KR100439692B1 - 피씨 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노비디오 감지장치 - Google Patents

피씨 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노비디오 감지장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트에서 노 비디오 (No Video) 발생시 PC로부터 제공되는 특정신호를 이용하여 빠른 시간 내에 노 비디오를 감지할 수 있도록 한 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시 예는 비프음 검출부에서 PC 마더보드의 스피커음 출력단으로부터 출력되는 비프음을 검출하고, 비교부에서 이를 기 설정되어 있는 기준값과 비교하며, 노 비디오 감지신호 발생부에서 상기 비교 결과 비프음 검출부에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값이 다를 경우 노 비디오 감지신호를 발생토록 구성되며, 다른 실시 예는 비디오 전압 레벨 검출부에서 PC 마더보드의 비디오 출력단으로부터 출력되는 비디오 신호의 전압 레벨을 검출하고, 비교부에서 이를 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨과 비교하며, 노 비디오 감지신호 발생부에서 상기 비교 결과 비디오 전압 레벨 검출부에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨이 다를 경우 노 비디오 감지신호를 발생토록 구성된다.

Description

피씨 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치 {NO VIDEO SENSING APPARATUS WHEN SEMICONDUCTOR FUNCTION TESTING}
본 발명은 노 비디오(No Video) 감지장치에 관한 것으로서, 특히 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트에서 노 비디오 발생시 PC로부터 제공되는 특정신호를 이용하여 빠른 시간 내에 노 비디오를 감지할 수 있도록 한 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치에 관한 것이다.
일반적으로 반도체 소자의 조립 공정 후에 내부 회로의 특성이나 신뢰성을 검사하기 위해, 조립된 반도체 소자를 소켓에 장착한 후, 고가의 반도체 메모리 테스트를 위한 전문장비를 사용하여 테스트를 실시하고 있다.
그러나 전문 반도체 메모리 테스트 장치는 여러 가지 문제점이 있는 바, 예컨대 가격이 아주 비싸기 때문에 하나 하나의 반도체 소자의 테스트에 소요되는 비용이 높아지게 되므로 기업의 가격 경쟁력을 낮출 뿐만 아니라, 반도체 소자가 실제로 장착되어 사용되는 환경이 아니라 완전히 별도의 장치에서 테스트되어지기 때문에 상기 반도체 소자가 실제로 사용되는 환경인 PC 마더보드에서 발생하는 노이즈 등과 같은 환경특성을 제대로 구현하지 못하기 때문에 테스트의 정확도가 떨어져 품질문제를 발생시키는 단점이 있다.
이와 같은 문제점을 해결하기 위해 최근 반도체 소자 생산업체에서는 반도체 소자를 실제 사용하는 환경인 PC의 마더보드 자체를 이용한 테스트 방법을 선호하는 경향이 있는데, 이와 같이 PC의 마더보드를 이용한 방법은 마더보드에 반도체 모듈이나 반도체 단위 소자를 착탈 가능하게 장착할 수 있게 하기 위해 소켓을 설치한 후, 이 소켓에 테스트할 메모리 모듈이나 단위 메모리 소자를 장착하고 PC를 가동시킴으로써 반도체 소자가 정상적인 것인지 불량품인지를 판단한다.
PC의 마더보드를 이용한 양불 테스트시 테스트 과정에서 반도체 단위 소자나모듈이 소켓에 잘못 꽂혔거나 또는 불량품일 경우 노 비디오 처리하게 되는데, 현재는 부팅 후 약 25초 정도 대기 후, PC로부터 아무런 응답이 없으면 노 비디오 처리를 하게 된다.
따라서 노 비디오의 횟수가 많아지면 많아질수록 그 만큼 로스 타임이 증가하게 되므로 이에 대한 개선책이 필요하였다.
본 발명은 이러한 점을 감안하여 안출한 것으로, 본 발명은 PC의 마더보드를 이용한 반도체 소자의 정상 또는 불량 여부의 테스트시 PC 마더보드로부터 발생되는 비프음이나 비디오 신호의 전압 레벨을 이용하여 노 비디오 인식시간을 단축할 수 있도록 한 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치를 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 본 발명의 개념 구성도.
도 2a는 본 발명의 일 실시 예도.
도 2b는 본 발명의 다른 실시 예도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100 : PC 마더보드 200 : 테스터
300 : 노 비디오 감지수단 311 : 비프음 검출부
321 : 비디오 전압 레벨 검출부 312,322 : 비교부
313,323 : 노 비디오 감지신호 발생부
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치의 일 실시 예는, PC 마더보드의 스피커음 출력단으로부터 출력되는 비프음을 검출하는 비프음 검출부와; 상기 비프음 검출부에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값을 비교하는 비교부와; 상기 비교부의 비교 결과 상기 비프음 검출부에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값이 다를 경우 노 비디오 감지신호를 발생하는 노 비디오 감지신호 발생부로 구성됨을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시 예는 PC 마더보드의 비디오출력단으로부터 출력되는 비디오 신호의 전압 레벨을 검출하는 비디오 전압 레벨 검출부와; 상기 비디오 전압 레벨 검출부에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨을 비교하는 비교부와; 상기 비교부의 비교 결과 상기 비디오 전압 레벨 검출부에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨이 다를 경우 노 비디오 감지신호를 발생하는 노 비디오 감지신호 발생부로 구성됨을 특징으로 한다.
이하, 본 발명을 첨부된 도면을 참조로 하여 보다 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치의 개략 구성도를 도시한 것으로, 테스트를 위한 반도체 소자 또는 모듈이 실장되는 PC 마더보드(100)와 상기 PC 마더보드(100)에 실장 테스트를 위한 각종 신호를 제공하는 테스터(200) 사이에 노 비디오 감지수단(300)이 구성되는 것으로, 상기 노 비디오 감지수단(300)은 상기 PC 마더보드(100)로부터 출력되는 비프음이나 비디오 신호의 전압 레벨을 바탕으로 노 비디오 발생을 감지하여 노 비디오 발생시 상기 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 출력한다.
도 2a는 상기 노 비디오 감지수단(300)의 일 실시 예에 따른 블록 구성도를 도시한 것이다.
이에 도시한 바와 같이, 비프음 검출부(311)에서 PC 마더보드(100)의 스피커음 출력단(SP-OUT)으로부터 출력되는 비프음을 검출하고, 비교부(312)에서 상기 비프음 검출부(311)에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값(ref1)을 비교하며, 노 비디오 감지신호 발생부(313)에서 상기 비교부(312)의 비교 결과 상기 비프음 검출부(311)에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값(ref1)이 다를 경우 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 출력토록 구성된다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 일 실시 예에서 상기 비프음 검출부(311)는 PC 마더보드(100)의 스피커음 출력단(SP-OUT)으로부터 출력되는 비프음을 검출하게 된다.
상기 비프음 검출부(311)에서 비프음을 검출하면 이는 비교부(312)로 입력되며, 비교부(312)에서는 상기 비프음 검출부(311)로부터 입력된 비프음과 기 설정되어 있는 기준값(ref1)을 비교한다.
여기서, 상기 비교부(312)에 기 설정되어 있는 기준값(ref1)은 통상적으로 출력되는 비프음 신호이며, 통상 실장 테스트시 마더보드에서는 반도체 단위 소자나 모듈이 소켓에 잘못 꽂혔거나 또는 불량품일 경우 비프음을 출력하게 되는데, 이때의 비프음은 통상적으로 출력되는 비프음과는 그 주기가 다르다.
따라서 비교부(312)에서는 비프음 검출부(311)로부터 입력되는 비프음과 기 설정되어 있는 기준값(ref1)의 비교시 그 주기를 비교하게 되며, 비교결과를 노 비디오 감지신호 발생부(313)로 입력한다.
상기 비교부(312)의 비교결과 상기 기준값(ref1)과 비프음 검출부(311)에서 검출한 비프음이 다른 것으로 판단되면 상기 노 비디오 감지신호 발생부(313)에서는 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 출력하며, 그렇지 않으면 노 비디오 감지신호를 발생하지 않는다.
도 2b는 상기 노 비디오 감지수단(300)의 다른 실시 예에 따른 블록 구성도를 도시한 것이다.
이에 도시한 바와 같이, 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 PC 마더보드(100)의 비디오 출력단(V-OUT)으로부터 출력되는 비디오 신호(R,G,B)의 전압 레벨을 검출하고, 비교부(322)에서 상기 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨(ref2)을 비교하며, 노 비디오 감지신호 발생부(323)에서 상기 비교부(322)의 비교 결과 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨(ref2)이 다를 경우 상기 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 출력토록 구성된다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 다른 실시 예에서는 상기 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 PC 마더보드(100)의 비디오 출력단(V-OUT)으로부터 출력되는 비디오 신호(R,G,B)의 전압 레벨을 검출하게 된다.
상기 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 비디오 신호의 출력 전압 레벨을 검출하여 비교부(322)로 입력하면 비교부(322)에서는 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨(ref2)과 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 검출한 비디오 전압 레벨을 비교하여 그 비교결과를 노 비디오 감지신호 발생부(323)로 입력한다.
여기서, 상기 비교부(322)에 설정되어 있는 비디오 전압 레벨(ref2)은 노 비디오 발생시가 아닌 통상적으로 출력되는 비디오 신호의 전압 레벨이며, 통상 실장 테스트시 PC 마더보드(100)에서는 노 비디오 처리를 해야 할 경우 즉, 반도체 단위 소자나 모듈이 소켓에 잘못 꽂혔거나 또는 불량품일 경우 비디오 신호의 출력전압 레벨을 통상의 경우와는 다르게 출력한다.
상기 노 비디오 감지신호 발생부(323)는 상기 비교부(322)의 비교결과 비디오 전압 레벨(ref2)과 상기 비디오 레벨 검출부(321)에서 검출한 비디오 신호의 전압 레벨이 다르면 상기 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 발생하고, 그렇지 않으면 노 비디오 감지신호를 발생하지 않는다.
상기 일 실시 예에서 비프음을 검출하여 노 비디오 감지신호를 발생하기까지 걸리는 시간 및 상기 다른 실시 예에서 비디오 전압 레벨을 검출하여 노 비디오 감지신호를 발생하기까지 걸리는 시간은 대략 5초 정도가 소요된다. 따라서 통상 부팅 후 약 25초 정도 대기 후, 노 비디오를 감지하던 종래에 비해 노 비디오 감지시간이 대폭 감소됨을 알 수 있다.
본 발명은 상기에 기술된 실시 예에 의해 한정되지 않고, 당업자들에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 청구항에서 정의되는 본 발명의 취지와 범위에 포함된다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은, PC의 마더보드를 이용한 반도체 소자의 테스트시 PC의 마더보드로부터 출력되는 비프음이나 비디오 신호의 전압 레벨 검출하여 이를 바탕으로 아주 빠른 시간 내에 노 비디오 인식신호를 출력함으로써 종래에 비해 노 비디오 인식시간이 매우 단축되므로 실장 테스트시의 노 비디오 인식에 소모되던 로스 타임을 대폭 줄일 수 있게 된다.

Claims (3)

  1. 삭제
  2. PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치에 있어서,
    상기 PC 마더보드로부터 출력되는 비프음이나 비디오 신호의 전압 레벨을 바탕으로 노 비디오 발생을 감지하여 노 비디오 발생시 테스터로 노 비디오 감지신호를 출력하는 노 비디오 감지수단을 구비하되, 상기 노 비디오 감지수단은 상기 PC 마더보드의 스피커음 출력단으로부터 출력되는 비프음을 검출하는 비프음 검출부; 상기 비프음 검출부에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값을 비교하는 비교부; 상기 비교부의 비교 결과 상기 비프음 검출부에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값이 다를 경우 상기 테스터로 노 비디오 감지신호를 발생하는 노 비디오 감지신호 발생부;로 구성됨을 특징으로 하는 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치.
  3. PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치에 있어서,
    상기 PC 마더보드로부터 출력되는 비프음이나 비디오 신호의 전압 레벨을 바탕으로 노 비디오 발생을 감지하여 노 비디오 발생시 테스터로 노 비디오 감지신호를 출력하는 노 비디오 감지수단을 구비하되, 상기 노 비디오 감지수단은 상기 PC 마더보드의 비디오 출력단으로부터 출력되는 비디오 신호의 전압 레벨을 검출하는 비디오 전압 레벨 검출부; 상기 비디오 전압 레벨 검출부에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨을 비교하는 비교부; 상기 비교부의 비교 결과 비디오 전압 레벨 검출부에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨이 다를 경우 상기 테스터로 노 비디오 감지신호를 발생하는 노 비디오 감지신호 발생부;로 구성됨을 특징으로 하는 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20010001001U (ko) * 1999-06-23 2001-01-15 김영환 반도체메모리장치의 메모리모듈 테스트 장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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