光模块发送的测试指标时，向所述上位机发送所述测试指标；所述测试指标包括光信号丢失指示标识以及所述第四光信号对应的第二光功率值；所述第二光功率值用于确定所述光模块的接收灵敏度，所述接收灵敏度由所述上位机基于所述误码仪发送的误码率以及所述第二光功率确定；所述光信号丢失指示标识由所述光模块基于所述第二光功率确定，用于指示是否有光信号丢失。
6.根据权利要求4所述的光模块调测装置，其特征在于，所述控制模块还用于在接收到所述上位机发送的第一配置信息的情况下，根据所述第一配置信息配置插入所述光模块插座的光模块的偏置电流；所述第一配置信息是所述上位机在第一光功率值未处于第一设定范围的情况下，基于所述第一光功率值生成；所述第一光功率值由所述光功率计发送；所述偏置电流用于调整所述光模块发射的光信号的光功率值。
7.根据权利要求4所述的光模块调测装置，其特征在于，所述控制模块还用于在接收到所述上位机发送的第二配置信息的情况下，根据所述第二配置信息配置插入所述光模块插座的光模块的调制电流；其中，所述第二配置信息是所述上位机在第一消光比未处于第二设定范围的情况下，基于所述第一消光比生成；所述第一消光比由所述光示波器发送；所述第一消光比由通过所述分光器与所述光模块连接的光示波器基于眼图得到；所述调制电流用于调整所述光模块的消光比；所述眼图由所述光示波器在接收到所述分光器发送的第五光信号的情况下生成；所述第五光信号由所述分光器对第一光信号进行分光处理后得到。
8.一种基于权利要求1至7任一项所述的光模块调测装置的光模块调测方法，其特征在于，所述光模块调测方法包括：
向光模块调测装置发送电流测试指令以及温度测试指令；所述电流测试指令用于触发所述光模块调测装置检测光模块的工作电流；所述温度测试指令用于触发所述光模块调测装置检测所述光模块表面的温度信息；
获取所述光模块调测装置在检测到所述工作电流的情况下，发送的所述工作电流；
获取所述光模块调测装置在检测到所述光模块的温度信息的情况下，发送的所述温度信息。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器，
其中，所述处理器用于运行所述计算机程序时，执行权利要求8所述的光模块调测方法的步骤。
10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求8所述的光模块调测方法的步骤。
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